JPH0319649B2 - - Google Patents

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JPH0319649B2
JPH0319649B2 JP56174243A JP17424381A JPH0319649B2 JP H0319649 B2 JPH0319649 B2 JP H0319649B2 JP 56174243 A JP56174243 A JP 56174243A JP 17424381 A JP17424381 A JP 17424381A JP H0319649 B2 JPH0319649 B2 JP H0319649B2
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joining
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JP56174243A
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Kazumichi Machida
Takashi Saito
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Mitsubishi Electric Corp
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Mitsubishi Electric Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は接点接合装置に関し、更に詳細には接
点と台座との接合時に赤外線放射エネルギを検出
することにより、接合状態を制御し、並びに接合
結果の良否を判別する接点接合装置に関する。
(従来の技術) 従来、接点と台座とは、例えばスポツト溶接機
などの抵抗熱源を用いて接合される。このような
従来の接点と台座との接合方法につき第1図を参
照して説明する。第1図において、1はスポツト
溶接機の上部電極、2は下部電極、3は接点、4
は接点3に予めクラツドされている銀層、5は銀
以外の金属材料の台座、6は接合層、7は銀を主
成分とする溶出金属をそれぞれ示す。そして、接
点3が台座5上に載置された状態でこれらを両電
極1,2間に所定加圧力で挾持し、通電すること
により、接合層6を形成して接点3と台座5との
接合が行なわれる。
(発明が解決しようとする課題) ところで、接合は、接合界面全体に接合層6を
形成し、また適量の溶出金属7がフイレツトを形
成した第1図に示す状態が好ましい接合結果であ
り、接合現象の過不足は接触子としての性能を損
う。第2図a,bは不良接合状態を示す。第2図
aのものは、接合層6の形成が不十分な状態であ
り、電気的、熱的導通が不十分である上、機械的
強度が低いので、接触子としては耐脱落特性、耐
消耗性が劣悪である。また、第2図bのものは、
接合現象が進み過ぎた状態であり、接点3の銀層
4のすべてが溶解し、過大な溶出金属が接点3お
よび台座5の側面にまではみ出している。
このような接触子は、接合強度が低い上に、は
み出した溶出金属7が開閉装置内に組込むのに寸
法的な阻害要因となり、更に通電の遮断時に、溶
出金属7が溶融飛散するため、耐脱落特性、耐溶
着特性が劣悪であるという問題があつた。
本発明の目的は、かかる従来の問題点を解決す
るためになされたもので、接合過程で接合現象を
制御して好ましい接合を行なうと共に接合結果の
良否を検査して接合不良なものを除去する接点接
合装置を提供することにある。
(課題を解決するための手段) 本発明は、片面に銀層がクラツドされている接
点と銀以外の金属材料の台座とを接合する接点接
合装置において、上記接点と台座との接合時の赤
外線放射エネルギ量を検出する光学系および接合
中の接点と台座の溶融合金成分の溶出にもとづく
赤外線放射エネルギ量の変曲点を検知する比較判
断回路からなる検出器と、該検出器からの出力信
号を受けて接合のための加熱を停止・完了させる
制御器とから構成される接点接合用制御装置を備
えることを特徴とする。
更に、本発明は、片面に銀層がクラツドされて
いる接点と銀以外の金属材料の台座とを接合する
接点接合装置において、(イ)上記接点と台座との接
合時の赤外線放射エネルギ量を検出する光学系お
よび接合中の接点と台座の溶融合金成分の溶出に
もとづく赤外線放射エネルギ量の変曲点を検知す
る比較判断回路から成る検出器、および該検出器
からの出力信号を受けて接合のための加熱を停
止・完了させる制御器から構成される接点接合用
制御装置と、(ロ)前記接点に至近の台座端面の赤外
線放射エネルギ量を検出する光学系および接合前
後の赤外線放射エネルギ量を比較してその比較値
が所定範囲外の場合に信号を発する比較判断回路
から成る検出器、および該検出器からの出力信号
を受けて接合の良否を判定する信号を発する制御
