JPH0320706A - 自動焦点検出装置 - Google Patents

自動焦点検出装置

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JPH0320706A
JPH0320706A JP11879288A JP11879288A JPH0320706A JP H0320706 A JPH0320706 A JP H0320706A JP 11879288 A JP11879288 A JP 11879288A JP 11879288 A JP11879288 A JP 11879288A JP H0320706 A JPH0320706 A JP H0320706A
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賢司 石橋
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、被写体の光像を形成する結像光学系の焦点調
整状態を自IJJ検出するカメラ等の光学装置のび動焦
点検出装置に関するものである。
(従来の技術) 従来から、被写体のほぼ同一部分に関する2つの光像を
、複数の光電変換素子の配列から成る一対の光電変換素
子アレイ上に導き、この光電変換素子アレイの出力を演
算して前記光電変換素子アレイ上の光像の相対的変位を
検出し、この検出結果からlll彰レンズの焦点調整を
行う自動焦点検出装置がある。また、前記光電変換素子
アレイの出力から複数のフィルタ手段(一次フィルタ手
段、二次フィルタ手段等)を用いて被写体像の特定の周
波数成分を複数個抽出し、これらの周波数成分に基づい
て演樟を行って光像の相対的変位を検出し、搬彰レンズ
の焦点調整を行う自動焦点検出装置がある(特開昭58
−87511月公報、特開昭59−142506号公報
、特開昭60−151607号公報、特rM昭61−2
09413号公報参照〉。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところが、従来の自動焦点検出装置にあっては、各フィ
ルタ手段は被写体像の周波数成分を常に抽出しており、
例えば、一次フィルタ手段により抽出された周波数成分
のみを用いて演算を行っても光像の相対的変位が検出で
きるような場合でも、全フィルタ手段を作動させていた
。したがって、前記相対的変位を検出までの時間がかか
るといった問題があった。また、抽出された周波数成分
のデータを記憶するRAM等のメモリを各フィルタ手段
ごとに必要とするので、メモリが多くいるといった問題
があった。
本発明は、一次フィルタ手段を用いて演算しても光像の
相対的変位が検出できないときに二次フィルタ手段を作
動させて光像の相対的変位を検出する自動焦点検出装冒
を提供することを目的とする。
〔課題を解決するだめの手段〕
前記目的を達或するために、本発明は、第1の空間周波
数成分を抽出する一次フィルタ手段と、この抽出された
空間周波数成分に基づいて焦点検出を行う第1の焦点検
出手段と、前記抽出された空間周波数成分に基づいて第
2の空間周波数成分を抽出する二次フィルタ手段と、こ
の二次フィルタ手段で抽出された空間周波数成分に基づ
いて焦点検出を行う第2の焦点検出手段と、前記第1の
焦点検出手段で焦点検出不能と判定されたときに前記二
次フィルタ手段と第2の焦点検出手段とを作動させる判
定手段とを備えたものである。
〔作用〕
前記構成の自動魚点検出装詔によれば、一次フィルタ手
段を用いても焦点が検出できないときに二次フィルタ手
段を作動させるので、一次フィルタ手段で抽出された周
波数成分のみで焦点が検出できる場合には、二次フィル
タ手段による周波数成分の抽出を行う時間を削減できる
。また、二次フィルタ手段で抽出された周波数成分を用
いて焦点を検出するときには、一次フィルタ手段で抽出
された周波数成分のデータを記憶するRAM等のメモリ
に二次フィルタ手段で抽出された周波数成分のデータを
記憶させることができる。
(実施例) 第1図は本発明に係る自動焦点検出装置を備えたカメラ
の概略構或の一実施例を示す。自動焦点検出装111は
撮影レンズ2と焦点検出手段3とデフォーカス量決定手
段4とレンズ位置検出手段5とレンズ駆動手段6と制御
手段7とから構或されている。この撮影レンズ2は被写
体8から発せられた光束9を焦点検出千段3に導くもの
である。
焦点検出手段3は光電変換素子アレイ上(図示せず)を
有し、この光電変換素子アレイの出力を演埠処理して光
電変換素子アレイ上の被写体8による光嫌の相対的変位
を検出するものである。
また、デフォーカス量決定千段4は前記焦点検出千段3
から出力される変位検出信号に基づいて囮彰レンズ2の
デフォーカス量を決定するものである。レンズ位置検出
手段5は畷影レンズ2の現在の位置を検出するものであ
る。レンズ駆動手段6は前記デフォーカス量決定手段4
のデフォーカス量信号に基づいて搬彰レンズ2を駆動す
るものである。制御手段7は、前記デフォーカス潰に対
応する位置にm影レンズ2が駆動されるようにレンズ駆
動手段6をtilllllするとともに、前記焦点検?
手段3から合魚信号が出力されたとき、m彰レンズ2の
駆動を停止させるものである。
第2図は前記焦点検出千段3の機構構成の一実施例を示
す。焦点検出千段3は主ミラー10と勺ブミラー11と
焦点検出光学系12とから構成されている。この主ミラ
ー10は搬彰レンズ2を通過した光束9を図示しないフ
ァインダ光学系とサブミラー11とに分岐させるもので
ある。ザプミラ−11は主■ラー10で分岐された光束
9を、さらに焦点検出光学系12εフィルム面13とに
分岐させるものである。
前記焦点検出光学系12は光電変換素子アレイ141,
142.143とセバレータレンズ15と絞りマスク1
6とモジコ、一ルミラー17とコンデンサレンズ181
,182.183と視野絞り19tから構成されている
。光電変換素子アレイ141.142.143は複数の
ccom像素子等を配列したもので、セバレータレンズ
15の焦点而14上のワンチップ上に形成されている。
セバレータレンズ15はセバレータレンズ対151,1
52.153を有し、分岐された光束9を光電変換素子
アレイ141,142.143に投影するものである。
絞りマスク16は円形あるいは長円形の開口部161,
162.163を有し、セパレータレンズ15へ入力す
る光束9を限定するものである。モジュールミラー17
はコンデンサレンズ181,182.183を通過した
光束9をセパレータレンズ15へ導くものである。視野
絞り19は矩形開口部191,192,193を有する
とともに、焦点面近傍に配設され、焦点検出光学系12
に入力される光束9の視野を限定するものである。
第3図は前記光電嚢換素子アレイ141,142,14
3の受光部(以下、光電変換素子の受光部と蓄梢部と転
送部とを含めてCCDという)を示している。この光電
変換素子アレイ141は基準部141aと参照部141
bと光電センサ141Cとからなり、同様に光電変換素
子アレイ142は基準部142aと参照部142bと光
電センサ142Cとからなり、光電変換素子アレイ14
3は基準部143aと参照部143bと光電センサ14
3Cとからなる。前記光電センサ14LC.142c.
143cはそれぞれ基準部141a,142a.143
aの一方の側部に長手方向に配設され、受光看に応じた
信号を出力するようになっている。そして、この受光吊
に応じたイi月によりCODの′a積部への蓄積時間を
制御するようになっている。また、光電変換素子アレイ
141,142.143は、第4図に示すように、ファ
インダ内の撤影画面20の中央部に位置する魚点検出領
1121.22.23 <以下、それぞれ第1アイラン
ド21,第2アイランド22.第3アイランド23とい
う)に投影される被写体8の光像に基づいて変位検出信
号を出力するようになっている。
繍影画面20の中央部に点線で示された領域24は撮影
者に焦点検出を行っている領域を表示するものである。
また、表示部25は合焦時に点灯するものである。
前記基準部141a,142a,143aの各画素数X
、および参照部14lb,142b.143bの各画素
数Yは、例えば、第3図に示すように、光電変換素子ア
レイ141および光電変換素子アレイ143ではそれぞ
れ基準部の画素数Xは34個で、参照部の画素数Yは4
4個で構或され、光電変換素子アレイ142では基準部
の画素数Xは44個で、参照部の画素数Yは52個で構
戊されるようになっている。
また、自動焦点検出装圃1では基準部1 4 1 a.
