JPH0320702B2 - - Google Patents
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- JPH0320702B2 JPH0320702B2 JP15660180A JP15660180A JPH0320702B2 JP H0320702 B2 JPH0320702 B2 JP H0320702B2 JP 15660180 A JP15660180 A JP 15660180A JP 15660180 A JP15660180 A JP 15660180A JP H0320702 B2 JPH0320702 B2 JP H0320702B2
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- lens
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- axis
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0228—Testing optical properties by measuring refractive power
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/004—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0207—Details of measuring devices
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Eyeglasses (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は眼鏡レンズあるいはコンタクトレンズ
の球面および円柱屈折力等を測定するレンズメー
ターの印点装置に関する。より詳しくは、眼鏡レ
ンズ等の屈折力を自動的に測定する自動レンズメ
ーターにおいて、その測定されるプリズム屈折力
から、逆に眼鏡レンズ等の光学中心を計算して自
動的に印点するレンズメーターの自動印点装置に
関する。
の球面および円柱屈折力等を測定するレンズメー
ターの印点装置に関する。より詳しくは、眼鏡レ
ンズ等の屈折力を自動的に測定する自動レンズメ
ーターにおいて、その測定されるプリズム屈折力
から、逆に眼鏡レンズ等の光学中心を計算して自
動的に印点するレンズメーターの自動印点装置に
関する。
近年、眼鏡レンズ等の球面屈折力、円柱屈折力
及びその軸方向、(以下、これらをまとめて表現
するときは単に屈折特性という)、ならびにプリ
ズム屈折力およびそのベース方向(以下、これら
をまとめて表現するときは単にプリズム特性とい
う)を自動的に測定する、いわゆる自動レンズメ
ーターが開発され実用に供されている。これらの
自動レンズメーターは、眼鏡レンズ等の屈折力の
測定は自動的に出来る点で非常に便利であるが、
被検レンズの光学中心位置、および円柱屈折力の
軸方向のマーキング、すなわち印点に関しては、
従来の検者が接眼鏡をのぞきながら手動で観察測
定する望遠鏡式或いは投影式レンズメーターとあ
まりかわつていないのが現状である。すなわち、
従来のレンズメーターにおいては、被検レンズの
光学中心及び円柱軸に印点する場合、まずレンズ
メーターの光軸に被検レンズ光軸を合致させる必
要があり、このためには、スクリーン上に被検レ
ンズの光学中心を示すマーカーが投影される。被
検レンズの光軸とレンズメーターの光軸とのアラ
インメントを表示する他の手段として、自動レン
ズメーターにおいては表示ランプを用いたものも
あるが、いずれかの場合にもアライメント操作に
は多大の時間を要し、かつアライメント誤差を生
じる恐れがあり、印点の精度を上げることが出来
ず、ひいては眼鏡の加工整に誤差を招いていた。
さらに、被検レンズが乱視レンズの場合、その円
柱軸を印点部の三針の配置方向に一致させねばな
らぬため、被検レンズを回転させる必要があつた
が、この被検レンズの回転という操作および、円
柱軸の合致操作は、時間がかかるばかりか、精度
上も誤差を生じる恐れがあり、眼鏡レンズの調
整・加工上問題があつた。また、被検レンズがプ
リズム加工されたレンズである場合は、被検レン
ズは、一般に、所定のプリズム屈折力をもち所定
のベース方向にその被検レンズの幾何学中心から
ずらして光学中心をもつている。このようなプリ
ズムレンズでは、印点すべき点は光学中心ではな
く、幾何学中心であり、従来のレンズメーターに
おいては、観察視野内に被検レンズの光学中心を
示すコロナ像が、定められたプリズムベース方向
に、定められたプリズムデイオプターだけ視野中
心よりずらして観察されるように被検レンズをア
ライメントする必要がある。この場合、従来の自
動レンズメーターでは、プリズムレンズのアライ
メントの座標変換が必要で、これはもつぱら計算
にたよらざるをえず計算誤差を生じ易く、また変
換後の結果が表示部に表示されるまで被検レンズ
を左、右、上、下方向に移動してアライメント位
置をさぐり出さなければならないというはなはだ
手間のかかる操作をしている結果となつていた。
及びその軸方向、(以下、これらをまとめて表現
するときは単に屈折特性という)、ならびにプリ
ズム屈折力およびそのベース方向(以下、これら
をまとめて表現するときは単にプリズム特性とい
う)を自動的に測定する、いわゆる自動レンズメ
ーターが開発され実用に供されている。これらの
自動レンズメーターは、眼鏡レンズ等の屈折力の
測定は自動的に出来る点で非常に便利であるが、
被検レンズの光学中心位置、および円柱屈折力の
軸方向のマーキング、すなわち印点に関しては、
従来の検者が接眼鏡をのぞきながら手動で観察測
定する望遠鏡式或いは投影式レンズメーターとあ
まりかわつていないのが現状である。すなわち、
従来のレンズメーターにおいては、被検レンズの
光学中心及び円柱軸に印点する場合、まずレンズ
メーターの光軸に被検レンズ光軸を合致させる必
要があり、このためには、スクリーン上に被検レ
ンズの光学中心を示すマーカーが投影される。被
検レンズの光軸とレンズメーターの光軸とのアラ
インメントを表示する他の手段として、自動レン
ズメーターにおいては表示ランプを用いたものも
あるが、いずれかの場合にもアライメント操作に
は多大の時間を要し、かつアライメント誤差を生
じる恐れがあり、印点の精度を上げることが出来
ず、ひいては眼鏡の加工整に誤差を招いていた。
さらに、被検レンズが乱視レンズの場合、その円
柱軸を印点部の三針の配置方向に一致させねばな
らぬため、被検レンズを回転させる必要があつた
が、この被検レンズの回転という操作および、円
柱軸の合致操作は、時間がかかるばかりか、精度
上も誤差を生じる恐れがあり、眼鏡レンズの調
整・加工上問題があつた。また、被検レンズがプ
リズム加工されたレンズである場合は、被検レン
ズは、一般に、所定のプリズム屈折力をもち所定
のベース方向にその被検レンズの幾何学中心から
ずらして光学中心をもつている。このようなプリ
ズムレンズでは、印点すべき点は光学中心ではな
く、幾何学中心であり、従来のレンズメーターに
おいては、観察視野内に被検レンズの光学中心を
示すコロナ像が、定められたプリズムベース方向
に、定められたプリズムデイオプターだけ視野中
心よりずらして観察されるように被検レンズをア
ライメントする必要がある。この場合、従来の自
動レンズメーターでは、プリズムレンズのアライ
メントの座標変換が必要で、これはもつぱら計算
にたよらざるをえず計算誤差を生じ易く、また変
換後の結果が表示部に表示されるまで被検レンズ
を左、右、上、下方向に移動してアライメント位
置をさぐり出さなければならないというはなはだ
手間のかかる操作をしている結果となつていた。
本発明は、上記の従来の自動レンズメーターの
印点操作のかかる欠点を解決するため、レンズメ
ーターで測定されるプリズム屈折力及びそののベ
ース方向、ならびに被検レンズの屈折特性から逆
に被検レンズの光学中心及び乱視用レンズにあつ
ては円柱軸角度を計算し、その計算された位置に
印点針もしくはレンズ受台を移動させ被検レンズ
の光学中心及び円柱軸を印点する自動印点装置を
提供することにある。
印点操作のかかる欠点を解決するため、レンズメ
ーターで測定されるプリズム屈折力及びそののベ
ース方向、ならびに被検レンズの屈折特性から逆
に被検レンズの光学中心及び乱視用レンズにあつ
ては円柱軸角度を計算し、その計算された位置に
印点針もしくはレンズ受台を移動させ被検レンズ
の光学中心及び円柱軸を印点する自動印点装置を
提供することにある。
また他の目的は、被検レンズがプリズムレンズ
で、かつ任意の位置にセツトされていても、あら
かじめ所定のプリズム屈折力及びベース方向(以
下、これをまとめてプリズム量という)をセツト
しておけば、被検レンズのプリズム特性測定値と
セツトされたプリズム量との差を計算し、自動的
に幾何学中心に印点できる自動印点装置を提供す
ることにある。
で、かつ任意の位置にセツトされていても、あら
かじめ所定のプリズム屈折力及びベース方向(以
下、これをまとめてプリズム量という)をセツト
しておけば、被検レンズのプリズム特性測定値と
セツトされたプリズム量との差を計算し、自動的
に幾何学中心に印点できる自動印点装置を提供す
ることにある。
すなわち、本発明の構成上の特徴は、被検レン
ズの屈折特性、及びプリズム特性を自動的に測定
するレンズメーターの該被検レンズの光学中心も
しくは幾何学中心に印点する印点装置において、
互いに相対的に移動可能な被検レンズ受台と少な
くとも1本の印字針を有する印点部とからなる印
点手段と、該レンズメーターの測定部から被検レ
ンズ屈折特性及びプリズム特性の情報を検出する
検出手段と、該検出手段の情報から被検レンズの
光学中心位置もしくは予め入力されたプリズム量
から幾何学中心位置を演算する演算手段と、該演
算手段からの情報を印点手段又は、レンズ受台駆
