JPH03205836A - 光素子および光電子装置 - Google Patents

光素子および光電子装置

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JPH03205836A
JPH03205836A JP2000560A JP56090A JPH03205836A JP H03205836 A JPH03205836 A JP H03205836A JP 2000560 A JP2000560 A JP 2000560A JP 56090 A JP56090 A JP 56090A JP H03205836 A JPH03205836 A JP H03205836A
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中村 康弘
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Hitachi Ltd
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    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/90Bond pads, in general

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  • Wire Bonding (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光素子および光電子装置に係わり、特に半導体
レーザアレイ(半導体レーザ素子)を組み込んだ光電子
装置(半導体レーザ装置)の製造におけるワイヤポンデ
ィング技術に適用して有効な技術に関する。
〔従来の技術] 半導体レーザ(レーザダイオード: LD),発光ダイ
オード,ホトダイオード等の光素子は、高出力化,多機
能化を具現化する構造としてアレイ化が進められている
。たとえば、工業調査会発行「電子材料J 1987年
2月号、昭和62年2月1日発行、P42〜P46には
、光電子集積回路(OEIC)についての記載があり、
波長多重伝送システムに用いる5波長集積化DFBレー
ザおよびこれに対応するホトダイオードアレイについて
記載されている.また、工業調査会発行「電子材料.1
987年6月号、昭和62年6月1日発行、P107〜
P111にはモノリシック形3ビーム半導体レーザ(半
導体レーザ素子および半導体レーザ装置)の構造が開示
されている。このモノリシック形3ビーム半導体レーザ
素子(レーザダイオードチップ)にあっては、100μ
mのピッチで3個の半導体レーザ(LD)が直線上に形
成されている。また、レーザダイオードチップの上面に
は2本の溝が平行に設けられてアイソレーションがなさ
れ、3つのLDが独立して制御できるように構成される
とともに、各半導体レーザ上にはそれぞれ給電線となる
ワイヤが接続されている。
一方、半導体レーザ装置やIC(集積回路)等の半導体
装置においては、半導体レーザ素子(レーザダイオード
チップ)や半導体素子(チップ)の電極と、パッケージ
の外部に外端を突出させるリードの内端はワイヤで接続
されているが、このワイヤの接続は、たとえば、工業調
査会発行「電子材料別冊号」昭和61年11月18日発
行、P123〜Pl29に記載されているように、熱圧
着法(TC法),超音波法(US法).超音波熱圧着法
(TS法)等によって行われている。また、この文献に
は、ワイヤポンデイングにおける技術的問題点として、
高精度化では、「超LSI,ASIC品では高集積化,
多ピン化.表面実装化へと進展してきており,精度要求
は一段と高まっている。TSポンディングで70μmパ
ッドピッチ以下を想定した場合、ワイヤサイズ18〜2
0μm,圧着ボール径40〜50μm.総合位置精度±
4〜±5μmの装置が必要と予測しているが、現段階で
は100〜130I!mが実用レヘルと考えられる」旨
記載されている。
〔発明が解決しようとする課題〕
多ビーム半導体レーザは上記文献でも記載されているよ
うに、光通信用光源としてまたは情報処理用光源として
使用されている。
ところで、これは公知とされたものではないが、本出願
人も、たとえば第5図および第6図に示されるような多
