JPH03188350A - 多層セラミックテープ構造中のセンサ素子 - Google Patents
多層セラミックテープ構造中のセンサ素子Info
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- JPH03188350A JPH03188350A JP2325112A JP32511290A JPH03188350A JP H03188350 A JPH03188350 A JP H03188350A JP 2325112 A JP2325112 A JP 2325112A JP 32511290 A JP32511290 A JP 32511290A JP H03188350 A JPH03188350 A JP H03188350A
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- 239000000919 ceramic Substances 0.000 title claims abstract description 43
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 17
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims abstract description 10
- 230000008859 change Effects 0.000 claims abstract description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 44
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 27
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 27
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 11
- 239000002241 glass-ceramic Substances 0.000 claims description 7
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 7
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 abstract description 5
- 230000005483 Hooke's law Effects 0.000 abstract description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 13
- 230000008569 process Effects 0.000 description 12
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 8
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 6
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 4
- 230000002463 transducing effect Effects 0.000 description 4
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 238000005459 micromachining Methods 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 2
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 239000003870 refractory metal Substances 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 229910000914 Mn alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PCEXQRKSUSSDFT-UHFFFAOYSA-N [Mn].[Mo] Chemical compound [Mn].[Mo] PCEXQRKSUSSDFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 239000003570 air Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 1
- 238000004814 ceramic processing Methods 0.000 description 1
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 description 1
- 238000001311 chemical methods and process Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 239000000446 fuel Substances 0.000 description 1
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 238000003698 laser cutting Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 235000011837 pasties Nutrition 0.000 description 1
- 239000010970 precious metal Substances 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 1
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 238000004017 vitrification Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
- G01D5/14—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
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- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
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- Measuring Fluid Pressure (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、−船釣にマイクロエレクトロニクスの技術、
特に形成されたセンサ素子を有する多層セラミックテー
プ構造に関する。
特に形成されたセンサ素子を有する多層セラミックテー
プ構造に関する。
[従来の技術]
力または圧力、加速度、温度、位置または変位、イオン
(pb)およびガス濃度、磁界強度、放射レベルなどを
測定するために、信号処理エレクトロニクス装置を有し
ているモノリシック構造中にセンサを集積する技術が開
発された。集積装置は分離センサおよびそれに関連する
構成素子を含むパッケージよりも非常に小さく、軽く、
且つ安く製造されることが可能であり、滞在的に信頼性
が高い。
(pb)およびガス濃度、磁界強度、放射レベルなどを
測定するために、信号処理エレクトロニクス装置を有し
ているモノリシック構造中にセンサを集積する技術が開
発された。集積装置は分離センサおよびそれに関連する
構成素子を含むパッケージよりも非常に小さく、軽く、
且つ安く製造されることが可能であり、滞在的に信頼性
が高い。
そのような集積センサパッケージは、例えば自動車産業
においておよび燃費経済とエンジン動作を最適にするた
めの電子制御を含む適用において広く利用され、放射制
御の必要性に合致し、より快適なおよび、または安全な
ドライブ特性を提0(する。そのようなセンサを使用す
る組立体は、アンチロックおよび、またはアンチスキッ
ドブレーキシステム、正方向牽引システム、サスペンシ
ョン調節システムおよびその類似物を含む。
においておよび燃費経済とエンジン動作を最適にするた
めの電子制御を含む適用において広く利用され、放射制
御の必要性に合致し、より快適なおよび、または安全な
ドライブ特性を提0(する。そのようなセンサを使用す
る組立体は、アンチロックおよび、またはアンチスキッ
ドブレーキシステム、正方向牽引システム、サスペンシ
ョン調節システムおよびその類似物を含む。
集積の2つの主要な従来技術のタイプはシリコンの微小
加工および厚膜の処理を含む。これらの技術の一般的な
説明は文献(1984年12月6日付けのMac旧ne
Deslgn 11g乃至124頁)に記載されて
いる。
加工および厚膜の処理を含む。これらの技術の一般的な
説明は文献(1984年12月6日付けのMac旧ne
Deslgn 11g乃至124頁)に記載されて
いる。
微小加工は通常の集積回路製造と同じフォトリソグラフ
