JPH03193865A - PbO↓2薄膜の形成方法 - Google Patents
PbO↓2薄膜の形成方法Info
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- JPH03193865A JPH03193865A JP33392289A JP33392289A JPH03193865A JP H03193865 A JPH03193865 A JP H03193865A JP 33392289 A JP33392289 A JP 33392289A JP 33392289 A JP33392289 A JP 33392289A JP H03193865 A JPH03193865 A JP H03193865A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明はPbO2薄膜の形成方法に関する。さらに詳し
くは、クラスターイオンビーム蒸着法により、基板上に
PbO2薄膜を蒸着形成させる方法に関する。
くは、クラスターイオンビーム蒸着法により、基板上に
PbO2薄膜を蒸着形成させる方法に関する。
[従来の技術]
従来から、TlO2,8102、PbO2などの酸化物
薄膜は、スパッタリング、CVDなどの方法で基板表面
に形成されている。しかし、このような方法で基板表面
に形成された酸化物薄膜は硬度が充分でなかつたり、基
板への付着力が弱いという欠点がある。
薄膜は、スパッタリング、CVDなどの方法で基板表面
に形成されている。しかし、このような方法で基板表面
に形成された酸化物薄膜は硬度が充分でなかつたり、基
板への付着力が弱いという欠点がある。
そこで、このような欠点のない薄膜をうる方法として、
反応性ガス雰囲気中にクラスターイオンビーム法により
蒸着物質の蒸気を噴出させて化合物薄膜を形成させる反
応性クラスターイオンビーム(R−ICB)法が行なわ
れている。
反応性ガス雰囲気中にクラスターイオンビーム法により
蒸着物質の蒸気を噴出させて化合物薄膜を形成させる反
応性クラスターイオンビーム(R−ICB)法が行なわ
れている。
以下に、このR−ICB法について第2図を用いて説明
する。
する。
第2図は、ジャーナル アプライド フィジックス(J
、Appl、Phys、) 、58(11)、1985
、p、4146〜4149に記載されているR−ICB
装置についての説明図である。図において、(1)はノ
ズル(l+)を有する密閉型のるつぼ02)、るつぼ0
2)を加熱するるつぼ加熱用フィラメントにおよび熱シ
ールド板04)からなる蒸気発生源である。前記るっぽ
0りは蒸着物質圏を充填し、蒸着物質面の蒸気をるつぼ
側のノズル(II)から噴出してクラスター(塊状原子
集団)Oeを形成させるためのものである。(2はクラ
スターOGをイオン化するためのイオン化装置であり、
電子ビーム放出用フィラメント(21)、このフィラメ
ントC21+から電子を引き出し加速するための電子ビ
ーム弓き出し電極のおよび熱シールド板のから構成され
ている。(3)はイオン化されたクラスターを電界で加
速し、クラスターに運動エネルギーを付与するための加
速電極、(4)は酸素ガスが充填されているガスボンベ
(41)、酸素ガスを真空槽(6)に導入するための流
ffi調整バルブ(42)および酸素ガスを導くための
ガス導入管(43)から構成されている反応性ガス導入
装置、(5)は真空槽(6)を所定の真空度に保持する
ための真空排気系、(7)はその表面に薄膜が形成され
る基板である。(8)は第1、第2、第3のバイアス用
直流電源(81)、(82)、(83)と第1、第2の
フィラメント加熱用電源(84)、(85)が収納され
ている電源装置である。
、Appl、Phys、) 、58(11)、1985
、p、4146〜4149に記載されているR−ICB
装置についての説明図である。図において、(1)はノ
ズル(l+)を有する密閉型のるつぼ02)、るつぼ0
2)を加熱するるつぼ加熱用フィラメントにおよび熱シ
ールド板04)からなる蒸気発生源である。前記るっぽ
0りは蒸着物質圏を充填し、蒸着物質面の蒸気をるつぼ
側のノズル(II)から噴出してクラスター(塊状原子
