JPH03181863A - 回転ムラ測定装置の精度測定方法 - Google Patents
回転ムラ測定装置の精度測定方法Info
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- JPH03181863A JPH03181863A JP32047189A JP32047189A JPH03181863A JP H03181863 A JPH03181863 A JP H03181863A JP 32047189 A JP32047189 A JP 32047189A JP 32047189 A JP32047189 A JP 32047189A JP H03181863 A JPH03181863 A JP H03181863A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明はレーザビームプリンタに用いられるポリゴンミ
ラを使った光走査装置の回転ムラ測定装置の精度を測定
する装置に関するものである。
ラを使った光走査装置の回転ムラ測定装置の精度を測定
する装置に関するものである。
（従来の技ｔｌｆ）
一般にスキャナモータの回転精度の測定方法は第２図に
示すように、ポリゴンミラ１に、レーザ光源２によりビ
ームＬｌｌを照射し、走査された反射ビームＬ１２を、
ポリゴンミラ１に対して所定の見込角を持って配置され
た２つのトリガ発生器１３．１４で受けることにより、
トリガ信号８１．８２を得る。
示すように、ポリゴンミラ１に、レーザ光源２によりビ
ームＬｌｌを照射し、走査された反射ビームＬ１２を、
ポリゴンミラ１に対して所定の見込角を持って配置され
た２つのトリガ発生器１３．１４で受けることにより、
トリガ信号８１．８２を得る。
この原理を、トリガ発生器１３について説明すると、第
３図に示すように走査された反射ビームＬ１２のスポッ
トＰが、トリガ発生器１３の開口部りを図で左から右へ
通過するので、開口部りへの入射光量に応じてアナログ
信号Ｓａが得られる。
３図に示すように走査された反射ビームＬ１２のスポッ
トＰが、トリガ発生器１３の開口部りを図で左から右へ
通過するので、開口部りへの入射光量に応じてアナログ
信号Ｓａが得られる。
このアナログ信号Ｓａを所定のレベルＳＬと比較してデ
ジタル化した結果をトリガ信号Ｓ１として出力する。
ジタル化した結果をトリガ信号Ｓ１として出力する。
このようにして得られた２つのトリガ信号Ｓｌ。
Ｓ２を、カウンタ１５の入力端子Ａ、Ｂへ入力すること
により、第４図に示すように反射ビームＬ１２が２つの
トリガ発生器１３．１４を走査する平均時間ｔ、および
変動量Δｔが得られ、これによりポリゴンスキャナの回
転精度Ｊが（Δｔ／２）として求められる。
により、第４図に示すように反射ビームＬ１２が２つの
トリガ発生器１３．１４を走査する平均時間ｔ、および
変動量Δｔが得られ、これによりポリゴンスキャナの回
転精度Ｊが（Δｔ／２）として求められる。
（発明が解決しようとする課題）
トリガ発生器１３．１４からの信号ＳＬ、Ｓ２は、スキ
ャナの回転変動以外の成分（例えば、トリガを発生する
ための光電変換器や回路のノイズ）を含んでいることが
多い。
ャナの回転変動以外の成分（例えば、トリガを発生する
ための光電変換器や回路のノイズ）を含んでいることが
多い。
よって、このような測定系ではスキャナの回転変動以外
の成分もデータに含まれてしまうが、これまではその成
分の定量的な大きさを把握する手段がなかった。
の成分もデータに含まれてしまうが、これまではその成
分の定量的な大きさを把握する手段がなかった。
（課題を解決するための手段）
本発明は前記課題を解決するためになされたもので、実
施例に対応する第１図を用いて説明すると１本発明は１
回転しているポリゴンミラ１にレーザ光源２から出射さ
れたレーザビームＬ１を入射し、その反射されたビーム
Ｌ２がハーフミラ５を通過し、その通過したレーザビー
ムＬａがトリガ発生器４へ入射し、同時にハーフミラ５
で反射したレーザビームＬｂが他のトリガ発生器３へ入
射するようにハーフミラ５．トリガ発生器４，３を近接
して配置構成したものである。
施例に対応する第１図を用いて説明すると１本発明は１
回転しているポリゴンミラ１にレーザ光源２から出射さ
れたレーザビームＬ１を入射し、その反射されたビーム
Ｌ２がハーフミラ５を通過し、その通過したレーザビー
ムＬａがトリガ発生器４へ入射し、同時にハーフミラ５
で反射したレーザビームＬｂが他のトリガ発生器３へ入
射するようにハーフミラ５．トリガ発生器４，３を近接
して配置構成したものである。
（作用）
本発明によれば、透過ビームＬａと反射ビームＬｂが同
時にトリガ発生器４，３へ入射するように光学系を配置
しているので、トリガ発生器３゜４からの信号に含まれ
る、ポリゴンミラ１の回転変動以外の成分を定量的に評
価することができる。
時にトリガ発生器４，３へ入射するように光学系を配置
しているので、トリガ発生器３゜４からの信号に含まれ
る、ポリゴンミラ１の回転変動以外の成分を定量的に評
価することができる。
（実施例）
第１図は、本発明の一実施例を説明する図であって、レ
ーザ光源２から出射されたレーザビームＬ１をポリゴン
ミラ１へ入射し、その反射したレーザビームＬ２は、ポ