ィックおよび化学処理を使用している。
ィックおよび化学処理を使用している。
ドーピングに依存する異方性化学的エツチングは主要な
微小加工方法である。しかし、装置はプラズマおよび反
応的イオンビームを利用するドライエツチング技術を使
用して製造される。実施可能な構造的置換は溝、フリー
スクンディング柱体、カンチレバービーム、集積孔を有
するおよび集積孔なしの種々の厚さの膜、マイクロブリ
ッジ、および種々の形の孔を含む。シリコンの微小加工
によって製造されたセンサ構造の詳細な説明は、文献(
1983年4月付けの5cientific Amer
lcan 44乃至55頁)に記載されている。シリコ
ンの微小加工によって形成された多次元加速度計の例は
1989年3月7日の米国特許出願4,809,552
号明細書に記載されている。
微小加工方法である。しかし、装置はプラズマおよび反
応的イオンビームを利用するドライエツチング技術を使
用して製造される。実施可能な構造的置換は溝、フリー
スクンディング柱体、カンチレバービーム、集積孔を有
するおよび集積孔なしの種々の厚さの膜、マイクロブリ
ッジ、および種々の形の孔を含む。シリコンの微小加工
によって製造されたセンサ構造の詳細な説明は、文献(
1983年4月付けの5cientific Amer
lcan 44乃至55頁)に記載されている。シリコ
ンの微小加工によって形成された多次元加速度計の例は
1989年3月7日の米国特許出願4,809,552
号明細書に記載されている。
それは多くの概念に有利であるが、シリコンの微小加工
は比較的複雑で費用のかかる処理であり、形成されるこ
とが可能であるセンサの形状に制限がある。
は比較的複雑で費用のかかる処理であり、形成されるこ
とが可能であるセンサの形状に制限がある。
ハイブリッド微小回路技術および他の適用に対する多層
電子構造の製造は、上述に関連する厚膜処理を含む。そ
れにおいてペースト状の個々の導電体および誘電体構成
は、厚膜多層回路を積層させるために絶縁基体上に順次
付着され、−度に1つの材料層が焼結されることを特徴
とする。応力、圧力、変位などに敏感であるセンサは、
厚膜抵抗器におけるピエゾ電気効果を開発することによ
り厚膜処理を使用して製造された。そのような抵抗器は
カンチレバーおよびダイアフラムなどの機械的なセンサ
素子に形成され、機械的歪みを電気信号に変換させる。
電子構造の製造は、上述に関連する厚膜処理を含む。そ
れにおいてペースト状の個々の導電体および誘電体構成
は、厚膜多層回路を積層させるために絶縁基体上に順次
付着され、−度に1つの材料層が焼結されることを特徴
とする。応力、圧力、変位などに敏感であるセンサは、
厚膜抵抗器におけるピエゾ電気効果を開発することによ
り厚膜処理を使用して製造された。そのような抵抗器は
カンチレバーおよびダイアフラムなどの機械的なセンサ
素子に形成され、機械的歪みを電気信号に変換させる。
文献(1981年のTh1rd Europeanll
ybrld MlcroelecLronlcs Co
nrerence Proceed−Ings、Avl
gnon)にはこの技術について記載されている。
ybrld MlcroelecLronlcs Co
nrerence Proceed−Ings、Avl
gnon)にはこの技術について記載されている。
厚膜処理に存在する固有の問題は、厚さの制御は焼結さ
れたセラミック層の形成および加工が困難であることで
ある。これはこの処理によって形成されたセンサにより
達成される正確さに関する厳しい制限を受ける。
れたセラミック層の形成および加工が困難であることで
ある。これはこの処理によって形成されたセンサにより
達成される正確さに関する厳しい制限を受ける。
本発明の基礎を形成するハイブリッド微小回路の製造の
改善された方法は、コファイヤ(coflre)セラミ
ック処理である。この技術は主要素子としてアルミナを
有するシートに形成された絶縁体材料を利用する。この
絶縁シートは接地面、信号面、接着面、またはその類似
物を製造するために金属化され、或いはピアホールを形
成し相互接続層を形成するために金属層で背面から満た
される。個々のテープのシートは互いに重ねられ、予め
定められた温度および応力を使用して一緒に積層され、
材料が融着或いは焼結される所望の高められた温度で加
熱される。アルミナが絶縁材料として選択される場合、
タングステン、モリブデンまたはモリブデンマンガン合
金は典型的に金属層に使用され、それはH2の還元性雰
囲気中で約t、eoo℃に加熱される。
改善された方法は、コファイヤ(coflre)セラミ
ック処理である。この技術は主要素子としてアルミナを
有するシートに形成された絶縁体材料を利用する。この
絶縁シートは接地面、信号面、接着面、またはその類似
物を製造するために金属化され、或いはピアホールを形
成し相互接続層を形成するために金属層で背面から満た
される。個々のテープのシートは互いに重ねられ、予め
定められた温度および応力を使用して一緒に積層され、
材料が融着或いは焼結される所望の高められた温度で加
熱される。アルミナが絶縁材料として選択される場合、
タングステン、モリブデンまたはモリブデンマンガン合
金は典型的に金属層に使用され、それはH2の還元性雰
囲気中で約t、eoo℃に加熱される。
耐熱性金属の不所望の高い処理温度および必要なH,雰
囲気によって、低温度コファイヤセラミック(LTCC
)が開発された。LTCCは開発中であり、また市販さ
れている( PrussiaのE−IecLro 5c
ience LaboraLorles社およびFER
ROCAの5anta Barbara社を含む多数の
メーカーから)。
囲気によって、低温度コファイヤセラミック(LTCC
)が開発された。LTCCは開発中であり、また市販さ
れている( PrussiaのE−IecLro 5c
ience LaboraLorles社およびFER
ROCAの5anta Barbara社を含む多数の
メーカーから)。
「グリーンタイプ」として従来技術で知られているLT
CCの材料は、製品符号#851ATでデュポン社から
市販されている材料が好ましい。そのテープは約850
℃で焼結するガラスおよびセラミックフィラー混合物で
ある材料の組成を含み、アルミナと類似した熱膨脹を示
す。
CCの材料は、製品符号#851ATでデュポン社から
市販されている材料が好ましい。そのテープは約850
℃で焼結するガラスおよびセラミックフィラー混合物で
ある材料の組成を含み、アルミナと類似した熱膨脹を示
す。
低温度処理は空気中で加熱された抵抗器および金、銀、
またはそれらの合金などの貴金属の厚さのフィルム導電
体の使用を許容する。典型的な高温度処理では、スクリ
ーン印刷された抵抗器は使用不可能であり、耐熱金属ペ
ーストのみが導電体として使用される。
またはそれらの合金などの貴金属の厚さのフィルム導電
体の使用を許容する。典型的な高温度処理では、スクリ
ーン印刷された抵抗器は使用不可能であり、耐熱金属ペ
ーストのみが導電体として使用される。
厚膜技術および高温および低温度のコフフイヤセラミッ
クテーブ技術の詳細は、文献(1983年付けのIsI
IM Proceedings 593乃至598頁
)に記載されている。
クテーブ技術の詳細は、文献(1983年付けのIsI
IM Proceedings 593乃至598頁
)に記載されている。
コファイヤされたセラミック方法の欠点の1つは、誘電
体フィルムまたはテープはx、y、z方向のそれぞれに
おいて20%程度収縮することである。この収縮は典型
的に1%程度の加熱された部分における寸法の不安定性
を生じさせ、一定の型のハイブリッド微小回路の製造に
おいて許容できない。
体フィルムまたはテープはx、y、z方向のそれぞれに
おいて20%程度収縮することである。この収縮は典型
的に1%程度の加熱された部分における寸法の不安定性
を生じさせ、一定の型のハイブリッド微小回路の製造に
おいて許容できない。
コフヤイヤセラミックテーブ処理に固有する収縮問題を
解決する別の多層回路板製造技術は、1987年212
4日の米国特許明細書4.645.552号明細書に開
示されている。この処理は「転送テープ」法として記載
されることができ、−船釣に剛性導電性基体または絶縁
性基体を設け、その上に導7u性回路パターンが形成さ
れ、ガラスセラミックテープ層を基体の表面に転写し加
熱することによって行われる。このテープ層は基体と連
続的にガラスセラミックテープ層の上面に接着され或い
は取付けられる導電体または電気素子との間の絶縁を与
える。基体にテープ層を直接加熱接着する前に、テープ
層に形成されたピアホールによる垂直方向の電気相互接
続を設けることによって、テープ材料のXおよびY t
M方向寸法の安定性が維持される。
解決する別の多層回路板製造技術は、1987年212
4日の米国特許明細書4.645.552号明細書に開
示されている。この処理は「転送テープ」法として記載
されることができ、−船釣に剛性導電性基体または絶縁
性基体を設け、その上に導7u性回路パターンが形成さ
れ、ガラスセラミックテープ層を基体の表面に転写し加
熱することによって行われる。このテープ層は基体と連
続的にガラスセラミックテープ層の上面に接着され或い
は取付けられる導電体または電気素子との間の絶縁を与
える。基体にテープ層を直接加熱接着する前に、テープ
層に形成されたピアホールによる垂直方向の電気相互接
