JPH03200081A - ジッタを含んだ波形のスキュー調整回路 - Google Patents
ジッタを含んだ波形のスキュー調整回路Info
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- JPH03200081A JPH03200081A JP1340335A JP34033589A JPH03200081A JP H03200081 A JPH03200081 A JP H03200081A JP 1340335 A JP1340335 A JP 1340335A JP 34033589 A JP34033589 A JP 34033589A JP H03200081 A JPH03200081 A JP H03200081A
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- IERHLVCPSMICTF-XVFCMESISA-N CMP group Chemical group P(=O)(O)(O)OC[C@@H]1[C@H]([C@H]([C@@H](O1)N1C(=O)N=C(N)C=C1)O)O IERHLVCPSMICTF-XVFCMESISA-N 0.000 description 9
- 239000013317 conjugated microporous polymer Substances 0.000 description 9
- 210000003643 myeloid progenitor cell Anatomy 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 208000028780 ocular motility disease Diseases 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Time-Division Multiplex Systems (AREA)
- Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、ジッタを含んだ波形のスキュー調整回路に
ついてのものである。
ついてのものである。
[従来の技術]
スキューとは、複数の伝送系において、同じ信号を伝送
するとき、その信号間に発生する位相または時間の期待
値からのずれのことであり、ドライバ間のスキュー等が
ある。
するとき、その信号間に発生する位相または時間の期待
値からのずれのことであり、ドライバ間のスキュー等が
ある。
次に、スキュー調整が必要な理由を第5図により説明す
る。
る。
第5図の1A〜1Cは試験信号発生器、2A〜2Cはス
キュー回路、3A〜3Cはドライバ、4はマルチプレク
サ、5は基準コンパレータ、6は判定回路、9はCPU
、10はレジスタである。
キュー回路、3A〜3Cはドライバ、4はマルチプレク
サ、5は基準コンパレータ、6は判定回路、9はCPU
、10はレジスタである。
第5図では、1A〜1C12A〜2C13A〜3Cの3
個の例を示しているが、その他の個数でもよい。
個の例を示しているが、その他の個数でもよい。
試験信号発生器1A〜1Cがらは、デバイスの各ビンに
必要なタイミングで、試験信号が出力され、スキュー回
路2A〜2C、ドライバ3A〜3Cを通過し、デバイス
の各ビンに加えられる。
必要なタイミングで、試験信号が出力され、スキュー回
路2A〜2C、ドライバ3A〜3Cを通過し、デバイス
の各ビンに加えられる。
デバイスの各ビンには、設定タイミングどおりに入力さ
れなければならないが、試験信号発生器1A〜1Cの出
力波形のタイミングは同じでも、スキュー回路2A〜2
C、ドライバ3A〜3C各回路の誤差、使用素子のばら
つきなどでス゛キュー差が発生ずる。このため、事前に
スキューずれを補正しておく必要がある。
れなければならないが、試験信号発生器1A〜1Cの出
力波形のタイミングは同じでも、スキュー回路2A〜2
C、ドライバ3A〜3C各回路の誤差、使用素子のばら
つきなどでス゛キュー差が発生ずる。このため、事前に
スキューずれを補正しておく必要がある。