動用駆動信号に変換する駆動信号手段と、該駆動
信号手段からの情報により該印点手段、前記印点
針が前記光学中心位置もしくは前記幾何学中心位
置を印点するように前記印点手段を駆動させる駆
動手段とから構成されたことである。従つて本発
明によれば、従来のように被検レンズそのものを
移動して印点すべき光学中心をレンズメーターの
光軸(印点針の位置)にセツトさせる必要がな
い。任意におかれた被検レンズについて、レンズ
メーターの屈折特性測定結果から自動的に演算処
理された情報により印点すべき光学中心へ印点部
又はレンズ受台を移動して印点できるため、従来
のように被検レンズの移動による光学中心、円柱
軸角度の印点誤差がない。また、プリズム加工レ
ンズにあつては、あらかじめそのプリズム量をセ
ツトしておくだけで、任意点における被検レンズ
の屈折特性から印点すべき幾何学中心を演算決定
でき、同様に印点部又はレンズ受台を移動させ印
点させるため、より簡単である。
ズの屈折特性、及びプリズム特性を自動的に測定
するレンズメーターの該被検レンズの光学中心も
しくは幾何学中心に印点する印点装置において、
互いに相対的に移動可能な被検レンズ受台と少な
くとも1本の印字針を有する印点部とからなる印
点手段と、該レンズメーターの測定部から被検レ
ンズ屈折特性及びプリズム特性の情報を検出する
検出手段と、該検出手段の情報から被検レンズの
光学中心位置もしくは予め入力されたプリズム量
から幾何学中心位置を演算する演算手段と、該演
算手段からの情報を印点手段又は、レンズ受台駆
動用駆動信号に変換する駆動信号手段と、該駆動
信号手段からの情報により該印点手段、前記印点
針が前記光学中心位置もしくは前記幾何学中心位
置を印点するように前記印点手段を駆動させる駆
動手段とから構成されたことである。従つて本発
明によれば、従来のように被検レンズそのものを
移動して印点すべき光学中心をレンズメーターの
光軸(印点針の位置)にセツトさせる必要がな
い。任意におかれた被検レンズについて、レンズ
メーターの屈折特性測定結果から自動的に演算処
理された情報により印点すべき光学中心へ印点部
又はレンズ受台を移動して印点できるため、従来
のように被検レンズの移動による光学中心、円柱
軸角度の印点誤差がない。また、プリズム加工レ
ンズにあつては、あらかじめそのプリズム量をセ
ツトしておくだけで、任意点における被検レンズ
の屈折特性から印点すべき幾何学中心を演算決定
でき、同様に印点部又はレンズ受台を移動させ印
点させるため、より簡単である。
次に本発明の原理を説明する。被検レンズNの
光軸lがレンズメーターの測定光学系の光軸に一
致している場合は、第1図aに示すように、被検
レンズの焦点は光軸上の点Pに形成される。しか
し被検レンズの光軸lがレンズメーターの光軸L
とずれている場合、すなわち被検レンズNの光学
中心がずれてアライメントされた場合は、第1図
bに示すように、被検レンズNの焦点Pは、被検
レンズNの焦点距離だけ離れてレンズメーターの
光軸に垂直なP平面上に形成される。そしてこの
焦点Pとレンズメーターの光軸Lとのずれ量は、
第2図に示すように、P平面上に光軸Lの通過点
を原点Oとするx、y直交座標系を考えれば、
Px、Pyなる量をもち、これは一般にプリズム量
として取扱われる。今、P平面の原点Oを測定点
としてレンズメーターでプリズム屈折量を測定す
ると、Px(右眼用レンズであればBase inで、プ
リズム屈折量はPx)、−Py Base downでプリズ
ム屈折力Py)と測定される。この場合、Px−Py
なる位置に被検レンズの光学中心があることにな
る。実際には、プリズム屈折力はある光学系にそ
の光軸に平行な光線を入射させ、その光学系を通
過した光線がその光学系を射出後1m離れた位置
でその入射光線の入射位置から1cmずれる場合を
1プリズムデイオプターと定義している。すなわ
ちプリズム屈折力は、光学系の光線偏向量であ
る。われわれが印点する被検レンズの光学中心
は、その被検レンズ測定点に対し、幾何学的に何
cmずれているかという幾何学的長さ量が必要であ
る。球面屈折力のみを有する被検レンズについて
は、第3図のように、被検レンズNの屈折力D、
そのx方向のプリズム屈折力をPx、y方向のプ
リズム屈折力をPyとするとき被検レンズ上での
測定点O1と被検レンズ上の光学中心Hとの幾何
学的なズレ量をx方向でhx、y方向でhyとおけ
ば、一般に Px=D・hx、Py=D・hy …(1) の関係がある。これよりhx、hyをもとめれば hx=Px/D、hy=Py/D …(2) である。従つて、レンズメーターにおいては、被
検レンズの任意点における球面屈折力値、プリズ
ム屈折力値の測定値から、式(2)により被検レンズ
の光学中心位置からのズレ量hx、hyを算出し、
hx、hyだけ測定点すなわちレンズメーターの光
軸からずらして印点すれば、その点が被検レンズ
の光学中心となる。また、予めプリズム加工され
た被検レンズNの幾何学中心に印点する場合は、
第4図に示すように、その幾何学中心Gは光学中
心OからPx、PYのプリズム量を有している。こ
の被検レンズNを任意の測定点Mで測定したと
き、そのプリズム測定量がPx、Pyであつた場
合、印点すべき幾何学中心Gは式(2)から hx=Px−Px/D、hy=PY−Py/D …(3) (ここでDは被検レンズの屈折力) として計算される。また、この被検レンズがPx、
PYという直交座標表示(一般にはBase ln、Base
Out、Base Up、Base Downの用語でベース方
向を表示している。)でなく、合成プリズム量P
とそのベース方向を角度θで表示する極座標表示
として得られた場合は、 PX=P cosθ、PY=P sinθ …(4) の極座標−直交座標変換をしたのち上記の方法を
利用すればよい。
光軸lがレンズメーターの測定光学系の光軸に一
致している場合は、第1図aに示すように、被検
レンズの焦点は光軸上の点Pに形成される。しか
し被検レンズの光軸lがレンズメーターの光軸L
とずれている場合、すなわち被検レンズNの光学
中心がずれてアライメントされた場合は、第1図
bに示すように、被検レンズNの焦点Pは、被検
レンズNの焦点距離だけ離れてレンズメーターの
光軸に垂直なP平面上に形成される。そしてこの
焦点Pとレンズメーターの光軸Lとのずれ量は、
第2図に示すように、P平面上に光軸Lの通過点
を原点Oとするx、y直交座標系を考えれば、
Px、Pyなる量をもち、これは一般にプリズム量
として取扱われる。今、P平面の原点Oを測定点
としてレンズメーターでプリズム屈折量を測定す
ると、Px(右眼用レンズであればBase inで、プ
リズム屈折量はPx)、−Py Base downでプリズ
ム屈折力Py)と測定される。この場合、Px−Py
なる位置に被検レンズの光学中心があることにな
る。実際には、プリズム屈折力はある光学系にそ
の光軸に平行な光線を入射させ、その光学系を通
過した光線がその光学系を射出後1m離れた位置
でその入射光線の入射位置から1cmずれる場合を
1プリズムデイオプターと定義している。すなわ
ちプリズム屈折力は、光学系の光線偏向量であ
る。われわれが印点する被検レンズの光学中心
は、その被検レンズ測定点に対し、幾何学的に何
cmずれているかという幾何学的長さ量が必要であ
る。球面屈折力のみを有する被検レンズについて
は、第3図のように、被検レンズNの屈折力D、
そのx方向のプリズム屈折力をPx、y方向のプ
リズム屈折力をPyとするとき被検レンズ上での
測定点O1と被検レンズ上の光学中心Hとの幾何
学的なズレ量をx方向でhx、y方向でhyとおけ
ば、一般に Px=D・hx、Py=D・hy …(1) の関係がある。これよりhx、hyをもとめれば hx=Px/D、hy=Py/D …(2) である。従つて、レンズメーターにおいては、被
検レンズの任意点における球面屈折力値、プリズ
ム屈折力値の測定値から、式(2)により被検レンズ
の光学中心位置からのズレ量hx、hyを算出し、
hx、hyだけ測定点すなわちレンズメーターの光
軸からずらして印点すれば、その点が被検レンズ
の光学中心となる。また、予めプリズム加工され
た被検レンズNの幾何学中心に印点する場合は、
第4図に示すように、その幾何学中心Gは光学中
心OからPx、PYのプリズム量を有している。こ
の被検レンズNを任意の測定点Mで測定したと
き、そのプリズム測定量がPx、Pyであつた場
合、印点すべき幾何学中心Gは式(2)から hx=Px−Px/D、hy=PY−Py/D …(3) (ここでDは被検レンズの屈折力) として計算される。また、この被検レンズがPx、
PYという直交座標表示(一般にはBase ln、Base
Out、Base Up、Base Downの用語でベース方
向を表示している。)でなく、合成プリズム量P
とそのベース方向を角度θで表示する極座標表示
として得られた場合は、 PX=P cosθ、PY=P sinθ …(4) の極座標−直交座標変換をしたのち上記の方法を
利用すればよい。
これまでの説明は、被検レンズの屈折力とし
て、球面屈折力のみ若しくは球面屈折力に対し円
柱屈折力がきわめて小さい場合の近似として被検
レンズの屈折力をDとして計算した。しかしより
正確に印点するためには自動レンズメーターで測
定される球面屈折力、円柱屈折力及びその軸角度
と、これら諸量に無関係な純粋なプリズム測定量
とから、以下の方法で計算する。
て、球面屈折力のみ若しくは球面屈折力に対し円
柱屈折力がきわめて小さい場合の近似として被検
レンズの屈折力をDとして計算した。しかしより
正確に印点するためには自動レンズメーターで測
定される球面屈折力、円柱屈折力及びその軸角度
と、これら諸量に無関係な純粋なプリズム測定量
とから、以下の方法で計算する。
自動レンズメーターにより測定された被検レン
ズの屈折特性を、 球面屈折力 S 円柱屈折力 C 円柱軸角度 θ 水平方向プリズム量 PX 垂直方向プリズム量 PY とすると、第5図に示すように、レンズの光学中
心のズレに起因するレンズの球面成分のプリズム