続を設けることによって、テープ材料のXおよびY t
M方向寸法の安定性が維持される。
この垂直方向の相互接続処理における次の導電体層は加
熱処理されたテープの誘電体および加熱処理されたそれ
自身にスクリーン印刷される。ハイブリッド回路が所望
の垂直方向の多層相互接続レベルまで積み重ねるまでこ
の処理は繰返される。
熱処理されたテープの誘電体および加熱処理されたそれ
自身にスクリーン印刷される。ハイブリッド回路が所望
の垂直方向の多層相互接続レベルまで積み重ねるまでこ
の処理は繰返される。
導電体または誘電体層をそれぞれ加熱する別の処理に関
して、完成した構造またはその1部分は上記の参照され
た米国特許明細書に開示されているように同時に加熱処
理されることが可能である。
して、完成した構造またはその1部分は上記の参照され
た米国特許明細書に開示されているように同時に加熱処
理されることが可能である。
スクリーン印刷された誘電体層の積層処理を予め孔を有
する誘電体と置換することによって、転送テープ処理は
、コファイヤセラミック処理の多くの利点を得ながら、
厚膜処理の利点の大部分を保持する。
する誘電体と置換することによって、転送テープ処理は
、コファイヤセラミック処理の多くの利点を得ながら、
厚膜処理の利点の大部分を保持する。
[発明の解決すべき課題]
本発明は、多層セラミックテープ構造を形成する方法お
よびその方法によって製造された構造を提口(し、構造
において広範囲の各種センサまたは変換器を有利的に備
えた上述のようなセラミックLTCCテープまたは転送
テープを利用することが好ましい。センサは力、圧力、
加速度、空気流、衝撃力などを感知する目的のためにフ
レキシブルな膜または部材としてセラミックテープに製
造された素子を含む。これは、ダイアフラムおよびその
他のセンサ素子を製造するために従来使用された化学的
または機械的な加工動作を置換するように、セラミック
テープの均一な厚さおよび腹雑な形状に形成されるか或
いは切断されるべきその可能性を利用することにより本
発明によって達成される。構造の寸法、特に厚さを制御
するこの能力は、センサの再現性および正確性の実質上
の改善をjH(共する。それはまたモノリシックパッケ
ージの構造の片側または両側のセンサを有する外部の電
子装置の集積を可能にし、実質上部品数および処理工程
を減少させる。これは上述の従来使用可能である微小加
工および厚膜処理よりも小さく、低コストで、信頼でき
るセンサ構造であることがわかった。
よびその方法によって製造された構造を提口(し、構造
において広範囲の各種センサまたは変換器を有利的に備
えた上述のようなセラミックLTCCテープまたは転送
テープを利用することが好ましい。センサは力、圧力、
加速度、空気流、衝撃力などを感知する目的のためにフ
レキシブルな膜または部材としてセラミックテープに製
造された素子を含む。これは、ダイアフラムおよびその
他のセンサ素子を製造するために従来使用された化学的
または機械的な加工動作を置換するように、セラミック
テープの均一な厚さおよび腹雑な形状に形成されるか或
いは切断されるべきその可能性を利用することにより本
発明によって達成される。構造の寸法、特に厚さを制御
するこの能力は、センサの再現性および正確性の実質上
の改善をjH(共する。それはまたモノリシックパッケ
ージの構造の片側または両側のセンサを有する外部の電
子装置の集積を可能にし、実質上部品数および処理工程
を減少させる。これは上述の従来使用可能である微小加
工および厚膜処理よりも小さく、低コストで、信頼でき
るセンサ構造であることがわかった。
[発明の解決のための手段]
本発明にしたがって、積層され且つ融若される複数のシ
ートから形成された構造は、熱的に融若可能なテープか
ら形成された少なくとも1つの焼結されたセラミックシ
ートを含む。カンチレバー円形ダイアフラム、少なくと
も2つの側面で支持された長方形ダイアプラム、マイク
ロブリッジのようなセンサ素子はセラミックシートの1
部分として形成される。孔はセンサ素子を感知すべき周
囲環境に露出するようにセラミックシートに隣接するシ
ートの1つに形成される。応力または変位のようなセン
サ素子における物理的な変化に対応する電気信号は、少
なくとも1枚のシート上に形成された金属層パターンと
相互接続されるセンサ素子に取付けられるか或いはその
上に形成されたピエゾ抵抗器、種々のキャパシタ、光検
出器、またはその他の類似物によって発生される。
ートから形成された構造は、熱的に融若可能なテープか
ら形成された少なくとも1つの焼結されたセラミックシ
ートを含む。カンチレバー円形ダイアフラム、少なくと
も2つの側面で支持された長方形ダイアプラム、マイク
ロブリッジのようなセンサ素子はセラミックシートの1
部分として形成される。孔はセンサ素子を感知すべき周
囲環境に露出するようにセラミックシートに隣接するシ
ートの1つに形成される。応力または変位のようなセン
サ素子における物理的な変化に対応する電気信号は、少
なくとも1枚のシート上に形成された金属層パターンと
相互接続されるセンサ素子に取付けられるか或いはその
上に形成されたピエゾ抵抗器、種々のキャパシタ、光検
出器、またはその他の類似物によって発生される。
これらおよびその他の本発明の特徴および利点は、当業
者には下記詳細の説明から明らかであろう。図において
同様の部分には同じ参照番号が付されている。
者には下記詳細の説明から明らかであろう。図において
同様の部分には同じ参照番号が付されている。
[実施例]
第1図を参照にすると、本発明によるセンサを備えた多
層セラミックテープ構造は、全体を符号IOとして示さ
れ、シート12.14.16.18,20.22を含む
。構造lOが転送テープから製造される場合、シート2
2は電気絶縁セラミックまたはガラスセラミックから構
成された比較的に剛性の基体である。
層セラミックテープ構造は、全体を符号IOとして示さ
れ、シート12.14.16.18,20.22を含む
。構造lOが転送テープから製造される場合、シート2
2は電気絶縁セラミックまたはガラスセラミックから構
成された比較的に剛性の基体である。
この場合には、層12乃至20は熱的に融着可能なセラ
ミック転送テープから形成されている。構造1゜がガラ
スセラミックから形成されている場合、熱融合可能なL
TCCテープのシート22は構造の必要な部分を構成せ
ず、省略され、シート12乃至2゜はLTCCテープの
形状で設けられる。
ミック転送テープから形成されている。構造1゜がガラ
スセラミックから形成されている場合、熱融合可能なL
TCCテープのシート22は構造の必要な部分を構成せ
ず、省略され、シート12乃至2゜はLTCCテープの
形状で設けられる。
本発明は、LTCCまたは転送テープに限定されること
はなく、熱の供給によって焼結されたセラミックシート
に熱的に変換されることができる任意の適当な熱融着可
能なテープを使用して実行される。現在利用可能されて
いるそのようなテープの3つの型は純粋なセラミックテ
ープ、ガラスセラミックテープ、および結晶化可能なガ
ラステープ(ガラスは非ガラス化によってセラミックに
変えられる)を含む。
はなく、熱の供給によって焼結されたセラミックシート
に熱的に変換されることができる任意の適当な熱融着可
能なテープを使用して実行される。現在利用可能されて
いるそのようなテープの3つの型は純粋なセラミックテ
ープ、ガラスセラミックテープ、および結晶化可能なガ
ラステープ(ガラスは非ガラス化によってセラミックに
変えられる)を含む。
本発明の方法または処理は、第1図に示されたように個
々のシート12乃至22を製造し、第2図に示されたよ
うにそれらのシートを積層して熱融着するステップを含
む。代りに転送テープが使用される場合、シート12乃
至20は、シート20から始めて一度に1枚のシートを
基体22に積層して融着させる。代りに、シート12乃
至20は基体22と一緒に積層され、単一ステップで融
着するために加熱されてもよい。
々のシート12乃至22を製造し、第2図に示されたよ
うにそれらのシートを積層して熱融着するステップを含
む。代りに転送テープが使用される場合、シート12乃
至20は、シート20から始めて一度に1枚のシートを
基体22に積層して融着させる。代りに、シート12乃
至20は基体22と一緒に積層され、単一ステップで融
着するために加熱されてもよい。
LTCCが使用されるべきな場合、基体22は省略され
、シート12乃至20は一緒に積層され、単一ステップ
で融着するために加熱処理される。本発明の技術的範囲
には、シートを別々或いは一緒に積層にし加熱処理する
ことが含まれることが理解される。いずれの場合でも、
融着可能なセラミックテープは、第2図に示されたよう
に単一構造lOを形成するために加熱または熱処理ステ
ップ中に焼結される。
、シート12乃至20は一緒に積層され、単一ステップ
で融着するために加熱処理される。本発明の技術的範囲
には、シートを別々或いは一緒に積層にし加熱処理する
ことが含まれることが理解される。いずれの場合でも、
融着可能なセラミックテープは、第2図に示されたよう
に単一構造lOを形成するために加熱または熱処理ステ
ップ中に焼結される。
第1図および第2図に示された本発明の実施例によれば
、円形孔12a、14a、18a、20a、22aは、
シートが一緒に積層されるときシート1Gの円形部分1
6aで互いに整列されるように、それぞれシート12.
