JPH03189512A - 光検出方法およびそのための装置 - Google Patents
光検出方法およびそのための装置Info
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- JPH03189512A JPH03189512A JP1329937A JP32993789A JPH03189512A JP H03189512 A JPH03189512 A JP H03189512A JP 1329937 A JP1329937 A JP 1329937A JP 32993789 A JP32993789 A JP 32993789A JP H03189512 A JPH03189512 A JP H03189512A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
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- G—PHYSICS
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- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、レーザ等の光ビームを受光する光検出方法お
よび光検出装置に関する。
よび光検出装置に関する。
より詳しくは、例えばローチーティングレーザ装置とし
て測量や建設・土木分野で知られている装置の光検出装
置とその光検出方法に関する。
て測量や建設・土木分野で知られている装置の光検出装
置とその光検出方法に関する。
（従来技術）
従来、光の強度あるいは光の投影位置等を測定する光検
出方法および光検出装置は各分野で利用されている。
出方法および光検出装置は各分野で利用されている。
例えば、測量や建設・土木分野では水準作業に第５図に
示すローチーティングレーザ装置が利用されている。こ
のローチーティングレーザ装置はレーザ投光装置２とレ
ーザ投光装置２からのレーザ光を受光する光検出装置１
とから構成されている。
示すローチーティングレーザ装置が利用されている。こ
のローチーティングレーザ装置はレーザ投光装置２とレ
ーザ投光装置２からのレーザ光を受光する光検出装置１
とから構成されている。
レーザ投光装置２は鉛直軸Ｏを軸としてレーザ光ビーム
Ｌを旋回し基準平面Ｐを規定する。光検出装置１は、例
えば壁や杭に沿って配置されるもので、第１と第２の少
な（とも２つの受光素子１１と１２を有している。
Ｌを旋回し基準平面Ｐを規定する。光検出装置１は、例
えば壁や杭に沿って配置されるもので、第１と第２の少
な（とも２つの受光素子１１と１２を有している。
レーザ投光装置２から投影されるレーザ光ビームＬが上
側の受光素子１１にのみ投影された場合は、光検出装置
ｌの基準マーク５の位置が、レーザ光ビームＬの作る基
準平面Ｐよりも下側に位置していることを意味し、光検
出装置１を上方に移動させるように指示する表示器３，
４の上向き矢印形状をもつ 「上向け」表示部３ｂ、４
ｂを点灯させる。逆に、下側の受光素子１２にのみ投影
された場合は、光検出装置ｌの基準マーク５の位置が、
基準平面Ｐよりも上側に位置していることを意味し、光
検出装置ｌを下方に移動させるように指示する表示器３
，４の下向き矢印形状をもつ「下向け」表示部３ａ、４
ａを点灯させる。そして、レーザ光ビームＬが受光素子
１１．１２の両方に均等に投影された場合は、表示器３
，４の「中心」表示部３ｃ、４ｃを点灯させ光検出装置
ｌの基準マーク５が基準平面Ｐと一致したことを測定者
に知らせ、測定者は基準マーク５の位置で壁や杭に線１
ｅを引き水準マークを得る。
側の受光素子１１にのみ投影された場合は、光検出装置
ｌの基準マーク５の位置が、レーザ光ビームＬの作る基
準平面Ｐよりも下側に位置していることを意味し、光検
出装置１を上方に移動させるように指示する表示器３，
４の上向き矢印形状をもつ 「上向け」表示部３ｂ、４
ｂを点灯させる。逆に、下側の受光素子１２にのみ投影
された場合は、光検出装置ｌの基準マーク５の位置が、
基準平面Ｐよりも上側に位置していることを意味し、光
検出装置ｌを下方に移動させるように指示する表示器３
，４の下向き矢印形状をもつ「下向け」表示部３ａ、４
ａを点灯させる。そして、レーザ光ビームＬが受光素子
１１．１２の両方に均等に投影された場合は、表示器３
，４の「中心」表示部３ｃ、４ｃを点灯させ光検出装置
ｌの基準マーク５が基準平面Ｐと一致したことを測定者
に知らせ、測定者は基準マーク５の位置で壁や杭に線１
ｅを引き水準マークを得る。
従来のローチーティングレーザ装置は野外で使用される
ことが多いため、光検出装置１の受光素子１１．１２に
は、測定のためのレーザ投光装置２から投影されるレー
ザ光ビームＬのみならず、外乱光としての太陽光も入射
される。太陽光が受光素子１１．１２に入射された場合
は、受光素子１１．１２の受光信号Ｉ。は、第６図（ａ
）に横軸に、時間を縦軸に信号出力をとった波形図で示
すように、直流ノイズ信号成分■、がレーザ光ビームＬ
による正規受光信号Ｉｓに重なって出力される。また、
ローチーティングレーザ装置を白熱電球等の照明下の屋
内で使用する場合も、同様に直流ノイズ信号が正規受光
信号に重なって出力される。
ことが多いため、光検出装置１の受光素子１１．１２に
は、測定のためのレーザ投光装置２から投影されるレー
ザ光ビームＬのみならず、外乱光としての太陽光も入射
される。太陽光が受光素子１１．１２に入射された場合
は、受光素子１１．１２の受光信号Ｉ。は、第６図（ａ
）に横軸に、時間を縦軸に信号出力をとった波形図で示
すように、直流ノイズ信号成分■、がレーザ光ビームＬ
による正規受光信号Ｉｓに重なって出力される。また、
ローチーティングレーザ装置を白熱電球等の照明下の屋
内で使用する場合も、同様に直流ノイズ信号が正規受光
信号に重なって出力される。
このため、従来の光検出装置１は、例えばコンデンサか
ら成るＡＣカップリング回路を受光素子１１．１２の各
々に接続し、第６図（ｂ）に示すように、太陽光や白熱
電球等からの外乱光による直流ノイズ信号成分■、を除
去しレーザ光ビームＬの正規受光信号Ｉ、に起因する交
流成分（以下これを「正規出力信号」という）Ｉ５．の
みを取り出して太陽光による外乱光の影響を除去してい
た。
ら成るＡＣカップリング回路を受光素子１１．１２の各
々に接続し、第６図（ｂ）に示すように、太陽光や白熱
電球等からの外乱光による直流ノイズ信号成分■、を除
去しレーザ光ビームＬの正規受光信号Ｉ、に起因する交
流成分（以下これを「正規出力信号」という）Ｉ５．の
みを取り出して太陽光による外乱光の影響を除去してい
た。
（発明が解決しようとする課題）
しかしながら、レーザ投光装置２と光検出装置１の間を
、人や車が横切ったり、測定あるいは作業中に、光検出
装置１の入射光路に測定者や作業者の手が誤って侵入し
たり、あるいは光検出装置ｌが鉛直軸回りに旋回された