次に、スキュー調整回路について説明する。
試験信号発生器1A〜1Cは同じタイミングで出力させ
る。この波形がスキュー回路2A〜2C、ドライバ3A
〜3Cを通過し、予めセットされているマルチプレクサ
回路4に入る。
る。この波形がスキュー回路2A〜2C、ドライバ3A
〜3Cを通過し、予めセットされているマルチプレクサ
回路4に入る。
このマルチプレクサ回路4では、試験信号発生器1A〜
1Cの出力波形を順次ライン4Aに取り出し、基準コン
パレータ5に接続する。
1Cの出力波形を順次ライン4Aに取り出し、基準コン
パレータ5に接続する。
基準コンパレータ5に入った信号波形を判定回路6と判
定ストローブ6Aでデバイスのバスとフェイルを判定す
る。
定ストローブ6Aでデバイスのバスとフェイルを判定す
る。
第5図では、タイミングをスキュー回路2A〜2Cの1
箇所だけで補正している。
箇所だけで補正している。
次に、スキュー回路2A〜2Cの各ビンごとにCPU9
から、パイナリイサーチをするように、スキュー補正デ
ータをレジスタ10に順次転送し、ラインIOA〜10
Cで、各スキュー回路2A〜2Cにその情報を与え、波
形を動作させながら、基準となる判定ストローブ6Aの
タイミングで、バスからフェイルの変換点がくる位置を
求める。
から、パイナリイサーチをするように、スキュー補正デ
ータをレジスタ10に順次転送し、ラインIOA〜10
Cで、各スキュー回路2A〜2Cにその情報を与え、波
形を動作させながら、基準となる判定ストローブ6Aの
タイミングで、バスからフェイルの変換点がくる位置を
求める。
この動作により、各ビンごとに求められたスキュー補正
用データがレジスタ10にラッチされ、またそのデータ
は、CPU9にファイルとして格納される。このように
スキューは調整される。
用データがレジスタ10にラッチされ、またそのデータ
は、CPU9にファイルとして格納される。このように
スキューは調整される。
次に、第5図のスキュー動作を第6図により説明する。
第6図(γ)は試験信号発生器IAの出力波形であり、
第6図(イ)はスキュー回路2Aの出力波形である。
第6図(イ)はスキュー回路2Aの出力波形である。
スキュー回路2Aでは、第6図(ア)の波形を前後にタ
イミングTwだけ変化させてスキュー補正をする。
イミングTwだけ変化させてスキュー補正をする。
第6図(つ)はドライバ3Aの出力電圧波形であり、実
際のデバイスに加えるための振幅に設定される。
際のデバイスに加えるための振幅に設定される。
第6図(つ)の出力はマルチプレクサ4で選択され、基
準コンパレータ5に加えられる。
準コンパレータ5に加えられる。
第6図(1)は基準コンパレータ5の動作説明図であり
、電圧V。□でレベル判定をする。
、電圧V。□でレベル判定をする。
電圧V04.はハイコンパレータレベルであり、ロウコ
ンパレータレベルV。Lで判定する場合もある。
ンパレータレベルV。Lで判定する場合もある。
第6図(オ)は、基準コンパレータ5の出力波形である
。
。
第6図(力)は判定回路6に入る判定ストローブ6Aの
波形である。ストローブは、良否を判定するときの時間
位置を規定する値である。
波形である。ストローブは、良否を判定するときの時間
位置を規定する値である。
判定回路6の内部では、判定ス)・ロープ6Aで基準コ
ンパレータ5の出力をラッチし、タイミングを判定する
。
ンパレータ5の出力をラッチし、タイミングを判定する
。
第6図(キ)は判定回路6の出力波形図であり、期待パ
ターンと比較され、バスとフェイルが得られる。
ターンと比較され、バスとフェイルが得られる。
次に、試験信号発生器IA・7Bの関係を説明する。
第6図(9)は試験信号発生器IAの出力波形が判定回
路6に到着したときの波形であり、第6図け)は試験信
号発生器7Bの出力波形が判定回路6に到着したときの
波形である。
路6に到着したときの波形であり、第6図け)は試験信
号発生器7Bの出力波形が判定回路6に到着したときの
波形である。
第6図(9)と第6図け)は同じタイミングで出力され
ているにもかかわらず、第5図の判定回路6の入力点で
、時間Tのタイミング差がある。
ているにもかかわらず、第5図の判定回路6の入力点で