集団)Oeを形成させるためのものである。(2はクラ
スターOGをイオン化するためのイオン化装置であり、
電子ビーム放出用フィラメント(21)、このフィラメ
ントC21+から電子を引き出し加速するための電子ビ
ーム弓き出し電極のおよび熱シールド板のから構成され
ている。(3)はイオン化されたクラスターを電界で加
速し、クラスターに運動エネルギーを付与するための加
速電極、(4)は酸素ガスが充填されているガスボンベ
(41)、酸素ガスを真空槽(6)に導入するための流
ffi調整バルブ(42)および酸素ガスを導くための
ガス導入管(43)から構成されている反応性ガス導入
装置、(5)は真空槽(6)を所定の真空度に保持する
ための真空排気系、(7)はその表面に薄膜が形成され
る基板である。(8)は第1、第2、第3のバイアス用
直流電源(81)、(82)、(83)と第1、第2の
フィラメント加熱用電源(84)、(85)が収納され
ている電源装置である。
まず、電源装置(8)の各バイアス電源の機能を説明す
る。第1のバイアス用直流電源(8■)は、第1のフィ
ラメント加熱用電源(84)で加熱されたるつぼ加熱用
フィラメントnから放出された熱電子がるつぼOzに衝
突するように、るつぼ加熱用フィラメント■に対してる
っぽ02)の電位を正にバイアスする。第2のバイアス
用直流電源(82)は、電子ビーム引き出し電極nに対
して、第2のフィラメント加熱用電源(85)で加熱さ
れた電子ビーム放出用フィラメント(21+を負の電位
にバイアスし、電子ビーム放出用フィラメント(211
から放出された熱電子を電子ビーム引き出し電極■内部
に引き出す。また、第3のバイアス用直流電源(83)
はアース電位である加速電極(3)に対して電子ビーム
引き出し電極nおよびるつぼ02)を正電位にバイアス
し、この間に形成される電界レンズによって、正電荷の
クラスターイオンを加速制御する。
る。第1のバイアス用直流電源(8■)は、第1のフィ
ラメント加熱用電源(84)で加熱されたるつぼ加熱用
フィラメントnから放出された熱電子がるつぼOzに衝
突するように、るつぼ加熱用フィラメント■に対してる
っぽ02)の電位を正にバイアスする。第2のバイアス
用直流電源(82)は、電子ビーム引き出し電極nに対
して、第2のフィラメント加熱用電源(85)で加熱さ
れた電子ビーム放出用フィラメント(21+を負の電位
にバイアスし、電子ビーム放出用フィラメント(211
から放出された熱電子を電子ビーム引き出し電極■内部
に引き出す。また、第3のバイアス用直流電源(83)
はアース電位である加速電極(3)に対して電子ビーム
引き出し電極nおよびるつぼ02)を正電位にバイアス
し、この間に形成される電界レンズによって、正電荷の
クラスターイオンを加速制御する。
つぎに前記装置を用いてPbO2薄膜を形成する方法に
ついて説明する。
ついて説明する。
まず、真空排気系(5)によって真空槽(6)内を1×
10’ Torr程度の真空度になるまで排気したのち
、排気しながら流ffi調整バルブ(42)を開き酸素
ガスをガス導入管(43)により真空槽(6)内に導入
する。
10’ Torr程度の真空度になるまで排気したのち
、排気しながら流ffi調整バルブ(42)を開き酸素
ガスをガス導入管(43)により真空槽(6)内に導入
する。
ついで、この状態下で、るつぼ(12)内の蒸気圧が数
Torrになる温度まで、るつぼ加熱用フィラメント0
から第1のバイアス用直流電源(81)で印加される電
界によって放出される電子をるっぽ021に衝突させて
加熱すると、蒸着物質であるPb6が蒸発してノズル0
1)から真空中に噴射される。噴射されるPbの蒸気は
、ノズル01)を通過する際に断熱膨張) により過冷却状態になって、クラスターaQと呼ばれる
塊状原子集団を形成する。ついで一部のクラスターOe
は電子ビーム放出用フィラメントのから放出される電子
によってイオン化されてクラスターイオンとなり、さら
に加速電極(3)で形成される電界によって基板方向に
加速をうけて、イオン化されていない中性クラスターと
ともに基板(7)に衝突する。一方、基板(力付近には
反応性ガスである酸素が存在しているので、基板(7)
付近でPbの蒸気と反応性ガスとの反応(Pb + 0