ビーム半導体レーザアレイ(マルチ・レーザダイオード
・アレイ)を同様に開発している。この半導体レーザ素
子lは、モノリシックな4ビーム・レーザダイオード・
アレイであり、p形GaAsからなる半導体基板2の主
面側に、前記文献の半導体レーザ素子と同様に100μ
mピッチでC S P (Channeled−Sub
strate−P1anar)型からなる4つの半導体
レーザ(LD)3を設けた構造となっている。前記各半
導体レーザ3は、半導体基板2の主面に設けられたアイ
ソレーション溝4でアイソレーションされている.また
、半導体レーザ群(アレイ)の両側部分は一段低い低面
5となっている。各半導体レーザ3の共振器6は、第6
図の2本の二点鎖線で取り囲まれた領域であって、半導
体基板2の主面表層部に平行に設けられ、ピッチaはた
とえば100μmとなっている。また、前記半導体基板
2の裏面(下面)全域には電極(アノード電極)9が設
けられているとともに、半導体基板2の主面の各半導体
レーザ3の上面には電極(カソード電極)loが設けら
れている。これらカソード電極10は、その幅bが80
μm程度となっている。
しかし、このような構造の半導体レーザ素子1では、以
下の点で組立上好ましくない状態が発生するということ
が本発明者によってあきらかにされた。すなわち、この
ような半導体レーザ素子1にあっては、半導体レーザ素
子lの上下面にそれぞれ電極9,10が設けられている
が、この場合、下部電極(アノード電極9)は共通電極
となってサブマウント等の支持板に固定され、上部電極
(カソード電極10)は各半導体レーザ3の固有な電極
となりかつ給電線となるワイヤの一端が接続される。前
記ワイヤの他端は半導体レーザ装置のバノケージに取り
付けられるリードの内端に接続される。
半導体レーザアレイの場合、たとえば前記固有電極はア
レイを構成する半導体レーザの数に相当する数となる。
また、半導体レーザ素子は、両端からレーザ光を発振す
る共振器の全長に亘って電力を均一に供給する必要があ
ることから、前記固有電極は共振器の全長、換言するな
らば半導体レーザ素子の全長に亘って設けられる。また
、固有電極は相互に電気的に絶縁する必要がある。した
がって、複数の固有電極はアイソレーション領域を隔て
て平行に延存することになる。
また、半導体レーザ素子製造においては、アイソレーシ
ョン領域や上部電極の形戒の際のマスクアライメント余
裕度もパターン設計上考慮される。
このようなことから、固有電極の幅bは、並列状態で複
数配設される半導体レーザのビッチaよりも短くなり、
たとえば前記のように100lImピッチに半導体レー
ザが形成される場合には、上部電極の幅bは80μm程
度が上限となる。
一方、ワイヤの先端を球形としかつこの球形部分を押し
潰して接続を行うワイヤボンディングにおいては、第6
図の二点鎖線円で示される押潰部11の直径は、たとえ
ば25μm直径程度の細いワイヤを用いた場合70μm
前後となり、80μm幅のワイヤボンディング・エリア
へのポンディングは、極めて高い位置精度が必要とされ
、ボンディング精度が低いと、ワイヤの押潰部1lは本
来固定されるべき固有電極から外れて、隣接する固有電
極側に食み出し、ショート不良の原因となる。
このような現象は、半導体レーザアレイの小型化,高密
度化による半・導体レーザの配列ピソチの狭小化によっ
てさらに起き易くなる。
本発明の目的は、ワイヤポンディング余裕度が高くでき
る光素子を提供することにある。
本発明の他の目的は、電極幅の狭小化が達威できる光素
子を提供することにある。
本発明の他の目的は、ワイヤポンディングの歩留りおよ
び信頼性を高くできる光電子装置を提供することにある
本発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は、
本明細書の記述および添付図面からあきらかになるであ
ろう。
〔課題を解決するための手段〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
すなわち、本発明のアレイ型半導体レーザ装置において
は、アレイを構或するモノリシックな隣り合った複数の
半導体レーザは、幅が狭い幅狭部と幅が広い幅広部とで
構成されるとともに、この幅狭部および幅広部上に幅狭
部および幅広部に対応して幅狭電極部および幅広電極部
