JPH0319934B2 - - Google Patents

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JPH0319934B2
JPH0319934B2 JP14598483A JP14598483A JPH0319934B2 JP H0319934 B2 JPH0319934 B2 JP H0319934B2 JP 14598483 A JP14598483 A JP 14598483A JP 14598483 A JP14598483 A JP 14598483A JP H0319934 B2 JPH0319934 B2 JP H0319934B2
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Japan
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grain
vibrating
trough
grains
gutter
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JP14598483A
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JPS6036941A (ja
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Toshihiko Satake
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Satake Engineering Co Ltd
Original Assignee
Satake Engineering Co Ltd
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Publication date
Application filed by Satake Engineering Co Ltd filed Critical Satake Engineering Co Ltd
Priority to JP14598483A priority Critical patent/JPS6036941A/ja
Publication of JPS6036941A publication Critical patent/JPS6036941A/ja
Publication of JPH0319934B2 publication Critical patent/JPH0319934B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/85Investigating moving fluids or granular solids

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Weight Measurement For Supplying Or Discharging Of Specified Amounts Of Material (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
本発明は、穀粒の歩留・粒数測定機の給穀量制
御装置に関する。 穀粒の歩留・粒数測定機では、光電検出装置に
連絡する傾斜流穀路を流下する穀粒が、任意所定
の速度と粒子間隔を確実に保持して光電検出装置
を通過させることが、測定精度を向上させるため
極めて重要である。また、穀粒は品種、加工条件
などの変化によつて粒径・摩擦係数等が相違する
ので、その条件変化に応じて供給ホツパーの排出
量および振動搬送樋の搬送力を適宜に調節する必
要がある。 本発明は上記の諸点に鑑み、振動送穀樋に粒密
度検出センサーを設けると共に、傾斜流穀樋に粒
子検出センサーを設け、前記各検出センサーおよ
び前記受光素子を給穀量制御部を介して前記振動
送穀樋に設けた可変振動装置と前記供給ホツパー
に設けたロータリーバルブの可変回転装置を電気
的に連結することにより、各種穀粒の粒径に応じ
て前記振動送穀樋の振幅と前記ロータリーバルブ
の回転数を調節して給穀量を制御するようにし、
以て傾斜流穀樋を流下する穀粒に任意所定の速度
と粒子間隔を保持させて高精度の歩留・粒数測定
を実施する高性能な装置を開発して提供せんとす
るものである。 本発明を実施例図について説明する。符号1は
箱形機枠で、該機枠1の内部に複数列の流穀用条
溝2A,2B,…2E,2Fを設けた傾斜流穀樋
3を装架し、該流穀樋3の供給側に複数列の送穀
用条溝4A,4B,…4E,4Fを設けた振動送
穀樋5を連結すると共に、該送穀樋5の供給側に
供給ホツパー6を装架し、前記各流穀用条溝4
A,4B,…4E,4Fから流下する米粒の流下
軌跡P…の上下位置に光源7と受光素子8から成
る光電検出装置9をそれぞれ設けると共に、各検
出装置9…を制御回路10を介して粒数計11に
連結し、また前記傾斜流穀樋3の樋端と前記光電
検出装置9との間に米粒の流路Qを遮断または開
放する流路切換弁12を設けると共に、前記流下
軌跡P…の米粒の流下する位置に穀粒重量計13
を設け、また前記切換弁12によつて遮断された
米粒の落下する位置に排穀筒14を設け、前記重
量計13を演算回路15を介して歩留計16に連
結し、17は振動送穀樋5の振動装置、18は重
量計の計量用容器、19は前記容器18に連結し
たロードセル、20は計量用容器の自動開閉弁、
