JPH03186762A - 複式テストストリップのためのテストストリップ評価装置 - Google Patents
複式テストストリップのためのテストストリップ評価装置Info
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- JPH03186762A JPH03186762A JP2328820A JP32882090A JPH03186762A JP H03186762 A JPH03186762 A JP H03186762A JP 2328820 A JP2328820 A JP 2328820A JP 32882090 A JP32882090 A JP 32882090A JP H03186762 A JPH03186762 A JP H03186762A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、複式テストストリップのためのテストストリ
ップ評価装置に関する。さらに詳しくは、光学ＡＰＩ定
ユニットを有する少なくとも１つの測定位置か配置され
た移送路に沿ってテストストリップ供給域から処分域ま
でテストストリップをその長さ方向に対して直角方向に
移送する移送および位置決めデバイスと、テストストリ
ップがその上を摺動するために移送路に沿ってのびたレ
ールと、移送方向に互いに連なり、テストストリップを
段階的に移送すべく周期的な繰り返し運動軌道で互いに
同調して駆動される少なくとも２列のカム要素とを備え
た複式テストストリップ（ｒＡｕｌｔｉｐｌｅ ｔｅｓ
ｔ ５ｔｒｉｐ）のためのテストストリップ評価装置に
関する。
ップ評価装置に関する。さらに詳しくは、光学ＡＰＩ定
ユニットを有する少なくとも１つの測定位置か配置され
た移送路に沿ってテストストリップ供給域から処分域ま
でテストストリップをその長さ方向に対して直角方向に
移送する移送および位置決めデバイスと、テストストリ
ップがその上を摺動するために移送路に沿ってのびたレ
ールと、移送方向に互いに連なり、テストストリップを
段階的に移送すべく周期的な繰り返し運動軌道で互いに
同調して駆動される少なくとも２列のカム要素とを備え
た複式テストストリップ（ｒＡｕｌｔｉｐｌｅ ｔｅｓ
ｔ ５ｔｒｉｐ）のためのテストストリップ評価装置に
関する。
［従来の技術］
複式テストストリップは、とくに尿の分析に一般に用い
られている。複式テストストリップは等間隔で隣接した
複数のテストフィールド（ｔｅｓｔ ｒｌｅｌｄ）を有
し、それぞれが試料の種々の成分を測定するための異な
る組み合わせの試薬を含んでいる。テストストリップは
、通常短時間尿中に浸される。試料と試薬との反応によ
り、テストフィールド上に、光学的に検知できる変化、
通常、色の変化が起こる。この変化は視覚的にもしくは
適当な評価装置で評価される。テストストリップ評価用
の装置は、その特性に関して特定の製造者のテストスト
リップと合致している。このように、テストストリップ
と評価装置はテストストリップ分析システムをなしてい
る。
られている。複式テストストリップは等間隔で隣接した
複数のテストフィールド（ｔｅｓｔ ｒｌｅｌｄ）を有
し、それぞれが試料の種々の成分を測定するための異な
る組み合わせの試薬を含んでいる。テストストリップは
、通常短時間尿中に浸される。試料と試薬との反応によ
り、テストフィールド上に、光学的に検知できる変化、
通常、色の変化が起こる。この変化は視覚的にもしくは
適当な評価装置で評価される。テストストリップ評価用
の装置は、その特性に関して特定の製造者のテストスト
リップと合致している。このように、テストストリップ
と評価装置はテストストリップ分析システムをなしてい
る。
テストストリップ評価装置には高度に要求される事項が
ある。テストフィールド上の光学的に検出てきる変化の
評価は、通常反射光度測定法によってなされる。ハｊ定
の精度は、ここではテストストリップの光学測定ユニッ
トに対する正確な位置決めに大きく依存している。テス
トフィールドがますます小さくなる傾向にあり、また、
正確な測定のために各テストストリップの中央部だけが
使用しうろことから、テストフィールド域に関する位置
決め（テストストリップの縦および横の位置決め）につ
いての高い要求が課されなければならない。とくに重要
な点は光学測定ユニットとテストフィールド表面との距
離を正確に保つこと（距離方向の位置決め）にある。光
学Ｊｌｌｌ定の精度は、この距離にきわめて大きく依存
するからである。
ある。テストフィールド上の光学的に検出てきる変化の
評価は、通常反射光度測定法によってなされる。ハｊ定
の精度は、ここではテストストリップの光学測定ユニッ
トに対する正確な位置決めに大きく依存している。テス
トフィールドがますます小さくなる傾向にあり、また、
正確な測定のために各テストストリップの中央部だけが
使用しうろことから、テストフィールド域に関する位置
決め（テストストリップの縦および横の位置決め）につ
いての高い要求が課されなければならない。とくに重要
な点は光学測定ユニットとテストフィールド表面との距
離を正確に保つこと（距離方向の位置決め）にある。光
学Ｊｌｌｌ定の精度は、この距離にきわめて大きく依存
するからである。
前述した種類のテストストリップ評価装置は、ヨーロッ
パ特許出願公開第１７４５６４号明細書およびそれに対
応するアメリカ特許第４６８９２０２号明細書から知ら
れている。レールはいわゆるベストレイ（ｂａｓｅ ｔ
ｒａｙ）の一部分であり、２つの読みとり位置の台によ
って中断されてはいるが、試料供給域における１つめの
凹みと処分域における２つめの凹みとのあいだにはしっ
ている。
パ特許出願公開第１７４５６４号明細書およびそれに対
応するアメリカ特許第４６８９２０２号明細書から知ら
れている。レールはいわゆるベストレイ（ｂａｓｅ ｔ
ｒａｙ）の一部分であり、２つの読みとり位置の台によ
って中断されてはいるが、試料供給域における１つめの
凹みと処分域における２つめの凹みとのあいだにはしっ
ている。
ペーストレイは２つの縦方向の満孔を有し、これを通っ
てカム要素としてのペグ（ｐｅｇ）が、下方からレール
よりも高い位置まで貫通しうる構成となっている。ペグ
はテストストリップ搬送要素の一部分であり、特定の軌
道すなわち垂直面内の閉曲線（垂直旋回軌道）を進む。
てカム要素としてのペグ（ｐｅｇ）が、下方からレール
よりも高い位置まで貫通しうる構成となっている。ペグ