、時間Tのタイミング差がある。
第6図(コ)は判定ストローブ6Aの波形であるが、判
定ストローブ6Aの設定値に対して、第6(9)は進ん
でおり、第6図け)は遅れている。
定ストローブ6Aの設定値に対して、第6(9)は進ん
でおり、第6図け)は遅れている。
このような場合、第6図(コ)の判定ストローブのタイ
ミングになるように、第5図のスキュー回路2A・2B
が動作する。第6図(す)は第6図(9)が補正された
波形であり、第6図(シ)は第6図(ケ)が補正された
波形である。第6図(す)と第6図(シ)のように、同
じ変化点に波形が動くようになり、ピン方向のスキュー
ずれは補正される。
ミングになるように、第5図のスキュー回路2A・2B
が動作する。第6図(す)は第6図(9)が補正された
波形であり、第6図(シ)は第6図(ケ)が補正された
波形である。第6図(す)と第6図(シ)のように、同
じ変化点に波形が動くようになり、ピン方向のスキュー
ずれは補正される。
[発明が解決しようとする課題]
第5図によるスキュー調整では、試験信号波形の変化点
1箇所で判定をし、スキュー補正をしているので、実際
のデバイス測定などで使用する状態の連続的に出力され
る波形にて発生する第7図のようなジッタがある場合、
立上り波形では21.23.25.27で、立下り波形
では22.24.26のどこのタイミングでスキューが
補正されたか不明であり、これによってもタイミング精
度は悪くなる。
1箇所で判定をし、スキュー補正をしているので、実際
のデバイス測定などで使用する状態の連続的に出力され
る波形にて発生する第7図のようなジッタがある場合、
立上り波形では21.23.25.27で、立下り波形
では22.24.26のどこのタイミングでスキューが
補正されたか不明であり、これによってもタイミング精
度は悪くなる。
また、ジッタは高速波形を出す場合、より多くなるため
、大きな問題となる。したがって、このようなジッタを
含んでいる場合のスキュー調整方法を明確にする必要が
ある。
、大きな問題となる。したがって、このようなジッタを
含んでいる場合のスキュー調整方法を明確にする必要が
ある。
この発明は、従来回路にフェイルカウンタを採用するこ
とにより、フェイル数からジッタの中心を導き出し、ス
キューを調整するスキュー調整回路の提供を目的とする
。
とにより、フェイル数からジッタの中心を導き出し、ス
キューを調整するスキュー調整回路の提供を目的とする
。
[課題を解決するための手段]
この目的を達成するため、この発明では、試験信号発生
器1A〜1Cの各出力にそれぞれ接続されるスキュー回
路2A〜2Cと、スキュー回路2A〜2Cの出力にそれ
ぞれ接続されるドライバ3A〜3Cと、ドライバ3A〜
3Cの出力を入力とするマルチプレクサ4と、マルチプ
レクサ4の出力を人力とする基準コンパレータ5と、基
準コンパレータ5の出力と判定ストローブ6Aを入力と
する判定回路6と、判定回路6の出力を入力とし、ジッ
タ補正モード7Cによりライン7Bとライン7Aに出力
を出すセレクタ7と、ライン7Bに接続されるフェイル
カウンタ8と、フェイルカウンタ8の出力と、ライン7
Aを接続されるCPU10と、CPUl0の出力が接続
され、出力をドライバ3A〜3Cに接続するレジスタ1
0とを備える。
器1A〜1Cの各出力にそれぞれ接続されるスキュー回
路2A〜2Cと、スキュー回路2A〜2Cの出力にそれ
ぞれ接続されるドライバ3A〜3Cと、ドライバ3A〜
3Cの出力を入力とするマルチプレクサ4と、マルチプ
レクサ4の出力を人力とする基準コンパレータ5と、基
準コンパレータ5の出力と判定ストローブ6Aを入力と
する判定回路6と、判定回路6の出力を入力とし、ジッ
タ補正モード7Cによりライン7Bとライン7Aに出力
を出すセレクタ7と、ライン7Bに接続されるフェイル
カウンタ8と、フェイルカウンタ8の出力と、ライン7
Aを接続されるCPU10と、CPUl0の出力が接続
され、出力をドライバ3A〜3Cに接続するレジスタ1
0とを備える。
次に、ジッタを含んだ波形のスキュー調整回路を第1図
により説明する。
により説明する。
第1図の7はセレクタ、8はフェイルカウンタであり、