が設けられ、かつ前記幅広電極部にはワイヤボンデイン
グ・エリアが設けられてワイヤが接続され、さらに前記
幅広部および幅広電極部は隣接する幅狭部および幅狭電
極部の横に対面して延在するように構成されている。
(作用〕 上記した手段によれば、本発明のアレイ型半導体レーザ
装置においては、半導体レーザ素子における各半導体レ
ーザの固有電極におけるワイヤボンディング・エリアは
幅広電極部に設けられ、かつこの幅広電極部は隣接固有
電極の幅狭電極部に対面して延在する構造となることか
ら、前記幅狭電極部が狭い分だけ隣接固有電極側に張り
出した形状とすることができるため、ワイヤボンディン
グ・エリアが広くなり、ワイヤボンデイングの余裕度を
大きくでき、ショート不良防止が達成できる。また、前
記固有電極は幅広電極部とこれに連なる幅狭電極部とで
構戒され、かつ半導体レーザ群全体の電極パターンは前
記幅広電極部の横に幅狭電極部が並ぶパターンとなるこ
とから、半導体レーザ、すなわち共振器の配列ピッチを
一定とした場合、幅広電極部をより幅広くすることがで
きる。また、前記幅広電極部の幅を一定とした場合、共
振器の配列ピッチをより小さくすることができる。
〔実施例] 以下図面を参照して本発明の一実施例について説明する
第1図は本発明の一実施例による半導体レーザ素子の模
式的平面図、第2図は同じく模式的断面図、第3図は同
じく一部の半導体レーザを示す拡大断面図、第4図は本
発明の一実施例による半導体レーザ装置を示す一部を切
り書いた斜視図である。
この実施例では、光素子としてアレイ型半導体レーザ素
子を組み込んだ光電子装置(半導体レーザ装置)に本発
明を適用した例について説明する,この半導体レーザ装
置は、たとえばコンパクト・ディスクに使用可能であり
、4つのビームを発光する半導体レーザ素子(4ビーム
半導体レーザ素子)を内蔵している。また、前記4ビー
ム半導体レーザ素子のプレイを構或する各半導体レーザ
(光素子部)は、内部電流狭窄型のCSP (Chan
neled−Substrate−Planar)構造
となっている●4ビームを発光する半導体レーザ素子I
は、第2図に示されるようにp形G a A sからな
る半導体基板2と、この半導体基板2上に設けられた多
層戒長層7とを利用して形成されている。すなわち、前
記多層成長層7は、第1図にも示されるように、両側に
形成された低面5と、この間に設けられたアイソレーシ
ヲン溝4とによって4つの領域に分断され、こ−(7)
 lei域にそれぞれ半導体レーザ3が設けられている
。また、各半導体レーザ3間に設けられたアイソレーシ
ジン溝4および低面5との境はクランク形に延在してい
る。また、このクランク形は交互に反対方向に曲がって
いることから、半導体レーザ3は、その幅が広い幅広部
l5と、幅が狭い幅狭部16とで構成されるとともに、
幅広部l5は、第1図に示されるように千鳥足跡状に配
列されることになる。そして、後に詳述するが、前記幅
広部l5および幅狭部16の中央線に沿う下方には端面
からレーザ光14を発光する共振器6が延在する構造と
なっている。また、前記半導体基板2の下面(裏面)に
は電極(アノード電極)9が設けられているとともに、
半導体基板2の主面側の各半導体レーザ3の表面(主面
)には、電極(カソード電極)10が設けられている。
このカソード電極10は各半導体レーザ3にそれぞれ設
けられることから、説明の便宜上固有電極10とも称す
る。前記固有電極10は前記幅広部15および幅狭部1
6対応し、第1図で単一の半導体レーザ3のみに説明上
明瞭に分るように点々を施してあるように、幅広電極部
l9および幅狭電極部20とで構成されている。さらに
、前記低面5には矩形の認識パターン21が設けられて
いる。なお、この半導体レーザ素子1は寸法的には、た
とえば高さ100μm.幅600μm.長さが250μ
mとなっている。
ところで、このような半導体レーザ素子1においては、
半導体レーザ3の配列ピッチ、換言するならば共振器6
の配列ピッチをa、電極(固有電極)10における幅広
電極部19の幅をb、固有電極10における輻狭電極部
20の幅をC、アイソレーシヲン溝4の幅をd,t極1
0の縁カラアイソレーション溝4の縁までの長さをeと
した場合、固有電極10における幅広電極部l9の幅b
は次式で与えられる。
