JPH03204226A - 多値レベル出力回路 - Google Patents
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- JPH03204226A JPH03204226A JP1343927A JP34392789A JPH03204226A JP H03204226 A JPH03204226 A JP H03204226A JP 1343927 A JP1343927 A JP 1343927A JP 34392789 A JP34392789 A JP 34392789A JP H03204226 A JPH03204226 A JP H03204226A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野)
本発明は多値レベル出力回路に係り、特に、液晶を駆動
するための出力回路に用いて好適なものである。
するための出力回路に用いて好適なものである。
〈従来の技術〉
3個以上の複数の入力端子と1つの出力端子とを有し、
これらの入力端子にそれぞれ与えられる電位のうちの1
つを選択して上記出力端子に導出するようにした多値レ
ベル出力回路が知られている。
これらの入力端子にそれぞれ与えられる電位のうちの1
つを選択して上記出力端子に導出するようにした多値レ
ベル出力回路が知られている。
第13図は、従来の多値レベル出力W路の一例を示す回
路図である。この回路は第1から第4までの4つの入力
端子1,2,3.4が設すられ、それぞれに与えられる
バイアス電圧の1つを選択して出力端子5に導出する。
路図である。この回路は第1から第4までの4つの入力
端子1,2,3.4が設すられ、それぞれに与えられる
バイアス電圧の1つを選択して出力端子5に導出する。
上記入力端子1,2゜3.4に与えられるバイアス電圧
はバイアス回路6によって作られ、各入力端子1,2.
3.4には異なる電位の電圧がそれぞれ与えられる。
はバイアス回路6によって作られ、各入力端子1,2.
3.4には異なる電位の電圧がそれぞれ与えられる。
実施例のバイアス回路6は、第13図に示fように直流
電圧源7から種々の電位を作り出し1゛各入力端子に供
給するようにしている。すなわら、直流電圧源7のプラ
ス側の電位を第1の入力端子lに直接供給する。したが
って、例えば上記直流電圧源7の出力電位が、例えば5
V〜−15〜間の20Vであるとすれば、上記第1の入
力端子えには5vの電圧が印加されることになる。
電圧源7から種々の電位を作り出し1゛各入力端子に供
給するようにしている。すなわら、直流電圧源7のプラ
ス側の電位を第1の入力端子lに直接供給する。したが
って、例えば上記直流電圧源7の出力電位が、例えば5
V〜−15〜間の20Vであるとすれば、上記第1の入
力端子えには5vの電圧が印加されることになる。
一方、上記直流電圧源7のプラス側電極とマイチス側電
極との間に、4つの抵抗器8,9.10゜11を直列に
接続してなる分圧器7dが介設され、各抵抗器の接続点
から取り出された電圧がオペアンプ12,13.24の
非反転入力端子にそれぞれ与えられる。すなわち、第1
の抵抗器8と第2の抵抗器9との接続点の電位が第1の
オペアンプ12の非反転入力端子に与えられ、第2の抵
抗器9と第3の抵抗器10との接続点の電位が第2のオ
ペアンプ13の非反転入力端子に与えられ、第3の抵抗
器10と第4の抵抗器11(この例では可変抵抗器が用
いられている)との接続点の電位が第3のオペアンプ2
4に与えられる。
極との間に、4つの抵抗器8,9.10゜11を直列に
接続してなる分圧器7dが介設され、各抵抗器の接続点
から取り出された電圧がオペアンプ12,13.24の
非反転入力端子にそれぞれ与えられる。すなわち、第1
の抵抗器8と第2の抵抗器9との接続点の電位が第1の
オペアンプ12の非反転入力端子に与えられ、第2の抵
抗器9と第3の抵抗器10との接続点の電位が第2のオ
ペアンプ13の非反転入力端子に与えられ、第3の抵抗
器10と第4の抵抗器11(この例では可変抵抗器が用
いられている)との接続点の電位が第3のオペアンプ2
4に与えられる。
上記オペアンプ+2.13.24は、出力電圧を非反転
入力端子側に直接フィードバックする電圧フォロアに構
成され、非反転入力端子に与えられた電圧と略同じ大き
さで、また極性も反転しない電圧を出力する。したがっ
て、直流電圧源7の電位が分圧器7aによって等電位に
分圧された場合には、第1のオペアンプ】2からOV、
第2のオペアンプ13から一5V、第3のオペアンプ2
4から一10Vが出力され、これらのオペアンプ出力電
圧が第2の入力端子2.第3の入力端子3および第4の
入力端子4にそれぞれ与えられる。
入力端子側に直接フィードバックする電圧フォロアに構
成され、非反転入力端子に与えられた電圧と略同じ大き
さで、また極性も反転しない電圧を出力する。したがっ
て、直流電圧源7の電位が分圧器7aによって等電位に
分圧された場合には、第1のオペアンプ】2からOV、
第2のオペアンプ13から一5V、第3のオペアンプ2
4から一10Vが出力され、これらのオペアンプ出力電
圧が第2の入力端子2.第3の入力端子3および第4の
入力端子4にそれぞれ与えられる。
各入力端子1〜4に与えられている電位の1つが選択回
路42によって選択され、選択された電位が共通の出力
端子5から出力される。上記選択回路42は、各入力端
子1,2,3.4と出力端子5との間に第1〜第4のM
OS)ランジスタ14,15゜16.17を介設して構
成されている。第1および第2のMOS)ランジスタ1
4.45はP−MOS トランジスタが用いられ、第3
および第4のMOSトランジスタ18.17はN−MO
S)ランジスタが用いられている。また、第1のMOS
)ランジスタ14のソースとバックゲート、および第2
のMOSトランジスタ15のバックゲートが接続されて
いるとともに、第4のMOS)ランジスタ17のソース
とバックゲート、および第3のMOSトランジスタ16
のバックゲートが接続されている。
路42によって選択され、選択された電位が共通の出力
端子5から出力される。上記選択回路42は、各入力端
子1,2,3.4と出力端子5との間に第1〜第4のM
OS)ランジスタ14,15゜16.17を介設して構
成されている。第1および第2のMOS)ランジスタ1
4.45はP−MOS トランジスタが用いられ、第3
および第4のMOSトランジスタ18.17はN−MO
S)ランジスタが用いられている。また、第1のMOS
)ランジスタ14のソースとバックゲート、および第2
のMOSトランジスタ15のバックゲートが接続されて
いるとともに、第4のMOS)ランジスタ17のソース
とバックゲート、および第3のMOSトランジスタ16
のバックゲートが接続されている。
一方、第1〜第4のMOSトアンジスタ14〜17のゲ
ートと第1〜第4の信号入力端子18〜21とがそれぞ
れ接続され、各MOSトランジスタはこれらの信号入力
端子18〜2】を介してゲートに与えられる選択信号1
8a〜21aに応じて動作してソースやドレイン間を導
通させる(以後オンさせるという)。したがって、上記
選択信号18a〜21aにより4つのMO3)ランジス
タの内の1つを選択してオンさせることにより、第1−
第4の入力端子1〜4のうちの何れか1つが上記出力端
子5と導通する。これにより、その入力端子に与えられ
ている電位が上記出力端子5から出力される。
ートと第1〜第4の信号入力端子18〜21とがそれぞ
れ接続され、各MOSトランジスタはこれらの信号入力
端子18〜2】を介してゲートに与えられる選択信号1
8a〜21aに応じて動作してソースやドレイン間を導
通させる(以後オンさせるという)。したがって、上記
選択信号18a〜21aにより4つのMO3)ランジス
タの内の1つを選択してオンさせることにより、第1−
第4の入力端子1〜4のうちの何れか1つが上記出力端
子5と導通する。これにより、その入力端子に与えられ
ている電位が上記出力端子5から出力される。
〈発明が解決しようとする課題〉
上記構成の多値レベル出力回路を出力端子が多数(たと
えば80個)あるLCD駆動用に使用した場合には以下
の問題が発生する。
えば80個)あるLCD駆動用に使用した場合には以下
の問題が発生する。
すなわち、この出力回路を、P −WE L LのC−
MOSプロセスで構成した時には、容量負荷のLCD
(例えば1出力当たり EiOOPFとすると80出力
で48NF)を駆動する時、充電したLCDを放電する
際に瞬間的(たとえばIgs)に大電流(1=、、o工
g)eV=0.9fliA ;約IA)が出力端子57
υS からN−MOS17.電位入力端子4を通ってオペアン
プ24へ流れることになる。
MOSプロセスで構成した時には、容量負荷のLCD
(例えば1出力当たり EiOOPFとすると80出力
で48NF)を駆動する時、充電したLCDを放電する
際に瞬間的(たとえばIgs)に大電流(1=、、o工
g)eV=0.9fliA ;約IA)が出力端子57
υS からN−MOS17.電位入力端子4を通ってオペアン
プ24へ流れることになる。
この時、電源入力端子4から、N−MO3)ランジスタ
17のソースまでをアルミで配線した場合、アルミ配線
抵抗が10Ω程度であるとすると、IAの電流が流れた
時、電圧降下としてIOVが発生する。するとN−MO
Sトランジスタ17.16のバックゲート電位もIOV
上昇し、N−MO31Bのソース電位よりも5■高くな
ってしまい、ラッチアップしてしまう、このラッチアッ
プはC−MO8のプロセス構造によるものであり、以下
にこの説明をする。
17のソースまでをアルミで配線した場合、アルミ配線
抵抗が10Ω程度であるとすると、IAの電流が流れた
時、電圧降下としてIOVが発生する。するとN−MO
Sトランジスタ17.16のバックゲート電位もIOV
上昇し、N−MO31Bのソース電位よりも5■高くな
ってしまい、ラッチアップしてしまう、このラッチアッ
プはC−MO8のプロセス構造によるものであり、以下