その他は第5図と同じである。
その他は第5図と同じである。
すなわち、第1図は第5図にセレクタ7、フェイルカウ
ンタ8を追加したものである。
ンタ8を追加したものである。
セレクタ7がライン7Aを選んでいるときは、第5図と
同じ回路になる。
同じ回路になる。
セレクタ7がライン7Aを選んでいるときは、試験信号
発生器1A〜1Cの出力波形に対して、第5図のように
、スキューを補正する。
発生器1A〜1Cの出力波形に対して、第5図のように
、スキューを補正する。
第1図では、セレクタ7がジッタ補正モード7Cでライ
ン7 B (iTlに切り換ったとき、信号波形をスキ
ュー回路2A〜2Cで、ある特定範囲で動作させながら
11回のパターンに対して判定をし、そのときのフェイ
ルの数をフェイルカウンタ8で力1クンl−L、そこで
得られたフェイル数から不確定領域を求め、その中心値
(n / 2 )を演算で求めることにより、ジッタの
中心に対してスキューを補正できるようにしたものであ
る。
ン7 B (iTlに切り換ったとき、信号波形をスキ
ュー回路2A〜2Cで、ある特定範囲で動作させながら
11回のパターンに対して判定をし、そのときのフェイ
ルの数をフェイルカウンタ8で力1クンl−L、そこで
得られたフェイル数から不確定領域を求め、その中心値
(n / 2 )を演算で求めることにより、ジッタの
中心に対してスキューを補正できるようにしたものであ
る。
[作用]
第1図では、第5図のバス/フェイル結果6Bのライン
に、セレクタ7とフェイルカウンタ8を入れている。
に、セレクタ7とフェイルカウンタ8を入れている。
第1図のセレクタ7でライン7Aを選択した場合は、通
常の1パターンによるスキュー補正でパイナリイサーチ
をし、変化点を求めることができる。
常の1パターンによるスキュー補正でパイナリイサーチ
をし、変化点を求めることができる。
次に8ジツタ補正モ一ド信号7Cでライ〉′7Bに切り
換え、ライン7Bで求めたスキューデータを中心として
−Insから+lnsの範囲でスキューデータを変え、
信号波形をステップさせ、0回パターンのテストを繰り
返し、サーチ試験をすることによって、各タイミング状
態でのフェイル発生数をフェイルカウンタでカウントす
る。
換え、ライン7Bで求めたスキューデータを中心として
−Insから+lnsの範囲でスキューデータを変え、
信号波形をステップさせ、0回パターンのテストを繰り
返し、サーチ試験をすることによって、各タイミング状
態でのフェイル発生数をフェイルカウンタでカウントす
る。
このカウント数により、r□、ならバス領域。
nならフェイル領域、1〜(n−1)ならジッタ領域と
し、このジッタ領域内の丁1/2近くの位置のスキュー
データをスキュー回路2A〜2Cに転送する。
し、このジッタ領域内の丁1/2近くの位置のスキュー
データをスキュー回路2A〜2Cに転送する。
このように、第1図ではフェイルカウントを使用しなか
らジッタの中心を求め、スキューを補正している。
らジッタの中心を求め、スキューを補正している。
次に、第1図の動作を第2図により説明する。
第2図(ア)で、スキュー補正後のスキューデータを求
める。
める。
次に、セレクタ7にジッタ補正モード信号7Cを加え、
セレクタ7がライン7Bを選ぶ。
セレクタ7がライン7Bを選ぶ。
この状態で試験信号発生器IAの出力波形から順に、試
験信号発生器7Cの出力波形までジッタに対するスキュ
ーデータを補正していく。
験信号発生器7Cの出力波形までジッタに対するスキュ
ーデータを補正していく。
試験信号発生器IAの出力波形から、その方法を説明す
ると、信号波形からn回縁り返すパターンを出すと、第
2図(イ)のようなジッタを含んだ波形になる。
ると、信号波形からn回縁り返すパターンを出すと、第
2図(イ)のようなジッタを含んだ波形になる。
ここで、第5図で求めた基準スキューデータから、第2
図(1)のジッタ補正時の波形の■のように、−1ns
程度スキューデータを少なくし、レジスタ10にラッチ
させ、スキュー回路2Aで波形を通過させ、ドライバ3
A、マルチプレクサ4を選び、基準コンパレータ5を経
由して、判定回路6に入れ、基準設定タイミングの判定