14.10.18.20.22に形成される。孔22a
は他のシートの各孔よりも小さい。シート1Gの円形部
分16aは円形ダイアフラム24の形状でフレキシブル
或いは変位可能なセンサ素子を構成する。第2図に示さ
れたように、ダイアフラム24の両側は孔を通って感知
されるべき周囲環境に露出される。
、円形孔12a、14a、18a、20a、22aは、
シートが一緒に積層されるときシート1Gの円形部分1
6aで互いに整列されるように、それぞれシート12.
14.10.18.20.22に形成される。孔22a
は他のシートの各孔よりも小さい。シート1Gの円形部
分16aは円形ダイアフラム24の形状でフレキシブル
或いは変位可能なセンサ素子を構成する。第2図に示さ
れたように、ダイアフラム24の両側は孔を通って感知
されるべき周囲環境に露出される。
本発明にしたがって、少なくとも1つの感知または変換
手段は、センサ素子の物理的変化にしたがって電気信号
を生成するために変位可能なセンサ素子と関連する。セ
ンサ素子がダイアフラム24によって実現され、力、応
力、流速、加速度などの形態でダイアフラム24に供給
される外部力は、ダイアフラム24の偏向を生じさせ、
それによってフークの法則にしたがって歪みを生じさせ
るような応力を誘起する。
手段は、センサ素子の物理的変化にしたがって電気信号
を生成するために変位可能なセンサ素子と関連する。セ
ンサ素子がダイアフラム24によって実現され、力、応
力、流速、加速度などの形態でダイアフラム24に供給
される外部力は、ダイアフラム24の偏向を生じさせ、
それによってフークの法則にしたがって歪みを生じさせ
るような応力を誘起する。
感知または変換手段は、センサ素子の応力または変位に
よる変化に応じるように構成され、それに対応する電気
信号を生成する。感知手段は、センサ素子が形成された
後に、製造過程の任意の点においてセンサ素子に取付け
られることができる。
よる変化に応じるように構成され、それに対応する電気
信号を生成する。感知手段は、センサ素子が形成された
後に、製造過程の任意の点においてセンサ素子に取付け
られることができる。
例えば感知手段がピエゾ抵抗器の形をとる場合、シート
の積層および加熱処理の前にセンサ素子上に形成される
のが好ましい。センサ素子はシートを融着させるのに必
要な温度によって損傷される発光ダイオードまたはその
他の素子の形をとる場合、シートが積層され、融着され
た後、センサ素子に取付けられるのが好ましい。
の積層および加熱処理の前にセンサ素子上に形成される
のが好ましい。センサ素子はシートを融着させるのに必
要な温度によって損傷される発光ダイオードまたはその
他の素子の形をとる場合、シートが積層され、融着され
た後、センサ素子に取付けられるのが好ましい。
m1図および第2図に示されているように、ピエゾ抵抗
器2Gの形をとる4つの感知手段は、2次元でダイアフ
ラム24における誘起した応力に対応して電気信号を生
成させるためにセンサ素子24上に形成される。ダイア
フラム24の直径に沿って間隔を隔てている4個のピエ
ゾ抵抗器2Bが示されているけれども、本発明はそれに
限定されず、任意の数のピエゾ抵抗器はセンサ素子のそ
れぞれの位置に設けられることができる。
器2Gの形をとる4つの感知手段は、2次元でダイアフ
ラム24における誘起した応力に対応して電気信号を生
成させるためにセンサ素子24上に形成される。ダイア
フラム24の直径に沿って間隔を隔てている4個のピエ
ゾ抵抗器2Bが示されているけれども、本発明はそれに
限定されず、任意の数のピエゾ抵抗器はセンサ素子のそ
れぞれの位置に設けられることができる。
ピエゾ抵抗器26は、シート12乃至22の積層の前に
スクリーン印刷或いはそれに類似した処理を行うことに
よりペースト状でシート16に施すのが好ましく、誘起
した応力の関数として抵抗率を変化させる。ピエゾ抵抗
効果自体は従来技術において良(知られており、歪計の
技術において幅広く適用されている。本発明を実行する
ためにピエゾ抵抗器を形成するために構成される適用可
能な厚膜抵抗器技術の1例は、文献(5月28乃至30
口、IMC1986Proeeedlngs343乃至
351頁)に開示されている。
スクリーン印刷或いはそれに類似した処理を行うことに
よりペースト状でシート16に施すのが好ましく、誘起
した応力の関数として抵抗率を変化させる。ピエゾ抵抗
効果自体は従来技術において良(知られており、歪計の
技術において幅広く適用されている。本発明を実行する
ためにピエゾ抵抗器を形成するために構成される適用可
能な厚膜抵抗器技術の1例は、文献(5月28乃至30
口、IMC1986Proeeedlngs343乃至
351頁)に開示されている。
ピエゾ抵抗器26と相互接続する金属層パターンはシー
ト113上に形成され、図面には示されていないが、さ
らにそれは幾つかのシートまたは全てのシート12乃至
22上に形成された信号処理および任意の他の所望な回
路網と相互接続することが好ましい。例示した実施例に
おいて、金属層パターンは、シート14を通って延在す
る導電性ピアホール14bおよびシート12を通って延
在するピアホール12cによってシート12の周面上に
形成されたそれぞれの接触バッド12bと相互接続する
ストリップ28を含む。シート12はさらにピアホール
12cを接触バッド12bに接続する導電性ストリップ
12dを備える。
ト113上に形成され、図面には示されていないが、さ
らにそれは幾つかのシートまたは全てのシート12乃至
22上に形成された信号処理および任意の他の所望な回
路網と相互接続することが好ましい。例示した実施例に
おいて、金属層パターンは、シート14を通って延在す
る導電性ピアホール14bおよびシート12を通って延
在するピアホール12cによってシート12の周面上に
形成されたそれぞれの接触バッド12bと相互接続する
ストリップ28を含む。シート12はさらにピアホール
12cを接触バッド12bに接続する導電性ストリップ
12dを備える。
接触バッド12bは構造lOを外部回路網(図示せず)
に接続するために設けられている。ピエゾ抵抗器26に
直接接続されている接触バッド12L+が示されている
が、それはシート12乃至22上の単層または多層の配
置において設けられた信号処理回路網(図示せず)を通
ってそこに間接的に接続されるのが好ましい。感知また
は変換手段は、ピエゾ抵抗器として示されているが、本
発明はそれに限定されない。センサ素子は、センサ素子
24における化学的または電気的変化を含めて物理的変
化を感知する任意の形において設けられることができる
。
に接続するために設けられている。ピエゾ抵抗器26に
直接接続されている接触バッド12L+が示されている
が、それはシート12乃至22上の単層または多層の配
置において設けられた信号処理回路網(図示せず)を通
ってそこに間接的に接続されるのが好ましい。感知また
は変換手段は、ピエゾ抵抗器として示されているが、本
発明はそれに限定されない。センサ素子は、センサ素子
24における化学的または電気的変化を含めて物理的変
化を感知する任意の形において設けられることができる
。
5つのテープ層12乃至20および基体22を含むIR
造10が示されているが、本発明は任意の数のテープ層