2 ” Pb02)が進行してPbO2が基板(力に蒸
着され、PbO2薄膜が形成される。
Torrになる温度まで、るつぼ加熱用フィラメント0
から第1のバイアス用直流電源(81)で印加される電
界によって放出される電子をるっぽ021に衝突させて
加熱すると、蒸着物質であるPb6が蒸発してノズル0
1)から真空中に噴射される。噴射されるPbの蒸気は
、ノズル01)を通過する際に断熱膨張) により過冷却状態になって、クラスターaQと呼ばれる
塊状原子集団を形成する。ついで一部のクラスターOe
は電子ビーム放出用フィラメントのから放出される電子
によってイオン化されてクラスターイオンとなり、さら
に加速電極(3)で形成される電界によって基板方向に
加速をうけて、イオン化されていない中性クラスターと
ともに基板(7)に衝突する。一方、基板(力付近には
反応性ガスである酸素が存在しているので、基板(7)
付近でPbの蒸気と反応性ガスとの反応(Pb + 0
2 ” Pb02)が進行してPbO2が基板(力に蒸
着され、PbO2薄膜が形成される。
[発明が解決しようとする課題]
前記のような従来のPb0=薄膜形成方法では、噴出し
た反応性ガスとPbの蒸気が同じイオン化装置(2)に
よってイオン化されるように構成された装置を用いてい
るので、反応性ガスを充分に励起、解離およびイオン化
させることができず、真空槽(6)内の反応性ガスは活
性度の低い分子状態のままで存在し、一部イオン化装置
(2)付近で形成される励起され、解離・活性化された
元素でも、その寿命が短いものでは、基板(7)付近で
活性度の低い状態にもどり、しかも反応性ガスの大部分
は排気されてしまうので、薄膜形成にあずかる反応性ガ
スは非常に少なく、蒸着効率がわるいという問題がある
。
た反応性ガスとPbの蒸気が同じイオン化装置(2)に
よってイオン化されるように構成された装置を用いてい
るので、反応性ガスを充分に励起、解離およびイオン化
させることができず、真空槽(6)内の反応性ガスは活
性度の低い分子状態のままで存在し、一部イオン化装置
(2)付近で形成される励起され、解離・活性化された
元素でも、その寿命が短いものでは、基板(7)付近で
活性度の低い状態にもどり、しかも反応性ガスの大部分
は排気されてしまうので、薄膜形成にあずかる反応性ガ
スは非常に少なく、蒸着効率がわるいという問題がある
。
また、前記のように、同じイオン化装置(2)を用いる
ような構成になっているので、基板方向に加速されるイ
オン化されたPbの量や運動エネルギーと、イオン化さ
れた反応性ガスの量や運動エネルギーとを独立して変化
させることができず、膜質のコントロールが困難である
。
ような構成になっているので、基板方向に加速されるイ
オン化されたPbの量や運動エネルギーと、イオン化さ
れた反応性ガスの量や運動エネルギーとを独立して変化
させることができず、膜質のコントロールが困難である
。
本発明はこのような問題点を解消するためになされたも
のであり、基板の表面に効率よく安定して質のよいPb
O2薄膜を蒸着によって形成する方法を提供することを
目的とする。
のであり、基板の表面に効率よく安定して質のよいPb
O2薄膜を蒸着によって形成する方法を提供することを
目的とする。
[課題を解決するための手段]
本発明は、基板上にPbO2薄膜を形成する方法であっ
て、反応性ガス導入装置、ガスイオン発生装置およびガ
スイオン発生装置用電源装置からなる酸素ガスの導入装
置を用いて基板の近傍に酸素ガスが励起、解離およびイ
オン化された状態で存在する領域を形成し、蒸気発生源
、イオン化装置、加速電極および電源装置からなる蒸着
物質の噴出装置を用いてクラスターイオンビーム法によ
り蒸着物質であるPbの蒸気を前記領域に噴出させ、前
記状態の酸素ガスと化学反応させることにより、PbO
2薄膜を前記基板上に形成させることを特徴とするPb
o2薄膜の形成方法に関する。
て、反応性ガス導入装置、ガスイオン発生装置およびガ
スイオン発生装置用電源装置からなる酸素ガスの導入装
置を用いて基板の近傍に酸素ガスが励起、解離およびイ
オン化された状態で存在する領域を形成し、蒸気発生源
、イオン化装置、加速電極および電源装置からなる蒸着