果sPx、sPyおよび円柱成分のプリズム効果cPx、
cPyはそれぞれ sPx=s・hx sPy=S・hy cPx=C・MK・sinθ cPy=C・MK・cosθ …(a) となる。ここで =・cosθ =(hy+hx・tanθ)・cosθ =hy・cosθ+hx・sinθ となり、ゆえに cPx=C・(hy・cosθ+hx・sinθ) sinθ cPy=C・(hy・cosθ+hx・sinθ) ・cosθ …(b) レンズの総合プリズム効果Px、Pyは、その球
面成分のプリズム効果sPx、sPyおよび円柱成分
のプリズム効果cPx、cPyを合成したものである
から、上記(a)式と(b)式から Px=sPx+cPx =S・hx+C・(hy・cosθ+hx・sinθ)・
sinθ =hx(S+C・sin2θ)+hy・C・sinθ・
cosθ Py〕sPy+cPy =S・hy+C・(hy・cosθ+hx・sinθ)・
cosθ =hx・C・sinθ・cosθ+hy(S+C・
cos2θ) …(c) これより、 hy・C・sinθ・cosθ/hy(S+C・cos2θ)= Px−hx(S+C・sin2θ)/Py−hx・C・sinθ・cosθ Py・C・sinθ・cosθ−hx・C2・sin2θ・cos2θ =Px(S+C・cos2θ)−hx(S2+S・C+
C2・sin2θ・cos2θ) ∴hx=
Px(S+C・cos2θ)−Py・C・sinθ・cosθ/S(S
+C) …(d) (c)式より hy=Px−hx(S+C・sin2θ)/C・sinθ・cosθ となる。そして上式に(d)式を代入すると、その分
子は Px・S(S+C)−(S+C・sin2θ)〔Px(S+
C・cos2θ) −Py・C・sinθ・cosθ =Px・S(S+C)−Px(S2+S・C+C2・
sin2θ・cos2θ) +Py・C・sinθ・cosθ(S+C・sin2θ) =Py・C・sinθ・cosθ(S+C・sin2θ) −Pxp・C2・sin2θ・cos2θ となり、また分母は S(S+C)・C・Sinθ・cosθ となるから、結局 hy=
Py(S+C・sin2θ)−Px・C・sinθ・cosθ/S(S
+C) …(e) となる。上記(d)式と(e)式から被検レンズの光学中
心Oは、 により計算される。
ズの屈折特性を、 球面屈折力 S 円柱屈折力 C 円柱軸角度 θ 水平方向プリズム量 PX 垂直方向プリズム量 PY とすると、第5図に示すように、レンズの光学中
心のズレに起因するレンズの球面成分のプリズム
果sPx、sPyおよび円柱成分のプリズム効果cPx、
cPyはそれぞれ sPx=s・hx sPy=S・hy cPx=C・MK・sinθ cPy=C・MK・cosθ …(a) となる。ここで =・cosθ =(hy+hx・tanθ)・cosθ =hy・cosθ+hx・sinθ となり、ゆえに cPx=C・(hy・cosθ+hx・sinθ) sinθ cPy=C・(hy・cosθ+hx・sinθ) ・cosθ …(b) レンズの総合プリズム効果Px、Pyは、その球
面成分のプリズム効果sPx、sPyおよび円柱成分
のプリズム効果cPx、cPyを合成したものである
から、上記(a)式と(b)式から Px=sPx+cPx =S・hx+C・(hy・cosθ+hx・sinθ)・
sinθ =hx(S+C・sin2θ)+hy・C・sinθ・
cosθ Py〕sPy+cPy =S・hy+C・(hy・cosθ+hx・sinθ)・
cosθ =hx・C・sinθ・cosθ+hy(S+C・
cos2θ) …(c) これより、 hy・C・sinθ・cosθ/hy(S+C・cos2θ)= Px−hx(S+C・sin2θ)/Py−hx・C・sinθ・cosθ Py・C・sinθ・cosθ−hx・C2・sin2θ・cos2θ =Px(S+C・cos2θ)−hx(S2+S・C+
C2・sin2θ・cos2θ) ∴hx=
Px(S+C・cos2θ)−Py・C・sinθ・cosθ/S(S
+C) …(d) (c)式より hy=Px−hx(S+C・sin2θ)/C・sinθ・cosθ となる。そして上式に(d)式を代入すると、その分
子は Px・S(S+C)−(S+C・sin2θ)〔Px(S+
C・cos2θ) −Py・C・sinθ・cosθ =Px・S(S+C)−Px(S2+S・C+C2・
sin2θ・cos2θ) +Py・C・sinθ・cosθ(S+C・sin2θ) =Py・C・sinθ・cosθ(S+C・sin2θ) −Pxp・C2・sin2θ・cos2θ となり、また分母は S(S+C)・C・Sinθ・cosθ となるから、結局 hy=
Py(S+C・sin2θ)−Px・C・sinθ・cosθ/S(S
+C) …(e) となる。上記(d)式と(e)式から被検レンズの光学中
心Oは、 により計算される。
以下本発明の実施例を図について説明する。レ
ンズメータの印点装置の第1の実施例は、第6図
に示すように、Aは印点部であり、カーソル1
は、インクペン6、ソレノイド19よりなり、Y
−方向アーム2に支持されており、Y−AXISモ
ーター16によりY方向に駆動される。又Y−方
向アーム2は、X−方向アーム3により支持され
ており、X−AXISモーター17によつてX−方
向アーム3上を駆動される構成となつている。4
は被検レンズ、5はレンズ支持台、7は測定装置
の光軸である。8は自動レンズメーター(コンピ
ユーテイングレンズメーター)の検出処理部であ
り、被検レンズの円柱度、乱視度、乱視軸度、プ
リズム屈折力を表示、出力する構成となつてい
る。
ンズメータの印点装置の第1の実施例は、第6図
に示すように、Aは印点部であり、カーソル1
は、インクペン6、ソレノイド19よりなり、Y
−方向アーム2に支持されており、Y−AXISモ
ーター16によりY方向に駆動される。又Y−方
向アーム2は、X−方向アーム3により支持され
ており、X−AXISモーター17によつてX−方
向アーム3上を駆動される構成となつている。4
は被検レンズ、5はレンズ支持台、7は測定装置
の光軸である。8は自動レンズメーター(コンピ
ユーテイングレンズメーター)の検出処理部であ
り、被検レンズの円柱度、乱視度、乱視軸度、プ
リズム屈折力を表示、出力する構成となつてい
る。
被検レンズ4の光学中心と自動レンズメーター
の機器軸7が合致しない状態で測定が行なわれ、
検出処理部8が乱視軸角度aを804、レンズの
デイオプトリーDを803、プリズム屈折力Px
を802、プリズム屈折力Pyを801に出力し、
かつ測定終了の信号をプログラムカウンター20
に出力したとする。プログラムカウンター20
は、全体のシーケンスを司さどるものであり、測
定終了信号を受けると、測定光をさえぎらないた
めに退避していた印点機構Pを測定軸上に動かす
ために初期コントロール回路13に信号を与え
る。印点機構Pの退避位置は、図示しないX方及
びY方向の2つのリミツトスイツチにより定めら
れる。従つて設定値レジスター12に測定軸まで
の移動量を、パルスモーター16,17を駆動す
るパルス数として設定しておけば、初期コントロ
ール回路13はプログラムカウンター20の出力
を受けて該パルス数を読み取り、特定パルスをモ
ータードライバー14,15に出力してカーソル
1を測定軸上まで移動する。より回路を簡単にす
るためには、一旦測定軸まで移動させる事なく直
接印点位置まで移動させてもよい。
の機器軸7が合致しない状態で測定が行なわれ、
検出処理部8が乱視軸角度aを804、レンズの
デイオプトリーDを803、プリズム屈折力Px
を802、プリズム屈折力Pyを801に出力し、
かつ測定終了の信号をプログラムカウンター20
に出力したとする。プログラムカウンター20
は、全体のシーケンスを司さどるものであり、測
定終了信号を受けると、測定光をさえぎらないた
めに退避していた印点機構Pを測定軸上に動かす
ために初期コントロール回路13に信号を与え
る。印点機構Pの退避位置は、図示しないX方及
びY方向の2つのリミツトスイツチにより定めら
れる。従つて設定値レジスター12に測定軸まで
の移動量を、パルスモーター16,17を駆動す
るパルス数として設定しておけば、初期コントロ
ール回路13はプログラムカウンター20の出力
を受けて該パルス数を読み取り、特定パルスをモ
ータードライバー14,15に出力してカーソル
1を測定軸上まで移動する。より回路を簡単にす
るためには、一旦測定軸まで移動させる事なく直
接印点位置まで移動させてもよい。
以上の作動が終了すると、プログラムカウンタ
ー20は、1ステツプ進められ、演算回路9,1
0の出力をパルス発生器23,24に供給するよ
うにセレクター21,22をコントロールする。
演算回路9は、Y方向のプリズム値と被測定レン
ズのデイオプトリーとからY方向の軸ずれ量hy
を演算するもので、hyは式(1)より求まる。演算
回路10も同様にX方向の軸ずれ量hxを演算す
るものであり、演算回路9,10はともに乗算回
路と除算回路により構成されている。
ー20は、1ステツプ進められ、演算回路9,1
0の出力をパルス発生器23,24に供給するよ
うにセレクター21,22をコントロールする。
演算回路9は、Y方向のプリズム値と被測定レン
ズのデイオプトリーとからY方向の軸ずれ量hy
を演算するもので、hyは式(1)より求まる。演算
回路10も同様にX方向の軸ずれ量hxを演算す
るものであり、演算回路9,10はともに乗算回
路と除算回路により構成されている。
演算回路9,10の出力はセレクター21,2
2を経てパルス発生器23,24に出力される。
パルス発生器23,24は演算された軸ずれ量
hx,hyに対応したパルス数をモータードライバ
ー14,15に出力するものであり、これによつ
てカーソル1は被測定レンズの光学中心上に移動
させられ、かつプログラムカウンター20よりの
信号によりソレノイドドライバー18、ソレノイ
ド19が作動して被検レンズ4の光学中心に印点
を行なう。以上の作動が終了するとプログラムカ
ウンター20は更に次のスラツプに移行して、演