21は粒数計に設けた粒数設定器である。 次に、給穀量制御装置は、前記振動送穀樋5に
粒密度検出センサー22を設けると共に、前記傾
斜流穀樋3に複数個のセンサーから成る粒長検出
センサー23を設け、前記各検出センサー22,
23および前記受光素子8を給穀量制御部24を
介して前記振動送穀樋5に設けた可変振動装置2
5と前記供給ホツパー6に設けたロータリーバル
ブ26の可変回転装置27に電気的に連結し、各
種穀粒の粒径に応じて前記振動送穀樋5の振幅と
前記ロータリーバルブ26の回転数を調節して給
穀量を制御するように形成してある。 第3図は、前記給穀量制御部24のブロツク図
であり、給穀量制御部24の入力側に前記受光素
子8および前記各検出センサー22,23を連結
すると共に、給穀量制御部24の出力側に前記振
動送穀樋5に設けた可変振動装置25と前記ロー
タリーバルブ26の可変回転装置27を連結し、
また給穀量制御部24は、傾斜流穀樋3を流下す
る各穀粒の基準問題を設定する基準粒間隔設定装
置28、振動送穀樋5を流動する穀粒の所定単位
面積における基準粒密度を設定する基準粒密度設
定装置29、穀粒の粒長の変化によつて粒径を推
定し、該粒径の大小変化によつて回転数を補正す
る粒長補正係数設定装置30、受光素子8に連絡
し、受光素子8からの出力に応じて粒子間隔を検
出する粒子間隔検出装置31、粒子間隔検出装置
31および基準粒間隔設定装置28に連絡し、粒
子間隔検出装置31および基準粒間隔設定装置2
8からの出力に応じて補正する振動値を演算する
振幅補正演算装置32、振幅補正演算装置32に
連絡し、振幅補正演算装置32からの出力に応じ
て可変振幅装置25の供給電圧を変化して振動送
穀樋5の振幅を制御する振幅制御装置33、粒密
度検出センサー22に連絡し、粒密度検出センサ
ー22からの出力に応じて単位面積当りの粒密度
を検出する粒密度検出装置34、粒長検出センサ
ー23に連絡し、粒長検出センサー23からの出
力に応じて穀粒の粒長を検出する粒長検出装置3
5、粒密度検出装置34と粒長検出装置35およ
び粒長補正係数設定装置30に連絡し、粒密度検
出装置34と粒長検出装置35および粒長補正係
数設定装置30からの出力に応じて補正する回転
数を演算する回転数補正演算装置36、回転数補
正演算装置36に連絡し、回転数補正演算装置3
6からの出力に応じて可変回転装置27の回転数
を変化してロータリーバルブ26の排出量を制御
する回転数制御装置37等によつて構成されてい
る。 上述の構成にしたから、粒数計11の粒数設定
器21に任意の所定粒数(例えば10000粒)を設
定すると共に、流路切換弁12を操作して流路を
開放状にし、原料玄米を供給ホツパー6に投入し
て該装置を起動すると、供給ホツパー6から流下
する玄米は、振動送穀樋5の供給側に流下して送
穀用条溝4A,4B,…4E,4Fにそれぞれ流
入し、該条溝4A,4B,…4E,4F内の玄米
は、振動装置17の振動作用によつて排出側樋端
に流動すると共に、傾斜流穀樋3の流穀用条溝2
A,2B,…2E,2Fを流下してその樋端から
各流下軌跡P…に沿つて飛行状に流出する。この
各流下軌跡P…を通過する玄米は各光電検出装置
9…の光源7…から照射されると共に、その各透
過光線を受光素子8…がそれぞれ受光してその検
出信号を制御回路10を介して粒数計11に入力
して検出した玄米粒数を表示する。玄米の検出粒
数が粒数設定器21の設定粒数に達すると、制御
回路10からの信号によつて流路切換弁12を切
換して流路を遮断状にして後続する玄米を排穀筒
14に流下して排除すると共に、計量用容器18
内に集積した玄米の重量を重量計13が測定し、
その測定信号は演算回路15を介して歩留計16
に入力されてその重量値を表示する。次に前記玄
米を搗精した白米を採取し、前記切換弁12を切
換して前記各流路を開放状にし、また前記白米を
供給ホツパー6に投入して該装置を起動すると、
前記玄米と同様の流動検出行程を経由して所定粒
数の白米の重量を重量計13で測定し、その測定
信号を演算回路15に入力して前記玄米の重量と
比較・演算してその歩留率を算定して歩留計16
に表示される。そして、本発明の給穀量制御装置
は、前述した玄米および白米の粒数測定の前行程
において、各種穀粒の粒径に応じてその給穀量を
それぞれ制御するものである。先ず傾斜流穀樋3
を流下する穀粒の基準粒子間隔(例えば40mmとす
る)を基準粒間隔設定装置28に設定すると共
に、振動送穀樋5の単位面積当りの粒密度(例え
ば5粒/cm2とする)を基準粒密度設定装置29に
設定し、また下記に示す粒長補正係数を粒長補正
係数設定装置30に設定する。前記粒長補正係数
とは、各種穀粒の粒長と粒径の関係比を予め求め
ると共に、その粒径の大小によつて補正係数(ロ
ータリーバルブの回転数を補正する)をそれぞれ
算定したもので、実験値により決定した補正係数
の一部を下記に表示する。
【表】 続いて、測定せんとする穀粒を供給ホツパー6
に投入して該装置を起動すると、光電検出装置9
に設けた受光素子8の受光信号は給穀量制御部2
4の粒子間隔検出装置31に入力して流下穀粒の
粒子間隔を検出すると共に、その検出信号と基準
粒間隔設定装置28の設定信号とを入力した振幅
補正演算装置32は補正する振幅値を演算し、こ
の補正振幅値を入力した振幅制御装置33は制御
信号を発して可変振幅装置25の供給電圧を変化
して振動送穀樋5の振幅を制御して傾斜送穀樋3
を流下する穀粒の粒子間隔を基準間隔に補正する
ことになる。また振動送穀樋5側に設けた粒密度
