JPH0580017A - イオン濃度分析計 - Google Patents
イオン濃度分析計Info
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- JPH0580017A JPH0580017A JP24374191A JP24374191A JPH0580017A JP H0580017 A JPH0580017 A JP H0580017A JP 24374191 A JP24374191 A JP 24374191A JP 24374191 A JP24374191 A JP 24374191A JP H0580017 A JPH0580017 A JP H0580017A
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- Japan
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- liquid
- calibration curve
- measured
- ion
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は回路構成の複雑化を防止しながら、
校正動作によって得られた検量線が正しい検量線かどう
かを判定し、これによって正しくない測定結果を出力す
る可能性を全て排除して、いかなる場合にも高い精度で
イオン濃度測定を行なう。 【構成】 第1校正液8、第2校正液9が前記イオン電
極17に導かれて比較演算部5によって検量線が得られ
たとき、検量線判定部6によって前記検量線の値が測定
対象イオンの価数に対応した予め設定されている設定範
囲に入っているかどうかを判定し、前記検量線が前記設
定範囲内に入っているとき、前記検量線を正しい検量線
と判定する。
校正動作によって得られた検量線が正しい検量線かどう
かを判定し、これによって正しくない測定結果を出力す
る可能性を全て排除して、いかなる場合にも高い精度で
イオン濃度測定を行なう。 【構成】 第1校正液8、第2校正液9が前記イオン電
極17に導かれて比較演算部5によって検量線が得られ
たとき、検量線判定部6によって前記検量線の値が測定
対象イオンの価数に対応した予め設定されている設定範
囲に入っているかどうかを判定し、前記検量線が前記設
定範囲内に入っているとき、前記検量線を正しい検量線
と判定する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はイオンセンサを用いて液
体中のイオン濃度を分析するフローセル型のイオン濃度
分析計に関する。
体中のイオン濃度を分析するフローセル型のイオン濃度
分析計に関する。
【0002】
【従来の技術】電解質溶液中の特定イオン、例えばK+
の濃度を分析する装置の1つとして、従来、イオン選択
性電極(イオン電極)を用いたフローセル型のイオン濃
度分析計が知られている。
の濃度を分析する装置の1つとして、従来、イオン選択
性電極(イオン電極)を用いたフローセル型のイオン濃
度分析計が知られている。
【0003】図2はこのようなフローセル型のイオン濃
度分析計の一例を示す構成図である。
度分析計の一例を示す構成図である。
【0004】この図に示すイオン濃度分析計はポンプ1
01と、液貯留部102と、測定部103と、排液貯留
部104と、比較演算部105とを備えており、センサ
校正時にはポンプ101を動作させて液貯留部102か
ら第1校正液108や第2校正液109を汲み出すとと
もに、測定部103によって第1校正液108や第2校
正液109の測定対象となるイオンの濃度を測定した
後、前記第1校正液108や第2校正液109を排液貯
留部104に排出する。そして、前記測定部103の測
定結果に基づいて前記第1校正液108や第2校正液1
09中の測定対象イオンの濃度を演算してこの演算結果
に基づいてネルンストの検量線を作成してこれを記憶す
る。また、測定時には、ポンプ101を動作させて液貯
留部102から被測定液107を汲み出すとともに、測
定部103によって前記被測定液107中の測定対象と
なるイオンの濃度を測定した後、前記被測定液107を
排液貯留部104に排出する。そして、前記測定部10
3の測定結果および校正動作によって得られた検量線に
基づいて前記被測定液107中の測定対象イオンの濃度
を演算してこの演算結果を出力する。
01と、液貯留部102と、測定部103と、排液貯留
部104と、比較演算部105とを備えており、センサ
校正時にはポンプ101を動作させて液貯留部102か
ら第1校正液108や第2校正液109を汲み出すとと
もに、測定部103によって第1校正液108や第2校
正液109の測定対象となるイオンの濃度を測定した
後、前記第1校正液108や第2校正液109を排液貯
留部104に排出する。そして、前記測定部103の測
定結果に基づいて前記第1校正液108や第2校正液1
09中の測定対象イオンの濃度を演算してこの演算結果
に基づいてネルンストの検量線を作成してこれを記憶す
る。また、測定時には、ポンプ101を動作させて液貯
留部102から被測定液107を汲み出すとともに、測
定部103によって前記被測定液107中の測定対象と
なるイオンの濃度を測定した後、前記被測定液107を
排液貯留部104に排出する。そして、前記測定部10
3の測定結果および校正動作によって得られた検量線に
基づいて前記被測定液107中の測定対象イオンの濃度
を演算してこの演算結果を出力する。
【0005】ポンプ101は前記測定部103の校正を