にこの説明をする。
第14図にP−WELL構造のC−MOS断面図を示す
。第14図において、第13図の各部と対応する部分に
は同一の符号を付している。第14図から明らかなよう
に、この出力回路にはPNP)ランジスタ25.NPN
)ランジスタ2B、27および抵抗器2B、29,30
.31により、第15図の回路図に示すようなサイリス
タTIが構成される。したがって、例えば端子4の電位
が端子3の電位よりも5V高くなる電位逆転が生じると
、この逆転電圧はNPNトランジスタ26のベースやエ
ミッタ電圧Vst(0,7V)よりも大きいために上記
トランジスタ26がオンする。これにより、ベース電流
をβ26倍(β26はNPN)ランジスタ26の電流増
幅率)したコレクタ電波がコレクタからエミッタへ流れ
る。
。第14図において、第13図の各部と対応する部分に
は同一の符号を付している。第14図から明らかなよう
に、この出力回路にはPNP)ランジスタ25.NPN
)ランジスタ2B、27および抵抗器2B、29,30
.31により、第15図の回路図に示すようなサイリス
タTIが構成される。したがって、例えば端子4の電位
が端子3の電位よりも5V高くなる電位逆転が生じると
、この逆転電圧はNPNトランジスタ26のベースやエ
ミッタ電圧Vst(0,7V)よりも大きいために上記
トランジスタ26がオンする。これにより、ベース電流
をβ26倍(β26はNPN)ランジスタ26の電流増
幅率)したコレクタ電波がコレクタからエミッタへ流れ
る。
このコレクタ電流は端子lから抵抗器28.29を通っ
て流れるので、上記の電位逆転が生じると上記抵抗器2
8の両端に電位差が発生し、これがPNPトランジスタ
250ベース・エミッタに印加される。したがって、抵
抗器28の両端の電位差がPNPトランジスタ25のベ
ース−エミッタ電圧VBE以上になると、上記PNPI
−ランジスタ25がオンとなり、ベース電流のβ25倍
(β25はPNP )ランジスタ25の電流増幅率)の
コレクタ電流がニックからコレクタに流れ出す。
て流れるので、上記の電位逆転が生じると上記抵抗器2
8の両端に電位差が発生し、これがPNPトランジスタ
250ベース・エミッタに印加される。したがって、抵
抗器28の両端の電位差がPNPトランジスタ25のベ
ース−エミッタ電圧VBE以上になると、上記PNPI
−ランジスタ25がオンとなり、ベース電流のβ25倍
(β25はPNP )ランジスタ25の電流増幅率)の
コレクタ電流がニックからコレクタに流れ出す。
上記コレクタ電流は抵抗器30.31を通して入力端子
4へ流れるので、抵抗器31の両端に電位差が発生する
。上記抵抗器31の電位差はNPNトランジスタ27の
ベース・エミッタ間に印加されるので、これがNPN)
ランジスタ27のベース争エミッタ電圧VBF、(0,
7V)以上になるとNPN)ランジスタ27はオンする
。これにより、ベース電流のβ2?倍(β27はNPN
トランジスタ27の電流増幅:J)のコレクタ電流がN
PN)ランジスタ27のコレクタからエミlりへ流れる
。このように動作するので、例えばlps後に入力端子
4の電位が元に戻ってNPN)ランジスタ26がオフし
ても、NPN トランジスタ27およびPNP)ランジ
スタ25のオン状態が保持される。このため、サイリス
タTIがオンし続けることとなり、いわゆるラッチアッ
プする。
4へ流れるので、抵抗器31の両端に電位差が発生する
。上記抵抗器31の電位差はNPNトランジスタ27の
ベース・エミッタ間に印加されるので、これがNPN)
ランジスタ27のベース争エミッタ電圧VBF、(0,
7V)以上になるとNPN)ランジスタ27はオンする
。これにより、ベース電流のβ2?倍(β27はNPN
トランジスタ27の電流増幅:J)のコレクタ電流がN
PN)ランジスタ27のコレクタからエミlりへ流れる
。このように動作するので、例えばlps後に入力端子
4の電位が元に戻ってNPN)ランジスタ26がオフし
ても、NPN トランジスタ27およびPNP)ランジ
スタ25のオン状態が保持される。このため、サイリス
タTIがオンし続けることとなり、いわゆるラッチアッ
プする。
なお、ここではP−WE L L構造において、N−M
OSがトリガーとなって、ラッチアップすることを述べ
たが、同様にP−MOS14がONした時第1の入力端
子1からP−MOS14.出力端子5を通して流れる電
流が多くなり、入力端子lからP−MOS14のソース
でどの電圧降下が太きく(5,7V以上)なったときに
も前記と同様にラッチアップする。
OSがトリガーとなって、ラッチアップすることを述べ
たが、同様にP−MOS14がONした時第1の入力端
子1からP−MOS14.出力端子5を通して流れる電
流が多くなり、入力端子lからP−MOS14のソース
でどの電圧降下が太きく(5,7V以上)なったときに
も前記と同様にラッチアップする。
また、このようなラッチアップはN−WELL構造のC
−MOSに関しても、同様に発生する。
−MOSに関しても、同様に発生する。
本発明は上述の問題点にかんがみ、負荷駆動時にダイナ
ミックラッチアップが発生しないようにすることを目的
とする。
ミックラッチアップが発生しないようにすることを目的
とする。
〈課題を解決するための手段〉
本発明の多値レベル出力回路は、3個以上の複数の入力
端子を半導体チップ上に有し、これらの入力端子のそれ
ぞれに与えられる電位の1つを選択して共通の出力端子
に導出することにより、外部から入力される選択信号に
応じて上記出力端子から複数種類の電位を出力するよう
にした多値レベル出力回路において、上記複数の入力端
子のそれぞれと上記出力端子との間に介設され、上記選
択信号に応じて上記複数の入力端子のそれぞれに榮えら
れている電位の1つを選択して上記出力端子に導出する
複数のMOSトランジスタと、上記複数の入力端子と上
記複数のMOS)ランジスタのソース電極との間に設け
られ、上記複数の入力端子のそれぞれに与えられる電位
を上記複数のMOSトランジスタのソース電極にそれぞ
れ供給する複数のソース接続ラインと、変動が少ない所
定の電位を所定のMOS)ランジスタのバックゲートに
供給するために、上記所定の電位が入力される入力端子
と上記所定のMOSトランジスタのバックゲートとの間
において上記ソース接続ラインとは実質的に別に設けら
れたバックゲート接続ラインとを具備している。
端子を半導体チップ上に有し、これらの入力端子のそれ
ぞれに与えられる電位の1つを選択して共通の出力端子
に導出することにより、外部から入力される選択信号に
応じて上記出力端子から複数種類の電位を出力するよう
にした多値レベル出力回路において、上記複数の入力端
子のそれぞれと上記出力端子との間に介設され、上記選
択信号に応じて上記複数の入力端子のそれぞれに榮えら
れている電位の1つを選択して上記出力端子に導出する
複数のMOSトランジスタと、上記複数の入力端子と上
記複数のMOS)ランジスタのソース電極との間に設け
られ、上記複数の入力端子のそれぞれに与えられる電位
を上記複数のMOSトランジスタのソース電極にそれぞ
れ供給する複数のソース接続ラインと、変動が少ない所
定の電位を所定のMOS)ランジスタのバックゲートに
供給するために、上記所定の電位が入力される入力端子
と上記所定のMOSトランジスタのバックゲートとの間
において上記ソース接続ラインとは実質的に別に設けら
れたバックゲート接続ラインとを具備している。
また、本発明の他の特徴とするところは、上記ソース接
続ラインに抵抗器を介設し上記ソース接続ラインに流れ
る電流を減少させるようにしている。
続ラインに抵抗器を介設し上記ソース接続ラインに流れ
る電流を減少させるようにしている。
また、本発明のその他の特徴とするところは、3個以上
の複数の入力端子を半導体チップ上に有し、これらの入
力端子のそれぞれに与えられる電位の1つを選択して共
通の出力端子に導出することにより、外部から入力され
る選択信号に応じて上記出力端子から複数種類の電位を
出力するようにした多値レベル出力回路において、上記
複数の入力端子のそれぞれと上記出力端子との間に介設
され、上記選択信号に応じて上記複数の入力端子のそれ
ぞれに与えられている電位の1つを選択して1−記出力
端子に導出する複数のMOSトランジスタと、E記複数
の入力端子と上記複数のMOSトランジスタのソース電
極との間に設けられ、上記複数の入力端fのそれぞれに
与えられる電位を上記複数のMOSトランジスタのソー
ス電極にそれぞれ供給する複数のソース接続ラインと、
所定のMOSトランジスタのバックゲートに供給する所
定の電位が入力される入力端子と上記所定の電位に最も
近い電位が入力される入力端子との間に、低電位側にア
ノードが接続され、高電位側にカソードが接続されてい
るダイオードとを具備している。
の複数の入力端子を半導体チップ上に有し、これらの入
力端子のそれぞれに与えられる電位の1つを選択して共
通の出力端子に導出することにより、外部から入力され
る選択信号に応じて上記出力端子から複数種類の電位を
出力するようにした多値レベル出力回路において、上記
複数の入力端子のそれぞれと上記出力端子との間に介設
され、上記選択信号に応じて上記複数の入力端子のそれ
ぞれに与えられている電位の1つを選択して1−記出力
端子に導出する複数のMOSトランジスタと、E記複数
の入力端子と上記複数のMOSトランジスタのソース電
極との間に設けられ、上記複数の入力端fのそれぞれに
与えられる電位を上記複数のMOSトランジスタのソー
ス電極にそれぞれ供給する複数のソース接続ラインと、
所定のMOSトランジスタのバックゲートに供給する所
定の電位が入力される入力端子と上記所定の電位に最も
近い電位が入力される入力端子との間に、低電位側にア
ノードが接続され、高電位側にカソードが接続されてい
るダイオードとを具備している。
〈作用〉
MOSトランジスタのバックゲートに所定の電位を供給
するためのバックゲート接続ラインが、ソース電極に所
定の電位を供給するためのソース接続ラインとは別に設