はテストストリップ搬送要素の一部分であり、特定の軌
道すなわち垂直面内の閉曲線（垂直旋回軌道）を進む。
この曲線には、ペグが最上位置にあってテストストリッ
プを移送する水平径路部分と、ペグが１つの移送工程の
完了後に下に引き下げられ、つぎに移送されるべきテス
トストリップの後方で下方からレールよりも高く突き出
すように、後退し再び上昇する略半円形径路部分とがあ
る。
プを移送する水平径路部分と、ペグが１つの移送工程の
完了後に下に引き下げられ、つぎに移送されるべきテス
トストリップの後方で下方からレールよりも高く突き出
すように、後退し再び上昇する略半円形径路部分とがあ
る。
既知の装置における距離方向の位置決め精度は、テスト
ストリップが測定中、測定台に静止していることおよび
測定台に対して上方から弾性的に押しつけられることに
より、確実にされる。とくに少なくともテストフィール
ドの領域では台の表面が平坦であることが重要である。
ストリップが測定中、測定台に静止していることおよび
測定台に対して上方から弾性的に押しつけられることに
より、確実にされる。とくに少なくともテストフィール
ドの領域では台の表面が平坦であることが重要である。
さらに、測定の精度を確保するために、ペーストレイは
安定で全体を包括した構成を有していなければならず、
かつ、正確に位置づけられなければならない。
安定で全体を包括した構成を有していなければならず、
かつ、正確に位置づけられなければならない。
既知のデバイスは測定の正確さに関しては要求を満たし
ている。しかしながらその設計は複雑であり、さらに装
置の部品のいくつかは、使用中に尿で汚染される。これ
はとくに、ペーストレイとテストストリップ搬送要素に
あてはまることである。ユニットの内部に尿が入るのを
防ぐために、これら両者の周囲はエツジが高くなってい
る。しかし、尿は高くされたエツジにより流出が防止さ
れるものの、これらの要素の平らな表面に集まる。それ
ゆえ前記要素は、定期的間隔をもって徹底的に清掃され
なければならない。
ている。しかしながらその設計は複雑であり、さらに装
置の部品のいくつかは、使用中に尿で汚染される。これ
はとくに、ペーストレイとテストストリップ搬送要素に
あてはまることである。ユニットの内部に尿が入るのを
防ぐために、これら両者の周囲はエツジが高くなってい
る。しかし、尿は高くされたエツジにより流出が防止さ
れるものの、これらの要素の平らな表面に集まる。それ
ゆえ前記要素は、定期的間隔をもって徹底的に清掃され
なければならない。
［発明が解決しようとする課題］
本発明の目的は、測定の正確さを損なうことなくより簡
易な取り扱いができるテストストリップ評価装置を提供
することである。とくに、装置を清潔に保つための労力
がかなり減ぜられなければならない。
易な取り扱いができるテストストリップ評価装置を提供
することである。とくに、装置を清潔に保つための労力
がかなり減ぜられなければならない。
し課題を解決するだめの手段］
本発明により、テストストリップがその長さ方向に対し
て垂直にテストストリップ供給域から移送路に沿って処
分域へ移送されることによる移送および位置決めデバイ
スを有し、光学測定ユニットを有する少なくとも一つの
測定位置が移送路上に配置されており、 テストストリップがその上を摺動するレールが移送路に
沿ってのびており、 移送方向に互いに連なり、テストストリップを段階的に
運ぶべく周期的に繰り返す動作径路で互いに同調して駆
動されるカム要素が少なくとも二列備えられてなる評価
装置であって、レールが薄いプラスチック材料で作られ
た使い捨て移送部内挿体の縦に通った外郭面として構成
されており、 カム要素が移送部内挿体のレール間に上方からはまり込
んでおり、 ベアリング要素が移送部内挿体のために設けられ、テス
トストリップ供給域および処分域のあいたにある中間域
において支持表面によって移送部内挿体を支えており、 剛性接触押圧要素がＡＰＩ定位置において光学＋１１１
１定ユニツトから定められた距離に配置され、測定のあ
いたテストストリップが前記接触押圧要素に対して下方
から弾性的に押圧される ことを特徴とする複式テストストリップのためのテスト
ストリップ評価装置が提供される。
て垂直にテストストリップ供給域から移送路に沿って処
分域へ移送されることによる移送および位置決めデバイ
スを有し、光学測定ユニットを有する少なくとも一つの
測定位置が移送路上に配置されており、 テストストリップがその上を摺動するレールが移送路に
沿ってのびており、 移送方向に互いに連なり、テストストリップを段階的に
運ぶべく周期的に繰り返す動作径路で互いに同調して駆
動されるカム要素が少なくとも二列備えられてなる評価
装置であって、レールが薄いプラスチック材料で作られ
た使い捨て移送部内挿体の縦に通った外郭面として構成
されており、 カム要素が移送部内挿体のレール間に上方からはまり込
んでおり、 ベアリング要素が移送部内挿体のために設けられ、テス
トストリップ供給域および処分域のあいたにある中間域
において支持表面によって移送部内挿体を支えており、 剛性接触押圧要素がＡＰＩ定位置において光学＋１１１
１定ユニツトから定められた距離に配置され、測定のあ
いたテストストリップが前記接触押圧要素に対して下方
から弾性的に押圧される ことを特徴とする複式テストストリップのためのテスト
ストリップ評価装置が提供される。
本発明の評価装置においては移送部内挿体が熱１１Ｊ塑
性プラスチツク材料で作製されてなるもの、移送部内挿
体かポリスチレンて作られてなるもの、移送部内挿体の
壁の厚さが］ ｍｏ＋未満であるもの、移送部内挿体の
壁の厚さが０ 、５ｍｍ未満であるもの、移送部内挿体
の壁の厚さが０．ｉ５〜０ 、３＋ｎｍであるもの、レ
ールが測定位置を過ぎても連続的にのびているもの、移
送部内ｔＩＴｔ体が測定位置の領域において移送路に対
して垂直方向に弾性的に変形しつるようにレールが移送
部内挿体において外郭形成されており、測定位置の領域
においてベアリング部の支持表面が平坦であるもの、移
送部内挿体がテストストリップ供給域および処分域にお
いてトラフよりなるもの、レール間の距離がテストスト
リップのテストフィールドの間隔の倍数であり、テスト
ストリップがテストフィールドのあいだにある特定の部
分においてレール上を摺動するように移送路上を案内さ
れるもの、測定位置の配置される接触押圧要素がテスト
ストリップコンベヤに固定されており、カム要素もテス
