JPH03187583A - 赤外線撮像装置 - Google Patents
赤外線撮像装置Info
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- JPH03187583A JPH03187583A JP1282415A JP28241589A JPH03187583A JP H03187583 A JPH03187583 A JP H03187583A JP 1282415 A JP1282415 A JP 1282415A JP 28241589 A JP28241589 A JP 28241589A JP H03187583 A JPH03187583 A JP H03187583A
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- Japan
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- optical scanning
- pulse
- repetition frequency
- charge
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- Pending
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- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
自己走査機能を有する固体撮像素子を用いた赤外線機f
ll’!AMに関し、 固体撮像素子の素子温度を一定にすることを目的とし、 一方向に配列された複数個の赤外受光素子により光電変
換して得られた信号電荷を、電荷転送素子に入力し、第
1の繰り返し周波数の電荷転送用駆動パルスを印加して
蓄積及び転送する固体撮像素子に対して、光学走査手段
により該一方向に直交する方向に光学走査を行なって撮
像対象からの光を入射するみ外線撮像Si@において、
前記固体撮像素子の素子温度を検出する温度検出手段と
、該温度検出手段からの温度検出信号に基づき該素子温
度に略逆比例した第2の繰り返し周波数のパルスを発生
するパルス発生手段と、前記光学走査手段の光学走査周
期のうち有効走査期間は前記固体撮像素Tに前記第1の
繰り返し周波数の電荷転送用駆動パルスを選択出力し、
残りの光学走査周期のブラントング期間は前記パルス発
生手段からの前記第2の繰り返し周波数のパルスを電荷
転送用駆動パルスとして前記固体撮像素子へ選択出力す
る選択手段と、を具備するよう構成する。
ll’!AMに関し、 固体撮像素子の素子温度を一定にすることを目的とし、 一方向に配列された複数個の赤外受光素子により光電変
換して得られた信号電荷を、電荷転送素子に入力し、第
1の繰り返し周波数の電荷転送用駆動パルスを印加して
蓄積及び転送する固体撮像素子に対して、光学走査手段
により該一方向に直交する方向に光学走査を行なって撮
像対象からの光を入射するみ外線撮像Si@において、
前記固体撮像素子の素子温度を検出する温度検出手段と
、該温度検出手段からの温度検出信号に基づき該素子温
度に略逆比例した第2の繰り返し周波数のパルスを発生
するパルス発生手段と、前記光学走査手段の光学走査周
期のうち有効走査期間は前記固体撮像素Tに前記第1の
繰り返し周波数の電荷転送用駆動パルスを選択出力し、
残りの光学走査周期のブラントング期間は前記パルス発
生手段からの前記第2の繰り返し周波数のパルスを電荷
転送用駆動パルスとして前記固体撮像素子へ選択出力す
る選択手段と、を具備するよう構成する。
本発明は赤外線戯像装δに係り、特に自己走査機能を有
する固体撮像素子を用いた赤外線撮像装置に関する。
する固体撮像素子を用いた赤外線撮像装置に関する。
一方向に配列された複数個の赤外線受光素子の夫々によ
り撮像対象からの赤外光を光電変換して得られた電荷を
電荷結合素子(COD)に注入後転送して読み出す固体
m像素子は、−次元IRCCD (Infrared
Charge Coupled 0evice )と
呼ばれる。この−次元IRCCDを用いた赤外89撮像
装置は、撮像対象の温度分布を適確に把えられることか
ら、産業分野で広く応用されつつある。
