JPH03189525A - 変調光線を検出するための装置 - Google Patents
変調光線を検出するための装置Info
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- JPH03189525A JPH03189525A JP2313004A JP31300490A JPH03189525A JP H03189525 A JPH03189525 A JP H03189525A JP 2313004 A JP2313004 A JP 2313004A JP 31300490 A JP31300490 A JP 31300490A JP H03189525 A JPH03189525 A JP H03189525A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 31
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/13—Optical detectors therefor
- G11B7/133—Shape of individual detector elements
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10532—Heads
- G11B11/10541—Heads for reproducing
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- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
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- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B7/005—Reproducing
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光学デバイス、具体的には情報を生む信号の
記録及び記憶に有用な光学デバイスに関するものである
。
記録及び記憶に有用な光学デバイスに関するものである
。
多くの磁気光学デイクスはいわゆるハードセクタ型であ
り、そのようなハードセクタディスクは、通常セクタ境
界を示すために、モールドされた表面の摂動（ｐｅｒｔ
ｕｒｂａｔｉｏｎｓ）を含む。これらの表面の摂動は、
セクタのアドレス及び他の制御情報も表わす。そのよう
な表面摂動の強さは、検出可能な読み出し信号を与える
ために摂動上に衝突するレーザビームを変調させる。磁
気光学（ＭＯ）ディスクのデータ部分では表面はなめら
かであり、反射光を一定強度で生じ、読み出し信号を得
る。
り、そのようなハードセクタディスクは、通常セクタ境
界を示すために、モールドされた表面の摂動（ｐｅｒｔ
ｕｒｂａｔｉｏｎｓ）を含む。これらの表面の摂動は、
セクタのアドレス及び他の制御情報も表わす。そのよう
な表面摂動の強さは、検出可能な読み出し信号を与える
ために摂動上に衝突するレーザビームを変調させる。磁
気光学（ＭＯ）ディスクのデータ部分では表面はなめら
かであり、反射光を一定強度で生じ、読み出し信号を得
る。
ＭＯデータ部分に記録された情報は、読み取り表面及び
記録表面において、どちらか一方の残留磁気又は第２の
極性によって表わされる。周知のように、磁気光学記録
層による反射光は、残留磁気に従って衝突する光線の直
線偏光を回転させ、ｐ及びＳの偏光成分を生む。この成
分は読み出し光学装置において分離される。例えば、ｐ
成分は第１のフォトダイオードに衝突し、一方Ｓ成分は
第２のフォトダイオードに衝突する。この２つのダイオ
ードの信号の違いが、記録情報を表現するのである。
記録表面において、どちらか一方の残留磁気又は第２の
極性によって表わされる。周知のように、磁気光学記録
層による反射光は、残留磁気に従って衝突する光線の直
線偏光を回転させ、ｐ及びＳの偏光成分を生む。この成
分は読み出し光学装置において分離される。例えば、ｐ
成分は第１のフォトダイオードに衝突し、一方Ｓ成分は
第２のフォトダイオードに衝突する。この２つのダイオ
ードの信号の違いが、記録情報を表現するのである。
