JPH03207029A - 偏心検出装置 - Google Patents
偏心検出装置Info
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- JPH03207029A JPH03207029A JP315790A JP315790A JPH03207029A JP H03207029 A JPH03207029 A JP H03207029A JP 315790 A JP315790 A JP 315790A JP 315790 A JP315790 A JP 315790A JP H03207029 A JPH03207029 A JP H03207029A
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- JP
- Japan
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- signal
- binarization circuit
- eccentricity
- disk
- output signal
- Prior art date
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- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光ディスク装置，光ディスク原盤作或機等のデ
ィスク装置において、光ディスク，光ディスク原盤等の
ディスクの偏心を検出する偏心検出装置に関する。
ィスク装置において、光ディスク，光ディスク原盤等の
ディスクの偏心を検出する偏心検出装置に関する。
従来、偏心検出装置としては光ディスク装置において、
光学ヘッドから得られた光ディスク上の光スポットのト
ラックからのずれを表わすトラック誤差信号を矩形波に
波形整形し、この矩形波の周期をクロック，カウンタ，
記憶手段，演算手段等で判断することにより光ディスク
の偏心を検出するものが特開昭６３−２５５８３８号公
報により知られている。
光学ヘッドから得られた光ディスク上の光スポットのト
ラックからのずれを表わすトラック誤差信号を矩形波に
波形整形し、この矩形波の周期をクロック，カウンタ，
記憶手段，演算手段等で判断することにより光ディスク
の偏心を検出するものが特開昭６３−２５５８３８号公
報により知られている。
また、その他に光ディスクの偏心を検出する方法として
，光ディスクの最内周・最外周グループ若しくは偏心測
定用グループの半径を光ディスクの停止状態で測定して
この測定を光ディスクがセットされているターンテーブ
ルを回転させて光ディスクの異なる位置で複数回行い、
その測定値から光ディスクの偏心を算出する偏心検出方
法がある。
，光ディスクの最内周・最外周グループ若しくは偏心測
定用グループの半径を光ディスクの停止状態で測定して
この測定を光ディスクがセットされているターンテーブ
ルを回転させて光ディスクの異なる位置で複数回行い、
その測定値から光ディスクの偏心を算出する偏心検出方
法がある。
上記偏心検出装置では矩形波の周期をクロック，カウン
タ，記憶手段，演算手段等で判断することにより光ディ
スクの偏心を検出するので、装置が非常に大がかりにな
る上に，演算手段等のソフトウエア処理が必要であって
光ディスクの偏心を高速に検出することができない。
タ，記憶手段，演算手段等で判断することにより光ディ
スクの偏心を検出するので、装置が非常に大がかりにな
る上に，演算手段等のソフトウエア処理が必要であって
光ディスクの偏心を高速に検出することができない。
また，上記偏心検出方法では光ディスクの最内周・最外
周グループ若しくは偏心測定用グループの半径を光ディ
スクの停止状態で測定してこの測定を光ディスクがセッ
トされているターンテーブルを回転させて光ディスクの
異なる位置で複数回行うので、時間がかかる上にグルー
プの半径を測定する検出器や特別な機構からなる複雑な
装置が必要になる。また、上記測定で光学ヘッドをグレ