算回路11の出力をパルス発生器23,24に供
給するようにセレクター21,22をコントロー
ルする。演算回路11は自動レンズメーター8よ
り出力される乱視軸角度をX−Y方向のベクトル
に分解するものである。
2を経てパルス発生器23,24に出力される。
パルス発生器23,24は演算された軸ずれ量
hx,hyに対応したパルス数をモータードライバ
ー14,15に出力するものであり、これによつ
てカーソル1は被測定レンズの光学中心上に移動
させられ、かつプログラムカウンター20よりの
信号によりソレノイドドライバー18、ソレノイ
ド19が作動して被検レンズ4の光学中心に印点
を行なう。以上の作動が終了するとプログラムカ
ウンター20は更に次のスラツプに移行して、演
算回路11の出力をパルス発生器23,24に供
給するようにセレクター21,22をコントロー
ルする。演算回路11は自動レンズメーター8よ
り出力される乱視軸角度をX−Y方向のベクトル
に分解するものである。
一般に被検レンズ4上には第7図に示すように
印点する。点A0は被検レンズの光学中心を表わ
し、点A1と点A2とによつて円柱軸方向を表わす。
距離r(A0−A1)は自由であるが、通常10〜20mm
程度である。従つて演算回路11は周知の極座標
→直交座標の変換式(4)を演算する。ここでrは10
〜20mmで固定であるから、θの値に対応するAx,
Ayの値をリードオンリーメモリー(ROM)等に
書き込んだTABLEを作製しておけばよい。以上
により演算回路11はA1の点の位置Ax,Ayを
演算して、パルス発生器23,24に出力する。
そして点A2はA1点を印点した後に、カーソル1
をA0よりA1までの移動量の倍の値をX,Y方向
共に逆方向に移動して印点する。以上のシーケン
スの制御はすべてプログラムカウンタ20によつ
て管理される。
印点する。点A0は被検レンズの光学中心を表わ
し、点A1と点A2とによつて円柱軸方向を表わす。
距離r(A0−A1)は自由であるが、通常10〜20mm
程度である。従つて演算回路11は周知の極座標
→直交座標の変換式(4)を演算する。ここでrは10
〜20mmで固定であるから、θの値に対応するAx,
Ayの値をリードオンリーメモリー(ROM)等に
書き込んだTABLEを作製しておけばよい。以上
により演算回路11はA1の点の位置Ax,Ayを
演算して、パルス発生器23,24に出力する。
そして点A2はA1点を印点した後に、カーソル1
をA0よりA1までの移動量の倍の値をX,Y方向
共に逆方向に移動して印点する。以上のシーケン
スの制御はすべてプログラムカウンタ20によつ
て管理される。
レンズメーターの印点装置の第2実施例は、第
8図に示され、より正確なhxhyを算出して印点
する特徴を有するものである。第8図において、
第6図に示すブロツクと同一の作動をするブロツ
クには同一番号を付してある(印点量に関わる情
報経路は実線で、各ブロツク素子のコントロール
系は破線で示してある。)。25はプリズム加工さ
れた被検レンズのプリズム値を入力する入力キー
ボードであり、直交座標系により水平、垂直方向
プリズム値(PX,PY)又は合成プリズム量、お
よびそのベース方向を角度表示する極座標(P,
θ)の両方を入力できる。
8図に示され、より正確なhxhyを算出して印点
する特徴を有するものである。第8図において、
第6図に示すブロツクと同一の作動をするブロツ
クには同一番号を付してある(印点量に関わる情
報経路は実線で、各ブロツク素子のコントロール
系は破線で示してある。)。25はプリズム加工さ
れた被検レンズのプリズム値を入力する入力キー
ボードであり、直交座標系により水平、垂直方向
プリズム値(PX,PY)又は合成プリズム量、お
よびそのベース方向を角度表示する極座標(P,
θ)の両方を入力できる。
入力キーボード25に入力されたPX信号は、
自動レンズメーターの検出処理部8からのプリズ
ム測定値Pxとの間で(PX−Px)の計算をする減
算器28へ入力されて減算処理される。またPY
信号は、同様に自動レンズメーターの検出処理部
8からのプリズム測定値Pyとの間で(PY−Py)
の計算をする減算器27へ入力されて減算処理さ
れる。また入力キーボード25へ(p,θ)の形
で入力されると、式(4)によつて極座標表示を直座
標表示に変換する座標変換器26へ入力され、
(p,θ)が(PX,PY)に変換されて減算器2
7,28へ入力され、入力キーボード25へ
(PX,PY)が入力された場合と同様の減算処理さ
れる。セレクター29および30は、入力キーボ
ード25にプリズム値が力されたときには減算器
27および28からの減算値をセレクトし、入力
キーボード25にプリズム値が入力されないとき
には自動レンズメーターの検出処理部8からの
Px信号をセレクトする。セレクター29,30
は、入力キーボード25に入力されているか否か
を伝えるコントロール信号S1,S2(破線)によつ
てコントロールされる。演算回路9′,10′は第
6図と同様hx,hyを演算するための回路である
が、第8図においてはその入力が自動レンズメー
ターの検出処理部8からのS、C、θ及びPx,
Py、もしくはセレクター29,30からの(PX,
Px)、(PY−Py)値であり、演算は式(5)によつて
演算され、出力はセレクター21,22へ入力さ
れる。以後の作動は第6図と同様である。
自動レンズメーターの検出処理部8からのプリズ
ム測定値Pxとの間で(PX−Px)の計算をする減
算器28へ入力されて減算処理される。またPY
信号は、同様に自動レンズメーターの検出処理部
8からのプリズム測定値Pyとの間で(PY−Py)
の計算をする減算器27へ入力されて減算処理さ
れる。また入力キーボード25へ(p,θ)の形
で入力されると、式(4)によつて極座標表示を直座
標表示に変換する座標変換器26へ入力され、
(p,θ)が(PX,PY)に変換されて減算器2
7,28へ入力され、入力キーボード25へ
(PX,PY)が入力された場合と同様の減算処理さ
れる。セレクター29および30は、入力キーボ
ード25にプリズム値が力されたときには減算器
27および28からの減算値をセレクトし、入力
キーボード25にプリズム値が入力されないとき
には自動レンズメーターの検出処理部8からの
Px信号をセレクトする。セレクター29,30
は、入力キーボード25に入力されているか否か
を伝えるコントロール信号S1,S2(破線)によつ
てコントロールされる。演算回路9′,10′は第
6図と同様hx,hyを演算するための回路である
が、第8図においてはその入力が自動レンズメー
ターの検出処理部8からのS、C、θ及びPx,
Py、もしくはセレクター29,30からの(PX,
Px)、(PY−Py)値であり、演算は式(5)によつて
演算され、出力はセレクター21,22へ入力さ
れる。以後の作動は第6図と同様である。
第6図、第8図に示す印点部Aは、第9図に詳
細に示すように、X軸方向レール62,62′が
支持板61,61′に挿着されていて、レール6
2,62′によつてX軸用ステージ63が摺動自
在に貫通保持されている。またX軸用ステージ6
3はギヤ70が貫通係合しており、ギヤ70は支
持板61に取付けられたX軸方駆動パルスモータ
ー17に連結されている。X軸用ステージ63と
レール保持板64との間には、Y軸方向レール6
5,65′(ギヤ71にかくれて見えない)が挿
着されている。レール65,65′には、Y軸用
ステージ66が摺動自在に貫通保持され、またギ
ヤ71もこのY軸用ステージ66に貫通係合され
ており、ギヤ71はX軸用ステージ63に取付け
られたY軸方駆動パルスモータ16に連絡されて
いる。Y軸用ステージ66には、印点針部67が
取付けられている。この印点針部67には、印点
時に針先6を押さげるためのソレノイド19を内
蔵している。針先6はX−Yレコーダーに使用さ
れているペン先と同様の構造を有している。上記
印点部Aの作動を説明すると、第6図および第8
図のパルス発生器23,24からの信号がX軸方
駆動パルスモーター17、Y軸方駆動パルスモー
ター16に送られ、パルスモーター16,17が
そのパルス数分回転する。パルスモータ17の回
転はギヤ70を回転させ、ギヤ70の回転により
X軸用ステージ63がレール62,62′にそつ
てX軸方に移動する。同様にパルスモータ16の
回転はギヤ71を回転させ、ギヤ71の回転によ
りY軸用ステージ66がール65,65′にそつ
てY軸方向に移動する。印点指令信号が入力され
ると、プログラムカウンター20からの指令によ
りソレノイドドライバー18に指令が入り、ソレ
ノイド19を作動して針先6を押しさげ、被検レ
ンズ4に印点する。
細に示すように、X軸方向レール62,62′が
支持板61,61′に挿着されていて、レール6
2,62′によつてX軸用ステージ63が摺動自
在に貫通保持されている。またX軸用ステージ6
3はギヤ70が貫通係合しており、ギヤ70は支
持板61に取付けられたX軸方駆動パルスモータ
ー17に連結されている。X軸用ステージ63と
レール保持板64との間には、Y軸方向レール6
5,65′(ギヤ71にかくれて見えない)が挿
着されている。レール65,65′には、Y軸用
ステージ66が摺動自在に貫通保持され、またギ
ヤ71もこのY軸用ステージ66に貫通係合され
ており、ギヤ71はX軸用ステージ63に取付け
られたY軸方駆動パルスモータ16に連絡されて
いる。Y軸用ステージ66には、印点針部67が
取付けられている。この印点針部67には、印点
時に針先6を押さげるためのソレノイド19を内
蔵している。針先6はX−Yレコーダーに使用さ
れているペン先と同様の構造を有している。上記
印点部Aの作動を説明すると、第6図および第8
図のパルス発生器23,24からの信号がX軸方
駆動パルスモーター17、Y軸方駆動パルスモー
ター16に送られ、パルスモーター16,17が
そのパルス数分回転する。パルスモータ17の回
転はギヤ70を回転させ、ギヤ70の回転により
X軸用ステージ63がレール62,62′にそつ
