JPH022538B2 - - Google Patents
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- JPH022538B2 JPH022538B2 JP60194128A JP19412885A JPH022538B2 JP H022538 B2 JPH022538 B2 JP H022538B2 JP 60194128 A JP60194128 A JP 60194128A JP 19412885 A JP19412885 A JP 19412885A JP H022538 B2 JPH022538 B2 JP H022538B2
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- ion concentration
- cuvette
- reaction
- measuring
- photometry
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/272—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration for following a reaction, e.g. for determining photometrically a reaction rate (photometric cinetic analysis)
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、血液や尿等の試料を自動的に化学分
析する自動分析装置に関し、特に試料のイオン濃
度を測定するために少なくとも１つのイオン電極
を具える自動分析装置に係るものである。
析する自動分析装置に関し、特に試料のイオン濃
度を測定するために少なくとも１つのイオン電極
を具える自動分析装置に係るものである。
従来より、各種構成の自動分析装置が提案され
ており、測定項目数を増大させ得る分析装置とし
て、試料のイン濃度を測定するために少なくとも
１つのイオン電極を具えるものも既知である。イ
オン電極を具える既知の分析装置においては反応
容器、いわゆるキユベツトに収められた試料のイ
オン濃度を測定可能とするために、イオン電極を
反応容器に対して上下に変位しうるように配置
し、イオン濃度の測定に際してイオン電極を直接
反応容器内部に侵入させる構成としている。その
結果、多数の試料のイオン濃度を測定すべき場
合、各反応容器に対してイオン電極を上下に変位
させると共に異なる試料のイオン濃度の測定に先
立つてイオン電極を洗浄する必要があり、イオン
電極の洗浄装置を適当な位置に設けたとしても電
極の完全な洗浄は困難であり、試料相互間のコン
タミネーシヨンが不可避的となり、したがつて測
定精度の向上には自ら限界がある。
ており、測定項目数を増大させ得る分析装置とし
て、試料のイン濃度を測定するために少なくとも
１つのイオン電極を具えるものも既知である。イ
オン電極を具える既知の分析装置においては反応
容器、いわゆるキユベツトに収められた試料のイ
オン濃度を測定可能とするために、イオン電極を
反応容器に対して上下に変位しうるように配置
し、イオン濃度の測定に際してイオン電極を直接
反応容器内部に侵入させる構成としている。その
結果、多数の試料のイオン濃度を測定すべき場
合、各反応容器に対してイオン電極を上下に変位
させると共に異なる試料のイオン濃度の測定に先
立つてイオン電極を洗浄する必要があり、イオン
電極の洗浄装置を適当な位置に設けたとしても電
極の完全な洗浄は困難であり、試料相互間のコン
タミネーシヨンが不可避的となり、したがつて測
定精度の向上には自ら限界がある。
本発明は、このような問題点に着目してなされ
たものであり、イオン電極を的確に洗浄可能とす
ることにより多数の試料のイオン濃度測定に際し
て測定精度を低下させることなく常に高信頼性の
分析結果を得ることのできる自動分析装置を提案
することを目的としている。
たものであり、イオン電極を的確に洗浄可能とす
ることにより多数の試料のイオン濃度測定に際し
て測定精度を低下させることなく常に高信頼性の
分析結果を得ることのできる自動分析装置を提案
することを目的としている。
すなわち、本発明による自動分析装置は、透明
材料よりなり各々が被検液を収めた複数の反応容
器を、共通の反応ラインに沿つて相互に離間して
配置された複数の測光位置およびイオン濃度測定
位置を経て移送する反応容器移送手段と；前記反