強度変調及び偏光変調信号の両方を読むために、１つの
回路のみを用いることが望まれる。多くの差動検出回路
において、１つのダイオードに出る信号の強度を別のダ
イオードの信号強度と等しくし、差分信号をゼロとする
。従って、容易にがっ確実に強度変調を検出することは
できない。同様に、もし強度変調された偏光変調信号が
存在するなら、やはりその検出はより困難となる。
回路のみを用いることが望まれる。多くの差動検出回路
において、１つのダイオードに出る信号の強度を別のダ
イオードの信号強度と等しくし、差分信号をゼロとする
。従って、容易にがっ確実に強度変調を検出することは
できない。同様に、もし強度変調された偏光変調信号が
存在するなら、やはりその検出はより困難となる。
本発明の目的は、偏光変調光線及び強度変調光線の両方
を検出可能でかつ２つの検出モード間を迅速に切り換え
ることができる光学信号検出器を提供することである。
を検出可能でかつ２つの検出モード間を迅速に切り換え
ることができる光学信号検出器を提供することである。
例えば磁気光学ディスクの再生装置に用いられるような
光学的検出器において、検出器は、Ｐ及びＳの成分を有
する磁気光学的偏光の光学的に回転した光線又は強度変
調した光線を検出することができる。検出器は、変調光
線を受け取る手段及び該変調光線をｐ及びＳ成分の２つ
の光線にはっきりと分解する手段を含む。差動検出手段
は、２つの光線を途中で捕えて２つの光線に反応し、ｐ
及びＳ成分の相対的な偏光回転を表示する出力信号を与
える。制御手段は、２つの光線のうちの１つに反応する
のを禁止するための検出器手段に接続され、それにより
１つの光線の強度変調を出力信号として与える。
光学的検出器において、検出器は、Ｐ及びＳの成分を有
する磁気光学的偏光の光学的に回転した光線又は強度変
調した光線を検出することができる。検出器は、変調光
線を受け取る手段及び該変調光線をｐ及びＳ成分の２つ
の光線にはっきりと分解する手段を含む。差動検出手段
は、２つの光線を途中で捕えて２つの光線に反応し、ｐ
及びＳ成分の相対的な偏光回転を表示する出力信号を与
える。制御手段は、２つの光線のうちの１つに反応する
のを禁止するための検出器手段に接続され、それにより
１つの光線の強度変調を出力信号として与える。
第１図及び第２図において、同じ番号は同じ構造を示し
ている。
ている。
磁気光学的記憶ディスク１０は適切に回転し、ダイオー
ドレーザ１１によって供給されるレーザ光線を用いて走
査される。ダイオードレーザ１１は、通常の方法でエネ
ルギーを与えられる（図示せず）。レーザ１１の光線に
は、偏光ビーム・スプリッタ１３を通り、そこから光学
板１４によって反射されてさらに鏡１５によって反射さ
れて対物レンズ１６を通ってそこから光経路１７を伝わ
って、磁気光学ディスク１０上のデータを記憶するトラ
ックに到達する。ディスク１０は、光を反射し、磁気光
学ディスク１０の残留磁気に従って偏光を回転させる。
ドレーザ１１によって供給されるレーザ光線を用いて走
査される。ダイオードレーザ１１は、通常の方法でエネ
ルギーを与えられる（図示せず）。レーザ１１の光線に
は、偏光ビーム・スプリッタ１３を通り、そこから光学
板１４によって反射されてさらに鏡１５によって反射さ
れて対物レンズ１６を通ってそこから光経路１７を伝わ
って、磁気光学ディスク１０上のデータを記憶するトラ
ックに到達する。ディスク１０は、光を反射し、磁気光
学ディスク１０の残留磁気に従って偏光を回転させる。
この現象は周知なので、詳述はしない。反射した光は、
再び鏡１５に戻り、部分的に光学板１４によって反射さ
れて光経路２０を通って第２のビーム・スプリッタ２１
に入る。
再び鏡１５に戻り、部分的に光学板１４によって反射さ
れて光経路２０を通って第２のビーム・スプリッタ２１
に入る。
ビーム・スプリッタ２１は、ハーフミラ−２３を通過し
た光経路２０の光線を２つの等しい強度の光線に分解し
、それぞれを光学銀２４によって経路２２及び２５に伝
える。偏光フィルタ３０及び３１は、それぞれ経路２５
及び２２からのＳ及びｐ成分のみをフィルタし通過させ
る。一対のフォトダイオード３２及び３３は、＋Ｖ倍信
号び接地標準電位の間で直列に接続される。経路２５及
び２２の光線は、それぞれフォトダイオード３２及び３
３に衝突する。このような配置は、前置増幅器３４への
