JPH0321065B2 - - Google Patents
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- JPH0321065B2 JPH0321065B2 JP15492284A JP15492284A JPH0321065B2 JP H0321065 B2 JPH0321065 B2 JP H0321065B2 JP 15492284 A JP15492284 A JP 15492284A JP 15492284 A JP15492284 A JP 15492284A JP H0321065 B2 JPH0321065 B2 JP H0321065B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/416—Systems
- G01N27/4163—Systems checking the operation of, or calibrating, the measuring apparatus
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
＜産業上の利用分野＞
本発明は、自動校正機能を有した濃度計の改良
に関し、詳しくは異常値への自動校正を防止する
ため異常判断機能を付加してなる濃度計に関す
る。 ＜従来技術＞ この種の濃度計として例えば自動校正機能付PH
計は、基準値校正、感度校正を手動にかえてその
まま自動化した電子サーボ機構のものや、２つの
校正液と設定値とから２点座標を求め、それらを
通る関数を記憶するようにしたものがある。しか
るに、これらのPH計では、ボリユームを用いた
り、関数の係数に上下限を設定する等して自動校
正できる必要十分な範囲を設け、その範囲を越え
る場合に校正不能とするようにしたにすぎないた
め、電極の劣化、変質、汚れ等自動校正可能な範
囲内にある異常に対しては強制的に自動校正して
しまい、その結果、知らない間に試料測定精度が
劣化してしまつているといつた不都合を生じるも
のである。 ＜発明の効果＞ 本発明はこのような点にあつて、要求される測
定精度の面から異常値への校正であるかどうかを
みるようにして、上述した従来装置の不都合の解
消を図つたものである。 ＜発明の構成＞ 上記目的を達成するため、本発明に係る異常判
断機能付濃度計は、試料及び校正用物質の濃度に
応じた電気信号を発する検出器と、校正用物質の
検出信号によつて自動校正し、試料の検出信号に
よつて濃度を求める演算を行なう演算部と、前回
の校正時における測定値を記憶する記憶部と、前
回と今回の校正時における測定値とを比較する比
較部と、要求される測定精度に応じた管理値を設
定した管理設定部とを有し、周期的に行なわれる
校正時点で、前回の校正時における測定値と今回
の測定値とを比較し、比較結果が管理値を越えた
場合、異常と判断するよう構成されたことを要旨
としている。 ＜実施例＞ 第１図は本発明の基本的な構成を示し、１は試
料及び校正用物質の濃度に応じた電気信号を発す
る検出器である。PH計の場合には、検出器として
PH測定用電極と温度検出器とを用いる。また、そ
の場合校正用物質は２つの校正液を使用する。２
は演算部で、校正物質の検出信号ａによつて自動
校正し、試料の検出信号ｂによつて濃度を求める
演算を行なう。この演算部２で求められた試料濃
度は表示部３を通じて表示される。４は記憶部
で、前回の校正時における測定値を記憶する。５
は比較部で、前回と今回の校正時における測定値
を比較する。６は管理設定部で、前回の校正時と
今回の校正時との測定値の差として、測定精度の
上から要求される限界値が設定されている。７は
判定部で、比較部５の比較出力が管理設定部６の
管理値より大きいかどうかを監視し、大きい場合
には異常である旨の判定出力を発す。この判定出
力は、警報器を作動させるために利用されたり、
或いは他の制御機に加えて今回の自動校正を中止
させるため等に利用される。 この構成によれば、校正時に異常の判断が行な
えるので、計器の信頼性が向上する等の利点があ
る。尚、上記構成中、演算部２、記憶部４、比較
部５、管理設定部６、判定部７は一台のマイクロ
コンピユータによつて代用できることは勿論であ
る。 次に第２図は、本発明の具体例で、電気メツキ
液のPHを測定するよう構成された測定計器を示