り、もしくは雲で太陽が短時間陰ると、それらに起因し
て受光素子１１．１２に入射される太陽光や白熱電球等
からの照明光の光量は変化し、第６図（ａ）に示すよう
に、ノイズ信号は交流成分ＩＡを持つことになる。
、人や車が横切ったり、測定あるいは作業中に、光検出
装置１の入射光路に測定者や作業者の手が誤って侵入し
たり、あるいは光検出装置ｌが鉛直軸回りに旋回された
り、もしくは雲で太陽が短時間陰ると、それらに起因し
て受光素子１１．１２に入射される太陽光や白熱電球等
からの照明光の光量は変化し、第６図（ａ）に示すよう
に、ノイズ信号は交流成分ＩＡを持つことになる。
従来の光検出装置ｌのＡＣカップリング回路は、この太
陽光白熱電球等の外乱光の交流成分ＩＡを除去出来ない
ため、第６図（ｂ）に斜線を付して示すような、交流ノ
イズ信号成分ＩＡＣが光検出装置ｌの処理回路に出力さ
れることにより、処理回路では外乱光の交流成分ＩＡに
よる交流ノイズ信号成分ＩＡＣをレーザ光ビームＬの受
光による正規出力信号ＩＳＣと判断してしまい、誤動作
や誤測定を招くという欠点があった。
陽光白熱電球等の外乱光の交流成分ＩＡを除去出来ない
ため、第６図（ｂ）に斜線を付して示すような、交流ノ
イズ信号成分ＩＡＣが光検出装置ｌの処理回路に出力さ
れることにより、処理回路では外乱光の交流成分ＩＡに
よる交流ノイズ信号成分ＩＡＣをレーザ光ビームＬの受
光による正規出力信号ＩＳＣと判断してしまい、誤動作
や誤測定を招くという欠点があった。
本発明の課題は、上記従来の光検出装置の欠点を解消し
、外乱光の影響による誤動作や誤測定を防止することが
できる光検出方法およびそのための装置を提供すること
にある。
、外乱光の影響による誤動作や誤測定を防止することが
できる光検出方法およびそのための装置を提供すること
にある。
（課題を解決するための手段）
前記課題を解決するための本発明の第１の構成上の特徴
は、受光光量を電気信号に変換する第１ステップと；前
記電気信号内の交流信号成分のみを取り出す第２ステッ
プと；所定サンプリング期間内の前記交流信号成分の最
大信号レベルを保持する第３ステップと；前記最大信号
レベルの信号値を記憶する第４ステップと；前記信号値
が前記サンプリング期間内に存在するか否かを判断する
第５ステップと；前記第５ステップの判断結果列が“否
”、“存在゛、“否”となった場合は、当該“存在”に
対応する前記第４ステップで記憶された前記信号値を正
規信号として以後の信号処理に採用し、判断結果列が“
否”、“存在”、“否”以外の場合は前記信号値は外乱
光によるノイズと判断し以後の信号処理に採用しない第
６ステップとを有する光検出方法にある。
は、受光光量を電気信号に変換する第１ステップと；前
記電気信号内の交流信号成分のみを取り出す第２ステッ
プと；所定サンプリング期間内の前記交流信号成分の最
大信号レベルを保持する第３ステップと；前記最大信号
レベルの信号値を記憶する第４ステップと；前記信号値
が前記サンプリング期間内に存在するか否かを判断する
第５ステップと；前記第５ステップの判断結果列が“否
”、“存在゛、“否”となった場合は、当該“存在”に
対応する前記第４ステップで記憶された前記信号値を正
規信号として以後の信号処理に採用し、判断結果列が“
否”、“存在”、“否”以外の場合は前記信号値は外乱
光によるノイズと判断し以後の信号処理に採用しない第
６ステップとを有する光検出方法にある。
前記課題を解決するための本発明の第２の構成上の特徴
は、受光光量を電気信号に変換する受光手段と；前記電
気信号内の交流信号成分のみを取り出すＡＣカップリン
グ手段と；所定サンプリング期間内の前記交流信号成分
の最大信号レベルを保持するピークホールド手段と；前
記最大信号レベルの信号値を記憶する第１記憶手段と；
前記信号値が前記サンプリング期間内に存在するか否か
を判断する第１判断手段と；前記第１判断手段の判断結
果を記憶する第２記憶手段と；前記第１判断手段の記憶
結果が“否”、“存在”、“否”となった場合は、当該
“存在”に対応する前記第１記憶手段に記憶された前記
信号値を正規信号として以後の信号処理に採用し、前記
記憶結果が“否”“存在”否”以外の場合は前記信号値
は外乱光によるノイズと判断し以後の信号処理に採用し
ないようにする第２判断手段とを有する光検出装置にあ
る。
は、受光光量を電気信号に変換する受光手段と；前記電
気信号内の交流信号成分のみを取り出すＡＣカップリン
グ手段と；所定サンプリング期間内の前記交流信号成分
の最大信号レベルを保持するピークホールド手段と；前
記最大信号レベルの信号値を記憶する第１記憶手段と；
前記信号値が前記サンプリング期間内に存在するか否か
を判断する第１判断手段と；前記第１判断手段の判断結
果を記憶する第２記憶手段と；前記第１判断手段の記憶
結果が“否”、“存在”、“否”となった場合は、当該
“存在”に対応する前記第１記憶手段に記憶された前記
信号値を正規信号として以後の信号処理に採用し、前記
記憶結果が“否”“存在”否”以外の場合は前記信号値
は外乱光によるノイズと判断し以後の信号処理に採用し
ないようにする第２判断手段とを有する光検出装置にあ
る。
前記課題を解決するための本発明の第３の構成上の特徴
は、上記第２の構成の前記第１および第２記憶手段がＲ
ＡＭで構成され、前記第１および第２判断手段がマイク
ロプロセッサで構成された光検出装置にある。
は、上記第２の構成の前記第１および第２記憶手段がＲ
ＡＭで構成され、前記第１および第２判断手段がマイク
ロプロセッサで構成された光検出装置にある。
前記課題を解決するための本発明の第４の構成上の特徴
は、鉛直軸回りに旋回し基準平面を規定する光ビームを
受光し電気信号に変換する少なくとも２つの受光手段を
有し、これら受光手段への前記光ビームの入射光量を測
定し、前記基準平面との相対的位置関係を出力する光検
出装置において：前記電気信号内の交流信号成分のみを
取り出すＡＣカップリング手段と；所定サンプリング期
間内の前記交流信号成分の最大信号レベルを保持するピ
ークホールド手段と；前記最大信号レベルの信号値を記
憶する第１記憶手段と；前記信号値が前記サンプリング
期間内に存在するか否かを判断する第１判断手段と；前
記第１判断手段の判断結果を記憶する第２記憶手段と；
前記第１判断手段の記憶結果が“否”、“存在”、“否
”となった場合は、当該“存在”に対応する前記第１記
憶手段に記憶された前記信号値を正規信号として以後の
信号処理に採用し、前記記憶結果が“否”、“存在”、
“否”以外の場合は前記信号値は外乱光によるノイズと
判断し以後の信号処理に採用しないようにする第２判断
手段とを有する光検出装置にある。
は、鉛直軸回りに旋回し基準平面を規定する光ビームを
受光し電気信号に変換する少なくとも２つの受光手段を
有し、これら受光手段への前記光ビームの入射光量を測
定し、前記基準平面との相対的位置関係を出力する光検
出装置において：前記電気信号内の交流信号成分のみを
取り出すＡＣカップリング手段と；所定サンプリング期
間内の前記交流信号成分の最大信号レベルを保持するピ
