JPH03185417A - 走査光学装置 - Google Patents
走査光学装置Info
- Publication number
- JPH03185417A JPH03185417A JP32518889A JP32518889A JPH03185417A JP H03185417 A JPH03185417 A JP H03185417A JP 32518889 A JP32518889 A JP 32518889A JP 32518889 A JP32518889 A JP 32518889A JP H03185417 A JPH03185417 A JP H03185417A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical system
- scanning
- deflection
- light
- light source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、デジタル複写機、レーザプリンタ、レーザプ
ロッタ、レーザファクシミリ、レーザ製版機等に用いら
れる走査光学装置に関し、特に、面倒れ補正機能を有し
、且つ像面湾曲を低減し得る走査光学装置に関する。
ロッタ、レーザファクシミリ、レーザ製版機等に用いら
れる走査光学装置に関し、特に、面倒れ補正機能を有し
、且つ像面湾曲を低減し得る走査光学装置に関する。
光源からの光を種々の偏向器によって偏向走査し、被走
査媒体を走査する走査光学装置が従来から良く知られて
おり、デジタル複写機、レーザプリンタ、レーザプロッ
タ、レーザファクシミリ、レーザ製版機等の走査光学系
として利用されている。
査媒体を走査する走査光学装置が従来から良く知られて
おり、デジタル複写機、レーザプリンタ、レーザプロッ
タ、レーザファクシミリ、レーザ製版機等の走査光学系
として利用されている。
ところで、上記走査光学装置において、光束を偏向させ
るのに反射面を用いると、偏向の際の反射面の面倒れの
ため主走査線のピッチにむらが生じることが良く知られ
ており、この面倒れの補正を行なうことが必要となる。
るのに反射面を用いると、偏向の際の反射面の面倒れの
ため主走査線のピッチにむらが生じることが良く知られ
ており、この面倒れの補正を行なうことが必要となる。
また、偏向走査時の偏向角を大きくとると、結像レンズ
系による像面湾曲が生じ、高密度なスポット径を得るに
は、結像レンズ系による像面湾曲を、主走査方向、副走
査方向ともに補正しなければならない。
系による像面湾曲が生じ、高密度なスポット径を得るに
は、結像レンズ系による像面湾曲を、主走査方向、副走
査方向ともに補正しなければならない。
一方、走査光学装置としては、走査の高速化から、光偏
向器に回転多面鏡を用いる走査光学系が主流となってい
るが、この回転多面鏡を用いた場合には、前述したよう
に各偏向反射面の面倒れがあり、被走査面の走査位置が
ばらつく現象が発生する。
向器に回転多面鏡を用いる走査光学系が主流となってい
るが、この回転多面鏡を用いた場合には、前述したよう
に各偏向反射面の面倒れがあり、被走査面の走査位置が
ばらつく現象が発生する。
そこで、偏向器として回転多面鏡を用いた場合の面倒れ
を補正するため、fθレンズ系等の補正光学系を用いた
走査光学装置が提案されている(特開昭63−1066
18号公報、特開昭62−147421号公報等)。
を補正するため、fθレンズ系等の補正光学系を用いた
走査光学装置が提案されている(特開昭63−1066
18号公報、特開昭62−147421号公報等)。
また、走査光学装置における像面湾曲を補正するものと
しては1例えば、結像レンズ系(主として球面レンズを
使用)が偏向器の前に設置されたポストオブジェクティ
ブ型の走査光学装置においては、偏向走査に伴い、光源
を光軸方向に移動することにより、主・副走査方向の像
面湾曲を補正する技術が提案されており(特開昭57−
14820号公報等)、また、結像レンズ系(主として
球面レンズを使用)が偏向器の前後に設置されたポスト
及びプレオブジェクティブ両型の走査光学装置において
は、コリメートレンズ、集光レンズを偏向走査に伴って
光軸方向へ移動することにより主・副走査方向の像面湾
曲を同様に補正する技術が提案されている(特開昭58
−57108号、特開昭58−57109号公報等)。
しては1例えば、結像レンズ系(主として球面レンズを
使用)が偏向器の前に設置されたポストオブジェクティ
ブ型の走査光学装置においては、偏向走査に伴い、光源
を光軸方向に移動することにより、主・副走査方向の像
面湾曲を補正する技術が提案されており(特開昭57−
14820号公報等)、また、結像レンズ系(主として
球面レンズを使用)が偏向器の前後に設置されたポスト
及びプレオブジェクティブ両型の走査光学装置において
は、コリメートレンズ、集光レンズを偏向走査に伴って
光軸方向へ移動することにより主・副走査方向の像面湾
曲を同様に補正する技術が提案されている(特開昭58
−57108号、特開昭58−57109号公報等)。
ところで、前述した像面湾曲を補正する機構を有する走
査光学系の結像レンズ系が球面レンズの場合、球面レン
ズには非点隔差があるため、一般的に主・副の走査方向
での像面湾曲が異なる。また、前述した面倒れ補正光学
系においては、主・副走査方向に異なるパワー(レンズ
の屈折力)を持つレンズが光路中にある為、主・副走査
方向の像面湾曲が異なる。従って、光路中の球面レンズ
、または、光源を単に移動しても主・副両走査方向の像
面湾曲の補正はしきれず、このような補正機構を前述し
た面倒れ補正光学系に適用したとしても、主・劇画走査
の像面湾曲の補正はしきれないという問題が生じる。
査光学系の結像レンズ系が球面レンズの場合、球面レン
ズには非点隔差があるため、一般的に主・副の走査方向
での像面湾曲が異なる。また、前述した面倒れ補正光学
系においては、主・副走査方向に異なるパワー(レンズ
の屈折力)を持つレンズが光路中にある為、主・副走査
方向の像面湾曲が異なる。従って、光路中の球面レンズ
、または、光源を単に移動しても主・副両走査方向の像
面湾曲の補正はしきれず、このような補正機構を前述し
た面倒れ補正光学系に適用したとしても、主・劇画走査
の像面湾曲の補正はしきれないという問題が生じる。
また、従来技術により像面湾曲を補正する際の光源やレ
ンズの移動の制御については、′正弦振動を行なう”等
の動作は述べられているが、制御装置や制御方法につい
ては具体的に述べられていない。
ンズの移動の制御については、′正弦振動を行なう”等
の動作は述べられているが、制御装置や制御方法につい
ては具体的に述べられていない。
ところが、回転多afffiを用いた走査光学系におい
ては、像面湾曲の補正を行なうには、数100〜数10
00Hzの振動移動制御を行なう必要があり、このため
、通常の開ループの制御では、ix御に遅れが生じ像面
湾曲に制御が追従しきれないという問題が生じ、このた