物質の噴出装置を用いてクラスターイオンビーム法によ
り蒸着物質であるPbの蒸気を前記領域に噴出させ、前
記状態の酸素ガスと化学反応させることにより、PbO
2薄膜を前記基板上に形成させることを特徴とするPb
o2薄膜の形成方法に関する。
[実施例]
以下、本発明の方法を第1図に基づいて説明する。
第1図は本発明の方法によりPbo2薄膜を形成する際
に用いる装置についての説明図であり、第2図に示した
装置と同様な部分には同一の符号を付した。
に用いる装置についての説明図であり、第2図に示した
装置と同様な部分には同一の符号を付した。
第1図中、(1)はノズル01)を有する密閉型のるつ
ぼ側、るつぼ(+2)を加熱するるつぼ加熱用フィラメ
ント(至)および熱シールド板04)からなる蒸気発生
源である。前記るつぼ0′2Jは蒸着物質であるPb(
5を充填し、Pbの蒸気をるつぼc力のノズル01)か
ら噴出して、クラスターを形成させるためのものである
。
ぼ側、るつぼ(+2)を加熱するるつぼ加熱用フィラメ
ント(至)および熱シールド板04)からなる蒸気発生
源である。前記るつぼ0′2Jは蒸着物質であるPb(
5を充填し、Pbの蒸気をるつぼc力のノズル01)か
ら噴出して、クラスターを形成させるためのものである
。
(2)はクラスターをイオン化するためのイオン化装置
であり、電子ビーム放出用フィラメント(2D1このフ
ィラメント囲から電子を引き出し加速するための電子引
き出し電極いおよび熱シールド板のから構成されている
。(3)はイオン化されたクラスターを電界で加速し、
クラスターに運動エネルギーを付与するための加速電極
、(4)は酸素ガスが充填されているガスボンベ(41
)、酸素ガスを真空槽(6)内に導入するための流量調
整バルブ(42)、酸素ガスを導くためのガス導入管(
43)およびガス噴射ノズル(44)から構成されてい
る反応性ガス導入装置、(5)は真空槽(6)を所定の
真空度に保持するための真空排気系、(7はその表面に
薄膜が形成きれる基板である。(8)は第1、第2、第
3のバイアス用直流電源(81)、(82)、(83)
と第1、第2のフィラメント加熱用電源(84)、(8
5)が収納されている電源装置である。前記第1のバイ
アス用直流電源(81)は、第1のフィラメント加熱用
電源(84)で加熱されたるつぼ加熱用フィラメントn
から放出された熱電子がるつぼ02)に衝突するように
、るつぼ加熱用フィラメントnに対してるつぼ(12)
の電位を正にバイアスするためのものである。第2のバ
イアス用直流電源(82)は、電子引き出し電極−に対
して第2のフィラメント加熱用電源(85)で加熱され
た電子ビーム放出用フィラメントのを負の電位にバイア
スし、電子ビーム放百用フィラメント(211から放出
された熱電子を電子引き出し電極n内部に引き出すため
のものである。また、第3のバイアス用直流電源(83
)は、アース電位である加速電極(3)に対して電子引
き出し電極のおよびるつぼ(12)を正電位にバイアス
し、この間に電界レンズを形成して、正電荷のクラスタ
ーイオンを加速制御するためのものである。(9)は反
応性ガスの通路に相当する部分に設けられた第2の電子
ビーム放出用フィラメント(92)、電子ビームを引き
出すための第2の電子ビーム引き出し電極(91)、反
応性ガスイオンを加速するための第2の加速電極(93
)、電界シールド板(95)およびこれら全体をシール
ドする内部槽(94)からなるガスイオン発生装置、(
至)は第2の電子ビーム放出用フィラメント(92)を
加熱するための第3のフィラメント加熱用電源(101
) 、電子ビーム引き出し用電極(91)を電子ビーム
放出用フィラメント(92)および電界シールド板(9
5)に対ルて正の電位にバイアスするための第4のバイ
アス用直流電源(102)ならびに第2の加速電極(9
3)に電圧を印加するための第5のバイアス用直流電源
(103)から構成されているガスイオン発生装置用電
源装置である。
であり、電子ビーム放出用フィラメント(2D1このフ
ィラメント囲から電子を引き出し加速するための電子引
き出し電極いおよび熱シールド板のから構成されている
。(3)はイオン化されたクラスターを電界で加速し、