応容器の少なくとも１つに収めた被検液につき、
当該反応容器が各測光位置を通過する際に測光を
行う測光手段と；前記少なくとも１つの反応容器
に収めた被検液につき、当該反応容器が前記イオ
ン濃度測定位置を通過する際にそのイオン濃度を
測定するイオン濃度測定手段とを具え、前記イオ
ン濃度測定手段が、フローセルと、該フローセル
内に配置されたイオン濃度測定用の少なくとも１
つのイオン電極と、前記被検液を前記少なくとも
１つの反応容器から前記フローセル内に移す吸引
ノズルとを具え、該フローセル内で前記被検液の
イオン濃度を測定するよう構成してなることを特
徴とするものである。
材料よりなり各々が被検液を収めた複数の反応容
器を、共通の反応ラインに沿つて相互に離間して
配置された複数の測光位置およびイオン濃度測定
位置を経て移送する反応容器移送手段と；前記反
応容器の少なくとも１つに収めた被検液につき、
当該反応容器が各測光位置を通過する際に測光を
行う測光手段と；前記少なくとも１つの反応容器
に収めた被検液につき、当該反応容器が前記イオ
ン濃度測定位置を通過する際にそのイオン濃度を
測定するイオン濃度測定手段とを具え、前記イオ
ン濃度測定手段が、フローセルと、該フローセル
内に配置されたイオン濃度測定用の少なくとも１
つのイオン電極と、前記被検液を前記少なくとも
１つの反応容器から前記フローセル内に移す吸引
ノズルとを具え、該フローセル内で前記被検液の
イオン濃度を測定するよう構成してなることを特
徴とするものである。
以下、図面を参照して本発明を詳細に説明す
る。
る。
第１図は本発明自動分析装置の原理的構成を示
す線図である。この装置はバツチプロセスを採用
するデイスクリート方式で、しかも多項目の分析
を順次連続して行なうシーケンシヤルマルチ方式
の自動分析装置である。試料容器１は試料移送機
構２に保持し、矢印Ａ方向に間欠的に移送する。
試料容器１内に収容された試料は、分析項目数に
応じ所定の位置において順次試料分注機構３によ
り所定量吸引し、反応容器としてのキユベツト４
内に希釈液５と共に分注する。キユベツト４はキ
ユベツト移送機構６に保持し、矢印Ｂで示す反応
ラインに沿つて１ステツプ６秒で間欠的に移送す
るよう構成する。また、このキユベツト４はキユ
ベツト供給機構７により、順次移送機構６上に供
給する。試料の分注を受けたキユベツト４は更に
数ステツプ移送し、反応ラインＢ上の所定の位置
において該キユベツト４に試薬分注機構８により
希釈液９と共に分析項目に応じた試薬を分注す
る。分析に必要な試薬は、それぞれ試薬容器１０
１〜１０o内に収容し、両矢印Ｃで示す方向に移動
可能な試薬移送機構１１に保持して、所定の位置
において試薬分注機構８により分析項目に応じた
試薬が吸引されるよう構成する。試料と試薬との
撹拌は、試薬分注機構８により試薬と希釈液とを
適当な流速で分注することにより十分に行なえる
ようにする。試薬の分注を受けたキユベツト４
を、反応ラインＢ上でキユベツト４の１ステツプ
の移動量の整数倍だけ相互に離間した多数の箇所
（図示の例ではその４個所のみを代表的に示す）
にそれぞれ設けられた光源と受光素子とより成る
光電比色計１２〜１５により測光し、当該キユベ
ツト４内の被検液の反応状態を監視する。
す線図である。この装置はバツチプロセスを採用
するデイスクリート方式で、しかも多項目の分析
を順次連続して行なうシーケンシヤルマルチ方式
の自動分析装置である。試料容器１は試料移送機
構２に保持し、矢印Ａ方向に間欠的に移送する。
試料容器１内に収容された試料は、分析項目数に
応じ所定の位置において順次試料分注機構３によ
り所定量吸引し、反応容器としてのキユベツト４
内に希釈液５と共に分注する。キユベツト４はキ
ユベツト移送機構６に保持し、矢印Ｂで示す反応
ラインに沿つて１ステツプ６秒で間欠的に移送す
るよう構成する。また、このキユベツト４はキユ
ベツト供給機構７により、順次移送機構６上に供
給する。試料の分注を受けたキユベツト４は更に
数ステツプ移送し、反応ラインＢ上の所定の位置
において該キユベツト４に試薬分注機構８により
希釈液９と共に分析項目に応じた試薬を分注す
る。分析に必要な試薬は、それぞれ試薬容器１０
１〜１０o内に収容し、両矢印Ｃで示す方向に移動
可能な試薬移送機構１１に保持して、所定の位置
において試薬分注機構８により分析項目に応じた
試薬が吸引されるよう構成する。試料と試薬との
撹拌は、試薬分注機構８により試薬と希釈液とを
適当な流速で分注することにより十分に行なえる