検出センサー22の検出信号を入力して単位面積
当りの粒密度を検出した粒密度検出装置34と、
傾斜流穀樋3側に設けた粒長検出センサー23の
検出信号を入力して流下する穀粒の粒長を検出し
た粒長検出装置35の各検出信号は回転数補正演
算装置36に入力されると共に、該補正演算装置
36は基準粒密度設定装置29と粒長補正係数設
定装置30の各設定信号を入力して粒長を測定し
た穀粒に応じた供給ホツパー6のロータリーバル
ブ26の制御用回転数を演算する。すなわち、測
定した粒密度と基準粒密度とを比例して補正回転
数を算定し、さらに測定した粒長により、粒長補
正係数を選定して該補正係数を前記補正回転数に
乗じて制御用回転数を演算することになる。この
制御用回転数を入力した回転数制御装置37は制
御信号を発して可変回転装置27を作動変化して
ロータリーバルブ26の回転を制御するので、供
給ホツパー6のロータリーバルブ26は粒径変化
に応じた回転数で回転して穀粒を排出し、また振
動送穀樋5は粒径変化に応じた適正な粒密度で穀
粒を振動搬送してその樋端から排出するから、傾
斜流穀樋3を流下する各種穀粒は、任意所定の速
度と粒子間隔をそれぞれ保持して高精度の歩留・
粒数測定を常時確実に実施できる効果を奏するも
のである。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の実施例図である。第1図は本装
置の側断面図、第2図はその傾斜流穀樋の平面
図、第3図はその給穀量制御部のブロツク図であ
る。 1…箱形機枠、2A,2B,…2E,2F…流
穀用条溝、3…傾斜流穀樋、4A,4B,…4
E,4F…送穀用条溝、5…振動送穀樋、6…供
給ホツパー、7…光源、8…受光素子、9…光電
検出装置、10…制御回路、11…粒数計、12
…流路切換弁、13…穀粒重量計、14…排穀
筒、15…演算回路、16…歩留計、17…振動
装置、18…計量用容器、19…ロードセル、2
0…自動開閉弁、21…粒数設定器、22…粒密
度検出センサー、23…粒長検出センサー、24
…給穀量制御部、25…可変振動装置、26…ロ
ータリーバルブ、27…可変回転装置、28…基
準粒間隔設定装置、29…基準粒密度設定装置、
30…粒長補正係数設定装置、31…粒子間隔検
出装置、32…振幅補正演算装置、33…振幅制
御装置、34…粒密度検出装置、35…粒長検出
装置、36…回転数補正演算装置、37…回転数
制御装置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 穀粒を流下する傾斜流穀樋に振動送穀樋を連
    結すると共に、該送穀樋の供給側に供給ホツパー
    を連絡し、前記傾斜流穀樋から流下する穀粒の流
    下軌跡に光源と受光素子から成る光電検出装置と
    穀粒流路切換弁を設けた測定機において、前記振
    動送穀樋に粒密度検出センサーを設けると共に、
    前記傾斜流穀樋に粒長検出センサーを設け、前記
    各検出センサーおよび前記受光素子を給穀量制御
    部を介して前記振動送穀樋に設けた可変振動装置
    と前記供給ホツパーに設けたロータリーバルブの
    可変回転装置に電気的に連結し、各種穀粒の粒径
    に応じて前記振動送穀樋の振幅と前記ロータリー
    バルブの回転数を調節して給穀量を制御するよう
    にした穀粒の歩留・粒数測定機の給穀量制御装
    置。
JP14598483A 1983-08-09 1983-08-09 穀粒の歩留・粒数測定機の給穀量制御装置 Granted JPS6036941A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14598483A JPS6036941A (ja) 1983-08-09 1983-08-09 穀粒の歩留・粒数測定機の給穀量制御装置

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JP14598483A JPS6036941A (ja) 1983-08-09 1983-08-09 穀粒の歩留・粒数測定機の給穀量制御装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6036941A JPS6036941A (ja) 1985-02-26
JPH0319934B2 true JPH0319934B2 (ja) 1991-03-18

Family

ID=15397494

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14598483A Granted JPS6036941A (ja) 1983-08-09 1983-08-09 穀粒の歩留・粒数測定機の給穀量制御装置

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JP (1) JPS6036941A (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH066201U (ja) * 1992-07-02 1994-01-25 株式会社四国製作所 選別袋詰め機のサンプル取出装置

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JPS6036941A (ja) 1985-02-26

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