を使用して実施されることが可能であり、センサ素子は
少なくとも1つの層に形成される。センサ素子はそれが
形成される層の片側または両側の層に積層されたテープ
層に形成された孔を用いて周囲に直接露出される。代り
に、センサ素子は加速度計または放出検出器のような応
用では密閉されてもよい。その場合、周囲への露出は特
に必要でなくまた要求されない。さらにペースト状以外
の適用および加熱以外の任意の適切な手段を使用して感
知手段をセンサ素子に取付けることは本発明の技術的範
囲に属する。
造10が示されているが、本発明は任意の数のテープ層
を使用して実施されることが可能であり、センサ素子は
少なくとも1つの層に形成される。センサ素子はそれが
形成される層の片側または両側の層に積層されたテープ
層に形成された孔を用いて周囲に直接露出される。代り
に、センサ素子は加速度計または放出検出器のような応
用では密閉されてもよい。その場合、周囲への露出は特
に必要でなくまた要求されない。さらにペースト状以外
の適用および加熱以外の任意の適切な手段を使用して感
知手段をセンサ素子に取付けることは本発明の技術的範
囲に属する。
第3図は、カンチレバーの形態の別のセンサ素子を示し
ている。特に、テープシー)30はそこに形成されたほ
ぼ円形の孔30aを有する。孔30aの右方に配置され
たシート30の部分はカンチレバービーム30bを構成
するために孔30aへ延在するように形成される。所望
の形は機械による切断、レーザによる切断、または任意
のその他の適切な手段によって切断されることができる
。必要に応じて、ビーム30bの慣性モーメントはスク
リーン印刷等によって金属重錘32を設けることによっ
て増加されることができる。ピエゾ抵抗器34または他
の感知手段は、ビーム30bがシート30から孔30a
に延在し、誘起した応力が最大である地点の近くのビー
ム30b上に形成される。金属層ストリップ3Bは、1
つの層としてシート30を備えた構造り別の層(図示せ
ず)上の金属層パターンと相互接続するために、ピエゾ
抵抗器34をピアホール38に接続する。
ている。特に、テープシー)30はそこに形成されたほ
ぼ円形の孔30aを有する。孔30aの右方に配置され
たシート30の部分はカンチレバービーム30bを構成
するために孔30aへ延在するように形成される。所望
の形は機械による切断、レーザによる切断、または任意
のその他の適切な手段によって切断されることができる
。必要に応じて、ビーム30bの慣性モーメントはスク
リーン印刷等によって金属重錘32を設けることによっ
て増加されることができる。ピエゾ抵抗器34または他
の感知手段は、ビーム30bがシート30から孔30a
に延在し、誘起した応力が最大である地点の近くのビー
ム30b上に形成される。金属層ストリップ3Bは、1
つの層としてシート30を備えた構造り別の層(図示せ
ず)上の金属層パターンと相互接続するために、ピエゾ
抵抗器34をピアホール38に接続する。
カンチレバービーム30bが変位され、圧力または加速
度のような供給された力に対応してピエゾ抵抗器34の
応力およびその電気抵抗率を変化させる。
度のような供給された力に対応してピエゾ抵抗器34の
応力およびその電気抵抗率を変化させる。
第4図および第5図では、本発明による別のセンサ素子
形状を示す。構造40はシート42.44.46を含む
。孔42a、46aは第1図および第2図の実施例と同
じようにそれぞれシート42.46に形成される。
形状を示す。構造40はシート42.44.46を含む
。孔42a、46aは第1図および第2図の実施例と同
じようにそれぞれシート42.46に形成される。
間隔を隔てた2つの孔44a、44bはシート44に形
成される。シートが第5図に示されているのように一緒
に積層されるとき、孔42a、48aは孔44a、44
bの内側部分に重なる。孔44aと44bの間のシート
44の部分44cは、幅の広い端部に支持された内方に
テーパを有する形状を含むマイクロブリッジ48の形態
のセンサ素子を構成する。ピエゾ抵抗器50のような感
知手段は、誘起した応力を電気信号に変換するためにマ
イクロブリッジ48上に形成される。マイクロブリッジ
48は2つの対向する側面に支持されたダイアフラムの
1型式として考えられる。さらにピアホール54に導く
金属層ストリップ52が示されている。
成される。シートが第5図に示されているのように一緒
に積層されるとき、孔42a、48aは孔44a、44
bの内側部分に重なる。孔44aと44bの間のシート
44の部分44cは、幅の広い端部に支持された内方に
テーパを有する形状を含むマイクロブリッジ48の形態
のセンサ素子を構成する。ピエゾ抵抗器50のような感
知手段は、誘起した応力を電気信号に変換するためにマ
イクロブリッジ48上に形成される。マイクロブリッジ
48は2つの対向する側面に支持されたダイアフラムの
1型式として考えられる。さらにピアホール54に導く
金属層ストリップ52が示されている。
第6図は、本発明による別のセンサ素子形状を示す。構
造60はシート62.64.66を含む。比較的に大き
い方形の孔G2a、[i6aはシート62.[iに貫通
するようにそれぞれ切断される。はぼ方形の孔[i4a
はシート64に形成される。孔G2a、[i4a、GO
aは同し寸法にする必要がない。
造60はシート62.64.66を含む。比較的に大き
い方形の孔G2a、[i6aはシート62.[iに貫通
するようにそれぞれ切断される。はぼ方形の孔[i4a
はシート64に形成される。孔G2a、[i4a、GO
aは同し寸法にする必要がない。
孔[i2a、64a、GOaよりも小さい島状部分6G
の形をとる長方形ダイアフラムは、センサ素子をIR成
するためにシート64に形成される。島状部分6Gの側
面は、それぞれの側面よりも短いウェブ部分64aによ
ってシート64の隣接する外部分に接続される。
の形をとる長方形ダイアフラムは、センサ素子をIR成
するためにシート64に形成される。島状部分6Gの側
面は、それぞれの側面よりも短いウェブ部分64aによ
ってシート64の隣接する外部分に接続される。
所望ならば、供給される力に応じる島状部分66の変位
は1つ以上のウェブ部分G4bを68で示されているよ
うに切断することによって増加される。ピエゾ抵抗器7
0、金属層ストリップ72およびピアホール74がウェ
ブ部分64bの1つに取付けられている。少なくとも1
つのウェブ部分64b上、島状部分66上または任意の
他の所望な位置に適切な感知手段を設けることは本発明
の技術的範囲内に属する。
は1つ以上のウェブ部分G4bを68で示されているよ
うに切断することによって増加される。ピエゾ抵抗器7
0、金属層ストリップ72およびピアホール74がウェ
ブ部分64bの1つに取付けられている。少なくとも1
つのウェブ部分64b上、島状部分66上または任意の
他の所望な位置に適切な感知手段を設けることは本発明
の技術的範囲内に属する。
第6図に示された島状部分66は、方形であり、その4
つの側面で支持されているが、その他の島状部分も本発
明の技術的範囲内で可能である。方形の側面および角は
所望の大きさに丸くされ、最終的に晴円形または円形を
形成することが可能である。第7図に示された構造60