り撮像対象からの赤外光を光電変換して得られた電荷を
電荷結合素子(COD)に注入後転送して読み出す固体
m像素子は、−次元IRCCD (Infrared
Charge Coupled 0evice )と
呼ばれる。この−次元IRCCDを用いた赤外89撮像
装置は、撮像対象の温度分布を適確に把えられることか
ら、産業分野で広く応用されつつある。
上記のIRCCDなどの自己走査機能を有する固体W&
像素子を用いた赤外線撮像装置においては、周囲環境温
度によらず固体撮像素子の素子温度を一定に保つことが
高性能化のために必要とされる。
像素子を用いた赤外線撮像装置においては、周囲環境温
度によらず固体撮像素子の素子温度を一定に保つことが
高性能化のために必要とされる。
第5図は従来の赤外線撮像vt置の要部の一例の構成図
を示す。同図中、51は検知器容器で、その内部にホト
ダイオードアレイ(PVアレイ)52.0CD53.最
終段のソースホロワのMO8型電界効果トランジスタ(
FET)54よりなる一次元IRCODが内蔵されてい
る。PVアレイ52u赤外検知素Tであるホトダイオー
ドが、一方向に複数個配列された構成であり、その各々
のホトダイオードの出力端がCCD53に接続されてい
る。
を示す。同図中、51は検知器容器で、その内部にホト
ダイオードアレイ(PVアレイ)52.0CD53.最
終段のソースホロワのMO8型電界効果トランジスタ(
FET)54よりなる一次元IRCODが内蔵されてい
る。PVアレイ52u赤外検知素Tであるホトダイオー
ドが、一方向に複数個配列された構成であり、その各々
のホトダイオードの出力端がCCD53に接続されてい
る。
また、FET54のソースは、検知器容器51の外部に
設けられた負荷抵抗55を介して接地される一方、アン
プ56の入力@i′Fに接続されている。57は冷凍器
で、検知器官器51内部のIRCODを冷却するために
設けられている。
設けられた負荷抵抗55を介して接地される一方、アン
プ56の入力@i′Fに接続されている。57は冷凍器
で、検知器官器51内部のIRCODを冷却するために
設けられている。
ffi像対象虹ミラーやス1ヤナ等の光学走査手段によ
ってPvアレイの長子方向(ホトダイオード配列方向〉
に直交する方向に走査され、これにより走査された撮像
対象からの光はP■アレイ52に受光される。PV/’
レイ52は入射された赤外光を光電変換し、得られた信
号電荷をCCD53へ転送する。
ってPvアレイの長子方向(ホトダイオード配列方向〉
に直交する方向に走査され、これにより走査された撮像
対象からの光はP■アレイ52に受光される。PV/’
レイ52は入射された赤外光を光電変換し、得られた信
号電荷をCCD53へ転送する。
CCD53は入力信号電荷を順次入力駆動パルスに開切
してFET54方向へ転送し、最終段で電荷を電圧に変
換してFET54のゲートに印加する。これにより、負
荷抵抗55に発生した電圧はアンプ56を通して信号処
理回路(図示せず〉へ出力される。
してFET54方向へ転送し、最終段で電荷を電圧に変
換してFET54のゲートに印加する。これにより、負
荷抵抗55に発生した電圧はアンプ56を通して信号処
理回路(図示せず〉へ出力される。
ここで、検知器官器51の内部の主な消費電力の発生個
所は第6図に示す如く、CCD53による転送部と、ソ
ースホロワのFET54である。
所は第6図に示す如く、CCD53による転送部と、ソ
ースホロワのFET54である。
同図中、φ1〜φ4Gよ4相のクロック(駆動パルス〉
で、各々対応する転送電極581〜584に別々に印加
される。4つの転送電極581〜584は1つのホトダ
イオードに対応して設けられている。すなわち、PVア
レイ52の各ホトダイオードに対応して4つずつ転送電
極が設けられている。
で、各々対応する転送電極581〜584に別々に印加
される。4つの転送電極581〜584は1つのホトダ
イオードに対応して設けられている。すなわち、PVア
レイ52の各ホトダイオードに対応して4つずつ転送電
極が設けられている。
4相クロツクφ1〜φ4は第7図(C)に示すように、
互いに90’ ずつ位相が異なる駆動パルスで、PVア
レイ52がM個のホトダイオードが垂直方向に一次元配