ようにする。試薬の分注を受けたキユベツト４
を、反応ラインＢ上でキユベツト４の１ステツプ
の移動量の整数倍だけ相互に離間した多数の箇所
（図示の例ではその４個所のみを代表的に示す）
にそれぞれ設けられた光源と受光素子とより成る
光電比色計１２〜１５により測光し、当該キユベ
ツト４内の被検液の反応状態を監視する。
第２図は本発明分析装置２５の上蓋を外ずした
状態に対応する装置の各部の配置を示す線図であ
る。試料容器は搬送機構３４により吸引位置まで
搬送される。この吸引位置に隣接する位置までキ
ユベツト供給装置３５により１つずつ供給されて
くるキユベツトには、ポンプ３６により試料容器
から吸引された試料が所定量だけ排出される。こ
れらのキユベツトは搬送機構３７により測光位置
まで搬送される間に、試薬カセツト３２内のタン
ク３８に収められた適当な試薬がデイスペンサ３
９により所定量だけ供給される。試薬タンク３８
は後述するように複数個が無端状にリンク結合
し、所望の試薬を収めたタンク３８をデイスペン
サ３９に対応する位置まで変位させる構成とす
る。キユベツト搬送機構３７に沿つて、後述する
ようにキユベツト内の反応液のイオン濃度を測定
するためのイオン濃度測定装置４０を配置する。
キユベツト搬送機構３７の終端に分配機構４１を
配置し、この分配機構４１により搬送機構３７に
２個の測光部４２を連続させると共に順次搬送さ
れてくるキユベツトを交互に左右の測光部４２に
供給する。各測光部４２に前述した上蓋２６の開
口２７に連なる通路を貫通させる。なお、測光部
４２において測光を終えたキユベツトおよび反応
液はステーシヨン４３において廃棄する。
状態に対応する装置の各部の配置を示す線図であ
る。試料容器は搬送機構３４により吸引位置まで
搬送される。この吸引位置に隣接する位置までキ
ユベツト供給装置３５により１つずつ供給されて
くるキユベツトには、ポンプ３６により試料容器
から吸引された試料が所定量だけ排出される。こ
れらのキユベツトは搬送機構３７により測光位置
まで搬送される間に、試薬カセツト３２内のタン
ク３８に収められた適当な試薬がデイスペンサ３
９により所定量だけ供給される。試薬タンク３８
は後述するように複数個が無端状にリンク結合
し、所望の試薬を収めたタンク３８をデイスペン
サ３９に対応する位置まで変位させる構成とす
る。キユベツト搬送機構３７に沿つて、後述する
ようにキユベツト内の反応液のイオン濃度を測定
するためのイオン濃度測定装置４０を配置する。
キユベツト搬送機構３７の終端に分配機構４１を
配置し、この分配機構４１により搬送機構３７に
２個の測光部４２を連続させると共に順次搬送さ
れてくるキユベツトを交互に左右の測光部４２に
供給する。各測光部４２に前述した上蓋２６の開
口２７に連なる通路を貫通させる。なお、測光部
４２において測光を終えたキユベツトおよび反応
液はステーシヨン４３において廃棄する。
このように測光部４２を２系統設ける場合に
は、例えばキユベツトが搬送機構３７に対して６
秒に１つの割合で供給される場合でも、各測光部
においては12秒に１つのキユベツトについての測
光を行えば良いことになるので、それだけ測光精
度を高めることが可能となる。また、一方の測光
部が故障した場合でも他方の測光部のみを用いて
データがとれるので、作業を完全に中止しなけれ
ばならない事態には至らない。
は、例えばキユベツトが搬送機構３７に対して６
秒に１つの割合で供給される場合でも、各測光部
においては12秒に１つのキユベツトについての測
光を行えば良いことになるので、それだけ測光精
度を高めることが可能となる。また、一方の測光
部が故障した場合でも他方の測光部のみを用いて
データがとれるので、作業を完全に中止しなけれ
ばならない事態には至らない。
第３図はキユベツト４５の一例の構成を示す斜
視図である。本例に示すキユベツト４５は、長方
形の開口部４５ａと、この開口部の外周に設けた
保持用のフランジ４５ｂとを備え、底部４５ｃに
向けて狭くなるようにテーパー状に形成する。底
部４５ｃはかまぼこ状に形成すると共に、少なく
共その長手方向両端面は光透過性として測光窓４
５ｄを形成し、キユベツト内に収容される被検液
を両測光窓を通して測光し得るよう構成する。
視図である。本例に示すキユベツト４５は、長方
形の開口部４５ａと、この開口部の外周に設けた
保持用のフランジ４５ｂとを備え、底部４５ｃに
向けて狭くなるようにテーパー状に形成する。底
部４５ｃはかまぼこ状に形成すると共に、少なく