142a.143aの各画素のデータを複数のブロック
に分割し、この分割した各ブロックをそれぞれの参照部
14lb,142b,143bの全てのデータと比較し
て焦点検出を行う。そして、各ブロックでの焦点検出結
果のうち、最も後ビンのデータを前記の各アイランド2
1.22.23の焦点検出データとし、さらに各アイラ
ンド21.22.23の焦点検出データとm彰レンズ2
の搬影倍率のデータとに基づいて緻影レンズ2を駆動し
、合焦させている。
次いで、前記光電変換素子アレイ141,142,14
3からデフォーカス量(すなわら、デフォーカス昂とは
結像光学系の予定焦点面と被写体像面との光軸方向のず
れ出)を検出する範囲(デフォーカス範曲)を求める手
段について第5図〜第7図を用いて説明する。
第5図は第3図に示した各アイランド21,22.23
に対応する基準部141a,142a,143aを拡大
して示したものである。同図において、各基準部141
a.142a,143aに示している数値は、第3図に
示した基準部141a,142a.143aの各画素の
データをそれぞれ3つ置きに検出した差分(すなわち、
空間周波数成分)のデータ数を示している。また、この
差分データは、前記画素データから抽出(フィルタリン
グ)された特定の空間周波数の成分を示している《第1
の空間周波数成分抽出手段)。なお、差分データは2つ
、または1つ置きでもよい。ただし、前記空間周波数成
分は3つ直きにとったときと異なり、かつ、前記数値も
巽なる。
各アイランド21,22.23の基準部141a,14
2a.143aにおける前記数値は、第1アイランド2
1では30個、第2アイランド22では40個、第3ア
イランド23では301!!IIになる。また、参照部
14lb,142b.143bに対しても基準部141
a.142a.143aの差分データの数値と同様に求
められる。つまり、参照部14lb,142b.143
bの数値は、第1アイランド21では40個、第2アイ
ランド22では48個、第3アイランド23では40個
になる。
次に、各アイランド21.22.23でのブロック分割
について説明する。すなわち、第1アイランド21では
、上端の差分データからK1(1〜20〉、κ1《11
〜30)の2つのブロックに分け、それぞれ第1ブロッ
クB11、第2ブロックBL2とする。第2アイランド
22では、左端の差分データからκ2(1〜20)、K
2(11〜30)、K2 ( 2 1〜40)の3つの
ブロックに分け、それぞれ第3ブロックBL3 、第4
ブロックB14、第5ブロックBL5とする。第3アイ
ランド23では、上端の差分データからK3(1〜20
)、K3(11〜30)の2つのブロックに分け、それ
ぞれ弟9プOツクBL9、第10ブロックBLIOとす
る。
さらに、第2アイランド22では、低周波成分でなる被
写体に合焦させるために抽出周波数を変えた差分データ
を検出し(第2の空間周波数成分抽出手段)、この差分
データを第6ブロックBL6、第7ブロックBL7およ
び第8ブロックBL8に分割して焦点検出データに用い
る。すなわら、基準部142aおよび参照部142bの
各画素のデータを、例えば、それぞれ7つ置きに差分を
とり、この差分データの隣接間の和を求め、この和のデ
ータを第6ブロックBL5にする。すなわら、差分デー
タ6のデータの数は、基準部142aでは36個、参照
部142bでは44個になり、第6ブロックBL5の和
のデータ数は、M準部142aでは35個、参照部14
2bでは43個になる。そして、この基準部142aの
35個の左側の25個を第7ブロックBL7とし、右側
の25個を第8ブロックBL8になる。
なお、前述では差分の間隔を7つ置きにしたが、この間
隔は大きいほど低周波成分を抽出することができる。つ
まり、差分の間隔を7つ置き以外の間隔にしてもよい。
この焦点検出手段では、基準部と参照部との光像が一致
したときの像間隔が所定の間隔よりも大きいときには後
ビン、小さいときには前ビン、所定の間隔では合焦とな
る。したがって、分割したブロックでのデフォーカス範
聞は各アイランド内で光学中心から離れたブロックほど
後ビン側を受け持つことになる。
第6図は第2アイランド22の基準部142aおよび参
照部142bを拡大して示しており、同図を用いてブロ
ック分けした第4ブロックBL4のデフォーカス範囲を
説明する。つまり、基準部142aの第41OツクBL
4の像と合焦するには、参照部142bの中央に位置す
るブロックBL41、すなわち参照部142bの左端よ
り15′#1目から34番目に位置する像のデータと第
4ブロックB[4のデータK2(11〜30)とが一致
するときである。そして、これより像の一致が参照部1
42bの左側になると前ビンとなり、前ビンの最大のず
れデータ数〈以下、ずれピッチという〉は14個となる
。一方、像の一致が参照部142bの右側になると後ピ
ンとむり、後ビンの煽大のずれピッチは14個となる。
また、第1アイランド21および第3アイランド23に
ついても同様である。すなわち、第7図に示すように、
第3ブロックBL3では、前ビン側ずれピッチが4個、
後ビン側ずれピッチが24個であり、第570ツクBL
5では、前ビン側ずれピッチが24個、後ビン側ずれピ
ッチが4個である。
また、第1ブロックBLlおよび第9ブロックBL9で
は、前ビン側ずれピッチが5個、後ビン側ずれピッチが
15個であり、第2ブロックBL2および第10ブロッ
クBL10では、前ビン側ずれピッチが15個、後ビン
側ずれビッヂが5個である。さらに、第6ブロック8m
5では、前ビン側、後ビン側共にずれピッチが4個であ
る。
第7ブロックBL7では、前ビン側ずれピッチが4個、
後ビン側ずれピッチが14個であり、第8ブロックBL
8では、前ビン側ずれピッチが14個、後ビン側ずれピ
ッチが4個となるが、第6ブロックBL6とずれピッチ
が重複するので、第7ブロックBL7では、後ビン側の
4個〜14個のずれビツヂを、第8ブロックBL8では
、前ビン側の4個〜14個のずれピッチをデフォーカス
範囲にする。
第8図は、本発明に係る自動焦点検出装置をマイコンを
用いて構成したカメラの回路プロックの一実施例を示す
中央制御回路(以下、マイコンという〉26はカメラ全
体の制御し、露出等を演算するとともに、第1の空間周
波数成分を抽出し(一次フィルタ手段)、この抽出され
た空間周波数成分に基づいて焦点検出を行い(第1の焦
点検出手段)、さらに前記抽出された空間周波数成分に
基づいて第2の空間周波数成分を抽出し(二次フィルタ
手段)、この二次フィルタ手段で抽出された空間周波数
成分に基づいて焦点検出を行い(第2の焦点検出手段)
、前記第1の焦点検出手段で焦点検出不能と判定された
ときに前記二次フィルタ手段と第2の焦点検出手段とを
作動させる(判定手段〉ものである。レンズ回路27は
カメラ本体く図示せず)に装肴される撮影レンズ2(交
換レンズ)固有のデータをマイコン26に伝達するもの
である。焦点検出データ出力回路28は第1図の焦点検
出千段3に対応するもので、光電変換素子アレイのアナ
ログ出力をデジタル出力に変換してマイコン26に伝達
するものである。輝度検出回路29は随彰レンズ2を通
過した光束9を測定することにより被写体8の明るさを
検出し、この明るさに対応したアベックスIBvoをマ
イコン26に伝達するものである。フィルム感度読取回
路30はフィルム(図示せず〉からフィルム感度を読取
り、このフィルム感度に対応したアベックス値Svをマ
イコン26に伝達するものである。
表示回路31は露出情報および搬影レンズ2の焦点状態
を表示するものである。エンコーダ32はレンズ駆動モ
ータ33の回転量を検出し、後述のレンズ駆動制御回路
34にレンズ駆動モータ33の所定の回転量に応じたパ
ルス数を出力するものである。レンズ駆動IIII11
回路34はマイコン26からモータ駆動方向の信号およ
びモータ停止信月を入力し、これらの信号に基づいてレ
ンズ駆動モータ33の駆動を制御するものである。
また、マイコン26の内部にはカウンタが備えられてい
る。このカウンタは、Wi影レンズ2の無限達位置から
の繰り出し位置を検出するもので、前記パルス数に対し
てカウントアップあるいはカウントダウンするようにな
っている。また、後述の電源スイッチ(メインスイッチ
)SW1がオンざれ、さらに、緻彰レンズ2が駆動され
て緻彰レンズ2が無限遠位置に繰り込まれたときには、
前記カウンタはリセットされるようになっている。
電源電池35はマイコン26および後述のスイッチ類に
直接電力を供給し、それら以外の回路には後述の給電回
路36を介して電力を供給するものである。給電回路3
6はマイコン26からの制御信号に基づいてレンズ回路
27、焦点検出データ出力回路28等の回路に電力を供
給するものである。