ープの検出に使った場合には光学ヘッドの位置を検出す
る機構、グループの半径を検出するための機構、光学ヘ
ッドを光ディスクの半径方向へ駆動する機構からなる複
雑な装置が必要になり、光学ヘッドを動かしてグループ
の半径を測定するソフトウエア、複数の測定値から光デ
ィスクの偏心の方向及び量を演算するソフトウェアが必
要になって光ディスクの偏心を高速に検出することがで
きない。また、サンプルサーボ方式の光ディスクのよう
に連続した案内グループを持たない光ディスクについて
はその偏心を検出することができない。
周グループ若しくは偏心測定用グループの半径を光ディ
スクの停止状態で測定してこの測定を光ディスクがセッ
トされているターンテーブルを回転させて光ディスクの
異なる位置で複数回行うので、時間がかかる上にグルー
プの半径を測定する検出器や特別な機構からなる複雑な
装置が必要になる。また、上記測定で光学ヘッドをグレ
ープの検出に使った場合には光学ヘッドの位置を検出す
る機構、グループの半径を検出するための機構、光学ヘ
ッドを光ディスクの半径方向へ駆動する機構からなる複
雑な装置が必要になり、光学ヘッドを動かしてグループ
の半径を測定するソフトウエア、複数の測定値から光デ
ィスクの偏心の方向及び量を演算するソフトウェアが必
要になって光ディスクの偏心を高速に検出することがで
きない。また、サンプルサーボ方式の光ディスクのよう
に連続した案内グループを持たない光ディスクについて
はその偏心を検出することができない。
本発明は上記欠点を改善し，構或が簡単でディスクの偏
心を高速に検出することができる偏心検出装置を提供す
ることを目的とする。
心を高速に検出することができる偏心検出装置を提供す
ることを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明はディスクを回転させ
てこのディスクに光学ヘッドで光スポットを照射し、こ
の光スポットの前記ディスク上のトラックからのずれを
表わすトラック誤差信号と，前記ディスクの反射光量を
表わすＲＦ信号とを前記光学ヘッドで検出するディスク
装置において、前記ＲＦ信号からオフセットを除去する
ＡＣ結合回路と，このＡＣ結合回路からのＲＦ信号を２
値化する第１の２値化回路と、前記トラック誤差信号を
２値化する第２の２値化回路と、前記第１の２値化回路
の出力信号で前記第２の２値化回路の出力信号をゲート
して前記第２の２値化回路の出力信号の立ち上がりを検
出しエッジパルスを出力する第１のエッジパルス生成手
段と、前記第１の２値化回路の出力信号で前記第２の２
値化回路の出力信号をゲートして前記第２の２値化回路
の出力信号の立ち下がりを検出しエッジパルスを出力す
る第２のエッジパルス生戒手段とを備え、前記第１のエ
ッジパルス生戒手段からのエッジパルス及び前記第２の
エッジパルス生戒手段からのエッジパルスを前記ディス
クの偏心方向及び偏心量を表わす信号として出力するも
のである。
てこのディスクに光学ヘッドで光スポットを照射し、こ
の光スポットの前記ディスク上のトラックからのずれを
表わすトラック誤差信号と，前記ディスクの反射光量を
表わすＲＦ信号とを前記光学ヘッドで検出するディスク
装置において、前記ＲＦ信号からオフセットを除去する
ＡＣ結合回路と，このＡＣ結合回路からのＲＦ信号を２
値化する第１の２値化回路と、前記トラック誤差信号を
２値化する第２の２値化回路と、前記第１の２値化回路
の出力信号で前記第２の２値化回路の出力信号をゲート
して前記第２の２値化回路の出力信号の立ち上がりを検
出しエッジパルスを出力する第１のエッジパルス生成手
段と、前記第１の２値化回路の出力信号で前記第２の２
値化回路の出力信号をゲートして前記第２の２値化回路
の出力信号の立ち下がりを検出しエッジパルスを出力す
る第２のエッジパルス生戒手段とを備え、前記第１のエ
ッジパルス生戒手段からのエッジパルス及び前記第２の
エッジパルス生戒手段からのエッジパルスを前記ディス
クの偏心方向及び偏心量を表わす信号として出力するも