列されて構成されている場合は、各々M回ずつ出力され
ることにより、1フレ一ム分の電荷転送(す々わち、垂
直方向に配列されたM個のホトダイオード全部の信号電
荷の転送〉が行なわれる。
互いに90’ ずつ位相が異なる駆動パルスで、PVア
レイ52がM個のホトダイオードが垂直方向に一次元配
列されて構成されている場合は、各々M回ずつ出力され
ることにより、1フレ一ム分の電荷転送(す々わち、垂
直方向に配列されたM個のホトダイオード全部の信号電
荷の転送〉が行なわれる。
第6図に示した最終段のホトダイオードに対応らで設け
られた転送電極584′への駆動パルスφ4が第1の電
位とされることにより、転送電極584′直下の半導体
基板のポテンシャルの月戸に蓄積されている信号電荷6
3は、駆動パルスφ4が第2の電佇に変化するのに伴っ
て転送電極584′直下のポテンシャルが破線64で示
す如く上げられたために、これより低い一定のポテンシ
ャル65の出力ゲート(OG)59直下を通して拡散層
(浮動拡散)60に入力され、ここで電圧に変換された
後FET54のゲートに印加される。
られた転送電極584′への駆動パルスφ4が第1の電
位とされることにより、転送電極584′直下の半導体
基板のポテンシャルの月戸に蓄積されている信号電荷6
3は、駆動パルスφ4が第2の電佇に変化するのに伴っ
て転送電極584′直下のポテンシャルが破線64で示
す如く上げられたために、これより低い一定のポテンシ
ャル65の出力ゲート(OG)59直下を通して拡散層
(浮動拡散)60に入力され、ここで電圧に変換された
後FET54のゲートに印加される。
このときは、FET61はオフとされている。
FET61は出力ゲート59直下を経由して拡散層60
に次のビットの信号電荷が入力されるLX前にパルスφ
Rによりオンとされ、拡散層60の電荷をFET61を
介して半導体基板に砕き出し、その後再びオフとされて
次のビットの信号電荷の拡r&層60への入力に備える
。
に次のビットの信号電荷が入力されるLX前にパルスφ
Rによりオンとされ、拡散層60の電荷をFET61を
介して半導体基板に砕き出し、その後再びオフとされて
次のビットの信号電荷の拡r&層60への入力に備える
。
なお、第7図(A)は前記した光学走査手段の時間に対
する走査角の特性を示しており、周期Toで水平方向に
光学走査を行なうことを示している。また、同図(8)
はCCD53のフレームタイムと光学走査周期「0との
関係を示しており、光学走査周期Y0の前と後の各期間
T+ 、T2は画像化に寄与しないブランキング期間で
あり、残りのリニアなraの期間(よ画像化のための有
効走査期間で、Nフレームタイムある。有効走査率ηは
ra/roで表わされる。また、第7図(C)に示した
電荷転送用駆動パルスφ1〜φ4は周期「0の間一定周
波数である。
する走査角の特性を示しており、周期Toで水平方向に
光学走査を行なうことを示している。また、同図(8)
はCCD53のフレームタイムと光学走査周期「0との
関係を示しており、光学走査周期Y0の前と後の各期間
T+ 、T2は画像化に寄与しないブランキング期間で
あり、残りのリニアなraの期間(よ画像化のための有
効走査期間で、Nフレームタイムある。有効走査率ηは
ra/roで表わされる。また、第7図(C)に示した
電荷転送用駆動パルスφ1〜φ4は周期「0の間一定周
波数である。
ところで、検知器容器51内部では第6図に示したよう
にCCD53で次式 %式%(1) で表わされる電力P1 が消費され、 またFET 54で次式 %式% [] で表わされる電力P2が消費される。従って、検知器容
器51内部での消費電力P。は、Po =P+ +P2 −に−f−C−V!2+■2・v2 (311となる
。
にCCD53で次式 %式%(1) で表わされる電力P1 が消費され、 またFET 54で次式 %式% [] で表わされる電力P2が消費される。従って、検知器容
器51内部での消費電力P。は、Po =P+ +P2 −に−f−C−V!2+■2・v2 (311となる
。
前記した冷凍器57は上記の消費電力P。によって発生
する検知器容器51内部のIRCODの素F’lA度を
冷却するよう80に程度まで冷却することが反未され、
冷凍器57には高い冷却性能が要求されている。