ークホールド手段と；前記最大信号レベルの信号値を記
憶する第１記憶手段と；前記信号値が前記サンプリング
期間内に存在するか否かを判断する第１判断手段と；前
記第１判断手段の判断結果を記憶する第２記憶手段と；
前記第１判断手段の記憶結果が“否”、“存在”、“否
”となった場合は、当該“存在”に対応する前記第１記
憶手段に記憶された前記信号値を正規信号として以後の
信号処理に採用し、前記記憶結果が“否”、“存在”、
“否”以外の場合は前記信号値は外乱光によるノイズと
判断し以後の信号処理に採用しないようにする第２判断
手段とを有する光検出装置にある。
（作用）
本発明は、第６図（ｂ）に示すように、正規出力信号Ｉ
ＳＣのパルス幅Ｐｓに比べて外乱光のノイズ信号ＩＡＣ
のパルス幅ＰＡが遥かに広いことに着目し、正規出力信
号ＩＳＣのパルス幅Ｐ、よりは十分広いがノイズ信号Ｉ
ＡＣのパルス幅ＰＡよりは遥かに狭い時間を受光手段の
信号出力の検出および信号処理のためのサンプリング期
間とし、このサンプリング期間毎にそのサンプリング期
間内に受光手段の信号出力が“在る” （以下これを２
進数の“ｌ”で表す）か“否” （以下これを２進数の
“０”で表す）かを判断し、連続する少な（とも３つサ
ンプリング期間の上記判定結果列が「０゜１、ＯＡとな
るときは、受光手段の信号出力が“在った”サンプリン
グ期間内の信号出力は正規出力信号ＩＳＣであり、上記
判定結果列がｆＯ，１゜］、Ｊ、［Ｉｌ、１，１３．
「１．１．ＯｊまたはＩｌｌ、０．Ｉｊのように少な
くとも３つサンプリング期間の内の２つのサンプリング
期間で信号比ツノが“在った”場合は、それらの信号出
力は外乱光によるものであると判断し外乱光に基づく信
号出力は以後の信号処理に利用しないようにし、外乱光
の影響を除去する。
ＳＣのパルス幅Ｐｓに比べて外乱光のノイズ信号ＩＡＣ
のパルス幅ＰＡが遥かに広いことに着目し、正規出力信
号ＩＳＣのパルス幅Ｐ、よりは十分広いがノイズ信号Ｉ
ＡＣのパルス幅ＰＡよりは遥かに狭い時間を受光手段の
信号出力の検出および信号処理のためのサンプリング期
間とし、このサンプリング期間毎にそのサンプリング期
間内に受光手段の信号出力が“在る” （以下これを２
進数の“ｌ”で表す）か“否” （以下これを２進数の
“０”で表す）かを判断し、連続する少な（とも３つサ
ンプリング期間の上記判定結果列が「０゜１、ＯＡとな
るときは、受光手段の信号出力が“在った”サンプリン
グ期間内の信号出力は正規出力信号ＩＳＣであり、上記
判定結果列がｆＯ，１゜］、Ｊ、［Ｉｌ、１，１３．
「１．１．ＯｊまたはＩｌｌ、０．Ｉｊのように少な
くとも３つサンプリング期間の内の２つのサンプリング
期間で信号比ツノが“在った”場合は、それらの信号出
力は外乱光によるものであると判断し外乱光に基づく信
号出力は以後の信号処理に利用しないようにし、外乱光
の影響を除去する。
（実施例）
以下、本発明の実施例を、ローチーティングレーザ装置
の光検出装置を例に説明する。
の光検出装置を例に説明する。
第１図は本発明に係る光検出装置の回路構成を示すブロ
ック図である。フォトダイオード等から成る第１受光セ
ンサ１１と第２受光センサ１２は第５図に示すように光
検出装置１の受光部に上下に配置されている。第１セン
サ１１と第２センサ１２の各々には、例えばコンデンサ
から成るＡＣカップリング回路１３．１４がそれぞれ接
続されている。
ック図である。フォトダイオード等から成る第１受光セ
ンサ１１と第２受光センサ１２は第５図に示すように光
検出装置１の受光部に上下に配置されている。第１セン
サ１１と第２センサ１２の各々には、例えばコンデンサ
から成るＡＣカップリング回路１３．１４がそれぞれ接
続されている。
第２図（ａ）に図示した第１センサ１１の受光信号ＩＩ
Ｏには、ローチーティングレーザ装置のレーザ投光装置
２からのレーザビームＬの正規受光信号、■、と、交流
ノイズ成分ＩＩＡおよび直流ノイズ成分ＩＩＮを含む太
陽光や白熱電球等による外乱光の受光信号とが混在して
いる。ＡＣカップリング回路１３は、この受光信号ＩＩ
ｓから直流ノイズ成分ＩＩＮを取り除き、第２図（ｂ）
に示すような正規出力信号１１ｓｃと外乱光の交流ノイ
ズ出力信号Ｉ Ｉ ＡＣとを出力する。
Ｏには、ローチーティングレーザ装置のレーザ投光装置
２からのレーザビームＬの正規受光信号、■、と、交流
ノイズ成分ＩＩＡおよび直流ノイズ成分ＩＩＮを含む太
陽光や白熱電球等による外乱光の受光信号とが混在して
いる。ＡＣカップリング回路１３は、この受光信号ＩＩ
ｓから直流ノイズ成分ＩＩＮを取り除き、第２図（ｂ）
に示すような正規出力信号１１ｓｃと外乱光の交流ノイ
ズ出力信号Ｉ Ｉ ＡＣとを出力する。
同様に、第２センサ１２の受光信号２ＩＯには、第２図
（ｅ）に図示したように、レーザビームＬの正規受光信
号２ＩＳと、交流ノイズ成分２ＩＡおよび直流ノイズ成
分。ＩＮを含む太陽光や白熱電球等による外乱光の受光
信号とが混在している。
（ｅ）に図示したように、レーザビームＬの正規受光信
号２ＩＳと、交流ノイズ成分２ＩＡおよび直流ノイズ成
分。ＩＮを含む太陽光や白熱電球等による外乱光の受光
信号とが混在している。
ＡＣカップリング回路１４はこの受光信号２ＩＳから直
流ノイズ成分２ＩＮを取り除き、第２図（ｆ）に示すよ
うな正規出力信号２１ ｓｃと外乱光の交流ノイズ出力
信号２ Ｉ ＡＣとを出力する。
流ノイズ成分２ＩＮを取り除き、第２図（ｆ）に示すよ
うな正規出力信号２１ ｓｃと外乱光の交流ノイズ出力
信号２ Ｉ ＡＣとを出力する。
ＡＣカップリング回路１３．１４からの出力信号は増幅
器２１．２２でそれぞれ増幅されピークホールド回路３
１．３２に各々入力される。ピークホールド回路３１．
３２はＡＣカップリング回路１３．１４からの出力信号
の最大値を保持するように作用する。ピークホールド回
路３１にはリセット回路４１が、ピークホールド回路３
２にはリセット回路４２がそれぞれ接続されており、リ
セット回路４１．４２からのリセット信号Ｒが入力され
るとそれまで保持していた最大値を一旦リセットし、再
び出力信号の最大値の保持を開始する。
器２１．２２でそれぞれ増幅されピークホールド回路３
１．３２に各々入力される。ピークホールド回路３１．
３２はＡＣカップリング回路１３．１４からの出力信号
の最大値を保持するように作用する。ピークホールド回
路３１にはリセット回路４１が、ピークホールド回路３
２にはリセット回路４２がそれぞれ接続されており、リ
セット回路４１．４２からのリセット信号Ｒが入力され
るとそれまで保持していた最大値を一旦リセットし、再
び出力信号の最大値の保持を開始する。
ピークホールド回路３１．３２はマルチプレクサ回路５
０に接続されており、マルチプレクサ回路５０はマイク
ロコンピュータのマイクロプロセッサ（ＣＰＵ）５３の
選択信号ＳＥの指令によりピークホールド回路３１．３
２からの出力信号（１Ｉｓｃ、 １ＩＡｃ） 、
（２ＩＳＣ，２ｌ−Ｃ）を選択的にＡ／Ｄ変換回路５１
に入力するよう構成されている。Ａ／Ｄ変換回路５１で