し、１１はメツキ槽、１２はメツキ槽１１とは別
個に設けた電極チヤンバである。メツキ槽１１内
の試料（メツキ液）は、メツキ液導入弁１３が開
状態のときサンプリングポンプ１４によつて電極
チヤンバ１２に導入され、測定に供される。一
方、測定を終えた試料はもどり管１５を通じてメ
ツキ槽１１に戻される。１６は洗浄液タンク、１
７は第１校正液タンク、１８は第２校正液タンク
で、各タンク内の液は各タンクの配管中に設けら
れた導入弁１９，２０，２１を開き、導入ポンプ
２２を作動することにより電極チヤンバ１２内に
導入することができる。２３は圧力空気導入弁
で、前記各液を電極チヤンバ１２内に導入する
際、この弁も一定時間開いて圧力空気によるバブ
リングを行なうようにしている。２４は排出弁、
２５は電極チヤンバ１２内に設けたPH測定用電
極、２６は温度検出器である。PH測定用電極自体
が温度検出器を内装している場合にはそれを用い
ればよく、別個に温度検出器を設ける必要はな
い。２７はPH測定用電極２５内の比較電極に導入
するKclを貯めたタンク、２８メツキ槽１１内の
試料の温度を検出するセンサー、２９はこのセン
サー２８からの温度信号及び前記PH測定用電極２
５と温度検出器２６からの検出信号の３者から演
算によつてメツキ槽１１内の試料のPHを算出する
演算部である。尚、メツキ槽１１が一定温度に管
理されている場合には温度センサー２８不要であ
る。その場合は、一定温度を示す信号を抵抗器等
によつて作り出し演算部２９に入力するようにす
ればよい。３０は上記各弁、ポンプを一定の順序
にしたがつて作動させ、自動洗浄、校正液の導
入、サンプリング動作を遂行するプログラムコン
トローラである。 次にプログラムコントローラ３０によつて遂行
される自動洗浄、校正液の導入、サンプリングの
各動作及び演算部での処理を説明する。 自動洗浄、校正液の導入 () 排出弁２４を開き、電極チヤンバ１２内
の液を排出した後、導入弁１９を開き、導入
ポンプ２２を作動させる。これにより、洗浄
液が電極チヤンバ１２内に導入される。この
とき同時に圧力空気導入弁２３も開き、電極
チヤンバ１２内で洗浄液をバブリングさせ洗
浄効果を高める。 () 洗浄を完了すれば、排出弁２４を開き、
洗浄液を排出し、次に導入弁２０を開く、こ
れによつて第１校正液が電極チヤンバ１２内
に導入される。この場合も圧力空気導入弁２
３を開き、第１の校正液をバブリングさせ
る。前液の影響を除去するのに十分な時間バ
ブリングした後、排出弁２４を開き、排出す
る。排出完了後、再び導入弁２０を開き、第
１校正液を電極チヤンバ１２内に導入する。
そして、このときの電極チヤンバ内の液温度
TAと、電極電位EAとを検出し、その検出信
号TA，EAを演算部に入力する。 () 検出を終わると、排出弁２４を開き、第
１校正液を排出した後、導入弁２１を開き、
第２校正液を電極チヤンバ１２内に導入す
る。この場合も、（）の第１校正液の場合
と同様、２回導入する。１回目は前液の影響
除去のため、２回目は温度TBと電極電位EB
の検出のためである。２回目の導入によつて
検出された検出信号TB，EAは演算部２９に
入力される。 サンプリング動作 上記動作を終わると、排出弁２４を開き、第
２の校正液を排出した後、サンプリングポンプ
１４が作動しメツキ、液導入弁１３が開いて、
試料が電極チヤンバ１２内に採取される。この
ときの電極電位EX、電極チヤンバ内の液温度
TXが検出され、メツキ槽１１内の温度Ttを示
す温度信号と共に演算部に入力される。 演算部での処理 上記各検出信号及び温度信号Ttが入力され
ると、演算部は次の如き処理を行なう。 () 校正液のPH値算出 第１、第２の校正液の温度検出値TA，TB
から校正液のPH値を次式に基づいて求める PH＝ａ／Ｔ＋ｂ＋cT＋dT2 ……(1) 但し、Ｔは校正液の絶対温度である。上式
中ａ、ｂ、ｃ及びｄは液固有の定数で、一例
としてしゆう酸塩とフタル酸塩についての
ａ、ｂ、ｃ及びｄの値を次表に示す。
に関し、詳しくは異常値への自動校正を防止する
ため異常判断機能を付加してなる濃度計に関す
る。 ＜従来技術＞ この種の濃度計として例えば自動校正機能付PH
計は、基準値校正、感度校正を手動にかえてその
まま自動化した電子サーボ機構のものや、２つの
校正液と設定値とから２点座標を求め、それらを
通る関数を記憶するようにしたものがある。しか
るに、これらのPH計では、ボリユームを用いた