共その長手方向両端面は光透過性として測光窓４
５ｄを形成し、キユベツト内に収容される被検液
を両測光窓を通して測光し得るよう構成する。
かかるキユベツト４５によれば、開口部４５ａ
（受け口）が広いから、試料および試薬を外方に
飛散させることなく容易に注入できると共に、被
検液は少なく共かまぼこ状の底部４５ｃを満たす
量でよいから、微量の試料および試薬で分析する
ことができる。また測光光軸を長手方向に取るこ
とにより、充分な長さの光路長を得ることができ
るから、高精度の分析を行うことができる。更
に、キユベツトを開口部４５ａから底部４５ｃに
向けて狭くなるようにテーパー状に形成すると共
に、開口部４５ａの外周にフランジ４５ｂを設け
たから、これをキユベツト移送機構に装着する場
合には、第４図Ａに示すように、保持部材６０上
にフランジ４５ｂを載せることにより、あるいは
同図Ｂに示すように、保持部材に溝を形成し、こ
の溝にフランジ４５ｂを挿脱自在に係合させるこ
とにより、測光窓４５ｄを保持部材６０または６
１に接触させることなく、しがつて傷等を付ける
ことなく簡単に装着することができる。なお、第
４図Ａに示す矢印Ｅは測光光軸を表わす。更にま
た、キユベツト４５を光透過性の材料で一体成形
する場合には機械的強度の優れたものを得ること
ができる。
（受け口）が広いから、試料および試薬を外方に
飛散させることなく容易に注入できると共に、被
検液は少なく共かまぼこ状の底部４５ｃを満たす
量でよいから、微量の試料および試薬で分析する
ことができる。また測光光軸を長手方向に取るこ
とにより、充分な長さの光路長を得ることができ
るから、高精度の分析を行うことができる。更
に、キユベツトを開口部４５ａから底部４５ｃに
向けて狭くなるようにテーパー状に形成すると共
に、開口部４５ａの外周にフランジ４５ｂを設け
たから、これをキユベツト移送機構に装着する場
合には、第４図Ａに示すように、保持部材６０上
にフランジ４５ｂを載せることにより、あるいは
同図Ｂに示すように、保持部材に溝を形成し、こ
の溝にフランジ４５ｂを挿脱自在に係合させるこ
とにより、測光窓４５ｄを保持部材６０または６
１に接触させることなく、しがつて傷等を付ける
ことなく簡単に装着することができる。なお、第
４図Ａに示す矢印Ｅは測光光軸を表わす。更にま
た、キユベツト４５を光透過性の材料で一体成形
する場合には機械的強度の優れたものを得ること
ができる。
第５図はイオン濃度測定装置の一例の構成を示
す線図である。このイオン濃度測定装置は、キユ
ベツト４５内の被検液を吸引ノズル１７０で吸引
し、フローセル１７１内で各種のイオン濃度を測
定するようにしたものである。吸引ノズル１７０
はアーム１７２の一端部に保持し、このアームの
他端部にはガイド棒１７３を取り付ける。このガ
イド棒１７３は支持板に設けたスリーブ１７４に
遊嵌し、その端部にはローラ１７５を枢着する。
このローラはモータ１７６の回転軸に取り付けた
偏心カム１７７のカム面に当接させる。このよう
にすれば、モータ１７６を駆動して偏心カム１７
７を回転させることにより、吸引ノズル１７０を
キユベツト４５内の被検液中に侵入させることが
できる。また、吸引ノズル１７０は可撓性チユー
ブ１７８およびフローセル１７１を経てシリンジ
１７９に接続すると共に、弁１８０および廃液タ
ンク１８１を経て吸引ポンプ１８２に接続する。
さらに、イオン選択電極１８３はその電極部分を
フローセル１７１内に侵入させて配置する。な
お、イオン濃度測定部分はごみ等の侵入・付着を
防止するためカバー１８４で覆つておく。かかる
構成において、被検液中のイオン濃度を測定する
には、先ず弁１８０を閉じ、モータ１７６を駆動
して吸引ノズル１７０を反応ライン上のキユベツ
ト４５内の被検液中に侵入させる。次に、シリン
ジ１７９を作動してキユベツト４５内の被検液を
吸引し、フローセル１７１に収容する。この状態
で、イオン選択電極１８３により被検液中の各種
のイオン濃度を測定する。測定後は、弁１８０を
開き、吸引ポンプ１８２を作動して吸引した被検
液を廃液タンク１８１に収容すると共に、シリン
ジ１７９を元の位置に復帰させる。
す線図である。このイオン濃度測定装置は、キユ
ベツト４５内の被検液を吸引ノズル１７０で吸引
し、フローセル１７１内で各種のイオン濃度を測
定するようにしたものである。吸引ノズル１７０
はアーム１７２の一端部に保持し、このアームの
他端部にはガイド棒１７３を取り付ける。このガ
イド棒１７３は支持板に設けたスリーブ１７４に
遊嵌し、その端部にはローラ１７５を枢着する。