トストリップコンベヤに固定されているもの、接触押圧
要素が移送方向中にのびた複数の当接部よりなり、該接
触押圧要素がテストストリップを押えるとき、テストフ
ィールドのあいだにくるように配置されているもの、ベ
アリング要素が移送路に垂直に周期的な上下運動を行い
、カム要素が移送路に平行に周期的な前後運動を行い、
さらに両方の運動がテストストリップの段階的移送が行
われるように組合わされているもの、およびテストスト
リップをその縦方向に位置決めするため移送路上に斜め
に突き当たるフロント部を有する側面ガイド要素が設け
られ、前記フロント部は移送部内挿体の一部を形成する
のではなく別に設けられてなるものが好ましい。
性プラスチツク材料で作製されてなるもの、移送部内挿
体かポリスチレンて作られてなるもの、移送部内挿体の
壁の厚さが］ ｍｏ＋未満であるもの、移送部内挿体の
壁の厚さが０ 、５ｍｍ未満であるもの、移送部内挿体
の壁の厚さが０．ｉ５〜０ 、３＋ｎｍであるもの、レ
ールが測定位置を過ぎても連続的にのびているもの、移
送部内ｔＩＴｔ体が測定位置の領域において移送路に対
して垂直方向に弾性的に変形しつるようにレールが移送
部内挿体において外郭形成されており、測定位置の領域
においてベアリング部の支持表面が平坦であるもの、移
送部内挿体がテストストリップ供給域および処分域にお
いてトラフよりなるもの、レール間の距離がテストスト
リップのテストフィールドの間隔の倍数であり、テスト
ストリップがテストフィールドのあいだにある特定の部
分においてレール上を摺動するように移送路上を案内さ
れるもの、測定位置の配置される接触押圧要素がテスト
ストリップコンベヤに固定されており、カム要素もテス
トストリップコンベヤに固定されているもの、接触押圧
要素が移送方向中にのびた複数の当接部よりなり、該接
触押圧要素がテストストリップを押えるとき、テストフ
ィールドのあいだにくるように配置されているもの、ベ
アリング要素が移送路に垂直に周期的な上下運動を行い
、カム要素が移送路に平行に周期的な前後運動を行い、
さらに両方の運動がテストストリップの段階的移送が行
われるように組合わされているもの、およびテストスト
リップをその縦方向に位置決めするため移送路上に斜め
に突き当たるフロント部を有する側面ガイド要素が設け
られ、前記フロント部は移送部内挿体の一部を形成する
のではなく別に設けられてなるものが好ましい。
［作 用コ
前述の課題は、本発明の装置によって解決できる。すな
わち、薄いプラスチック材で作られた使い捨ての移送部
内挿体の中へ縦方向に通るようにレールが形成され、カ
ム要素が上から移送部内挿体のレール間にはまり込み、
テストストリップ供給域と処分域のあいだにある中間域
で支持表面により移送部内挿体を支えるベアリング要素
が移送部内挿体のために設けられ、さらに、光学ＡＦ１
定ユニットから定められた距離の測定位置に測定中下か
ら弾性的にテストストリップを押しつける剛性接触押圧
要素が配置されるという構成により、測定の正確さを損
なうことなくより簡単な取り扱いができるテストストリ
ップ評価装置が提供される。
わち、薄いプラスチック材で作られた使い捨ての移送部
内挿体の中へ縦方向に通るようにレールが形成され、カ
ム要素が上から移送部内挿体のレール間にはまり込み、
テストストリップ供給域と処分域のあいだにある中間域
で支持表面により移送部内挿体を支えるベアリング要素
が移送部内挿体のために設けられ、さらに、光学ＡＦ１
定ユニットから定められた距離の測定位置に測定中下か
ら弾性的にテストストリップを押しつける剛性接触押圧
要素が配置されるという構成により、測定の正確さを損
なうことなくより簡単な取り扱いができるテストストリ
ップ評価装置が提供される。
移送部内挿体は使い捨て、すなわち、１回だけの使用で
捨てられる部分である。これは低価格で好ましくはディ
ープドローイング（ｄｅｅｐｄｒａｗｉｎｇ）法により
熱可塑性プラスチック材、とくにポリスチレン、ポリプ
ロピレンまたはポリ塩化ビニルから作製され、テストス
トリップ供給域から処分域に向かうテストストリップの
全移送路を形成している。尿によるユニットの汚染はこ
のようにするとほとんどまったく防ぐことができる。
捨てられる部分である。これは低価格で好ましくはディ
ープドローイング（ｄｅｅｐｄｒａｗｉｎｇ）法により
熱可塑性プラスチック材、とくにポリスチレン、ポリプ
ロピレンまたはポリ塩化ビニルから作製され、テストス
トリップ供給域から処分域に向かうテストストリップの
全移送路を形成している。尿によるユニットの汚染はこ
のようにするとほとんどまったく防ぐことができる。
移送路上の測定位置の測定ユニットから定められた距離
のところに剛性接触押圧要素が配置されるため、レール
自体は好ましくは厚さ０．５Ｉｆｆ１未満の薄いプラス
チック材でできた使い捨て部品の一部であるにもかかわ
らず、とくに正確な距離方向の位置決めが保証される。
のところに剛性接触押圧要素が配置されるため、レール
自体は好ましくは厚さ０．５Ｉｆｆ１未満の薄いプラス
チック材でできた使い捨て部品の一部であるにもかかわ
らず、とくに正確な距離方向の位置決めが保証される。
剛性接触押圧要素にテストストリップを押しつけるあい
だ、抑しつける部品には適度の弾力性が要求される。前
記既知の装置と対照的に、レールが測定位置を通過して
も連続してはしるように、移送部内挿体はテストストリ
ップ供給域と処分域のあいだを連続して形成されるのが
好ましい。
だ、抑しつける部品には適度の弾力性が要求される。前
記既知の装置と対照的に、レールが測定位置を通過して
も連続してはしるように、移送部内挿体はテストストリ
ップ供給域と処分域のあいだを連続して形成されるのが
好ましい。
形成される形状は移送部内挿体が測定位置領域において
移送路に垂直な方向に９１ｉ性的に変形しうるように選
択されることがさらに好ましい。
移送路に垂直な方向に９１ｉ性的に変形しうるように選
択されることがさらに好ましい。
測定位置領域におけるベアリング要素の支持表面は平ｔ
ｒｙである。剛性接触押圧要素に対して押しつけている
あいだに要求されるＦｌｉ性は移送部内挿体目体により
保証される。
ｒｙである。剛性接触押圧要素に対して押しつけている
あいだに要求されるＦｌｉ性は移送部内挿体目体により
保証される。
［実施例］
つぎに図面に概略的に示された実施例に基づいて本発明
の評価装置をさらに詳細に説明する。