り、関数の係数に上下限を設定する等して自動校
正できる必要十分な範囲を設け、その範囲を越え
る場合に校正不能とするようにしたにすぎないた
め、電極の劣化、変質、汚れ等自動校正可能な範
囲内にある異常に対しては強制的に自動校正して
しまい、その結果、知らない間に試料測定精度が
劣化してしまつているといつた不都合を生じるも
のである。 ＜発明の効果＞ 本発明はこのような点にあつて、要求される測
定精度の面から異常値への校正であるかどうかを
みるようにして、上述した従来装置の不都合の解
消を図つたものである。 ＜発明の構成＞ 上記目的を達成するため、本発明に係る異常判
断機能付濃度計は、試料及び校正用物質の濃度に
応じた電気信号を発する検出器と、校正用物質の
検出信号によつて自動校正し、試料の検出信号に
よつて濃度を求める演算を行なう演算部と、前回
の校正時における測定値を記憶する記憶部と、前
回と今回の校正時における測定値とを比較する比
較部と、要求される測定精度に応じた管理値を設
定した管理設定部とを有し、周期的に行なわれる
校正時点で、前回の校正時における測定値と今回
の測定値とを比較し、比較結果が管理値を越えた
場合、異常と判断するよう構成されたことを要旨
としている。 ＜実施例＞ 第１図は本発明の基本的な構成を示し、１は試
料及び校正用物質の濃度に応じた電気信号を発す
る検出器である。PH計の場合には、検出器として
PH測定用電極と温度検出器とを用いる。また、そ
の場合校正用物質は２つの校正液を使用する。２
は演算部で、校正物質の検出信号ａによつて自動
校正し、試料の検出信号ｂによつて濃度を求める
演算を行なう。この演算部２で求められた試料濃
度は表示部３を通じて表示される。４は記憶部
で、前回の校正時における測定値を記憶する。５
は比較部で、前回と今回の校正時における測定値
を比較する。６は管理設定部で、前回の校正時と
今回の校正時との測定値の差として、測定精度の
上から要求される限界値が設定されている。７は
判定部で、比較部５の比較出力が管理設定部６の
管理値より大きいかどうかを監視し、大きい場合
には異常である旨の判定出力を発す。この判定出
力は、警報器を作動させるために利用されたり、
或いは他の制御機に加えて今回の自動校正を中止
させるため等に利用される。 この構成によれば、校正時に異常の判断が行な
えるので、計器の信頼性が向上する等の利点があ
る。尚、上記構成中、演算部２、記憶部４、比較
部５、管理設定部６、判定部７は一台のマイクロ
コンピユータによつて代用できることは勿論であ
る。 次に第２図は、本発明の具体例で、電気メツキ
液のPHを測定するよう構成された測定計器を示
し、１１はメツキ槽、１２はメツキ槽１１とは別
個に設けた電極チヤンバである。メツキ槽１１内
の試料（メツキ液）は、メツキ液導入弁１３が開
状態のときサンプリングポンプ１４によつて電極
チヤンバ１２に導入され、測定に供される。一
方、測定を終えた試料はもどり管１５を通じてメ
ツキ槽１１に戻される。１６は洗浄液タンク、１
７は第１校正液タンク、１８は第２校正液タンク
で、各タンク内の液は各タンクの配管中に設けら
れた導入弁１９，２０，２１を開き、導入ポンプ
２２を作動することにより電極チヤンバ１２内に
導入することができる。２３は圧力空気導入弁
で、前記各液を電極チヤンバ１２内に導入する
際、この弁も一定時間開いて圧力空気によるバブ
リングを行なうようにしている。２４は排出弁、
２５は電極チヤンバ１２内に設けたPH測定用電
極、２６は温度検出器である。PH測定用電極自体
が温度検出器を内装している場合にはそれを用い
ればよく、別個に温度検出器を設ける必要はな
い。２７はPH測定用電極２５内の比較電極に導入
するKclを貯めたタンク、２８メツキ槽１１内の
試料の温度を検出するセンサー、２９はこのセン
サー２８からの温度信号及び前記PH測定用電極２
５と温度検出器２６からの検出信号の３者から演
算によつてメツキ槽１１内の試料のPHを算出する
演算部である。尚、メツキ槽１１が一定温度に管
理されている場合には温度センサー２８不要であ
る。その場合は、一定温度を示す信号を抵抗器等
によつて作り出し演算部２９に入力するようにす
ればよい。３０は上記各弁、ポンプを一定の順序
にしたがつて作動させ、自動洗浄、校正液の導
入、サンプリング動作を遂行するプログラムコン
トローラである。 次にプログラムコントローラ３０によつて遂行