行なうときや被測定液107中に含まれている測定対象
イオンの測定動作を行なうときにオン状態にされるポン
プであり、オン状態となっているとき、測定部103に
接続されている流路110を介して液貯留部102から
第1校正液108や第2校正液109、被測定液107
を汲み出し、これを測定部103に供給するとともに、
測定部103から排出される第1校正液108や第2校
正液109、被測定液107を排液貯留部104に導
く。
行なうときや被測定液107中に含まれている測定対象
イオンの測定動作を行なうときにオン状態にされるポン
プであり、オン状態となっているとき、測定部103に
接続されている流路110を介して液貯留部102から
第1校正液108や第2校正液109、被測定液107
を汲み出し、これを測定部103に供給するとともに、
測定部103から排出される第1校正液108や第2校
正液109、被測定液107を排液貯留部104に導
く。
【0006】液貯留部102は被測定液107を貯留し
ている被測定液タンク111と、高濃度の測定対象イオ
ンを含む第1校正液108を貯留している第1校正液タ
ンク112と、低能度の測定対象イオンを含む第2校正
液109を貯留している第2校正液タンク113と、こ
れら被測定液タンク111に貯留されている被測定液1
07または第1校正液タンク112に貯留されている第
1校正液108、第2校正液タンク113に貯留されて
いる第2校正液109のいずれか1つを選択する2つの
三方口電磁弁114、115とを備えており、前記ポン
プ101がオン状態となったとき、被測定液107また
は第1校正液108、第2校正液109のいずれか1つ
を三方口電磁弁114、115によって選択するととも
に、これを前記流路110を介して前記測定部103に
供給する。
ている被測定液タンク111と、高濃度の測定対象イオ
ンを含む第1校正液108を貯留している第1校正液タ
ンク112と、低能度の測定対象イオンを含む第2校正
液109を貯留している第2校正液タンク113と、こ
れら被測定液タンク111に貯留されている被測定液1
07または第1校正液タンク112に貯留されている第
1校正液108、第2校正液タンク113に貯留されて
いる第2校正液109のいずれか1つを選択する2つの
三方口電磁弁114、115とを備えており、前記ポン
プ101がオン状態となったとき、被測定液107また
は第1校正液108、第2校正液109のいずれか1つ
を三方口電磁弁114、115によって選択するととも
に、これを前記流路110を介して前記測定部103に
供給する。
【0007】測定部103は前記流路110を介して供
給された被測定液107または第1校正液108、第2
校正液109を一時、貯留するフローセル116と、こ
のフローセル116内に一時的に貯留されている被測定
液107または第1校正液108、第2校正液109中
の測定対象イオンの濃度を測定するイオン電極117
と、前記フローセル116内に一時的に貯留されている
被測定液107または第1校正液108、第2校正液1
09中の測定対象イオン濃度を測定するとき比較電位を
発生する比較電極120とを備えている。
給された被測定液107または第1校正液108、第2
校正液109を一時、貯留するフローセル116と、こ
のフローセル116内に一時的に貯留されている被測定
液107または第1校正液108、第2校正液109中
の測定対象イオンの濃度を測定するイオン電極117
と、前記フローセル116内に一時的に貯留されている
被測定液107または第1校正液108、第2校正液1
09中の測定対象イオン濃度を測定するとき比較電位を
発生する比較電極120とを備えている。
【0008】そして、前記流路110を介して供給され
た被測定液107または第1校正液108、第2校正液
109をフローセル116に一時的に貯留しながら、被
測定イオン電極117や比較電極120によって測定対
象イオンの濃度を測定し、この測定動作によって得られ
た電位を比較演算部105に供給するとともに、測定が
終了した被測定液107または第1校正液108、第2
校正液109を流路110を介して排液貯留部104に
供給する。
た被測定液107または第1校正液108、第2校正液
109をフローセル116に一時的に貯留しながら、被
測定イオン電極117や比較電極120によって測定対
象イオンの濃度を測定し、この測定動作によって得られ
た電位を比較演算部105に供給するとともに、測定が
終了した被測定液107または第1校正液108、第2
校正液109を流路110を介して排液貯留部104に
供給する。
【0009】排液貯留部104は1つの排液貯留容器1
21を備えており、前記流路110を介して供給される
排液、すなわち前記測定部103から排出される被測定
液107または第1校正液108、第2校正液109を
排液貯留容器121内に貯留する。
21を備えており、前記流路110を介して供給される
排液、すなわち前記測定部103から排出される被測定
液107または第1校正液108、第2校正液109を
排液貯留容器121内に貯留する。
【0010】また、比較演算部105は前記イオン電極
117から出力される信号の電位と前記比較電極120
から出力される信号の電位との差(電位差)を演算する
電位差計122と、この電位差計122によって得られ
た電位差に基づいて検量線を作成したり、この検量線に
基づいて被測定液107のイオン濃度を演算するイオン
濃度演算回路123とを備えており、前記測定部103
から供給される測定結果、すなわち測定部103に第1