ライン３５上に信号を送ることによって、差動検出を与
えると知られている。増幅器３４の出力は、この技術分
野において周知なように、データ検出のために電気的信
号を送るターミナル３６へ行く。
た光経路２０の光線を２つの等しい強度の光線に分解し
、それぞれを光学銀２４によって経路２２及び２５に伝
える。偏光フィルタ３０及び３１は、それぞれ経路２５
及び２２からのＳ及びｐ成分のみをフィルタし通過させ
る。一対のフォトダイオード３２及び３３は、＋Ｖ倍信
号び接地標準電位の間で直列に接続される。経路２５及
び２２の光線は、それぞれフォトダイオード３２及び３
３に衝突する。このような配置は、前置増幅器３４への
ライン３５上に信号を送ることによって、差動検出を与
えると知られている。増幅器３４の出力は、この技術分
野において周知なように、データ検出のために電気的信
号を送るターミナル３６へ行く。
本発明に従うと、電子スイッチ４０は、ダイオード３３
の陽極及び接地標準電位の間に挿入される。スイッチ４
０が閉じられると、逆バイアスのダイオード３３によっ
てライン３５から接地標準電位まで電気回路は完全にな
る。このモードにおいて、ダイオード３３はライン３５
の差分信号に寄与し、図の回路が経路２０に受け取った
光線の偏光回転を検出するのに役立つ。強度変調光線を
検出するために、電子スイッチ４０を開いて回路からフ
ォトダイオード３３の接続を断ち、ダイオード３２のみ
が信号を検出するようにする。経路２２を通る強度変調
信号は無効となるが、強度変調信号の別の半分は、経路
２５を通ってダイオード３２に衝突し、強度変調光線を
検出する。光線の検出された強度変調は、ダイオード３
２を通って前置増幅器３４を通り、番号３６で示される
検出回路によって検出される。
の陽極及び接地標準電位の間に挿入される。スイッチ４
０が閉じられると、逆バイアスのダイオード３３によっ
てライン３５から接地標準電位まで電気回路は完全にな
る。このモードにおいて、ダイオード３３はライン３５
の差分信号に寄与し、図の回路が経路２０に受け取った
光線の偏光回転を検出するのに役立つ。強度変調光線を
検出するために、電子スイッチ４０を開いて回路からフ
ォトダイオード３３の接続を断ち、ダイオード３２のみ
が信号を検出するようにする。経路２２を通る強度変調
信号は無効となるが、強度変調信号の別の半分は、経路
２５を通ってダイオード３２に衝突し、強度変調光線を
検出する。光線の検出された強度変調は、ダイオード３
２を通って前置増幅器３４を通り、番号３６で示される
検出回路によって検出される。
本発明は、ハードセクタ磁気光学デイクスに用いること
ができる。通常、セクタ境界と一致する表面波形を型押
しし、磁気光学ディスク又は記憶部材１０において用い
られる信号を記録するために表面の波形セクタマークの
間にスペースを残すことによってハードセクタは提供さ
れる。番号４３は、記憶部材１０におけるトラックを示
している。ハードセクタ部分は凸凹のセクタマーク、ト
ラック及びセクタ同定を含み、ＩＤフィールド４４と呼
ばれる。ハードセクタ部分４４は磁気光学部材のなめら
かな表面部分４５の間に挿入される。
ができる。通常、セクタ境界と一致する表面波形を型押
しし、磁気光学ディスク又は記憶部材１０において用い
られる信号を記録するために表面の波形セクタマークの
間にスペースを残すことによってハードセクタは提供さ
れる。番号４３は、記憶部材１０におけるトラックを示
している。ハードセクタ部分は凸凹のセクタマーク、ト
ラック及びセクタ同定を含み、ＩＤフィールド４４と呼
ばれる。ハードセクタ部分４４は磁気光学部材のなめら
かな表面部分４５の間に挿入される。
光デイスク制御器（ＯＤＣ）４２は、各ＩＤフィールド
４４又はＭＯフィールド４５から読み取られた信号を解
読し、つぎに遭遇するゾーン即ちＭＯ又は凸凹（強度変
調した）信号に対する位置にスイッチ４０をセットする
。０ＤＣ４２は、光デイスクデバイスにおいて見出せる
。
４４又はＭＯフィールド４５から読み取られた信号を解
読し、つぎに遭遇するゾーン即ちＭＯ又は凸凹（強度変
調した）信号に対する位置にスイッチ４０をセットする
。０ＤＣ４２は、光デイスクデバイスにおいて見出せる
。
０ＤＣ４２はライン４６上にスイッチ閉鎖信号を供給し
て電子スイッチ４０を閉じ、部分４５がら反射した偏光