される自動洗浄、校正液の導入、サンプリングの
各動作及び演算部での処理を説明する。 自動洗浄、校正液の導入 () 排出弁２４を開き、電極チヤンバ１２内
の液を排出した後、導入弁１９を開き、導入
ポンプ２２を作動させる。これにより、洗浄
液が電極チヤンバ１２内に導入される。この
とき同時に圧力空気導入弁２３も開き、電極
チヤンバ１２内で洗浄液をバブリングさせ洗
浄効果を高める。 () 洗浄を完了すれば、排出弁２４を開き、
洗浄液を排出し、次に導入弁２０を開く、こ
れによつて第１校正液が電極チヤンバ１２内
に導入される。この場合も圧力空気導入弁２
３を開き、第１の校正液をバブリングさせ
る。前液の影響を除去するのに十分な時間バ
ブリングした後、排出弁２４を開き、排出す
る。排出完了後、再び導入弁２０を開き、第
１校正液を電極チヤンバ１２内に導入する。
そして、このときの電極チヤンバ内の液温度
TAと、電極電位EAとを検出し、その検出信
号TA，EAを演算部に入力する。 () 検出を終わると、排出弁２４を開き、第
１校正液を排出した後、導入弁２１を開き、
第２校正液を電極チヤンバ１２内に導入す
る。この場合も、（）の第１校正液の場合
と同様、２回導入する。１回目は前液の影響
除去のため、２回目は温度TBと電極電位EB
の検出のためである。２回目の導入によつて
検出された検出信号TB，EAは演算部２９に
入力される。 サンプリング動作 上記動作を終わると、排出弁２４を開き、第
２の校正液を排出した後、サンプリングポンプ
１４が作動しメツキ、液導入弁１３が開いて、
試料が電極チヤンバ１２内に採取される。この
ときの電極電位EX、電極チヤンバ内の液温度
TXが検出され、メツキ槽１１内の温度Ttを示
す温度信号と共に演算部に入力される。 演算部での処理 上記各検出信号及び温度信号Ttが入力され
ると、演算部は次の如き処理を行なう。 () 校正液のPH値算出 第１、第２の校正液の温度検出値TA，TB
から校正液のPH値を次式に基づいて求める PH＝ａ／Ｔ＋ｂ＋cT＋dT2 ……(1) 但し、Ｔは校正液の絶対温度である。上式
中ａ、ｂ、ｃ及びｄは液固有の定数で、一例
としてしゆう酸塩とフタル酸塩についての
ａ、ｂ、ｃ及びｄの値を次表に示す。
【表】
() 電極感度Ａと不斎電位Ｂの算出
次式に基づいて電極感度Ａを算出する。
Ａ＝EA−EBＰ／ａ｛TA（PHA−７）−TB（PHB−７）｝…
…(2) 又、次式に基づいて不斎電位Ｂを算出す
る。 Ｂ＝EB・TA（PHA−７）−EA・TB（PHB−７）／TA（PHA
−７）−TB（PHB−７） ……(3) ここに、PHAは第１校正液のPH値、PHBは第
２校正液のPH値で夫々第(1)式の従つて求めら
れる。ａはガラス電極の温度補正係数（1/27
３．１５）である。これらＡ、Ｂを算出すること
によつて自動校正が完了する。 () 電極チヤンバ内のPH値の算出 電極チヤンバ内のPH値（PHX）は次式によ
つて求められる。 PHX＝EX−Ｂ／Ａ・ａ・TX＋７ ……(4) 但し、 EX：電極チヤンバ内試料の電極電位 TX：電極チヤンバ内試料の温度（〓） () メツキ槽内試料のPH値の算出 上記（）〜（）によつてPHXが求まる
と、メツキ槽内温度Ttを示す温度信号と共
に次式に従つて演算することによりメツキ槽
内試料のPH値を求めることができる。 PHt＝PHX−ｋ（Tt−TX） ……(5) 但し、ｋはメツキ液の温度補正係数であ
る。このｋはメツキ液の種類によつて異な
る。ｋの値はメツキ液の分析により求めるこ
とができる。例えば Zn−Fe系メツキ液の場合、ｋは ｋ＝0.013−0.07WFe3+ ……(6) で与えられる。但し、WFe3+はメツキ液の
Fe3+濃度（ｗ／ｖ％）である。上記(6)式の
ようにｋの値がイオン濃度によつて変化する
場合には、(6)式を演算部に記憶させておくと
共に、測定の都度イオン濃度を入力してｋを
演算によつて求めるようにしておけば、メツ
キ液のｋが刻々変化してもそれに対応してPH
ｔを誤差なく求めることができ、便利であ
る。 上記の如くして求められたPHtは伝送出力
として演算部２９から出力され、図外表示部
にて表示される。尚、校正中において、第１
校正液から第２校正液に切替えた際、電極電
位がEAからEBに変化するが、その全変化量
の90％に達する時間を計測したり、或いは単
位時間当りの電位変化量を計測して電極の応