校正液108、第2校正液109を順次、供給したとき
におけるイオン電極117に発生した電位および比較電
極120に発生した電位に基づいて図3に示す検量線1
24を作成する処理や前記測定部103から供給される
測定結果、すなわち測定部103に被測定液107を供
給したときにおけるイオン電極117に発生した電位お
よび比較電極120に発生した電位と前記検量線124
とに基づいて前記被測定液107中の測定対象イオン濃
度を演算する処理、この処理によって得られた測定対象
イオンの濃度データを外部に出力する処理等を行なう。
117から出力される信号の電位と前記比較電極120
から出力される信号の電位との差(電位差)を演算する
電位差計122と、この電位差計122によって得られ
た電位差に基づいて検量線を作成したり、この検量線に
基づいて被測定液107のイオン濃度を演算するイオン
濃度演算回路123とを備えており、前記測定部103
から供給される測定結果、すなわち測定部103に第1
校正液108、第2校正液109を順次、供給したとき
におけるイオン電極117に発生した電位および比較電
極120に発生した電位に基づいて図3に示す検量線1
24を作成する処理や前記測定部103から供給される
測定結果、すなわち測定部103に被測定液107を供
給したときにおけるイオン電極117に発生した電位お
よび比較電極120に発生した電位と前記検量線124
とに基づいて前記被測定液107中の測定対象イオン濃
度を演算する処理、この処理によって得られた測定対象
イオンの濃度データを外部に出力する処理等を行なう。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来のイオン濃度分析計においては、検量線124を
作成する際に、何等かの異常が発生し、正しくない検量
線124を作成したとしても、この検量線124が正し
い検量線なのかどうかを判定することができないので、
たとえ校正動作によって得られた検量線124が正しく
ない検量線であっても、この検量線124に基づいて被
測定液107のイオン濃度測定を演算して誤った測定結
果を出力してしまう恐れがあった。
た従来のイオン濃度分析計においては、検量線124を
作成する際に、何等かの異常が発生し、正しくない検量
線124を作成したとしても、この検量線124が正し
い検量線なのかどうかを判定することができないので、
たとえ校正動作によって得られた検量線124が正しく
ない検量線であっても、この検量線124に基づいて被
測定液107のイオン濃度測定を演算して誤った測定結
果を出力してしまう恐れがあった。
【0012】本発明は上記の事情に鑑み、回路構成の複
雑化を防止しながら、校正動作によって得られた検量線
が正しい検量線かどうかを判定することができ、これに
よって正しくない測定結果を出力する可能性を全て排除
して、いかなる場合にも高い精度でイオン濃度測定を行
なうことができるイオン濃度分析計を提供することを目
的としている。
雑化を防止しながら、校正動作によって得られた検量線
が正しい検量線かどうかを判定することができ、これに
よって正しくない測定結果を出力する可能性を全て排除
して、いかなる場合にも高い精度でイオン濃度測定を行
なうことができるイオン濃度分析計を提供することを目
的としている。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明によるイオン濃度分析計は、校正液をイオン
電極に導いて得られた電位に基づいて検量線を作成した
後、被測定液を前記イオン電極に導いて得られた電位と
前記検量線とに基づいて前記被測定液のイオン濃度を演
算するイオン濃度分析計において、前記校正液を前記イ
オン電極に導いて得られた検量線の値が測定対象イオン
の価数に対応した予め設定されている設定範囲に入って
いるかどうかを判定する検量線判定部を備えたことを特
徴としている。
めに本発明によるイオン濃度分析計は、校正液をイオン
電極に導いて得られた電位に基づいて検量線を作成した
後、被測定液を前記イオン電極に導いて得られた電位と
前記検量線とに基づいて前記被測定液のイオン濃度を演
算するイオン濃度分析計において、前記校正液を前記イ
オン電極に導いて得られた検量線の値が測定対象イオン
の価数に対応した予め設定されている設定範囲に入って
いるかどうかを判定する検量線判定部を備えたことを特
徴としている。
【0014】
【作用】上記の構成において、校正液が前記イオン電極
に導かれて検量線が得られたとき、検量線判定部によっ
て前記検量線の値が予め設定されている設定範囲に入っ
ているかどうかが判定され、前記検量線が前記設定範囲
内に入っているとき、前記検量線が正しい検量線と判定
される。
に導かれて検量線が得られたとき、検量線判定部によっ
て前記検量線の値が予め設定されている設定範囲に入っ
ているかどうかが判定され、前記検量線が前記設定範囲
内に入っているとき、前記検量線が正しい検量線と判定
される。
【0015】
【実施例】図1は本発明によるイオン濃度分析計の一実
施例を示すブロック図である。
施例を示すブロック図である。
【0016】この図に示すイオン濃度分析計はポンプ1
と、液貯留部2と、測定部3と、排液貯留部4と、比較
演算部5と、検量線判定部6と、装置動作制御部18と
を備えており、センサ校正時にはポンプ1を動作させて
液貯留部2から第1校正液8や第2校正液9を汲み出す
とともに、測定部3によって第1校正液8や第2校正液
9の測定対象となるイオンの濃度を測定した後、前記第
1校正液8や第2校正液9を排液貯留部4に排出する。