けられることによ、す、上記ソース接続ラインに電圧降
下が発生しても上記/へツクゲートの電位が変動しなく
なる。また、9ましくは電流制限用の抵抗器を上記接続
ラインに介設し、上記電圧降下を小さくする。
するためのバックゲート接続ラインが、ソース電極に所
定の電位を供給するためのソース接続ラインとは別に設
けられることによ、す、上記ソース接続ラインに電圧降
下が発生しても上記/へツクゲートの電位が変動しなく
なる。また、9ましくは電流制限用の抵抗器を上記接続
ラインに介設し、上記電圧降下を小さくする。
また、所定の電圧が入力される2つの入力端子の間にダ
イオードが接続されることにより、上記入力端子間にお
ける電位逆転が上記ダイオードの順方向電圧以内に抑制
される。
イオードが接続されることにより、上記入力端子間にお
ける電位逆転が上記ダイオードの順方向電圧以内に抑制
される。
〈実施例〉
第1図は本発明の多値レベル出力回路の一実施例を示す
回路図であり、第13図と同一のものについては同一の
符号を付して説明を省略する。
回路図であり、第13図と同一のものについては同一の
符号を付して説明を省略する。
先ず、第1図に従って本発明を低電位側に適用した場合
について第3図の動作波形図を参照して説明する。第3
図のA−Dに示すように、時点toにおいて第2〜第4
の制御信号入力端子18〜21に与える制御信号18a
〜21aを低レベルにするとともに、第1の制御信号入
力端子18に与える制御信号18aを高レベルにする。
について第3図の動作波形図を参照して説明する。第3
図のA−Dに示すように、時点toにおいて第2〜第4
の制御信号入力端子18〜21に与える制御信号18a
〜21aを低レベルにするとともに、第1の制御信号入
力端子18に与える制御信号18aを高レベルにする。
これにより、第2のMOS)ランジスタ15がオンとな
るとともに、第1のMOS)ランジメタ14.第3のM
OSトランジスタ16および第4のMOSランジスタ1
7はオフとなり、第2の入力端子2に与えられている第
2の電位V2が選択され、第3図Eに示すように選択回
路42の出力電圧VQ として出力端子5から出力され
る。
るとともに、第1のMOS)ランジメタ14.第3のM
OSトランジスタ16および第4のMOSランジスタ1
7はオフとなり、第2の入力端子2に与えられている第
2の電位V2が選択され、第3図Eに示すように選択回
路42の出力電圧VQ として出力端子5から出力され
る。
次に、時点t1において第1および第2の選択信号18
a、19aのレベルを反転させ、第1.第3および第4
の制御信号入力端子18,20.21に低レベルを印加
するとともに第2の制御信号入力端子19に高レベルを
印加すると、第1のMOSトランジスタ14がオンとな
り、他のMOS)ランジスタ15、IG、17がオフと
なる。これにより、第1の入力端子1に入力されている
第1の電位■1が選択されて出力端子5から出力される
。
a、19aのレベルを反転させ、第1.第3および第4
の制御信号入力端子18,20.21に低レベルを印加
するとともに第2の制御信号入力端子19に高レベルを
印加すると、第1のMOSトランジスタ14がオンとな
り、他のMOS)ランジスタ15、IG、17がオフと
なる。これにより、第1の入力端子1に入力されている
第1の電位■1が選択されて出力端子5から出力される
。
次に、時点t2において第1.第2および第4の制御信
号入力端子18,19.21を高レベルにするとともに
第3の制御信号入力端子20を低レベルにすると、第4
のMOSトランジスタ17のみがオンとなり第4の電位
v4が選択されて出力端子5から出力される。
号入力端子18,19.21を高レベルにするとともに
第3の制御信号入力端子20を低レベルにすると、第4
のMOSトランジスタ17のみがオンとなり第4の電位
v4が選択されて出力端子5から出力される。
次に1時点t3においては第1〜第3の制御信号入力端
子18,19.20に高レベルの信号が与えられ、第4
の制御信号入力端子21に低レベルの信号が与えられる
。これにより、時点t3においては第3のMOSトラン
ジスタ16のみがオンとなり、第3の入力端子3に与え
られている第3の電位■3が選択されて出力5がら出力
される。
子18,19.20に高レベルの信号が与えられ、第4
の制御信号入力端子21に低レベルの信号が与えられる
。これにより、時点t3においては第3のMOSトラン
ジスタ16のみがオンとなり、第3の入力端子3に与え
られている第3の電位■3が選択されて出力5がら出力
される。
このようにして動作しているときに、MOS)ランジス
タ14〜17のオンに対応して各ソース接続ラインfB
=Qaに電流が流れる0例えば、時点t2において第
4のMOS)ランジスタ17がオンすると、第1図に示
すように第4のソース接続ライン見4に電流I4が流れ
、第3図Fに示すように第4のソース接続ライン交4に
電圧降下が発生する0本実施例においては、第3および
第4のMOSトランジスタ18.17のバックゲートに
第4の入力端子4の電位を印加するためのバックゲート
接続ライン見6を第4の入力端子4の近傍において第4
のソース接続547文4とは分岐して独立的に設けてい
る。したがって、MOSトランジスタ18.17のパッ
クケートに電位を印加するライン文6には電流が流れな
いために第4のソース接続ライン交4に電圧降下が発生
しても、第3図Gに示スようにMOS)ランジスタIE
i、17には電圧降下が発生しない。
タ14〜17のオンに対応して各ソース接続ラインfB
=Qaに電流が流れる0例えば、時点t2において第
4のMOS)ランジスタ17がオンすると、第1図に示
すように第4のソース接続ライン見4に電流I4が流れ
、第3図Fに示すように第4のソース接続ライン交4に
電圧降下が発生する0本実施例においては、第3および
第4のMOSトランジスタ18.17のバックゲートに
第4の入力端子4の電位を印加するためのバックゲート
接続ライン見6を第4の入力端子4の近傍において第4
のソース接続547文4とは分岐して独立的に設けてい
る。したがって、MOSトランジスタ18.17のパッ
クケートに電位を印加するライン文6には電流が流れな
いために第4のソース接続ライン交4に電圧降下が発生
しても、第3図Gに示スようにMOS)ランジスタIE
i、17には電圧降下が発生しない。
一方、第4のソース接続ライン交4には抵抗器22が介
設されているので、第4のMOSトランジスタ17から
第4の入力端子4までの間における抵抗値はライン文4
の抵抗と抵抗器22の抵抗とを加算したものとなり、電
流■4が流れると合成抵抗および′1tFtの大きさに
対応する電圧降下が発生する。例えば、抵抗器22の抵
抗が50(Ω)、第4のソース接続ライン14の抵抗が
10(Ω)であるときの電圧降下が18(V )である
場合、第4のソース接続547文4に流れる電流I4の
大きさは0.3(A )となり、従来の約局に減少する
。
設されているので、第4のMOSトランジスタ17から
第4の入力端子4までの間における抵抗値はライン文4
の抵抗と抵抗器22の抵抗とを加算したものとなり、電
流■4が流れると合成抵抗および′1tFtの大きさに
対応する電圧降下が発生する。例えば、抵抗器22の抵
抗が50(Ω)、第4のソース接続ライン14の抵抗が
10(Ω)であるときの電圧降下が18(V )である
場合、第4のソース接続547文4に流れる電流I4の
大きさは0.3(A )となり、従来の約局に減少する
。
このように、18(V)の電圧降下が発生することによ
り、第4のMOS)ランジスタ17のソース電位が18
(V)上昇した場合は、第3の入力端子3に入力されて
いる第3の電位v3よりも高くなってしまう。しかし1
本実施例においては第3および第4のトランジスタ18
.17のバックゲート電位は第2のバックゲート接続ラ
イン16を介して供給されているので、これらのバック
ゲート電位は第4の入力端子4に入力されている第4の
電位v4に保持される。したがって、第4のソース接続
ラインに電圧降下が発生してもラッチアップしない。
り、第4のMOS)ランジスタ17のソース電位が18
(V)上昇した場合は、第3の入力端子3に入力されて
いる第3の電位v3よりも高くなってしまう。しかし1
本実施例においては第3および第4のトランジスタ18
.17のバックゲート電位は第2のバックゲート接続ラ
イン16を介して供給されているので、これらのバック
ゲート電位は第4の入力端子4に入力されている第4の
電位v4に保持される。したがって、第4のソース接続
ラインに電圧降下が発生してもラッチアップしない。
なお、第4の入力端子4と、この入力端子4に第4の電
位V4を与えるオペアンプ(図示せず)間の配線抵抗お
よびオペアンプ自身の出力インピーダンスがあるので、
電流I4が流れるとこれらの抵抗および電流による電圧
降下も発生する。
位V4を与えるオペアンプ(図示せず)間の配線抵抗お
よびオペアンプ自身の出力インピーダンスがあるので、
電流I4が流れるとこれらの抵抗および電流による電圧
降下も発生する。
しかし、実施例の場合は流れる電流I4の大きさが従来
の同様な回路の約局に減っているので、出力回路の外部
状態が従来と同じ場合、すなわち、同じ条件で比較した
場合にはラッチアップの危険性が約局に低下する。
の同様な回路の約局に減っているので、出力回路の外部
状態が従来と同じ場合、すなわち、同じ条件で比較した
場合にはラッチアップの危険性が約局に低下する。
更に、実施例においては第11Nに示したように、高い
電位が与えられる第3の入力端子3にカソードを接続す
るとともに、低い電位が与えられる第4の入力端子4に
アノードを接続して、第3および第4の入力端子間にダ
イオード45を配設している。したがって、第4の入力
端子4の電位が第3の入力端子3の電位より高くなって
もこれらの端子間の電位差がダイオード45の順方向電
圧以下にクランプされるので、例えば、シリコンダイオ
ードで0.7(V) 、ゲルマニウムダイオードで0.