答速度を算出するようにすれば、電極の寿命
の客観的な判断に供することができる。 次に、第３図は、演算部２９の出力信号を用い
て測定計器の異常判断を行なう回路で、記憶部３
１と比較部３２と管理設定部３３と判定部３４と
から構成される。記憶部３１は、前回の校正時に
おける測定値を記憶している。比較部３２は、記
憶部３１から出力される前回の校正時の測定値
と、演算部２９から出力される今回の校正時の測
定値を比較する。通常、この比較値はある小さな
範囲内の値である筈であるが、前回の校正と今回
の校正との間に例えばガラス電極の応答膜の破
れ、汚れ、変質、比較電極の汚れ、内極の化学変
化等の異常が生じると、前記範囲を越える大きな
値となる。管理設定部３３は、前記比較値として
許容できる最大の値が設定してある。この値は計
器として要求される測定精度から決定される。判
定部３４は、比較値が管理設定部３３の設定値を
越えているかどうかをみ、越えている場合、異常
信号を発する。このようにして異常動作の検出を
行なうことにより、校正と校正との間の測定時に
おける計器精度を管理することができると共に、
要求される測定精度の範囲で出来るだけ校正周期
を長くすることができるし、またそれに伴なつて
高価な校正液の有効利用が図れるといつた利点が
ある。 尚、本発明では、前回の校正時と今回の校正時
とにおける測定値の差をみ、それが管理値を越え
に場合、異常と判断するものであるが、各校正時
における校正量の大きさからも異常の判断を行な
うことができる。 第４図に示す回路は、そのうちの後者を採用す
ると共に、異常の判断にとどまらず、校正量の大
きさに応じて校正周期を長短制御するようにした
もので、第１比較部３５と、管理精度設定部３６
と第２比較部３７と、周期決定部３８とから構成
されている。第１比較部３５は、校正前と後とに
おける校正液の測定値の差を求める。ここで校正
前における校正液の測定値とは、不斎電位や電極
感度の調整をする前に測定した校正液の測定値を
いい、校正後における校正液の測定値とは、その
ような調整を行なつた後の校正液の測定値をい
う。管理精度設定部３６は、校正前後における校
正液測定値の差として測定精度上許容できる限界
の値が設定されている。第２比較部３７は前記比
較値と管理精度設定部３６の設定値とを比較す
る。周期決定部３８は、第２比較部３７の比較結
果から校正周期を決定する。即ち、第１比較部３
５の比較値が管理精度設定部３６の設定値を越え
ている場合には、校正周期を短かくし、逆に比較
値が設定値を越えていない場合には校正周期を長
くする。校正周期を長く或いは短かくする方法と
しては、例ば校正周期を単位時間ずつ長く或いは
短かくするという方法によればよい。周期決定部
３８で決定された校正周期はプログラムコントロ
ーラ３０に入力され、該コントローラ３０に設定
された校正周期を長短制御する。図中３９は第１
警報機で、第１比較部３５の比較値が管理精度設
定部３６の設定値を越えた場合に作動する。４０
は第２警報器で、校正周期が最小周期設定部４１
に設定された最小校正周期よりも短かくなると作
動する。４２は比較器である。 ＜発明の効果＞ 本発明に係る異常判断機能付濃度計は上述の如
く構成したので次のような効果がある。 周期的に行なう自動校正の間の測定において
計器精度を一定範囲に保ち、安定した測定が可
能となる。 異常な校正動作を直ちに検出できるので、速
やかな対応が可能となる。 校正周期を要求される管理精度の限界まで長
くとることができ、高価な校正用物質の有効利
用、ランニングコストの低廉化等が図れる。
…(2) 又、次式に基づいて不斎電位Ｂを算出す
る。 Ｂ＝EB・TA（PHA−７）−EA・TB（PHB−７）／TA（PHA
−７）−TB（PHB−７） ……(3) ここに、PHAは第１校正液のPH値、PHBは第
２校正液のPH値で夫々第(1)式の従つて求めら
れる。ａはガラス電極の温度補正係数（1/27
３．１５）である。これらＡ、Ｂを算出すること
によつて自動校正が完了する。 () 電極チヤンバ内のPH値の算出 電極チヤンバ内のPH値（PHX）は次式によ
つて求められる。 PHX＝EX−Ｂ／Ａ・ａ・TX＋７ ……(4) 但し、 EX：電極チヤンバ内試料の電極電位 TX：電極チヤンバ内試料の温度（〓） () メツキ槽内試料のPH値の算出 上記（）〜（）によつてPHXが求まる
と、メツキ槽内温度Ttを示す温度信号と共