アナログ−デジタル変換された出力信号は、マイクロプ
ロセッサ（ＣＰＵ）５３に入力され後述の処理を受ける
。
０に接続されており、マルチプレクサ回路５０はマイク
ロコンピュータのマイクロプロセッサ（ＣＰＵ）５３の
選択信号ＳＥの指令によりピークホールド回路３１．３
２からの出力信号（１Ｉｓｃ、 １ＩＡｃ） 、
（２ＩＳＣ，２ｌ−Ｃ）を選択的にＡ／Ｄ変換回路５１
に入力するよう構成されている。Ａ／Ｄ変換回路５１で
アナログ−デジタル変換された出力信号は、マイクロプ
ロセッサ（ＣＰＵ）５３に入力され後述の処理を受ける
。
ＣＰＵ５３には、所定のサンプリング期間および所定の
リセットタイミングを決めるタイマー回路５２と、出力
信号等のデータを記憶するＲＡＭ５５と、後述の処理プ
ログラムを記憶しているＲＯＭ５４と、第５図に基づい
て先に説明した第１表示器３および第２表示器４とがそ
れぞれ接続されている。
リセットタイミングを決めるタイマー回路５２と、出力
信号等のデータを記憶するＲＡＭ５５と、後述の処理プ
ログラムを記憶しているＲＯＭ５４と、第５図に基づい
て先に説明した第１表示器３および第２表示器４とがそ
れぞれ接続されている。
第３図に図示したフローチャートに基づいて上記回路の
動作を説明をする前に、まず、サンプリング期間と読み
出しタイミングについて説明する。
動作を説明をする前に、まず、サンプリング期間と読み
出しタイミングについて説明する。
サンプリング期間τ（第２図（ｉ）参照）は出力信号の
検出と信号処理のための予め定めた期間であり、正規出
力信号＋ Ｉ ＳＣ＋ ２１ ｓｃのパルス幅Ｐｓ＋
２ＰＳよりは十分広いが、ノイズ信号Ｉ ＡＣ＋
２ Ｉ ＡＣのパルス幅ＩＰＡ＋ ２ＰＡよりは遥
かに狭い時間に相当する時間が設定されており、本実施
例ではｌ Ｏｍ５ｅｃ、である。このサンプリング期間
τ内で第３図のフローチャートの“５ＴＡＲＴ”から“
ＥＮＤ”までの１ルーチンが完了する。
検出と信号処理のための予め定めた期間であり、正規出
力信号＋ Ｉ ＳＣ＋ ２１ ｓｃのパルス幅Ｐｓ＋
２ＰＳよりは十分広いが、ノイズ信号Ｉ ＡＣ＋
２ Ｉ ＡＣのパルス幅ＩＰＡ＋ ２ＰＡよりは遥
かに狭い時間に相当する時間が設定されており、本実施
例ではｌ Ｏｍ５ｅｃ、である。このサンプリング期間
τ内で第３図のフローチャートの“５ＴＡＲＴ”から“
ＥＮＤ”までの１ルーチンが完了する。
読み出しタイミング（ホールド期間）ｒは、ピークホー
ルド回路３１．３２の保持期間またはマルチプレクサ回
路５０を介してＡ／Ｄ変換回路５１に保持信号を出力す
るタイミングを意味し、上述サンプリング期間τの略５
〜ｌＯ％の時間幅であり、やはりタイマー回路５２で計
時される。
ルド回路３１．３２の保持期間またはマルチプレクサ回
路５０を介してＡ／Ｄ変換回路５１に保持信号を出力す
るタイミングを意味し、上述サンプリング期間τの略５
〜ｌＯ％の時間幅であり、やはりタイマー回路５２で計
時される。
次に、第３図に図示したフローチャートに基づいて上記
回路の動作を説明をする。
回路の動作を説明をする。
第２図（ｃ）、（ｄ）、（ｇ）および（ｈ）に基づいて
、第０番ないし第４番サンプリング区間および第１２番
と第１３番サンプリング区間について順次説明する。
、第０番ないし第４番サンプリング区間および第１２番
と第１３番サンプリング区間について順次説明する。
（１）第０番サンプリング区間
（第１および第２センサ１１，１２のいずれからも受光
信号が出力されない場合） タイマー回路５２がホールド期間を計時するとＣＰＵ５
３に読み出しタイミング信号ｒｔを出力する。ＣＰＵ５
３は、マルチプレクサ回路５０に選択信号ＳＥを出力し
、実行回のサンプリング区間のスタートからそれまでに
ピークホールド回路３１に保持されていた第１センサ１
１の最大出力信号（、Ｈ，、、Ｎ、〜、）をＡ／Ｄ変換
回路５１に入力する。Ａ／Ｄ変換回路５１は最大出力信
号（ＩＨｓ 、 ＋Ｎ１〜．）をアナログ−デジタル
変換し、ＣＰＵ５３を介して第４図に模式的に示すよう
にＲＡＭ５５の第１０１番アドレスのバッファに記憶さ
せる。今回の第０番サンプリング区間では出力信号がな
いので、第１０１番アドレスの全ての位は“０”となる
。
信号が出力されない場合） タイマー回路５２がホールド期間を計時するとＣＰＵ５
３に読み出しタイミング信号ｒｔを出力する。ＣＰＵ５
３は、マルチプレクサ回路５０に選択信号ＳＥを出力し
、実行回のサンプリング区間のスタートからそれまでに
ピークホールド回路３１に保持されていた第１センサ１
１の最大出力信号（、Ｈ，、、Ｎ、〜、）をＡ／Ｄ変換
回路５１に入力する。Ａ／Ｄ変換回路５１は最大出力信
号（ＩＨｓ 、 ＋Ｎ１〜．）をアナログ−デジタル
変換し、ＣＰＵ５３を介して第４図に模式的に示すよう
にＲＡＭ５５の第１０１番アドレスのバッファに記憶さ
せる。今回の第０番サンプリング区間では出力信号がな
いので、第１０１番アドレスの全ての位は“０”となる
。
ステップ１０２；
次に、ＣＰＵ５３は、マルチプレクサ回路５０に再度選
択信号ＳＥを出力し実行回のサンプリング区間のスター
トからそれまでにピークホールド回路３２に保持されて
いた第２センサ１２の最大出力信号（２Ｈ５、２Ｎ１−
９）をＡ／Ｄ変換回路５１に入力する。Ａ／Ｄ変換回路
５１は最大出力信号（２ＨＳ 、 ２Ｎｌ〜、）をア
ナログ−デジタル変換し、ＣＰＵ５３を介して第４図に
模式的に示すようにＲＡＭ５５の第１０２番アドレスの
バッファに記憶させる。今回の第０番サンプリング区間
では出力信号がないので、第１０２番アドレスの全ての
位は“０”となる。
択信号ＳＥを出力し実行回のサンプリング区間のスター
トからそれまでにピークホールド回路３２に保持されて
いた第２センサ１２の最大出力信号（２Ｈ５、２Ｎ１−
９）をＡ／Ｄ変換回路５１に入力する。Ａ／Ｄ変換回路
５１は最大出力信号（２ＨＳ 、 ２Ｎｌ〜、）をア
ナログ−デジタル変換し、ＣＰＵ５３を介して第４図に
模式的に示すようにＲＡＭ５５の第１０２番アドレスの
バッファに記憶させる。今回の第０番サンプリング区間
では出力信号がないので、第１０２番アドレスの全ての
位は“０”となる。
ステップ１０３；
ＣＰＵ５３は、今ＲＡＭ５５に取り込んだピークホール
ド回路３１または３２からの出力信号が“在る”か“否
”かを判定する。今回の第０番サンプリング区間では“
否”と判定され、ステップ１０５に移行する。
ド回路３１または３２からの出力信号が“在る”か“否
”かを判定する。今回の第０番サンプリング区間では“
否”と判定され、ステップ１０５に移行する。
ステップ１０５；
ＣＰＵ５３は、第４図に模式的に示すようにＲＡＭ５５
のデータ判定用バッファである第１０３番アドレスの最
下位ビットに“０”を記憶させる。
のデータ判定用バッファである第１０３番アドレスの最
下位ビットに“０”を記憶させる。
そして次にステップ１０８に移行する。
ステップ１０８・
ＣＰＵ５３は、データ判定用バッファの下位３ビツトの
記憶内容がｆｏ、１．Ｏｊであるか否かを判断する。今