そして、前記測定部3の測定結果に基づいて前記第1校
正液8や第2校正液9中の測定対象イオンの濃度を演算
してこの演算結果に基づいてネルンストの検量線を作成
してこれが正しいかどうかを判定して正しいときにの
み、これを記憶し、正しくないときには、警報を発生し
て校正動作によって得られた検量線が正しくないことを
オペレータ等に知らせる。また、測定時には、ポンプ1
を動作させて液貯留部2から被測定液7を汲み出すとと
もに、測定部3によって前記被測定液7中の測定対象と
なるイオンの濃度を測定した後、前記被測定液7を排液
貯留部4に排出する。そして、前記測定部3の測定結果
および校正動作によって得られた検量線に基づいて前記
被測定液7中の測定対象イオンの濃度を演算してこの演
算結果を出力する。
と、液貯留部2と、測定部3と、排液貯留部4と、比較
演算部5と、検量線判定部6と、装置動作制御部18と
を備えており、センサ校正時にはポンプ1を動作させて
液貯留部2から第1校正液8や第2校正液9を汲み出す
とともに、測定部3によって第1校正液8や第2校正液
9の測定対象となるイオンの濃度を測定した後、前記第
1校正液8や第2校正液9を排液貯留部4に排出する。
そして、前記測定部3の測定結果に基づいて前記第1校
正液8や第2校正液9中の測定対象イオンの濃度を演算
してこの演算結果に基づいてネルンストの検量線を作成
してこれが正しいかどうかを判定して正しいときにの
み、これを記憶し、正しくないときには、警報を発生し
て校正動作によって得られた検量線が正しくないことを
オペレータ等に知らせる。また、測定時には、ポンプ1
を動作させて液貯留部2から被測定液7を汲み出すとと
もに、測定部3によって前記被測定液7中の測定対象と
なるイオンの濃度を測定した後、前記被測定液7を排液
貯留部4に排出する。そして、前記測定部3の測定結果
および校正動作によって得られた検量線に基づいて前記
被測定液7中の測定対象イオンの濃度を演算してこの演
算結果を出力する。
【0017】ポンプ1は前記測定部3の校正を行なうと
きや被測定液7中に含まれている測定対象イオンの測定
動作を行なうときにオン状態にされるポンプであり、オ
ン状態となっているとき、測定部3に接続されている流
路10を介して液貯留部2から第1校正液8や第2校正
液9、被測定液7を汲み出し、これを測定部3に供給す
るとともに、測定部3から排出される第1校正液8や第
2校正液9、被測定液7を排液貯留部4に導く。
きや被測定液7中に含まれている測定対象イオンの測定
動作を行なうときにオン状態にされるポンプであり、オ
ン状態となっているとき、測定部3に接続されている流
路10を介して液貯留部2から第1校正液8や第2校正
液9、被測定液7を汲み出し、これを測定部3に供給す
るとともに、測定部3から排出される第1校正液8や第
2校正液9、被測定液7を排液貯留部4に導く。
【0018】液貯留部2は被測定液7を貯留している被
測定液タンク11と、高濃度の測定対象イオンを含む第
1校正液8を貯留している第1校正液タンク12と、低
能度の測定対象イオンを含む第2校正液9を貯留してい
る第2校正液タンク13と、これら被測定液タンク11
に貯留されている被測定液7または第1校正液タンク1
2に貯留されている第1校正液8、第2校正液タンク1
3に貯留されている第2校正液9のいずれか1つを選択
する2つの三方口電磁弁14、15とを備えており、前
記ポンプ1がオン状態となったとき、被測定液7または
第1校正液8、第2校正液9のいずれか1つを三方口電
磁弁14、15によって選択するとともに、これを前記
流路10を介して前記測定部3に供給する。
測定液タンク11と、高濃度の測定対象イオンを含む第
1校正液8を貯留している第1校正液タンク12と、低
能度の測定対象イオンを含む第2校正液9を貯留してい
る第2校正液タンク13と、これら被測定液タンク11
に貯留されている被測定液7または第1校正液タンク1
2に貯留されている第1校正液8、第2校正液タンク1
3に貯留されている第2校正液9のいずれか1つを選択
する2つの三方口電磁弁14、15とを備えており、前
記ポンプ1がオン状態となったとき、被測定液7または
第1校正液8、第2校正液9のいずれか1つを三方口電
磁弁14、15によって選択するとともに、これを前記
流路10を介して前記測定部3に供給する。
【0019】測定部3は前記流路10を介して供給され
た被測定液7または第1校正液8、第2校正液9を一
時、貯留するフローセル16と、このフローセル16内
に一時的に貯留されている被測定液7または第1校正液
8、第2校正液9中の測定対象イオンの濃度を測定する
イオン電極17と、前記フローセル16内に一時的に貯
留されている被測定液7または第1校正液8、第2校正
液9中の測定対象イオン濃度を測定するとき比較電位を
発生する比較電極20とを備えている。
た被測定液7または第1校正液8、第2校正液9を一
時、貯留するフローセル16と、このフローセル16内
に一時的に貯留されている被測定液7または第1校正液
8、第2校正液9中の測定対象イオンの濃度を測定する
イオン電極17と、前記フローセル16内に一時的に貯
留されている被測定液7または第1校正液8、第2校正
液9中の測定対象イオン濃度を測定するとき比較電位を
発生する比較電極20とを備えている。
【0020】そして、前記流路10を介して供給された
被測定液7または第1校正液8、第2校正液9をフロー
セル16に一時的に貯留しながら、被測定イオン電極1
7や比較電極20によって測定対象イオンの濃度を測定
し、この測定動作によって得られた電位を比較演算部5