のである。
光学ヘッドで検出されたＲＦ信号はＡＣ結合回路により
オフセットが除去され、このＡＣ結合回路からのＲＦ信
号が第ｌの２値化回路により２値化される。また、光学
ヘッドで検出されたトラック誤差信号が第２の２値化回
路により２値化される。第１のエッジパルス生戒手段は
第ｌの２値化回路の出力信号で第２の２値化回路の出力
信号をゲートして第２の２値化回路の出力信号の立ち上
がりを検出し、エッジパルスを出力する。第２のエッジ
パルス生戒手段は第１の２値化回路の出力信号で第２の
２値化回路の出力信号をゲートして第２の２値化回路の
出力信号の立ち下がりを検出し、エッジパルスを出力す
る。
オフセットが除去され、このＡＣ結合回路からのＲＦ信
号が第ｌの２値化回路により２値化される。また、光学
ヘッドで検出されたトラック誤差信号が第２の２値化回
路により２値化される。第１のエッジパルス生戒手段は
第ｌの２値化回路の出力信号で第２の２値化回路の出力
信号をゲートして第２の２値化回路の出力信号の立ち上
がりを検出し、エッジパルスを出力する。第２のエッジ
パルス生戒手段は第１の２値化回路の出力信号で第２の
２値化回路の出力信号をゲートして第２の２値化回路の
出力信号の立ち下がりを検出し、エッジパルスを出力す
る。
第１図は本発明の一実施例を示し，第２図はそのタイミ
ングチャートを示す。
ングチャートを示す。
この実施例は光ディスク装置において、光ディスクの偏
心を検出する例であり，この光ディスク装置は公知のよ
うに光ディスクがセットされるターンテーブルと、この
ターンテーブルを回転させることにより光ディスクを回
転させるスピンドルモータと，ターンテーブル上の光デ
ィスクに対して光源から光ビームを照射して光スポット
を形成しその反射光を受光する光学ヘッドとを有する。
心を検出する例であり，この光ディスク装置は公知のよ
うに光ディスクがセットされるターンテーブルと、この
ターンテーブルを回転させることにより光ディスクを回
転させるスピンドルモータと，ターンテーブル上の光デ
ィスクに対して光源から光ビームを照射して光スポット
を形成しその反射光を受光する光学ヘッドとを有する。
光学ヘッドは公知のように光ディスクからの反射光を受
光部で受光して光ディスクの反射光量を表わすＲＦ信号
を検出する第１の検出系と、光ディスクからの反射光を
受光部で受光して光ディスク上の光スボソトのトラノク
からのずれを表わすトラック誤差信号を検出する第２の
検出系とを有する。光ディスクはトラノキングのための
方式であるコンティニュアス・コンポジット・サーボ（
ＣＣＳ）方式の光ディスク、サンプル・サーボ（ＤＢＦ
）方式の光ディスクのいずれでも用いることができる。
光部で受光して光ディスクの反射光量を表わすＲＦ信号
を検出する第１の検出系と、光ディスクからの反射光を
受光部で受光して光ディスク上の光スボソトのトラノク
からのずれを表わすトラック誤差信号を検出する第２の
検出系とを有する。光ディスクはトラノキングのための
方式であるコンティニュアス・コンポジット・サーボ（
ＣＣＳ）方式の光ディスク、サンプル・サーボ（ＤＢＦ
）方式の光ディスクのいずれでも用いることができる。
上記第１の検出系からのＲＦ信号ａと，上記第２の検出
系からのトラック誤差信号ｂはスピンドルモータでター
ンテーブルを回転させることにより光ディスクを回転さ
せた場合光ディスクの偏心があれば第２図に示すように
周波数が変動する交流信号となる。このＲＦ信号ａ，ｈ
ラック誤差信号ｂは位相が互いに９０゜ずれており、そ
のずれ方向はＲＦ信号ａ，トラック誤差信号ｂの周波数
の極小値の前後で反転する。
系からのトラック誤差信号ｂはスピンドルモータでター
ンテーブルを回転させることにより光ディスクを回転さ
せた場合光ディスクの偏心があれば第２図に示すように
周波数が変動する交流信号となる。このＲＦ信号ａ，ｈ
ラック誤差信号ｂは位相が互いに９０゜ずれており、そ
のずれ方向はＲＦ信号ａ，トラック誤差信号ｂの周波数
の極小値の前後で反転する。
上記第１の検出系からのＲＦ信号ａはオフセットを持っ
