JPH03188406A - 走査型顕微鏡の撮像方法 - Google Patents
走査型顕微鏡の撮像方法Info
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- JPH03188406A JPH03188406A JP32809489A JP32809489A JPH03188406A JP H03188406 A JPH03188406 A JP H03188406A JP 32809489 A JP32809489 A JP 32809489A JP 32809489 A JP32809489 A JP 32809489A JP H03188406 A JPH03188406 A JP H03188406A
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Landscapes
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、光学式の走査型顕微鏡において試料の顕微鏡
像を撮像する方法に関し、特に詳細には、照明光を試料
に断続的に照射しなから撮像を行なうようにした方法に
関するものである。
像を撮像する方法に関し、特に詳細には、照明光を試料
に断続的に照射しなから撮像を行なうようにした方法に
関するものである。
(従来の技術)
従来より、照明光を微小な光点に収束させ、この光点を
試料上において2次元的に走査させ、その際該試料を透
過した光あるいはそこで反射した光を光検出器で検出し
て、試料の拡大像を担持する電気信号を得るようにした
光学式走査型顕微鏡が公知となっている。例えば特開昭
62−217218号公報には、この走査型顕微鏡の一
例が示されている。
試料上において2次元的に走査させ、その際該試料を透
過した光あるいはそこで反射した光を光検出器で検出し
て、試料の拡大像を担持する電気信号を得るようにした
光学式走査型顕微鏡が公知となっている。例えば特開昭
62−217218号公報には、この走査型顕微鏡の一
例が示されている。
なお従来の光学式走査型顕微鏡においては、多くの場合
、光検出器の連続出力を周期的にサンプリングしてデジ
タルの画像データを得るようにしている。
、光検出器の連続出力を周期的にサンプリングしてデジ
タルの画像データを得るようにしている。
(発明が解決しようとする課題)
ところで、このような走査型顕微鏡を利用して試料像を
撮像する際、特に試料が生物試料の場合は、試料が照明
光の照射を受けて損傷してしまうことがある。
撮像する際、特に試料が生物試料の場合は、試料が照明
光の照射を受けて損傷してしまうことがある。
そこで本発明は、このような試料の損傷を防止すること
ができる走査型顕微鏡の撮像方法を提供することを目的
とするものである。
ができる走査型顕微鏡の撮像方法を提供することを目的
とするものである。
(課題を解決するための手段)
本発明による走査型顕微鏡の撮像方法は、照明光を試料
上において走査させ、この照明光の照射を受けた試料の
部分からの光を光検出器により検出して、試料の顕微鏡
像を示す画像信号を得る走査型顕微鏡において、 前述したように、光検出器の連続出力を所定の周期でサ
ンプリングしてデジタル画像データを得るとともに、 照明光の試料への入射を、少なくとも上記サンプリング
がなされている期間は試料を照射するようにして、該サ
ンプリングと同期させて断続させることを特徴とするも
のである。
上において走査させ、この照明光の照射を受けた試料の
部分からの光を光検出器により検出して、試料の顕微鏡
像を示す画像信号を得る走査型顕微鏡において、 前述したように、光検出器の連続出力を所定の周期でサ
ンプリングしてデジタル画像データを得るとともに、 照明光の試料への入射を、少なくとも上記サンプリング
がなされている期間は試料を照射するようにして、該サ
ンプリングと同期させて断続させることを特徴とするも
のである。
なお照明光の試料への入射を断続させるためには、該照
明光をAOM (音響光学光変調器)等に通して変調し
てもよいし、あるいは照明光を発する半導体レーザ等の
光源を直接0N−OFF変調してもよい。
明光をAOM (音響光学光変調器)等に通して変調し
てもよいし、あるいは照明光を発する半導体レーザ等の
光源を直接0N−OFF変調してもよい。
(作 用)
上記のように照明光を断続させれば、試料が該照明光に
よって照射されている合計時間が、試料が照明光の連続
照射を受ける場合と比べてより短くなり、試料の損傷が
防止される。
よって照射されている合計時間が、試料が照明光の連続
照射を受ける場合と比べてより短くなり、試料の損傷が
防止される。
また、少なくとも上記サンプリングがなされている期間
は照明光が試料を照射するようにしているから、適正な
サンプリングが不可能になったり、あるいは感度が低下
する等の不具合を招くことはない。