の評価装置をさらに詳細に説明する。
第１図は移送部内挿体を取出した状態のテストストリッ
プ評価装置を示す部分切取斜視図、第２図は移送部内挿
体を使用位置に置いたほかは第１図と同様のテストスト
リップ評価装置を示す部分切取斜視図、 第３図は移送部内挿体の平面図、 第４図は測定位置でのテストストリップ評価装置の移送
路を示す断面図である。
プ評価装置を示す部分切取斜視図、第２図は移送部内挿
体を使用位置に置いたほかは第１図と同様のテストスト
リップ評価装置を示す部分切取斜視図、 第３図は移送部内挿体の平面図、 第４図は測定位置でのテストストリップ評価装置の移送
路を示す断面図である。
第１〜２図で示されるテストストリップ評価装置（１）
は操作パネル（３〉、表示部（４）および印字部（５）
を備えたケーシング（２〉を有している。測定ヘッド（
６）を備えた測定デバイスは２つの光学測定ユニット（
７）および（８）ならびに測定電子部（図示されていな
い）からなる。これらの部品は通常の構成を有するもの
でよい。
は操作パネル（３〉、表示部（４）および印字部（５）
を備えたケーシング（２〉を有している。測定ヘッド（
６）を備えた測定デバイスは２つの光学測定ユニット（
７）および（８）ならびに測定電子部（図示されていな
い）からなる。これらの部品は通常の構成を有するもの
でよい。
それゆえ、これらについてはここでは細かく述べない。
本発明は主に、テストストリップを少なくとも１つの測
定位置に自動供給でき、測定位置において正確に位置決
めができ、かつ、それらを処分できるという特徴に関す
る。これらの特徴は、ユニットの操作中はケーシング（
２）で覆われており、図では切り開いて示されている。
定位置に自動供給でき、測定位置において正確に位置決
めができ、かつ、それらを処分できるという特徴に関す
る。これらの特徴は、ユニットの操作中はケーシング（
２）で覆われており、図では切り開いて示されている。
移送および位置決めデバイス（ｌＯ）には、支持表面（
１３〉を有するベアリング要素（１１）と、移送部内挿
体（１２）と、２列（１５，１６）のペグ形カム要素（
１７）を備えたテストストリップコンベヤ（１４）とが
含まれる。
１３〉を有するベアリング要素（１１）と、移送部内挿
体（１２）と、２列（１５，１６）のペグ形カム要素（
１７）を備えたテストストリップコンベヤ（１４）とが
含まれる。
テストストリップ供給域（２１）から処分域（２２）ま
でのレール（２０）上の移送路（１９）に沿い、テスト
ストリップ（１８）はその長さ方向に直角に移送される
。レール（２０）は、移送部内挿体（１２）に縦向きに
形成され、図示された好ましい具体例においては、いく
つかのレール、すなわちレール（２４〉および（２５）
はテストストリップ供給域（２１）の全域およびそれと
処分域（２２〉とのあいたにある中間域（２３〉を通っ
ており、一方、残りのレール（２０）は中間域（２３）
だけに配されている。テストストリップ供給域（２１〉
と処分域（２２）では移送部内挿体〈１２）はいずれも
上部が開いたトラフ形のくほみ（２６）および（２７〉
からなっている。トラフ（２６〉はしたたり落ちる過剰
の試料液を溜める。
でのレール（２０）上の移送路（１９）に沿い、テスト
ストリップ（１８）はその長さ方向に直角に移送される
。レール（２０）は、移送部内挿体（１２）に縦向きに
形成され、図示された好ましい具体例においては、いく
つかのレール、すなわちレール（２４〉および（２５）
はテストストリップ供給域（２１）の全域およびそれと
処分域（２２〉とのあいたにある中間域（２３〉を通っ
ており、一方、残りのレール（２０）は中間域（２３）
だけに配されている。テストストリップ供給域（２１〉
と処分域（２２）では移送部内挿体〈１２）はいずれも
上部が開いたトラフ形のくほみ（２６）および（２７〉
からなっている。トラフ（２６〉はしたたり落ちる過剰
の試料液を溜める。
トラフ（２７）は、通常１操作サイクルで評価されるテ
ストストリップ（たとえば１００ユニツト）を集めるの
に充分な大きさである。
ストストリップ（たとえば１００ユニツト）を集めるの
に充分な大きさである。
移送部内挿体（１２）はベアリング要素（１１）の上に
容易に位置決めでき、またそこから容易に取りはずすこ
とができる。これを行うためには、ベアリング要素（１
１）が本実施例においては移送板（１４ａ）の形になっ
ているテストストリップコンベヤ（１４〉から下方に離
れる方向に移動せしめられることができれば都合がよい
。そして第１図に示したように、同時に正面に向かって
傾くことがとくに好ましい。本実施例においてこのこと
は支持梁（３Ｉ）と、２つのベアリング要素側部ベアリ
ング（３２）、（３３）と、ブラケット（３４〉と、後
方軸支レバー（３５）とからなる複式リンク機構（Ｉｌ
ｕｌｔｉ−１ｉｎｋ ｍｅｃｈａｎｉｓＩｌｌ）（３０
）によってなされる。
容易に位置決めでき、またそこから容易に取りはずすこ
とができる。これを行うためには、ベアリング要素（１
１）が本実施例においては移送板（１４ａ）の形になっ
ているテストストリップコンベヤ（１４〉から下方に離
れる方向に移動せしめられることができれば都合がよい
。そして第１図に示したように、同時に正面に向かって
傾くことがとくに好ましい。本実施例においてこのこと
は支持梁（３Ｉ）と、２つのベアリング要素側部ベアリ
ング（３２）、（３３）と、ブラケット（３４〉と、後
方軸支レバー（３５）とからなる複式リンク機構（Ｉｌ
ｕｌｔｉ−１ｉｎｋ ｍｅｃｈａｎｉｓＩｌｌ）（３０
）によってなされる。
当業者はこのような可動デバイスを現実化させるその他
の方法、とくに、サーボモーター歯車ギヤなどを用いた
方法には詳しいであろう。
の方法、とくに、サーボモーター歯車ギヤなどを用いた
方法には詳しいであろう。
ベアリング要素（１１）が、テストストリップコンベヤ
（１４）から、したがってカム要素（１７）から離れて
下方および正面方向に回動するならば、移送部内挿体（
１２）は矢印（３８）で示した方法で容易にベアリング
要素（１１）に挿入できる。ベアリング要素（１１）は
移送部内挿体（１２）が特定の位置でその上にぴったり
と固定できるような形をしている。逆に移送部内挿体は
、矢印（３９）で示したように、まったく容易に取りは
ずされ、さらに、トラフ（２７〉に入っている使用済み
テストストリップとともに廃棄される。
（１４）から、したがってカム要素（１７）から離れて