ているので、ＡＣ結合回路１１によりオフセットが除去
されてから２値化回路１２により２値化されて第２図に
示すような信号Ｃとなる。また，上記第２の検出系から
のトラック誤差信号ｂは２値化回路ｌ３により２値化さ
れて第２図に示すような信号ｄとなり、次段１４．１５
では２値化回路１２の出力信号Ｃをゲート信号としてこ
の信号Ｃが高レベルの時に２値化回路ｌ３の出力信号ｄ
のエッジが来たならばこれを検出してエッジパルスｅ，
ｆを２値化回路１３の出力信号ｄの立ち上がりエッジと
立ち下がりエッジとに分けて出力する。この段１４，１
５は例えばモノマルチバイブレータ４５３８が用いられ
る。モノマルチバイブレータｌ４は２値化回路１３の出
力信号ｄが入力端子Ａに入力されて２値化回路１２の出
力信号Ｃがリセット端子Ｒに入力され、２値化回路１３
の出力信号ｄが高レベルの時に２値化回路１３の出力信
号ｄの立ち上がりでエッジパルスｅを出力する。モノマ
ルチバイブレータ１５は２値化回路１３の出力信号ｄが
入力端子Ｂに入力されて２値化回路１２の出力信号Ｃが
リセット端子Ｒに入力され，２値化回路ｌ３の出力信号
ｄが高レベルの時に２値化回路１３の出力信号ｄの立ち
下がりでエッジパルスｆを出力する。エッジパルスｅ，
ｆはともに、光学ヘッドが光ディスクの外周側，内周側
のどちらかに移動している時にのみ出力され、光学ヘッ
ドが光ディスク上の１トラックを横断する毎に１個出力
される。よって，エッジパルスｅ，ｆのいずれか一方が
連続的に発生してそれが他方に変わる時が光ディスクの
偏心方向を示し、つまりエッジパルスｅからエッジパル
スｆに変わる時が光ディスクの偏心方向（正の偏心方向
）を示すとともに、エッジパルスｆからエノジパルスｅ
に変わる時が光ディスクの負の偏心方向（反対側の偏心
方向）を示し、かつエッジパルスｅ，ｆの数が光ディス
クの偏心量を示すことになる。そこで、この実施例では
２個のＤフリップフロソプ１６．１７によりエッジパル
スｅ，ｆから光ディスクの偏心方向が検出される。すな
わち、Ｄフリップフロップ１６はモノマルチバイブレー
タ１４からのエッジパルスｅによりセットされてＤフリ
ップフロツプ１７の反転出力信号によりリセットされ、
Ｄフリップフロツプ１７はモノマルチバイブレータ１５
からのエッジパルスｆによりＤフリッププロップ１６の
出力信号をラッチして非反転出力信号を偏心方向検出信
号ｇとして出力する。この偏心方向検出信号ｇは第２図
に示すようにモノマルチバイブレータ１５から１番目の
エッジパルスｆが入力されてから２番目のエッジパルス
ｆが入力されるまでの期間に高レベノレとなる。また，
カウンタ１８はＤフリップフ口ツプ１７からの偏心方向
検出信号ｇによりリセットされ、モノマルチバイブレー
タ１５からのエソジパルスｆをカウントして光ディスク
の偏心量を検出する。
ているので、ＡＣ結合回路１１によりオフセットが除去
されてから２値化回路１２により２値化されて第２図に
示すような信号Ｃとなる。また，上記第２の検出系から
のトラック誤差信号ｂは２値化回路ｌ３により２値化さ
れて第２図に示すような信号ｄとなり、次段１４．１５
では２値化回路１２の出力信号Ｃをゲート信号としてこ
の信号Ｃが高レベルの時に２値化回路ｌ３の出力信号ｄ
のエッジが来たならばこれを検出してエッジパルスｅ，
ｆを２値化回路１３の出力信号ｄの立ち上がりエッジと
立ち下がりエッジとに分けて出力する。この段１４，１
５は例えばモノマルチバイブレータ４５３８が用いられ
る。モノマルチバイブレータｌ４は２値化回路１３の出
力信号ｄが入力端子Ａに入力されて２値化回路１２の出
力信号Ｃがリセット端子Ｒに入力され、２値化回路１３
の出力信号ｄが高レベルの時に２値化回路１３の出力信
号ｄの立ち上がりでエッジパルスｅを出力する。モノマ
ルチバイブレータ１５は２値化回路１３の出力信号ｄが
入力端子Ｂに入力されて２値化回路１２の出力信号Ｃが
リセット端子Ｒに入力され，２値化回路ｌ３の出力信号
ｄが高レベルの時に２値化回路１３の出力信号ｄの立ち