に供給するとともに、測定が終了した被測定液7または
第1校正液8、第2校正液9を流路10を介して排液貯
留部4に供給する。
被測定液7または第1校正液8、第2校正液9をフロー
セル16に一時的に貯留しながら、被測定イオン電極1
7や比較電極20によって測定対象イオンの濃度を測定
し、この測定動作によって得られた電位を比較演算部5
に供給するとともに、測定が終了した被測定液7または
第1校正液8、第2校正液9を流路10を介して排液貯
留部4に供給する。
【0021】排液貯留部4は1つの排液貯留容器21を
備えており、前記流路10を介して供給される排液、す
なわち前記測定部3から排出される被測定液7または第
1校正液8、第2校正液9を排液貯留容器21内に貯留
する。
備えており、前記流路10を介して供給される排液、す
なわち前記測定部3から排出される被測定液7または第
1校正液8、第2校正液9を排液貯留容器21内に貯留
する。
【0022】また、比較演算部5は前記イオン電極17
から出力される信号の電位と前記比較電極20から出力
される信号の電位との差(電位差)を演算する電位差計
22と、この電位差計22によって得られた電位差に基
づいて検量線を作成したり、この検量線に基づいて被測
定液7のイオン濃度を演算するイオン濃度演算回路23
とを備えており、前記測定部3から供給される測定結
果、すなわち測定部3に第1校正液8、第2校正液9を
順次、供給したときにおけるイオン電極17に発生した
電位および比較電極20に発生した電位に基づいて検量
線を作成してこれを検量線判定部6に供給する処理や前
記検量線判定部6から正しい検量線であることを示す信
号が供給されたとき、前記信号によって指定された検量
線を記憶する処理、前記測定部3から供給される測定結
果、すなわち測定部3に被測定液7を供給したときにお
けるイオン電極17に発生した電位および比較電極20
に発生した電位と検量線とに基づいて前記被測定液7中
の測定対象イオン濃度を演算する処理、この処理によっ
て得られた測定対象イオンの濃度データを外部に出力す
る処理等を行なう。
から出力される信号の電位と前記比較電極20から出力
される信号の電位との差(電位差)を演算する電位差計
22と、この電位差計22によって得られた電位差に基
づいて検量線を作成したり、この検量線に基づいて被測
定液7のイオン濃度を演算するイオン濃度演算回路23
とを備えており、前記測定部3から供給される測定結
果、すなわち測定部3に第1校正液8、第2校正液9を
順次、供給したときにおけるイオン電極17に発生した
電位および比較電極20に発生した電位に基づいて検量
線を作成してこれを検量線判定部6に供給する処理や前
記検量線判定部6から正しい検量線であることを示す信
号が供給されたとき、前記信号によって指定された検量
線を記憶する処理、前記測定部3から供給される測定結
果、すなわち測定部3に被測定液7を供給したときにお
けるイオン電極17に発生した電位および比較電極20
に発生した電位と検量線とに基づいて前記被測定液7中
の測定対象イオン濃度を演算する処理、この処理によっ
て得られた測定対象イオンの濃度データを外部に出力す
る処理等を行なう。
【0023】検量線判定部6は前記イオン濃度演算回路
23から出力される検量線の値を取り込んでこれが予め
設定されている許容範囲内にあるかどうかを判定する数
値比較回路25と、この数値比較回路25によって前記
検量線が前記許容範囲内から外れているとき、警報を発
してオペレータ等に知らせる警報出力装置26とを備え
ており、前記イオン濃度演算回路23から出力される検
量線の値を取り込んでこれが予め設定されている許容範
囲内にあるかどうかを判定し、前記検量線が前記許容範
囲内に入っているときには、この検量線が正しいことを
示す信号を生成してこれを前記イオン濃度演算回路23
に供給し、また前記検量線が前記許容範囲内から外れて
いるとき、再校正動作指令を生成してこれを装置動作制
御部18に供給し、この後この再校正動作によっても正
しい検量線が得られないときには、警報を発して今回の
校正動作によって得られた検量線が正しくないことオペ
レータ等に知らせる。
23から出力される検量線の値を取り込んでこれが予め
設定されている許容範囲内にあるかどうかを判定する数
値比較回路25と、この数値比較回路25によって前記
検量線が前記許容範囲内から外れているとき、警報を発
してオペレータ等に知らせる警報出力装置26とを備え
ており、前記イオン濃度演算回路23から出力される検
量線の値を取り込んでこれが予め設定されている許容範
囲内にあるかどうかを判定し、前記検量線が前記許容範
囲内に入っているときには、この検量線が正しいことを
示す信号を生成してこれを前記イオン濃度演算回路23
に供給し、また前記検量線が前記許容範囲内から外れて
いるとき、再校正動作指令を生成してこれを装置動作制
御部18に供給し、この後この再校正動作によっても正
しい検量線が得られないときには、警報を発して今回の
校正動作によって得られた検量線が正しくないことオペ
レータ等に知らせる。
【0024】また、装置動作制御部18はデジタル方式
のシーケンサ等を備えており、予め設定されているシー
ケンスや前記検量線判定部6の出力に基づいて前記液貯
留部7の各三方口電磁弁14、15やポンプ1、検量線
判定部6を制御して校正動作やイオン濃度測定動作を行
なわせる。
のシーケンサ等を備えており、予め設定されているシー
ケンスや前記検量線判定部6の出力に基づいて前記液貯
留部7の各三方口電磁弁14、15やポンプ1、検量線