ストローブ6Aでパス/フェイル結果6Bを得る。
図(1)のジッタ補正時の波形の■のように、−1ns
程度スキューデータを少なくし、レジスタ10にラッチ
させ、スキュー回路2Aで波形を通過させ、ドライバ3
A、マルチプレクサ4を選び、基準コンパレータ5を経
由して、判定回路6に入れ、基準設定タイミングの判定
ストローブ6Aでパス/フェイル結果6Bを得る。
この操作を基準スキューデータの第2図(1)の■に示
すように、+l ns程度まで繰り返し実行していく、
実行に際して、スキューデータのステップはデイレイラ
インを最小可変ステップで変化させるのに必要な最小ス
キューデータの変化で行つ。
すように、+l ns程度まで繰り返し実行していく、
実行に際して、スキューデータのステップはデイレイラ
インを最小可変ステップで変化させるのに必要な最小ス
キューデータの変化で行つ。
ここで、−1ns〜+Insまで実行させた状態のパス
フェイル結果6Bの処理は、各タイミングで出てきたフ
ェイル情報だけを、今回新しく設けたフェイルカウンタ
8でカウントさせ、そのカウント数をCPU9に送る。
フェイル結果6Bの処理は、各タイミングで出てきたフ
ェイル情報だけを、今回新しく設けたフェイルカウンタ
8でカウントさせ、そのカウント数をCPU9に送る。
1 n s〜+Insを最小スキューデータの可変ステ
ップで順次テストしていく。
ップで順次テストしていく。
このとき、第7図に示すように、1テストでn回のパタ
ーンを判定有効レイトにして判定する。
ーンを判定有効レイトにして判定する。
したがって、n=100とすると、完全にパスの場合は
、フェイルが発生するカウント数は「0」となり、完全
にフェイルの場合は、フェイル発生のカウント数はr
100Jになる。
、フェイルが発生するカウント数は「0」となり、完全
にフェイルの場合は、フェイル発生のカウント数はr
100Jになる。
ここで、第2図(イ)のT。で示すジッタとなった部分
とは、第7図の1〜nパターンにおいて、レイトにより
パスになったり、フェイルになったりしている部分なの
で、フェイル数は設定タイミングで変化することになる
。
とは、第7図の1〜nパターンにおいて、レイトにより
パスになったり、フェイルになったりしている部分なの
で、フェイル数は設定タイミングで変化することになる
。
したがって、■の例では、1〜99までのジ・7タ領域
におけるフェイルカウント数が得られることになる。
におけるフェイルカウント数が得られることになる。
また、第2図(イ)のT6で示すジッタとなった部分に
対しては、フェイルカウントは1〜(n−1)まで存在
するフェイル数が得られる。このとき、CPU9で演算
をし、n / 2近くのフェイルカウントが得られた状
態のスキューデータを求め。
対しては、フェイルカウントは1〜(n−1)まで存在
するフェイル数が得られる。このとき、CPU9で演算
をし、n / 2近くのフェイルカウントが得られた状
態のスキューデータを求め。
スキュー回路2A〜2Cに転送すれば、ジッタ領域のほ
ぼ中心に対してスキューが補正されたことになる。
ぼ中心に対してスキューが補正されたことになる。
このように、各信号波形について、すべて同じ条件でス
キューを補正することができる。
キューを補正することができる。
また、第2図では、信号波形に対して説明をしたが、第
3図のCMPスキューブロック図、第4図のI10スキ
ューブロック図に示すように信号波形のスキュー補正方
式と同様に、フェイルカウントを使用した各々のスキュ
ー回路方式により精度の高いスキュー補正ができる。
3図のCMPスキューブロック図、第4図のI10スキ
ューブロック図に示すように信号波形のスキュー補正方
式と同様に、フェイルカウントを使用した各々のスキュ
ー回路方式により精度の高いスキュー補正ができる。
通常、7Cテスタにおいて、スキュー補正が必要な部分
は、第1図で説明したドライバスキュー補正の他に、第
3図のCMPスキュー補正と第4図に示すI10スキュ
ー補正がある。
は、第1図で説明したドライバスキュー補正の他に、第
3図のCMPスキュー補正と第4図に示すI10スキュ
ー補正がある。