は照明光が試料を照射するようにしているから、適正な
サンプリングが不可能になったり、あるいは感度が低下
する等の不具合を招くことはない。
(実 施 例)
以下、図面に示す実施例に基づいて本発明の詳細な説明
する。
する。
第1図は、本発明の方法を実施する走査型顕微鏡の一例
を示している。この走査型顕微鏡は、透過型の共焦点走
査型顕微鏡である。まず、走査型顕微鏡の基本構成につ
いて、第1図および走査機構を詳しく示す第2図を参照
して説明する。
を示している。この走査型顕微鏡は、透過型の共焦点走
査型顕微鏡である。まず、走査型顕微鏡の基本構成につ
いて、第1図および走査機構を詳しく示す第2図を参照
して説明する。
第1図に示されるように、照明光11を発するレーザダ
イオード5が、移動台15に一体的に保持されている。
イオード5が、移動台15に一体的に保持されている。
また移動台15には、コリメーターレンズ16および対
物レンズ17からなる送光光学系18と、対物レンズ1
9および集光レンズ20からなる受光光学系21とが、
互いに光軸を一致させて固定されている。なお照明光1
1は対物レンズ17に入射する前に、後述するAOM6
0に通される。
物レンズ17からなる送光光学系18と、対物レンズ1
9および集光レンズ20からなる受光光学系21とが、
互いに光軸を一致させて固定されている。なお照明光1
1は対物レンズ17に入射する前に、後述するAOM6
0に通される。
上記の光学系18.21の間には、移動台15と別体と
された試料台22が配されている。そして受光光学系2
1の下方において移動台15には、光検出器9が固定さ
れている。この光検出器9としては、例えばフォトダイ
オード等が用いられる。また光検出器9の前側(図中上
方)には、ピンホール8aを有するピンホール板8が配
されている。
された試料台22が配されている。そして受光光学系2
1の下方において移動台15には、光検出器9が固定さ
れている。この光検出器9としては、例えばフォトダイ
オード等が用いられる。また光検出器9の前側(図中上
方)には、ピンホール8aを有するピンホール板8が配
されている。
レーザダイオード5から発せられたレーザ光(照明光)
11は、コリメーターレンズ1Bによって平行光とさ
れ、次に対物レンズ17によって集光されて、試料台2
2に載置された試料23上で(表面部分あるいはその内
部で)微小な光点Pに収束する。
11は、コリメーターレンズ1Bによって平行光とさ
れ、次に対物レンズ17によって集光されて、試料台2
2に載置された試料23上で(表面部分あるいはその内
部で)微小な光点Pに収束する。
試料23を透過した各透過光11’ の光束は、受光光
学系21の対物レンズ19によって平行光とされ、次に
集光レンズ20によって集光されて点像Qに結像する。
学系21の対物レンズ19によって平行光とされ、次に
集光レンズ20によって集光されて点像Qに結像する。
この点像Qは、光検出器9によって検出される。この光
検出器9からは、光点Pで照射された試料23の各部分
の明るさを示す信号Sが出力される。
検出器9からは、光点Pで照射された試料23の各部分
の明るさを示す信号Sが出力される。
なお、上記点像Qをピンホール8aを介して検出するこ
とにより、そのハローや試料23で散乱した光をカット
することができる。
とにより、そのハローや試料23で散乱した光をカット
することができる。
次に、照明光11の光点Pの2次元走査について、第2
図も参照して説明する。移動台15は架台32に対して
、矢印X方向に移動自在に支持されている。
図も参照して説明する。移動台15は架台32に対して
、矢印X方向に移動自在に支持されている。
すなわち架台32には2本のガイドロッド4G、4Gの
一端部が固定され、移動台15に設けられた2つのガイ
ド孔41.41中にこれらのガイドロッド40.40が
遊嵌されている。上記移動台15と架台32との間には
、積層ピエゾ素子33が介装されている。この積層ピエ
ゾ素子33はピエゾ素子駆動回路34から駆動電力を受
けて、移動台15を矢印X方向に高速で往復移動させる
。この往復移動の振動数は、例えば10k Hzとされ
る。その場合、主走査幅を100μmとすると、主走査
速度は、 10X103 X100 XIO°6X2−2m/sと
なる。
一端部が固定され、移動台15に設けられた2つのガイ
ド孔41.41中にこれらのガイドロッド40.40が
遊嵌されている。上記移動台15と架台32との間には
、積層ピエゾ素子33が介装されている。この積層ピエ
ゾ素子33はピエゾ素子駆動回路34から駆動電力を受
けて、移動台15を矢印X方向に高速で往復移動させる
。この往復移動の振動数は、例えば10k Hzとされ
る。その場合、主走査幅を100μmとすると、主走査
速度は、 10X103 X100 XIO°6X2−2m/sと
なる。
一方試料台22は架台32に対して、上記矢印X方向と
直角な矢印Y方向に移動自在に支持されている。すなわ