下方および正面方向に回動するならば、移送部内挿体（
１２）は矢印（３８）で示した方法で容易にベアリング
要素（１１）に挿入できる。ベアリング要素（１１）は
移送部内挿体（１２）が特定の位置でその上にぴったり
と固定できるような形をしている。逆に移送部内挿体は
、矢印（３９）で示したように、まったく容易に取りは
ずされ、さらに、トラフ（２７〉に入っている使用済み
テストストリップとともに廃棄される。
テストストリップ供給域（２１〉から処分域（２２〉ま
でのテストストリップの移送は、本実施例においては、
ベアリング要素（１１）およびこれにより移送部内挿体
（１２）が移送路に直角に周期的な上下運動（第２図中
矢印（４０））をすること、方、カム要素（１７）が移
送路（１９）に平行に周期的な前後運動（第２図中矢印
（４１））をすることにより、実現する。両運動は以下
に詳細に説明するように、テストストリップが段階的に
移送されるべく組合わせられる。
でのテストストリップの移送は、本実施例においては、
ベアリング要素（１１）およびこれにより移送部内挿体
（１２）が移送路に直角に周期的な上下運動（第２図中
矢印（４０））をすること、方、カム要素（１７）が移
送路（１９）に平行に周期的な前後運動（第２図中矢印
（４１））をすることにより、実現する。両運動は以下
に詳細に説明するように、テストストリップが段階的に
移送されるべく組合わせられる。
移送サイクルは、最も単純なばあい、以下のように行わ
れる。
れる。
ベアリング要素（１１）およびこれにより移送部内挿体
（１２）が上昇すると、カム要素（１７）がレール（２
０）間の間隙（４３）に入る。するとテストストリップ
コンベヤ（１４）が移送方向（第１〜３図においては右
に向かう方向）にカム要素（１７）とともに移動する。
（１２）が上昇すると、カム要素（１７）がレール（２
０）間の間隙（４３）に入る。するとテストストリップ
コンベヤ（１４）が移送方向（第１〜３図においては右
に向かう方向）にカム要素（１７）とともに移動する。
全テストストリップがそれによってさらに１段階送られ
る。ついで、ベアリング要素（１１〉は、レール上に静
止しているテストストリップ（１８）がカム要素（１７
〉より下に位置するまで下方に下がる。つぎに、テスト
ストリップコンベヤは反対方向（図においては左に向か
う方向）に後退する。水平運動の移動距離は中間域（２
３）におけるテストストリップ間隔よりもわずかに大き
い。再び新たにベアリング要素（１１）が上昇すると、
カム要素は再び間隙（４３）にはまり込む。こうして移
送サイクルが再開する。
る。ついで、ベアリング要素（１１〉は、レール上に静
止しているテストストリップ（１８）がカム要素（１７
〉より下に位置するまで下方に下がる。つぎに、テスト
ストリップコンベヤは反対方向（図においては左に向か
う方向）に後退する。水平運動の移動距離は中間域（２
３）におけるテストストリップ間隔よりもわずかに大き
い。再び新たにベアリング要素（１１）が上昇すると、
カム要素は再び間隙（４３）にはまり込む。こうして移
送サイクルが再開する。
垂直に移動するレールと水平方向移送要素による分析対
象要素の移送はアメリカ特許第３６４５６９０号明細書
から知られている。移送方法のこれ以上の詳細は刊行物
となっている前記特許明細書から知ることができる。基
本的な移送の原理はまた、「ウオーキングビーム（ｗａ
ｌｋｌｎｇｂｅａＩＩｌ）Ｊとしても記載されている。
象要素の移送はアメリカ特許第３６４５６９０号明細書
から知られている。移送方法のこれ以上の詳細は刊行物
となっている前記特許明細書から知ることができる。基
本的な移送の原理はまた、「ウオーキングビーム（ｗａ
ｌｋｌｎｇｂｅａＩＩｌ）Ｊとしても記載されている。
本発明と対照的に、水平に移動す、る移送要素を備えた
コンベヤはアメリカ特許第３６４５６９０号明細書中で
は、分析対象要素より下方に位置している。また、使い
捨ての移送部内挿体は備わっていない。さらに、そこに
記載されている分析対象要素はテストストリップではな
く、また、そのシステムにおける分析評価は透過光度測
定法によるものである。したがって、既知の装置では、
反射光度測定評価に伴う位置決めの精度に関する特別な
要求はなかった。とくに好ましい実施例においては、テ
ストストリップコンベヤ（１４）は、テストストリップ
の移送について記載したように、移送路（２０）の中間
域（２３）においてのみ用いられるものではなく、同時
に、テストストリップ供給域（２Ｉ）に供給されるテス
トストリップが一様に平行に整列することにも役立って
いる。これは、カム要素（１７）よりもずっと下方に伸
びている整列要素（４５）が、移送方向においてカム要
素（Ｉ７）の列（１５，１６）の上流側に配されている
ことで行われる。移送部内挿体（１２）を備えたベアリ
ング要素（１１）はこの実施例において、まず中間位置
までだけ上昇し、該中間位置では、より短いカム要素（
１７）はまだレール（２０）上のテストストリップより
上方に位置しており、より長い整列要素（４５）はその
先端が既にレール（２４）、（２５）より下方に進んで
おりテストストリップ（１８）用の移送路に突き当たっ
ている。このばあいにおいては、移送方向（矢印（４Ｉ
）の右方向）に向かうテストストリップコンベヤ（１４
）の水平運動の全移動距離は、中間域（２３）における
テストストリップの間隔に比べかなり長い（少なくとも
２倍の長さである）。この水平運動では、まず最初に、
ベアリング要素（１１）が前記中間位置にあるあいだに
、テストストリップ供給域（２１）のどこに置かれたテ
ストストリップもきちんと整列せしめられる。ついで、
移送部内挿体（１２）を備えたベアリング要素（１１）
は、カム要素（１７）がレール（２０）間の間隙（４３
）にはまり込みその結果さらにテストストリップの移送
路とも係合するように上昇する。引き続き、移送方向で
のテストストリップコンベヤ（１４〉の水平運動では、
つぎに、整列要素（４５）が一般のカム要素として作用
する。残りの移送サイクルは先に述べたように行われ、
整列要素（４５〉がもはやテストストリップ用の移送路
には位置しないところまでコンベヤ（１４）が後退する
あいだ、移送部内挿体（１２）を伴ったベアリング要素
（１１）が下降せしめられる。
コンベヤはアメリカ特許第３６４５６９０号明細書中で
は、分析対象要素より下方に位置している。また、使い
捨ての移送部内挿体は備わっていない。さらに、そこに