電源スイッチSW1は開閉操作されることによりカメラ
の動作を開始あるいは停止させるものである。ワンショ
ット回路37は、前記電源スイッチSW1の開閉操作に
連動して所定のパルスを允生させ、このパルスをマイコ
ン26に入ノJするものである。磯彰準備スイッチSW
2はレリーズスイッヂ(図示せず)の操作により開閉さ
れるもので、この撤影準備スイッチSW2がオンすると
、焦点検出動作が開始されるようになっている。リミッ
トスイッチSW3は、II!l彰レンズ2が無限遠位置
に繰り込まれたとき、あるいは最先端まで繰り出された
ときにオンするものである。選択スイッチSW4は、自
動焦点調整モード(以下、AFモードという)か、ある
いは焦点検出表示モード《以下、FAモードという)か
を選択するもので、この選択スイッチSW4をオンする
とFAモードになり、オフするとAFモードになるもの
である。
次に、前記構成のカメラの動作について説明する。
まず、電源スイッチSW1がオンされると、ワンショッ
ト回路37からマイコン26の割込入力端子【N10に
パルスが出力され、マイコン26は第9図に示した割り
込み動作のフローヂャートを実行する。
すなわち、マイコン26は搬彰準備スイッチSW2のオ
ンによる焦点検出動作を禁止しくステップ#1)、この
割り込み動作が電源スイッチSW1のオンによるものか
、オフによるものかをマイコン26の割込入力端子IP
1に入力された電圧により判定する(ステップ#2)。
そして、この入力電圧がハイ電圧であれば、ステップ#
3〜#11の処理を行わずに、レンズ回2827等への
電力を停止し、マイコン26は動作待機状態になる(ス
テップ#12,#13)。この入力電圧がロ−m圧であ
れば、電源スイッチSWtはオン状態と判定し、マイコ
ン26内のカウンタの動作を禁止しくステップ#3)、
フロ−チャートの実行に使用するフラグ、およびマイコ
ン26の出力端子類を初明セットする(ステップ#4)
次いで、マイコン26の出力端子OP1をハイ電庄にし
てレンズ回路27等の回路に電力を供給する(ステップ
#5〉。次に、レンズ駆動1,I1御回路34に躍影レ
ンズ2の繰り込み信弓が入力され、搬彰レンズ2は無限
遠位置の方向に繰り込まれる(ステップ#6)。そして
、la影レンズ2が無限遠位置に繰り込まれ、リミット
スイッチSW3がオンするのを待つ(ステップ#7)。
ステップ#7でリミットスイッチS W 3がオンする
と、酎彰レンズ2の駆動を停止させる(ステップ#8)
また、これに伴って、マイコン26内のカウンタをリセ
ットし、レンズ駆動モータ33の回転蕎に応じたパルス
数をカウントする(ステップ#9,#10)。そして、
撮影準備スイッチSW2のオンによる焦点検出動作の割
り込みを=1可する(ステップ#11)。
そして、出力端子OP1をロー電圧にしてレンズ回路2
7等への電力を停止し、撮影準備スイッチSW2等が押
されるまで動作を持機させる(ステップ#12.#13
)。
また、前記ステップ#13の動作待機状態のときに餓彰
*IfiスイッチSW2がオンされると、マイコン26
は第10図に示した割り込み動作のフローチャートを実
行する。
すなわら、マイコン26はフローチャートの実行に使用
するフラグ、およびマイコン26の出力端子類を初期セ
ットする(ステップ#21)。さらに、マイコン26内
に設けられたタイマをリセットし、次いで、このタイマ
をスタートさせる(ステップ#22)。そして、黒点調
整動作の1回目であることを示すフラグAFSFをセッ
トし(ステップ#23) 、出力端子OP1をハイ電圧
にしてレンズ回路27等に電力を供給する(ステップ#
24)。次に、囮影レンズ2の焦点距離データ、開放絞
り値およびデフォーカス潰等からレンズ駆動のためのパ
ルス数に変換する係数等よりなるデータをレンズ回路2
7から入力する(ステップ#25)。そして、焦点検出
データ出力回路28から差分データが入力され、この差
分データを記憶する(ステップ#26,#27)。次に
、前述の各アイランド21.22.23のデフォーカス
量が演算され、さらに露出演算が行われ、これらの演粋
結果が表示回路31に表示される(ステップ#28〜#
30)。
次に、FAモードか、AFモードかの判定を行い(ステ
ップ#31),AFモードであれば、前記デフォーカス
愚から戯影レンズ2の駆動鼠を算11』シ、これに基づ
いてm影レンズ2を駆動させる《ステップ#32〉。一
方、ステップ#31でFAモードであれば、ステップ#
32の処理を行わずにステップ#34に移行する。ステ
ップ#34では、m影準備スイッチSW2の開閉を判定
する。
そして、譲彰準備スイッヂSW2がオンであれば、フラ
グAFSFをリセットし(ステップ#35)、ステップ
#25に戻って、ステップ#25からの処理を繰り返す
。一方、ステップ#34で撮影準備スイッチSW2がオ
フであれば、給電回路36をオフにしてレンズ回路27
等への電力を停止し《ステップ#36) 、llffl
彰準備スイッヂSW2等が押されるまで動作を待機させ
る(ステップ#37)。そして、緻影準備スイッチSW
2等が押されると、第9図のフローチャートに移行する
次に、第10図のステップ#28に示した各アイランド
21.22.23のデフォーカス量演算のサブルーチン
について第11図〜第14図を用いて説明する。
第11図は各アイランド21.22.23のデフォーカ
ス量を第1アイランド21(ステップ#41)、第2ア
イランド22(ステップ#41)、第3アイランド23
(ステップ#41)の順に演粋することを示し、第12
図〜第14図は各アイランド21.22.23のデフォ
ーカス量WAnの具体的なフローチャートを示している
第12図は第1アイランド21のデフォーカス量演棹(
ステップ#41)のサブルーチンを示している。この第
1アイランド21は、前述のように、第170ックB[
1、第270ツクBL2に分けられ、これら各ブロック
BL1 、BL2の各デフォーカス聞をそれぞれ記憶す
る変数DFI , DF2に所定値“一K”を記憶させ
る(ステップ#51、#52)。この所定値“一K”は
各ブロックBL1 、BL2では、取り得ないような前
ビン状態の蛸であり、第1アイランド21で焦点検出不
能の場合(以下、O−コンという)のデフォーカス量と
して出力される。
次に、第1アイランド21での0−コンの状態を示すフ
ラグLCF1をセットする(ステップ#53)。そして
、第1ブロックBL1の焦点状R(舶ビン状態、後ビン
状態、合焦状態〉の検出およびデフォーカスfiDFを
演粋し(ステップ#54)、この演葬結果から焦点検出
が可能であれば、フラグLCF1をリセットし、求めた
デフォーカスIDFを第1ブロックBL1のデフォーカ
ス場を記憶する変数DFIに記憶させ(ステップ#55
〜#57)、ステップ#58に移行する。
一方、ステップ#55で焦点検出が不能と判定されると
、ステップ#56、#57の処理を行わずにステップ#
58に移行する。
次に、第2ブロックBL2の焦点状態の検出およびデフ
ォーカスIIIDFを演算しくステップ#58〉、この
演算結果から焦点検出が不能であれば、フラグLCFI
がセットされているかどうかを判定する。
そして、フラグLCF1がリセットされているとき、す
なわち、ステップ#55の判定において焦点検出が不能
とされたときには、ステップ#62に移行する。また、
ステップ#60でフラグLCFIがセットされていると
きは、第11図に示すステップ#42の第2アイランド
22のデフォーカス場演算ザブルーチン(第13図)に
移行する。
一方、ステップ#59で焦点検出が可能と判定されると
、ステップ#60の処理を行わずにステップ#62に移
行する。
ステップ#62では、後述の平均処理ルーチンで使用す
るブロック間デフォーカス邑ΔOFを決定する。次いで
、デフォーカスffi DF1とデフォーカスffl 
DF2との大小を判定し、デフォーカス蟻の大きい方、
すなわち、撤彰レンズ2(カメラ)に近い方の被写体の
デフォーカス邑を第1アイランド21のデフォーカス量
θFIS1とする。つまり、デフォーカスIDFIがデ
フォーカスffi DF2よりも大きいときは、デフォ
ーカス11 0FIを第1アイランド21のデフォーカ
ス!lIDFIS1とし、逆に、デフォーカスffi 
DF2がデフォーカス@ OF1よりも大きいときは、
デフォーカス量ロ「2を第1アイランド21のデフォー
カスtflDFls1とする(ステップ#63〜#67
). また、ステップ#64.#65でデフォーカス潰DF1
とデフォーカスII DF2との差がブロック間デフォ
ーカス量ΔOFよりも小さいとぎは、デフォーカスao
f1とデフォーカスはDF2との平均を行い、この平均
植を第1アイランド21のデフォーカスflOFIS1
とする(ステップ#68)。そして、ステップ#66.