てX軸方に移動する。同様にパルスモータ16の
回転はギヤ71を回転させ、ギヤ71の回転によ
りY軸用ステージ66がール65,65′にそつ
てY軸方向に移動する。印点指令信号が入力され
ると、プログラムカウンター20からの指令によ
りソレノイドドライバー18に指令が入り、ソレ
ノイド19を作動して針先6を押しさげ、被検レ
ンズ4に印点する。
ところで、第9図に示す実施例では、X軸方向
およびY軸方向の駆動用パルスモータに一般的な
回転パルスモーターを使用した例を説明した。し
かし、この回転型パルスモータの代りに、回転型
モータの1次側、2次側及び両者のギヤツプを直
線状に引き伸ばすことにより電気エネルギーを直
接、直線的機械エネルギーに変換して推力を発生
する、いわゆるリニアパルスモーターを利用する
ことができる。この場合第9図のギヤ70、ギヤ
71が不要となり、かつレール62,65と駆動
用モーターが一体構造化でき、印点部Aがより簡
単に構成できる。すなわち第10図において、支
持板61,61′にはレール62′とその上面にリ
ニアパルスモーターの一次側電磁部203を有す
るレール202が取付けられていて、このレール
62′,202にはX方向ステージ201が摺動
可能に貫通保持されている。X方向ステージ20
1はリニアパルスモーターの2次側電磁部204
を内蔵している。またX方向ステージ201はア
ーム部201aを有し、このアーム部201aは
Y方向駆動用のリニアパルスモーターの1次側電
磁部を有し、またアーム部201aの両端には突
出部208a,208bが設けられている。アー
ム部201aには、さらにY方向ステージ206
が摺動可能に貫通保持されており、Y方向ステー
ジ206内はY方向駆動用リニアパルスモーター
の2次側電磁部を内蔵している。またY方向ステ
ージ206の下方には印点針部67を配設してい
る。この印点針部67は、第9図に示す実施例と
同じ構成になつている。
およびY軸方向の駆動用パルスモータに一般的な
回転パルスモーターを使用した例を説明した。し
かし、この回転型パルスモータの代りに、回転型
モータの1次側、2次側及び両者のギヤツプを直
線状に引き伸ばすことにより電気エネルギーを直
接、直線的機械エネルギーに変換して推力を発生
する、いわゆるリニアパルスモーターを利用する
ことができる。この場合第9図のギヤ70、ギヤ
71が不要となり、かつレール62,65と駆動
用モーターが一体構造化でき、印点部Aがより簡
単に構成できる。すなわち第10図において、支
持板61,61′にはレール62′とその上面にリ
ニアパルスモーターの一次側電磁部203を有す
るレール202が取付けられていて、このレール
62′,202にはX方向ステージ201が摺動
可能に貫通保持されている。X方向ステージ20
1はリニアパルスモーターの2次側電磁部204
を内蔵している。またX方向ステージ201はア
ーム部201aを有し、このアーム部201aは
Y方向駆動用のリニアパルスモーターの1次側電
磁部を有し、またアーム部201aの両端には突
出部208a,208bが設けられている。アー
ム部201aには、さらにY方向ステージ206
が摺動可能に貫通保持されており、Y方向ステー
ジ206内はY方向駆動用リニアパルスモーター
の2次側電磁部を内蔵している。またY方向ステ
ージ206の下方には印点針部67を配設してい
る。この印点針部67は、第9図に示す実施例と
同じ構成になつている。
印点部Aの他の実施例は、第11図に示すよう
に、支持板72にX軸方向駆動パルスモーター1
7とY軸方向駆動パルスモーター16とが取付け
られていて、パルスモーター17の軸にはプーリ
ー74が、またパルスモーター16の軸にはプー
リー74′が取付けられている。また支持板72
と支持板73との間にはX軸用レール75が挿着
されており、レール75はX軸用ステージ76を
摺動自在に貫通保持している。X軸用ステージ7
6と、第2のX軸用ステージ77との間にはY軸
用レール78,78′が挿着されており、レール
78,78′はY軸用ステージ79を摺動自在に
貫通保持している。このY軸用ステージ79には
第9図に示す印点針部67と同様の印点針67が
取付けられている。第2のX軸用ステージ77は
支持板72,73にレール75と平行に挿着され
たレール75′に摺動自在に貫通保持され、ステ
ージ76と一体的にX軸方向に移動可能となつて
いる。支持板72,73にはレール80,80′
がレール75と平行に挿着されていて、レール8
0,80′にはテンシヨンコントロールステージ
81が摺動自在に貫通保持されている。テンシヨ
ンコントロールステージ81には、一方の端部を
支持板72に結合されたバネ82の他方の端部が
連結されていて、テンシヨンコントロール81は
つねにX軸方向の一方方向に付勢されている。X
軸用ステージ76の一側面76aには、X軸用ス
テージ駆動ワイヤー83の一端が固着されてお
り、ワイヤー83は支持体72に取付られたアイ
ドルプーリー84,85に巻架され、上記プーリ
ー74に巻きつけられ、さらに支持板72,73
に取付けられたアイドルプーリー86,87,8
8に巻架され、X軸用ステージの側面76bに必
要な張力をもつて固着されている。他方Y軸用ス
テージ駆動用ワイヤー89は、一端がY軸用ステ
ージ79の側面79aに固着され、第二のX軸用
ステージ77に取付けられたアイドルプーリー9
0、X軸用ステージ76に取付けられたアイドル
プーリー91、及び支持板72に取付けられたア
イドルプーリー92,93に巻架され、テンシヨ
ンコントロールステージ81に同軸的にかつ独立
して回転可能に取付けられた2つのアイドルプー
リー94a,94bのうちの下側のアイドルプー
リー94aに巻架され、支持板72に同軸的にか
つ独立して回転可能に取付けられた2つのアイド
ルプーリー95a,95bのうちの外側のアイド
ルプーリー95aに巻架され、さらに支持板72
に取付けられたアイドルプーリー96、上記プー
リー74′、支持板72に取付けられたアイドル
プーリー97、上記アイドルプーリー95b,9
4b、支持板72に取付けられたアイドルプーリ
ー98,99、X軸用ステージ76に取付けられ
たアイドルプーリー100にそれぞれ巻架されY
軸用ステージ79の側面79bに必要な張力をも
つて固着されている。また、X軸用ステージ76
の側面76bにはテンシヨンコントロール用ワイ
ヤー101の一端が固着されており、このワイヤ
ー101は支持板73に取付けられたアイドルプ
ーリー102、テンシヨンコントロールステージ
81に取付けられたアイドルプーリー103に巻
架され、その他端を支持板73に取付けられた突
出ピン104に固着されている。第11図に示す
実施例の作動を説明すれば、第6図もしくは第8
図のパルス発生器23あるいは24の信号により
モータードライバー14,15、X軸駆動用モー
ター17、Y軸駆動用モーター16に駆動パルス
を送る。ここでX軸駆動用モーター17が回転す
ると、その回転はX軸駆動用ワイヤー83に伝え
られ、上記したX軸駆動用ワイヤー83の巻架ル
ートに従つてワイヤーは動き、X軸用ステージ7
6をレール75にそつて動かす。また、Y軸駆動
用モーター16の回転は、Y軸駆動用ワイヤー8
9を動かし、Y軸用ステージ79をレール78,
78′にそつて動かす。ここでテンシヨンコント
ロールステージ81は、X軸用ステージが動いた
とき、その動きによつてY軸用ステージが動かな
いようにするためのものである。このようにし
て、印点針部67をパルスモーター16,17に
より要求される位置に動し、以下第9図と同様の
方法で被検レンズ4に印点する。
に、支持板72にX軸方向駆動パルスモーター1
7とY軸方向駆動パルスモーター16とが取付け
られていて、パルスモーター17の軸にはプーリ
ー74が、またパルスモーター16の軸にはプー
リー74′が取付けられている。また支持板72
と支持板73との間にはX軸用レール75が挿着
されており、レール75はX軸用ステージ76を
摺動自在に貫通保持している。X軸用ステージ7
6と、第2のX軸用ステージ77との間にはY軸
用レール78,78′が挿着されており、レール
78,78′はY軸用ステージ79を摺動自在に
貫通保持している。このY軸用ステージ79には
第9図に示す印点針部67と同様の印点針67が
取付けられている。第2のX軸用ステージ77は
支持板72,73にレール75と平行に挿着され
たレール75′に摺動自在に貫通保持され、ステ
ージ76と一体的にX軸方向に移動可能となつて
いる。支持板72,73にはレール80,80′
がレール75と平行に挿着されていて、レール8
0,80′にはテンシヨンコントロールステージ
81が摺動自在に貫通保持されている。テンシヨ
ンコントロールステージ81には、一方の端部を
支持板72に結合されたバネ82の他方の端部が
連結されていて、テンシヨンコントロール81は
つねにX軸方向の一方方向に付勢されている。X
軸用ステージ76の一側面76aには、X軸用ス
テージ駆動ワイヤー83の一端が固着されてお
り、ワイヤー83は支持体72に取付られたアイ
ドルプーリー84,85に巻架され、上記プーリ
ー74に巻きつけられ、さらに支持板72,73
に取付けられたアイドルプーリー86,87,8
8に巻架され、X軸用ステージの側面76bに必
要な張力をもつて固着されている。他方Y軸用ス
テージ駆動用ワイヤー89は、一端がY軸用ステ
ージ79の側面79aに固着され、第二のX軸用
ステージ77に取付けられたアイドルプーリー9
0、X軸用ステージ76に取付けられたアイドル
プーリー91、及び支持板72に取付けられたア
イドルプーリー92,93に巻架され、テンシヨ
ンコントロールステージ81に同軸的にかつ独立
して回転可能に取付けられた2つのアイドルプー
リー94a,94bのうちの下側のアイドルプー
リー94aに巻架され、支持板72に同軸的にか
つ独立して回転可能に取付けられた2つのアイド
ルプーリー95a,95bのうちの外側のアイド
ルプーリー95aに巻架され、さらに支持板72