ち架台32には、2本のガイドロッド45.45の一端
部が固定され、試料台22に設けられた2つのガイド孔
46.46中にこれらのガイドロッド45.45が遊嵌
されている。上記試料台22と架台32との間には、積
層ピエゾ素子47が介装されている。この積層ピエゾ素
子47はピエゾ素子駆動回路48から駆動電力を受けて
、試料台22を矢印Y方向に高速で往復移動させる。そ
れにより試料台22は移動台15に対して相対移動され
、前記光点Pが試料23上を、主走査方向Xと直交する
Y方向に副走査する。
直角な矢印Y方向に移動自在に支持されている。すなわ
ち架台32には、2本のガイドロッド45.45の一端
部が固定され、試料台22に設けられた2つのガイド孔
46.46中にこれらのガイドロッド45.45が遊嵌
されている。上記試料台22と架台32との間には、積
層ピエゾ素子47が介装されている。この積層ピエゾ素
子47はピエゾ素子駆動回路48から駆動電力を受けて
、試料台22を矢印Y方向に高速で往復移動させる。そ
れにより試料台22は移動台15に対して相対移動され
、前記光点Pが試料23上を、主走査方向Xと直交する
Y方向に副走査する。
なおこの副走査の所要時間は例えば1/20秒とされ、
その場合、副走査幅を100μmとすると、副走査速度
は、 20X100 Xl04−0.002 m/ s纏2m
m/s と、前記主走査速度よりも十分に低くなる。この程度の
副走査速度であれば、試料台22を移動させても、試料
23が飛んでしまうことを防止できる。
その場合、副走査幅を100μmとすると、副走査速度
は、 20X100 Xl04−0.002 m/ s纏2m
m/s と、前記主走査速度よりも十分に低くなる。この程度の
副走査速度であれば、試料台22を移動させても、試料
23が飛んでしまうことを防止できる。
以上のようにして光点Pが試料23上を2次元的に走査
することにより、該試料23の2次元像を担持するアナ
ログの信号Sが得られる。以下第3図を参照して、この
画像信号Sから画素分割されたデジタル画像データを作
成する点について説明する。
することにより、該試料23の2次元像を担持するアナ
ログの信号Sが得られる。以下第3図を参照して、この
画像信号Sから画素分割されたデジタル画像データを作
成する点について説明する。
第3図は走査型顕微鏡の電気回路を示している。
図示されるようにピエゾ素子駆動回路34および48に
は、制御回路35から主走査ドライブ信号S1および副
走査ドライブ信号S2が入力され、それにより主、副走
査の同期を取って積層ピエゾ素子33.47が駆動され
る。
は、制御回路35から主走査ドライブ信号S1および副
走査ドライブ信号S2が入力され、それにより主、副走
査の同期を取って積層ピエゾ素子33.47が駆動され
る。
一方光検出器9が出力したアナログ画像信号Sは画像信
号用アンプ50で増幅された後、A/D変換器5Iに入
力される。またこのA/D変換器5Iには、サンプリン
グクロック発生回路52から所定周波数のサンプリング
クロックS3が入力され、該A/D変換器51はこのサ
ンプリングクロックS3の周波数でアナログ画像信号S
をサンプリング(標本化)し、そしてデジタルの画像デ
ータSdに変換する。このデジタル画像データSdは−
たん画像メモリ53に記憶された後、そこから逐次読み
出される。読み出された画像データSdは例えばCRT
等からなる画像再生装置54に送られ、試料23の顕微
鏡像再生のために供せられる。
号用アンプ50で増幅された後、A/D変換器5Iに入
力される。またこのA/D変換器5Iには、サンプリン
グクロック発生回路52から所定周波数のサンプリング
クロックS3が入力され、該A/D変換器51はこのサ
ンプリングクロックS3の周波数でアナログ画像信号S
をサンプリング(標本化)し、そしてデジタルの画像デ
ータSdに変換する。このデジタル画像データSdは−
たん画像メモリ53に記憶された後、そこから逐次読み
出される。読み出された画像データSdは例えばCRT
等からなる画像再生装置54に送られ、試料23の顕微
鏡像再生のために供せられる。
次に、照明光11を断続させる点について説明する。第
1図に示されたAOM60は、第3図に示すAOM駆動
回路61によって駆動される。このAOM駆動回路61
は制御回路35によって制御され、入力されたサンプリ
ングクロックS3がH(high)レベルとなっている
期間のみ照明光11を通過させるように、AOM80を
駆動する。このサンプリングクロックS3と、AOM8
0を通過後の(つまり試料23に入射する)照明光11
の光強度との関係は、第4図に示すようなものとなる。
1図に示されたAOM60は、第3図に示すAOM駆動
回路61によって駆動される。このAOM駆動回路61
は制御回路35によって制御され、入力されたサンプリ
ングクロックS3がH(high)レベルとなっている
期間のみ照明光11を通過させるように、AOM80を