3(V) 、ショットキーダイオードで0.2(V )
以上は電位逆転が大きくはならず、したがってラッチア
ップしなくなる。
電位が与えられる第3の入力端子3にカソードを接続す
るとともに、低い電位が与えられる第4の入力端子4に
アノードを接続して、第3および第4の入力端子間にダ
イオード45を配設している。したがって、第4の入力
端子4の電位が第3の入力端子3の電位より高くなって
もこれらの端子間の電位差がダイオード45の順方向電
圧以下にクランプされるので、例えば、シリコンダイオ
ードで0.7(V) 、ゲルマニウムダイオードで0.
3(V) 、ショットキーダイオードで0.2(V )
以上は電位逆転が大きくはならず、したがってラッチア
ップしなくなる。
第4図は本発明をP−WELL構造のC−MOSに適用
した例を示す模式的な断面図、第5図は第4図における
サイリスタの構造を示す回路図である。第4図から明ら
かなように、PNP)ランジスタ25.NPN)ランジ
スタ28,2? 、抵抗28.29,30,31.22
によりサイリスタT2が構成されている。なお、第4図
および第5図において第1図と実質的に同一な部分につ
いては同一の符号を付している。
した例を示す模式的な断面図、第5図は第4図における
サイリスタの構造を示す回路図である。第4図から明ら
かなように、PNP)ランジスタ25.NPN)ランジ
スタ28,2? 、抵抗28.29,30,31.22
によりサイリスタT2が構成されている。なお、第4図
および第5図において第1図と実質的に同一な部分につ
いては同一の符号を付している。
サイリスタT2がこのように構成されることにより、第
4の入力端子4の電位V4が第3の入力端子3の電位V
3よりも0.7V以上大きくなるとNPN )ランジス
タ26がオンする。これにより、NPN)ランジスタ2
6のコレクタには、第1の入力端子lより抵抗器28.
29を通してベースに流れる電流のβ26倍(β26は
NPN)ランジスタ26の電流増幅率)の電流がコレク
タ電流が流れる。このコレクタ電流が流れることにより
抵抗器28の両端に電位差が生じ、この電位差がPNP
トランジスタ25のベース・エミッタに加わる。したが
って、抵抗器28の両端に0.7V以上の電位差が生じ
るとPNPトランジスタ25がオンとなり、そのベース
電流のβ25倍(β25はPNP トランジスタ25の
電流増幅率)の電流がコレクタに流れる。
4の入力端子4の電位V4が第3の入力端子3の電位V
3よりも0.7V以上大きくなるとNPN )ランジス
タ26がオンする。これにより、NPN)ランジスタ2
6のコレクタには、第1の入力端子lより抵抗器28.
29を通してベースに流れる電流のβ26倍(β26は
NPN)ランジスタ26の電流増幅率)の電流がコレク
タ電流が流れる。このコレクタ電流が流れることにより
抵抗器28の両端に電位差が生じ、この電位差がPNP
トランジスタ25のベース・エミッタに加わる。したが
って、抵抗器28の両端に0.7V以上の電位差が生じ
るとPNPトランジスタ25がオンとなり、そのベース
電流のβ25倍(β25はPNP トランジスタ25の
電流増幅率)の電流がコレクタに流れる。
このコレクタ電流は抵抗器30.31を通って第4の入
力端子4へ流れるので、PNPトランジスタ25がオン
すると抵抗器31の両端に電位差が生じる。抵抗器31
の両端に発生した電圧はNPN)ランジスタ27のベー
ス・エミッタに加えられるので、その大きさが0.7V
以上になるとNPN)ランジスタ27はオンとなり、ベ
ース電流のβ21倍(β21はNPNトランジスタ27
の電流増幅率)の:V流がコレクタからエミッタへ流れ
る。しかし、この場合、NPN )ランジスタ27のエ
ミッタに上記した電流制限用の抵抗器22が接続され、
ベース電流とコレクタ電流の合計がエミッタ電流として
抵抗器22を流れるために、抵抗器22の両端に電圧降
下が発生するので、ベース電流はそれほど大きく流れな
い。これは、NPNトランジスタ27のエミッタと第4
の入力端子4との間の抵抗値が、従来はラインlaの抵
抗値である10Ωだけであったのに対し、本実施例では
ライン文4の抵抗と抵抗器22の抵抗とを合計した抵抗
値60Ωになっている。すなわち、エミッタに接続され
る抵抗の大きさが6倍になっているので、エミッタ電流
は従来の1/6シか流れないことになる。つまり、NP
Nトランジスタ27がエミッタフォロワのように動作す
ることにより、NPN)ランジスタ27の入力インピー
ダンスが高い。したがって、PNPトランジスタ25の
コレクタ電流が増えて抵抗器31の両端に発生する電圧
が大きくなってもラッチアップしなくなる。
力端子4へ流れるので、PNPトランジスタ25がオン
すると抵抗器31の両端に電位差が生じる。抵抗器31
の両端に発生した電圧はNPN)ランジスタ27のベー
ス・エミッタに加えられるので、その大きさが0.7V
以上になるとNPN)ランジスタ27はオンとなり、ベ
ース電流のβ21倍(β21はNPNトランジスタ27
の電流増幅率)の:V流がコレクタからエミッタへ流れ
る。しかし、この場合、NPN )ランジスタ27のエ
ミッタに上記した電流制限用の抵抗器22が接続され、
ベース電流とコレクタ電流の合計がエミッタ電流として
抵抗器22を流れるために、抵抗器22の両端に電圧降
下が発生するので、ベース電流はそれほど大きく流れな
い。これは、NPNトランジスタ27のエミッタと第4
の入力端子4との間の抵抗値が、従来はラインlaの抵
抗値である10Ωだけであったのに対し、本実施例では
ライン文4の抵抗と抵抗器22の抵抗とを合計した抵抗
値60Ωになっている。すなわち、エミッタに接続され
る抵抗の大きさが6倍になっているので、エミッタ電流
は従来の1/6シか流れないことになる。つまり、NP
Nトランジスタ27がエミッタフォロワのように動作す
ることにより、NPN)ランジスタ27の入力インピー
ダンスが高い。したがって、PNPトランジスタ25の
コレクタ電流が増えて抵抗器31の両端に発生する電圧
が大きくなってもラッチアップしなくなる。
マタ、NPNトランジスタ27のエミッタの電位が上昇
することによりコレクタ電流にリミッタがかかるので、
抵抗器28の両端に大きな電圧降下が発生するのが抑制
される。これにより、はとんどの場合抵抗器28の両端
に発生する電圧降下はPNPトランジスタ25のベース
・エミッタ電圧以下に抑制され、ラッチアップは発生し
なくなる。そして、例えばSps後に第4の入力端子4
の電位が元の第4の電位v4に戻りNPI’1ランジス
タ26がオフになるとPNP トランジスタ25もオフ
になるので、ラッチアップは回避される。
することによりコレクタ電流にリミッタがかかるので、
抵抗器28の両端に大きな電圧降下が発生するのが抑制
される。これにより、はとんどの場合抵抗器28の両端
に発生する電圧降下はPNPトランジスタ25のベース
・エミッタ電圧以下に抑制され、ラッチアップは発生し
なくなる。そして、例えばSps後に第4の入力端子4
の電位が元の第4の電位v4に戻りNPI’1ランジス
タ26がオフになるとPNP トランジスタ25もオフ
になるので、ラッチアップは回避される。
更に、本実施例においては第3の入力端子3と第4の入
力端子4との間にダイオード45が設けられている。し
たがって、この間における電位逆転はダイオード45の
順方向電圧以下に抑えられるので、電位逆転によるラッ
チアップはなくなる。
力端子4との間にダイオード45が設けられている。し
たがって、この間における電位逆転はダイオード45の
順方向電圧以下に抑えられるので、電位逆転によるラッ
チアップはなくなる。
なお、上記実施例ではP−WELL構造において最低電
位側に本発明を適用した例を示したが、N−WELL構
造において最低電位側に適用した場合も同様であり、説
明を省略する。
位側に本発明を適用した例を示したが、N−WELL構
造において最低電位側に適用した場合も同様であり、説
明を省略する。
次に、本発明を最高電位側に適用した第2図の例につい
て説明する。
て説明する。
この例の場合には、第1の入力端子lと第1のMOS)
ランジスタ14のソースとを接続する第1のソース接続
ライン交1に電流制限用の抵抗器23が介設される。ま
た、第1および第2のMOSトランジスタ14.15に
第1の入力端子lの電位を与えるためバックゲート接続
ライン交5が設けられるとともに、第1および第2の入
力端子1,2がダイオード46を介して短絡される。
ランジスタ14のソースとを接続する第1のソース接続
ライン交1に電流制限用の抵抗器23が介設される。ま
た、第1および第2のMOSトランジスタ14.15に
第1の入力端子lの電位を与えるためバックゲート接続
ライン交5が設けられるとともに、第1および第2の入
力端子1,2がダイオード46を介して短絡される。
このように構成された第2図の実施例の回路の動作を第
6図の動作波形図に従って説明する。
6図の動作波形図に従って説明する。
先ず、第6図A−Dに示すように時点to において第
1〜第3の制御信号入力端子18,19.20に与える
制御信号18a、19a、20aの信号レベルを高レベ
ルにするとともに、第4の制御信号入力端子21にかえ
る制御信号21aの信号レベルを低レベルにする。これ
により、第3のMOS)ランジスタ16がオンするとと
もに他のMOS)ランジスタ14,15゜17がオフし
、第6図Eに示すように第3の入力端子3に与えられて
いる第3の電位V3が選択され、出力電圧VOとして出
力端子5から出力される。
1〜第3の制御信号入力端子18,19.20に与える
制御信号18a、19a、20aの信号レベルを高レベ
ルにするとともに、第4の制御信号入力端子21にかえ
る制御信号21aの信号レベルを低レベルにする。これ
により、第3のMOS)ランジスタ16がオンするとと
もに他のMOS)ランジスタ14,15゜17がオフし
、第6図Eに示すように第3の入力端子3に与えられて
いる第3の電位V3が選択され、出力電圧VOとして出
力端子5から出力される。
次に時点1.において第3および第4の選択信号20a
、21aの信号レベルを反転させると第4のMOS)ラ
ンジスタ17のみが動作するようになり、第4の入力端