判定部6を制御して校正動作やイオン濃度測定動作を行
なわせる。
【0025】次に、図1を参照しながらこの実施例の動
作を説明する。
作を説明する。
【0026】《校正動作》校正動作においては、まず2
つの三方弁14、15が切り替えられて第1校正液8が
選択されるとともに、ポンプ1がオン状態にされる。
つの三方弁14、15が切り替えられて第1校正液8が
選択されるとともに、ポンプ1がオン状態にされる。
【0027】これによって、第1校正液タンク12内の
第1校正液8が汲み出されて測定部3のフローセル16
に貯留された後、イオン電極17および比較電極20に
よって前記第1校正液8中にある測定対象イオンの濃度
が測定され、この測定動作によって得られた各電位が比
較演算部5に供給されて記憶される。
第1校正液8が汲み出されて測定部3のフローセル16
に貯留された後、イオン電極17および比較電極20に
よって前記第1校正液8中にある測定対象イオンの濃度
が測定され、この測定動作によって得られた各電位が比
較演算部5に供給されて記憶される。
【0028】この後、フローセル16内にある第1校正
液8が排液貯留部4の排液貯留容器21内に排出され
て、ポンプ1がオフ状態にされる。
液8が排液貯留部4の排液貯留容器21内に排出され
て、ポンプ1がオフ状態にされる。
【0029】次いで、2つの三方弁14、15が切り替
えられて第2校正液9が選択されるとともに、ポンプ1
がオン状態にされる。
えられて第2校正液9が選択されるとともに、ポンプ1
がオン状態にされる。
【0030】これによって、第2校正液タンク13内の
第2校正液9が汲み出されて測定部3のフローセル16
に貯留された後、イオン電極17および比較電極20に
よって前記第2校正液9中にある測定対象イオンの濃度
が測定され、この測定動作によって得られた各電位が比
較演算部5に供給され、これらの各電位と、記憶してい
る各電位とに基づいて検量線が作成されて検量線判定部
6に供給される。
第2校正液9が汲み出されて測定部3のフローセル16
に貯留された後、イオン電極17および比較電極20に
よって前記第2校正液9中にある測定対象イオンの濃度
が測定され、この測定動作によって得られた各電位が比
較演算部5に供給され、これらの各電位と、記憶してい
る各電位とに基づいて検量線が作成されて検量線判定部
6に供給される。
【0031】この後、この検量線判定部6で前記検量線
が予め設定されている設定範囲内に入っているかどうか
が判定される。
が予め設定されている設定範囲内に入っているかどうか
が判定される。
【0032】この場合、測定対象となるイオンが
“K+ ”のように1価の陽イオンであれば、“25℃”
でその理論電位勾配が“59.16”mV/decade になる
ので、その上限を“61”mV/decade 、下限を“40”
mV/decade と決めたときには、前記イオン濃度演算回路
23によって作成された検量線が上限値“61”mV/dec
ade、下限値“40”mV/decade の設定範囲内に入って
いるかどうかが判定される。
“K+ ”のように1価の陽イオンであれば、“25℃”
でその理論電位勾配が“59.16”mV/decade になる
ので、その上限を“61”mV/decade 、下限を“40”
mV/decade と決めたときには、前記イオン濃度演算回路
23によって作成された検量線が上限値“61”mV/dec
ade、下限値“40”mV/decade の設定範囲内に入って
いるかどうかが判定される。
【0033】また、測定対象となるイオンが2価の陽イ
オンであれば、その理論的勾配が“59.16”mV/dec
ade の“1/2”に対応する“29.58”mV/decade
になるので、前記検量線がこの“29.58”mV/decad
e に対応する上限値および下限値の範囲内に入っている
かどうかが判定され、また測定対象となるイオンが1価
の陰イオンであれば、“25℃”でその理論電位勾配が
“−59.16”mV/decade になるので、前記検量線が
この“−59.16”mV/decade に対応する上限値およ
び下限値の範囲内に入っているかどうかが判定され、ま
た測定対象となるイオンが2価の陰イオンであれば、そ
の理論電位勾配が“−29.58”mV/decade になるの
で、前記検量線がこの“−29.58”mV/decade に対
応する上限値および下限値の範囲内に入っているかどう
かが判定される。
オンであれば、その理論的勾配が“59.16”mV/dec
ade の“1/2”に対応する“29.58”mV/decade
になるので、前記検量線がこの“29.58”mV/decad
e に対応する上限値および下限値の範囲内に入っている
かどうかが判定され、また測定対象となるイオンが1価
の陰イオンであれば、“25℃”でその理論電位勾配が
“−59.16”mV/decade になるので、前記検量線が
この“−59.16”mV/decade に対応する上限値およ
び下限値の範囲内に入っているかどうかが判定され、ま
た測定対象となるイオンが2価の陰イオンであれば、そ
の理論電位勾配が“−29.58”mV/decade になるの
で、前記検量線がこの“−29.58”mV/decade に対
応する上限値および下限値の範囲内に入っているかどう
かが判定される。
【0034】同様に、測定対象となるイオンがn価の陽
イオンであれば、その理論的勾配が“59.16”mV/d
ecade の“1/n”に対応する“59.16/n”mV/d
ecade になるので、前記検量線がこの“59.16/