駆動する。このサンプリングクロックS3と、AOM8
0を通過後の(つまり試料23に入射する)照明光11
の光強度との関係は、第4図に示すようなものとなる。
図中(1)がサンプリングクロックS3を示し、(乞が
照明光11の光強度を示している。
照明光11の光強度を示している。
上記のように照明光11が断続されると、光検出器9が
出力する信号Sは、第4図の(aに示すように変化する
。すなわち該信号Sは、照明光11が試料23を照射し
ている期間のみ試料23の画像情報を担うものとなり、
照明光11が試料23を照射していない期間は低レベル
の一定値を示す。このアナログ信号SはA/D変換器5
1において、例えばサンプリングクロックS3の立下り
時にホールドされ、L(low)レベル時にサンプリン
グされて、前述のデジタル画像データSdに変換される
。
出力する信号Sは、第4図の(aに示すように変化する
。すなわち該信号Sは、照明光11が試料23を照射し
ている期間のみ試料23の画像情報を担うものとなり、
照明光11が試料23を照射していない期間は低レベル
の一定値を示す。このアナログ信号SはA/D変換器5
1において、例えばサンプリングクロックS3の立下り
時にホールドされ、L(low)レベル時にサンプリン
グされて、前述のデジタル画像データSdに変換される
。
このようにアナログ信号Sが断続的に変化するものであ
っても、照明光11が試料23を照射している期間にそ
れがサンプリングされれば、同等問題は生じない。
っても、照明光11が試料23を照射している期間にそ
れがサンプリングされれば、同等問題は生じない。
また、上記のように照明光11を断続させれば、照明光
11を連続的に試料23に照射する場合に比べて、該試
料23が照明光照射を受ける合計時間が短くなる。した
がって、試料23が照明光照射により損傷することが起
き難くなる。
11を連続的に試料23に照射する場合に比べて、該試
料23が照明光照射を受ける合計時間が短くなる。した
がって、試料23が照明光照射により損傷することが起
き難くなる。
なお、例えば試料23が生物試料であって、その特殊な
反応(蛍光反応等)を観察する場合は、第4図の(2)
に示す照明光11の変化に対して、光検出器9の出力信
号Sが、同図の(4)に示すように遅れることがある。
反応(蛍光反応等)を観察する場合は、第4図の(2)
に示す照明光11の変化に対して、光検出器9の出力信
号Sが、同図の(4)に示すように遅れることがある。
こうなっていると、出力信号Sを適正にサンプリングす
ることが不可能となる。そのため本実施例においては、
サンプリングクロック発生回路52から出力されたサン
プリングクロックS3は位相調整器62に通され、その
位相が調整され得るようになっている。この出力信号S
の遅れに対処するためには、AOM駆動回路81に入力
されるサンプリングクロックS3の位相を、A/D変換
器51に入力されるものに対して、上記遅れの時間T1
あるいはそれをやや上回る時間進めればよい。
ることが不可能となる。そのため本実施例においては、
サンプリングクロック発生回路52から出力されたサン
プリングクロックS3は位相調整器62に通され、その
位相が調整され得るようになっている。この出力信号S
の遅れに対処するためには、AOM駆動回路81に入力
されるサンプリングクロックS3の位相を、A/D変換
器51に入力されるものに対して、上記遅れの時間T1
あるいはそれをやや上回る時間進めればよい。
なお図では特に示されていないが、主、副走査方向X、
Yと直交する矢印Z方向(第1図参照)、すなわち光学
系18.21の光軸方向に試料台22を移動させること
もできる。こうして試料台22をZ方向に所定距離移動
させる毎に前記光点Pの2次元走査を行なえば、合焦点
面の情報のみが光検出器9によって検出される。そこで
、この光検出器9の出力Sから得られた画像データSd
をメモリに取り込むことにより、試料23をZ方向に移
動させた範囲内で、全ての面に焦点が合った画像を担う
画像データを得ることが可能となる。
Yと直交する矢印Z方向(第1図参照)、すなわち光学
系18.21の光軸方向に試料台22を移動させること
もできる。こうして試料台22をZ方向に所定距離移動
させる毎に前記光点Pの2次元走査を行なえば、合焦点
面の情報のみが光検出器9によって検出される。そこで
、この光検出器9の出力Sから得られた画像データSd
をメモリに取り込むことにより、試料23をZ方向に移
動させた範囲内で、全ての面に焦点が合った画像を担う
画像データを得ることが可能となる。
また本発明は、以上説明した透過型の共焦点走査型顕微
鏡に限らず、その他のタイプの走査型顕微鏡に対しても
適用可能である。
鏡に限らず、その他のタイプの走査型顕微鏡に対しても
適用可能である。
(発明の効果)
以上詳細に説明した通り本発明による走査型顕微鏡の撮
像方法においては、試料を照明光により断続的に照射し