下がりでエッジパルスｆを出力する。エッジパルスｅ，
ｆはともに、光学ヘッドが光ディスクの外周側，内周側
のどちらかに移動している時にのみ出力され、光学ヘッ
ドが光ディスク上の１トラックを横断する毎に１個出力
される。よって，エッジパルスｅ，ｆのいずれか一方が
連続的に発生してそれが他方に変わる時が光ディスクの
偏心方向を示し、つまりエッジパルスｅからエッジパル
スｆに変わる時が光ディスクの偏心方向（正の偏心方向
）を示すとともに、エッジパルスｆからエノジパルスｅ
に変わる時が光ディスクの負の偏心方向（反対側の偏心
方向）を示し、かつエッジパルスｅ，ｆの数が光ディス
クの偏心量を示すことになる。そこで、この実施例では
２個のＤフリップフロソプ１６．１７によりエッジパル
スｅ，ｆから光ディスクの偏心方向が検出される。すな
わち、Ｄフリップフロップ１６はモノマルチバイブレー
タ１４からのエッジパルスｅによりセットされてＤフリ
ップフロツプ１７の反転出力信号によりリセットされ、
Ｄフリップフロツプ１７はモノマルチバイブレータ１５
からのエッジパルスｆによりＤフリッププロップ１６の
出力信号をラッチして非反転出力信号を偏心方向検出信
号ｇとして出力する。この偏心方向検出信号ｇは第２図
に示すようにモノマルチバイブレータ１５から１番目の
エッジパルスｆが入力されてから２番目のエッジパルス
ｆが入力されるまでの期間に高レベノレとなる。また，
カウンタ１８はＤフリップフ口ツプ１７からの偏心方向
検出信号ｇによりリセットされ、モノマルチバイブレー
タ１５からのエソジパルスｆをカウントして光ディスク
の偏心量を検出する。
この実施例によれば構或が簡単であり、かつタ一ンテー
ブルを回転させながら光ディスクの１回転で光ディスク
の偏心を測定することができて案内溝のないＤＢＦ方式
の光ディスクの偏心を検出することもでき、その検出時
間は光ディスクが１回転する時間となって短い。さらに
、光ディスクの偏心を検出するためだけの特別の機構や
ソフトウエアを必要としない。
ブルを回転させながら光ディスクの１回転で光ディスク
の偏心を測定することができて案内溝のないＤＢＦ方式
の光ディスクの偏心を検出することもでき、その検出時
間は光ディスクが１回転する時間となって短い。さらに
、光ディスクの偏心を検出するためだけの特別の機構や
ソフトウエアを必要としない。
第３図は本発明の他の実施例の一部を示し、第４図はそ
のタイミングチャートを示す。
のタイミングチャートを示す。
この実施例は上記実施例において、モノマルチバイブレ
ータ１４．１５以前が上記実施例と同様に構成されてい
る。アナログスイッチ１９はモノマルチバイブレータ１
４からのエッジパルスｅが制御信号として入力されてエ
ッジパルスｅが高レベルの時にオンし、正の基準電圧＋
Ｖｃｃを加算器２０へ入力させる。また、アナログスイ
ッチ２１はモノマルチバイブレータｌ５からのエッジパ
ルスｆが制御信号として入力されてエッジパルスｆが高
レベルの時にオンし、負の基準電圧−Ｖｃｃを加算器２
０へ入力させる。加算器２０はアナログスイッチ１９．
２１の出力電圧を加算して第４図に示すような信号ｉを
生成する。ローパスフィルタ２２はこの信号ｉを平均化
することにより、光学ヘッドのトラック横断方向を正，
負の極性で示し、かつ光学ヘッドのトラック横断速度を
電圧の大小で示す第４図に示すようなトラック横断速度
信号ｊを検出する。このトラック横断速度信号ｊのゼロ
クロス点は正の電圧から負の電圧へ変化する際にＯｖを
交差する時が光ディスクの偏心方向（正の偏心方向）を
示すとともに、負の電圧から正の電圧へ変化する際にＯ
Ｖを交差する時が光ディスクの負の偏心方向（反対側の
偏心方向）を示すことになる。そこで、この実施例では
トラック横断速度信号ｊが２値化回路２３により２値化
され，モノマルチバイブレータ２４が２値化回路２３の
出力信号の立ち下がりでトリガーされて出力信号を偏心
方向検出信号ｇとして出力する。また、上記実施例と同
様にカウンタ１８は偏心方向検出信号ｇによりリセット
され，モノマルチバイブレータｌ５からのエッジパルス