回の第０番サンプリング区間の前のサンプリング区間は
存在しないため、データ判定用バッファの記憶内容がｒ
Ｏ，Ｏ，（Ｎであり“否”と判定され、次にステップ１
１５に移行する。
記憶内容がｆｏ、１．Ｏｊであるか否かを判断する。今
回の第０番サンプリング区間の前のサンプリング区間は
存在しないため、データ判定用バッファの記憶内容がｒ
Ｏ，Ｏ，（Ｎであり“否”と判定され、次にステップ１
１５に移行する。
ステップ１１５
ＣＰＵ５３は、ＲＡＭ５５のデータ判定用バッファの最
下位ビットに記憶されているステップ１０３の判定結果
“０”を１つ上位のビットにシフトして最下位ビットを
書き込み可能状態にする。
下位ビットに記憶されているステップ１０３の判定結果
“０”を１つ上位のビットにシフトして最下位ビットを
書き込み可能状態にする。
ＣＰＬＪ５３は、タイマー回路５２がサンプリング期間
τを計時し終わると、その計時信号ｔｓを受けて、次の
第１番サンプリング区間の検出−処理ルーチンを開始す
る。
τを計時し終わると、その計時信号ｔｓを受けて、次の
第１番サンプリング区間の検出−処理ルーチンを開始す
る。
（２）第１番サンプリング区間
（第１および第２センサ１１，１２のいずれからも受光
信号が出力されない場合） 上述の第０番サンプリング区間のステップ１０１ないし
１０３．１０５．１０８および１１５を実行する。
信号が出力されない場合） 上述の第０番サンプリング区間のステップ１０１ないし
１０３．１０５．１０８および１１５を実行する。
なお、ステップ１０８のＲＡＭ５５のデータ判定用バッ
ファの記憶内容は、前回の第０番サンプリング区間と今
回の第１番サンプリング区間が共に“０”でありサンプ
リング区間数は２つしかないため「０，０．Ｏｊであり
、“否”と判定される。
ファの記憶内容は、前回の第０番サンプリング区間と今
回の第１番サンプリング区間が共に“０”でありサンプ
リング区間数は２つしかないため「０，０．Ｏｊであり
、“否”と判定される。
（３）第２番サンプリング区間
（第１または第２センサ１１，１２の少なくとも１つか
ら受光信号が出力される場合） ステップ１０１および１０２ 前記第０番サンプリング区間のステップ１０１および１
０２を実行する。第１または第２センサ１１．１２から
受光信号が出力されているため、Ａ／Ｄ変換回路５１で
アナログ−デジタル変換された各々の最大出力信号ＩＨ
ｓ＋ ２Ｈ８は２進数としてＲＡＭ５５の第１０１番
および第１０２番アドレスのバッファにそれぞれ記憶さ
せる。
ら受光信号が出力される場合） ステップ１０１および１０２ 前記第０番サンプリング区間のステップ１０１および１
０２を実行する。第１または第２センサ１１．１２から
受光信号が出力されているため、Ａ／Ｄ変換回路５１で
アナログ−デジタル変換された各々の最大出力信号ＩＨ
ｓ＋ ２Ｈ８は２進数としてＲＡＭ５５の第１０１番
および第１０２番アドレスのバッファにそれぞれ記憶さ
せる。
ステップ１０３；
ＣＰＵ５３は、今ＲＡＭ５５に取り込んだピークホール
ド回路３１または３２からの出力信号が“在る”か“否
”かを判定する。今回の第２番サンプリング区間では“
在”と判定され、次ステップ１０４に移行する。
ド回路３１または３２からの出力信号が“在る”か“否
”かを判定する。今回の第２番サンプリング区間では“
在”と判定され、次ステップ１０４に移行する。
ステップ１０４；
ＣＰＵ５３は、ＲＡＭ５５のデータ判定用バッファであ
る第１０３番アドレスの最下位ビットに”１”を記憶さ
せ、次ステップ１０６に移行する。
る第１０３番アドレスの最下位ビットに”１”を記憶さ
せ、次ステップ１０６に移行する。
ステップ１０６；
ＣＰＵ５３は、リセット回路４１．４２にリセット指令
信号Ｒ８を出力する。リセット回路４１゜４２はリセッ
ト指令信号Ｒ８を受けるピークホールド回路３１．３２
にリセット信号Ｒを出力してピークホールド回路３１．
３２に保持されている出力信号＋ Ｉ Ｓｅｚ ２
Ｉ ｓｃの最大値ＩＨ５ｌ ｔｈｉｓをリセットさせ
る。ピークホールド回路３１．３２はリセット後、再び
増幅器２１．２２からの出力信号ＩＩｓ。、 ２Ｉｓ
ｃの最大値の保持動作を開始する。
信号Ｒ８を出力する。リセット回路４１゜４２はリセッ
ト指令信号Ｒ８を受けるピークホールド回路３１．３２
にリセット信号Ｒを出力してピークホールド回路３１．
３２に保持されている出力信号＋ Ｉ Ｓｅｚ ２
Ｉ ｓｃの最大値ＩＨ５ｌ ｔｈｉｓをリセットさせ
る。ピークホールド回路３１．３２はリセット後、再び
増幅器２１．２２からの出力信号ＩＩｓ。、 ２Ｉｓ
ｃの最大値の保持動作を開始する。
ステップ１０７；
ＣＰＵ５３は、ステップ１０１および１０２でＲＡＭ５
５の第１０１番および第１０２番アドレスのバッファに
それぞれ記憶されている出力信号値ＩＨ５，２Ｈ５を、
ＲＡＭ５５の他のアドレスである第２０１番および第２
０２番アドレスのバッファにそれぞれ移し記憶させる。
５の第１０１番および第１０２番アドレスのバッファに
それぞれ記憶されている出力信号値ＩＨ５，２Ｈ５を、
ＲＡＭ５５の他のアドレスである第２０１番および第２
０２番アドレスのバッファにそれぞれ移し記憶させる。
ステップ１０８；
ＣＰＵ５３は、データ判定用バッファの最下位から上位
３ビツトの記憶内容がｒＯ，１，Ｏｊであるか否かを判
断する。今回の第２番サンプリング区間までの記憶内容
はｆｆｏ、０．１３であり、“否”と判定され、次にス
テップ１１５に移行する。
３ビツトの記憶内容がｒＯ，１，Ｏｊであるか否かを判
断する。今回の第２番サンプリング区間までの記憶内容
はｆｆｏ、０．１３であり、“否”と判定され、次にス
テップ１１５に移行する。
（４）第３番サンプリング区間
（第１および第２センサ１１，１２のいずれからも受光
信号が出力されない場合） 前述の第０番サンプリング区間のステップ１０１ないし
１０３および１０５を実行する。
信号が出力されない場合） 前述の第０番サンプリング区間のステップ１０１ないし
１０３および１０５を実行する。
ステップ１０８；
ＣＰＵ５３は、データ判定用バッファの最下位から上位
３ビツトの記憶内容がＩ）０，１．Ｏｊであるか否かを
判断する。今回判定に利用する３ビツトの記憶内容は第
１番、第２番および今回の第３番サンプリング区間のス
テップ１０３の判定結果列であり、第１番サンプリング
区間の判定結果は“０”、第２番サンプリング区間の判
定結果は“１”、第３番サンプリング区間の判定結果は
“０”であるため、本ステップで記憶内容は「０゜１．
０ｊと判定され、次ステップ１０９に移行する。
３ビツトの記憶内容がＩ）０，１．Ｏｊであるか否かを
判断する。今回判定に利用する３ビツトの記憶内容は第
１番、第２番および今回の第３番サンプリング区間のス
テップ１０３の判定結果列であり、第１番サンプリング
区間の判定結果は“０”、第２番サンプリング区間の判
定結果は“１”、第３番サンプリング区間の判定結果は
“０”であるため、本ステップで記憶内容は「０゜１．
０ｊと判定され、次ステップ１０９に移行する。