クラスターに運動エネルギーを付与するための加速電極
、(4)は酸素ガスが充填されているガスボンベ(41
)、酸素ガスを真空槽(6)内に導入するための流量調
整バルブ(42)、酸素ガスを導くためのガス導入管(
43)およびガス噴射ノズル(44)から構成されてい
る反応性ガス導入装置、(5)は真空槽(6)を所定の
真空度に保持するための真空排気系、(7はその表面に
薄膜が形成きれる基板である。(8)は第1、第2、第
3のバイアス用直流電源(81)、(82)、(83)
と第1、第2のフィラメント加熱用電源(84)、(8
5)が収納されている電源装置である。前記第1のバイ
アス用直流電源(81)は、第1のフィラメント加熱用
電源(84)で加熱されたるつぼ加熱用フィラメントn
から放出された熱電子がるつぼ02)に衝突するように
、るつぼ加熱用フィラメントnに対してるつぼ(12)
の電位を正にバイアスするためのものである。第2のバ
イアス用直流電源(82)は、電子引き出し電極−に対
して第2のフィラメント加熱用電源(85)で加熱され
た電子ビーム放出用フィラメントのを負の電位にバイア
スし、電子ビーム放百用フィラメント(211から放出
された熱電子を電子引き出し電極n内部に引き出すため
のものである。また、第3のバイアス用直流電源(83
)は、アース電位である加速電極(3)に対して電子引
き出し電極のおよびるつぼ(12)を正電位にバイアス
し、この間に電界レンズを形成して、正電荷のクラスタ
ーイオンを加速制御するためのものである。(9)は反
応性ガスの通路に相当する部分に設けられた第2の電子
ビーム放出用フィラメント(92)、電子ビームを引き
出すための第2の電子ビーム引き出し電極(91)、反
応性ガスイオンを加速するための第2の加速電極(93
)、電界シールド板(95)およびこれら全体をシール
ドする内部槽(94)からなるガスイオン発生装置、(
至)は第2の電子ビーム放出用フィラメント(92)を
加熱するための第3のフィラメント加熱用電源(101
) 、電子ビーム引き出し用電極(91)を電子ビーム
放出用フィラメント(92)および電界シールド板(9
5)に対ルて正の電位にバイアスするための第4のバイ
アス用直流電源(102)ならびに第2の加速電極(9
3)に電圧を印加するための第5のバイアス用直流電源
(103)から構成されているガスイオン発生装置用電
源装置である。
本発明の方法では、反応性ガス導入装置(4)、ガスイ
オン発生装置(9)およびガスイオン発生装置用電源装
置(至)からなる酸素ガスの導入装置を用いて、基板の
近傍、とくに基板蒸着面の表面近傍に酸素ガスが励起、
解離およびイオン化された状態(以下、活性状態ともい
う)で存在する領域が形成される。
オン発生装置(9)およびガスイオン発生装置用電源装
置(至)からなる酸素ガスの導入装置を用いて、基板の
近傍、とくに基板蒸着面の表面近傍に酸素ガスが励起、
解離およびイオン化された状態(以下、活性状態ともい
う)で存在する領域が形成される。
前記酸素ガスの導入装置は、酸素ガスを一部励起、解離
およびイオン化して、その酸素ガスを基板方向に噴出さ
せるための装置である。
およびイオン化して、その酸素ガスを基板方向に噴出さ
せるための装置である。
前記導入装置を用いて基板蒸着面の表面近傍に前記領域
を形成するには、つぎに示すような操作を行なえばよい
。
を形成するには、つぎに示すような操作を行なえばよい
。
すなわち、まず、真空排気系(5)によって真空槽(6
)内をI X 1O−8Torr程度の高真空にしたの
ち、排気をつづけながら流量調整バルブ(42)により
流量が調整された酸素ガスをガス噴射ノーズル(44)
から導入し、真空槽(6)内のガス圧が10’ 〜1O
−3Torr程度になるように流量を調整する。
)内をI X 1O−8Torr程度の高真空にしたの
ち、排気をつづけながら流量調整バルブ(42)により
流量が調整された酸素ガスをガス噴射ノーズル(44)
から導入し、真空槽(6)内のガス圧が10’ 〜1O
−3Torr程度になるように流量を調整する。
つぎにこの状態で、電界シールド板(95)内に設けら
れている第2の電子ビーム放出用フィラメント(92)
を、第3のフィラメント加熱用電源(101)により2