ｆをカウントして光ディスクの偏心量を検出する。
ータ１４．１５以前が上記実施例と同様に構成されてい
る。アナログスイッチ１９はモノマルチバイブレータ１
４からのエッジパルスｅが制御信号として入力されてエ
ッジパルスｅが高レベルの時にオンし、正の基準電圧＋
Ｖｃｃを加算器２０へ入力させる。また、アナログスイ
ッチ２１はモノマルチバイブレータｌ５からのエッジパ
ルスｆが制御信号として入力されてエッジパルスｆが高
レベルの時にオンし、負の基準電圧−Ｖｃｃを加算器２
０へ入力させる。加算器２０はアナログスイッチ１９．
２１の出力電圧を加算して第４図に示すような信号ｉを
生成する。ローパスフィルタ２２はこの信号ｉを平均化
することにより、光学ヘッドのトラック横断方向を正，
負の極性で示し、かつ光学ヘッドのトラック横断速度を
電圧の大小で示す第４図に示すようなトラック横断速度
信号ｊを検出する。このトラック横断速度信号ｊのゼロ
クロス点は正の電圧から負の電圧へ変化する際にＯｖを
交差する時が光ディスクの偏心方向（正の偏心方向）を
示すとともに、負の電圧から正の電圧へ変化する際にＯ
Ｖを交差する時が光ディスクの負の偏心方向（反対側の
偏心方向）を示すことになる。そこで、この実施例では
トラック横断速度信号ｊが２値化回路２３により２値化
され，モノマルチバイブレータ２４が２値化回路２３の
出力信号の立ち下がりでトリガーされて出力信号を偏心
方向検出信号ｇとして出力する。また、上記実施例と同
様にカウンタ１８は偏心方向検出信号ｇによりリセット
され，モノマルチバイブレータｌ５からのエッジパルス
ｆをカウントして光ディスクの偏心量を検出する。
この実施例では上記実施例と同様に構成が簡単で、ＤＢ
Ｆ方式の光ディスクの偏心を検出することもでき、その
検出時間は光ディスクが１回転する時間となって短い。
Ｆ方式の光ディスクの偏心を検出することもでき、その
検出時間は光ディスクが１回転する時間となって短い。
さらに、光ディスクの偏心を検出するためだけの特別の
機構やソフトウエアを必要とせず．また上記実施例より
光ディスクの偏心方向検出精度が高くなる。
機構やソフトウエアを必要とせず．また上記実施例より
光ディスクの偏心方向検出精度が高くなる。
第５図は本発明の別の実施例の一部を示し、第６図はそ
のタイミングチャートを示す。
のタイミングチャートを示す。
この実施例は上記実施例において、モノマルチバイブレ
ータ１４．１５以前が上記実施例と同様に構成されてい
る。アップダウンカウンタ２５はモノマルチバイブレー
タｌ４からのエッジパルスｅをアップカウントし、モノ
マルチバイブレータｌ５からのエッジパルスｆをダウン
カウントする。マイクロコンピュータ（ＣＰＵ）２６は
アップダウンカウンタ２５のカウント値ｋの最大値，最
小値を求めてこの最大値，最小値より（光ディスクの偏
心量＝最大値一最小値）を演算することにより光ディス
クの偏心量を求め，さらにアップダウンカウンタ２５の
カウント値ｋが最大値，最小値となるタイミングを光デ
ィスクの偏心方向と判定する。
ータ１４．１５以前が上記実施例と同様に構成されてい
る。アップダウンカウンタ２５はモノマルチバイブレー
タｌ４からのエッジパルスｅをアップカウントし、モノ
マルチバイブレータｌ５からのエッジパルスｆをダウン
カウントする。マイクロコンピュータ（ＣＰＵ）２６は
アップダウンカウンタ２５のカウント値ｋの最大値，最
小値を求めてこの最大値，最小値より（光ディスクの偏
心量＝最大値一最小値）を演算することにより光ディス
クの偏心量を求め，さらにアップダウンカウンタ２５の
カウント値ｋが最大値，最小値となるタイミングを光デ
ィスクの偏心方向と判定する。
この実施例では上記２番目の実施例と同様に構或が簡単
でＤＢＦ方式の光ディスクの偏心を検出することもでき
、さらに光ディスクの偏心を検出するためだけの特別の
機構やソフトウエアを必要とせず、最初の実施例より光
ディスクの偏心方向検出精度が高くなる。また、ＣＰＵ
２６でアップダウンカウンタ２５のカウント値ｋより光