記載されている分析対象要素はテストストリップではな
く、また、そのシステムにおける分析評価は透過光度測
定法によるものである。したがって、既知の装置では、
反射光度測定評価に伴う位置決めの精度に関する特別な
要求はなかった。とくに好ましい実施例においては、テ
ストストリップコンベヤ（１４）は、テストストリップ
の移送について記載したように、移送路（２０）の中間
域（２３）においてのみ用いられるものではなく、同時
に、テストストリップ供給域（２Ｉ）に供給されるテス
トストリップが一様に平行に整列することにも役立って
いる。これは、カム要素（１７）よりもずっと下方に伸
びている整列要素（４５）が、移送方向においてカム要
素（Ｉ７）の列（１５，１６）の上流側に配されている
ことで行われる。移送部内挿体（１２）を備えたベアリ
ング要素（１１）はこの実施例において、まず中間位置
までだけ上昇し、該中間位置では、より短いカム要素（
１７）はまだレール（２０）上のテストストリップより
上方に位置しており、より長い整列要素（４５）はその
先端が既にレール（２４）、（２５）より下方に進んで
おりテストストリップ（１８）用の移送路に突き当たっ
ている。このばあいにおいては、移送方向（矢印（４Ｉ
）の右方向）に向かうテストストリップコンベヤ（１４
）の水平運動の全移動距離は、中間域（２３）における
テストストリップの間隔に比べかなり長い（少なくとも
２倍の長さである）。この水平運動では、まず最初に、
ベアリング要素（１１）が前記中間位置にあるあいだに
、テストストリップ供給域（２１）のどこに置かれたテ
ストストリップもきちんと整列せしめられる。ついで、
移送部内挿体（１２）を備えたベアリング要素（１１）
は、カム要素（１７）がレール（２０）間の間隙（４３
）にはまり込みその結果さらにテストストリップの移送
路とも係合するように上昇する。引き続き、移送方向で
のテストストリップコンベヤ（１４〉の水平運動では、
つぎに、整列要素（４５）が一般のカム要素として作用
する。残りの移送サイクルは先に述べたように行われ、
整列要素（４５〉がもはやテストストリップ用の移送路
には位置しないところまでコンベヤ（１４）が後退する
あいだ、移送部内挿体（１２）を伴ったベアリング要素
（１１）が下降せしめられる。
ベアリング要素（１１）とテストストリップコンベヤ（
１４）との前述した運動は、当業者によく知られている
手段を用い、種々の方法で実施することができる。運動
を駆動するモータ（４０ａ）および（４１ａ）を図に示
す。モータ（４０ａ）および（４１ａ＞の川幅運動を部
品の相当する縦方向の運動に変換するのは、たとえばテ
ストストリップコンベヤ（１４〉の例において示したよ
うに、連結部分く４８〉に係合するカム（４９）を有す
る移送ディスク（４７）などにより行われる。前記部品
は、たとえば第１〜２図に示されていないスライディン
グガイド（ｓｌｉｄｉｎｇ ｇｕｉｄｅ）によってその
運動径路上にガイドされる。
１４）との前述した運動は、当業者によく知られている
手段を用い、種々の方法で実施することができる。運動
を駆動するモータ（４０ａ）および（４１ａ）を図に示
す。モータ（４０ａ）および（４１ａ＞の川幅運動を部
品の相当する縦方向の運動に変換するのは、たとえばテ
ストストリップコンベヤ（１４〉の例において示したよ
うに、連結部分く４８〉に係合するカム（４９）を有す
る移送ディスク（４７）などにより行われる。前記部品
は、たとえば第１〜２図に示されていないスライディン
グガイド（ｓｌｉｄｉｎｇ ｇｕｉｄｅ）によってその
運動径路上にガイドされる。
テストストリップの長さ方向の位置決めは、本実施例中
ではベアリング要素（１１）に固定され、そのフロント
部（６５ａ）（第２図）が移送路（１９〉の面上に斜め
に突き当たっている側面ガイド壁（６５）により行われ
る。テストストリップ（１８）の末端（１８ｄ）は移送
中、側面ガイド壁（６５）の内側（６５ｂ）に当接し、
テストストリップは定められた長さ方向位置に移動する
。
ではベアリング要素（１１）に固定され、そのフロント
部（６５ａ）（第２図）が移送路（１９〉の面上に斜め
に突き当たっている側面ガイド壁（６５）により行われ
る。テストストリップ（１８）の末端（１８ｄ）は移送
中、側面ガイド壁（６５）の内側（６５ｂ）に当接し、
テストストリップは定められた長さ方向位置に移動する
。
テストフィールドの色変化の反射光度測定評価は、中間
域（２３）の測定位置（５０）および（５１〉に移送路
（１９）の上方に設置された光学測定ユニット（７）お
よび（８）によって行われる。実施例においては測定ユ
ニット（７）および（８）は、テストストリップ（１８
）の上方を移送路（１９〉に直角に矢印（５３）で示す
ように移動しうる共通の測定ヘッド（６）中に組み込ま
れている。このようにして、全テストフィールド（１８
ａ）が各測定位置（５０）または（５１）ごとに、それ
ぞれ１つの測定ユニット（７）または（８）によってつ
ぎつぎに測定される。しかし、これに代えである既知の
ユニットで採用されているように、それぞれの測定ユニ
ットに、個々のテストフィールドを測定する亙いに隣接
した複数の光学システムを設置することもできる。第４
図は測定位置（５０）における断面を示す。光学測定ユ
ニット（７〉を備えた測定ヘッド（６〉は、ガイドレー
ル（５５） （第１〜２図には示されていない）上を案
内される。駆動はモータ（５６） （第１〜２図参照）
により行われ、駆動力はたとえば図には示されていない
歯型ベルト機構によって伝達される。
域（２３）の測定位置（５０）および（５１〉に移送路
（１９）の上方に設置された光学測定ユニット（７）お
よび（８）によって行われる。実施例においては測定ユ
ニット（７）および（８）は、テストストリップ（１８
）の上方を移送路（１９〉に直角に矢印（５３）で示す
ように移動しうる共通の測定ヘッド（６）中に組み込ま
れている。このようにして、全テストフィールド（１８
ａ）が各測定位置（５０）または（５１）ごとに、それ
ぞれ１つの測定ユニット（７）または（８）によってつ
ぎつぎに測定される。しかし、これに代えである既知の
ユニットで採用されているように、それぞれの測定ユニ
ットに、個々のテストフィールドを測定する亙いに隣接
した複数の光学システムを設置することもできる。第４
図は測定位置（５０）における断面を示す。光学測定ユ
ニット（７〉を備えた測定ヘッド（６〉は、ガイドレー