このローラはモータ１７６の回転軸に取り付けた
偏心カム１７７のカム面に当接させる。このよう
にすれば、モータ１７６を駆動して偏心カム１７
７を回転させることにより、吸引ノズル１７０を
キユベツト４５内の被検液中に侵入させることが
できる。また、吸引ノズル１７０は可撓性チユー
ブ１７８およびフローセル１７１を経てシリンジ
１７９に接続すると共に、弁１８０および廃液タ
ンク１８１を経て吸引ポンプ１８２に接続する。
さらに、イオン選択電極１８３はその電極部分を
フローセル１７１内に侵入させて配置する。な
お、イオン濃度測定部分はごみ等の侵入・付着を
防止するためカバー１８４で覆つておく。かかる
構成において、被検液中のイオン濃度を測定する
には、先ず弁１８０を閉じ、モータ１７６を駆動
して吸引ノズル１７０を反応ライン上のキユベツ
ト４５内の被検液中に侵入させる。次に、シリン
ジ１７９を作動してキユベツト４５内の被検液を
吸引し、フローセル１７１に収容する。この状態
で、イオン選択電極１８３により被検液中の各種
のイオン濃度を測定する。測定後は、弁１８０を
開き、吸引ポンプ１８２を作動して吸引した被検
液を廃液タンク１８１に収容すると共に、シリン
ジ１７９を元の位置に復帰させる。
第５図に示すイオン濃度測定装置において、反
応ラインから外れた位置に洗浄水溶器（図示せ
ず）を配置し、この容器中に吸引ノズルを侵入さ
せる構成とすることができる。この場合、イオン
選択電極の洗浄を容易かつ確実に行うことができ
るから、被検液相互間のコンタミネーシヨンを起
こすことなく正確な測定を行うことが可能とな
る。
応ラインから外れた位置に洗浄水溶器（図示せ
ず）を配置し、この容器中に吸引ノズルを侵入さ
せる構成とすることができる。この場合、イオン
選択電極の洗浄を容易かつ確実に行うことができ
るから、被検液相互間のコンタミネーシヨンを起
こすことなく正確な測定を行うことが可能とな
る。
第６図は上述したイオン濃度測定装置の信号処
理回路の一例の構成を示すブロツク線図であり、
この処理回路は、イオン選択電極１８３からの信
号をプリアンプ１８５で増幅した後、アナログ−
デジタル変換器１８６でデジタル信号に変換し、
この信号を制御装置１８７に供給して演算処理す
るようにしたものである。
理回路の一例の構成を示すブロツク線図であり、
この処理回路は、イオン選択電極１８３からの信
号をプリアンプ１８５で増幅した後、アナログ−
デジタル変換器１８６でデジタル信号に変換し、
この信号を制御装置１８７に供給して演算処理す
るようにしたものである。
以上詳述したところから明らかなとおり、本発
明によれば、試料のイオン濃度を測定するための
イオン電極をフローセル内に配置し、このフロー
セル内で試料のイオン濃度を測定する構成とした
ので、イオン電極を的確に洗浄することができ、
多数の試料のイオン濃度測定に際して測定精度を
低下させることなく常に高信頼性の分析結果を得
ることが可能となるものである。
明によれば、試料のイオン濃度を測定するための
イオン電極をフローセル内に配置し、このフロー
セル内で試料のイオン濃度を測定する構成とした
ので、イオン電極を的確に洗浄することができ、
多数の試料のイオン濃度測定に際して測定精度を
低下させることなく常に高信頼性の分析結果を得
ることが可能となるものである。
第１図は本発明自動分析装置の原理的構成を示
す線図、第２図は第１図に示した装置における各
部の配置を示す線図、第３図はキユベツトの外観
斜視図、第４図Ａ，Ｂは第３図に示したキユベツ
トの保持態様を示す側面図および正面図、第５図
は本発明装置に設けるイオン濃度測定装置の一例
の構成を示す線図、第６図は第５図の装置におけ
る信号処理回路のブロツク線図である。 １……試料容器、２……試料移送機構、３……
試料分注機構、４……キユベツト、６……キユベ
ツト移送機構、７……キユベツト供給機構、８…
…試薬分注機構、１０1〜１０o……試薬容器、１
１……試薬移送機構、１２〜１５……光電比色
計、１６……制御装置、２５……分析装置本体、
３４……試料移送機構、３５……キユベツト供給
機構、３６……試料分注装置、３７……キユベツ
ト移送機構、３８……試薬容器、３９……試薬分
注機構、４０……イオン濃度測定装置、４１……
分配機構、４２……測光部、４５……キユベツ
ト、１７０……吸引ノズル、１７１……フローセ
ル、１８３……イオン選択電極、１８５……プリ
アンプ、１８６……アナログ・デジタル変換器、
１８７……制御装置。