ディスクの偏心の方向及び量を求めるが、簡単なソフト
ウエアしか用いないので，光ディスクの偏心を比較的高
速に検出することができる。
でＤＢＦ方式の光ディスクの偏心を検出することもでき
、さらに光ディスクの偏心を検出するためだけの特別の
機構やソフトウエアを必要とせず、最初の実施例より光
ディスクの偏心方向検出精度が高くなる。また、ＣＰＵ
２６でアップダウンカウンタ２５のカウント値ｋより光
ディスクの偏心の方向及び量を求めるが、簡単なソフト
ウエアしか用いないので，光ディスクの偏心を比較的高
速に検出することができる。
なお，上記実施例は光ディスクの偏心を検出する例であ
るが，本発明は光ディスク原盤作成機において光ディス
ク原盤，スタンパの偏心を検出する場合などに適用する
ことが可能である。
るが，本発明は光ディスク原盤作成機において光ディス
ク原盤，スタンパの偏心を検出する場合などに適用する
ことが可能である。
以上のように本発明によればディスクを回転させてこの
ディスクに光学ヘッドで光スポットを照射し，この光ス
ポットの前記ディスク上のトラツクからのずれを表わす
トラック誤差信号と，前記ディスクの反射光量を表わす
ＲＦ信号とを前記光学ヘッドで検出するディスク装置に
おいて、前記ＲＦ信号からオフセントを除去するＡＣ結
合回路と、このＡＣ結合回路からのＲＦ信号を２値化す
る第１の２値化回路と、前記トラック誤差信号を２値化
する第２の２値化回路と、前記第１の２値化回路の出力
信号で前記第２の２値化回路の出力信号をゲートして前
記第２の２値化回路の出力信号の立ち上がりを検出しエ
ッジパルスを出力する第１のエッジパルス生成手段と、
前記第１の２値化回路の出力信号で前記第２の２値化回
路の出力信号をゲートして前記第２の２値化回路の出力
信号の立ち下がりを検出しエッジパルスを出力する第２
のエッジパルス生成手段とを備え、前記第１のエッジパ
ルス生成手段からのエッジパルス及び前記第２のエッジ
パルス生成手段からのエッジパルスを前記ディスクの偏
心方向及び偏心量を表わす信号として出力するので、構
或が簡単で特別な機構を必要とせず、ディスクの偏心を
高速に検出することができる。
ディスクに光学ヘッドで光スポットを照射し，この光ス
ポットの前記ディスク上のトラツクからのずれを表わす
トラック誤差信号と，前記ディスクの反射光量を表わす
ＲＦ信号とを前記光学ヘッドで検出するディスク装置に
おいて、前記ＲＦ信号からオフセントを除去するＡＣ結
合回路と、このＡＣ結合回路からのＲＦ信号を２値化す
る第１の２値化回路と、前記トラック誤差信号を２値化
する第２の２値化回路と、前記第１の２値化回路の出力
信号で前記第２の２値化回路の出力信号をゲートして前
記第２の２値化回路の出力信号の立ち上がりを検出しエ
ッジパルスを出力する第１のエッジパルス生成手段と、
前記第１の２値化回路の出力信号で前記第２の２値化回
路の出力信号をゲートして前記第２の２値化回路の出力
信号の立ち下がりを検出しエッジパルスを出力する第２
のエッジパルス生成手段とを備え、前記第１のエッジパ
ルス生成手段からのエッジパルス及び前記第２のエッジ
パルス生成手段からのエッジパルスを前記ディスクの偏
心方向及び偏心量を表わす信号として出力するので、構
或が簡単で特別な機構を必要とせず、ディスクの偏心を
高速に検出することができる。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図は
同実施例のタイミングチャート，第３図は本発明の他の
実施例の一部を示すブロック図、第４図は同実施例のタ
イミングチャート、第５図は本発明の別の実施例の一部
を示すブロック図、第６図は同実施例のタイミングチャ
ートである。 ＩＩ・・・ＡＣ結合回路、１２，１３．２３・・・２値
化回路、１４，１．５，２４・・・モノマルチバイブレ
ータ， １６．１７・・・Ｄフリップフロツプ、１８・
・・カウンタ、１９，２１・・・アナログスイッチ、２
０・・・加算器，２２・・・ローバスフィルタ、２５・