に取付けられたアイドルプーリー96、上記プー
リー74′、支持板72に取付けられたアイドル
プーリー97、上記アイドルプーリー95b,9
4b、支持板72に取付けられたアイドルプーリ
ー98,99、X軸用ステージ76に取付けられ
たアイドルプーリー100にそれぞれ巻架されY
軸用ステージ79の側面79bに必要な張力をも
つて固着されている。また、X軸用ステージ76
の側面76bにはテンシヨンコントロール用ワイ
ヤー101の一端が固着されており、このワイヤ
ー101は支持板73に取付けられたアイドルプ
ーリー102、テンシヨンコントロールステージ
81に取付けられたアイドルプーリー103に巻
架され、その他端を支持板73に取付けられた突
出ピン104に固着されている。第11図に示す
実施例の作動を説明すれば、第6図もしくは第8
図のパルス発生器23あるいは24の信号により
モータードライバー14,15、X軸駆動用モー
ター17、Y軸駆動用モーター16に駆動パルス
を送る。ここでX軸駆動用モーター17が回転す
ると、その回転はX軸駆動用ワイヤー83に伝え
られ、上記したX軸駆動用ワイヤー83の巻架ル
ートに従つてワイヤーは動き、X軸用ステージ7
6をレール75にそつて動かす。また、Y軸駆動
用モーター16の回転は、Y軸駆動用ワイヤー8
9を動かし、Y軸用ステージ79をレール78,
78′にそつて動かす。ここでテンシヨンコント
ロールステージ81は、X軸用ステージが動いた
とき、その動きによつてY軸用ステージが動かな
いようにするためのものである。このようにし
て、印点針部67をパルスモーター16,17に
より要求される位置に動し、以下第9図と同様の
方法で被検レンズ4に印点する。
次に、印点針部をX−Y方向に駆動するかわり
にレンズ受台をX−Y方向に駆動し、所定の印点
位置を選定するための実施例を第12図に示す。
支持板110a,110bにはX軸方向ガイドレ
ール112a,112bが挿着されていて、レー
ル112a,112bはX軸方向ステージ111
を、摺動可能に貫通保持している。X軸方向ステ
ージ111にはギヤ113が貫通係合しており、
ギヤ113は支持板110aに取付けられたX軸
駆動パルスモーター17に連結している。X軸方
向ステージ111は、Y軸方向ガイドレール11
4a,114bを挿着している。Y軸方向ステー
ジ116は、ガイドレール114a,114bに
よて摺動自在に貫通保持されている。またギヤ1
15が貫通係合していて、このギヤ115がX軸
方向ステージ111に取付られたY軸方向駆動モ
ーター16に連結されている。Y軸方向ステージ
116は被検レンズ受117を配設されていて、
この上に被検レンズ4が載置される。載置された
被検レンズ4は、X軸方向ステージの突出壁11
8に取付けられた弾性部材からなるレンズ押え具
119のレンズ押え環120により押えつけられ
て保持される。レンズメーター本体には軸122
があり、この軸122に回転自動に取付けられた
印点アーム部123がある。印点アーム123
は、印点しないときは、回転させられた被検レン
ズの測定に邪魔にならないように光軸外に退避し
ている。印点するときは、印点アーム部123を
軸122の突出面125にアーム軸126の切断
面127が当接するまで回転する。印点針はこの
当接した状態で基準位置にくるようにしてある。
印点アーム部123は軸122に回転自在に取付
けられたアーム軸126を有し、その軸内に軸回
転パルスモーター128を有している。また、ア
ーム軸126にはアーム124が取付けられてい
る。アーム124には、軸回転パルスモーター1
28と連結されたプーリー129と、プーリー1
29に巻架するベルト130が巻架するプーリー
131が取付けられている。プーリー131には
印点針部132を一体的に取付けている。印点針
部132は、3本の印点針133a,133b,
133cを有しており、プーリー131の回転に
より回転するようになつている。この印点針の1
つ133bの線XII−XIIに沿つた断面を第12図に
示す。印点針部132内にはソレノイド19が内
蔵されている。ソレノイド19の下方においてス
ライドアーム135がプーリー131の軸部13
9に摺動可能に配置されており、スライドアーム
135はバネ136で支えられている。スライド
アーム135は突出部135aを有し、この突出
部135aはプーリー軸139のスロツト131
aをスライドするようになつている スライドア
ーム135の下方は印点用インクツボ137が形
成されており、この中に印点用インクが入れられ
る。この印点用インクは針先138により被検レ
ンズ4に印点される。
にレンズ受台をX−Y方向に駆動し、所定の印点
位置を選定するための実施例を第12図に示す。
支持板110a,110bにはX軸方向ガイドレ
ール112a,112bが挿着されていて、レー
ル112a,112bはX軸方向ステージ111
を、摺動可能に貫通保持している。X軸方向ステ
ージ111にはギヤ113が貫通係合しており、
ギヤ113は支持板110aに取付けられたX軸
駆動パルスモーター17に連結している。X軸方
向ステージ111は、Y軸方向ガイドレール11
4a,114bを挿着している。Y軸方向ステー
ジ116は、ガイドレール114a,114bに
よて摺動自在に貫通保持されている。またギヤ1
15が貫通係合していて、このギヤ115がX軸
方向ステージ111に取付られたY軸方向駆動モ
ーター16に連結されている。Y軸方向ステージ
116は被検レンズ受117を配設されていて、
この上に被検レンズ4が載置される。載置された
被検レンズ4は、X軸方向ステージの突出壁11
8に取付けられた弾性部材からなるレンズ押え具
119のレンズ押え環120により押えつけられ
て保持される。レンズメーター本体には軸122
があり、この軸122に回転自動に取付けられた
印点アーム部123がある。印点アーム123
は、印点しないときは、回転させられた被検レン
ズの測定に邪魔にならないように光軸外に退避し
ている。印点するときは、印点アーム部123を
軸122の突出面125にアーム軸126の切断
面127が当接するまで回転する。印点針はこの
当接した状態で基準位置にくるようにしてある。
印点アーム部123は軸122に回転自在に取付
けられたアーム軸126を有し、その軸内に軸回
転パルスモーター128を有している。また、ア
ーム軸126にはアーム124が取付けられてい
る。アーム124には、軸回転パルスモーター1
28と連結されたプーリー129と、プーリー1
29に巻架するベルト130が巻架するプーリー
131が取付けられている。プーリー131には
印点針部132を一体的に取付けている。印点針
部132は、3本の印点針133a,133b,
133cを有しており、プーリー131の回転に
より回転するようになつている。この印点針の1
つ133bの線XII−XIIに沿つた断面を第12図に
示す。印点針部132内にはソレノイド19が内
蔵されている。ソレノイド19の下方においてス
ライドアーム135がプーリー131の軸部13
9に摺動可能に配置されており、スライドアーム
135はバネ136で支えられている。スライド
アーム135は突出部135aを有し、この突出
部135aはプーリー軸139のスロツト131
aをスライドするようになつている スライドア
ーム135の下方は印点用インクツボ137が形
成されており、この中に印点用インクが入れられ
る。この印点用インクは針先138により被検レ
ンズ4に印点される。
ここで、上記印点装置の作動を示す。第6図及
び第8図において、パルス発生器23,24から
のパルス信号によりX軸方向駆動パルスモーター
17、Y軸方向駆動パルスモーター16を作動さ
せ、それらの回転によりギヤ113,115を回
転させる。演算回路9,10(第8図においては
9′,10′)の演算結果にもとずいてギヤ11
3,115の回転を回転させてX軸方向ステージ
111,Y軸方向ステージ116をX方向及びY
方向に移動させる。このX軸方向ステージ11
1、Y軸方向ステージ116の移動により被検レ
ンズ4の光学中心もしくはプリズムレンズの場合
の幾何学中心位置を設定することができる。円柱
軸方向は、レンズメーターの検出処理部8からの
円柱軸角度θをパルスモーター128に入力し
て、印点針部132を角度θ回転させる。そして
軸122の突出部125と回転軸の切欠面127
とが当接するまでアーム124を回転させる。こ
こで印点命令をソレノイド19に入力すると、ソ
レノイド19の磁極と同磁極を有するマグネツト
134によりスライドアーム135に反発力が発
生し、スライドアーム135は押下げられて針先
138が被検レンズ4を印点する。第12図の実
施例では、被検レンズ自体がX−Y方向に移動可
能であるから、被検レンズを駆動する際、逐次移
動状態にある被検レンズのプリズム値を測定し、
駆動回路にフイードバツクをかけることにより、
サーボループを構成することができ、これによ
り、より正確な位置決めが可能となる。
び第8図において、パルス発生器23,24から
のパルス信号によりX軸方向駆動パルスモーター
17、Y軸方向駆動パルスモーター16を作動さ
せ、それらの回転によりギヤ113,115を回
転させる。演算回路9,10(第8図においては
9′,10′)の演算結果にもとずいてギヤ11
3,115の回転を回転させてX軸方向ステージ
111,Y軸方向ステージ116をX方向及びY
方向に移動させる。このX軸方向ステージ11
1、Y軸方向ステージ116の移動により被検レ
ンズ4の光学中心もしくはプリズムレンズの場合
の幾何学中心位置を設定することができる。円柱
軸方向は、レンズメーターの検出処理部8からの
円柱軸角度θをパルスモーター128に入力し
て、印点針部132を角度θ回転させる。そして
軸122の突出部125と回転軸の切欠面127
とが当接するまでアーム124を回転させる。こ
こで印点命令をソレノイド19に入力すると、ソ
レノイド19の磁極と同磁極を有するマグネツト