め補正の効果が得られないという問題が生じる。
ては、像面湾曲の補正を行なうには、数100〜数10
00Hzの振動移動制御を行なう必要があり、このため
、通常の開ループの制御では、ix御に遅れが生じ像面
湾曲に制御が追従しきれないという問題が生じ、このた
め補正の効果が得られないという問題が生じる。
また、像面湾曲の機械的な補正機構が設けられていない
一般の面倒れ補正光学系においては、光学系にfθレン
ズ等を用い、複数のレンズを組合せたレンズ構成によっ
てのみ像面湾曲を補正しており、このため、主・副両走
査方向の像面湾曲、fθ特性(倍率誤差1等速度走査性
)、球面収差、正弦条件等が光学系の設計条件として必
要となるが、これらは互いにトレードオツの関係になっ
ており、全ての設計条件を同時に良好にすることは困難
である。従って、前述した像面湾曲が補正できれば他の
条件を良好にする数計自由度が大きくなり、走査光学系
の設計が容易となることが予想される。このため1面倒
れ補正光学系を有する走査光学装置においては、像面湾
曲を補正する必要から、走査光学系の高密度化が進み、
さらに、使用されるfθレンズ等の要求精度も高くなっ
ており、且つ、レンズの枚数も増加しているため、組立
や調整が困難となっており且つ部品点数の増大から走査
光学装置のコストが高くなるという問題が生じている。
一般の面倒れ補正光学系においては、光学系にfθレン
ズ等を用い、複数のレンズを組合せたレンズ構成によっ
てのみ像面湾曲を補正しており、このため、主・副両走
査方向の像面湾曲、fθ特性(倍率誤差1等速度走査性
)、球面収差、正弦条件等が光学系の設計条件として必
要となるが、これらは互いにトレードオツの関係になっ
ており、全ての設計条件を同時に良好にすることは困難
である。従って、前述した像面湾曲が補正できれば他の
条件を良好にする数計自由度が大きくなり、走査光学系
の設計が容易となることが予想される。このため1面倒
れ補正光学系を有する走査光学装置においては、像面湾
曲を補正する必要から、走査光学系の高密度化が進み、
さらに、使用されるfθレンズ等の要求精度も高くなっ
ており、且つ、レンズの枚数も増加しているため、組立
や調整が困難となっており且つ部品点数の増大から走査
光学装置のコストが高くなるという問題が生じている。
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであって、従来
の面倒れ補正光学系に新たな像面湾曲補正機構系を組込
み、fθレンズ、コリメートレンズ、シリンドリカルレ
ンズ等のレンズ系の設計を容易とし、且つ、高性能な走
査光学装置を提供することを目的とし、特に、近年の走
査光学装置の光学系の高密度化に対して、複雑で枚数の
多いコスト高のレンズ系を使用しなくとも像面湾曲を補
正することができる。安価で高性能な走査光学装置を提
供することを目的とする。
の面倒れ補正光学系に新たな像面湾曲補正機構系を組込
み、fθレンズ、コリメートレンズ、シリンドリカルレ
ンズ等のレンズ系の設計を容易とし、且つ、高性能な走
査光学装置を提供することを目的とし、特に、近年の走
査光学装置の光学系の高密度化に対して、複雑で枚数の
多いコスト高のレンズ系を使用しなくとも像面湾曲を補
正することができる。安価で高性能な走査光学装置を提
供することを目的とする。
また、本発明では、走査光学装置において、像面湾曲を
偏向走査に伴うシリンドリカルレンズの移動や振動によ
り補正する場合に、レンズの移動や振動を正確に検知し
、この検知信号を制御系にフィードバックすることによ
って像面湾曲の補正の高精度化を実現し、fθレンズ系
の低コスト化。
偏向走査に伴うシリンドリカルレンズの移動や振動によ
り補正する場合に、レンズの移動や振動を正確に検知し
、この検知信号を制御系にフィードバックすることによ
って像面湾曲の補正の高精度化を実現し、fθレンズ系
の低コスト化。
印字品質の高品質化を図ることを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明では、光源と、該光源
から出射された光束を略平行化するコリメート光学系と
、その略平行化された光束を線状に結像する第1の結像
光学系と、この第1の結像光学系より出射した光束を偏
向走査する偏向反射面と、該偏向反射面により偏向され
た光束によって走査される被走査媒体と、該被走査媒体
と上記偏向反射面との間に配置され上記偏向された光束
を被走査媒体上に結像すると共に上記偏向反射面で偏向
される光束の偏向走査面と垂直な面内(副走査方向)に
おいて上記偏向反射面と被走査媒体とを幾何光学的に共
役な関係に保つ第2の結像光学系とを有する走査光学装
置において、上記偏向反射面による光束の偏向走査に伴
い上記第1の結像光学系をその光軸方向に移動若しくは
振動するように設けると共に、上記第1の結像光学系の
移動位置を検知するための検知用光源と、その光源から
の光束を受光する受光部からなる検知手段とを設け、且
つ、上記検知用光源からの光束を規制する規制反射部材
を上記第1の結像光学系に設けたことを特徴とし、上記
検知用光源からの光束を規制反射部材により規制するこ
とにより余分な光を受光部に与えないようにして、検知
エラー等を防止するものである。
から出射された光束を略平行化するコリメート光学系と
、その略平行化された光束を線状に結像する第1の結像
光学系と、この第1の結像光学系より出射した光束を偏
向走査する偏向反射面と、該偏向反射面により偏向され
た光束によって走査される被走査媒体と、該被走査媒体
と上記偏向反射面との間に配置され上記偏向された光束
を被走査媒体上に結像すると共に上記偏向反射面で偏向
される光束の偏向走査面と垂直な面内(副走査方向)に
おいて上記偏向反射面と被走査媒体とを幾何光学的に共
役な関係に保つ第2の結像光学系とを有する走査光学装
置において、上記偏向反射面による光束の偏向走査に伴
い上記第1の結像光学系をその光軸方向に移動若しくは
振動するように設けると共に、上記第1の結像光学系の
移動位置を検知するための検知用光源と、その光源から
の光束を受光する受光部からなる検知手段とを設け、且
つ、上記検知用光源からの光束を規制する規制反射部材
を上記第1の結像光学系に設けたことを特徴とし、上記
検知用光源からの光束を規制反射部材により規制するこ
とにより余分な光を受光部に与えないようにして、検知
エラー等を防止するものである。
また、上記走査光学装置において、検知用光源からの光
束を規制する規制反射部材の反射部の大きさを、第1の
結像光学系の移動方向若しくは振動方向に対し変化させ
て設ける。このように反射部の大きさを変化させること
により、移動若しくは振動に対する光量の変化を拡大さ
せることができ、検知精度を向上することができる。
束を規制する規制反射部材の反射部の大きさを、第1の
結像光学系の移動方向若しくは振動方向に対し変化させ
て設ける。このように反射部の大きさを変化させること
により、移動若しくは振動に対する光量の変化を拡大さ