子4に与えられている第4の電位v4が選択されて出力
端子5から出力される。
、21aの信号レベルを反転させると第4のMOS)ラ
ンジスタ17のみが動作するようになり、第4の入力端
子4に与えられている第4の電位v4が選択されて出力
端子5から出力される。
また1時点t2において第1の選択信号18a。
21aを反転させると第1の入力端子1に与えられてい
る第1の電位v1が選択され、次に、時点t3において
第1および第2の選択信号18a、19aを反転させる
と第2の入力端子2に与えられている第2の電位v2が
選択され、出力端子5から順次出力される。
る第1の電位v1が選択され、次に、時点t3において
第1および第2の選択信号18a、19aを反転させる
と第2の入力端子2に与えられている第2の電位v2が
選択され、出力端子5から順次出力される。
このようにして動作しているので、第1のMOSトラン
ジスタ14がオンするごとに第1のソース接続ライン文
1に電流が流れる。本実施例では第1および第2のMO
3+−ランジスタ14.15のバックゲートにilの入
力端子1の電位を与えるためのライング5をソース接続
ラインMl とは別に設けているので、第6図Fに示
すように第1のMOSトランジスタ14がオンして電流
が流れて電圧降下が発生しても、第6図Gに示すように
第1および第2のMOS)ランジスタのバックゲートに
は電圧降下が発生しない。
ジスタ14がオンするごとに第1のソース接続ライン文
1に電流が流れる。本実施例では第1および第2のMO
3+−ランジスタ14.15のバックゲートにilの入
力端子1の電位を与えるためのライング5をソース接続
ラインMl とは別に設けているので、第6図Fに示
すように第1のMOSトランジスタ14がオンして電流
が流れて電圧降下が発生しても、第6図Gに示すように
第1および第2のMOS)ランジスタのバックゲートに
は電圧降下が発生しない。
一方、第1のソース接続ライン交1には電流制限用の抵
抗器23が介設されているので、第1のMOSトランジ
スタと第1の入力端子1間の抵抗はライン文1自体の抵
抗値と抵抗器23の抵抗値とを合計したものとなり、電
流が流れると大きな電圧降下が発生する0例えば18V
の電圧降下が発生した場合における配線抵抗の大きさが
10Ω、抵抗器23の抵抗値が50Ωならばラインfl
+ に流れる電流は0.3Aとなる。この場合、第1の
MOSトランジスタ14に印加される電位は18V低下
して第2の入力端子2に与えられている第2の電位V2
よりも低くなってしまうが、第1および第2のMOSト
ランジスタ14.15のバックゲートが第1の電位■1
に保持されているのでラッチアップしない。
抗器23が介設されているので、第1のMOSトランジ
スタと第1の入力端子1間の抵抗はライン文1自体の抵
抗値と抵抗器23の抵抗値とを合計したものとなり、電
流が流れると大きな電圧降下が発生する0例えば18V
の電圧降下が発生した場合における配線抵抗の大きさが
10Ω、抵抗器23の抵抗値が50Ωならばラインfl
+ に流れる電流は0.3Aとなる。この場合、第1の
MOSトランジスタ14に印加される電位は18V低下
して第2の入力端子2に与えられている第2の電位V2
よりも低くなってしまうが、第1および第2のMOSト
ランジスタ14.15のバックゲートが第1の電位■1
に保持されているのでラッチアップしない。
また、第1の入力端子1と直流電圧源(図示せず)との
間において電圧降下が発生するが、これらの間を接続す
る配線に流れる電流の大きさが従来の局に減っているの
で、出力回路の外部の条件が従来と同じ場合におけるラ
ッチアップの危険性を従来の約届に減らすことができる
。
間において電圧降下が発生するが、これらの間を接続す
る配線に流れる電流の大きさが従来の局に減っているの
で、出力回路の外部の条件が従来と同じ場合におけるラ
ッチアップの危険性を従来の約届に減らすことができる
。
更に、この場合は第1および第2の入力端子1.2間に
ダイオード46が接続されているので、これらの入力端
子間に電位の逆転が起きても逆転電圧はダイオード46
の順方向電圧にクランプされるのでラッチアップが防止
される。
ダイオード46が接続されているので、これらの入力端
子間に電位の逆転が起きても逆転電圧はダイオード46
の順方向電圧にクランプされるのでラッチアップが防止
される。
ところで、飽和電流は約局に減少するものの非飽和電流
は従来と同様であるので、例えばLCDの様な容量性の
負荷を駆動する場合には、充放電に要する時間が約2.
5倍になる。しかし、従来から充放電時間は非常に短く
、例えば約1ps程度である、したがって、充放電時間
が2.5倍となることによりこれが約2.5μsになっ
たとしてもデユーティが1/200〜1/400程度の
LCDにおける充放電時間は72μs〜38JLs<ら
いあるので、波形のなまりは約3.5〜7%程度と僅か
であり、特に問題はない。
は従来と同様であるので、例えばLCDの様な容量性の
負荷を駆動する場合には、充放電に要する時間が約2.
5倍になる。しかし、従来から充放電時間は非常に短く
、例えば約1ps程度である、したがって、充放電時間
が2.5倍となることによりこれが約2.5μsになっ
たとしてもデユーティが1/200〜1/400程度の
LCDにおける充放電時間は72μs〜38JLs<ら
いあるので、波形のなまりは約3.5〜7%程度と僅か
であり、特に問題はない。
第7図は、第2図の回路図の出力部をPWELL構造の
C−MO3断面で表わした図、第8図は、第7図におけ
るサイリスタの回路図である。
C−MO3断面で表わした図、第8図は、第7図におけ
るサイリスタの回路図である。
第7図および第8図に示すように、PNP)ランジスタ
32,25 、 NPN トランジスタ27.抵抗器
28.29,30,31.23によってサイリスタT3
が形成される。このサイリスタT3においては、入力端
子1に笑えられる電位が入力端子2に与えられる電位よ
りも0.7V以上低くなるとPNP )ランジスタ32
がオンする。これにより、PNP)ランジスタ32のコ
レクタにはベース電流のβ32倍(β32はPNP ト
ランジスタ32の電流増幅率)のコレクタ電流が流れる
。このコレクタ電流は抵抗器30.31を通って第4の
入力端子4へ流れるので、この場合抵抗器31の両端に
電圧降下が発生する。抵抗器31の両端の電圧がNPN
トランジスタ27のベース・エミッタに加えられるので
、電圧降下の大きさが0.7V以上になるとNPNIラ
ンジスタ27はオンする。これにより、NPNトランジ
スタ27のコレクタには、そのベース電流のβ21倍(
β21はNPN)ランジスタ27の電流増幅率)のコレ
クタ電流が流れる。このコレクタ電流は第1の入力端子
1から抵抗器28.29を通ってNPN トランジスタ
27のコレクタに流れるので、このときに抵抗器28の
両端に電圧降下が発生する。この電圧降下が0.7V以
上になると、抵抗器28の両端の電圧がそのベースφエ
ミッタに与えられるPNP )ランジスタ25がオンと
なり、ベース電流のβ25倍(β25はPNP)ランジ
スタ25の電流増幅率)の電流がエミッタからコレクタ
へ流れる。
32,25 、 NPN トランジスタ27.抵抗器
28.29,30,31.23によってサイリスタT3
が形成される。このサイリスタT3においては、入力端
子1に笑えられる電位が入力端子2に与えられる電位よ
りも0.7V以上低くなるとPNP )ランジスタ32
がオンする。これにより、PNP)ランジスタ32のコ
レクタにはベース電流のβ32倍(β32はPNP ト
ランジスタ32の電流増幅率)のコレクタ電流が流れる
。このコレクタ電流は抵抗器30.31を通って第4の
入力端子4へ流れるので、この場合抵抗器31の両端に
電圧降下が発生する。抵抗器31の両端の電圧がNPN
トランジスタ27のベース・エミッタに加えられるので
、電圧降下の大きさが0.7V以上になるとNPNIラ
ンジスタ27はオンする。これにより、NPNトランジ
スタ27のコレクタには、そのベース電流のβ21倍(
β21はNPN)ランジスタ27の電流増幅率)のコレ
クタ電流が流れる。このコレクタ電流は第1の入力端子
1から抵抗器28.29を通ってNPN トランジスタ
27のコレクタに流れるので、このときに抵抗器28の
両端に電圧降下が発生する。この電圧降下が0.7V以
上になると、抵抗器28の両端の電圧がそのベースφエ
ミッタに与えられるPNP )ランジスタ25がオンと
なり、ベース電流のβ25倍(β25はPNP)ランジ
スタ25の電流増幅率)の電流がエミッタからコレクタ
へ流れる。
PNPトランジスタ25のエミッタには上述した電流制
御用の抵抗器23が介設されているので、この抵抗器2
3にベース電流とコレクタ電流とを合計した′It流が
流れるとその両端に大きな電圧降下が発生ずる。このた
め、PNP)ランジスタ25においては大きなベース電
流が流れない。すなわち、PNP )ランジスタ25の
エミッタに接続される抵抗値が従来の6倍になっている
ので、ベース電圧が従来と同じならばベース電流は約1
76に減少する。つまり、電流制限用の抵抗器23が接
続されることによりPNP)ランジスタ25がエミッタ
フォロアのように動作する。したがって、PNPトラン
ジスタ25はベース電流が増加しないのでコレクタ電流
も増加せずラッチアップしなくなる。
御用の抵抗器23が介設されているので、この抵抗器2
3にベース電流とコレクタ電流とを合計した′It流が
流れるとその両端に大きな電圧降下が発生ずる。このた
め、PNP)ランジスタ25においては大きなベース電
流が流れない。すなわち、PNP )ランジスタ25の
エミッタに接続される抵抗値が従来の6倍になっている
ので、ベース電圧が従来と同じならばベース電流は約1
76に減少する。つまり、電流制限用の抵抗器23が接
続されることによりPNP)ランジスタ25がエミッタ
フォロアのように動作する。したがって、PNPトラン
ジスタ25はベース電流が増加しないのでコレクタ電流
も増加せずラッチアップしなくなる。
また、PNPトランジスタ25のコレクタ電流が増加し
ないので、第1の入力端子lの電位が元の電位に戻った