なお、CMPとは比較器のことである。
第3図のCMPスキュー補正は、デバイスに入る波形が
ピンごとにばらつきがないように補正するのに対して、
デバイスから出てくる波形がどのCMPビンで判定して
も、同じ結果になるように、CMP出力のビンごとのば
らつきを補正するものである。
ピンごとにばらつきがないように補正するのに対して、
デバイスから出てくる波形がどのCMPビンで判定して
も、同じ結果になるように、CMP出力のビンごとのば
らつきを補正するものである。
第3図の作用は次のとおりである。
基準ドライバからの波形は、ドライバ31からマルチプ
レクサ回路32をとおり、CMP33A〜33Cの各ビ
ンに加えられる。
レクサ回路32をとおり、CMP33A〜33Cの各ビ
ンに加えられる。
各ラインのばらつき分を各判定ストローブ34A〜34
. Cが供給されるCMPスキュー回銘35A〜35C
で補正することにより、ビン方向のばらつきがなくなる
ようにしている。
. Cが供給されるCMPスキュー回銘35A〜35C
で補正することにより、ビン方向のばらつきがなくなる
ようにしている。
第4図の作用は次のとおりである。
I10ビンのあるデバイスを測定する場合は、I10切
換え信号がビンごとにばらつきが出ないようにスキュー
補正をする。
換え信号がビンごとにばらつきが出ないようにスキュー
補正をする。
すでに補正されている各ドライバから波形は、I10切
換え信号42A〜42Cのタイミングで切り換えられ、
出力波形は、CMP44A〜44Cでそれぞれ判定され
る。CMP44A〜44Cの各出力は、判定ストロ−1
45A〜45Cにより、ビン方向のばらつきがなくなる
ようになる。
換え信号42A〜42Cのタイミングで切り換えられ、
出力波形は、CMP44A〜44Cでそれぞれ判定され
る。CMP44A〜44Cの各出力は、判定ストロ−1
45A〜45Cにより、ビン方向のばらつきがなくなる
ようになる。
[発明の効果]
この発明によれば、ジッタを含んだ波形のスキューを補
正する場合に、フェイルカウンタを使用することにより
、フェイル数からジッタの中心を導き出しているので、
高速デバイスに対して、より精度の高いスキュー補正を
することができる。
正する場合に、フェイルカウンタを使用することにより
、フェイル数からジッタの中心を導き出しているので、
高速デバイスに対して、より精度の高いスキュー補正を
することができる。
第1図はこの発明によるジッタを含んだ波形のスキュー
調整回路の構成図、第2図は第1図の動作説明図、第3
図と第4図は他の実施例の構成図、第5図は従来技術に
よるスキュー調整回路の構成図、第6図は第5図のスキ
ュー動作説明図、第7図は判定有効レイト説明図である
。 ■A〜7C・・・・・・試験信号発生器、2A〜2C・
・・・・・スキュー回路、3A〜3C・・・・・・ドラ
イバ、4・・・・・・マルチプレクサ、5・・・・・・
基準コンパレータ、6・・・・・・判定回路、7・・・
・・・セレクタ、8・・・・・・フェイルカウンタ、9
・・・・・・CPU、10・・・・・・レジスタ。
調整回路の構成図、第2図は第1図の動作説明図、第3
図と第4図は他の実施例の構成図、第5図は従来技術に
よるスキュー調整回路の構成図、第6図は第5図のスキ
ュー動作説明図、第7図は判定有効レイト説明図である
。 ■A〜7C・・・・・・試験信号発生器、2A〜2C・
・・・・・スキュー回路、3A〜3C・・・・・・ドラ
イバ、4・・・・・・マルチプレクサ、5・・・・・・
基準コンパレータ、6・・・・・・判定回路、7・・・
・・・セレクタ、8・・・・・・フェイルカウンタ、9
・・・・・・CPU、10・・・・・・レジスタ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、試験信号発生器(1A〜1C)の各出力にそれぞれ
接続されるスキュー回路(2A〜2C)と、スキュー回
路(2A〜2C)の出力にそれぞれ接続されるドライバ
(3A、3C)と、 ドライバ(3A〜3C)の出力を入力とするマルチプレ
クサ(4)と、 マルチプレクサ(4)の出力を入力とする基準コンパレ
ータ(5)と、 基準コンパレータ(5)の出力と判定ストローブ(6A