゛は第6図の114造60と類似し、類似する素子は同
じ参1向初号で示されているが、変更された素子は最初
のn・号と同じ参照符号にダッシュを付けて示されてい
る。島状部分66°は方形が円形に変形される点におい
て島状部分66と異なる。島状部分66は2つの対向す
る側面のみで支持される。
つの側面で支持されているが、その他の島状部分も本発
明の技術的範囲内で可能である。方形の側面および角は
所望の大きさに丸くされ、最終的に晴円形または円形を
形成することが可能である。第7図に示された構造60
゛は第6図の114造60と類似し、類似する素子は同
じ参1向初号で示されているが、変更された素子は最初
のn・号と同じ参照符号にダッシュを付けて示されてい
る。島状部分66°は方形が円形に変形される点におい
て島状部分66と異なる。島状部分66は2つの対向す
る側面のみで支持される。
今まで説明された本発明の実施例はセンサ素子の応力ま
たは変位を感知するために手段としてピエゾ抵抗器が利
用された。第8図および第9図では、異なる科学的原理
において動作する別の感知または変換手段を示す。
たは変位を感知するために手段としてピエゾ抵抗器が利
用された。第8図および第9図では、異なる科学的原理
において動作する別の感知または変換手段を示す。
第8図に示された構造80はシート82.84.8G、
88を含む。TL82a、80aはシート82.Hにそ
れぞれ形成される。(L86aによって限定された空間
はシート84.88によって密閉される。円形ダイアフ
ラム90の形をとるセンサ素子は、シート84の中央部
分84aによって構成され、孔82aを通って周囲環境
に露出される。
88を含む。TL82a、80aはシート82.Hにそ
れぞれ形成される。(L86aによって限定された空間
はシート84.88によって密閉される。円形ダイアフ
ラム90の形をとるセンサ素子は、シート84の中央部
分84aによって構成され、孔82aを通って周囲環境
に露出される。
金属層92の形をとる導電性部材は、スクリーン印刷、
付着またはその類似の方法によってダイアフラム90の
下面に形成される。金属層94の形をとる別の導電性部
材は、シート88の上面に形成される。金属層92.9
4は可変キャパシタの電極プレートを1&成する。その
キャパシタンスはダイアフラム90の変位にしたがって
変化し、金属層92を金属層94の方向へおよび金属層
94から離すように変位させる。金属層92と94との
距離が縮小すると、キャパシタンスは増加し、その逆の
場合は反対になる。金属層92に接続されているピアホ
ール96および接触パッド98が示され、ピアホール1
00および接触パッド102は金属層94に接続されて
いる。
付着またはその類似の方法によってダイアフラム90の
下面に形成される。金属層94の形をとる別の導電性部
材は、シート88の上面に形成される。金属層92.9
4は可変キャパシタの電極プレートを1&成する。その
キャパシタンスはダイアフラム90の変位にしたがって
変化し、金属層92を金属層94の方向へおよび金属層
94から離すように変位させる。金属層92と94との
距離が縮小すると、キャパシタンスは増加し、その逆の
場合は反対になる。金属層92に接続されているピアホ
ール96および接触パッド98が示され、ピアホール1
00および接触パッド102は金属層94に接続されて
いる。
第9図は、シート112,114.1113,118.
120を含む構造100を示ず。孔114a、118a
はシート114.118にそれぞれ形成されている。シ
ート11Gは変位可能なアーム122の形をとるセンサ
素子を設けるように切断される。アーム122は第3図
に示されているようなカンチレバービームであり、第6
図に示されているように68において切断されたウェブ
部分B4b或いは任意の他の所望な形状を有することが
できる。シート11Bはさらにアーム122の端部と対
向する支持部分124を設けるために切断される。アー
ム122は適用する力に応じる支持部分124に対して
変位可能である。
120を含む構造100を示ず。孔114a、118a
はシート114.118にそれぞれ形成されている。シ
ート11Gは変位可能なアーム122の形をとるセンサ
素子を設けるように切断される。アーム122は第3図
に示されているようなカンチレバービームであり、第6
図に示されているように68において切断されたウェブ
部分B4b或いは任意の他の所望な形状を有することが
できる。シート11Bはさらにアーム122の端部と対
向する支持部分124を設けるために切断される。アー
ム122は適用する力に応じる支持部分124に対して
変位可能である。
発光ダイオード、レーザダイオード、またはその類似物
である光源12(iは、支持部分124に取付けらi7
る。光電子セル、光ダイオード、光]・ランジスタまた
はその類似物である光検出器128は、アーム122の
端部に取付けられる。光源1213および光検出器12
8の相対位置は、同じ結果を生じるように反転されても
よい。いずれの場合においても、光検出器128に投射
する光の量はアーム122の変位にしたがって変化する
ように光検出器128は光源12Gからの光によって照
明されるように配置される。さらに第9図では、金属層
ストリップ130、ピアホール132、光源12Gと相
互接続された接触バッド134、金属層ストリップ13
6、ピアホール138および光検出器12gと相互接続
された接触バッド140を示す。
である光源12(iは、支持部分124に取付けらi7
る。光電子セル、光ダイオード、光]・ランジスタまた
はその類似物である光検出器128は、アーム122の
端部に取付けられる。光源1213および光検出器12
8の相対位置は、同じ結果を生じるように反転されても
よい。いずれの場合においても、光検出器128に投射
する光の量はアーム122の変位にしたがって変化する
ように光検出器128は光源12Gからの光によって照
明されるように配置される。さらに第9図では、金属層
ストリップ130、ピアホール132、光源12Gと相
互接続された接触バッド134、金属層ストリップ13
6、ピアホール138および光検出器12gと相互接続
された接触バッド140を示す。
第8図および第9図のキャパシタンスおよび光電子セン
サの配置は、円形ダイアフラムおよびカンチレバーアー
ムの形をそれぞれとるセンサ素子と関連して示されてい
るけれども、それらは本発明にしたがって他のセンサ素
子形状に適用されることができる。
サの配置は、円形ダイアフラムおよびカンチレバーアー
ムの形をそれぞれとるセンサ素子と関連して示されてい
るけれども、それらは本発明にしたがって他のセンサ素
子形状に適用されることができる。
LTCCテープは非常に狭い厚さの許容誤差で製造され
、したがって本発明にしたがって形成されたセンサ素子
の厚さおよび機械的特性の正確で再現可能な制御を自動
的に行う。そのテープは典型的に114乃至317 ミ
クロンの厚さにすることができ、厚さの許容誤差は7.
5ミクロンである。
、したがって本発明にしたがって形成されたセンサ素子
の厚さおよび機械的特性の正確で再現可能な制御を自動
的に行う。そのテープは典型的に114乃至317 ミ
クロンの厚さにすることができ、厚さの許容誤差は7.