ときの抵抗器31の電圧降下は0.7V以下であり、チ
ー2チアツブしなくなる。
ないので、第1の入力端子lの電位が元の電位に戻った
ときの抵抗器31の電圧降下は0.7V以下であり、チ
ー2チアツブしなくなる。
更に入力端子lと2との間にダイオード46を接続して
いるので、これらの間における電位の逆転はダイオード
46の順方向電圧以上にはならない。
いるので、これらの間における電位の逆転はダイオード
46の順方向電圧以上にはならない。
したがって、電位逆転によってPNP hランジメタ3
2がオンする不都合がなく、電位逆転によるう、チアツ
ブが確実に防止される。
2がオンする不都合がなく、電位逆転によるう、チアツ
ブが確実に防止される。
なお、上述したような動作はN−WE L L構造にお
いて最高電位側に本発明を適用した場合でも同様に行な
われる。
いて最高電位側に本発明を適用した場合でも同様に行な
われる。
なお、上記ダイオード45.46をICに内蔵する場合
には、最高または、最低電位入力端子と、複数の中間入
力電位入力端子の全てに、ダイオードを付ける場合と、
これらの内のただ1ケ所のみに付ける場合とがある。し
かし、このダイオードを外付けする場合には、IC1つ
に、1つ以上のダイオードを付ける必要は無い。以下こ
の説明をする。
には、最高または、最低電位入力端子と、複数の中間入
力電位入力端子の全てに、ダイオードを付ける場合と、
これらの内のただ1ケ所のみに付ける場合とがある。し
かし、このダイオードを外付けする場合には、IC1つ
に、1つ以上のダイオードを付ける必要は無い。以下こ
の説明をする。
第13図の従来回路を、出力端子数が多数(たとえば8
0)あるLCD駆動用ICに使用し、このICを8個使
用してLCDパネルを駆動した場合には以下の問題が発
生する。
0)あるLCD駆動用ICに使用し、このICを8個使
用してLCDパネルを駆動した場合には以下の問題が発
生する。
すなわち、容量負荷のLCD (たとえばl出力部たり
600PFとすると、80出力で48NF)を駆動す
る場合、充電したLCDを放電すると、瞬間0.96A
:約IA)がICの第4の入力端子4から、オペアン
プ24の出力側へ流れる。したがって、合計8個のIC
を使用すると、オペアンプ24には8Aの’、tiが流
れることになる。
600PFとすると、80出力で48NF)を駆動す
る場合、充電したLCDを放電すると、瞬間0.96A
:約IA)がICの第4の入力端子4から、オペアン
プ24の出力側へ流れる。したがって、合計8個のIC
を使用すると、オペアンプ24には8Aの’、tiが流
れることになる。
ところで、−・般にオペアンプには発振防止用及び出カ
シヨード時の保護として低抵抗(たとえば1Ω)が出力
に入っており、又出力の電流容蓼は、10〜100mA
程度しか無い。したがってこのオペアンプの出力に、パ
ワーブースターを刊けた場合でも、流れる電流は1〜2
A程度である。
シヨード時の保護として低抵抗(たとえば1Ω)が出力
に入っており、又出力の電流容蓼は、10〜100mA
程度しか無い。したがってこのオペアンプの出力に、パ
ワーブースターを刊けた場合でも、流れる電流は1〜2
A程度である。
よって、8Aの電流が流れると最低でも8■程度の′電
圧降下が発生するので、第3のMOSトランジスタ16
はソース電位よりもバック電位が高くなってしまい、ラ
ッチアップしてしまう。
圧降下が発生するので、第3のMOSトランジスタ16
はソース電位よりもバック電位が高くなってしまい、ラ
ッチアップしてしまう。
第9図は、第4の電位を作っているオペアンプ24と、
8個の80出力駆動IC55〜62及び、その間の配線
インピーダンス47〜54を含めた結線図である。
8個の80出力駆動IC55〜62及び、その間の配線
インピーダンス47〜54を含めた結線図である。
第9図において、インピーダンス47〜54は、基板の
配線抵抗やライン結線抵抗であり、これらの基板やライ
ンを構成するための部材として一般に銅を使用するため
、抵抗成分としては、数10mΩ〜数100mΩである
。したがって、配線インピーダンス47の結線が1m程
度あっても、その抵抗値は数100mΩ程度である。ま
た、配線インピーダンス48〜54の結線が10c層程
度であるとすると、抵抗値は数10mΩ程度であり、電
圧降下としてはIV程度である。すなわち、例えば配線
インピーダンス47が100mΩ、配線インピーダンス
48〜54がIonΩとすると、全抵抗は170mΩと
なる。したがって、電圧降下は1.08V 、配線イン
ピーダンス47が30mΩとしても、全抵抗は100m
Ωで、電圧降下は0.52Vとなる。しかし、インダク
タンス成分は、配線インピーダンス47の結線が1m程
度で数JLH,配線インピーダンス48〜54が10c
m程度で数 100N Hである。一方、1g3間に電
流の増減があるとすると、これは周波数成分としては少
なくとも2 M HZである。したがって、配線インピ
ーダンス47は、2πfL=2 X3.14X 2 M
X lルH= 12.5G(Ω)となる。また、各配線
インピーダンス48〜54も同様に、1.256(Ω)
となる。よって、これらのインビータンスによる電圧降
下は 135.Ei48Vとなる。この場合、配線イン
ピーダンス47が30cm程度で3.718(Ω)であ
っても135.312Vとなるものの、実際には最高電
位と最低電位との電位差が20(V)しかないので、こ
こまで電圧降下は発生しないが、最高電位付近まで上昇
してラッチアップすることは11白である。
配線抵抗やライン結線抵抗であり、これらの基板やライ
ンを構成するための部材として一般に銅を使用するため
、抵抗成分としては、数10mΩ〜数100mΩである
。したがって、配線インピーダンス47の結線が1m程
度あっても、その抵抗値は数100mΩ程度である。ま
た、配線インピーダンス48〜54の結線が10c層程
度であるとすると、抵抗値は数10mΩ程度であり、電
圧降下としてはIV程度である。すなわち、例えば配線
インピーダンス47が100mΩ、配線インピーダンス
48〜54がIonΩとすると、全抵抗は170mΩと
なる。したがって、電圧降下は1.08V 、配線イン
ピーダンス47が30mΩとしても、全抵抗は100m
Ωで、電圧降下は0.52Vとなる。しかし、インダク
タンス成分は、配線インピーダンス47の結線が1m程
度で数JLH,配線インピーダンス48〜54が10c
m程度で数 100N Hである。一方、1g3間に電
流の増減があるとすると、これは周波数成分としては少
なくとも2 M HZである。したがって、配線インピ
ーダンス47は、2πfL=2 X3.14X 2 M
X lルH= 12.5G(Ω)となる。また、各配線
インピーダンス48〜54も同様に、1.256(Ω)
となる。よって、これらのインビータンスによる電圧降
下は 135.Ei48Vとなる。この場合、配線イン
ピーダンス47が30cm程度で3.718(Ω)であ
っても135.312Vとなるものの、実際には最高電
位と最低電位との電位差が20(V)しかないので、こ
こまで電圧降下は発生しないが、最高電位付近まで上昇
してラッチアップすることは11白である。
したがって、この条件でダイオード45.46を外付け
するときには、IC1つについて必ず1つ付ける必要が
ある。
するときには、IC1つについて必ず1つ付ける必要が
ある。
しかし、LCDの容量値が174になり、また電源の配
線を強化することにより、配線のインピーダンスを1/
4に低下させると以下の様になる。
線を強化することにより、配線のインピーダンスを1/
4に低下させると以下の様になる。
すなわち、インピーダンス47を流れる電流は2Aとな
り、第1の接続点63の電位は8.284V上昇する(
ただし、インピーダンス47= 3.、142(Ω)で
長さ1mのとき)。また、インピーダンス470.94
2(Ω)で長さ30cm(7)ときには、3.768
Vとなる。よってIC55の第4の電位v4と第3の電
位■3の電位入力端子間にダイオードが必要となる。こ
のダイオードに、ショットキーダイオードを使用すると
電位逆転を0.2■でクランプすることができる。
り、第1の接続点63の電位は8.284V上昇する(
ただし、インピーダンス47= 3.、142(Ω)で
長さ1mのとき)。また、インピーダンス470.94
2(Ω)で長さ30cm(7)ときには、3.768
Vとなる。よってIC55の第4の電位v4と第3の電
位■3の電位入力端子間にダイオードが必要となる。こ
のダイオードに、ショットキーダイオードを使用すると
電位逆転を0.2■でクランプすることができる。
インピーダンス48を流れる電流が1.75Aの場合、
第2の接続点64の電位が0.5495V上昇する(イ
ンピーダンス48= 0.314(Ω)で長さ10cs
+のとさ)。しかし、第1の接続点63の電位がすでに
、0.2v七昇しているので、電圧降下の合計は0.7
495Vである。したがって、IC5Bの第4の電位v
4と第3の電位■3 とが入力される端子間にダイオー
ドが必要となる。このダイオードに、ショットキーダイ
オードを使用すると、 0.2■でクランプすることが
できる。インピーダンス49を流れる電流は1.5Aで
あり、第3の接続点65の電位は0.471V上昇する
。しかし第2の接続点64の電位は、すでに0.2v上
昇しているので合計0.671Vとなる。この電圧は、
トランジスタのベース・エミッタ電圧(0,7V )以
下なのでラッチアップしない、したがってIC57の入
力端子4゜3間にダイオードは不要である。
第2の接続点64の電位が0.5495V上昇する(イ
ンピーダンス48= 0.314(Ω)で長さ10cs
+のとさ)。しかし、第1の接続点63の電位がすでに
、0.2v七昇しているので、電圧降下の合計は0.7
495Vである。したがって、IC5Bの第4の電位v
4と第3の電位■3 とが入力される端子間にダイオー
ドが必要となる。このダイオードに、ショットキーダイ
オードを使用すると、 0.2■でクランプすることが
できる。インピーダンス49を流れる電流は1.5Aで
あり、第3の接続点65の電位は0.471V上昇する