ステップ１０９；
ＣＰＵ５３は、ＲＡＭ５５の第２０１番および第２０２
番アドレスのバッファにぞれぞれ記憶されている前回の
第２番サンプリング区間で得られた出力信号値ＩＨ３Ｉ
２Ｈ３を正規信号として読み出し、出力信号値＋Ｈ
ｓが出力信号値２Ｈ３より小さいか否かを判定する。本
実施例では、出力信号値ＩＩ”１５が出力信号値２Ｈ５
より大きいので、判定結果が“Ｎｏ”となり、次ステッ
プ１１１に移行する。
番アドレスのバッファにぞれぞれ記憶されている前回の
第２番サンプリング区間で得られた出力信号値ＩＨ３Ｉ
２Ｈ３を正規信号として読み出し、出力信号値＋Ｈ
ｓが出力信号値２Ｈ３より小さいか否かを判定する。本
実施例では、出力信号値ＩＩ”１５が出力信号値２Ｈ５
より大きいので、判定結果が“Ｎｏ”となり、次ステッ
プ１１１に移行する。
もし判定結果が“ＹＥＳ”の場合は、光検出装置の基準
マーク５はレーザビームＬの作る基準平面Ｐより上方に
あるので、ステップｌｌＯに移行して表示器３，４の「
下向け」表示部３ａ、４ａを点灯させ測定者に光検出装
置の移動すべき方向を知らせる。
マーク５はレーザビームＬの作る基準平面Ｐより上方に
あるので、ステップｌｌＯに移行して表示器３，４の「
下向け」表示部３ａ、４ａを点灯させ測定者に光検出装
置の移動すべき方向を知らせる。
ステップ１１１；
出力信号値ＩＨ５が出力信号値。Ｈｓと等しいか又は所
定の範囲内で近接しているかを判定する。
定の範囲内で近接しているかを判定する。
本実施例では、出力信号値ＩＨ３が出力信号値２Ｈ５よ
りもはるかに大きいので、判定結果が“Ｎｏ”となり、
次ステップ１１３に移行する。
りもはるかに大きいので、判定結果が“Ｎｏ”となり、
次ステップ１１３に移行する。
もし判定結果が“ＹＥＳ”の場合は、光検出装置の基準
マーク５は１ノ−ザビームＬの作る基準平面Ｐと一致し
ているので、ステップ１１２に移行して表示器３，４の
「中心ｊ表示部３ｃ、４ｃを点灯させ測定者に基準マー
ク５に沿って水準マーク１ｅをマーキングさせる。
マーク５は１ノ−ザビームＬの作る基準平面Ｐと一致し
ているので、ステップ１１２に移行して表示器３，４の
「中心ｊ表示部３ｃ、４ｃを点灯させ測定者に基準マー
ク５に沿って水準マーク１ｅをマーキングさせる。
ステップ１１３；
出力信号値＋ Ｈｓが出力信号値ｇＨｓより太きいか否
かを判定する。本実施例では判定結果は“ＹＥＳ”とな
り、光検出装置の基準マーク５は基準平面Ｐより下方に
あるので、ステップ１１３に移行して表示器３，４の「
上向け１表示部３ｂ。
かを判定する。本実施例では判定結果は“ＹＥＳ”とな
り、光検出装置の基準マーク５は基準平面Ｐより下方に
あるので、ステップ１１３に移行して表示器３，４の「
上向け１表示部３ｂ。
４ｂを点灯させ測定者に光検出装置の移動すべき方向を
知らせる。
知らせる。
ステップ１１５；
ＣＰＵ５３は、ＲＡＭ５５のデータ判定用バッファの最
下位ビットに記憶されているステップ１０３の判定結果
″０”を１つ上位のビットにシフトして最下位ビットを
書き込み可能状態にする。
下位ビットに記憶されているステップ１０３の判定結果
″０”を１つ上位のビットにシフトして最下位ビットを
書き込み可能状態にする。
ＣＰＵ５３は、タイマー回路５２がサンプリング期間τ
を計時し終わると、その計時信号ｔｓを受けて、次の第
４番サンプリング区間の検出−処理ルーチンを開始する
。
を計時し終わると、その計時信号ｔｓを受けて、次の第
４番サンプリング区間の検出−処理ルーチンを開始する
。
（５）第４番サンプリング区間
（第１または第２センサ１１，１２の少なくとも１つか
ら受光信号が出力される場合） 前記第２番サンプリング区間のステップ１０１ないし１
０４および１０６と１０７を実行する。
ら受光信号が出力される場合） 前記第２番サンプリング区間のステップ１０１ないし１
０４および１０６と１０７を実行する。
ただし、本ステップの出力信号は、外乱光に起因するノ
イズ出力信号ＩＮＩ と 。Ｎ４である。
イズ出力信号ＩＮＩ と 。Ｎ４である。
ステップ１０８・
ＣＰＵ５３は、データ判定用バッファの最下位から上位
３ビツトの記憶内容がｌｒＯ，１，ＯＪであるか否かを
判断する。今回の第４番サンプリング区間までの記憶内
容はｒｌ、０．ｌｊであり、“否”と判定され、次にス
テップ１１５に移行する。
３ビツトの記憶内容がｌｒＯ，１，ＯＪであるか否かを
判断する。今回の第４番サンプリング区間までの記憶内
容はｒｌ、０．ｌｊであり、“否”と判定され、次にス
テップ１１５に移行する。
すなわち、たとえステップ１０７でＲＡＭ５５の第２０
１番および第２０２番アドレスのバッファに出力信号値
Ｉ Ｎ ＋ ＋ ２Ｎ ４が記憶されていてもこれら
のデータは測定に利用されないことを意味する。
１番および第２０２番アドレスのバッファに出力信号値
Ｉ Ｎ ＋ ＋ ２Ｎ ４が記憶されていてもこれら
のデータは測定に利用されないことを意味する。
以下同様に、第５ないし第１１サンプリング区間につい
ても同様のルーチンを実行するが、いずれの場合もステ
ップ１０３で“Ｎｏ”と判断されるか、またはステップ
１０３で“ＹＥＳ”と判断されて、後続のステップ１０
７で外乱光に起因するノイズ出ツノ信号ＩＮ５ないし
ｌＮ９および２ＮＳ、ｚｒ’Ｊｓおよび２ＮｓがＲＡＭ
５５の第２０１番および第２０２番アドレスのバッファ
に記憶され測定への利用のために待機しても、データ判
定用バッファの最下位から上位３ビツトの記憶内容はｒ
Ｏ，Ｏ，ＩＪ 、ｌｒＯ，１，ｌｊ Ｓ ｒｌ。
ても同様のルーチンを実行するが、いずれの場合もステ
ップ１０３で“Ｎｏ”と判断されるか、またはステップ
１０３で“ＹＥＳ”と判断されて、後続のステップ１０
７で外乱光に起因するノイズ出ツノ信号ＩＮ５ないし
ｌＮ９および２ＮＳ、ｚｒ’Ｊｓおよび２ＮｓがＲＡＭ
５５の第２０１番および第２０２番アドレスのバッファ
に記憶され測定への利用のために待機しても、データ判
定用バッファの最下位から上位３ビツトの記憶内容はｒ
Ｏ，Ｏ，ＩＪ 、ｌｒＯ，１，ｌｊ Ｓ ｒｌ。
１、ＩＪｌ Ｆｌ、１．Ｏｊ ｒｌ、０．Ｏｊのいずれ
かとなる。したがって、ステップ１０Ｂの判定はいずれ
も“否”と判定され、これらノイズ出力信号がステップ
１０９以後の測定ステップに利用されることはないので
、ノイズ出力信号による誤測定を防止できる。
かとなる。したがって、ステップ１０Ｂの判定はいずれ
も“否”と判定され、これらノイズ出力信号がステップ
１０９以後の測定ステップに利用されることはないので
、ノイズ出力信号による誤測定を防止できる。
（６）第１２番サンプリング区間
（第１または第２センサ１１，１２の少なくとも１つか
ら受光信号が出力されるが読み出しタイミングの後に出
力される場合） この第１２番サンプリング区間では、第２図に示すよう
に第１と第２センサ１１，１２からの受光信号が出力さ
れているが、それらの出力開始はタイマー回路からの読
み出しタイミング信号ｒの出力後であるため、本サンプ
リング区間では、前記した第０番サンプリング区間で実