000℃程度に加熱し、ガス噴射ノズル(44)の下流
に配設されている第2の電子ビーム引き出し電極(91
)に、電子ビームが放出されるように第4のバイアス用
直流電源(102)によってバイアス電圧を印加して、
第2の電子ビーム放出用フィラメント(92)から2〜
5A程度の電子ビームを放出させる。
れている第2の電子ビーム放出用フィラメント(92)
を、第3のフィラメント加熱用電源(101)により2
000℃程度に加熱し、ガス噴射ノズル(44)の下流
に配設されている第2の電子ビーム引き出し電極(91
)に、電子ビームが放出されるように第4のバイアス用
直流電源(102)によってバイアス電圧を印加して、
第2の電子ビーム放出用フィラメント(92)から2〜
5A程度の電子ビームを放出させる。
このように噴出する酸素ガスに電子ビームを放出させる
ことによって酸素ガスの一部は励起、解離およびイオン
化された状態(活性状態)にされるが、このときさらに
、第5のバイアス用直流電源(103)によって第2の
加速電極(93)に加速電圧を印加して、イオン化され
た酸素ガスや電子ビームを基板(刀に向けて加速させ、
基板蒸着面の表面近傍を活性状態にする。
ことによって酸素ガスの一部は励起、解離およびイオン
化された状態(活性状態)にされるが、このときさらに
、第5のバイアス用直流電源(103)によって第2の
加速電極(93)に加速電圧を印加して、イオン化され
た酸素ガスや電子ビームを基板(刀に向けて加速させ、
基板蒸着面の表面近傍を活性状態にする。
前記加速電圧は0.5〜2kV程度であるのが好ましい
。
。
このように、前記酸素ガスの導入装置を用いると、加速
電圧を変化させることによって、基板方向に加速される
酸素イオンの量や運動エネルギーを制御することができ
る。
電圧を変化させることによって、基板方向に加速される
酸素イオンの量や運動エネルギーを制御することができ
る。
ついで、蒸気発生源(1)、イオン化装置(2)、加速
電極(3)および電源装置(8)からなる蒸着物質の噴
出装置を用いてクラスターイオンビーム法により蒸着物
質であるPbの蒸気を前記領域に噴出させる。
電極(3)および電源装置(8)からなる蒸着物質の噴
出装置を用いてクラスターイオンビーム法により蒸着物
質であるPbの蒸気を前記領域に噴出させる。
前記蒸着物質の噴出装置は、蒸着物質蒸気やクラスター
を一部イオン化して基板方向に噴出、加速させるための
装置である。
を一部イオン化して基板方向に噴出、加速させるための
装置である。
前記噴出装置を用いたクラスターイオンビーム法により
、Pbの蒸気を前記領域に噴出させるには、つぎに示す
ような操作を行なえばよい。
、Pbの蒸気を前記領域に噴出させるには、つぎに示す
ような操作を行なえばよい。
すなわち、るつぼ加熱用フィラメントのによってるつぼ
02)内のPbの蒸気圧が数Torr程度になる温度ま
で加熱し、Pbを蒸発させ、ノズル(II)から噴射さ
せる。Pbの蒸気はノズル01)を通過する際に、断熱
膨張により過冷却状態になってクラスターを形成する。
02)内のPbの蒸気圧が数Torr程度になる温度ま
で加熱し、Pbを蒸発させ、ノズル(II)から噴射さ
せる。Pbの蒸気はノズル01)を通過する際に、断熱
膨張により過冷却状態になってクラスターを形成する。
この噴射されるPbの蒸気やクラスターは、電子ビーム
放出用フィラメント(2tlから放出される電子ビーム
によって一部イオン化し、加速電極(3)で形成される
電界による加速を受けて、イオン化されていない蒸気や
クラスターとともに基板(7)に衝突する。
放出用フィラメント(2tlから放出される電子ビーム
によって一部イオン化し、加速電極(3)で形成される
電界による加速を受けて、イオン化されていない蒸気や
クラスターとともに基板(7)に衝突する。
前記電子ビーム放出量は、通常0.1〜0.5A程度で
ある。
ある。
前記加速電圧は、数kV程度が好ましい。
このように、前記蒸着物質の噴出装置を用いると、加速
電圧を変化させることによって、クラスターなどのイオ
ンの運動エネルギーを制御することができる。
電圧を変化させることによって、クラスターなどのイオ
ンの運動エネルギーを制御することができる。