せることができ、検知精度を向上することができる。
尚、上記検知用光源の配置としては、走査光に影響を与
えないように、光源の光軸を走査光の光軸に対して傾け
て配置するとよい。
えないように、光源の光軸を走査光の光軸に対して傾け
て配置するとよい。
本発明による走査光学装置においては、光源から出射し
た光束はコリメート光学系で略平行光束となり、シリン
ドリカル光学系等からなる第1の結像光学系に入射され
る。第1の結像光学系を通った光束は線状に結像された
後、回転多面鏡の偏向反射面により反射され、偏向走査
される0回転多面鏡により偏向走査された光束はfθレ
ンズ等からなる第2の結像光学系により、感光体等の被
走査媒体上に結像され、被走査媒体上を微小なスポット
を結びながら走査する。
た光束はコリメート光学系で略平行光束となり、シリン
ドリカル光学系等からなる第1の結像光学系に入射され
る。第1の結像光学系を通った光束は線状に結像された
後、回転多面鏡の偏向反射面により反射され、偏向走査
される0回転多面鏡により偏向走査された光束はfθレ
ンズ等からなる第2の結像光学系により、感光体等の被
走査媒体上に結像され、被走査媒体上を微小なスポット
を結びながら走査する。
ここで、被走査媒体と回転多面鏡の偏向反射面との間に
配置されたfθレンズ等からなる第2の結像光学系は、
上記偏向された光束を被走査媒体上に結像すると共に上
記回転多面鏡で偏向される光束の偏向走査面と垂直な面
内において上記偏向反射面と被走査媒体とを幾何光学的
に共役な関係に保ち、偏向反射面の面倒れを補正するよ
うに作用し、また、上記第1の結像光学系による線状結
像位置は上記回転多面鏡の偏向走査に同期して光軸方向
に移動若しくは振動され、像面湾曲を補正するように作
用する。
配置されたfθレンズ等からなる第2の結像光学系は、
上記偏向された光束を被走査媒体上に結像すると共に上
記回転多面鏡で偏向される光束の偏向走査面と垂直な面
内において上記偏向反射面と被走査媒体とを幾何光学的
に共役な関係に保ち、偏向反射面の面倒れを補正するよ
うに作用し、また、上記第1の結像光学系による線状結
像位置は上記回転多面鏡の偏向走査に同期して光軸方向
に移動若しくは振動され、像面湾曲を補正するように作
用する。
また、上記第1の結像光学系の移動位置を検知するため
の検知用光源を有し、その光源からの光束を受光する受
光部で第1の結像光学系の移動による光量変化を検出し
、その検知信号を第1の結像光学系の移動若しくは振動
を制御する制御系にフィードバックすることにより偏向
走査に正確に対応した第1の結像光学系の移動若しくは
振動の制御が可能となる。
の検知用光源を有し、その光源からの光束を受光する受
光部で第1の結像光学系の移動による光量変化を検出し
、その検知信号を第1の結像光学系の移動若しくは振動
を制御する制御系にフィードバックすることにより偏向
走査に正確に対応した第1の結像光学系の移動若しくは
振動の制御が可能となる。
以下、本発明を図面を参照して詳細に説明する。
先ず、本発明が適用される走査光学装置の基本的な構成
例について説明する。
例について説明する。
第12図は本発明が適用される走査光学装置の概略構成
図であって、この走査光学装置は、半導体レーザ(LD
)等からなるレーザ光源1と、この光源1から出射され
た光束を略平行化するコリメートレンズ2と、このコリ
メートレンズ2によって略平行化された光束の周辺不要
部分をカットするための7パーチヤ3と、このアパーチ
ャ3を通過した光束を線状に結像する第1シリンドリカ
ルレンズ4と、この第1シリンドリカルレンズ4より出
射した光束を偏向走査する偏向反射面を有する回転多面
鏡(ポリゴンミラー)5と、該回転多面鏡5で偏向され
た光束によって走査される被走査媒体たる感光体7と、
該感光体7と回転多面鏡5の偏向反射面との間に配置さ
れ上記偏向された光束を感光体7上に結像すると共に上
記回転多面tlL5で偏向される光束の偏向走査面と垂
直な面内において上記偏向反射面と感光体7とを幾何光
学的に共役な関係に保つfθレンズ系6とを有し。
図であって、この走査光学装置は、半導体レーザ(LD
)等からなるレーザ光源1と、この光源1から出射され
た光束を略平行化するコリメートレンズ2と、このコリ
メートレンズ2によって略平行化された光束の周辺不要
部分をカットするための7パーチヤ3と、このアパーチ
ャ3を通過した光束を線状に結像する第1シリンドリカ
ルレンズ4と、この第1シリンドリカルレンズ4より出
射した光束を偏向走査する偏向反射面を有する回転多面
鏡(ポリゴンミラー)5と、該回転多面鏡5で偏向され
た光束によって走査される被走査媒体たる感光体7と、
該感光体7と回転多面鏡5の偏向反射面との間に配置さ
れ上記偏向された光束を感光体7上に結像すると共に上
記回転多面tlL5で偏向される光束の偏向走査面と垂
直な面内において上記偏向反射面と感光体7とを幾何光
学的に共役な関係に保つfθレンズ系6とを有し。
上記回転多面′R5の光束の走査に伴い上記第1シリン
ドリカルレンズ4を光軸方向に移動させるようにすると
共に上記回転多面鏡5の偏向反射面を上記第1シリンド
リカルレンズ4による線状結像位置近傍に配置したこと
を特徴とするものである。
ドリカルレンズ4を光軸方向に移動させるようにすると
共に上記回転多面鏡5の偏向反射面を上記第1シリンド
リカルレンズ4による線状結像位置近傍に配置したこと
を特徴とするものである。
尚、図中符号8は第2シリンドリカルレンズ、符号9は
回転多面鏡5により偏向走査される光束の走査端部に配
置され光束の一部を反射するミラー符号10はそのミラ
ー9によって反射された光束を検知する同期検知器であ
る。
回転多面鏡5により偏向走査される光束の走査端部に配
置され光束の一部を反射するミラー符号10はそのミラ
ー9によって反射された光束を検知する同期検知器であ
る。
さて、第12図に示す構成の走査光学装置においては、
レーザ光源1から出射された光束は、コリメートレンズ
2を通って略平行光束となり、アパーチャ3で周辺不要
部分をカットされた後、第1シリンドリカルレンズ4に
入射される。そして、第1シリンドリカルレンズ4を通
った光束は、回転多面#15によって偏向走査され、f
θレンズや第2シリンドリカルレンズ8を含むfθレン
ズ系を通って感光体7上に結像され、感光体7上を微小
なスポットを結びながら走査する。
レーザ光源1から出射された光束は、コリメートレンズ
2を通って略平行光束となり、アパーチャ3で周辺不要
部分をカットされた後、第1シリンドリカルレンズ4に
入射される。そして、第1シリンドリカルレンズ4を通
った光束は、回転多面#15によって偏向走査され、f
θレンズや第2シリンドリカルレンズ8を含むfθレン
ズ系を通って感光体7上に結像され、感光体7上を微小
なスポットを結びながら走査する。
また、走査時の走査端部の光束は、ミラー9により同期
検知器10へと導かれ、この同期検知器lOからの信号
に基づいてデータの書き込みの同期をとっている。