#67,#6Bの処理を終えると、第11図のステップ
#42に移行する。
第13図は第2アイランド22のデフォーカス1?jl
lllのサブルーチンを示す。
まず、第3ブロックBL3、第41Oツク814、第5
ブロックBL5の各デフォーカス量をそれぞれ記憶する
変数DF3 , DF4 , DF5に所定埴“一K 
I1をそれぞれ設定させ(ステップ#71〜#73)、
第2アイランド22でのローコンの状態を示すフラグL
CF2をセットする(ステップ#74).そして、各ブ
ロック8L3 , BL4 , BL5の焦点状態の検
出およびデフォーカスffiDFを演算する(ステップ
#75.#79.#83)。すなわち、ステップ#75
による第3ブロックBL3のデフォーカス量DFの演算
結果から焦点検出が可能であれば、フラグLCF2をリ
セットし、求めたデフォーカス量DFを変数DF3に記
憶させ(ステップ#76〜#78)、ステップ#79に
移行する。逆に、焦点検出が不能と判定されると、ステ
ップ#77.#78の処理を行わずにステップ#79に
移行する.第410ツクBL4のデフォーカスflDF
も同様に、ステップ#79の演算結果から焦点検出が可
能であれば、フラグLCF2をリセットし、デフォーカ
スIDFを変数DF4に記憶させ(ステップ#80〜#
82) 、ステップ#83に移行する。逆に、焦点検出
が不能と判定されると、ステップ#81,#82の処理
を行わずにステップ#83に移行する。
第5ブロックBL5のデフォーカスlfiDFら同様に
、ステップ#83の演算結果から焦点検出が可能であれ
ば、フラグLCF2をリセットし、デフォーカスIDF
を変数ロF5に記憶させ(ステップ#84〜#86)、
ステップ#87に移行する。逆に、焦点検出が不能と判
定されると、ステップ#85,#86の処理を行わずに
ステップ#87に移行する。
ステップ#87では、ローコンフラグLCF2がヒット
されているかどうかを判定する。そして、フラグLCF
2がセットされていないとき、すなわち、ステップ#7
6.#80,#84の判定においてそれぞれ焦点検出が
不能とされたときには、後述の平均処理ルーチンで使用
するブロック間デフォーカス量(平均処理幅)ΔDFを
決定する(ステップ#88)。次いで、各ブロックBL
3 , BL4 ,BL5の各デフォーカス量DF3 
, DF4 , DF5の大小を判定し、最も大きなデ
フォーカスlfi }IAXDFを抽出する(ステップ
#89)。そして、平均処理幅ΔDFよりも小さい他の
ブロックが存在しない場合には、前記デフォーカスII
 HAXDFを第2アイランド22のデフォーカスlD
FIs2としくステップ#90.#91),平均処理幅
ΔDFよりも小さい他のブロックが1つ以上存在する場
合には、前記デフォーカス蓬HAXDFと平均処理幅Δ
OFよりも小さい他のブロックのデフォーカス量とだけ
で平均を行い(平均処理〉、この平均値を第2アイラン
ド22のデフォーカスl[lFIs2とする(ステップ
#92)。そして、ステップ#91,#92の処理を終
えると、第11図に示すステップ#43の第3アイラン
ド23のデフォーカス潰演算サブルーチン(第14図)
に移行する。
また、ステップ#87でフラグLCF2がセットされて
いると判定されたときには、低周波成分でなる被写体に
合焦させるために3つ置きの差分データを7つ置きの差
分データに再fST1iする(ステップ#93)。すな
わち、例えば、画素のデータを見1.空2.・・・,党
n,・・・とすると、3つ置きの差分データは、d[)
n −Qt−Q5, ・・・ Q5−Qta.・・・,
fln−Qn+*.・・・となる。また、7つ?きの差
分データはdQm =Qt−(1g.・・・,Qm−Q
働+8,・・・となる。この7つ置きの差分データdD
mは3つ置きの差分データdDnの和を3つ置きに取る
ことにより求められる。つまり、7つ置きの差分データ
は、 d[)m − dD+◆dDs.・・・,dD市+d[
)m+4,・・・−Q1−1!s +Q5 −419 
.−. Qn−4−an +Qn −Qn+4 , −
・・=Q1−Q9.−.Qn−< −Qn4< .−=
冨Q1−Qta .・・・. Q1 −Q+!+8 .
・・・となる。ただし、n=I+4である。
さらに、この差分データdDaの隣接間の和を取り、新
たなデータ列dD!+(m)= dDI +d■m+1
を演算し、これを用いて第6ブロックBL6での焦点検
出を行い、焦点状蟻の検出およびデフォーカスffiD
Fを演算しくステップ#94)、焦点検出が可能であれ
ば、フラグLCF2をリセットし、第6ブロックBL6
のデフォーカスil DF6を第2アイランド22のデ
フォーカスlDFIs2として藺記ステップ#43に移
行する(ステップ#95〜#97)一方、ステップ#9
5で焦点検出が不能であれば、第7ブロックBL7での
焦点検出を行い、焦点状態の検出およびデフォーカス吊
DFを演算し(ステップ#98)、焦点検出が可能であ
れば(スtツプ#99)、ステップ#96に戻って、フ
ラグLCr2をリセットし、第7ブロックBL7のデフ
ォーカス吊を第2アイランド22のデフォーカスffi
 OFIS2として前記ステップ#43に移行する。
一方、ステップ#99で焦点検出が不能であれば、第8
ブロックBL8での焦点検出を行い、焦点状態の検出お
よびデフォーカス量DFを演算し(ステップ#100)
、焦点検出が可能であれば《ステップ#1 01 ) 
,ステップ#96に戻って、フラグLCF2をリセット
し、第8ブロックBL8のデフォーカス邑を第2アイラ
ンド22のデフォーカス蓬DFIS2として前記ステッ
プ#43に移行する。一方、ステップ#101で焦点検
出が不能であれば、ステップ#96.#97の処理を行
わずに前記ステップ#43に移行する。
第14図は第3アイランド23のデフォーカス量演算(
ステップ#43)のサブルーチンを示す。
まず、第9ブロックBL9、第10ブロックBL10の
各デフォーカスはをそれぞれ記憶する変数OF9.0F
10に所定値II  K #lを記憶させる(ステップ
#111.#112)。次に、第3アイランド23での
ローコンの状態を示すフラグ10『3をセットする(ス
テップ#1 13)。そして、第9ブロック819の焦
点状態の検出およびデフォーカス煩DFを演算し(ステ
ップ#114)、焦点検出が可能であれば、フラグl.
cF3をリセットし、求めたデフォーカスffiDFを
第9ブ0ックBL9のデフォーカスffi DF9に記
憶させる(ステップ#115〜#117)。一方、スデ
ップ#115で焦点検出が不能と判定されると、ステッ
プ#116.#117の処理を行わずにステップ#11
8に移行する。
次に、第10ブロックBLIOの焦点状態の検出および
デフォーカスWiDFを演算し《ステップ#.118)
、この演算結果から焦点検出が不能であれば、フラグL
CF3がセットされているかどうかを判定する。そして
、フラグLCF3がリセットされているとき、すなわち
、ステップ#115の判定において焦点検出が不能とさ
れたときには、ステップ#122に移行する。また、フ
ラグLCF3がセットされているときには、第10図に
示すステップ#29の露出演尊サブルーチンに移行する
(ステップ#119.#120)。一方、ステップ#1
19で焦点検出が可能と判定されると、ステップ#12
0の処理を行わずにステップ#122に移行する。
ステップ#122では、後述の平均処理ルーチンのブロ
ック間デフォーカス邑ΔDFを決定する.次いで、デフ
ォーカスIt DF9とデフォーカスffiDF10と
の大小を判定し、デフォーカス場の大きい方を第3アイ
ランド23のデフォーカスfi DFIS3とする(ス
テップ#123〜#127).また、ステップ#1 2
4.#1 25でデフォーカスffiO「9とデフォー
カスI DEIOとの差が平均処理幅ΔDFよりも小さ
いときは、デフォーカス量DF9とデフォーカスli 
DFIOとの平均を行い、この平均値を第3アイランド
23のデフォーカスfiDFIS3とする(ステップ#
128>。そして、ステップ#1 26.#1 27,
#1 28の処理を終えると、第10図のステップ#2
9に移行する。
次に、第10図のステップ#29に示した露出演算サブ
ルーチンについて第15図を用いて説明する。
まず、illff検出回路29から被写体8の明るさに
対応した開放Xi度値{アベックス+l!!)BVOが
マイコン26に入力される(ステップ#131)。
続いて、フィルム感度読取回路30からフィルム感度に
対応したフィルム感度1iti(アベックス埴)Svが
マイコン26に入力される(ステップ#132).次イ
テ、これら開放tli rU fIB vOと、フィル
ム感度msvと、第10図のステップ#27で予めマイ
コン26に入力されている開放絞りinAvOトノ和よ
リ、露出(aEV  (EV −3VO4−SV +A
VO)を演締する(ステップ#133)。
次に、前記露出1iaEVに基づいて制御絞りmAVお
よびシャッター速度TVを決定し(ステップ#134)
、そののら、第10図に示すステップ#30に移行する
次に、第10図のステップ#32に示した搬彰レンズ2
の駆動1を算出する処理について説明する。このステッ
プ#32の処理では、各アイランド21.22.23の
各デフォーカス量から被写体がどのように分布している
かをパターン分けし、このパターンごとに最適なデフォ
ーカス量の演算手順を選択して最適な戯影レンズ2の駆
動量を得るようにしている。ここで、前記演算手順を選
択する手段について簡単に説明する。
まず、FAモードかAFモードかの判定が行われる。そ
して、FAモードの場合では、第2アイランド22の測
距を侵先し、第2アイランド22が測距可能であれば、
第2アイランド22のデフォーカスIDFIS2に基づ
いて織彰レンズ2の駆動量を決定し、第2アイランド2
2が測距不可能であれば、最近接のアイランドのデフォ
ーカス吊に基づいてl影レンズ2の駆動量を決定する。
つまり、FAモードでは、静止した被写体を中央にして
撮影する場合が多く、広い範囲での測距に基づいてデフ
ォーカス量を求めると、どのアイランドを選択して表示
しているのかが明確でなくなるため、戯影画面の中央部
の測距を行う第2アイランド22のデフォーカスlDF
Is2を優先することとした。