変調光線の検出を可能にする。同様の方法で、ＩＤフィ
ールド４４を走査する時には０ＤＣ４２はライン４６上
にスイッチ開放信号を供給して、ＩＤフィールド４４の
表面波形によって生じる強度変調の検出を可能にする。
て電子スイッチ４０を閉じ、部分４５がら反射した偏光
変調光線の検出を可能にする。同様の方法で、ＩＤフィ
ールド４４を走査する時には０ＤＣ４２はライン４６上
にスイッチ開放信号を供給して、ＩＤフィールド４４の
表面波形によって生じる強度変調の検出を可能にする。
本発明は、結果として反射した光線の強度変調となる欠
陥の検出にも用いることができる。即ち、欠陥は低い強
度の光を反射するが、表面の良好な部分は高い強度の光
を反射して衝突する光線を強度変調させる。ライン４１
上を伝わる信号は、スイッチ４０を開いて欠陥の検出を
可能にする。例えば記憶部材１０の表面分析に用いるこ
とができる。また、例えば同時係属の米国出願の第２３
９８６３号に示されるように、ＭＯフィールド４５を消
却サイクルにかける間に、欠陥の検出を行なうこともで
きる。
陥の検出にも用いることができる。即ち、欠陥は低い強
度の光を反射するが、表面の良好な部分は高い強度の光
を反射して衝突する光線を強度変調させる。ライン４１
上を伝わる信号は、スイッチ４０を開いて欠陥の検出を
可能にする。例えば記憶部材１０の表面分析に用いるこ
とができる。また、例えば同時係属の米国出願の第２３
９８６３号に示されるように、ＭＯフィールド４５を消
却サイクルにかける間に、欠陥の検出を行なうこともで
きる。
ダイオード３３を不活性にするために電子スイッチ４０
が示されているが、フォトダイオードから届く光をブロ
ックするために電子スイッチ４０と同じ位速く動作する
電子シャッタを光経路２２又は２５上に配置してもよい
。
が示されているが、フォトダイオードから届く光をブロ
ックするために電子スイッチ４０と同じ位速く動作する
電子シャッタを光経路２２又は２５上に配置してもよい
。
第２図は、フォトダイオード３３の陽極に接続される電
子スイッチ４０の実施例、即ち、空間電極がライン４６
に、エミッタ電極が接地標準電位に、そしてコレクタ電
極がフォトダイオード３３の陽極に接続されたＮＰＮト
ランジスタ５ｏを示している。ツェナーダイオード５２
は、ＮＰＮトランジスタ５０のコレクタ及びフォトダイ
オード３３の陽極の間の交差点５３において正の電圧の
変位を制限するために図示されるように挿入される。正
電圧源は、低域フィルタ５１を通って交差点５３に接続
される。
子スイッチ４０の実施例、即ち、空間電極がライン４６
に、エミッタ電極が接地標準電位に、そしてコレクタ電
極がフォトダイオード３３の陽極に接続されたＮＰＮト
ランジスタ５ｏを示している。ツェナーダイオード５２
は、ＮＰＮトランジスタ５０のコレクタ及びフォトダイ
オード３３の陽極の間の交差点５３において正の電圧の
変位を制限するために図示されるように挿入される。正
電圧源は、低域フィルタ５１を通って交差点５３に接続
される。
本発明は、偏光変調光線及び強度変調光線の両方を検出
できる光学信号検出器を提供できる。
できる光学信号検出器を提供できる。
第１図は、本発明の光学的検出装置を示す図である。
第２図は、第１図において用いられる電子スイッチの実
施例を示す回路図である。 １０・・・磁気光学部材、１１・・・ダイオードレーザ
、１２．１７，２０，２２．２５・・・光経路、１３・
・・偏光ビームスプリッタ、１４・・・光学板、１５．
２４・・・鏡、１６・・・対物レンズ、２１・・・ビー
ムスプリッタ、２３・・・ハーフミラ−１３０，３１・
・・偏光フィルタ、３２．３３・・・フォトダイオード
、３４・・・前置増幅器、３５．４１．４６・・・ライ
ン、３６・・・ターミナル、４０・・・電子スイッチ、
４２・・・光デイスク制御器（ＯＤＣ）、４３・・・ト
ラック、４４・・ＩＤフィールド、４５・・・ＭＯフィ
ールド、５０・・・ＮＰＮトランジスタ、５１・・・低
域フィルタ、５２・・・ツェナーダイオード、５３・・
・交差点。 出原人 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ
・コーポレーション
施例を示す回路図である。 １０・・・磁気光学部材、１１・・・ダイオードレーザ
、１２．１７，２０，２２．２５・・・光経路、１３・