検知器10へと導かれ、この同期検知器lOからの信号
に基づいてデータの書き込みの同期をとっている。
また、この同期検知器10からの信号を基にして、第1
シリンドリカルレンズ4を光軸方向に移動することによ
り、光学系の像面湾曲が補正される。
シリンドリカルレンズ4を光軸方向に移動することによ
り、光学系の像面湾曲が補正される。
また、感光体7と回転多面鏡5の偏向反射面との間に配
置されたfθレンズ系6は、上記偏向された光束を感光
体7上に結像すると共に上記回転多面#!5で偏向され
る光束の偏向走査面と垂直な面内において上記偏向反射
面と6光体7とを幾何光学的に共役な関係に保ち、偏向
反射面の面倒れを補正するように作用する。
置されたfθレンズ系6は、上記偏向された光束を感光
体7上に結像すると共に上記回転多面#!5で偏向され
る光束の偏向走査面と垂直な面内において上記偏向反射
面と6光体7とを幾何光学的に共役な関係に保ち、偏向
反射面の面倒れを補正するように作用する。
次に、第13図は第12図に示す走査光学装置の光学系
の概念図を示し、第13図(a)が偏向走査面(主走査
方向)上における光学系の概念図であり、第13図(b
)が偏向走査面に垂直で且つ光軸を含む面(副走査方向
)上における光学系の概念図である。
の概念図を示し、第13図(a)が偏向走査面(主走査
方向)上における光学系の概念図であり、第13図(b
)が偏向走査面に垂直で且つ光軸を含む面(副走査方向
)上における光学系の概念図である。
ここで、この光学系においては、前述したように1面倒
れ補正は、fθレンズ系6がアナモフィックな光学系で
、副走査で回転多面tlt5の偏向反射面5aと像面Z
を幾何光学的に共役な関係に配置することにより行なっ
ている。
れ補正は、fθレンズ系6がアナモフィックな光学系で
、副走査で回転多面tlt5の偏向反射面5aと像面Z
を幾何光学的に共役な関係に配置することにより行なっ
ている。
尚1図中符号11は回転多面鏡5の外周を覆う防音ガラ
スを示している。
スを示している。
次に、第13図に示す光学系において第1シリンドリカ
ルレンズ4を光軸方向に移動した時の結像位置の移動を
第14図に示す。
ルレンズ4を光軸方向に移動した時の結像位置の移動を
第14図に示す。
ここで、第14図において、第1シリンドリカルレンズ
4の移動前のレンズ位置及び光束を実線で、移動後を破
線で表し、第1シリンドリカルレンズ4の移動量をΔc
yとした時の結像位置の移動量をΔISとする。
4の移動前のレンズ位置及び光束を実線で、移動後を破
線で表し、第1シリンドリカルレンズ4の移動量をΔc
yとした時の結像位置の移動量をΔISとする。
また、移動前の第1シリンドリカルレンズ4の結像位置
と、fθレンズ系6の主点位置の距離をS、fθレンズ
系6の結像位置をS’、fθレンズ系6の焦点距離をf
とすると、この時。
と、fθレンズ系6の主点位置の距離をS、fθレンズ
系6の結像位置をS’、fθレンズ系6の焦点距離をf
とすると、この時。
S’−f
と表せ、同様に、
と表せる。
したがって、
となる。
ここで。
Δl5(S’−fとすると、
(S’−f)“
(ただし、m = S ’ / S )と表せる。
すなわち、像面湾曲がΔISあった場合、第1シリンド
リカルレンズをΔcy=ΔIS/m”移動してその線状
結像位置を移動すると副走査像面湾曲の補正ができる。
リカルレンズをΔcy=ΔIS/m”移動してその線状
結像位置を移動すると副走査像面湾曲の補正ができる。
また、この時、主走査に関しては第13@(a )に示
すように第1シリンドリカルレンズ4はノンパワーなの
で像面湾曲の変化はない。
すように第1シリンドリカルレンズ4はノンパワーなの
で像面湾曲の変化はない。
第15図(a)、(b)は、上述の走査光学装置による
像面湾曲の補正前と補正後の収差図を夫々示し、第15
図(a)に示す補正前の像面湾曲は、主走査aは像面湾
曲が小さくなるように設定されているが。
像面湾曲の補正前と補正後の収差図を夫々示し、第15
図(a)に示す補正前の像面湾曲は、主走査aは像面湾
曲が小さくなるように設定されているが。
副走査すは像面湾曲が小さくなるような考慮がなされて
いないため、副走査側の像面湾曲すは円弧状又は放物線
状のようになっている。また、その湾曲量は、走査半角
で±30@(ポリゴンは±15@回転する)の位置で約
10amとなっている6、そして、この曲線は、正弦波
又は余弦波の一部で近似することができ、その補正量と
像面湾曲量をプロットすると第16図の線図のようにな
る。
いないため、副走査側の像面湾曲すは円弧状又は放物線
状のようになっている。また、その湾曲量は、走査半角
で±30@(ポリゴンは±15@回転する)の位置で約
10amとなっている6、そして、この曲線は、正弦波
又は余弦波の一部で近似することができ、その補正量と
像面湾曲量をプロットすると第16図の線図のようにな
る。
また、第15図(a)の±30°の像面湾曲量をΔIS
とすると、像面湾曲の補正量は、 ΔIS(θ)=Δl5(−cos(68)+1)とする
と良い、ただし、上式において、θはポリゴン回転角で
、θ=0で像高比はOとなる。
とすると、像面湾曲の補正量は、 ΔIS(θ)=Δl5(−cos(68)+1)とする
と良い、ただし、上式において、θはポリゴン回転角で
、θ=0で像高比はOとなる。
さて、先の第12図に示す走査光学装置においては、回
転多面@5の反射鏡面数が6面のものを用いているため
、−面のポリゴン回転角θは±30@とおける。このた
め、この±30°の間に第1シリンドリカルレンズ4が
n(nは1以上の整数)周期移動すると1次の反射鏡面
が回ってきたときの第1シリンドリカルレンズ4の移動
を滑らかに行なうことができる。すなわち回転多面鏡5
の鏡面数がN面の時は、±180@/Nでn周期第1シ
リンドリカルレンズ4が移動することになる。したがっ
て、この第1シリンドリカルレンズ4の移動により、第
15図(b)のように副走査像面湾曲が補正できる。ま
た、この時、主走査の体面湾曲は動かない、尚、先の第
14図は、n=1の場合を示している。
転多面@5の反射鏡面数が6面のものを用いているため
、−面のポリゴン回転角θは±30@とおける。このた
め、この±30°の間に第1シリンドリカルレンズ4が
n(nは1以上の整数)周期移動すると1次の反射鏡面
が回ってきたときの第1シリンドリカルレンズ4の移動
を滑らかに行なうことができる。すなわち回転多面鏡5
の鏡面数がN面の時は、±180@/Nでn周期第1シ
リンドリカルレンズ4が移動することになる。したがっ
て、この第1シリンドリカルレンズ4の移動により、第
15図(b)のように副走査像面湾曲が補正できる。ま
た、この時、主走査の体面湾曲は動かない、尚、先の第
14図は、n=1の場合を示している。
尚、上述した第1シリンドリカルレンズの移動機構とし
ては、光デイスク用光ピツクアップ光学系等に用いられ
ている対物レンズ移動用のアクチュエータを利用するこ
とができる。