に次式に従つて演算することによりメツキ槽
内試料のPH値を求めることができる。 PHt＝PHX−ｋ（Tt−TX） ……(5) 但し、ｋはメツキ液の温度補正係数であ
る。このｋはメツキ液の種類によつて異な
る。ｋの値はメツキ液の分析により求めるこ
とができる。例えば Zn−Fe系メツキ液の場合、ｋは ｋ＝0.013−0.07WFe3+ ……(6) で与えられる。但し、WFe3+はメツキ液の
Fe3+濃度（ｗ／ｖ％）である。上記(6)式の
ようにｋの値がイオン濃度によつて変化する
場合には、(6)式を演算部に記憶させておくと
共に、測定の都度イオン濃度を入力してｋを
演算によつて求めるようにしておけば、メツ
キ液のｋが刻々変化してもそれに対応してPH
ｔを誤差なく求めることができ、便利であ
る。 上記の如くして求められたPHtは伝送出力
として演算部２９から出力され、図外表示部
にて表示される。尚、校正中において、第１
校正液から第２校正液に切替えた際、電極電
位がEAからEBに変化するが、その全変化量
の90％に達する時間を計測したり、或いは単
位時間当りの電位変化量を計測して電極の応
答速度を算出するようにすれば、電極の寿命
の客観的な判断に供することができる。 次に、第３図は、演算部２９の出力信号を用い
て測定計器の異常判断を行なう回路で、記憶部３
１と比較部３２と管理設定部３３と判定部３４と
から構成される。記憶部３１は、前回の校正時に
おける測定値を記憶している。比較部３２は、記
憶部３１から出力される前回の校正時の測定値
と、演算部２９から出力される今回の校正時の測
定値を比較する。通常、この比較値はある小さな
範囲内の値である筈であるが、前回の校正と今回
の校正との間に例えばガラス電極の応答膜の破
れ、汚れ、変質、比較電極の汚れ、内極の化学変
化等の異常が生じると、前記範囲を越える大きな
値となる。管理設定部３３は、前記比較値として
許容できる最大の値が設定してある。この値は計
器として要求される測定精度から決定される。判
定部３４は、比較値が管理設定部３３の設定値を
越えているかどうかをみ、越えている場合、異常
信号を発する。このようにして異常動作の検出を
行なうことにより、校正と校正との間の測定時に
おける計器精度を管理することができると共に、
要求される測定精度の範囲で出来るだけ校正周期
を長くすることができるし、またそれに伴なつて
高価な校正液の有効利用が図れるといつた利点が
ある。 尚、本発明では、前回の校正時と今回の校正時
とにおける測定値の差をみ、それが管理値を越え
に場合、異常と判断するものであるが、各校正時
における校正量の大きさからも異常の判断を行な
うことができる。 第４図に示す回路は、そのうちの後者を採用す
ると共に、異常の判断にとどまらず、校正量の大
きさに応じて校正周期を長短制御するようにした
もので、第１比較部３５と、管理精度設定部３６
と第２比較部３７と、周期決定部３８とから構成
されている。第１比較部３５は、校正前と後とに
おける校正液の測定値の差を求める。ここで校正
前における校正液の測定値とは、不斎電位や電極
感度の調整をする前に測定した校正液の測定値を
いい、校正後における校正液の測定値とは、その
ような調整を行なつた後の校正液の測定値をい
う。管理精度設定部３６は、校正前後における校
正液測定値の差として測定精度上許容できる限界
の値が設定されている。第２比較部３７は前記比
較値と管理精度設定部３６の設定値とを比較す
る。周期決定部３８は、第２比較部３７の比較結
果から校正周期を決定する。即ち、第１比較部３
５の比較値が管理精度設定部３６の設定値を越え
ている場合には、校正周期を短かくし、逆に比較
値が設定値を越えていない場合には校正周期を長
くする。校正周期を長く或いは短かくする方法と
しては、例ば校正周期を単位時間ずつ長く或いは
短かくするという方法によればよい。周期決定部
３８で決定された校正周期はプログラムコントロ
ーラ３０に入力され、該コントローラ３０に設定
された校正周期を長短制御する。図中３９は第１
警報機で、第１比較部３５の比較値が管理精度設
定部３６の設定値を越えた場合に作動する。４０
は第２警報器で、校正周期が最小周期設定部４１
に設定された最小校正周期よりも短かくなると作
動する。４２は比較器である。 ＜発明の効果＞ 本発明に係る異常判断機能付濃度計は上述の如