5ミクロンである。
第1O図は、1枚のシートよりも薄いセンサ素子が2枚
以上のシートの部分を一体に接続することによって構成
される方法を示す。構造150はシート152.154
.15G、158.1G0.102を含む。シート10
2は第1図および第2図の実施例に示されたような基体
である。孔154a、 IBOa、 162aはシート
154.160゜1132にそれぞれ形成されている。
以上のシートの部分を一体に接続することによって構成
される方法を示す。構造150はシート152.154
.15G、158.1G0.102を含む。シート10
2は第1図および第2図の実施例に示されたような基体
である。孔154a、 IBOa、 162aはシート
154.160゜1132にそれぞれ形成されている。
積層されるシート15[i、15gの中央部分158a
、 158aは円形ダイアフラム164の19をとるセ
ンサ素子を共同して構成する。ダイアフラム184の変
位が上述のものと同じようにピエゾ抵抗器166.16
8からの対応する電気信号出力を生成するように、ピエ
ゾ抵抗器IB6゜168である感知手段は、ダイアフラ
ム164の部分156aと158aの間に埋め込まれる
。さらに、金属層ストリップ170、ピアホール172
、ピエゾ抵抗器16Bと相互接続された接触バッド17
4、金属層ストリップ176、ピアホール178および
ピエゾ抵抗器168と相互接続された接触バッド180
が示されている。
、 158aは円形ダイアフラム164の19をとるセ
ンサ素子を共同して構成する。ダイアフラム184の変
位が上述のものと同じようにピエゾ抵抗器166.16
8からの対応する電気信号出力を生成するように、ピエ
ゾ抵抗器IB6゜168である感知手段は、ダイアフラ
ム164の部分156aと158aの間に埋め込まれる
。さらに、金属層ストリップ170、ピアホール172
、ピエゾ抵抗器16Bと相互接続された接触バッド17
4、金属層ストリップ176、ピアホール178および
ピエゾ抵抗器168と相互接続された接触バッド180
が示されている。
種々の別のセンサ配置は本発明の技術的範囲内で利用で
きる。例えば、例示した形状のピエゾ抵抗器は磁気抵抗
器によって置換されることができる。この場合、永久磁
石(図示せず)は磁気抵抗器を包囲する一定した磁界を
生成するために適切な位置に取付けられる。センサ素子
の偏向は磁石に関係する磁気抵抗器の変位を生じさせ、
したがって磁気抵抗器における磁束の変化およびその電
気抵抗における対応する変化を生じさせる。さらに別の
センサ配置はガラスファイバ導波体(図示せず)スパン
ニング、例えば第4図および第5図に記載されたマイク
ロブリッジを含む。光源および光検出器は導波体の両端
部に取付けられ、したがって光検出器によって受けた光
の強度はマイクロブリッジの変位にしたがって変化する
。
きる。例えば、例示した形状のピエゾ抵抗器は磁気抵抗
器によって置換されることができる。この場合、永久磁
石(図示せず)は磁気抵抗器を包囲する一定した磁界を
生成するために適切な位置に取付けられる。センサ素子
の偏向は磁石に関係する磁気抵抗器の変位を生じさせ、
したがって磁気抵抗器における磁束の変化およびその電
気抵抗における対応する変化を生じさせる。さらに別の
センサ配置はガラスファイバ導波体(図示せず)スパン
ニング、例えば第4図および第5図に記載されたマイク
ロブリッジを含む。光源および光検出器は導波体の両端
部に取付けられ、したがって光検出器によって受けた光
の強度はマイクロブリッジの変位にしたがって変化する
。
本発明のいくつかの実施例が例示され説明されたが、多
くの変形および別の実施例が本発明の技術的範囲内から
逸脱することなく当業者によって行うことができるだろ
う。故に、本発明は特別に記載された例示した実施例の
みに限定されることはない。種々の変更は考慮され、添
付特許請求の範囲によって限定される本発明の技術的範
囲から逸脱することなく行われることができる。
くの変形および別の実施例が本発明の技術的範囲内から
逸脱することなく当業者によって行うことができるだろ
う。故に、本発明は特別に記載された例示した実施例の
みに限定されることはない。種々の変更は考慮され、添
付特許請求の範囲によって限定される本発明の技術的範
囲から逸脱することなく行われることができる。
第1図は、本発明によるセンサ素子を備えた多層セラミ
ックテープ構造の第1の実施例の分解斜視図である。 第2図は、第1図の線2−2に沿った断面図である。 第3図は、本発明による別のセンサ素子形状を示す平面
図である。 第4図は、本発明による別の構造を示す分解斜視図であ
る。 第5図は、第4図の構造のセンサ素子を示すT面図であ
る。 第6図は、本発明による別の構造の分解斜視図である。 笥7図は、例示した構造の変形を示す第6図に類似した
図である。 第8図乃至第10図は、本発明による付加的な実施例を
示す断面図である。 10.40.60・・・構造、12.14.1G、11
1.2G、22,42.44.4111・・・シート、
12a、 14a、 18a、20a、22a、42a
、44a、4Ba、441+・・・孔、14b・・・ピ
アホール、24・・・センサ素子、26゜34.50.
128・・・ピエゾ抵抗器、30b・・・カンチレバー
ビーム、48・・・マイクロブリッジ、66・・・島状
部分、92.94・・・金属層、121・・・光源、1
24・・・支持部分。
ックテープ構造の第1の実施例の分解斜視図である。 第2図は、第1図の線2−2に沿った断面図である。 第3図は、本発明による別のセンサ素子形状を示す平面
図である。 第4図は、本発明による別の構造を示す分解斜視図であ
る。 第5図は、第4図の構造のセンサ素子を示すT面図であ
る。 第6図は、本発明による別の構造の分解斜視図である。 笥7図は、例示した構造の変形を示す第6図に類似した
図である。 第8図乃至第10図は、本発明による付加的な実施例を
示す断面図である。 10.40.60・・・構造、12.14.1G、11
1.2G、22,42.44.4111・・・シート、
12a、 14a、 18a、20a、22a、42a
、44a、4Ba、441+・・・孔、14b・・・ピ
アホール、24・・・センサ素子、26゜34.50.