前記のようにして基板(7)の近傍に酸素ガスが励起、
解離およびイオン化された状態で存在する領域が形成さ
れた状態のもとで、Pbの蒸気やクラスターを基板方向
に噴出させることにより、前記活性化された酸素ガスと
衝突して化学反応(Pb+o2−Pb02)を起こし、
PbO2薄膜を効率よく基板(7′)上に形成させるこ
とができる: つぎに本発明の方法を第1図に示した装置を用いた実施
例によって説明する。
解離およびイオン化された状態で存在する領域が形成さ
れた状態のもとで、Pbの蒸気やクラスターを基板方向
に噴出させることにより、前記活性化された酸素ガスと
衝突して化学反応(Pb+o2−Pb02)を起こし、
PbO2薄膜を効率よく基板(7′)上に形成させるこ
とができる: つぎに本発明の方法を第1図に示した装置を用いた実施
例によって説明する。
実施例1
まず、真空排気系(5)によって真空槽(6)内を1×
10’Torrまで排気したのち、排気をつづけながら
酸素ガスをガス噴射ノズル(44)から噴射させた。
10’Torrまで排気したのち、排気をつづけながら
酸素ガスをガス噴射ノズル(44)から噴射させた。
このときの真空槽(6)内のガス圧を流量調整バルブ(
42)を操作して、10’ 〜1O−3Torr程度に
調節した。
42)を操作して、10’ 〜1O−3Torr程度に
調節した。
ついでこの状態で、第2の電子ビーム放出用フィラメン
ト(92)を2000℃程度に加熱し、バイアス電圧を
印加して2.OAの電子ビームを放出させた。
ト(92)を2000℃程度に加熱し、バイアス電圧を
印加して2.OAの電子ビームを放出させた。
これと同時に、第5のバイアス用直流電源(103)に
よって第2の加速電極(93)に加速電圧(1kV)を
印加した。
よって第2の加速電極(93)に加速電圧(1kV)を
印加した。
ついでるつぼ加熱用フィラメントnによってるつぼ02
)内のPb蒸気圧が数Torrになるまで加熱し、Pb
蒸気をノズル(II)から噴射させた。このとき、電子
ビーム放出用フィラメント(21)から電子ビーム(0
,2A)を放出させるとともに、第3のバイアス用直流
電源(83)によって加速電圧(3kV)を印加した。
)内のPb蒸気圧が数Torrになるまで加熱し、Pb
蒸気をノズル(II)から噴射させた。このとき、電子
ビーム放出用フィラメント(21)から電子ビーム(0
,2A)を放出させるとともに、第3のバイアス用直流
電源(83)によって加速電圧(3kV)を印加した。
このような本発明の方法により、付着力、平坦性の優れ
た緻密なPb0z薄膜がえられる。
た緻密なPb0z薄膜がえられる。
以上述べたように、酸素ガスの導入装置と蒸着物質の噴
出装置とが別々に設けられた本発明の方法においては、
とくに基板蒸着面の表面近傍に酸素ガスが励起および解
離された極めて活性度の高い状態で存在するので、蒸着
物質と酸素ガスとの化学反応が促進され、PbO2薄膜
を効率よく形成できる。
出装置とが別々に設けられた本発明の方法においては、
とくに基板蒸着面の表面近傍に酸素ガスが励起および解
離された極めて活性度の高い状態で存在するので、蒸着
物質と酸素ガスとの化学反応が促進され、PbO2薄膜
を効率よく形成できる。
また、酸素ガスの導入装置と、蒸着物質の噴出装置の加
速電圧をそれぞれ独立に変えることによって、基板に入
射する反応性ガスイオンと蒸着物質蒸気やクラスターの
運動エネルギーとを独立に制御することができ、このこ
とによって、基板(7)上に形成されるPbO2薄膜の
結晶性や付着力などの膜質をコントロールすることがで
き、高品質の薄膜を形成することができる。
速電圧をそれぞれ独立に変えることによって、基板に入
射する反応性ガスイオンと蒸着物質蒸気やクラスターの
運動エネルギーとを独立に制御することができ、このこ
とによって、基板(7)上に形成されるPbO2薄膜の
結晶性や付着力などの膜質をコントロールすることがで
き、高品質の薄膜を形成することができる。
[発明の効果〕
本発明によれば、酸素ガスの導入装置を用いて、基板の
近傍に酸素ガスが励起、解離およびイオン化された状態
で存在する領域を形成し、蒸着物質の噴出装置を用いて
クラスターイオンビーム法によりPbの蒸気を噴射させ