b=2a− (c+d+4 e)      =il)
前記幅狭電極部20の幅C、アイソレーシゴン溝4の幅
d,Tl極10の縁からアイソレーション溝4の縁まで
の長さeは、それぞれ小さい数値が選択されることから
、幅広電極部19の幅bは半導体レーザ3の配列ピンチ
aよりも充分大きくなる。たとえば、半導体レーザ3の
配列ピッチaを100μmとし、幅狭電極部20の幅C
を20〜30μm,電極10を半導体レーザ3の最上層
の半導体層に一致して重ねかつ前記アイソレーション溝
4の幅dを20μmとした場合、前記幅広電極部l9の
幅bは160〜150μmとなる。したがって、第1図
の二点鎖線円で示すワイヤボンディング・エリア22は
、100〜130μm直径(あるいは一辺の長さが10
0〜130μmとなる矩形)を充分得ることができる。
また、前記ワイヤボンディング・エリア22を100〜
130μm直径(あるいは一辺の長さが100〜130
μmとなる矩形)とした場合、前記幅広電極部l9の幅
bを、たとえば20〜30μmとさらに狭くすることも
できるため、半導体レーザ3の配列ビソチaを100μ
mよりもさらに小さくすることも可能となり、半導体レ
ーザ素子1の小型化あるいはさらに半導体レーザ3の配
列数を増大させることができる。
つぎに、前記半導体レーザ素子lにおける半導体レーザ
3の構造について説明する。第3図は半導体レーザ素子
1においてモノリシックに4つ並んで配設された半導体
レーザ3のうちの一つを示す模式的な断面図である。
この半導体レーザ3はCSP型であるとともに、内部狭
窄構造となっている。この半導体レーザ3は、p形Ga
Asからなる半導体基板2の主面にストライブ状のチャ
ネル25を隔ててn形GaASからなる一対の内部狭窄
層26を有している。
また、この半導体基板2の主面には、多層戒長層7が設
けられている。この多N戒長N7は、エビタキシャル戒
長によって、p形のGaAuAs層からなるp形クラソ
ド層27,GaAiAsからなる活性層28.n形Ga
AIAs層からなるn形クラノド層29.n十形GaA
s層からなるn+形キャンプ層30と順次積層されるこ
とによって形成されている。また、前記半導体基板2の
裏面には電極(アノード電極)9が設けられ、n+形キ
ャップ層30上には電極(カソード電極)10が設けら
れている。
この内部狭窄型の半導体レーザ素子1は、たとえば、数
100IImの厚さのp形GaAsからなる半導体基板
2上に、0.8μmのn形ブロック層(内部狭窄層)2
6を形成した後、100μmピンチで4本のチャネル2
5を設ける。その後液相エビタキシャル威長によって、
厚,さ0.15〜0.45amのP形クラッド層27.
厚さ0.  1μm以下の活性層28,厚さ1.5〜2
.5μmのn形クラッド層29,厚さ10〜20μm程
度のn十形キャップ層30を形戒する。つぎに、半導体
基板2の主面側全域に電極素材を設けた後、この電極素
材を常用のホトリソグラフィによって?ターン化し、第
1図に示されるようなパターンの電極(カソード電極)
10を形成する。このカソード電極IOは各半導体レー
ザ3にそれぞれ設けられることから、説明の便宜上固有
電極10とも称する。ついで、前記半導体基板2の裏面
をエッチングして全体を100μm程度の厚さにすると
ともに、半導体基板2の下面に電極(アノート電極)9
を形戒する。これにより半導体レーザ素子1が製造され
ることになる。なお、この半導体レーザ素子1にあって
は、共振器6の両端面にそれぞれ構造の異なる反射膜が
形成され、出力として使用される前方光(レーザ光14
)がモニター用に使用される後方光(レーザ光14)に
比較して出力大となるように構成されている。たとえば
、前方光と後方光との出力比が20対1となるように、
前方光側の半導体レーザ素子1の端面にはλ/4の厚さ
のSiO■膜が設けられるとともに、後方光例の半導体
レーザ素子1の端面には、λ/4の厚さのSin.膜と
λ/4の厚さのアモルファスシリコン膜が交互に重ねて
られて全体とじて4層となった反射膜が設けられる。ま
た、前記共振器6は前記チャネル25に略対面する活性
層28部分によって形成される。
つぎに、前記半導体レーザ素子1を組み込んだ半導体レ
ーザ装置(光電子装置)40について、第4図を参照し
ながら説明する。
半導体レーザ装置40は、熱放散性の良好な金属で形成