134によりスライドアーム135に反発力が発
生し、スライドアーム135は押下げられて針先
138が被検レンズ4を印点する。第12図の実
施例では、被検レンズ自体がX−Y方向に移動可
能であるから、被検レンズを駆動する際、逐次移
動状態にある被検レンズのプリズム値を測定し、
駆動回路にフイードバツクをかけることにより、
サーボループを構成することができ、これによ
り、より正確な位置決めが可能となる。
以上の各実施例においては、印点機構部は、
X,Y方向駆動の直交座標移動型のものについて
説明したが、第14図は被検レンズからはずれた
位置に回転中心をもつ回転駆動モーターと、その
回転軸に、直線上に移動する印点針部をもつアー
ムを取りつけ、モーターの回転角γ、とアーム上
の印点針部の移動距離lとから被検レンズ上への
印点位置をきめる極座標型印点機構を示したもの
である。第13図においては、第6図に示すブロ
ツクと同一の作動をするブロツクは同一の番号が
付してある。第6図と第14図の相違点は、駆動
回路のブロツクダイヤグラムにおいてセレクター
21,22とパルス発生器23,24との間に、
セレクターでセレクトされた演算回路からの
(hx,hy)情報をアーム回転パルスモーター30
3の回転角γ、及び回転アーム305上のカーソ
ル307の移動量lに変換するγ−l変換器30
1,302が接続されている点と、X−Axisモ
ーター17のかわりにアーム回転パルスモーター
303がモータードライバー15によつて駆動さ
れ、またY−Axisモーター16のかわりにカー
ソル駆動用パルスリニアモーター304がモータ
ードライバー14によつて駆動される点にある。
本実施例においてはカーソル駆動には第10図で
説明したようなパルスリニアモーターを使用して
いるが、他の機構とすることも可能である。第1
4図の作動は、第6図に示す実施例と基本的に同
一である。検出処理部8からの信号は演算回路
9,10,11で演算処理され、セレクター2
1,22に入力されてセレクトされる。セレクタ
ー21,22からのX−Y座標系による駆動信号
はγ−l変換器301,302でγ、l信号に変
換され、それぞれモータードライバー14,15
によつてアーム回転パルスモーター303、カー
ソル駆動用パルスリニアモーター304を駆動
し、印点位置にカーソルを移動させる。その後、
ソレノイド19をプログラムカウンター20から
の信号により駆動して印点する。
X,Y方向駆動の直交座標移動型のものについて
説明したが、第14図は被検レンズからはずれた
位置に回転中心をもつ回転駆動モーターと、その
回転軸に、直線上に移動する印点針部をもつアー
ムを取りつけ、モーターの回転角γ、とアーム上
の印点針部の移動距離lとから被検レンズ上への
印点位置をきめる極座標型印点機構を示したもの
である。第13図においては、第6図に示すブロ
ツクと同一の作動をするブロツクは同一の番号が
付してある。第6図と第14図の相違点は、駆動
回路のブロツクダイヤグラムにおいてセレクター
21,22とパルス発生器23,24との間に、
セレクターでセレクトされた演算回路からの
(hx,hy)情報をアーム回転パルスモーター30
3の回転角γ、及び回転アーム305上のカーソ
ル307の移動量lに変換するγ−l変換器30
1,302が接続されている点と、X−Axisモ
ーター17のかわりにアーム回転パルスモーター
303がモータードライバー15によつて駆動さ
れ、またY−Axisモーター16のかわりにカー
ソル駆動用パルスリニアモーター304がモータ
ードライバー14によつて駆動される点にある。
本実施例においてはカーソル駆動には第10図で
説明したようなパルスリニアモーターを使用して
いるが、他の機構とすることも可能である。第1
4図の作動は、第6図に示す実施例と基本的に同
一である。検出処理部8からの信号は演算回路
9,10,11で演算処理され、セレクター2
1,22に入力されてセレクトされる。セレクタ
ー21,22からのX−Y座標系による駆動信号
はγ−l変換器301,302でγ、l信号に変
換され、それぞれモータードライバー14,15
によつてアーム回転パルスモーター303、カー
ソル駆動用パルスリニアモーター304を駆動
し、印点位置にカーソルを移動させる。その後、
ソレノイド19をプログラムカウンター20から
の信号により駆動して印点する。
アーム回転型の印点機構部の他の実施例は、第
15図に示すように、2つの回転アームと、この
アームの交差点に取りつけられた印点部によつて
被検レンズに印点する機構である。第15図にお
いて、第1アーム回転パルスモーター404の回
転軸410には第1アーム406が嵌着されてお
り、かつ第1アームにはスロツト408が形成さ
れている。また第2アーム回転パルスモーター4
05の回転軸411には第2アーム407が嵌着
されており、かつ第2アームにはスロツト409
が形成されている。そしてスロツト408,40
9の交差部にはこれらスロツト内を摺動自在に嵌
挿された軸部材412があり、この軸部材412
の下方に印点針部67が取付けられている。第1
5図においては、第6図に示すブロツクと同一の
作動をするブロツクには同一番号を付してある。
本実施例の作動は、第14図に示すように、演算
回路9,10,11からの信号がセレクター2
0,21に入力されてセレクトされた後、第1回
転角変換器402、第2回転角変換器403に入
力される。ここで演算回路からの演算値が回転量
に変換される。その後パルス発生器23,24で
パルス信号に変換され、モータードライバー1
4,15に入力される。モータードライバーから
の信号により、第1アーム回転用パルスモーター
404及び第2アーム回転用パルスモーター40
5を駆動して第1アーム406、第2アーム40
7をそれぞれ必要角度回転する。両アームの回転
により両アームのスロツト内の軸部材412を摺
動させて印点位置出しをする。その後、印点信号
により印点針部67内のソレノイド19を駆動し
て被検レンズに印点する。
15図に示すように、2つの回転アームと、この
アームの交差点に取りつけられた印点部によつて
被検レンズに印点する機構である。第15図にお
いて、第1アーム回転パルスモーター404の回
転軸410には第1アーム406が嵌着されてお
り、かつ第1アームにはスロツト408が形成さ
れている。また第2アーム回転パルスモーター4
05の回転軸411には第2アーム407が嵌着
されており、かつ第2アームにはスロツト409
が形成されている。そしてスロツト408,40
9の交差部にはこれらスロツト内を摺動自在に嵌
挿された軸部材412があり、この軸部材412
の下方に印点針部67が取付けられている。第1
5図においては、第6図に示すブロツクと同一の
作動をするブロツクには同一番号を付してある。
本実施例の作動は、第14図に示すように、演算
回路9,10,11からの信号がセレクター2
0,21に入力されてセレクトされた後、第1回
転角変換器402、第2回転角変換器403に入
力される。ここで演算回路からの演算値が回転量
に変換される。その後パルス発生器23,24で
パルス信号に変換され、モータードライバー1
4,15に入力される。モータードライバーから
の信号により、第1アーム回転用パルスモーター
404及び第2アーム回転用パルスモーター40
5を駆動して第1アーム406、第2アーム40
7をそれぞれ必要角度回転する。両アームの回転
により両アームのスロツト内の軸部材412を摺
動させて印点位置出しをする。その後、印点信号
により印点針部67内のソレノイド19を駆動し
て被検レンズに印点する。
第1図は本発明の構成の原理を示す光学図、第
2図は第1図のP平面の座標を示す図、第3図は
プリズム屈折力の説明光学図、第4図は光学中
心・幾何学中心・測定点の関係を示す被検レンズ
の正面図、第5図は本発明で使用する計算の説明
図、第6図は第1の実施例の斜視図及び回路図、
第7図は印点を示す図、第8図は第2の実施例の
斜視図及び回路図、第9図は印字部の斜視図、第
10図は他の印字部の斜視図、第11図はさらに
他の印字部の斜視図、第12図はさらに他の印字
部の斜視図、第13図は第11図の線XII−XIIに沿
つた印字針部の断面図、第14図はさらに他の印
字部の斜視図、第15図はさらにまた他の印字部
の斜視部である。 1…カーソル、2…Y−方向アーム、3…X−
方向アーム、4…被検レンズ、5…レンズ支持
台、8…検出処理部、9…演算回路、20…プロ
グラムカウンター、21…セレクター、23…パ
ルス発生器。
2図は第1図のP平面の座標を示す図、第3図は
プリズム屈折力の説明光学図、第4図は光学中
心・幾何学中心・測定点の関係を示す被検レンズ
の正面図、第5図は本発明で使用する計算の説明
図、第6図は第1の実施例の斜視図及び回路図、
第7図は印点を示す図、第8図は第2の実施例の
斜視図及び回路図、第9図は印字部の斜視図、第
10図は他の印字部の斜視図、第11図はさらに
他の印字部の斜視図、第12図はさらに他の印字
部の斜視図、第13図は第11図の線XII−XIIに沿
つた印字針部の断面図、第14図はさらに他の印
字部の斜視図、第15図はさらにまた他の印字部
の斜視部である。 1…カーソル、2…Y−方向アーム、3…X−
方向アーム、4…被検レンズ、5…レンズ支持
台、8…検出処理部、9…演算回路、20…プロ
グラムカウンター、21…セレクター、23…パ
ルス発生器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 被検出レンズの屈折特性、及びプリズム特性
を自動的に測定するレンズメーターの該被検レン
ズの光学中心もしくは幾何学中心に印点する印点
装置において、 互いに相対的に移動可能な被検レンズ受台と少
なくとも1本の印点針を有する、印点部とからな
る印点手段と、 該レンズメーターの測定部から被検レンズの屈
折特性およびプリズム特性の情報を検出する検出
手段と、 該検出手段の情報から被検レンズの光学中心位
置を、もしくは予め入力されたプリズム量とから