ながら画像信号を得るようにしたから、試料が照明光に
よって照射されている合計時間が、従来方法におけるの
と比べてより短くなり、よって試料の損傷を確実に防止
する効果が得られる。
像方法においては、試料を照明光により断続的に照射し
ながら画像信号を得るようにしたから、試料が照明光に
よって照射されている合計時間が、従来方法におけるの
と比べてより短くなり、よって試料の損傷を確実に防止
する効果が得られる。
第1図は、本発明の方法を実施する走査型顕微鏡の一例
を示す概略正面図、 第2図は、上記走査型顕微鏡の要部を示す斜視図、 第3図は、上記走査型顕微鏡の電気回路を示すブロック
図、 第4図は、上記走査型顕微鏡におけるサンプリングクロ
ックの波形と、照明光の強度変化特性と、アナログ画像
信号の波形とを示すグラフである。 5・・・レーザダイオード 9・・・光検出器11・・
・照明光 11°・・・透過光15・・・移
動台 1B・・・コリメーターレンズ17.
19・・・対物レンズ 18・・・送光光学系20.
72・・・集光レンズ 21・・・受光光学系22・
・・試料台 23・・・試料32・・・架台
33.47・・・積層ピエゾ素子34.
48・・・ピエゾ素子駆動回路 50・・・アンプ 51・・・A/D変換器
52・・・サンプリングクロック発生回路BO・・・A
OM 81・・・AOM駆動回路82・・
・位相調整器 第 1 図
を示す概略正面図、 第2図は、上記走査型顕微鏡の要部を示す斜視図、 第3図は、上記走査型顕微鏡の電気回路を示すブロック
図、 第4図は、上記走査型顕微鏡におけるサンプリングクロ
ックの波形と、照明光の強度変化特性と、アナログ画像
信号の波形とを示すグラフである。 5・・・レーザダイオード 9・・・光検出器11・・
・照明光 11°・・・透過光15・・・移
動台 1B・・・コリメーターレンズ17.
19・・・対物レンズ 18・・・送光光学系20.
72・・・集光レンズ 21・・・受光光学系22・
・・試料台 23・・・試料32・・・架台
33.47・・・積層ピエゾ素子34.
48・・・ピエゾ素子駆動回路 50・・・アンプ 51・・・A/D変換器
52・・・サンプリングクロック発生回路BO・・・A
OM 81・・・AOM駆動回路82・・
・位相調整器 第 1 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 照明光を試料上において走査させ、この照明光の照射を
受けた試料の部分からの光を光検出器により検出して、
試料の顕微鏡像を示す画像信号を得る走査型顕微鏡にお
いて、 前記光検出器の連続出力を所定の周期でサンプリングし
てデジタル画像データを得るとともに、前記照明光の試
料への入射を、少なくとも前記サンプリングがなされて
いる期間は試料を照射するようにして、該サンプリング
と同期させて断続させることを特徴とする走査型顕微鏡
の撮像方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32809489A JPH03188406A (ja) | 1989-12-18 | 1989-12-18 | 走査型顕微鏡の撮像方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32809489A JPH03188406A (ja) | 1989-12-18 | 1989-12-18 | 走査型顕微鏡の撮像方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03188406A true JPH03188406A (ja) | 1991-08-16 |
Family
ID=18206444
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32809489A Pending JPH03188406A (ja) | 1989-12-18 | 1989-12-18 | 走査型顕微鏡の撮像方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03188406A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012027167A (ja) * | 2010-07-22 | 2012-02-09 | Olympus Corp | レーザ走査型顕微鏡 |
-
1989
- 1989-12-18 JP JP32809489A patent/JPH03188406A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012027167A (ja) * | 2010-07-22 | 2012-02-09 | Olympus Corp | レーザ走査型顕微鏡 |
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