する検知器容器51内部のIRCODの素F’lA度を
冷却するよう80に程度まで冷却することが反未され、
冷凍器57には高い冷却性能が要求されている。
しかるに、IRCCDの素子温度は上記の消費電力Po
によるものだけでなく、検知器容器51の周囲環境温度
が変化した場合にも変化するため、冷凍器57により設
定周囲環境温度において所定の素子温度が得られても、
周囲環境温度が変化すると冷凍器57の冷1能力がそれ
に従い変化し、素子温度も変化しく例えば周囲環境温度
が低下するとIRCCDの素子温度は目標素子温度より
低下し、冷やし過ぎとなる)、赤外1i111像装置と
しての性能が劣化するという問題がある。
によるものだけでなく、検知器容器51の周囲環境温度
が変化した場合にも変化するため、冷凍器57により設
定周囲環境温度において所定の素子温度が得られても、
周囲環境温度が変化すると冷凍器57の冷1能力がそれ
に従い変化し、素子温度も変化しく例えば周囲環境温度
が低下するとIRCCDの素子温度は目標素子温度より
低下し、冷やし過ぎとなる)、赤外1i111像装置と
しての性能が劣化するという問題がある。
本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、素子温度を
一定に調律し得る赤外線撮像装置を提供することを目的
とする。
一定に調律し得る赤外線撮像装置を提供することを目的
とする。
第1図は本発明の原理構成図を示す。本発明は第1図に
示すように、一方向に配列された複数個の赤外受光素F
−11にまり光電変換して得られた信号電荷を電荷転送
素子12に入力し、第1の繰り返6周波数の電荷転送用
駆動パルスを印加して蓄積及び転送する固体撮像素?1
3に対して、光学走査手段14により上記一方向に対し
て所定方向に光学走査を行なってm像対象からの光を入
射する赤外[1111像装置において、温度検出手段1
5゜パルス発生手段16及び選択手段17を具備するよ
うにしたものである。
示すように、一方向に配列された複数個の赤外受光素F
−11にまり光電変換して得られた信号電荷を電荷転送
素子12に入力し、第1の繰り返6周波数の電荷転送用
駆動パルスを印加して蓄積及び転送する固体撮像素?1
3に対して、光学走査手段14により上記一方向に対し
て所定方向に光学走査を行なってm像対象からの光を入
射する赤外[1111像装置において、温度検出手段1
5゜パルス発生手段16及び選択手段17を具備するよ
うにしたものである。
ここで、温度検出手段15は固体撮像素子13の素子温
度を検出する。また、パルス発生手段16Gj索f温度
に略逆比例した第2の繰り返し周波数のパルスを発生す
る。更に、選択手段17は光学走査手段14の光学走査
周期のうち有効走査期間は固体[1素子13に第1の繰
り返し周波数の電荷転送用駆動パルスを選択出力し、ブ
ランキング期間は前記第2の練り返し周波数のパルスを
′i4荷転退転送用駆動パルスて選択出力する。
度を検出する。また、パルス発生手段16Gj索f温度
に略逆比例した第2の繰り返し周波数のパルスを発生す
る。更に、選択手段17は光学走査手段14の光学走査
周期のうち有効走査期間は固体[1素子13に第1の繰
り返し周波数の電荷転送用駆動パルスを選択出力し、ブ
ランキング期間は前記第2の練り返し周波数のパルスを
′i4荷転退転送用駆動パルスて選択出力する。
光学走査手段14は第2図(A)に示すように光学走査
周期下0で所定り向に走査を行なう。この光学走査周期
“「0のうちフレームタイムの光学走査が終わり、スキ
ャナが元に戻る期間T2と、時間に対して走査角がリニ
アに変化するようになるまでの期間「1とは画像出力に
無関係なプラントング期間となる。
周期下0で所定り向に走査を行なう。この光学走査周期
“「0のうちフレームタイムの光学走査が終わり、スキ
ャナが元に戻る期間T2と、時間に対して走査角がリニ
アに変化するようになるまでの期間「1とは画像出力に
無関係なプラントング期間となる。
本発明はこのブランキング期間r+ 、T2に着14
L、、このプラン、1ング期間T+ 、T2の固体撮像
素子13への電荷転送用駆動パルスを、第2図(B)、
(C)に示すようにパルス発生手段16からの第2の繰