器から構成される接点接合検査装置と、を備えた
ことを特徴とする。
(作用) 本発明の接点接合装置によると、接点接合用制
御装置は光学系で検出した赤外線放射量が激減す
る変曲点を比較判断回路で判断した信号を検出器
から制御器の制御回路に入力させ、この回路の作
動により制御器が溶接機の電極への電力の供給を
遮断し、赤外線放射エネルギ量が変曲点に達して
減少する時点で、接合のための加熱を停止・完了
させる。そして、接点接合制御装置に加えて更に
接点接合検査装置を備える接点接合装置において
は、上述した接点接合制御装置の動作に加えて、
接点接合検査装置が溶出金属の最もはみ出し易い
台座の端面に焦点位置を定めた赤外線検出プロー
ブから検出される赤外線放射エネルギ量の大、小
を検出器の比較判断回路で判断し、赤外線放射エ
ネルギ量が比較の範囲外の場合にだけ、選別信号
を検出器から制御器に入力させてこれを作動させ
ることにより、選別装置によつて不良品がインプ
ロセスで検査、除去される。
(実施例) 以下、本発明の接点接合装置を添付図面に示さ
れた実施例について更に詳細に説明する。
第3図は、スポツト溶接機を用いて行う接点3
と台座5との接合の一般的な例の接点および台座
の加熱特性を示す。第3図において、8は通電に
よる電流分布、9は電極内での発熱ゾーン、10
は電流である。第3図に示すように、発熱電極を
用いる接合方式では、接点3および台座5の接合
界面に発熱ゾーン9から熱流10によつて熱が輸
送されるが、多くの場合に接点3は台座5の端部
に載置されて接合されるため、台座5内の端面で
熱反射を発生し、A点からB点にかけてTA−TB
のような温度差が生ずる。このような場合には、
接合現象は台座5の接点3接合部に近い端面側か
ら進行する。第4図a,bは上述した現象を利用
した場合の本発明の一実施例による接点と台座と
の接合状況を示す。第4図a,bにおいて、11
は赤外線検出プローブであり、このブローブ11
は、焦点位置を、台座5上の接点3と至近の台座
表面に、接合に先立つて定めておくことにより、
第4図aに示す接合現象の初期ないし中期段階で
は、台座5の表面からの赤外線放射エネルギを検
出する。この場合に、台座5に用いられる、銅、
銅合金などの一般的な金属材料では放射率lが
0.1〜0.7であり、温度上昇に伴つて赤外線放射エ
ネルギが増大して行く。接合現象がさらに進行し
て第4図bに示す溶出金属7がフイレツトを形成
した時点では、赤外線検出プローブ11は、銀を
主成分とした溶出金属7の赤外線放射エネルギを
検出する。銀を主成分とした溶出金属7の放射率
lは0.02〜0.08程度ときわめて低いため、赤外線
放射エネルギ量の変化から溶出金属7がフイレツ
トを形成した時点を明確に知ることができる。第
5図は本発明の電極への通電と赤外線放射エネル
ギとの関係を示す図であり、第5図中、12は両
電極1,2間に通電していることを示す電圧波
形、13は赤外線放射エネルギの検出量の変化を
示す曲線である。第5図から明らかなように、電
極1,2への通電開始と同時に台座5の赤外線放
射エネルギ量が曲線13aのように検出され増大
して行くが、接合の最終段階で溶出金属のフイレ
ツトが形成されると、曲線13bのように検出さ
れる赤外線放射エネルギ量が激減する。
第6図は上述したことを利用した本発明の一実
施例を示す。第6図において、14は赤外線検出
プローブ11を有する光学系と、比較判断回路と
を含む検出器、15は検出器14からの信号によ
つてスポツト溶接機16を制御する回路を含む制
御器であり、上記検出器14と制御器15で接点
接合用制御装置17を構成している。この制御装
置17は、光学系で検出した赤外線放射量が激減
する変曲点を比較判断回路で判断した信号を、検
出器14から制御器15の制御回路に入力させ、
この回路の作動により制御器15がスポツト溶接
機16の電極1,2への電力の供給を遮断し、赤
外線放射エネルギ量が変曲点に達して減少する時
点で、接合のための加熱を停止・完了させるもの
である。従つて、接点接合用制御装置17を用い
ることにより、接合現象が過不足なく進行した段
階で、リアルタイムにより接合を完了させること
ができ、このため常に良好な接触子を得ることが
できる。
第7図は、上述した接点接合装置に、さらに検
査機能を付加した実施例による接合状況を説明す
る図である。第7図において、18は検査用の赤
外線検出プローブであり、このプローブ18は、
焦点位置を、台座5上の接点3と至近の台座端面
に、接合に先立つて定めることができるものであ
る。そして、上述した接点接合用制御装置17を
有することにより、安定した接合結果が得られる
としても、時には台座5の端面に溶出金属7がは
み出す恐れがあり、このような溶接結果の場合
に、はみ出した溶出金属7を赤外線検出プローブ
18によつて検出するものである。
第8図は、第7図に示す赤外線検出プローブ1
8を用いた本発明の他の実施例を示す。第8図に
おいて、19は赤外線検出プローブ18を有する