ル（５５） （第１〜２図には示されていない）上を案
内される。駆動はモータ（５６） （第１〜２図参照）
により行われ、駆動力はたとえば図には示されていない
歯型ベルト機構によって伝達される。
これまでに示したように、？ｆｐＩＩ定の正確さには、
光学Ｊｌｌｌｌｌｌツユニットおよびテストストリップ
（１８〉上のテストフィールド（１８ａ）間の距離（Ａ
）が正確に定められており、かつ、それぞれのテストス
トリップに対して同じであることがきわめて重要である
。このことは本発明においては、既に述べたように、測
定位置において光学測定ユニットから定められた距離に
配置される剛性接触押圧要素（６０）に対して、テスト
ストリップがその下側（＋８ｂ）から弾性的に押しつけ
られるということにより遠戚されている。
光学Ｊｌｌｌｌｌｌツユニットおよびテストストリップ
（１８〉上のテストフィールド（１８ａ）間の距離（Ａ
）が正確に定められており、かつ、それぞれのテストス
トリップに対して同じであることがきわめて重要である
。このことは本発明においては、既に述べたように、測
定位置において光学測定ユニットから定められた距離に
配置される剛性接触押圧要素（６０）に対して、テスト
ストリップがその下側（＋８ｂ）から弾性的に押しつけ
られるということにより遠戚されている。
本実施例においては、移送方向に配置された複数の当接
部（６１）をもつはしご形の接触押圧要素（６０〉が移
送板（１４ａ）として構成されたテストストリップコン
ベヤ（１４〉上に設けられている。
部（６１）をもつはしご形の接触押圧要素（６０〉が移
送板（１４ａ）として構成されたテストストリップコン
ベヤ（１４〉上に設けられている。
これらの当接部は、テストストリップ（１８）で押しつ
けられるとき、そのテストフィールド（１８ａ）のあい
だにくるように配置されている。当接部は、第１〜２図
に見られるように、移送板（１４ａ）に設けられた浅孔
（６３）を直角に横切り、矩形の窓（６４〉としてｔ０
互に分離し、それを通して光学測定が行われるように配
置されている。光学測定ユニット（７）と接触押圧要素
（６０）とのあいだの定められた距離は移送板（１４ａ
）とガイドレール（５５）が共通のフレーム（５７）に
固定されていることによって確保されている。
けられるとき、そのテストフィールド（１８ａ）のあい
だにくるように配置されている。当接部は、第１〜２図
に見られるように、移送板（１４ａ）に設けられた浅孔
（６３）を直角に横切り、矩形の窓（６４〉としてｔ０
互に分離し、それを通して光学測定が行われるように配
置されている。光学測定ユニット（７）と接触押圧要素
（６０）とのあいだの定められた距離は移送板（１４ａ
）とガイドレール（５５）が共通のフレーム（５７）に
固定されていることによって確保されている。
テストストリップは剛性接触押圧要素（６０）に対して
弾性的に押しつけられる。移送部内挿体（Ｉ２〉は、測
定位置（５０）および（５１）の領域において、移送路
（１９）に直角方向（すなわち、テストストリップの裏
側（１８ｂ）に向かう方向）に弾性的に変形しうるよう
な形状であることが好ましい。このことはとくに、（ヨ
ーロッパ特許出願公開第１７４５６４号明細書およびア
メリカ特許第４６８９２０２号明細書により既に知られ
た装置と対照的に）レール（２０）が連続的で、かつ、
幾分起伏した形状に形成されることにより遠戚されうる
。また、ベアリング要素（ＩＩ）の上に乗る移送部内挿
体（１２）の下側の湾曲部（１２ａ）が、テストストリ
ップ（１８）がその上を摺動する移送部内挿体の上側の
湾曲部（＋２ｂ）よりもよりゆるやかな丸みをもってい
るととくに都合がよい。
弾性的に押しつけられる。移送部内挿体（Ｉ２〉は、測
定位置（５０）および（５１）の領域において、移送路
（１９）に直角方向（すなわち、テストストリップの裏
側（１８ｂ）に向かう方向）に弾性的に変形しうるよう
な形状であることが好ましい。このことはとくに、（ヨ
ーロッパ特許出願公開第１７４５６４号明細書およびア
メリカ特許第４６８９２０２号明細書により既に知られ
た装置と対照的に）レール（２０）が連続的で、かつ、
幾分起伏した形状に形成されることにより遠戚されうる
。また、ベアリング要素（ＩＩ）の上に乗る移送部内挿
体（１２）の下側の湾曲部（１２ａ）が、テストストリ
ップ（１８）がその上を摺動する移送部内挿体の上側の
湾曲部（＋２ｂ）よりもよりゆるやかな丸みをもってい
るととくに都合がよい。
この点に関連して、移送部内挿体の材質の厚さもまた、
重要である。この厚さは好ましくは０．５ｍｍ未満であ
り、とくに０．１５〜０．３ｎ＋Ｉ１１であることが好
ましい。
重要である。この厚さは好ましくは０．５ｍｍ未満であ
り、とくに０．１５〜０．３ｎ＋Ｉ１１であることが好
ましい。
中間域（２３）において移送部内挿体（１２）の裏側が
乗っているベアリング要素（１１）の支持表面（１３）
は、本実施例においては移送部内挿体（１２）をできる
だけ均一に支えることができるように、平坦になってい
る。しかしながら、平坦な表面が連続したものである必
要がないことはいうまでもない。テストストリップ（１
８）の全体に均一な接触圧がかかることを確実にするた
めに、ベアリング要素（１１）が移送路（１９）に平行
な軸のまわりに回動自在に支えられていると有益である
。
乗っているベアリング要素（１１）の支持表面（１３）
は、本実施例においては移送部内挿体（１２）をできる
だけ均一に支えることができるように、平坦になってい
る。しかしながら、平坦な表面が連続したものである必
要がないことはいうまでもない。テストストリップ（１
８）の全体に均一な接触圧がかかることを確実にするた
めに、ベアリング要素（１１）が移送路（１９）に平行
な軸のまわりに回動自在に支えられていると有益である
。
レール（２０）間の距離（Ｄ）はテストストリップ（１
８）のテストフィールド間隔の倍数であることが好まし
い。さらに、レール間距離（Ｄ）はテストフィールド間
隔と同じであることが最も好ましい。テストストリップ
は第４図に示すように、移送路上をテストフィールド間
の部分（１８ｃ）がレールの上を摺動するように案内さ
れる。当業者がアメリカ特許第４６８９２０２号明細書
からたどることができることがらとは対■α的に、本実
施例においてテストストリップ（１８）はそのテストフ
ィールド（１８ａ）の下ではまったく支えられていない
が、それにもかかわらず高精度な距離の位置決めが可能