一方、AFモードの場合では、各アイランド21.22
.23の被写体の内、いずれかの被写体8が焦点検出可
能なときには、最近接になるアイランド、すなわちデフ
ォーカス壜がa大になるアイランドのデフォーカス檄、
搬影レンズ2の焦点距離データ、および被写体までの距
離に基づいてIli!彰倍率を演算し、この演粋IiI
i宋によってデフォーカス隠の演算手順を変えている。
すなわら、基本的には、m彰倍率が大きければ、主被写
体は囮影画面の中央部に必ず存在するとして、第2アイ
ランド22のデフォーカスlfiDFIs2を侵先する
また、搬彰倍率が小さければ、背晴を含んだVPl影に
なり、被写体までの距離分布のばらつきが大きいとし、
さらに主被写体はカメラに近い位置に存在することが多
いので、距離分布の近い側を優先する。この搬影倍率の
判定の目安となる鎖と、この値に基づいて演算手段を選
沢する手順の一例を第16図に示す。
すなわち、例えば、AFモードの場合には、撮影レンズ
2の焦点距111fは35IluIを境に演算手段を選
択する。そして、焦点距111fが35amよりも大き
く、かつ、最近接アイランドの議彰倍率βdrが所定の
倍率βH (例えば、倍″$1/25)よりも小さけれ
ば、最近接アイランドのデフォーカス恐に基づいて搬彰
レンズ2の駆vJmを決定する。
一方、搬彰倍率βd『が所定の倍率βHを越えると、第
2アイランド22のデフォーカス!tDF1s2を優先
し、第2アイランド22が測距不可能であれば、最近接
アイランドのデフォーカス量に基づいて撮影レンズ2の
駆動量を決定する。
さらに、焦点距@1が35am未満であれば、最近接ア
イランドのデフォーカス出に基づいて纜彰レンズ2の駆
動吊を決定する・。これは焦点距離fが短くなると、被
写界深度が深くなるので、距離分布において最近接アイ
ランドの被写体に焦点を合せても他のアイランドで検出
された被写体をかなりの範囲まで被写界深度内に含むこ
とができるからである。
また、FAモードの場合には、焦点距111fに関係な
く、第2アイランド22のデフォーカスIDEls2を
優先し、釦2アイランド22が測距不可能であれば、最
近接アイランドのデフォーカス程に基づいて囮影レンズ
2の駆動堡を決定する。
ここで、前述の撮影倍率βdfの算出手段について説明
する。
このI影倍率βdfは焦点距lIl[Ifとカメラから
の被写体距離Xとから下式のようになる。
βdf− f / x 前記焦点距wifのデータは@影レンズ2から入力され
るので、前記被写体距wixを求めると、蹟彰倍率βd
fは算出される。また、この被写体距離Xは撮影レンズ
2の無限遠位置から被′与体位1dまでのデフォーカス
量DFxを用いて、下式のように求められる。
x−f2/DFx ただし、m影レンズ2は1枚の薄い理想レンズではなく
、主点が前後にあるとともに、焦点距離の変化によって
その主点が異なるので、上式から被写体距離Xは近似直
として求められる。
一方、IN彰レンズ2の無限遠位置から現在位置までの
デフォーカス恐DFoは、マイコン26内部のカウンタ
に記憶されているレンズ駆動モータ33の回転恐(数〉
Nに応じたパルス数から求められ、その関係は下式のよ
うになる。
N − k − DF. ただし、係数kの値は前記パルス数等に基づいて定めら
れる。
上式より、デフォーカスIOFoは、 DFo −N/k となる。そして、搬影レンズ2の現在位霞から被写体位
置までのデフォーカスflDFは、DFx −DFo 
+[) F となる。これらの式から被写体距離Xは、x−f’ /
DFx−f2/ (N/k+DF)したがって、撮影倍
率βdfは、 βdf−f/x−  (N/k+DF)/fとなる。
また、上式とは別に随彰倍率βIHは廁影レンズ2の現
在位置から被写体位匿までの駆動量ΔN〈ΔN−DF−
k)を用いて、 βdr−(N+ΔN>/f−k としても求められる。
次に、平均処理を行うサブルーチンについて第2アイラ
ンド22の70−ヂャート(第13図のステップ#88
.#92)を例にして説明する。
第13図のステップ#88の平均処1!I!輻ΔD「は
、第17図に示すサブルーチンに従って求められる。ま
ず、前回平均処理が行われたかどうかを7ラグW2F2
により判定する(ステップ#141)。
すなわち、前回平均処理が行われると、フラグーlF2
はセットされる。そして、前回平均処理が行われていれ
ば、係数k1を“1.5″に設定し、前回平均処理が行
われなければ、係数k1を゛゜1”に設定する(ステッ
プ#142,#143).係数k1を設定する理由は、
測距値のばらつきによって平均処理が行われたり、行わ
れなかつたりすることを防ぐため、−m平均処理が行わ
れた場合は平均処理幅を広げて2回目以降も平均処理が
行われる可能性(確率〉を高めるためである。
次に、前回測距時に検出された撮影倍率β(Hの判定が
行われ、Ill形倍率βdfが“1/20”以上の場合
には係数k2を“1″に設定し、四彰倍率βdfが“1
/20″から“1/50”の場合には係数k2を″0.
5″に設定し、lI!彰倍率βdfが“1/50”以下
の場合には係数k2を″0″に設定し(ステップ#14
5〜#149)、ステップ#150に移行する。前記係
数k2を設定する理巾は、lI!影倍率βd『が高いと
同一アイランド内の複数ブロックに同一被写体で占めら
れる可能性が高くなるためである。
次いで、ステップ#150で、II影時の絞り植FNo
.に基づいて基準平均処理幅ΔDFIの設定を行う。つ
まり、廠影時の絞り@ FNo.と許容錯乱円直径εの
積により求められる焦点深度δを撮影された像の解像度
を保存するための基準平均処理幅ΔDFIとして設定さ
れる。
そして、前記係数k1および係数k2をこの基準平均処
理幅ΔDFIに働けることにより、平均処理幅ΔDFが
決定され、さらにフラグーl「2がリセットされる(ス
テップ#151)。そののち、第13図に示すステップ
#89に移行する。
また、前回平均処理が行われたかどうかを判定するため
のフラグは、第1アイランド21および第3アイランド
23にもフラグlIllF2と同様に有しており、前回
平均処理が行われると、フラグーZF2はセットされ、
前回平均処理が行われなければ、リセットされる。
ここで、各ブロックのデフォーカス量の演0および焦点
検出不能判断について第3ブロックBL3を例《第13
図のステップ#75〜#78)にして第18図(a)を
用いて説明する。
まず、前ビン側ずれピッチが4glの位胃(ずれピッチ
″−4″)から後ビン側ずれピッチが24個の位置くず
れピッチ“24” )までのデフA −カス範囲におい
て参照部142bのデータをずらせながらくシフトさせ
ながら〉、各シフト位置における第3ブロックBL3の
データと参照部142bのデータとの相[fl数口3(
I)を求める(ステップ#1 61 )。
この相rMrM数H3(1)は下式のようになる。
1−13([)− (  I K2(1)−32(5+
I)  l + l K2(20)−82(24”I)
  l )/2+Σ1κ2(j)−S2(4−j+1)
J+2 ただし、K2S.tl準部142aの差分データ列を示
し、S2は参照部142bの差分データ列を示す。
次いで、前述の各シフト位置における相関関数8 3(
1)の内で最も相関の良い、すなわち、相OQOQ数H
 3(1)の値が最小になるシフトffilH  (I
H−MIN(l−13(1)) )を抽出する(ステッ
プ#162)。次に、相関関数8 3(1)の各点の値
を用いて各ビクチ間の補間演算を行う(ステップ#16
3)。
この補同演算により求めらる補間ビッチXMは下式のよ
うになる(特開昭60−247211号公報参照)。
XH  −  I  M  +  (  H3(IN−
1)−83(Il4+1))/ [  MIN{ H 
3(IN−1)計1 3(IN.1))− 8 3(I
N)1/ 2この補間演算を行う理由は、1個のピッチ
のずれをデフォーカス恐に換詐すると約1 000μm
と大きく、このピッチ間を補うことによりtllfの良
い測距を行うためである。
こうして求められた補間ビッチXHに光学系および光電
変換素子アレイのピッチ長で決定する係数αを掛けてデ
フォーカスIDF (DF−XHα)に換算する《ステ
ップ#164)。次いで、第3ブロックBL3のデータ
の持つコントラスト(明m>値C《3》をM1部142
aの隣接データの総和として求める(ステップ# i6
 5 ) ,このコントラストIC<3)は下式のよう
になる。
求めるとともに、この補間値YHとコントラスト値C〈
3)との比のlaR(3)を求める(ステップ#167
)。
これら補11sillYHと比のIIR(3)とは下式
のようになる。
YH  − }{3(IN)−1  83(IN−1)
−83(IH+1)  l /2R(3)−C(3)/
YH こうして求められたフントラストl+1G(3)および
比のIR(3)が共に設定領を満足した場合のみ焦点検
出可能とし、コントラストIIc(3)あるいは比のf
fiR(3)のいずれか一方でも満足しない場合には、
焦点検出不能とする(ローコン判定)。すなわち、まず
、第3ブロックBL3が前回のルーチン処理で焦点検出
可能であったかどうかの判定を、検出フラグNLB3を
用いて行う(ステップ#168)。これは前回焦点検出
可能であった場合に判定レベルの緩和を行い、焦点検出
判定レベルぎりぎりの被写体に対し、焦点検出可能かど
うかの判定が不安定になることを防ぐためである。すな
わち、焦点検出判定レベルぎりぎりの被写体に対しては
、判定レベルCth,Rthにそれぞれ所定111c1
.R1を設定する(ステップ#169). そして、ステップ#168で餉回焦点検出不能あるいは
一度目のルーチン処理、すなわち、検出フラグNLB3
がリセットされている場合には、現在の搬影レンズ2の
位四での撮影を行った際の1&影倍率βtSの演算を行
う(スデップ#1 70)。
この胤影倍率βLSは、前述のIffi影佑率β(Hの
演算、すなわち、β+H− (N/k+OF)/f  
のデフォーカスfiDFに“O”を代入して求める。
そして、このIl影倍率βLSと焦点距離fとの積を求
め、この積が所定(ifif・βth(例えば、300
imレンズの場合βthは1715以上)以上の場合に
は、判定レベルCth,Rthにそれぞれ所定値C1.