行されたと同様のステップが実行される。しかしピーク
ホールド回路３１．３２には増幅器２１．２２からの出
力信号ＩＩ ＳＣ＋ ２ Ｉ ｓｃが入力し続けるの
でピークホールド回路３１．３２はその最大出力信号Ｈ
Ｓ、、ＨＳをホールドする。
ら受光信号が出力されるが読み出しタイミングの後に出
力される場合） この第１２番サンプリング区間では、第２図に示すよう
に第１と第２センサ１１，１２からの受光信号が出力さ
れているが、それらの出力開始はタイマー回路からの読
み出しタイミング信号ｒの出力後であるため、本サンプ
リング区間では、前記した第０番サンプリング区間で実
行されたと同様のステップが実行される。しかしピーク
ホールド回路３１．３２には増幅器２１．２２からの出
力信号ＩＩ ＳＣ＋ ２ Ｉ ｓｃが入力し続けるの
でピークホールド回路３１．３２はその最大出力信号Ｈ
Ｓ、、ＨＳをホールドする。
（７）第１３番サンプリング区間
（第１および第２センサ１１，１２のいずれからも受光
信号が出力されないが前サンプリング区間の受光信号が
ホールドされている場合）この第１３番サンプリング区
間では、第２図に示すように第１と第２センサ１１，１
２からの受光信号は出力されないが、前の第１２番サン
プリング区間でその読み出しタイミング信号ｒの出力後
のセンサ１１，１２からの受光信号の最大出力信号ＩＨ
５ｌ ２Ｈ５がピークホールド回路３１゜３２でホー
ルドされているため、前述の第２番サンプリング区間と
同様のステップが実行される。
信号が出力されないが前サンプリング区間の受光信号が
ホールドされている場合）この第１３番サンプリング区
間では、第２図に示すように第１と第２センサ１１，１
２からの受光信号は出力されないが、前の第１２番サン
プリング区間でその読み出しタイミング信号ｒの出力後
のセンサ１１，１２からの受光信号の最大出力信号ＩＨ
５ｌ ２Ｈ５がピークホールド回路３１゜３２でホー
ルドされているため、前述の第２番サンプリング区間と
同様のステップが実行される。
そして、その後の第１４番サンプリング区間において、
前記第３番サンプリング区間で実行されたのと同様のス
テップが実行され、出力信号ＩＨ３Ｉ ２Ｈ５が測定
に利用される。
前記第３番サンプリング区間で実行されたのと同様のス
テップが実行され、出力信号ＩＨ３Ｉ ２Ｈ５が測定
に利用される。
（発明の効果）
以上説明したように本発明によれば、光検出装置で正規
の測定用の光を受光しているとき、同時に光検出装置に
入射される太陽光や白熱電球等のような外乱光の交流成
分による光検出装置の誤動作や誤測定を防止することが
できる。
の測定用の光を受光しているとき、同時に光検出装置に
入射される太陽光や白熱電球等のような外乱光の交流成
分による光検出装置の誤動作や誤測定を防止することが
できる。
第１図は本発明に係る光検出装置の回路構成を示すブロ
ック図、 第２図（ａ）は第１受光センサ１１の受光信号を示す時
間−信号出力波形図、 第２図（ｂ）はＡＣカップリング回路１３の出力信号を
示す時間−信号出力波形図、 第２図（Ｃ）はピークホールド回路３１の出力信号を示
す時間−信号出力波形図、 第２図（ｄ）はサンプリング区間列を示す模式第２図（
ｅ）は第２受光センサ１２の受光信号を示す時間−信号
出力波形図、 第２図（ｆ）はＡＣカップリング回路１４の出力信号を
示す時間−信号出力波形図、 第２図（ｇ）はピークホールド回路３２の出力信号を示
す時間−信号出力波形図、 第２図（ｈ）はサンプリング区間列を示す模式第２図（
ｉ）はサンプリング期間τ、リセット信号Ｒ１読み出し
タイミングｒの関係を示すタイミング波形図、 第３図は本発明に係る光検出装置の動作を説明するフロ
ーチャート、 第４図はＲＡＭ５５の記憶内容を説明するための模式図
、 第５図は従来技術および本発明の光検出装置を利用する
ローチーティングレーザ装置の構成を示す斜視図、 第６図（ａ）は従来の光検出装置の受光センサの受光信
号を示す時間−信号出力波形図、第６図（ｂ）は従来の
光検出装置のＡＣカップリング回路からの出力信号を示
す時間−信号出力波形図である。 ■・・・光検出装置、１１．１２・・・受光センサ１３
．１４・・・ＡＣカップリング回路、３１．３２・・・
ピークホールド回路、４１．４２・・・リセット回路、 ５０・・・マルチプレクサ回路、 ５１・・・Ａ／Ｄ変換回路、５２・・・タイマー回路、
５３・・・ＣＰＵ、５４・・・ＲＯＭ、５５・・・ＲＡ
Ｍ。 第 ２ 図 第 図
ック図、 第２図（ａ）は第１受光センサ１１の受光信号を示す時
間−信号出力波形図、 第２図（ｂ）はＡＣカップリング回路１３の出力信号を
示す時間−信号出力波形図、 第２図（Ｃ）はピークホールド回路３１の出力信号を示
す時間−信号出力波形図、 第２図（ｄ）はサンプリング区間列を示す模式第２図（
ｅ）は第２受光センサ１２の受光信号を示す時間−信号
出力波形図、 第２図（ｆ）はＡＣカップリング回路１４の出力信号を
示す時間−信号出力波形図、 第２図（ｇ）はピークホールド回路３２の出力信号を示
す時間−信号出力波形図、 第２図（ｈ）はサンプリング区間列を示す模式第２図（
ｉ）はサンプリング期間τ、リセット信号Ｒ１読み出し
タイミングｒの関係を示すタイミング波形図、 第３図は本発明に係る光検出装置の動作を説明するフロ
ーチャート、 第４図はＲＡＭ５５の記憶内容を説明するための模式図
、 第５図は従来技術および本発明の光検出装置を利用する
ローチーティングレーザ装置の構成を示す斜視図、 第６図（ａ）は従来の光検出装置の受光センサの受光信
号を示す時間−信号出力波形図、第６図（ｂ）は従来の
光検出装置のＡＣカップリング回路からの出力信号を示
す時間−信号出力波形図である。 ■・・・光検出装置、１１．１２・・・受光センサ１３
．１４・・・ＡＣカップリング回路、３１．３２・・・
ピークホールド回路、４１．４２・・・リセット回路、 ５０・・・マルチプレクサ回路、 ５１・・・Ａ／Ｄ変換回路、５２・・・タイマー回路、
５３・・・ＣＰＵ、５４・・・ＲＯＭ、５５・・・ＲＡ
Ｍ。 第 ２ 図 第 図
Claims (4)
- （１）受光光量を電気信号に変換する第１ステップと； 前記電気信号内の交流信号成分のみを取り出す第２ステ
ップと； 所定サンプリング期間内の前記交流信号成分の最大信号
レベルを保持する第３ステップと；前記最大信号レベル
の信号値を記憶する第４ステップと； 前記信号値が前記サンプリング期間内に存在するか否か
を判断する第５ステップと； 前記第５ステップの判断結果列が“否”、 “存在”、“否”となった場合は、当該“存在”に対応
する前記第４ステップで記憶された前記信号値を正規信
号として以後の信号処理に採用し、判断結果列が“否”
、“存在”、“否”以外の場合は前記信号値は外乱光に
よるノイズと判断し以後の信号処理に採用しない第６ス
テップと； を有することを特徴とする光検出方法。 - （２）受光光量を電気信号に変換する受光手段と；前記
電気信号内の交流信号成分のみを取り出すＡＣカップリ
ング手段と； 所定サンプリング期間内の前記交流信号成分の最大信号