ては、光デイスク用光ピツクアップ光学系等に用いられ
ている対物レンズ移動用のアクチュエータを利用するこ
とができる。
さて1以上説明したように、本発明に係る走査光学装置
においては、第1シリンドリカルレンズによる線状結像
位置を光軸方向に移動可能に設け、回転多面鏡の回転走
査に同期して第1シリンドリカルレンズを光軸方向に周
期的に移動してその線状結像位置を光軸方向に移動し、
像面湾曲の補正を行なう補正機構を有するため、像面湾
曲の低減を高精度で行なうことが可能となる。
においては、第1シリンドリカルレンズによる線状結像
位置を光軸方向に移動可能に設け、回転多面鏡の回転走
査に同期して第1シリンドリカルレンズを光軸方向に周
期的に移動してその線状結像位置を光軸方向に移動し、
像面湾曲の補正を行なう補正機構を有するため、像面湾
曲の低減を高精度で行なうことが可能となる。
ところで、複数の偏向反射面を有する回転多面鏡を用い
た走査光学系においては、像面湾曲を補正するために、
第1シリンドリカルレンズ等の第1の結像光学系による
線状結像位置を、回転多面鏡による偏向走査に同期して
数100”1OOGHzで振動や移動する制御が必要で
ある。ところが、この制御を単に偏向走査に合わせて周
期的に移動するだけの開ループ制御で行なう場合、アク
チュエータの動作に遅れが生じ追従しきれないという問
題があり、像面湾曲補正の効果が上がらないという問題
が生じる。
た走査光学系においては、像面湾曲を補正するために、
第1シリンドリカルレンズ等の第1の結像光学系による
線状結像位置を、回転多面鏡による偏向走査に同期して
数100”1OOGHzで振動や移動する制御が必要で
ある。ところが、この制御を単に偏向走査に合わせて周
期的に移動するだけの開ループ制御で行なう場合、アク
チュエータの動作に遅れが生じ追従しきれないという問
題があり、像面湾曲補正の効果が上がらないという問題
が生じる。
そこで、本発明では、回転多面鏡の偏向反射面の偏向走
査に伴い、第1の結像光学系がその光軸方向に移動され
るように構成された走査光学系において、第1の結像光
学系の移動位置を検知するための検知用光源と、その光
源からの光束を受光する受光部を設け、且つ、その光源
の光軸を走査光の光軸に対し直交しないように傾けて設
定する。
査に伴い、第1の結像光学系がその光軸方向に移動され
るように構成された走査光学系において、第1の結像光
学系の移動位置を検知するための検知用光源と、その光
源からの光束を受光する受光部を設け、且つ、その光源
の光軸を走査光の光軸に対し直交しないように傾けて設
定する。
すなわち、本発明による走査光学装置では、上記検知用
光源と受光部による検知手段を設けることにより、この
検知手段によって第1の結像光学系の移動位置を正確に
検出し、その検出位置が偏向走査に正確に追従するよう
にフィードバック制御(閉ループ制御)を行ない、像面
湾曲補正の高精度化を図ろうというものである。
光源と受光部による検知手段を設けることにより、この
検知手段によって第1の結像光学系の移動位置を正確に
検出し、その検出位置が偏向走査に正確に追従するよう
にフィードバック制御(閉ループ制御)を行ない、像面
湾曲補正の高精度化を図ろうというものである。
以下、具体的な実施例に基づいて詳細に説明する。
第1図は本発明による走査光学装置の一実施例を示す走
査光学系の概略的要部構成を示す斜視図であって1図中
符号5は複数の偏向反射面を有する回転多面鏡(ポリゴ
ンミラー)である。
査光学系の概略的要部構成を示す斜視図であって1図中
符号5は複数の偏向反射面を有する回転多面鏡(ポリゴ
ンミラー)である。
また、符号22は第1の結像光学系であるシリンドリカ
ルレンズであり、光軸Rに沿って前述の如く移動若しく
は振動するようになっている。符号20は第1の結像光
学系たるシリンドリカルレンズ22の光軸Rに対し、α
(<90@’)傾けた方向に光軸を有するLED等の検
知用光源であり、第1図の場合シリンドリカルレンズ2
2の上方に設けられている。符号23は本発明の特徴で
ある検知用光源20からの光束を規制する規制反射部材
である。符号21は上記検知用光源20からの光束を上
記規制反射部材23で反射した後、受光するPINフォ
トダイオードなどからなる受光部である。尚、規制反射
部材23はシリンドリカルレンズ22と一体的に設けら
れており、シリンドリカルレンズ22と同時に動くよう
になっている。
ルレンズであり、光軸Rに沿って前述の如く移動若しく
は振動するようになっている。符号20は第1の結像光
学系たるシリンドリカルレンズ22の光軸Rに対し、α
(<90@’)傾けた方向に光軸を有するLED等の検
知用光源であり、第1図の場合シリンドリカルレンズ2
2の上方に設けられている。符号23は本発明の特徴で
ある検知用光源20からの光束を規制する規制反射部材
である。符号21は上記検知用光源20からの光束を上
記規制反射部材23で反射した後、受光するPINフォ
トダイオードなどからなる受光部である。尚、規制反射
部材23はシリンドリカルレンズ22と一体的に設けら
れており、シリンドリカルレンズ22と同時に動くよう
になっている。
第28!!I(a)は第1図に示す走査光学系の第1の
結像光学系部分を側方からみた平面図であって、同図に
示すように、検知用光源20からの光束は規制反射部材
23によって一部反射し、その反射光束aが受光部21
に到達する。尚1図中すは反射されなかった光束を示す
、また、受光部21上での光束の様子を第2図(b)に
示す、この第2図(b)に示すように、受光部21上で
の光束の面積は、反射光部a′と、反射光の来ない部分
1′とになる。
結像光学系部分を側方からみた平面図であって、同図に
示すように、検知用光源20からの光束は規制反射部材
23によって一部反射し、その反射光束aが受光部21
に到達する。尚1図中すは反射されなかった光束を示す
、また、受光部21上での光束の様子を第2図(b)に
示す、この第2図(b)に示すように、受光部21上で
の光束の面積は、反射光部a′と、反射光の来ない部分
1′とになる。
ここで、受光部21での受光光量と時間、すなわちシリ
ンドリカルレンズ22の移動との対応を第3図に示す。
ンドリカルレンズ22の移動との対応を第3図に示す。
第3図に示すように、光量の変動式は、光量の最大値を
工■ax、光量の最小値をlm1nとすると、シリンド
リカルレンズ22の移動式(前述の像面湾曲の補正量の
式)より。
工■ax、光量の最小値をlm1nとすると、シリンド
リカルレンズ22の移動式(前述の像面湾曲の補正量の
式)より。
として表される。
したがって、光量によりシリンドリカルレンズ22の移
動量がわかり、これをシリンドリカルレンズ22を移動
若しくは振動する制御系(図示せず)にフィードバック
すれば、偏向走査に対応した正確な制御が可能となる。
動量がわかり、これをシリンドリカルレンズ22を移動
若しくは振動する制御系(図示せず)にフィードバック
すれば、偏向走査に対応した正確な制御が可能となる。