R1よりも大きい所定lI!IC4.R4を設定する(
ステップ#1 71,#1 72)。つまり、ステップ
#169の場合に比べて判定レベルC th,Rthは
厳しくなる。
前記ステップ#171で所定(if・βth未満の場合
、第3ブロックBL3の最大の局所コントラストill
 CLthの演算を行う(ステップ#1 73)。そし
て、局所コントラスト{ficLthが予め設定された
所定植よりも大きければ、すなわち後述のフラグOLが
セットされていると、判定レベルcthに所定値C2を
設定し、所定値よりも小さければ、すなわちフラグCL
がリセットされていると、判定レベルcthに所定11
1c3を設定する(ステップ#174〜#176)。た
だし、所定iflG2.03の関係は、CI <02<
03<04  となるように予め設定されている。
次いで、フラグ^FSFがセットされているかどうかの
判定を行い、セットされていれば、判定レベルRthに
所定値R2を設定し、リセットされていれば、判定レベ
ルRthに所定値R3を設定する(ステップ#177〜
#179).ただし、所定偵R2.R3の関係は、R1
<R2<R3<R4となるように予め設定されている。
そして、前記判定レベルCth,Rthにそれぞれ所定
値が設定されたのち(ステップ#169.#1 72.
#1 7B.#1 79)、コントラスト埴C(3)が
判定レベルcthよりも大きく、かつ、比の値R(3)
が判定レベルRthよりも大きいときには、検出フラグ
旧13をセットし、コントラストi1G(3)あるいは
比のIR(3)のいずれか一方でも判定レベルcthあ
るいは判定レベルRthよりも小さいときには、検出フ
ラグNIB3をリセットする(ステップ#180〜91
82)。そののち、第13図のステップ#79以降に示
された第4ブロックBL4のデフォーカス量の演算およ
び焦点検出不能判断等の処理を行う。
ここで、ステップ#172の所定fif・βth以上の
場合に判定レベルcth, Rthtlnしくした理由
について説明する。
なお、検出フラグN I.B 3は、各アイランドごと
に、この検出フラグNLBを設定し、この検出フラグM
LBに基づいて判定レベルの緩和を行うようにしてもよ
い。つまり、一度合焦検出して大きなデフォーカス量を
検出した場合、レンズ駆動により、そのil簡隔が基本
像間隔に近ずく。そのため、基準部の像自体も、例えば
、第4ブロック、第5ブロックにあった像が、レンズ駆
動により像間隔が広がり第3ブロック、第4ブロックに
シフトすることがある。この様なときは第3ブロックで
焦点検出不能になる。そこで、各アイランドごとにロー
コンを示すフラグLCFを別のフラグLCFNに格納し
て、このフラグLCFNを検出フラグNLBの代りにそ
れぞれのアイランドの測距時に判定するようにしてもよ
い。
つまり、極めて大きなレンズ駆動範囲(レンズ繰り出し
f140as以上)を有する長焦点レンズの場合、レン
ズ位置が前記条件を満足するように高倍率、すなわち、
レンズ繰り出し量が大きい場合でかなりの遠景、低倍率
の被写体に対して焦点検出しようとすると、この様な場
合、空間周波数成分はかなりの高周波成分を有し、基準
部142aあるいは参照部142bにおける像間隔が極
めて小さく、基準部142aと参照部142bとではま
ったく異なった像が投影されることに・なる。さらに、
低倍率であるため、まったく異なった被写体が投影され
ることになる。この様なぼけ状態の場合には、光学系は
極めて低周波成分のみを通過させるので、通常は焦点検
出不能となる。ところが、第18図(b)に示すように
、人物A.Bが並んでいるような場合、人物A.Bを区
別する細部のデータ(高周波成分)は光学系を通過しな
いわで、基準aB142aと参照部142bとに投影さ
れる人物A.Bのそれぞれの像はほぼ同じ波形になり、
人物Aの像と人物bの伽とを誤って判定し、焦点検出可
能と判定する場合がある。
一方、レンズ位置が無限遠状態で低倍率の場合に近景、
高倍率の被写体に対して焦点検出しようとすると、この
様な場合にも、光学系は極めて低周波成分のみを通過さ
せるので、細部のデータは通過しない。ところが、高倍
率であるため麩準部142aあるいは参照部142bに
おける像間隔が極めて大きく、基準部142aと参照部
142bとは同じ被写体の異なった部分が投影されるこ
とになる。したがって、基準部142aと参照部142
bとが異なった被写体を投影されることはないので、判
定レベルCth, Rthを厳しくすることとした。
また、前記ステップ#161およびステップ#165で
は、第3ブロックBL3の相lm関数口3(I)および
コントラスト(flG(3)を演算したが、第19図に
示すように、他のブロックBL1 , BL2 ,BL
4 , BL5 . BL9 , BLI Oについて
も同様に求めることができる。
次に、前記ステップ#173での局所コントラストlI
icuhの演算について説明する。このステップ#17
3でのコントラスト値の判定レベルcthには、光電変
換素子アレイ等により発生するノイズ(M音) ml 
C noiseが重畳されている。このノイズl C 
noiseのノイズ自体の大きさは変らないがノイズの
波形がばらつくため、合焦検出に最低限必要な真の被写
体コントラスト(lfIcHINは下式のようになる。
C th− Ct41N + MAX ( Cnois
e )ただし、CMIN <MAX ( Cnoise
 )このため、ノイズflcnoiseが小さく、本来
、焦点検出可能にもかかわらず、コントラスト艙が判定
レベルcthを越えないために焦点検出不能と判定され
る場合がある。そこで、最大のノイズ量Cnoiseが
発生する時は、第31OツクBL3の各部でもノイズが
存在すると予測されるので、第3ブロックBL3の差分
データごとに下式にしたがつてコントラスト限界の判定
を行う。
P Σ l  K(j+q)−K(j+q+1)   l 
 ≧ CHIN  +MAX{Cno♂ se )・P/20 ただし、埴Pは予め設定する所定値で、“20″以下の
値から選択する。
また、粕記コントラスト限界の判定において、局所的な
コントラスト埴が所定値を満足しているときには、コン
トラスト値の判定レベルをノイズが小さな場合と同様に
判定することができる。つまり、コントラスト限界の判
定の手段は、第20図〜第22図に示されたように、複
数の判定ルーチンがある。すなわら、′第20図の判定
ルーチンでは、例えば、第3ブロックBL3から7個の
差分データごとに細分したデータブロックを抽出し、こ
のデータブロツクの内、1個のデータで6所定@ CL
thl以上であれば、トータルのコントラスト傭の判定
レベルを緩和するようになっている。
つまり、この判定ルーチンは、まず、フラグCLをリセ
ットするとともに、変数qをリセットする〈ステップ#
191)。次いで、第3ブロックBL3のデータをデー
タK2(1)からK2 ( 8 )までの差分データ(
7個)よりなるデータプロックC出し、このデータブロ
ックc tocと所定IICLth1と比較する(ステ
ップ#192.#193)。そして、データブロックc
 tocの内、1[1のデータでも所定植cttht以
上であれば、フラグCLをセットし(ステップ#194
)、コントラスト値の判定レベルを緩和する。
一方、データブロックC LOCの各差分データが所定
l CLth1未満であれば、変数qをインクリメント
して第31OツクBL3のデータK2 ( 2 ”)か
らK2 ( 9 )までの差分データよりなるデータブ
ロックC LOCを抽出し、このデータブロックc t
ocと所定@ CLthlと比較する(ステップ#19
5.#193)。そして、データブロックC LOCの
内、1個のデータでも所定11 CLth1以上か、あ
るいは第3ブロック8L3のデータK2 ( 1 3 
)からK2(20)までの差分データよりなるデータブ
ロック℃(OCを抽出されるまで続けられる(ステップ
#192〜#1 96)。この結果、全てのデータブロ