幾何学中心位置を演算する演算手段と、 該演算手段からの情報を印点手段駆動信号に変
換する駆動信号手段と、 該駆動信号手段からの情報により該印点針が前
記光学中心位置もしくは前記幾何学中心位置を印
点するように前記印点手段を駆動させる駆動手段
と から構成されたことを特徴とするレンズメーター
の印点装置。 2 特許請求の範囲第1項において、上記印点手
段の印点部が、一方向に直線的に移動する第1の
移動機構と該第1の移動機構と直角な方向に直線
的に移動する第2の移動機構と、該第2の移動機
構の移動方向と直角な方向に可動な少なくとも1
本の印点針を有する印点針部とを有することを特
徴とするレンズメーターの印点装置。 3 特許請求の範囲第1項において、上記印点手
段のレンズ受台が、一方向に直線的に移動する第
1の移動ステージ部と、該第1の移動ステージ部
に直角な方向に直線的に移動する第2の移動ステ
ージ部とからなり、該第2移動ステージ部が被検
レンズを保持する保持具を有してなることを特徴
とするレンズメーターの印点装置。 4 特許請求の範囲第1項または第3項におい
て、上記印点部が回転可能に保持されたアーム部
に、そのアーム部の張出し方向と直角な方向に移
動可能な少なくとも1本の印点針部を有すること
を特徴とするレンズメーターの印点装置。 5 特許請求の範囲第2項ないし第4項のいずれ
かにおいて上記印点針部が印点指令により作動す
るソレノイドと、該ソレノイドの発する磁力によ
り反発移動する印点ステージと、該印点ステージ
に組込まれたインクツボと、針先とから構成され
ていることを特徴とするレンズメーターの印点装
置。 6 特許請求の範囲第1項ないし第5項のいずれ
かにおいて、上記演算手段が、被検レンズの屈折
力をD、X方向のプリズム量をPx、Y方向のプ
リズム量をPyとし、印点すべき印点針の被検レ
ンズ屈折特性測定点からのX方向移動量をhx、
Y方向移動量をhyとするとき hx=Px/D hy=Py/D を演算することを特徴とするレンズメーターの印
点装置。 7 特許請求の範囲第1項ないし第5項のいずれ
かにおいて、上記演算手段が、被検レンズの円柱
軸角度θと任意の印点半径rとから、 Ax=r cosθ Ay=r sinθ なる印点位置(Ax、Ay)を演算する演算手段を
有することを特徴とするレンズメーターの印点装
置。 8 特許請求の範囲第1項ないし第5項のいずれ
かにおいて、上記演算手段が被検レンズの球面屈
折力をS、円柱屈折力をC、その軸角度をθ、任
意の測定点におけるX方向プリズム量をPx、Y
方向プリズム量をPyとするとき、この任意測定
点から印点すべき点までのX軸方向移動量をhx、
Y軸方向移動量をhyとするとき hx=
Px・S+Px・C・cos2θ−Py・C・sinθ・cosθ/S・
(S+C) hx=
Py・S+Py・C・sin2θ−Px・C・sinθ・cosθ/S・
(S+C) の演算をすることを特徴とするレンズメーターの
印点装置。 9 特許請求の範囲第1項ないし第5項のいずれ
かにおいて、上記演算手段が、プリズム加工され
る被検レンズのプリズム量を入力する手段と、該
入力手段への入力情報から該プリズム加工された
被検レンズの任意測定点におけるプリズム測定量
を減算する減算手段とを有することを特徴とする
レンズメーターの印点装置。 10 特許請求の範囲第9項において、上記演算
手段か、プリズム加工された被検レンズのプリズ
ム量がプリズム屈折力P、そのベース方向θとし
て該入力手段に入力されたとき、X方向プリズム
量Px、Y軸方向プリズム量Pyを Px=P cosθ Py=P sinθ として変換する変換手段を有することを特徴とす
るレンズメーターの印点装置。 11 特許請求の範囲第1項ないし第10項にお
いて、上記駆動手段が、印点時以外に該印点手段
を該レンズメーターの被検レンズ屈折特定測定光
軸外に退避させておくための初期コントロール回
路を有することを特徴とするレンズメーターの印
点装置。 12 特許請求の範囲第1項ないし第10項のい
ずれかにおいて、上記駆動手段が、パルス発生器
からのパルス信号によつて駆動するパルスモータ
ーを有することを特徴とするレンズメーターの印
点装置。 13 特許請求の範囲第1項ないし第12項のい
ずれかにおいて、上記印点手段が、アーム上を移
動する少なくとも1つの印点針部と、該アームを
回転する少なくとも1つの回転駆動手段とから構
成されていることを特徴とするレンズメーターの
印点装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15660180A JPS5780537A (en) | 1980-11-07 | 1980-11-07 | Print-dotting device for lens meter |
| DE19813144179 DE3144179A1 (de) | 1980-11-07 | 1981-11-06 | Markiervorrichtung fuer linsenpruefgeraete |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15660180A JPS5780537A (en) | 1980-11-07 | 1980-11-07 | Print-dotting device for lens meter |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5780537A JPS5780537A (en) | 1982-05-20 |
| JPH0320702B2 true JPH0320702B2 (ja) | 1991-03-20 |
Family
ID=15631307
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15660180A Granted JPS5780537A (en) | 1980-11-07 | 1980-11-07 | Print-dotting device for lens meter |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5780537A (ja) |
| DE (1) | DE3144179A1 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6190035A (ja) * | 1984-10-11 | 1986-05-08 | Tokyo Optical Co Ltd | レンズメ−タ−の自動印点装置 |
| JPS61120938A (ja) * | 1984-11-19 | 1986-06-09 | Tokyo Optical Co Ltd | レンズメ−タ−の被検レンズ自動アライメント装置 |
| JPS61120936A (ja) * | 1984-11-19 | 1986-06-09 | Tokyo Optical Co Ltd | レンズメ−タ−用自動印点装置 |
| JPH0718774B2 (ja) * | 1986-02-27 | 1995-03-06 | 株式会社トプコン | レンズメータ |
| JPS63131042A (ja) * | 1986-11-20 | 1988-06-03 | Nikon Corp | 自動レンズメ−タ |
| DE19646360A1 (de) * | 1996-11-09 | 1998-05-14 | Bkg Medizin Technik Gmbh | Technische Vorrichtung zur Bestimmung und Markierung ausgewählter Parameter von Brillengläsern mit Hilfe einer Bildverarbeitungsanlage |
| JP3854057B2 (ja) * | 2000-10-23 | 2006-12-06 | Hoya株式会社 | 眼鏡レンズの光学中心測定方法並びに眼鏡レンズのレンズホルダ取付方法及び装置 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2792748A (en) * | 1954-03-08 | 1957-05-21 | American Optical Corp | Lens testing device |
| GB1378515A (en) * | 1971-03-15 | 1974-12-27 | Sira Institute | Electrooptical lens position detection apparatus |
| US3870415A (en) * | 1972-10-27 | 1975-03-11 | Acuity Syst | Method and means for measuring the refractive properties of an optical system |
| US3832066A (en) * | 1972-10-27 | 1974-08-27 | Acuity Syst Inc | Apparatus and method for analyzing sphero-cylindrical optical systems |
-
1980
- 1980-11-07 JP JP15660180A patent/JPS5780537A/ja active Granted
-
1981
- 1981-11-06 DE DE19813144179 patent/DE3144179A1/de not_active Ceased
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5780537A (en) | 1982-05-20 |
| DE3144179A1 (de) | 1982-07-15 |
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