n”mV/decade に対応する上限値および下限値の範囲内
に入っているかどうかが判定され、また測定対象となる
イオンがn価の陰イオンであれば、その理論的勾配が
“−59.16”mV/decade の“1/n”に対応する
“−59.16/n”mV/decade になるので、前記検量
線がこの“−59.16/n”mV/decade に対応する上
限値および下限値の範囲内に入っているかどうかが判定
される。
イオンであれば、その理論的勾配が“59.16”mV/d
ecade の“1/n”に対応する“59.16/n”mV/d
ecade になるので、前記検量線がこの“59.16/
n”mV/decade に対応する上限値および下限値の範囲内
に入っているかどうかが判定され、また測定対象となる
イオンがn価の陰イオンであれば、その理論的勾配が
“−59.16”mV/decade の“1/n”に対応する
“−59.16/n”mV/decade になるので、前記検量
線がこの“−59.16/n”mV/decade に対応する上
限値および下限値の範囲内に入っているかどうかが判定
される。
【0035】そして、前記イオン濃度演算回路23によ
って作成された検量線が前記設定範囲内に入っていると
きには、検量線判定部6の数値比較回路25から前記検
量線が正しいことを示す信号が生成されてこれが比較演
算部5のイオン濃度演算回路23に供給され、今回の校
正動作によって得られた検量線が正しい検量線として記
憶される。
って作成された検量線が前記設定範囲内に入っていると
きには、検量線判定部6の数値比較回路25から前記検
量線が正しいことを示す信号が生成されてこれが比較演
算部5のイオン濃度演算回路23に供給され、今回の校
正動作によって得られた検量線が正しい検量線として記
憶される。
【0036】この後、フローセル16内にある第2校正
液9が排液貯留部4の排液貯留容器21内に排出されて
校正動作が終了する。
液9が排液貯留部4の排液貯留容器21内に排出されて
校正動作が終了する。
【0037】また、前記イオン濃度演算回路23によっ
て作成された検量線が前記設定範囲内から外れていると
きには、検量線判定部6の数値比較回路25によってこ
れが検知されて前記検量線が正しくないことを示す信号
が生成される。
て作成された検量線が前記設定範囲内から外れていると
きには、検量線判定部6の数値比較回路25によってこ
れが検知されて前記検量線が正しくないことを示す信号
が生成される。
【0038】これによって、イオン濃度演算回路23に
よって今回の校正動作で得られた検量線が破棄されると
ともに、装置動作制御部18によってもう1度校正動作
が行われる。
よって今回の校正動作で得られた検量線が破棄されると
ともに、装置動作制御部18によってもう1度校正動作
が行われる。
【0039】そして、2回目の校正動作によって得られ
た検量線が正しい検量線であれば、検量線判定部6の数
値比較回路25によってこれが検知されて前記検量線が
正しいことを示す信号が生成されてこれが比較演算部5
のイオン濃度演算回路23に供給され、今回の校正動作
によって得られた検量線が正しい検量線として記憶され
る。
た検量線が正しい検量線であれば、検量線判定部6の数
値比較回路25によってこれが検知されて前記検量線が
正しいことを示す信号が生成されてこれが比較演算部5
のイオン濃度演算回路23に供給され、今回の校正動作
によって得られた検量線が正しい検量線として記憶され
る。
【0040】この後、フローセル16内にある第2校正
液9が排液貯留部4の排液貯留容器21内に排出されて
校正動作が終了する。
液9が排液貯留部4の排液貯留容器21内に排出されて
校正動作が終了する。
【0041】また、2回目の校正動作によっても正しい
検量線が得られないときには、検量線判定部6の数値比
較回路25によってこれが検知され、この検知結果に基
づいてイオン濃度演算回路23によって今回の校正動作
によって得られた検量線が破棄されるとともに、警報出
力装置26から警報が出力されて正しい検量線が得られ
ないことがオペレータ等に報知される。
検量線が得られないときには、検量線判定部6の数値比
較回路25によってこれが検知され、この検知結果に基
づいてイオン濃度演算回路23によって今回の校正動作
によって得られた検量線が破棄されるとともに、警報出
力装置26から警報が出力されて正しい検量線が得られ
ないことがオペレータ等に報知される。
【0042】《測定動作》測定動作においては、まず2
つの三方弁14、15が切り替えられて被測定液7が選
択されるとともに、ポンプ1がオン状態にされる。
つの三方弁14、15が切り替えられて被測定液7が選
択されるとともに、ポンプ1がオン状態にされる。
【0043】これによって、被測定液タンク11内の被
測定液7が汲み出されて測定部3のフローセル16に貯
留された後、被測定イオン電極17および比較電極20
によって前記被測定液7中にある測定対象イオンの濃度
が測定され、この測定動作によって得られた各電位が比
較演算部5に供給される。
測定液7が汲み出されて測定部3のフローセル16に貯
留された後、被測定イオン電極17および比較電極20
によって前記被測定液7中にある測定対象イオンの濃度
が測定され、この測定動作によって得られた各電位が比
較演算部5に供給される。
【0044】そして、比較演算部5によって、これらの
各電位および校正動作によって得られた検量線から測定
対象イオンの濃度が演算され、これが測定対象イオンの
濃度として出力される。
各電位および校正動作によって得られた検量線から測定