。しかし第2の接続点64の電位は、すでに0.2v上
昇しているので合計0.671Vとなる。この電圧は、
トランジスタのベース・エミッタ電圧(0,7V )以
下なのでラッチアップしない、したがってIC57の入
力端子4゜3間にダイオードは不要である。
インピーダンス50を流れる電流は125Aであり、第
4の接続点66の電位は0.3925V上昇する。
4の接続点66の電位は0.3925V上昇する。
この場合、第3の接続点65の電位は0.671V上昇
しているので、第4の接続点66の電位は合計1.0E
i35Vとなる。したがってこの場合はIC58の入力
端子4.3間にダイオードが必要となる。このダイオー
ドにショットキーダイオードを使用すると、 0.2■
でクランプすることができる。
しているので、第4の接続点66の電位は合計1.0E
i35Vとなる。したがってこの場合はIC58の入力
端子4.3間にダイオードが必要となる。このダイオー
ドにショットキーダイオードを使用すると、 0.2■
でクランプすることができる。
インピーダンス51を流れる電流はIAであり、第5の
接続点67の電位は、0.314 Vと0.2Vとを合
計した値0.514V上昇する。この電位は0.7V以
下であり、ラッチアップを起さない為IC59の入力端
子4,3間にダイオードは不要である。
接続点67の電位は、0.314 Vと0.2Vとを合
計した値0.514V上昇する。この電位は0.7V以
下であり、ラッチアップを起さない為IC59の入力端
子4,3間にダイオードは不要である。
インピーダンス52を流れる電流は0.75Aであり、
第6の接続点68の電位は0.2355+ 0.314
+0.2 =0.7495V上昇する。よってICE
i、0の入力端子4.3間にダイオードが必要になる。
第6の接続点68の電位は0.2355+ 0.314
+0.2 =0.7495V上昇する。よってICE
i、0の入力端子4.3間にダイオードが必要になる。
このダイオードにショットキーダイオードを使用すると
、0.2■でクランプすることができる。
、0.2■でクランプすることができる。
インピーダンス53を流れる電流は0.5Aであり、第
7の接続点69の電位は0.157+ Q、2=0.3
57 V上昇する。この電位は0.7v以下であり、ラ
ッチアップを起さない為IC61の入力端子4.3間に
ダイオードは不要である。
7の接続点69の電位は0.157+ Q、2=0.3
57 V上昇する。この電位は0.7v以下であり、ラ
ッチアップを起さない為IC61の入力端子4.3間に
ダイオードは不要である。
インピーダンス54を流れる電流は0.25Aであり、
第8の接続点70の電位は0.0785+ 0.357
V上昇する。この電位は0.7v以下なのでラッチアッ
プを起さない為、IC82の入力端子4.3間にダイオ
ードは不要である。
第8の接続点70の電位は0.0785+ 0.357
V上昇する。この電位は0.7v以下なのでラッチアッ
プを起さない為、IC82の入力端子4.3間にダイオ
ードは不要である。
以北、この条件のもとではI C55,56,58,G
Oの各入力端子4,3間にダイオードを設ける必要があ
る。また、I C57,59,81,f32は入力端子
4,3間にダイオードを設ける必要がない。
Oの各入力端子4,3間にダイオードを設ける必要があ
る。また、I C57,59,81,f32は入力端子
4,3間にダイオードを設ける必要がない。
上記説明は端子4,3間で述べたが、同様に最高電位V
l と中間電位V2とが入力される端子間でも同様で
あり説明を省略する。
l と中間電位V2とが入力される端子間でも同様で
あり説明を省略する。
なお、前記説明で電流や配線インピーダンスがさらに低
下した場合には、ダイよ一ドを付ける必要があるICは
さらに減少し、最少は1つ付ければよくなるまで減少す
る。
下した場合には、ダイよ一ドを付ける必要があるICは
さらに減少し、最少は1つ付ければよくなるまで減少す
る。
なお、上述の実施例では4レベルを出力する場合につい
て説明したが、本発明は、本文中の説明から明らかなよ
うに、3レベル、以上の多値レベルを出力する全ての回
路に適用することができる。
て説明したが、本発明は、本文中の説明から明らかなよ
うに、3レベル、以上の多値レベルを出力する全ての回
路に適用することができる。
なお、第1O図および第11図の回路図に示すように、
低電位側または高電位側の何れか一方の側にのみバック
ゲート接続ラインを設けるようにしてもよく、第12図
の回路図に示すように、低電位側および高電位側の両方
にバックゲート接続ラインを設けるようにしてもよい。
低電位側または高電位側の何れか一方の側にのみバック
ゲート接続ラインを設けるようにしてもよく、第12図
の回路図に示すように、低電位側および高電位側の両方
にバックゲート接続ラインを設けるようにしてもよい。
なお、第10〜第12図には2個しか示されていないが
、実施例の多値レベル出力回路には、各入力端子1,2
,3.4に与えられる電位を選択する選択回路42.4
3が例えば80個設けられている。選択回路43は選択
回路42と同一に構成され、選択回路42における電位
選択用の第1〜第4のMOS)ラジスタ14〜17に対
応して第1〜第4のMOSトランジスタ34〜37が設
けられているとともに、出力端子5に対応して出力端子
33が設けられている。また、第1〜第4の信号入力端
子18〜21に対応して第1〜第4の信号入力端子38
〜41が設けられていて、これらの選択回路42.43
は各信号入力端子18〜21および38〜41に与えら
れる制御信号に応じた動作を行ない、全ての選択回路4
2.43が同じ動作を行なったときに最大電流が流れる
。また、電流制限用の抵抗器22.23やダイオード4
5.48等は必ずしも全てに設ける必要はなく、必要に
応じて設ければよい。なお、上記抵抗器22や23等を
設ける場合には、上述の実施例で示したように、各選択
回路42.43・・・に共通なソース接続ライン中に1
つ設けてもよく、また各種選択回路42.43・・・に
個別に設けてもよい。このように個別に抵抗器を設ける
場合、金属と比較して比較的抵抗値の大きいポリシリコ
ン等を使用してジャンパー配線を行なうことにより、ジ
ャンパー配線と抵抗器の形成を同時に行なうことができ
る。
、実施例の多値レベル出力回路には、各入力端子1,2
,3.4に与えられる電位を選択する選択回路42.4
3が例えば80個設けられている。選択回路43は選択
回路42と同一に構成され、選択回路42における電位
選択用の第1〜第4のMOS)ラジスタ14〜17に対
応して第1〜第4のMOSトランジスタ34〜37が設
けられているとともに、出力端子5に対応して出力端子
33が設けられている。また、第1〜第4の信号入力端
子18〜21に対応して第1〜第4の信号入力端子38
〜41が設けられていて、これらの選択回路42.43
は各信号入力端子18〜21および38〜41に与えら
れる制御信号に応じた動作を行ない、全ての選択回路4
2.43が同じ動作を行なったときに最大電流が流れる
。また、電流制限用の抵抗器22.23やダイオード4
5.48等は必ずしも全てに設ける必要はなく、必要に
応じて設ければよい。なお、上記抵抗器22や23等を
設ける場合には、上述の実施例で示したように、各選択
回路42.43・・・に共通なソース接続ライン中に1
つ設けてもよく、また各種選択回路42.43・・・に
個別に設けてもよい。このように個別に抵抗器を設ける
場合、金属と比較して比較的抵抗値の大きいポリシリコ
ン等を使用してジャンパー配線を行なうことにより、ジ
ャンパー配線と抵抗器の形成を同時に行なうことができ
る。
また、本発明はMOS)ランジスタによるスイッチのみ
ならず、例えばP−MOSとN−MOSの両方を用いた
アナログスイッチによる選択回路に適用することができ
る。
ならず、例えばP−MOSとN−MOSの両方を用いた
アナログスイッチによる選択回路に適用することができ
る。
〈発明の効果〉
請求項1の発明は、MOSトランジスタのバックゲート
に所定の電位を供給するためのバックゲート接続ライン
をソースに所定の電位を供給するだめのソース接続ライ
ンとは別に設けたので、大電流が流れることにより上記
ソース接続ラインに電圧降下が発生しても上記バックゲ
ートの電位が変動しないようにすることができ、電位逆
転によるラッチアップが生じないようにすることができ
る。
に所定の電位を供給するためのバックゲート接続ライン
をソースに所定の電位を供給するだめのソース接続ライ
ンとは別に設けたので、大電流が流れることにより上記
ソース接続ラインに電圧降下が発生しても上記バックゲ
ートの電位が変動しないようにすることができ、電位逆
転によるラッチアップが生じないようにすることができ
る。
請求項2の発明は、MOS)ランジスタのソースに所定
の電位を供給するためのソース接続ラインに抵抗器を介
設したので、上記ソース接続ラインに流れる電流を減少
させることができ、ラッチアップのトリガーとなる電位
の逆転を生じにくくしてラッチアップの危険性を低下さ
せることができる。
の電位を供給するためのソース接続ラインに抵抗器を介
設したので、上記ソース接続ラインに流れる電流を減少
させることができ、ラッチアップのトリガーとなる電位
の逆転を生じにくくしてラッチアップの危険性を低下さ
せることができる。
請求項3の発明は、それぞれに所定の電位が入力される
2つの入力端子間に、低い電位が入力される入力端子に
アノードを接続するとともに、高い電位が入力される入
力端子にカソードを接続してダイオードを設けたので、
上記2つの入力端子間における電位逆転を上記ダイオー
ドの順方向電圧以内に抑えることができ、電位逆転によ
るラッチアップを防止することができる。
2つの入力端子間に、低い電位が入力される入力端子に
アノードを接続するとともに、高い電位が入力される入
力端子にカソードを接続してダイオードを設けたので、
上記2つの入力端子間における電位逆転を上記ダイオー
ドの順方向電圧以内に抑えることができ、電位逆転によ
るラッチアップを防止することができる。
第1図は、本発明を低電位側に適用した例を示す回路図
、 第2図は、本発明を高電位側に適用した例を示す回路図