)を入力とする判定回路(6)と、判定回路(6)の出
力を入力とし、ジッタ補正モード(7C)によりライン
(7B)とライン(7A)に出力を出すセレクタ(7)
と、 ライン(7B)に接続されるフェイルカウンタ(8)と
、 フェイルカウンタ(8)の出力と、ライン(7A)を接
続されるCPU(9)と、 CPU(9)の出力が接続され、出力をドライバ(3A
〜3C)に接続するレジスタ(10)とを備えることを
特徴とするジッタを含んだ波形のスキュー調整回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1340335A JPH03200081A (ja) | 1989-12-28 | 1989-12-28 | ジッタを含んだ波形のスキュー調整回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1340335A JPH03200081A (ja) | 1989-12-28 | 1989-12-28 | ジッタを含んだ波形のスキュー調整回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03200081A true JPH03200081A (ja) | 1991-09-02 |
Family
ID=18335955
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1340335A Pending JPH03200081A (ja) | 1989-12-28 | 1989-12-28 | ジッタを含んだ波形のスキュー調整回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03200081A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002156414A (ja) * | 2000-11-16 | 2002-05-31 | Advantest Corp | タイミング校正機能を具備した半導体デバイス試験装置 |
| JP2002365345A (ja) * | 2001-06-12 | 2002-12-18 | Advantest Corp | 可変遅延回路の線形化方法、タイミング発生器及び半導体試験装置 |
| WO2010026765A1 (ja) * | 2008-09-05 | 2010-03-11 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置、及び試験方法 |
-
1989
- 1989-12-28 JP JP1340335A patent/JPH03200081A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002156414A (ja) * | 2000-11-16 | 2002-05-31 | Advantest Corp | タイミング校正機能を具備した半導体デバイス試験装置 |
| JP2002365345A (ja) * | 2001-06-12 | 2002-12-18 | Advantest Corp | 可変遅延回路の線形化方法、タイミング発生器及び半導体試験装置 |
| WO2010026765A1 (ja) * | 2008-09-05 | 2010-03-11 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置、及び試験方法 |
| JPWO2010026765A1 (ja) * | 2008-09-05 | 2012-02-02 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置、及び試験方法 |
| US8502523B2 (en) | 2008-09-05 | 2013-08-06 | Advantest Corporation | Test apparatus and test method |
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