・・偏光ビームスプリッタ、１４・・・光学板、１５．
２４・・・鏡、１６・・・対物レンズ、２１・・・ビー
ムスプリッタ、２３・・・ハーフミラ−１３０，３１・
・・偏光フィルタ、３２．３３・・・フォトダイオード
、３４・・・前置増幅器、３５．４１．４６・・・ライ
ン、３６・・・ターミナル、４０・・・電子スイッチ、
４２・・・光デイスク制御器（ＯＤＣ）、４３・・・ト
ラック、４４・・ＩＤフィールド、４５・・・ＭＯフィ
ールド、５０・・・ＮＰＮトランジスタ、５１・・・低
域フィルタ、５２・・・ツェナーダイオード、５３・・
・交差点。 出原人 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ
・コーポレーション
Claims (7)
- （１）ｐ及びｓ成分を有する光線を検出するためのもの
であって、 変調した光線を受け取り、ｐ及びｓ成分を有する２光線
に分解する手段と、 前記２光線を途中で補えるように配置され前記２光線に
反応してそれぞれｐ及びｓ成分の出力信号を供給する差
動検出手段と、 前記２光線の１つに反応するのを禁止しそれによって該
１光線の強度変調を前記出力信号として供給するための
前記差動検出手段に接続された制御手段とを含む光学的
検出器。 - （２）前記差動検出手段が第１及び第２の光学的光線検
出要素を含みかつ前記制御手段が前記光学的光線検出要
素の１つに電気的に接続されてその出力信号を供給でき
なくすることを特徴とする請求項１記載の光学的検出器
。 - （３）前記第１及び第２の光学的光線検出要素が直列に
接続されたフォトダイオードであり、電圧手段が逆バイ
アスを与えるためにフォトダイオードに接続され、スイ
ッチ手段が該フォトダイオードの１つ及び該電圧手段の
間に接続され、さらに前記制御手段に反応するために接
続され、スイッチを閉じて前記偏光変調光線を検出し、
スイッチを開いて１つのフォトダイオードを不能にして
他のダイオードが強度変調光線を検出できるようにする
ことを特徴とする請求項２記載の光学的検出器。 - （４）データ記憶部分を有し、該データ記憶部分の間の
境界を示すための該データ記憶部分間に施される表面波
形部分を有するセクタ・マークと共に情報を生む信号を
磁気光学的に記憶するハードセクタ光学的記憶部材に読
み取り光線を与えて該記憶部材から反射した光を前記受
取り／分解手段に導き該記憶部材によって読み取り光線
の変調を検出する手段と、 前記記憶部材に結合して読み取り光線がデータ部分を走
査又はセクタ・マークを走査しようとする時を示し、前
記制御手段に接続して読み取り光線が該データ部分の１
つを走査している時に偏光変調光線を感知し、該読み取
り光線が該セクタ・マークの１つを走査している時には
強度変調光線を感知するために該制御手段を活性化する
感知手段とを含む請求項３記載の光学的検出器。 - （５）前記スイッチが前記フォトダイオード及びトラン
ジスタ手段の間の交差点に電圧源を接続している低域フ
ィルタ、並びに電圧変位を制限するために交差点に接続
されたツェナーダイオードを含むトランジスタ手段を有
する請求項４記載の光学的検出器。 - （６）変調光線を受け取る工程と、 前記変調光線が、偏光変調であるか又は強度変調である
かを確かめる工程と、 前記変調光線が偏光変調されている時には、差動的に構
成された２つのフォトダイオードを有する検出器を配置
しかつｓ及びｐ成分に分離する光学系を配置して該フォ
トダイオードにそれぞれを与え、該フォトダイオード両
方からの出力信号を伝える工程と、 前記変調光線が強度変調されている時には、２つのフォ
トダイオードのうち１つが信号を出すような検出器を配
置し、該１つのフォトダイオードからの出力信号を伝え
る工程とを含む光線の変調検出方法。 - （７）第１データ信号をなめらかな磁気光学部分に記録
し、第２データ信号を表面摂動マークによって分離する
光ディスクを受け取る工程と、 前記データ信号を読み取って前記両方のフォトダイオー
ドからの前記出力信号を伝え、該表面摂動マークを読み
取って該１つのフォトダイオードからの出力信号を伝え
る工程とを含む請求項６記載の光線の変調検出方法。
Applications Claiming Priority (2)
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