ックc tocで所定I CLthl未満であれば、フ
ラグOLはリセットのままで第18図(a)のフローチ
ャートに移行する。
また、第21図では、ブロックのデータの最大値および
最小値を抽出し、これら最大伯と最小値との差から局所
コントラストの有無を判定する。
つまり、この判定ルーヂンは、第3ブロックB[3のデ
ータK2(1〜20>から最大値[ M AX(K2(
j)}]および最小値[MIN(K2(j))]を抽出
し、これら最大m [M AX{K2(m ] ト!小
1lIII[ M IN(K2(m ] と(D差ct
Oc  ( CIOC =MAX{K2(j)} −M
 IN(K2(j)) )を求める(ステップ#201
〜#203〉。次いで、フラグCLをリセットしくステ
ップ#204> 、差C LOCと所定hl CLth
2と比較する(ステップ#205)。そして、所定{1
71cLth2以上であれば、フラグCしをセットしく
ステップ#206) 、コントラスト値の判定レベルを
緩和する。一方、差C LOCが所定1fi CLth
2未満であれば、フラグCLはリセットのままで第18
図(a)のフローチャートに移行する。
さらに、第22図では、ブロックのデータの内、所定レ
ベルより大きなデータが所定個数以上あるかどうかの判
定で局所コントラストの有無を判定する。
つまり、この判定ルーチンは、まず、変敗jを“1′に
セットし、変数CL1 , CL2をリセットし、さら
にフラグCLをリセットする(ステップ#211)。次
いで、第3ブロック8L3のデータK2〈1)と所定@
 ctth3ヲ比較シ、所定艙CLth3 以上のとき
、変数CL1に“1′′を加え、次に、データκ2(1
)が所定値一CLth3以下のとき、変数CL2に“1
′を加える(ステップ#212〜#215)。そして、
前記変数CL1と変数CL2との積を求め、この積CL
I ・CL2が所定値CLth4以上であれば、フラグ
CLをセットしくステップ#21 7)、コントラスト
埴の判定レベルを緩和する。一方、lficL1 ・C
L2 カ所定i1cLth4 所定IIcLth2 未
満テあれば、変数jをインクリメントし、第3プロツク
BL3の全てのデータK2 ( 2 0 >について、
ステップ#212から#215までの処理を行う(ステ
ップ#212〜#219)。この結果、全てのデータの
処理を終えても積CL1  ・CL2が所定1ific
Lth4未満であれば、フラグCLはリセットのままで
第18図(a)の70−チャートに移行する。
次に、第13図のステップ#92の平均処理ルーチンに
ついて説明する。この平均処理ルーチンにはいくつかの
処理手段があり、それぞれの処理手段について第23図
〜第25図を用いて説明ηる。
第23図の平均処理ルーヂンでは、弟18図(a)のス
テップ#165.#167で求められたコントラストI
I!IC(3)および比の値R(3)に基づいて重み閏
数W(1)を設定し、この重み閏数W(1)を用いて各
ブロックのデフォーカス憬の加重平均を行うようになっ
ている。すなわち、まず、変数1を“3″にセットする
(ステップ#21 7).そして、各ブロックBL3 
, BL4 , BL5の各デフォーカスfliDF3
 , DF4 , DF5の内の最も大きなデフォーカ
ス量HAXDFとデフォーカスffiDF3との差を求
め、この差と平均処理幅ΔDFとを比較し、この差が平
均処理幅ΔD「を越えたときには、重み閏敗W(3)を
“0”にする。そして、変filをインクリメントし、
デフォーカスl HAXDFとデフォーカスII DF
4およびデフォーカスIIDF5との差を求め、この差
と平均処理幅ΔD「とを比較し、この差が平均処理幅八
〇Fを越えたときは、重み閏数W(4〉および重み閏数
W(5)を“0′゛にする(ステップ#222〜#22
5)。
つまり、各ブロックBL3 , BL4 , BL5の
各デフォーカス恐DF3 , DF4 , DF5の内
、平均処理幅ΔDF以内のデフォーカス量を用いて平均
処理を行う.次いで、前述のように処理された重み関数
W(1)を用いて加重平均を行い、この平均値を第2ア
イランド22のデフォーカス壜ロFIS2に設定する(
ステップ#226>. つまり、デフォーカスlDFls2は下式のようになる
DFIS2 −(DF3・W (3)+DF4 ・W(
4)◆(lF5 ・W (5))/  (W (3)+
W (4)−W (5))そして、ワイドゾーンフラグ
御IF2をセットする(ステップ#227)。そののち
、第11図のステップ#43のデフォーカス噛演算サブ
ルーチンに移行する。
第24図の平均処理ルーチンでは、相関間数の内、最大
相関位置IMと、その前後の相関位置11441および
相関位2f I M−1において複数のブロックを組み
合せて相lIl関数を再計算し、ざらに再補間演搾する
ようになっている。すなわち、全てのブロックBL3 
. BL4 . BL5が平均処理幅ΔDFよりも小さ
いと(平均処理対象)、第2アイランド22のデータK
2(1〜40)で相関閏数口3,4.5(IN). H
3,4.5(1M−1), H3,4.5(IH+1)
ヲ再ffiOし、ざらに再補間演鋒してこの値を第2ア
イランド22のデフォーカス量DFIs2に設定する《
ステップ#231.#232)。また、第3ブロックB
L3および第4ブロックBL4が平均処浬幅ΔDFより
も小さいと、データK2(1〜30)で相関関数83.
4( I M). H3,4( I M−1). H3
.4( I M+1.)を再計算し、再補間演算してこ
の植をデフォーカス量DFIS2に設定する(ステップ
#233.9234)。さらに、第470ツクBL4お
よび第5ブロックBL5が平均処理幅ΔDFよりも小さ
いと、データK2(11〜40)で相m図数8 4.5
( 1 14). H 4.5(l H−1),口4.
5(I旧1)を再計算し、再補間演算してこの値をデフ
ォーカスffiDFIs2に設定する(ステップ#23
5.#236>。また、ステップ#235で、第3ブロ
ックBL3および第5ブロックBL5が平均処理幅ΔD
Fよりも小さいと、ステップ#232に移行し、そして
、ワイドゾーンフラグ141F2をセットし(ステップ
#237>、そののち、第11図のステップ#43のデ
フォーカス量演算サブルーチンに移行する。
ここで、前述のステップ#232.#234,#236
の相閏関数H3,4.5( I N). 83.4( 
I M).口4,5( I H)の演算式を示す。
口3.4。5( I M)− 8 3,5( I N)
− (  l K2(1)−82(5+ 1 14) 
l + l K2(4G)−32(44+ I N) 
l )/2+Σ1κ2(J)−32(4+j+ [ H
) H3.4(IN)−(  l K2(1)−32(5+
 IN)l + l K2(3)−32(4+j+I 
M) ト14   5(IN)−(   I  K2(11)
−s2(15+IN)l   +  l  K27q l)42(4+j+ l H) また、第25図の平均処理ルーチンでは、平均処理の対
象となる各ブロックの相関関数日(1M).口(114
−1).口(IM+1)をそれぞれ加算し、この加粋結
果を用いて補間演算以後の処理を行うようになっている
。すなわち、全てのブロックBL3 ,BL4 , B
L5が平均5111理幅ΔDFよりも小さいときに、相
[10関数8 3,4.5( I N).口3,4.5
( I N−1),ト13,4.5( I H◆1)は
下式のように計埠する(ステップ#241,#242)
H 3,4.5( I  N−1) 一 ト{3( I
  N−1) 十 114(  I  M−1)+ 1
−1 5(IN−1) H3.4,S([1)−H3([14)+H4(IN)
+85([H)H3,4.5( I N+1)− 8 
3( I H+1)+ 8 4( I N+1)十口5
(1M+1) また、第310ックBL3および第4ブロックBL4が
平均処理幅ΔDFよりも小さいときには、相関関数83
,4( [ 14). H3.4( I N−1). 