。 第3図は、第1図の回路図の各部の動作を説明するため
の動作波形図、 第4図は、第1図の回路図の出力部をP−WELL構造
のC−MOS断面で表わした図、第5図は、第4図にお
けるサイリスタ構造を示す回路図。 第6図は、第2図の回路図の各部の動作を説明するため
の動作波形図、 第7図は、第2図の回路図の出力部をP−WELL構造
のC−MOS断面で表わした図、第8図は、第7図にお
けるサイリスタ構造を示す回路図、 第9図は、外部配線状態の概略を示す配線図、第10図
は、第1図と異なる実施例を示す多値レベル出力回路の
回路図、 第11図は、第1図および第10図と異なる実施例を示
す多値レベル出力回路の回路図、 第12図は、第1図、第10図および第11図と異なる
実施例を示す多値レベル出力回路の回路図、第13図は
、従来の多値レベル出力回路の一例を示す回路図、 第14図は、第13図の回路図の出力部をP−WELL
構造のC−MOS断面で表わした図、第15図は、第1
4図におけるサイリスタ構造を示す回路図である。 l・・・第1の入力端子、 2・・・第2の入力端子。 3・・・第3の入力端子、 4・・・第4の入力端子。 5・・・出力端子。 14・・・第1のMOS)ランジスタ。 15・・・第2のMOS)ランジスタ。 16・・・第3のMOSトランジスタ。 17・・・第4のMOS)ランジスタ。 1日・・・第1の制御信号入力端子。 19・・・第2の制御信号入力端子。 20・・・第3の制御信号入力端子。 21・・・第4の制御信号入力端子。 22.23・・・電流制限用抵抗器。 42.43・・・選択回路。 見1〜旦4・・・第1〜第4のソース接続ライン。 !;L5.文6・・・第1.第2の バックゲート接続ライン。 Vl・・・第1の電位、 V2・・・第2の電位。 V3・・・第3の電位、 V4・・・第4の電位。 VO・・・出力電位。
、 第2図は、本発明を高電位側に適用した例を示す回路図
。 第3図は、第1図の回路図の各部の動作を説明するため
の動作波形図、 第4図は、第1図の回路図の出力部をP−WELL構造
のC−MOS断面で表わした図、第5図は、第4図にお
けるサイリスタ構造を示す回路図。 第6図は、第2図の回路図の各部の動作を説明するため
の動作波形図、 第7図は、第2図の回路図の出力部をP−WELL構造
のC−MOS断面で表わした図、第8図は、第7図にお
けるサイリスタ構造を示す回路図、 第9図は、外部配線状態の概略を示す配線図、第10図
は、第1図と異なる実施例を示す多値レベル出力回路の
回路図、 第11図は、第1図および第10図と異なる実施例を示
す多値レベル出力回路の回路図、 第12図は、第1図、第10図および第11図と異なる
実施例を示す多値レベル出力回路の回路図、第13図は
、従来の多値レベル出力回路の一例を示す回路図、 第14図は、第13図の回路図の出力部をP−WELL
構造のC−MOS断面で表わした図、第15図は、第1
4図におけるサイリスタ構造を示す回路図である。 l・・・第1の入力端子、 2・・・第2の入力端子。 3・・・第3の入力端子、 4・・・第4の入力端子。 5・・・出力端子。 14・・・第1のMOS)ランジスタ。 15・・・第2のMOS)ランジスタ。 16・・・第3のMOSトランジスタ。 17・・・第4のMOS)ランジスタ。 1日・・・第1の制御信号入力端子。 19・・・第2の制御信号入力端子。 20・・・第3の制御信号入力端子。 21・・・第4の制御信号入力端子。 22.23・・・電流制限用抵抗器。 42.43・・・選択回路。 見1〜旦4・・・第1〜第4のソース接続ライン。 !;L5.文6・・・第1.第2の バックゲート接続ライン。 Vl・・・第1の電位、 V2・・・第2の電位。 V3・・・第3の電位、 V4・・・第4の電位。 VO・・・出力電位。
Claims (3)
- (1)3個以上の複数の入力端子を半導体チップ上に有
し、これらの入力端子のそれぞれに与えられる電位の1
つを外部から入力される選択信号に応じて選択して共通
の出力端子に導出することにより、上記出力端子から複
数種類の電位を出力するようにした多値レベル出力回路
において、 上記複数の入力端子と上記出力端子との間にそれぞれ介
設され、上記選択信号に応じて上記複数の入力端子のそ
れぞれに与えられている電位の1つを選択して上記出力
端子に導出する複数のMOSトランジスタと、 上記複数の入力端子と上記複数のMOSトランジスタの
ソース電極との間にそれぞれ設けられ、上記複数の入力
端子のそれぞれに与えられる電位を上記複数のMOSト
ランジスタのソース電極にそれぞれ供給する複数のソー
ス接続ラインと、変動が少ない所定の電位を所定のMO
Sトランジスタのバックゲートに供給するために、上記
所定の電位が入力される入力端子と上記所定のMOSト
ランジスタのバックゲートとの間において上記ソース接
続ラインとは実質的に別に設けられたバックゲート接続
ラインとを具備することを特徴とする多値レベル出力回
路。 - (2)上記ソース接続ラインに抵抗器を介設したことを
特徴とする請求項1に記載の多値レベル出力回路。 - (3)3個以上の複数の入力端子を半導体チップ上に有
し、これらの入力端子のそれぞれに与えられる電位の1
つを外部から入力される選択信号に応じて選択して共通
の出力端子に導出することにより、上記出力端子から複
数種類の電位を出力するようにした多値レベル出力回路
において、 上記複数の入力端子のそれぞれと上記出力端子との間に
介設され、上記選択信号に応じて上記複数の入力端子の
それぞれに与えられている電位の1つを選択して上記出
力端子に導出する複数のMOSトランジスタと、 上記複数の入力端子と上記複数のMOSトランジスタの
ソース電極との間に設けられ、上記複数の入力端子のそ
れぞれに与えられる電位を上記複数のMOSトランジス
タのソース電極にそれぞれ供給する複数のソース接続ラ
インと、 最高電位又は最低電位を入力する上記電位入力端子とこ
の電位入力端子に入力する電位に直近の電位を入力する
電位入力端子との間に低電位側にアノードを、高電位側
にカソードを接続して設けられたダイオードとを具備す
ることを特徴とする多値レベル出力回路。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1343927A JP2843393B2 (ja) | 1989-12-29 | 1989-12-29 | 多値レベル出力回路 |
| EP90125508A EP0435258B1 (en) | 1989-12-29 | 1990-12-27 | Multi-level selecting circuit with latch-up limiting resistor |
| DE69032090T DE69032090T2 (de) | 1989-12-29 | 1990-12-27 | Mehrpegelauswählkreis mit einem Widerstand zur Begrenzung von Latch-up |
| US07/634,448 US5070255A (en) | 1989-12-29 | 1990-12-27 | Multi-level selecting circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1343927A JP2843393B2 (ja) | 1989-12-29 | 1989-12-29 | 多値レベル出力回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03204226A true JPH03204226A (ja) | 1991-09-05 |
| JP2843393B2 JP2843393B2 (ja) | 1999-01-06 |
Family
ID=18365322
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1343927A Expired - Fee Related JP2843393B2 (ja) | 1989-12-29 | 1989-12-29 | 多値レベル出力回路 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5070255A (ja) |
| EP (1) | EP0435258B1 (ja) |
| JP (1) | JP2843393B2 (ja) |
| DE (1) | DE69032090T2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2011155025A (ja) * | 2009-07-09 | 2011-08-11 | Ili Technology Corp | 半導体デバイス |
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1989
- 1989-12-29 JP JP1343927A patent/JP2843393B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1990
- 1990-12-27 US US07/634,448 patent/US5070255A/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-12-27 EP EP90125508A patent/EP0435258B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-12-27 DE DE69032090T patent/DE69032090T2/de not_active Expired - Lifetime
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| EP0435258B1 (en) | 1998-03-04 |
| DE69032090T2 (de) | 1998-10-08 |
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