128・・・ピエゾ抵抗器、30b・・・カンチレバー
ビーム、48・・・マイクロブリッジ、66・・・島状
部分、92.94・・・金属層、121・・・光源、1
24・・・支持部分。
Claims (38)
- (1)一緒に積層される複数のシートから構成され、少
なくとも1枚のシートは、熱的に融着可能なテープから
形成された焼結されたセラミックシートであり、 少なくとも1枚のセラミックシートの1部分を含むセン
サ素子と、センサ素子における物理的変化を感知する感
知手段とを備えたセンサを具備していることを特徴とす
るセンサ構造。 - (2)熱的に融着可能なテープは、ガラスセラミックテ
ープである請求項1記載の構造。 - (3)熱的に融着可能なテープは、転送テープであり、
前記シートの1枚は実質上剛性の基体である請求項1記
載の構造。 - (4)セラミックシートに直接積層される前記シートの
1枚は、センサ素子と共に整列された孔を形成されてい
る請求項1記載の構造。 - (5)センサ素子は、カンチレバーを具備している請求
項4記載の構造。 - (6)センサ素子は実質上円形のダイアフラムを具備し
ている請求項4記載の構造。 - (7)センサ素子は、構造によって支持された少なくと
も2つの側面を有する実質上方形のダイアフラムを具備
している請求項4記載の構造。 - (8)センサ素子は、孔よりも小さい実質上方形のダイ
アフラムと、孔の外側のセラミックシートの部分間およ
び少なくともダイアフラムの2つの側面間にそれぞれ延
在する支持部分とを具備し、その支持部分は前記側面よ
りも短いことを特徴とする請求項4記載の構造。 - (9)前記ダイアフラムの少なくとも2つの側面はダイ
アフラムの2つの対向する側面である請求項8記載の構
造。 - (10)セラミックシートは、2つの間隔を隔てた孔を
形成し、センサ素子は、2つの孔の間のセラミックシー
トのブリッジ部分を具備している請求項4記載の構造。 - (11)感知手段は、センサ素子の応力に応答するピエ
ゾ電気手段を具備している請求項1記載の構造。 - (12)ピエゾ電気手段は、センサ素子に取付けられた
ピエゾ抵抗器を具備している請求項11記載の構造。 - (13)感知手段は、センサ素子の変位に応答する可変
キャパシタンス手段を具備している請求項1記載の構造
。 - (14)可変キャパシタンス手段は、センサ素子に取付
けられた第1の導電性部材と、前記シートの1枚に取付
けられた第2の導電性部材とを具備し、その第2の導電
性部材はセラミックシートに積層され、少なくとも1枚
の介在するシートの厚さと等しい間隔によって分離され
ることを特徴とする請求項13記載の構造。 - (15)感知手段は、センサ素子の変位に応答する光セ
ンサ手段を具備している請求項1記載の構造。 - (16)光センサ手段は、センサ素子に取付けられた光
源および光検出器の一方と、構造の静止部分に取付けら
れた光源および光検出器の他方とを具備し、光検出器に
入射する光源からの光の量は、センサ素子の変位にした
がって変化することを特徴とする請求項15記載の構造
。 - (17)さらに前記シートの少なくとも1枚に形成され
た金属層パターンを具備し、その金属層パターンは感知
手段と相互接続されていることを特徴とする請求項1記
載の構造。 - (18)前記セラミックシートに直接積層される前記少
なくともシートの1枚は、熱的に融着可能なテープから
形成された第2の焼結されたセラミックシートを含み、 第2のセラミックシートの1部を含むセンサ素子は、前
記セラミックシートの部分に積層されていることを特徴
とする請求項1記載の構造。 - (19)センサはさらに、センサ素子における物理的変
化を感知するために前記セラミックシートの部分と第2
のセラミックシートの間に埋め込まれた感知手段を具備
している請求項18記載の構造。 - (20)感知手段は、センサ素子における応力に応答す
るピエゾ電気手段を具備している請求項19記載の構造
。 - (21)(a)少なくとも1枚のシートは熱的に融着可
能なセラミックテープシートの形をとる複数のシートを
準備し、 (b)テープシートの1部分がセンサ素子を構成するよ
うにテープシートを形成し、 (c)複数のシートを一緒に積層し、 (d)テープシートを焼結されたセラミックシートに融
着するように構造を加熱するステップを含み、 (e)さらにステップ(b)の後において、センサ素子
における物理的変化を感知するために感知手段をセンサ
素子に取付けるステップを含むセンサ構造の製造方法。 - (22)ステップ(a)において、ガラスセラミックテ
ープシートの形をとるテープシートを準備する請求項2
1記載の方法。 - (23)ステップ(a)において、転送テープシートの
形をとるテープシートを設け、実質上剛性の基体の形を
とる前記シートの第2の1枚を設ける請求項21記載の
方法。 - (24)(f)(a)と(c)の間で、 テープシート以外の前記シートの少なくとも1枚に孔を
形成するステップを含み、 ステップ(c)において、孔がセンサ素子と整列され、
露出するように前記シートと積層される請求項21記載
の方法。 - (25)ステップ(b)において、センサ素子をカンチ
レバー状に形成する請求項21記載の方法。 - (26)ステップ(b)において、センサ素子を実質上
円形のダイアフラムに形成する請求項21記載の方法。 - (27)ステップ(b)において、センサ素子を実質上
方形のダイアフラムに形成し、その方形ダイアフラムは
テープシートによって支持された少なくとも2つの側面
を有することを特徴とする請求項21記載の方法。 - (28)ステップ(b)は、センサ素子を孔よりも小さ
い実質上方形のダイアフラムに形成し、孔の外側のテー
プシートの部分とダイアフラムの少なくとも2つの側面
との間にそれぞれ支持部分を形成することを含み、支持
部分は側面よりも短いことを特徴とする請求項24記載
の方法。 - (29)ステップ(b)において、孔の外側のテープシ
ートの2つの部分とダイアフラムの2つの対向する側面
との間にそれぞれ支持部分を形成する請求項28記載の
方法。 - (30)ステップ(b)において、2つの間隔を隔てた
孔をテープシートに形成し、センサ素子は2つの孔の間
のテープシートのブリッジ部分を含むことを特徴とする
請求項24記載の方法。 - (31)ステップ(e)において、センサ素子の応力に
応答するピエゾ電気素子をセンサ素子に取付ける請求項
21記載の方法。 - (32)ステップ(e)において、第1の導電性部材を
センサ素子に取付け、第2の導電性部材をテープシート
以外の前記選択されたシートの1枚に取付け、 ステップ(c)において、前記選択されたシートをテー
プシートと整列させ、第2の導電性部材は第1の導電性
部材と整列され、第1の導電性部材と第2の導電性部材
の間のキャパシタンスはセンサ素子の変位にしたがって
変化することを特徴とする請求項21記載の方法。 - (33)ステップ(d)の後に行われるステップ(e)
において、光源および光検出器の1方をセンサ素子に取
付け、光源および光検出器の他方をテープシート以外の
前記シートの選択されたシートに取付け、光検出器に入
射した光源からの光がセンサ素子の変位にしたがって変
化するように整列されることを特徴とする請求項21記
載の方法。 - (34)ステップ(a)と(c)の間で行われるステッ
プ(f)において、少なくとも前記シートの1枚の感知
手段と相互接続する金属層パターンを形成する請求項2
1記載の方法。 - (35)ステップ(a)において、熱的に融着可能なセ
ラミックテープシートの形態の少なくとも前記第2の1
枚のシートを備え、 ステップ(b)において、センサ素子はさらに第2のテ
ープシートの1部分を含むように第2のシートを形成し
、 ステップ(c)において、前記テープシートの部分およ
び第2のテープシートがその間に埋め込まれる感知手段
と共にそれぞれ積層されるように前記テープシートと、
第2のテープシートと、感知手段を整列させる請求項2
1記載の方法。 - (36)ステップ(e)において、ピエゾ電気素子の形
態のセンサ手段を設ける請求項35記載の方法。 - (37)ステップ(e)は、ステップ(b)とステップ
(c)の間で行われる請求項21記載の方法。 - (38)ステップ(e)は、ステップ(d)の後に行わ
れる請求項21記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US441,589 | 1989-11-27 | ||
| US07/441,589 US4991283A (en) | 1989-11-27 | 1989-11-27 | Sensor elements in multilayer ceramic tape structures |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03188350A true JPH03188350A (ja) | 1991-08-16 |
Family
ID=23753491
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2325112A Pending JPH03188350A (ja) | 1989-11-27 | 1990-11-27 | 多層セラミックテープ構造中のセンサ素子 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4991283A (ja) |
| JP (1) | JPH03188350A (ja) |
| DE (1) | DE4037195A1 (ja) |
| GB (1) | GB2238429A (ja) |
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