される矩形のステム41の主面の中央部に、熱放散性の
良好な金属で形或されるヒートシンク42を鑞材で固定
した構造となっている。このヒートシンク42は、前記
ステム4lに固定される台座部43と、この台座部43
の一端側でかつ上方に直立突出した直立部44とで構成
されている。そして、前記直立部44の先端部内側面に
は、導電性のサブマウント45を介して前記4ビームを
発光する半導体レーザ素子lが固定されている。この半
導体レーザ素子1はその上端および下端からそれぞれ4
ビームのレーザ光14(14a,  1 4 b,  
1 4 c,  1 4 d)を発光する(図では前方
光のみを示す)。また、前記台座部43の主面は{頃斜
面となるとともに、この主面にはセラミノクからなるサ
ブマウント46を介して受光素子47が固定され、前記
半導体レーザ素子1の後方光(レーザ光14)を受光し
、光出力をモニターするようになっている。前記受光素
子47は、上面に電極を有するとともに、下面には全域
に電極が設けられている。また、前記絶縁性のサブマウ
ント46の主面には導電性のメタライズ層およびこのメ
タライズ層に重なるメッキ層が設けられ、かつこれら層
の一部は受光素子取付領域から外れてワイヤボンディン
グ・エリアを形成している。
一方、前記ステム4lには7本のリード50が取り付け
られている。1本のリード50は前記ステム41に直接
固定される結果、前記半導体レーザ素子1の下部電極(
アノード電極9)と電気的に接続されることになる。ま
た、6本のりード50は、いずれも前記ステム41を貫
通し、かつガラスのような絶縁体51を介してステム4
1に電気的に絶縁されて取り付けられている。そして、
前記ステム41の主面側に内端を突出させた6本のリー
ド50の内、台座部43の一端側に配設された短い2本
のリード50の内端にはそれぞれワイヤ52が接続され
ている。これら2本のワイヤ52の内、1本は直接受光
素子47の主面の電極に接続され、他の1本のワイヤ5
2は前記受光素子47を支持するサブマウント46に形
成されたワイヤボンディング・エリアに接続されている
さらに、前記ステム4lの主面側に内端を突出させた残
りの4本のリード50は、それぞれ2本づつ前記ヒート
シンク42の両側に位置し、かつ内端が偏平とされたボ
ンディング部53にワイヤ52が接続されている。これ
らワイヤ52は、それぞれ半導体レーザ素子lの4つの
半導体レーザ3の固有電極10に接続されている。
他方、天井部に円形の窓54を有する金属製のキャンプ
55が、前記ステム41の主面に気密的に固定され、前
記ヒートシンク42,半導体レーザ素子1,受光素子4
7,リード50の内端,ワイヤ52等を封止している.
前記キャップ55の天井部には窓54を塞ぐ透明なガラ
ス板56が気密的に固着されている。したがって、半導
体レーザ素子1の各半導体レーザ3の共振器6から発光
したレーザ光14は、この窓54を通過してステム41
とキャンプ55とによって形成されたパッケージ外に発
光される。なお、ステム4lには、この半導体レーザ装
置40を使用機器に取り付ける際使用する取付孔57が
設けられている。
このような半導体レーザ装置40にあっては、その組立
において、半導体レーザ素子1のワイヤボンデイング・
エリアが100μm以上と大きいことから、接続された
ワイヤ52の押潰部11がこのワイヤボンディング・エ
リアから食み出さなくなり、隣接固有電極との接触不良
の発生が抑止できる。また、ワイヤポンディングにおい
て、ワイヤボンディングの接続位置の余裕度も大きくな
ることから、ワイヤボンディングがし易くなるとともに
、歩留りおよびワイヤボンディングの信頼性が高くなる
. このような実施例によれば、つぎのような効果が得られ
る。
(1)本発明のアレイ型半導体レーザ装置においては、
半導体レーザ素子における各半導体レーザの固有電極に
おけるワイヤポンデイング・エリアは、隣接固有電極の
幅狭電極部に対面して延在する構造となり、前記幅狭電
極部が狭い分だけ隣接固有電極側に張り出した形状とす
ることができるため、ワイヤボンデイング・エリアが広
くなり、ワイヤボンディングの余裕度を大きくでき、シ
ョート不良防止が達或できるという効果が得られる。
(2)上記(1)により、本発明のアレイ型半導体レー
ザ装置は、ワイヤボンディング・エリアが広くなること