・・アップダウンカウンタ、２６・・・ＣＰＵ． （ほが１名ノ 第 １ 図 第 ４ 図 第 ５ 図 偽一愉 ｔｈｌじ力１１（Ｒ対々』） 傭１り−？ｌ自
同実施例のタイミングチャート，第３図は本発明の他の
実施例の一部を示すブロック図、第４図は同実施例のタ
イミングチャート、第５図は本発明の別の実施例の一部
を示すブロック図、第６図は同実施例のタイミングチャ
ートである。 ＩＩ・・・ＡＣ結合回路、１２，１３．２３・・・２値
化回路、１４，１．５，２４・・・モノマルチバイブレ
ータ， １６．１７・・・Ｄフリップフロツプ、１８・
・・カウンタ、１９，２１・・・アナログスイッチ、２
０・・・加算器，２２・・・ローバスフィルタ、２５・
・・アップダウンカウンタ、２６・・・ＣＰＵ． （ほが１名ノ 第 １ 図 第 ４ 図 第 ５ 図 偽一愉 ｔｈｌじ力１１（Ｒ対々』） 傭１り−？ｌ自
Claims (1)
- ディスクを回転させてこのディスクに光学ヘッドで光
スポットを照射し、この光スポットの前記ディスク上の
トラックからのずれを表わすトラック誤差信号と、前記
ディスクの反射光量を表わすＲＦ信号とを前記光学ヘッ
ドで検出するディスク装置において、前記ＲＦ信号から
オフセットを除去するＡＣ結合回路と、このＡＣ結合回
路からのＲＦ信号を２値化する第１の２値化回路と、前
記トラック誤差信号を２値化する第２の２値化回路と、
前記第１の２値化回路の出力信号で前記第２の２値化回
路の出力信号をゲートして前記第２の２値化回路の出力
信号の立ち上がりを検出しエッジパルスを出力する第１
のエッジパルス生成手段と、前記第１の２値化回路の出
力信号で前記第２の２値化回路の出力信号をゲートして
前記第２の２値化回路の出力信号の立ち下がりを検出し
エッジパルスを出力する第２のエッジパルス生成手段と
を備え、前記第１のエッジパルス生成手段からのエッジ
パルス及び前記第２のエッジパルス生成手段からのエッ
ジパルスを前記ディスクの偏心方向及び偏心量を表わす
信号として出力することを特徴とする偏心検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP315790A JPH03207029A (ja) | 1990-01-10 | 1990-01-10 | 偏心検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP315790A JPH03207029A (ja) | 1990-01-10 | 1990-01-10 | 偏心検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03207029A true JPH03207029A (ja) | 1991-09-10 |
Family
ID=11549517
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP315790A Pending JPH03207029A (ja) | 1990-01-10 | 1990-01-10 | 偏心検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03207029A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013035470A1 (ja) * | 2011-09-08 | 2013-03-14 | 三菱電機株式会社 | トラッキング制御方法及びトラッキング制御装置 |
-
1990
- 1990-01-10 JP JP315790A patent/JPH03207029A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013035470A1 (ja) * | 2011-09-08 | 2013-03-14 | 三菱電機株式会社 | トラッキング制御方法及びトラッキング制御装置 |
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