次に、第4図は検知用光源と規制反射部材及び受光部の
配置位置の別の例を示す図であって、光源20′及び受
光部211 をシリンドリカルレンズ22の右方に配置
し、規制反射部材23″をその光源20′及び受光部2
1′ と対向するシリンドリカルレンズ22の側面部に
配置した例である。この第4図の配置と、先の第1図に
示す配置とを合わせて考えると、検出用光源と規制反射
部材及び受光部の配置位置は、シリンドリカルレンズ2
2の上下、左右どの方向にも設定しうろことは明らかで
ある。
配置位置の別の例を示す図であって、光源20′及び受
光部211 をシリンドリカルレンズ22の右方に配置
し、規制反射部材23″をその光源20′及び受光部2
1′ と対向するシリンドリカルレンズ22の側面部に
配置した例である。この第4図の配置と、先の第1図に
示す配置とを合わせて考えると、検出用光源と規制反射
部材及び受光部の配置位置は、シリンドリカルレンズ2
2の上下、左右どの方向にも設定しうろことは明らかで
ある。
尚、第1図、第4図においては、何れも規制反射部材2
3(23’ )をシリンドリカルレンズ22に取り付け
た例であるが、第5図に示すように、シリンドリカルレ
ンズ22の側面あるいは上下面に反射面22aあるいは
22bを設けても同様の効果を持たせることも可能であ
る。
3(23’ )をシリンドリカルレンズ22に取り付け
た例であるが、第5図に示すように、シリンドリカルレ
ンズ22の側面あるいは上下面に反射面22aあるいは
22bを設けても同様の効果を持たせることも可能であ
る。
次に、第6図は本発明の別の実施例を示す走査光学系の
概略的要部構成を示す斜視図であって、第1図と同様に
1図中符号5は複数の偏向反射面を有する回転多面11
1(ポリゴンミラー)であり、符号22は第1の結像光
学系であるシリンドリカルレンズであり、光軸Rに沿っ
て前述の如く移動若しくは振動するようになっている。
概略的要部構成を示す斜視図であって、第1図と同様に
1図中符号5は複数の偏向反射面を有する回転多面11
1(ポリゴンミラー)であり、符号22は第1の結像光
学系であるシリンドリカルレンズであり、光軸Rに沿っ
て前述の如く移動若しくは振動するようになっている。
また、符号20はシリンドリカルレンズ22の光軸Rに
対し、α(<90” )傾けた方向に光軸を有するLE
D等の検知用光源であり、第6図の場合シリンドリカル
レンズ22の上方に設けられている。符号23は検知用
光源20からの光束を反射する規制反射部材であり、本
実施例においては、規制反射部材23は略中央部に三角
形状の反射部(反射面)23aを有し、この反射部23
aは、シリンドリカルレンズ22の移動若しくは振動方
向に大きさが変化していることを特徴とする。符号21
は光源20からの光束を規制反射部材23で反射した後
受光するPINフォトダイオードなどの受光部である。
対し、α(<90” )傾けた方向に光軸を有するLE
D等の検知用光源であり、第6図の場合シリンドリカル
レンズ22の上方に設けられている。符号23は検知用
光源20からの光束を反射する規制反射部材であり、本
実施例においては、規制反射部材23は略中央部に三角
形状の反射部(反射面)23aを有し、この反射部23
aは、シリンドリカルレンズ22の移動若しくは振動方
向に大きさが変化していることを特徴とする。符号21
は光源20からの光束を規制反射部材23で反射した後
受光するPINフォトダイオードなどの受光部である。
第7′図は検知用光源20からの光束が規制反射部材2
3の反射部23aで制限されている様子を示す図であり
、図中a1.a工′が光束の反射される部分、b、、b
□′が光束の反射されない部分である。従って第7図(
a)は反射光量が最小(I、5in)の時、第7図(b
)は反射光量が最大(IXwax)の時を夫々示してい
る。尚、図中aは反射部23aの最大長さを示している
。
3の反射部23aで制限されている様子を示す図であり
、図中a1.a工′が光束の反射される部分、b、、b
□′が光束の反射されない部分である。従って第7図(
a)は反射光量が最小(I、5in)の時、第7図(b
)は反射光量が最大(IXwax)の時を夫々示してい
る。尚、図中aは反射部23aの最大長さを示している
。
また、第8図は、単に、大きさが変化しない方形状の反
射部を設けた場合の例を示しており、第8図(a)が反
射光量が最小(工、win)のとき、第8図(b)が反
射光景が最大(I、wax)のときを夫々示している。
射部を設けた場合の例を示しており、第8図(a)が反
射光量が最小(工、win)のとき、第8図(b)が反
射光景が最大(I、wax)のときを夫々示している。
尚、図中Qは第7図に示す反射部23aの最大長aと同
じ長さとする。
じ長さとする。
ここで、第7図と第8図とを比較すると、11w1n(
I、win I、wax<I、waxであるが、 (11wax−11w+in) > (1,max−I
、win)である。
I、win I、wax<I、waxであるが、 (11wax−11w+in) > (1,max−I
、win)である。
したがって、第7図に示すような反射部形状の方が光量
差を大きくすることができる。
差を大きくすることができる。
第9図は、第7図に示す反射部形状を有する規制反射部
材と、第8図に示す反射部形状を示す規制反射部材とを
夫々用いた場合の受光部21での光量と時間、すなわち
光量とシリンドリカルレンズ22の移動量との対応を示
す図である。
材と、第8図に示す反射部形状を示す規制反射部材とを
夫々用いた場合の受光部21での光量と時間、すなわち
光量とシリンドリカルレンズ22の移動量との対応を示
す図である。
第9図での光量I、、I、の変動式は、として表される
が、工、の変動幅の方が大きいため、第7図に示す反射
部形状のほうが検知精度が向上する。
が、工、の変動幅の方が大きいため、第7図に示す反射
部形状のほうが検知精度が向上する。
したがって、工、を用いて、シリンドリカルレンズ22
の移動若しくは振動を制御する制御系にフィードバック
をかければ、偏向走査に対応した正確な制御が可能とな
る。
の移動若しくは振動を制御する制御系にフィードバック
をかければ、偏向走査に対応した正確な制御が可能とな
る。
次に、第1θ図、第11図は、規制反射部材の夫々別の
例を示しており、第10図に示す例では、規制反射部材
24の中央の三角形状部分24aを反射面とせずに、中
央の三角形状部分24aの周囲を反射面とした例であり
、また、第11図に示す例では、規制反射部材26の端
面と三角形状の反射部25aの端辺とを揃えたものであ
る。尚、第11図において、三角形状部分25aを反射
面とせずに1周りの部分を反射面としてもよい。
例を示しており、第10図に示す例では、規制反射部材
24の中央の三角形状部分24aを反射面とせずに、中
央の三角形状部分24aの周囲を反射面とした例であり
、また、第11図に示す例では、規制反射部材26の端
面と三角形状の反射部25aの端辺とを揃えたものであ