である。このレールの配置は同時に、試料のいわゆる「
キャリーオーバー（ｃａｒｒｙ−ｏｖｅｒ）Ｊ 、すな
わちレール上の少量の試料が１つのテストストリップか
ら他へと広がることをも防いでいる。
８）のテストフィールド間隔の倍数であることが好まし
い。さらに、レール間距離（Ｄ）はテストフィールド間
隔と同じであることが最も好ましい。テストストリップ
は第４図に示すように、移送路上をテストフィールド間
の部分（１８ｃ）がレールの上を摺動するように案内さ
れる。当業者がアメリカ特許第４６８９２０２号明細書
からたどることができることがらとは対■α的に、本実
施例においてテストストリップ（１８）はそのテストフ
ィールド（１８ａ）の下ではまったく支えられていない
が、それにもかかわらず高精度な距離の位置決めが可能
である。このレールの配置は同時に、試料のいわゆる「
キャリーオーバー（ｃａｒｒｙ−ｏｖｅｒ）Ｊ 、すな
わちレール上の少量の試料が１つのテストストリップか
ら他へと広がることをも防いでいる。
［発明の効果］
本発明により、特定の使い捨て移送部内挿体を備えたこ
とで、装置の汚染が防止され、取扱いがまったく簡易で
、しかもきわめて良好な位置決め精度を有するテストス
トリ・ノブ評価装置が堤供される。
とで、装置の汚染が防止され、取扱いがまったく簡易で
、しかもきわめて良好な位置決め精度を有するテストス
トリ・ノブ評価装置が堤供される。
第１図は移送部内挿体を取出した状態のテストストリッ
プ評価装置を示す部分切取斜視図、第２図は移送部内挿
体を使用位置に置いたほかは第１図と同様のテストスト
リ・ノブ評価装置を示す部分切取斜視図、第３図は移送
部内挿体の平面図、第４図は測定位置でのテストストリ
・ノブ評価装置の移送路を示す断面図である。 （図面の主要符号） （ｌ〉；テストストリップ評価装置 （７）、（８）：光学測定ユニット （１１）：ベアリング要素 （１２） ：移送部内挿体 （１４） ：テストストリップコンベヤ（１７） ：カ
ム要素 （１ｇ） ：テストストリップ （２０）：レール （６０）二接触押圧要素
プ評価装置を示す部分切取斜視図、第２図は移送部内挿
体を使用位置に置いたほかは第１図と同様のテストスト
リ・ノブ評価装置を示す部分切取斜視図、第３図は移送
部内挿体の平面図、第４図は測定位置でのテストストリ
・ノブ評価装置の移送路を示す断面図である。 （図面の主要符号） （ｌ〉；テストストリップ評価装置 （７）、（８）：光学測定ユニット （１１）：ベアリング要素 （１２） ：移送部内挿体 （１４） ：テストストリップコンベヤ（１７） ：カ
ム要素 （１ｇ） ：テストストリップ （２０）：レール （６０）二接触押圧要素
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ テストストリップがその長さ方向に対して垂直にテ
ストストリップ供給域から移送路に沿って処分域へ移送
されることによる移送および位置決めデバイスを有し、 光学測定ユニットを有する少なくとも一つの測定位置が
移送路上に配置されており、 テストストリップがその上を摺動するレールが移送路に
沿ってのびており、 移送方向に互いに連なり、テストストリップを段階的に
運ぶべく周期的に繰り返す動作径路で互いに同調して駆
動されるカム要素が少なくとも二列備えられてなる評価
装置であっレールが薄いプラスチック材料で作られた使
い捨て移送部内挿体の縦に通った外郭面として構成され
ており、 カム要素が移送部内挿体のレール間に上方からはまり込
んでおり、 ベアリング要素が移送部内挿体のために設けられ、テス
トストリップ供給域および処分域のあいだにある中間域
において支持表面によって移送部内挿体を支えており、 剛性接触押圧要素が測定位置において光学測定ユニット
から定められた距離に配置され、測定のあいだテストス
トリップが前記接触押圧要素に対して下方から弾性的に
押圧されることを特徴とする複式テストストリップのた
めのテストストリップ評価装置。 ２ 移送部内挿体が熱可塑性プラスチック材料で作製さ
れてなる請求項１記載の装置。 ３ 移送部内挿体がポリスチレンで作られてなる請求項
２記載の装置。 ４ 移送部内挿体の壁の厚さが１ｍｍ未満である請求項
１、２または３記載の装置。 ５ 移送部内挿体の壁の厚さが０．５ｍｍ未満である請
求項４記載の装置。 ６ 移送部内挿体の壁の厚さが０．１５〜０．３１ｍｍ
である請求項５記載の装置。 ７ レールが測定位置を過ぎても連続的にのびている請
求項１、２、３、４、５または６記載の装置。 ８ 移送部内挿体が測定位置の領域において移送路に対
して垂直方向に弾性的に変形しうるようにレールが移送
部内挿体において外郭形成されており、測定位置の領域
においてベアリング部の支持表面が平坦である請求項７
記載の装置。 ９ 移送部内挿体がテストストリップ供給域および処分
域においてトラフよりなる請求項１、２、３、４、５、
６、７または８記載の装置。 １０ レール間の距離がテストストリップのテストフィ
ールドの間隔の倍数であり、テストストリップがテスト
フィールドのあいだにある特定の部分においてレール上
を摺動するように移送路上を案内される請求項１、２、
３、４、５、６、７、８または９記載の装置。 １１ 測定位置に配置される接触押圧要素がテストスト
リップコンベヤに固定されており、カム要素もテストス
トリップコンベヤに固定されている請求項１、２、３、
４、５、６、７、８、９または１０記載の装置。 １２ 接触押圧要素が移送方向中にのびた複数の当接部
よりなり、該接触押圧要素がテストストリップを押える
とき、テストフィールドのあいだにくるように配置され
ている請求項１、２、３、４、５、６、７、８、９、１
０または１１記載の装置。 １３ ベアリング要素が移送路に垂直に周期的な上下運
動を行い、カム要素が移送路に平行に周期的な前後運動
を行い、さらに両方の運動がテストストリップの段階的
移送が行われるように組合わされている請求項１、２、
３、４、５、６、７、８、９、１０、１１または１２記
載の装置。 １４ テストストリップをその縦方向に位置決めするた
め移送路上に斜めに突き当たるフロント部を有する側面
ガイド要素が設けられ、前記フロント部は移送部内挿体
の一部を形成するのではなく別に設けられてなる請求項
１、２、３、４、５、６、７、８、９、１０、１１、１
２または１３記載の装置。
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