す線図、第２図は第１図に示した装置における各
部の配置を示す線図、第３図はキユベツトの外観
斜視図、第４図Ａ，Ｂは第３図に示したキユベツ
トの保持態様を示す側面図および正面図、第５図
は本発明装置に設けるイオン濃度測定装置の一例
の構成を示す線図、第６図は第５図の装置におけ
る信号処理回路のブロツク線図である。 １……試料容器、２……試料移送機構、３……
試料分注機構、４……キユベツト、６……キユベ
ツト移送機構、７……キユベツト供給機構、８…
…試薬分注機構、１０1〜１０o……試薬容器、１
１……試薬移送機構、１２〜１５……光電比色
計、１６……制御装置、２５……分析装置本体、
３４……試料移送機構、３５……キユベツト供給
機構、３６……試料分注装置、３７……キユベツ
ト移送機構、３８……試薬容器、３９……試薬分
注機構、４０……イオン濃度測定装置、４１……
分配機構、４２……測光部、４５……キユベツ
ト、１７０……吸引ノズル、１７１……フローセ
ル、１８３……イオン選択電極、１８５……プリ
アンプ、１８６……アナログ・デジタル変換器、
１８７……制御装置。
Claims (1)
- １ 透明材料よりなり各々が被検液を収めた複数
の反応容器を、共通の反応ラインに沿つて相互に
離間して配置された複数の測光位置およびイオン
濃度測定位置を経て移送する反応容器移送手段
と；前記反応容器の少なくとも１つに収めた被検
液につき、当該反応容器が各測光位置を通過する
際に測光を行う測光手段と；前記少なくとも１つ
の反応容器に収めた被検液につき、当該反応容器
が前記イオン濃度測定位置を通過する際にそのイ
オン濃度を測定するイオン濃度測定手段とを具
え、前記イオン濃度測定手段が、フローセルと、
該フローセル内に配置されたイオン濃度測定用の
少なくとも１つのイオン電極と、前記被検液を前
記少なくとも１つの反応容器から前記フローセル
内に移す吸引ノズルとを具え、該フローセル内で
前記被検液のイオン濃度を測定するよう構成して
なることを特徴とする自動分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19412885A JPS6188156A (ja) | 1985-09-03 | 1985-09-03 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19412885A JPS6188156A (ja) | 1985-09-03 | 1985-09-03 | 自動分析装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4491279A Division JPS55136958A (en) | 1979-04-14 | 1979-04-14 | Automatic analyzer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6188156A JPS6188156A (ja) | 1986-05-06 |
| JPH022538B2 true JPH022538B2 (ja) | 1990-01-18 |
Family
ID=16319371
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19412885A Granted JPS6188156A (ja) | 1985-09-03 | 1985-09-03 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6188156A (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SE380099B (ja) * | 1974-02-07 | 1975-10-27 | Monega Anstalt | |
| JPS5278492A (en) * | 1975-06-30 | 1977-07-01 | Kouichi Wakatake | Automatic analyzer for clinical chemistry |
-
1985
- 1985-09-03 JP JP19412885A patent/JPS6188156A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6188156A (ja) | 1986-05-06 |
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