る。尚、第11図において、三角形状部分25aを反射
面とせずに1周りの部分を反射面としてもよい。
以上説明したように、本発明による走査光学装置におい
ては、第1の結像光学系による線状結像位置を偏向反射
面による偏向走査に対応して光軸方向に移動若しくは振
動して像面湾曲を補正する構成のため、複雑でコスト高
の特別なレンズ系を使用しなくとも、像面湾曲を補正す
ることができるため、比較的安価な走査光学装置を提供
することができる。
ては、第1の結像光学系による線状結像位置を偏向反射
面による偏向走査に対応して光軸方向に移動若しくは振
動して像面湾曲を補正する構成のため、複雑でコスト高
の特別なレンズ系を使用しなくとも、像面湾曲を補正す
ることができるため、比較的安価な走査光学装置を提供
することができる。
また1本発明では、第1の結像光学系の移動位置を検知
するようにしたことにより、この結像状態検知手段から
の検知信号を第1の結像光学系の移動制御系にフィード
バックして閉ループ制御を行なうことができ、したがっ
て、偏向走査に追従した第1の結像光学系の移動制御が
容易に可能となり、像面湾曲の補正精度を向上すること
ができる、また、本発明によれば、従来、線状結像位置
の変化の検知には用いることのできなかった高精度の位
置検知手段を用いることができるため、高精度の移動制
御を行なうことが可能となる。
するようにしたことにより、この結像状態検知手段から
の検知信号を第1の結像光学系の移動制御系にフィード
バックして閉ループ制御を行なうことができ、したがっ
て、偏向走査に追従した第1の結像光学系の移動制御が
容易に可能となり、像面湾曲の補正精度を向上すること
ができる、また、本発明によれば、従来、線状結像位置
の変化の検知には用いることのできなかった高精度の位
置検知手段を用いることができるため、高精度の移動制
御を行なうことが可能となる。
また、上記検知手段を、光源と、構造が簡単な規制反射
部材、及び受光部とを組合せて構成したため、低コスト
で検知手段を作ることができる。
部材、及び受光部とを組合せて構成したため、低コスト
で検知手段を作ることができる。
また、上記検知手段を反射式に構成したことにより、光
源と受光部とを第1の結像光学系に対して同じ方向に設
置できるため、装置が小型化でき、且つ、低コスト化を
図れる。
源と受光部とを第1の結像光学系に対して同じ方向に設
置できるため、装置が小型化でき、且つ、低コスト化を
図れる。
まh、上記規制反射部材として、大きさが第1の結像光
学系の移動若しくは振動方向に対し変化している反射部
を有する反射部材を用いた場合には、第1の結像光学系
の移動若しくは振動に対して受光部での受光光量の変化
を大きくすることができ、検出精度を向上することがで
きる。
学系の移動若しくは振動方向に対し変化している反射部
を有する反射部材を用いた場合には、第1の結像光学系
の移動若しくは振動に対して受光部での受光光量の変化
を大きくすることができ、検出精度を向上することがで
きる。
第1図は本発明の一実施例を示す走査光学系の概略的要
部構成図、第2図(a)は第1図に示す走査光学系の第
1の結像光学系部分を側方からみた平面図、第2図(b
)は第1図及び第2図(a)に示す受光部での光束の受
光状態の説明図、第3図は第1図及び第2図(a)に示
す受光部での受光光量とシリンドリカルレンズ移動時の
時間との対応を示す図、第4@は検知用光源と規制反射
部材及び受光部の配置位置を変えた場合の走査光学系の
概略的要部構成図、第5図はシリンドリカルレンズの側
面若しくは上下面に規制反射部を設けた場合の例を示す
図、第6図は本発明の別の実施例を示し三角形状の反射
部(反射面)を有する規制反射部材を用いた場合の走査
光学系の概略的要部構成図、第7図(a)、(b)は第
6図に示す検知用光源からの光束が規制反射部材の反射
部で制限されている様子を示す図、第8図(a)、(b
)は反射部形状を方形状とした場合の検知用光源からの
光束が規制反射部材の反射部で制限されている様子を示
す図、第9図は第7図、第8図に示す反射部形状の規制
反射部材を用いた場合の受光部での受光光量とシリンド
リカルレンズ移動時の時間との対応を示す図、第10図
及び第11図は規制反射部材の夫々別の例を示す図、第
12図は本発明が適用される走査光学装置の一例を示す
概略的要部構成図、第13図は第12図に示す走査光学
装置の走査光学系の概念図を示し、同図(a)が偏向走
査面上における光学系配置を示す概念図、同図(b)が
偏向走査面に垂直で且つ光軸を含む面上における光学系
配置を示す概念図である。第14図は第13図に示す光
学系における像面湾曲の補正方法を説明するための説明
図、第15図は収差図であって、同@(a)が第13図
に示す光学系による像面湾曲の補正前の収差図、同図(
b)が同上補正後の収差図、第16図は第13図に示す
光学系における像面湾曲補正時の走査角に対する像面湾
曲量と補正量との関係を示す線図である。 1・・・・レーザ光源、2・・・・コリメートレンズ、
3・・・・アパーチャ、4・・・・第1シリンドリカル
レンズ、5・・・・回転多面鏡、5a・・・・偏向反射
面、6・・・・・fθレンズ系、7・・・・感光体、8
・・・・第2シリンドリカルレンズ、9・・・・反射ミ
ラー、10・・・・同期検知器、20.20″・・・・
検知用光源、21.21’・・・・・受光部、22・・
・・第1シリンドリカルレンズ、22a、 22b・・
・・規制反射部、23.23’ 、 24.25−−−
−i制反射部材、R・・・・走査光の光軸。 形δ 口 形4の あ昂 形C目 う9幻 * 70図 形4−/幻 v)−/f日 め16口 弗1d口 ηfシ 45 優コ (d) tφン
部構成図、第2図(a)は第1図に示す走査光学系の第
1の結像光学系部分を側方からみた平面図、第2図(b
)は第1図及び第2図(a)に示す受光部での光束の受
光状態の説明図、第3図は第1図及び第2図(a)に示
す受光部での受光光量とシリンドリカルレンズ移動時の
時間との対応を示す図、第4@は検知用光源と規制反射
部材及び受光部の配置位置を変えた場合の走査光学系の
概略的要部構成図、第5図はシリンドリカルレンズの側
面若しくは上下面に規制反射部を設けた場合の例を示す
図、第6図は本発明の別の実施例を示し三角形状の反射
部(反射面)を有する規制反射部材を用いた場合の走査
光学系の概略的要部構成図、第7図(a)、(b)は第
6図に示す検知用光源からの光束が規制反射部材の反射
部で制限されている様子を示す図、第8図(a)、(b
)は反射部形状を方形状とした場合の検知用光源からの
光束が規制反射部材の反射部で制限されている様子を示
す図、第9図は第7図、第8図に示す反射部形状の規制
反射部材を用いた場合の受光部での受光光量とシリンド
リカルレンズ移動時の時間との対応を示す図、第10図
及び第11図は規制反射部材の夫々別の例を示す図、第
12図は本発明が適用される走査光学装置の一例を示す
概略的要部構成図、第13図は第12図に示す走査光学