り返し周波数(転送周波数)fIとし、この第2の繰り
返し周波数f2を湿度検出手段15により検出された素
子温度に略逆比例させて変化させるものである。
L、、このプラン、1ング期間T+ 、T2の固体撮像
素子13への電荷転送用駆動パルスを、第2図(B)、
(C)に示すようにパルス発生手段16からの第2の繰
り返し周波数(転送周波数)fIとし、この第2の繰り
返し周波数f2を湿度検出手段15により検出された素
子温度に略逆比例させて変化させるものである。
これにより、光学走査周期「0中のブランキング朋間r
+ +rz (=To −ra )における固体撮像
素子13の消費電力PBは0式より次式で表わされる。
+ +rz (=To −ra )における固体撮像
素子13の消費電力PBは0式より次式で表わされる。
PB=((−「。−Ta)/T0) ・(K−fI ・
C・V+ 2+Iz ・Vz ) (4
)一方、有効走査11間゛「aでは選択手段17から素
子温度に無関係な一定の第1の繰り返し周波数(転送周
波数)fIの電荷転送用駆動パルスが取り出されて固体
撮像y#子13へ印加されるから、このときの消費電力
P^は0式より次式で表わされる。
C・V+ 2+Iz ・Vz ) (4
)一方、有効走査11間゛「aでは選択手段17から素
子温度に無関係な一定の第1の繰り返し周波数(転送周
波数)fIの電荷転送用駆動パルスが取り出されて固体
撮像y#子13へ印加されるから、このときの消費電力
P^は0式より次式で表わされる。
PA−(Ta/To)・ (K−fl ・C・■I2+
Iz ・Vz〉 ■従って、本
発明の消費電力Pは P=l) ^ + P 8 =(Ta/T)・(K−fI−C−V12+Iz ・
Vz) 4((丁0−Ta)/To ) ・ (K−fI ・C
・V+ 2+−12・Vz) (6)と
なり、転送周波数f2に略逆比例して変化する。
Iz ・Vz〉 ■従って、本
発明の消費電力Pは P=l) ^ + P 8 =(Ta/T)・(K−fI−C−V12+Iz ・
Vz) 4((丁0−Ta)/To ) ・ (K−fI ・C
・V+ 2+−12・Vz) (6)と
なり、転送周波数f2に略逆比例して変化する。
すなわち、本発明によれば、素子温度に応じて消!!電
力Pを1111wすることができる。なお、本発明でU
ブラン[ング朋間(To−丁a〉において転送周波数が
変化するが、ブランキング期間は画像表示に無関係の期
間であり、画像表示には影響番よない。
力Pを1111wすることができる。なお、本発明でU
ブラン[ング朋間(To−丁a〉において転送周波数が
変化するが、ブランキング期間は画像表示に無関係の期
間であり、画像表示には影響番よない。
第3図は本発明の一実施例の構成図を示す。同図中、第
1図と同一構成部分には同一符号を付し、その説明を省
略する。第3図において、撮像対象からの光はレンズ2
1を透過してミラー22に入射され、ここで全反射によ
り光路が変えられた後、レンズ23を透過して可動ミラ
ー24に入射される。
1図と同一構成部分には同一符号を付し、その説明を省
略する。第3図において、撮像対象からの光はレンズ2
1を透過してミラー22に入射され、ここで全反射によ
り光路が変えられた後、レンズ23を透過して可動ミラ
ー24に入射される。
可動ミラー24は後述するタイミング発生回路25、ス
:I:tブドライバ26及びス1ヤナ27と共に前記光
学走査手段14を構成しており、スキャナ27によりそ
の長手方向に沿う中心線を回動輪として所定角度範囲内
で往復回動する。これにより可動ミラー24からは光学
走査された光が取り出され、レンズ28を透過して前記
固体胤像素子l 3 (IRCCD)に入射される。
:I:tブドライバ26及びス1ヤナ27と共に前記光
学走査手段14を構成しており、スキャナ27によりそ
の長手方向に沿う中心線を回動輪として所定角度範囲内
で往復回動する。これにより可動ミラー24からは光学
走査された光が取り出され、レンズ28を透過して前記
固体胤像素子l 3 (IRCCD)に入射される。
固体撮111素?13は検知器29の容器内に封入され
、冷凍器30により冷凍されている。また、固体撮像素
子13の所定位置には、前記温度検出手段15を構成す
るセンサ31が取付けられている。このセンサ31は固