レベルを保持するピークホールド手段と； 前記最大信号レベルの信号値を記憶する第１記憶手段と
； 前記信号値が前記サンプリング期間内に存在するか否か
を判断する第１判断手段と； 前記第１判断手段の判断結果を記憶する第２記憶手段と
； 前記第１判断手段の記憶結果が“否”、“存在”、“否
”となった場合は、当該“存在”に対応する前記第１記
憶手段に記憶された前記信号値を正規信号として以後の
信号処理に採用し、前記記憶結果が“否”、“存在”、
“否”以外の場合は前記信号値は外乱光によるノイズと
判断し以後の信号処理に採用しないようにする第２判断
手段と； を有することを特徴とする光検出装置。 - （３）前記第１および第２記憶手段がＲＡＭで構成され
、前記第１および第２判断手段がマイクロプロセッサで
構成されたことを特徴とする請求項（２）に記載の光検
出装置。 - （４）鉛直軸回りに旋回し基準平面を規定する光ビーム
を受光し電気信号に変換する少なくとも２つの受光手段
を有し、これら受光手段への前記光ビームの入射光量を
測定し、前記基準平面との相対的位置関係を出力する光
検出装置において： 前記電気信号内の交流信号成分のみを取り出すＡＣカッ
プリング手段と； 所定サンプリング期間内の前記交流信号成分の最大信号
レベルを保持するピークホールド手段と； 前記最大信号レベルの信号値を記憶する第１記憶手段と
； 前記信号値が前記サンプリング期間内に存在するか否か
を判断する第１判断手段と； 前記第１判断手段の判断結果を記憶する第２記憶手段と
； 前記第１判断手段の記憶結果が“否”、“存在”、“否
”となった場合は、当該“存在”に対応する前記第１記
憶手段に記憶された前記信号値を正規信号として以後の
信号処理に採用し、前記記憶結果が“否”、“存在”、
“否”以外の場合は前記信号値は外乱光によるノイズと
判断し以後の信号処理に採用しないようにする第２判断
手段と； を有することを特徴とする光検出装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1329937A JP2860571B2 (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 光検出方法およびそのための装置 |
| DE69021544T DE69021544T2 (de) | 1989-12-20 | 1990-12-19 | Verfahren und Vorrichtung zur Photodetektion. |
| EP90124788A EP0440956B1 (en) | 1989-12-20 | 1990-12-19 | Method and apparatus of photodetection |
| US07/631,716 US5196693A (en) | 1989-12-20 | 1990-12-20 | Method and apparatus of photodetection with maximum signal holding means |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| JP1329937A JP2860571B2 (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 光検出方法およびそのための装置 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03189512A true JPH03189512A (ja) | 1991-08-19 |
| JP2860571B2 JP2860571B2 (ja) | 1999-02-24 |
Family
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Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP1329937A Expired - Fee Related JP2860571B2 (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 光検出方法およびそのための装置 |
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| EP (1) | EP0440956B1 (ja) |
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06109533A (ja) * | 1992-09-29 | 1994-04-19 | Japan Radio Co Ltd | 光学センサ |
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| US4676634A (en) * | 1985-08-05 | 1987-06-30 | Spectra-Physics, Inc. | Detector device for a rotating light beam |
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1989
- 1989-12-20 JP JP1329937A patent/JP2860571B2/ja not_active Expired - Fee Related
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1990
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- 1990-12-19 EP EP90124788A patent/EP0440956B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-12-20 US US07/631,716 patent/US5196693A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06109533A (ja) * | 1992-09-29 | 1994-04-19 | Japan Radio Co Ltd | 光学センサ |
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| EP0440956A3 (en) | 1992-04-01 |
| EP0440956B1 (en) | 1995-08-09 |
| US5196693A (en) | 1993-03-23 |
| DE69021544T2 (de) | 1996-03-07 |
| EP0440956A2 (en) | 1991-08-14 |
| DE69021544D1 (de) | 1995-09-14 |
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