リゴンミラ１の矢印方向への回転に伴って走査され、所
定の位置においてハーフミラ５へ入射し、透過ビームＬ
ａと反射ビームＬｂに分けられる。この場合、ビームＬ
ａ。
ーザ光源２から出射されたレーザビームＬ１をポリゴン
ミラ１へ入射し、その反射したレーザビームＬ２は、ポ
リゴンミラ１の矢印方向への回転に伴って走査され、所
定の位置においてハーフミラ５へ入射し、透過ビームＬ
ａと反射ビームＬｂに分けられる。この場合、ビームＬ
ａ。
Ｌｂの各々がトリガ発生器４，３へ同時に入射するよう
にハーフミラ５．トリガ発生器４，３を近接して配置す
る。このようにして得られたトリガ発生器４，３よりの
トリガ信号（図示せず）の時間差を第２図で示したカウ
ンタ１５と同様のカウンタで測定する。
にハーフミラ５．トリガ発生器４，３を近接して配置す
る。このようにして得られたトリガ発生器４，３よりの
トリガ信号（図示せず）の時間差を第２図で示したカウ
ンタ１５と同様のカウンタで測定する。
この時、透過ビームＬａと反射ビームＬｂが同時にトリ
ガ発生器４，３へ入射するように光学系を配置している
ので、実際にビームを走査し１時間差が測定された場合
、その時間差が回転ムラ測定装置の誤差である。なぜな
らば、ハーフミラ５、トリガ発生器４．およびトリガ発
生器３は近接して配置され、それらを固定した光学系の
歪みなどの影響は無視でき、同一のビームからトリガ信
号を得るようになっているため、ポリゴンミラ１の回転
変動は、測定量に入ってこない。
ガ発生器４，３へ入射するように光学系を配置している
ので、実際にビームを走査し１時間差が測定された場合
、その時間差が回転ムラ測定装置の誤差である。なぜな
らば、ハーフミラ５、トリガ発生器４．およびトリガ発
生器３は近接して配置され、それらを固定した光学系の
歪みなどの影響は無視でき、同一のビームからトリガ信
号を得るようになっているため、ポリゴンミラ１の回転
変動は、測定量に入ってこない。
（発明の効果）
以上、詳細に説明したように本発明によればポリゴンミ
ラの回転ムラ測定装置の測定精度を定量的に評価できる
ので、これにより、ポリゴンミラの回転ムラを、より正
確に求めることができる。
ラの回転ムラ測定装置の測定精度を定量的に評価できる
ので、これにより、ポリゴンミラの回転ムラを、より正
確に求めることができる。
第１図は５本発明の一実施例を示す構成図、第２図は、
スキャナモータの回転精度測定装置の構成図で、第３図
はトリガ発生器の原理を説明する図、餉４図はデジタル
化したトリガ信号を示す図である。 １・・・ポリゴンミラ ２・・・レーザ光源 ３、４．１３．１４・・・トリガ発生器５・・・ハーフ
ミラ １５・・・カウンタ
スキャナモータの回転精度測定装置の構成図で、第３図
はトリガ発生器の原理を説明する図、餉４図はデジタル
化したトリガ信号を示す図である。 １・・・ポリゴンミラ ２・・・レーザ光源 ３、４．１３．１４・・・トリガ発生器５・・・ハーフ
ミラ １５・・・カウンタ
Claims (1)
- 回転しているポリゴンミラ（１）にレーザ光源（２）か
ら出射されたレーザビーム（Ｌ１）を入射し、その反射
されたビーム（Ｌ２）がハーフミラ（５）を通過し、そ
の通過したレーザビーム（Ｌａ）がトリガ発生器（４）
へ入射し、同時にハーフミラ（５）で反射したレーザビ
ーム（Ｌｂ）が他のトリガ発生器（３）へ入射するよう
にハーフミラ（５）、トリガ発生器（４）、（３）を近
接して配置構成したことを特徴とする回転ムラ測定装置
の精度測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32047189A JPH077004B2 (ja) | 1989-12-12 | 1989-12-12 | 回転ムラ測定装置の精度測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32047189A JPH077004B2 (ja) | 1989-12-12 | 1989-12-12 | 回転ムラ測定装置の精度測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03181863A true JPH03181863A (ja) | 1991-08-07 |
| JPH077004B2 JPH077004B2 (ja) | 1995-01-30 |
Family
ID=18121822
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32047189A Expired - Lifetime JPH077004B2 (ja) | 1989-12-12 | 1989-12-12 | 回転ムラ測定装置の精度測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH077004B2 (ja) |
-
1989
- 1989-12-12 JP JP32047189A patent/JPH077004B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH077004B2 (ja) | 1995-01-30 |
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