体撮像素子13の素子温1fを検出し信号を出力する。
、冷凍器30により冷凍されている。また、固体撮像素
子13の所定位置には、前記温度検出手段15を構成す
るセンサ31が取付けられている。このセンサ31は固
体撮像素子13の素子温1fを検出し信号を出力する。
固体撮像素子13の最終段のソースホロワのFET(第
5図の54に相当)から取り出された映像信号は7ンプ
32(第5図のアンプ56に相当)を通してA/D変換
器33に入力され、ディジタル信号に変換された後、信
号処理・表示回路34に供給される。
5図の54に相当)から取り出された映像信号は7ンプ
32(第5図のアンプ56に相当)を通してA/D変換
器33に入力され、ディジタル信号に変換された後、信
号処理・表示回路34に供給される。
信号処理・表示回路34はディジタル信号処理により人
力ディジタル映像信号に対してオフセット及び感度補正
した後、走査変換してTV表示可能な順序で補正後のデ
ータをD/A変換器35へ出力する。D/A変換器35
はこのデータを再び7ノOグ信弓に変換し、その7fロ
グ信号を陰極線管(CRT)を用いた表示装置36に入
力し、ここで赤外線映像を表示させる。
力ディジタル映像信号に対してオフセット及び感度補正
した後、走査変換してTV表示可能な順序で補正後のデ
ータをD/A変換器35へ出力する。D/A変換器35
はこのデータを再び7ノOグ信弓に変換し、その7fロ
グ信号を陰極線管(CRT)を用いた表示装置36に入
力し、ここで赤外線映像を表示させる。
一方、タイミング発生回路25は固体撮像系f13の駆
動、ス1ヤナ27の駆動、補正及び表示のための各種タ
イミングパルスを発生する。スキ?ナドライバ26はこ
のタイミングパルスを受け、スキャノ27を駆動するた
めの電圧波形を発生する。
動、ス1ヤナ27の駆動、補正及び表示のための各種タ
イミングパルスを発生する。スキ?ナドライバ26はこ
のタイミングパルスを受け、スキャノ27を駆動するた
めの電圧波形を発生する。
周波数制御回路37は前記したパルス発生手段16を構
成しており、前記ダイオードセンサ31からの温度検出
信号が人力され、第2の繰り返し周波数f2のパルス(
4相クロツク〉を発生する。
成しており、前記ダイオードセンサ31からの温度検出
信号が人力され、第2の繰り返し周波数f2のパルス(
4相クロツク〉を発生する。
ドライバ・バイアス電源38は前記した選択手段17を
有する61或とされており、周波数υJti回路37か
らのパルスとタイミング発生回路25からの第1の繰り
返し周波数「1の4相クロツク及び」ントO−ル信号と
が夫々入力され、固体撮像素子13へ4相の電荷転送用
駆動パルスφ1〜φ4とバイアス電圧を供給する。
有する61或とされており、周波数υJti回路37か
らのパルスとタイミング発生回路25からの第1の繰り
返し周波数「1の4相クロツク及び」ントO−ル信号と
が夫々入力され、固体撮像素子13へ4相の電荷転送用
駆動パルスφ1〜φ4とバイアス電圧を供給する。
第4図は上記の周波数制御回路37及びドライバ・バイ
アス電圧38の一実施例のブロック図をボす。同図中、
センサ31からの検出片目はA10変換器41により7
ナログ・ディジタル変換された後、リード・オンリ・メ
モリ(ROM)42へ7ドレス信号として印加される。
アス電圧38の一実施例のブロック図をボす。同図中、
センサ31からの検出片目はA10変換器41により7
ナログ・ディジタル変換された後、リード・オンリ・メ
モリ(ROM)42へ7ドレス信号として印加される。
ROM42は予め入力アドレスにより索引されるテーブ
ルを格納しており、入力アドレス、すなわち検出素子温
度に略逆比例した値のディジタル信号を発生し、分周回
路43へ供給する。分周回路 43は発振回路44から
の一定繰り返し周波数のパルスを、分周回路43からの
ディジタル信号の値に応じて可変制御される分周比で分
周する構成とされている。これにより、分周回路43か
らは素子温度に略逆比例した繰り返し周波数f2のパル
スが取り出されて波形発生回路45に供給され、ここで
同じ繰り返し周波数「2の4相の駆動パルスを発生させ
る。
ルを格納しており、入力アドレス、すなわち検出素子温
度に略逆比例した値のディジタル信号を発生し、分周回