装置の走査光学系の概念図を示し、同図(a)が偏向走
査面上における光学系配置を示す概念図、同図(b)が
偏向走査面に垂直で且つ光軸を含む面上における光学系
配置を示す概念図である。第14図は第13図に示す光
学系における像面湾曲の補正方法を説明するための説明
図、第15図は収差図であって、同@(a)が第13図
に示す光学系による像面湾曲の補正前の収差図、同図(
b)が同上補正後の収差図、第16図は第13図に示す
光学系における像面湾曲補正時の走査角に対する像面湾
曲量と補正量との関係を示す線図である。 1・・・・レーザ光源、2・・・・コリメートレンズ、
3・・・・アパーチャ、4・・・・第1シリンドリカル
レンズ、5・・・・回転多面鏡、5a・・・・偏向反射
面、6・・・・・fθレンズ系、7・・・・感光体、8
・・・・第2シリンドリカルレンズ、9・・・・反射ミ
ラー、10・・・・同期検知器、20.20″・・・・
検知用光源、21.21’・・・・・受光部、22・・
・・第1シリンドリカルレンズ、22a、 22b・・
・・規制反射部、23.23’ 、 24.25−−−
−i制反射部材、R・・・・走査光の光軸。 形δ 口 形4の あ昂 形C目 う9幻 * 70図 形4−/幻 v)−/f日 め16口 弗1d口 ηfシ 45 優コ (d) tφン
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、光源から出射された光束を略平行化するコリメート
光学系と、その略平行化された光束を線状に結像する第
1の結像光学系と、この第1の結像光学系より出射した
光束を偏向走査する偏向反射面と、該偏向反射面により
偏向された光束によって走査される被走査媒体と、該被
走査媒体と上記偏向反射面との間に配置され上記偏向さ
れた光束を被走査媒体上に結像すると共に上記偏向反射
面で偏向される光束の偏向走査面と垂直な面内(副走査
方向)において上記偏向反射面と被走査媒体とを幾何光
学的に共役な関係に保つ第2の結像光学系とを有する走
査光学装置において、上記偏向反射面による光束の偏向
走査に伴い上記第1の結像光学系をその光軸方向に移動
若しくは振動するように設けると共に、上記第1の結像
光学系の移動位置を検知するための検知用光源と、その
光源からの光束を受光する受光部からなる検知手段とを
設け、且つ、上記検知用光源からの光束を規制する規制
反射部材を上記第1の結像光学系に設けたことを特徴と
する走査光学装置。 2、請求項1記載の走査光学装置において、検知用光源
からの光束を規制する規制反射部材の反射部の大きさが
、第1の結像光学系の移動方向若しくは振動方向に対し
変化していることを特徴とする走査光学装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32518889A JPH03185417A (ja) | 1989-12-15 | 1989-12-15 | 走査光学装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32518889A JPH03185417A (ja) | 1989-12-15 | 1989-12-15 | 走査光学装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03185417A true JPH03185417A (ja) | 1991-08-13 |
Family
ID=18173996
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32518889A Pending JPH03185417A (ja) | 1989-12-15 | 1989-12-15 | 走査光学装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03185417A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004219770A (ja) * | 2003-01-15 | 2004-08-05 | Ricoh Co Ltd | 光走査装置および画像形成装置 |
-
1989
- 1989-12-15 JP JP32518889A patent/JPH03185417A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004219770A (ja) * | 2003-01-15 | 2004-08-05 | Ricoh Co Ltd | 光走査装置および画像形成装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5054866A (en) | Scanning optical apparatus | |
| US6512623B1 (en) | Scanning optical device | |
| US20070064291A1 (en) | Optical scanning apparatus | |
| US7149009B2 (en) | Scanning optical apparatus, image forming apparatus, and adjusting method therefor | |
| JPH09304720A (ja) | 光学走査装置及び光学レンズ | |
| JP2003107382A (ja) | 走査光学系 | |
| JP4365939B2 (ja) | 走査光学装置 | |
| JPH03185417A (ja) | 走査光学装置 | |
| JP3697884B2 (ja) | 光走査装置 | |
| US4829322A (en) | Laser beam scanning apparatus | |
| JPH03131817A (ja) | 光ビーム走査光学装置 | |
| JPH03130716A (ja) | 走査光学装置 | |
| JPH1184304A (ja) | 光走査装置 | |
| JP2817454B2 (ja) | 走査光学装置 | |
| JPH112769A (ja) | 光走査装置 | |
| JP2757308B2 (ja) | 光束走査光学装置 | |
| JP2001004939A (ja) | マルチビーム走査システム | |
| JPH02201312A (ja) | 走査光学装置 | |
| JPH09274151A (ja) | マルチビーム走査光学装置 | |
| JPH07318838A (ja) | 光走査装置 | |
| JPH01200220A (ja) | 光ビーム走査光学系 | |
| JPH11218715A (ja) | 光走査装置 | |
| JPH02269305A (ja) | 光走査装置 | |
| JPH08211319A (ja) | 光偏向器、及び光走査装置 | |
| JPH01234815A (ja) | 光ビーム走査光学系 |