から、確実なワイヤボンデイングが可能となり、ワイヤ
ボンデイングの信頼性が高くなるという効果が得られる
(3)上記(1)により、本発明のアレイ型半導体レー
ザ装置は、ワイヤボンデイング・エリアが広くなること
から、確実なワイヤポンデイングが可能となり、歩留り
が高くなるという効果が得られる。
(4)上記(1)により、本発明のアレイ型半導体レー
ザ装置においては、組み込んだアレイ型半導体レーザ素
子の半導体レーザの固有電極は、幅広電極部とこれに連
なる幅狭電極部とで構成され、かつ半導体レーザ群全体
の電極パターンは前記幅広電極部の横に幅狭電極部が並
ぶパターンとなることから、幅広電極部の幅をある程度
広くしても、半導体レーザすなわち共振器の配列ビノチ
狭くすることができるため、ビーム間隔の狭い半導体レ
ーザ装置が得られるという効果が得られる。
(5)本発明のアレイ型半導体レーザ素子は、各半導体
レーザの固有電極が幅広電極部とこれに連なる幅狭電極
部とで形成されかつワイヤボンディング・エリアが設け
られる幅広電極部は隣接固有電極の輻狭電極部に対面し
て延在する構造となっていることから、幅広電極部は幅
狭電極部が狭い分だけ隣接固有電極側に張り出した形状
とすることができるため、ワイヤボンディング・エリア
が広くなるという効果が得られる。
(6)上記(5)により、本発明の半導体レーザ素子は
、ワイヤボンディング・エリアが広くなることから、ワ
イヤポンディングの余裕度を大きくでき、ショート不良
防止が達威できるという効果が得られる。
(7)上記(5)により、本発明のアレイ型半導体レー
ザ素子は、ワイヤボンディング・エリアが広くなること
から、確実なワイヤポンデイングが可能となり、ワイヤ
ボンディングの信頼性が高くなるという効果が得られる
(8)上記(5)により、本発明のアレイ型半導体レー
ザ素子は、ワイヤボンデイング・エリアが設けられる幅
広電極部が必要以上に広くできることから、逆に幅広電
極部の幅を必要な大きさのワイヤボンディング・エリア
を有するようにした場合、半導体レーザの配列ピッチを
狭くすることができるという効果が得られる。
(9)上記(8)により、本発明の半導体レーザ素子は
、半導体レーザの配列ピッチを狭くすることができるこ
とから、半導体レーザ素子の小型化が達戒できるという
効果が得られる。
(lO)上記(8)により、本発明の半導体レーザ素子
は、半導体レーザの配列ビノチを狭くずることができる
ことから、より多数の半導体レーザを組み込むことも可
能となり、半導体レーザ素子の高密度化が達戒できると
いう効果が得られる。
(11)上記(1)〜(10)により、本発明によれば
、ワイヤボンディング・エリアが広くかつ半導体レーザ
の配列ピンチが小さくかつ高密度化が達成できる半導体
レーザ素子を提供することができるとともに、ワイヤボ
ンデイングの歩留りおよび信頼性が高い半導体レーザ装
置を安価に提供することができるという相乗効果が得ら
れる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野である半導体レーザ技術に
適用した場合について説明したが、それに限定されるも
のではなく、アレイ型の発光ダイオード等の光素子およ
び光素子を組み込んだ光電子装置に適用できる。
〔発明の効果〕
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記のとおりであ
る。
本発明のアレイ型半導体レーザ装置においては、アレイ
型半導体レーザ素子の各半導体レーザの固有電極におけ
るワイヤボンディング・エリアは、一部が幅が広い幅広
電極部に設けられていることから、ワイヤボンディング
・エリアが広くなり、ワイヤボンディングの余裕度が向
上し、シコート不良の心配もなくなる。また、前記固有
電極は一部が幅が狭い輻狭電極部となっていて、二〇幅
狭電極部は隣りの幅広電極部の横に延在する構造となっ
ていることから、前記幅広電極部の幅を大きくしてワイ
ヤボンディング・エリアを増大しても、半導体レーザの
配列ピッチは狭くなり、アレイ型半導体レーザ素子の小
型化あるいは高密度化が達戒できる。したがって本発明
によれば、ワイヤボンディングの信頼性が高くかつ半導
体レーザアレイビノチの小さい半導体レーザ素子および
半導体レーザ装置を提供することができる.