路43へ供給する。分周回路 43は発振回路44から
の一定繰り返し周波数のパルスを、分周回路43からの
ディジタル信号の値に応じて可変制御される分周比で分
周する構成とされている。これにより、分周回路43か
らは素子温度に略逆比例した繰り返し周波数f2のパル
スが取り出されて波形発生回路45に供給され、ここで
同じ繰り返し周波数「2の4相の駆動パルスを発生させ
る。
データセレクタ46はタイミング発生回路25からの」
シト0−ル信号により、前記光学走査周期「0のうち有
効走査樹間「aはタイミング発生回路25からの第1の
繰り返し周波数f1の4相の駆動パルスを選択出力し、
残りのブランキング期間(ro−ra)は波形発生回路
45からの駆動パルスを選択出力する。
シト0−ル信号により、前記光学走査周期「0のうち有
効走査樹間「aはタイミング発生回路25からの第1の
繰り返し周波数f1の4相の駆動パルスを選択出力し、
残りのブランキング期間(ro−ra)は波形発生回路
45からの駆動パルスを選択出力する。
ドライバ41tデータセレクタ46からの駆動パルスを
所要電力に増幅し、電荷転送用駆動パルスφ1〜φ4と
してバイアス電圧と共に固体撮像系F13へ供給する。
所要電力に増幅し、電荷転送用駆動パルスφ1〜φ4と
してバイアス電圧と共に固体撮像系F13へ供給する。
これにより、本実施例によれば、例えば周囲環i!湯温
度低下して冷凍器30が固体撮像素子13を所定温度以
上に冷却する冷却能力に変化したとしても、第2の繰り
返し周波数f2が烏くなり、これによりブランキング期
間(’ro−Ta)での消費電力PBが上昇して固体撮
像素子13をより発熱させるよう制御するため、素子温
度は低下することなく略一定温度に保たれる。周囲環境
温度が高くなった場合も上記と逆の動作により、素子温
度は略一定温度に保たれる。
度低下して冷凍器30が固体撮像素子13を所定温度以
上に冷却する冷却能力に変化したとしても、第2の繰り
返し周波数f2が烏くなり、これによりブランキング期
間(’ro−Ta)での消費電力PBが上昇して固体撮
像素子13をより発熱させるよう制御するため、素子温
度は低下することなく略一定温度に保たれる。周囲環境
温度が高くなった場合も上記と逆の動作により、素子温
度は略一定温度に保たれる。
なお、本発明は上記の実施例に限定されるものではなく
、例えば第4図の分周回路43及び発振回路44の回路
部分を、ROM42の出力片目により出力発振周波数が
可変制御される可変周波数発振回路で構成してもよい。
、例えば第4図の分周回路43及び発振回路44の回路
部分を、ROM42の出力片目により出力発振周波数が
可変制御される可変周波数発振回路で構成してもよい。
上述の如く、本発明によれば、周囲環境温度が変化し、
冷fJIff1度が変化した場合でも、固体撮像素子の
ブランキングw同の消費電力を素子温度に応じて1II
tIlシているため、表示赤外画像に悪影響をもたらす
ことなく素Fa度を常に略一定に制御することができ、
よって赤外線撮像装置の高性能化に寄与するところ大で
ある等の特長を有するものである。
冷fJIff1度が変化した場合でも、固体撮像素子の
ブランキングw同の消費電力を素子温度に応じて1II
tIlシているため、表示赤外画像に悪影響をもたらす
ことなく素Fa度を常に略一定に制御することができ、
よって赤外線撮像装置の高性能化に寄与するところ大で
ある等の特長を有するものである。
第1図は本発明の原理構成図、
第2図u本発明の詳細な説明図、
第3図は本発明の一実施例の構成図、
第4図(L本発明の要部の一実施例のブロック図、第5
図は従来の要部の一例の構成図、 第6図U検知器内部の消II電力発生個所の説明図、 第7図は従来装置における光学走査とフレームタイム及
び駆動パルス説明図である。 図において、 11は赤外受光素子、 12は電荷転送素子、 13は固体撮像系f、 14GJ光学走査手段、 15は温度検出手段、 16はパルス発生手段、 17は選択手段、 31虹センサ、 37は周波数糾−回路、 38はドライババイアス電源 を示す。
図は従来の要部の一例の構成図、 第6図U検知器内部の消II電力発生個所の説明図、 第7図は従来装置における光学走査とフレームタイム及