てPbo2薄膜を形成するようにしたので、高い蒸着速
度で膜質を制御することができ、付着力の強い高品質の
薄膜を効率よく成膜することができる。
近傍に酸素ガスが励起、解離およびイオン化された状態
で存在する領域を形成し、蒸着物質の噴出装置を用いて
クラスターイオンビーム法によりPbの蒸気を噴射させ
てPbo2薄膜を形成するようにしたので、高い蒸着速
度で膜質を制御することができ、付着力の強い高品質の
薄膜を効率よく成膜することができる。
第1図は本発明の方法にしたがってPbo2薄膜を形成
する際に用いる装置についての説明図、第2図は従来の
酸化物薄膜形成装置についての説明図である。 (図面の主要符号) (1):蒸気発生源 (2):イオン化装置 (3):加速電極 (4):反応性ガス導入装置 (7) 、基 板 (8):電源装置 (9):ガスイオン発生装置 M:ガスイオン発生装置用電源装置 式 理 人 大 岩 増 雄
する際に用いる装置についての説明図、第2図は従来の
酸化物薄膜形成装置についての説明図である。 (図面の主要符号) (1):蒸気発生源 (2):イオン化装置 (3):加速電極 (4):反応性ガス導入装置 (7) 、基 板 (8):電源装置 (9):ガスイオン発生装置 M:ガスイオン発生装置用電源装置 式 理 人 大 岩 増 雄
Claims (1)
- (1)基板上にPbO_2薄膜を形成する方法であって
、反応性ガス導入装置、ガスイオン発生装置およびガス
イオン発生装置用電源装置からなる酸素ガスの導入装置
を用いて基板の近傍に酸素ガスが励起、解離およびイオ
ン化された状態で存在する領域を形成し、蒸気発生源、
イオン化装置、加速電極および電源装置からなる蒸着物
質の噴出装置を用いてクラスターイオンビーム法により
蒸着物質であるPbの蒸気を前記領域に噴出させ、前記
状態の酸素ガスと化学反応させることにより、PbO_
2薄膜を前記基板上に形成させることを特徴とするPb
O_2薄膜の形成方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33392289A JPH03193865A (ja) | 1989-12-22 | 1989-12-22 | PbO↓2薄膜の形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33392289A JPH03193865A (ja) | 1989-12-22 | 1989-12-22 | PbO↓2薄膜の形成方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03193865A true JPH03193865A (ja) | 1991-08-23 |
Family
ID=18271468
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33392289A Pending JPH03193865A (ja) | 1989-12-22 | 1989-12-22 | PbO↓2薄膜の形成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03193865A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011014559A (ja) * | 2009-06-30 | 2011-01-20 | Dainippon Printing Co Ltd | 太陽電池モジュール用保護フィルム及び該保護フィルムを使用した太陽電池モジュール |
-
1989
- 1989-12-22 JP JP33392289A patent/JPH03193865A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011014559A (ja) * | 2009-06-30 | 2011-01-20 | Dainippon Printing Co Ltd | 太陽電池モジュール用保護フィルム及び該保護フィルムを使用した太陽電池モジュール |
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