く構成したので次のような効果がある。 周期的に行なう自動校正の間の測定において
計器精度を一定範囲に保ち、安定した測定が可
能となる。 異常な校正動作を直ちに検出できるので、速
やかな対応が可能となる。 校正周期を要求される管理精度の限界まで長
くとることができ、高価な校正用物質の有効利
用、ランニングコストの低廉化等が図れる。
第１図は本発明の濃度計の基本的な構成を示す
ブロツク図、第２図及び第３図は電気メツキ液の
PH測定装置に本発明を適用した例を示す図、第４
図は校正周期を調整する回路である。 １，２５……検出器、７，２９……演算部、
４，３１……記憶部、５，３２……比較部、６，
３３……管理設定部。
ブロツク図、第２図及び第３図は電気メツキ液の
PH測定装置に本発明を適用した例を示す図、第４
図は校正周期を調整する回路である。 １，２５……検出器、７，２９……演算部、
４，３１……記憶部、５，３２……比較部、６，
３３……管理設定部。
Claims (1)
- １ 試料及び校正用物質の濃度に応じた電気信号
を発する検出器と、校正用物質の検出信号によつ
て自動校正し、試料の検出信号によつて濃度を求
める演算を行なう演算部と、前回の校正時におけ
る測定値を記憶する記憶部と、前回と今回の校正
時における測定値とを比較する比較部と、要求さ
れる測定精度に応じた管理値を設定した管理設定
部とを有し、周期的に行なわれる校正時点で、前
回の校正時における測定値と今回の測定値とを比
較し、比較結果が管理値を越えた場合、異常と判
断するよう構成されたことを特徴とする異常判断
機能付濃度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15492284A JPS6131951A (ja) | 1984-07-25 | 1984-07-25 | 異常判断機能付濃度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15492284A JPS6131951A (ja) | 1984-07-25 | 1984-07-25 | 異常判断機能付濃度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6131951A JPS6131951A (ja) | 1986-02-14 |
| JPH0321065B2 true JPH0321065B2 (ja) | 1991-03-20 |
Family
ID=15594881
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15492284A Granted JPS6131951A (ja) | 1984-07-25 | 1984-07-25 | 異常判断機能付濃度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6131951A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6465441A (en) * | 1987-09-04 | 1989-03-10 | Toshiba Corp | Instrument for measuring electrolyte concentration |
| JP5380020B2 (ja) * | 2008-09-05 | 2014-01-08 | 株式会社東芝 | 自動分析方法及び自動分析装置 |
| JP5279941B2 (ja) * | 2012-10-01 | 2013-09-04 | 株式会社東芝 | 自動分析方法及び自動分析装置 |
| CN104903714B (zh) * | 2013-01-23 | 2017-05-10 | 株式会社日立高新技术 | 电化学测定装置 |
| JP7562501B2 (ja) * | 2021-12-13 | 2024-10-07 | 株式会社クボタ | 作業機及び作業機の流量制御方法 |
-
1984
- 1984-07-25 JP JP15492284A patent/JPS6131951A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6131951A (ja) | 1986-02-14 |
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