び駆動パルス説明図である。 図において、 11は赤外受光素子、 12は電荷転送素子、 13は固体撮像系f、 14GJ光学走査手段、 15は温度検出手段、 16はパルス発生手段、 17は選択手段、 31虹センサ、 37は周波数糾−回路、 38はドライババイアス電源 を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 一方向に配列された複数個の赤外受光素子 (11)により光電変換して得られた信号電荷を、電荷
転送素子(12)に入力し、第1の繰り返し周波数の電
荷転送用駆動パルスを印加して蓄積及び転送する固体撮
像素子(13)に対して、光学走査手段(14)により
該一方向に直交する方向に光学走査を行なって撮像対象
からの光を入射する赤外線撮像装置において、 前記固体撮像素子(13)の素子温度を検出する温度検
出手段(15)と、 該温度検出手段(15)からの温度検出信号に基づき該
素子温度に略逆比例した第2の繰り返し周波数のパルス
を発生するパルス発生手段(16)前記光学走査手段(
14)の光学走査周期のうち有効走査期間は前記固体撮
像素子(13)に前記第1の繰り返し周波数の電荷転送
用駆動パルスを選択出力し、残りの光学走査周期のブラ
ンキング期間は前記パルス発生手段(16)からの前記
第2の繰り返し周波数のパルスを電荷転送用駆動パルス
として前記固体撮像素子(13)へ選択出力する選択手
段(17)と、 を具備したことを特徴とする赤外線撮像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1282415A JPH03187583A (ja) | 1989-10-30 | 1989-10-30 | 赤外線撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1282415A JPH03187583A (ja) | 1989-10-30 | 1989-10-30 | 赤外線撮像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03187583A true JPH03187583A (ja) | 1991-08-15 |
Family
ID=17652115
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1282415A Pending JPH03187583A (ja) | 1989-10-30 | 1989-10-30 | 赤外線撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03187583A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009052648A1 (en) * | 2007-10-24 | 2009-04-30 | Northeastern University | Method and device for measuring surface temperature of continuous casting ingot |
-
1989
- 1989-10-30 JP JP1282415A patent/JPH03187583A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009052648A1 (en) * | 2007-10-24 | 2009-04-30 | Northeastern University | Method and device for measuring surface temperature of continuous casting ingot |
| US8104954B2 (en) | 2007-10-24 | 2012-01-31 | Northeastern University | Apparatus and method for measuring the surface temperature of continuous casting billet/slab |
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