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例による半導体レーザ素子の模
式的平面図、 第2図は同じく模式的断面図、 第3図は同じく一部の半導体レーザを示す拡大断面図、 第4図は本発明の一実施例による半導体レーザ装置を示
す一部を切り書いた斜視図、 第5図は本出願人の開発による半導体レーザ素子の模式
的断面図、 第6図は同じく模式的平面図である。 1・・・半導体レーザ素子、2・・・半導体基板、3・
・・半導体レーザ、4・・・アイソレーション溝、5・
・・低面、6・・・共振器、7・・・多層成長層、9・
・・電極(アノード電゛極)、10・・・電極(カソー
ド電極:固有電極)、11・・・押潰部、l4・・・レ
ーザ光、15・・・幅広部、16・・・幅狭部、19・
・・幅広電極部、20・・・幅狭電極部、21・・・認
識パターン、22・・・ワイヤボンディング・エリア、
25・・・チャネル、26・・・内部狭窄層、27・・
・p形クラッド層、28・・・活性層、29・・・n形
クラッド層、30・・・n◆形キャ2プ層、40・・・
半導体レーザ装置、41・・・ステム、42・・・ヒー
トシンク、43・・・台座部、44・・・直立部、45
.46・・・サブマウント、47・・・受光素子、50
・・・リード、51・・・絶縁体、52・・・ワイヤ、
53・・・ボンディング部、54・・・窓、55・・・
キャンプ、56・・・ガラス板、57・・・取付孔。 /一ゝ)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、主面にワイヤボンディング・エリアを有する電極が
    並んで複数設けられてなるモノリシックな光素子であっ
    て、前記電極は幅が広い幅広電極部とこれに連なる幅が
    狭い幅狭電極部とで構成されるとともに、前記幅広電極
    部に前記ワイヤボンディング・エリアが設けられ、かつ
    前記幅広電極部は隣接電極の幅狭電極部の横に延在する
    ように構成されていることを特徴とする光素子。 2、半導体基板の主面に複数の半導体レーザが並んで配
    設されたアレイ型光素子であって、前記半導体レーザは
    幅広部とこれに連なる幅狭部とからなるとともに、前記
    幅広部は隣接半導体レーザの幅狭部の横に延在し、かつ
    前記幅広部および幅狭部上には幅広部および幅狭部に対
    応した幅狭電極部および幅広電極部が設けられ、さらに
    前記幅広電極部にワイヤボンディング・エリアが設けら
    れていることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
    光素子。 3、パッケージと、このパッケージ内に配設されるとと
    もに複数の光素子部が並んでモノリシックに形成されて
    なる光素子と、前記パッケージに取り付けられたリード
    と、前記光素子部の固有電極と前記リードとを電気的に
    接続するワイヤとを有する光電子装置であって、前記光
    素子部は幅広部とこれに連なる幅狭部とで形成されてい
    るとともに、この幅広部および幅狭部上には幅広電極部
    および幅狭電極部が形成され、かつ前記幅広電極部にワ
    イヤの一端が接続され、さらに前記幅広部は隣接光素子
    部の幅狭部の横に延在するように構成されていることを
    特徴とする光電子装置。 4、パッケージと、このパッケージ内に配設されるとと
    もに複数の半導体レーザが並んでモノリシックに形成さ
    れてなる半導体レーザ素子と、前記パッケージの外方に
    外端を突出させるリードと、前記半導体レーザ素子にお
    ける半導体レーザの固有電極と前記リードとを電気的に
    接続するワイヤとを有する光電子装置であって、前記半
    導体レーザ素子は幅広部とこれに連なる幅狭部とで形成
    されているとともに、この幅広部および幅狭部上には幅
    広電極部および幅狭電極部が形成され、かつ前記幅広電
    極部に前記ワイヤの一端が接続され、さらに前記幅広部
    は隣接半導体レーザの幅狭部の横に延在するように構成
    されていることを特徴とする特許請求の範囲第3項記載
    の光電子装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008227058A (ja) * 2007-03-12 2008-09-25 Mitsubishi Electric Corp 半導体レーザ装置
JP2024523159A (ja) * 2021-06-11 2024-06-28 エイエムエス-オスラム インターナショナル ゲーエムベーハー 半導体チップ及びコンポーネント

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