H3,4( [ M◆1)は下式のように計titる(
ステップ#243,#244). H3,4( I  H−1)− 83( 1  14−
 1)+ 84(I  M−1)口 3.4(  I 
 H) 一 113(IN)+84(I  M)H3,
4(IH+1)−83(IM+1)十84(IM+1)
さらに、第410ツクBL4および第5ブロックBL5
が平均処理幅ΔDFよりも小さいときには、相関関数8
4.5( I M), H4,S( [ 14−1),
 H4,5( I H◆1》は下式のように計算する《
ステップ#245.#246)。
H 4.5( I N−1)− 8 4( 1 14−
1)+ 8 5( I N−1)H4,5(114)−
84(IN)+LI5(IN)H  4,5(  I 
 N+1)=  8  4(  I  M+1)+  
8  5(l  H+1)また、ステップ#245で、
第3ブロックBL3および第5ブロックBL5が平均処
理暢ΔOFよりも小さいときには、相関関数83.5(
IN). H3,5(I N−1). H 3,5( 
I H◆1)は千式のように計算する《ステップ#24
7>。
口3、5( I M−1)一口3( 1 14−1)+
 8 5( I N−1)H3,5(114)−83(
IN)+85(IM)H3.5(Il4◆1)−  H
  3(  1  M+1)  十 口 5(  1 
 N+1)そして、ステップ#242,#244,#2
46,#247の相f1l関数の計算を終えると、再補
閤演輝を行い、この餡をデフォーカス量DFIS2に設
定する(ステップ#248)。つまり、デフォーカス量
DFIS2は下式のようになる。
DFIS2−α− !H +α・ (H(  IM−1
)一口(  1M+1))/[ MIN(H( IN−
1).口( IM+1))− H (IN)]/ 2 そして、ワイドゾーンフラグーZF2をセットし(ステ
ップ#249) 、そののち、第11図のステップ#4
3のデフォーカス恐演算サブルーチンに移行する。
次に、第13図のステップ#93〜#95の弟6ブロッ
クBL6のデフォーカス最演算サブルーチンについて第
26図を用いて説明する。
まず、ブロックBL3 , BL4 , BL5で用い
た差分データ列κ2(j)および32(j)よりそれぞ
れ7つ置きに差分をとり、この差分データの隣接間の和
分データ列KW(j)およびSW(j)を求める(ステ
ップ#251)。この和分データ列κ旧j) . 31
4(j)は第10図のステップ#26で入力された差分
データ列を用いて下式のようになる。
K14(m)一K2(m)+K2(一◆1)+K2(鴎
+4)+K2(m◆5)S旧1) −32(+)+82
(++1)482(+44)+32(++5)次に、相
nlI関数口G(I)を求め、相関関数8 6([)の
鎖が最小になるシフト11M  (114 −MIX(
H6(1)) )を抽出する(ステップ#252,#2
53)。この相l1Illl!l@口6(I)は下式の
ようになる。
口6(1)−(   l  κW(2)−Sl4(6◆
夏)   l  +  l  KW(34)−S旧38
+I)l)/2+Σ1問(j)−SW(4+j+1)J
t3 ここで、上式のように基準部142aのデータ列から両
端のデータを除いて相Il1gQ数H 6(1)を求め
るのは、後述の補間演算の際に最小シフトffiIM′
iL傍の相[11関数口G(IN−1). H6(1)
. H6(II4+1)のみを用いるのではなく、相関
関数8 6( I N−2).H Ei( I M+2
)をも用いるために相III III数8 6( I 
H−2),H 6( I H+2)での参照部142b
のデータに対応する位置が大きくずれるのを補正するた
めである(特fli1昭60−24721 1MIIM
t)。
ステップ#254では、これら相関関数ト16(IH−
2),口6( I M−1). H 6( I M+1
1,口6( l H+2)を求める。すなわち,これら
の式は、 1↓ となる。
これら相圓関数11 6( I M−2). H 6(
 I M−1),口6([H+1),口6( I M+
2)を用いて補間演算を下式のように行う(ステップ#
255)。
Xl4−IM+(口6( I N−2)− 8 6( 
1 M+2))/[ M IN(  H  6(  l
  H−2).   H  6(  l  M+2))
−M AX  {  11 6( IN−1). H6
(IN◆1))1/2前記補間ビッチXHに係数αをl
}けてデフォーカスIDF (OF−XH ・a) に
t*it6 (ステップ#256)。次いで、第6ブロ
ックBL6のデータの持つコントラストfaG(6)を
下式のように求める(ステップ#257)。
続いて相fl11!I数口6(114)の最小値の補間
fli Y 81を求め、この補間iQ’/81とコン
トラストi[c(6)とを用いて比のliIR(6)を
下式のように求める(ステップ#258)。
YH1=MAX(H6(IN−1). H6(IHrl
)) − ( IHe(  I  M−2)−  86
(  1  M+2)  l  )  /  2R (
6)−C (6)/ (YHI−OF)次いで、判定レ
ベルCth6 , Rth6にそれぞれ所定埴を設定し
、コントラストIC(6)および比のlifiR(6)
が共に所定値をm足した場合のみ焦点検出可能とし、コ
ントラストfilG(6)あるいは比のIR (6)の
いずれか一方でも満足しない場合には、焦点検出不能と
する(ステップ#259.#260)。
そののち、第13図のフローチャートに移行し、ステッ
プ#96あるいはステップ#98の処理を行う。
次に、ステップ#256の補間演算の手段について第2
7図の例を用いて説明する。
まず、基準部142aのデータ列を“3.2,1.−1
.−2.−3”とし、参照部142bのデータ列を“4
.3.2.1,−1.−2.−3.一4″とすると、相
1司関数は口(0)−0.口(−1)−6.8(1)−
6になる。ここで、参照部142bのデータ1fi1に
ノイズが加わり、参照部142bのデータ列が“4.3
.2.O.−1.−1.−3.−4” に変化スルト、
相na関数ハH(0)−2.8(−1)−5.5.8(
1)−6になり、合焦点、すなわち、相関関数}1(I
N)に対するノイズの影響が最も大きく、相IIIIl
Q数H( 114−1). H ( IN◆1)への彰
IIは比較的小さくなる。このため、相関関数H(IN
)が周朋的な関数でない限り、相関関数H(IN)を用
いずに、相関関数H(IN)の前後の相閏閏敗H ( 
I H−2). H( 1 14−1). H ( 1
 1481), H ( I N+2)を用いてノイズ
の影響を小さくするようにしている。
また、ステップ#259では、第18図(a)のような
通常の補間演算を行うと、オフセット潰カ生シルタメ、
補@ifl Y M1カらM AX ( H 6( I
 N−1),H 6( 1 )441))と相関関数口
6(1+4)とのp!OF1、アルイハMAX ( H
6( 1 14−2). H6( I M+2))とM
AX( H 6( I H−1).116(目H◆1)
}との差OF2、あるいはコントラストIC(6)を引
いた植に基づいて設定したimlOFを用いて比の値R
(6)の演算を行う。
〔発明の効果〕
本発明は、一次フィルタ手段を用いても光命の相対的変
位が検出できないときに二次フィルタ手段を作動させる
ので、一次フィルタ手段を用いるのみで、光像の相対的
変位の検出ができるときには、相対的変位の検出を短時
間で行うことができる。また、二次フィルタ手段を用い
て光像の相対的変位を検出するときには、一次フィルタ
手段は動作を停止し、一次フィルタ手段で抽出されたデ
ータを記憶するRAM等のメモリに二次フィルタ手段で
抽出された周波数成分のデータを記憶させるので、RA
M等のメモリの利用効率の向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る自動焦点検出装釘を備えたカメラ
の概略構成図、第2図は焦点検出手段の機構構成図、第
3図は光電変換素子アレイを示す図、第4図はファイン
ダ内の腸影画面の焦点検出領域を示す図、第5図は第1
アイランド〜第3アイランドに対応する襲準部を拡大し
た図、第6図.第7図は各70ックのデフォーカス範囲
を説明する図、第8図は本発明に係る自動焦点検出装置
をマイコンを用いて構或したカメラの回路ブロック図、
第9図.第10図はマイコンの割り込み動作のフローチ
ャート、第11図〜第14図は第1アイランド〜第3ア
イランドのデフォーカス壇演算のサブルーチンを示すフ
a−チャート、第15図は露出演輝のサブルーチンを示
すフローチャート、第16図はデフォーカス量の演棹手
段を選択する手順を説明する図、第17図は平均処理幅
を求めるサブルーチンを示すフローチャート、第18図
(a)は第3ブロックのデフォーカス置の演算および焦
点検出不能判断を説明する図、第18図(b)は人物が
並んでいるような場合に誤判定することを説明する図、
第19図は各ブロックの相関圓数およびコントラスト植
の演算を示す図、第20図〜第22図はコントラスト限
界の判定のサブルーチンを示すフローチャート、第23
図〜第25図は平均処理ルーチンを示すフローチャート
、第26図はデフォーカス怨演算サブルーチンを示すフ
ローチャート、第27図は補間演算の手段を説明する図
である。 1・・・自動焦点検出装置、2・・・撮影レンズ、3・
・・焦点検出手段、4・・・デフォーカス穏決定手段、
5・・・レンズ位置検出手段、6・・・レンズ駆動手段
、7・・・IIIIII手段、8・・・被写体、21・
・・第1アイランド、22・・・第2アイランド、23
・・・第3アイランド、26・・・マイコン、27・・
・レンズ回路、28・・・焦点検出データ出力回路、3
4・・・レンズiIIJIl1回路、35 −・・1t
 II電池、3 6−・・給電回路、141a,142
a,143a−1Sel1部、14lb.142b,1
43b・・・参照部、BL1・・・第17ロック、BL
2−・・第2プOツク、BL3・・・第3プ0ツク、B
L4・・・第4ブロック、BL5−・・第5ブ0ツク、
BL9−・・第9ブロック、8LiO・・・第10ブロ
ック、SW1”・N源スイッチ、SW2・・・鴎彰準備
スイッチ、SW4・・・選択スイッチ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、第1の空間周波数成分を抽出する一次フィルタ手段
    と、この抽出された空間周波数成分に基づいて焦点検出
    を行う第1の焦点検出手段と、前記抽出された空間周波
    数成分に基づいて第2の空間周波数成分を抽出する二次
    フィルタ手段と、この二次フィルタ手段で抽出された空
    間周波数成分に基づいて焦点検出を行う第2の焦点検出
    手段と、前記第1の焦点検出手段で焦点検出不能と判定
    されたときに前記二次フィルタ手段と第2の焦点検出手
    段とを作動させる判定手段とを備えたことを特徴とする
    自動焦点検出装置。
JP63118792A 1988-05-16 1988-05-16 自動焦点検出装置 Expired - Lifetime JP2770318B2 (ja)

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