光学系と比較制御回路とを含む検出器、20は図
示しない選別装置を制御する回路を含む制御器、
21は上記検出器19と制御器20とを備えた接
点接合検査装置である。この検査装置21は、第
6図に示すものと同様な接点接合用制御装置17
を用いて接点3と台座5との接合が完了して得ら
れた接触子に対して、溶出金属7が最もはみ出し
易い台座5の端面に焦点位置を定めた赤外線検出
プローブ18から検出される赤外線放射エネルギ
量の大、小すなわちこの放射エネルギが台座5の
材質からのものであるか、銀の主成分とした溶出
金属7の材料からのものであるかを検出器19の
比較判断回路で判断し、赤外線放射エネルギ量が
比較の範囲外の場合にだけ、選別信号を検出器1
9から制御器20に入力させてこれを作動させる
ことにより、選別装置によつて不良品をインプロ
セスで検査、除去するものである。
前述した各実施例の説明において、接合用の熱
源としてスポツト溶接機を用いた場合について述
べたが、本発明は他の熱源すなわち他の抵抗熱源
を用いる装置、高周波誘導加熱装置などの熱源を
用いる接点接合装置にも適用できることは言うま
でもない。
(発明の効果) 以上説明したように、本発明の接点接合装置に
よれば、接点接合用制御装置を備えることによ
り、接合現象が過不足なく進行した段階でリアル
タイムにより接合を完了させることができ、この
ため常に良好な接触子を得ることができる。
また、本発明の接点接合装置によれば、接点接
合用制御装置に加えて接点接合検査装置をも備え
ることにより、接点と台座との接合時に接合現象
をリアルタイムで制御することができるため安定
した接合が可能となると共に接合後の不良品を自
動的に検査、除去することができ、その結果、接
点と台座とが良好に接合した接触子のみを提供す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は一般的なスポツト溶接機を用いて接点
と台座とを接合している状況を示す側面図、第2
図a,bは接点と台座との互いに異る不良接合例
をそれぞれ示す側面図、第3図はスポツト溶接機
による接点接合時の加熱特性を説明するための模
式図、第4図a,bは本発明の一実施例による接
点と台座との接合状況を示す要部の互いに異つた
時点の側面図、第5図は電極への通電と赤外線放
射エネルギとの関係を示す図、第6図は本発明の
一実施例による接点接合装置を示す構成図、第7
図は本発明の他の実施例による接点と台座との接
合完了時の側面図、第8図は本発明の他の実施例
による接点接合装置を示す構成図である。 1……上部電極、2……下部電極、3……接
点、4……銀層、5……台座、6……接合層、7
……溶出金属、11……赤外線検出プローブ、1
4……検出器、15……制御器、17……接点接
合用制御装置、18……赤外線検出プローブ、1
9……検出器、20……制御器、21……接点接
合検査装置。なお、図中同一符号は同一または相
当部分を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 片面に銀層がクラツドされている接点と銀以
    外の金属材料の台座とを接合する接点接合装置に
    おいて、上記接点と台座との接合時の赤外線放射
    エネルギ量を検出する光学系および接合中の接点
    と台座の溶融合金成分の溶出にもとづく赤外線放
    射エネルギ量の変曲点を検知する比較判断回路か
    ら成る検出器と、該検出器からの出力信号を受け
    て接合のための加熱を停止・完了させる制御器と
    から構成される接点接合用制御装置を備えたこと
    を特徴とする接点接合装置。 2 片面に銀層がクラツドされている接点と銀以
    外の金属材料の台座とを接合する接点接合装置に
    おいて、 (イ) 上記接点と台座との接合時の赤外線放射エネ
    ルギ量を検出する光学系および接合中の接点と
    台座の溶融合金成分の溶出にもとづく赤外線放
    射エネルギ量の変曲点を検知する比較判断回路
    から成る検出器、および該検出器からの出力信
    号を受けて接合のための加熱を停止・完了させ
    る制御器から構成される接点接合用制御装置
    と、 (ロ) 前記接点に至近の台座端面の赤外線放射エネ
    ルギ量を検出する光学系および接合前後の赤外
    線放射エネルギ量を比較してその比較値が所定
    範囲外の場合に信号を発する比較判断回路から
    成る検出器、および該検出器からの出力信号を
    受けて接合の良否を判定する信号を発する制御
    器から構成される接点接合検査装置と、 を備えたことを特徴とする接点接合装置。
JP17424381A 1981-10-30 1981-10-30 接点接合装置 Granted JPS5875719A (ja)

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