対象イオンの濃度が演算され、これが測定対象イオンの
濃度として出力される。
【0045】この後、フローセル16内にある被測定液
7が排液貯留部4の排液貯留容器21内に排出されて、
ポンプ1がオフ状態にされる。
7が排液貯留部4の排液貯留容器21内に排出されて、
ポンプ1がオフ状態にされる。
【0046】このようにこの実施例においては、検量線
判定部6によって校正動作で得られた検量線が正しい検
量線かどうかを判定し、この判定結果に基づいて正しい
検量線のみを用いて被測定液7のイオン濃度測定を行な
うようにしたので、回路構成の複雑化を防止しながら、
校正動作によって得られた検量線が正しい検量線かどう
かを判定することができ、これによって正しくない測定
結果を出力する可能性を全て排除して、いかなる場合に
も高い精度でイオン濃度測定を行なうことができる。
判定部6によって校正動作で得られた検量線が正しい検
量線かどうかを判定し、この判定結果に基づいて正しい
検量線のみを用いて被測定液7のイオン濃度測定を行な
うようにしたので、回路構成の複雑化を防止しながら、
校正動作によって得られた検量線が正しい検量線かどう
かを判定することができ、これによって正しくない測定
結果を出力する可能性を全て排除して、いかなる場合に
も高い精度でイオン濃度測定を行なうことができる。
【0047】また、上述した実施例においては、数値比
較回路25によって検量線が正しいかどうかのみを判定
するようにしているが、正しくない検量線が得られたと
き、その原因を判定してこれをランプ表示するようにし
ても良い。
較回路25によって検量線が正しいかどうかのみを判定
するようにしているが、正しくない検量線が得られたと
き、その原因を判定してこれをランプ表示するようにし
ても良い。
【0048】この場合、正しい検量線が得られない原因
として、イオン電極17の影響、比較電極20の影響、
第1校正液8や第2校正液9が正しくきていない、流路
10中の気泡に起因して電位が安定しない等が判定され
て表示される。
として、イオン電極17の影響、比較電極20の影響、
第1校正液8や第2校正液9が正しくきていない、流路
10中の気泡に起因して電位が安定しない等が判定され
て表示される。
【0049】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、回
路構成の複雑化を防止しながら、校正動作によって得ら
れた検量線が正しい検量線かどうかを判定することがで
き、これによって正しくない測定結果を出力する可能性
を全て排除して、いかなる場合にも高い精度でイオン濃
度測定を行なうことができる。
路構成の複雑化を防止しながら、校正動作によって得ら
れた検量線が正しい検量線かどうかを判定することがで
き、これによって正しくない測定結果を出力する可能性
を全て排除して、いかなる場合にも高い精度でイオン濃
度測定を行なうことができる。
【図1】本発明によるイオン濃度分析計の一実施例を示
す構成図である。
す構成図である。
【図2】従来から知られているイオン濃度分析計の一例
を示す構成図である。
を示す構成図である。
【図3】図2に示すイオン分析計によって得られる検量
線の一例を示す模式図である。
線の一例を示す模式図である。
1 ポンプ 2 液貯留部 4 排液貯留部 5 比較演算部 6 検量線判定部 7 被測定液 8 第1校正液 9 第2校正液 16 フローセル 17 イオン電極 20 比較電極
Claims (1)
- 【請求項1】 校正液をイオン電極に導いて得られた電
位に基づいて検量線を作成した後、被測定液を前記イオ
ン電極に導いて得られた電位と前記検量線とに基づいて
前記被測定液のイオン濃度を演算するイオン濃度分析計
において、 前記校正液を前記イオン電極に導いて得られた検量線の
値が測定対象イオンの価数に対応した予め設定されてい
る設定範囲に入っているかどうかを判定する検量線判定
部、 を備えたことを特徴とするイオン濃度分析計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24374191A JPH0580017A (ja) | 1991-09-24 | 1991-09-24 | イオン濃度分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24374191A JPH0580017A (ja) | 1991-09-24 | 1991-09-24 | イオン濃度分析計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0580017A true JPH0580017A (ja) | 1993-03-30 |
Family
ID=17108299
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24374191A Pending JPH0580017A (ja) | 1991-09-24 | 1991-09-24 | イオン濃度分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0580017A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014115156A (ja) * | 2012-12-07 | 2014-06-26 | Dkk Toa Corp | 有害物質濃度計 |
| JP2023021521A (ja) * | 2021-08-02 | 2023-02-14 | 株式会社クボタ | イオン濃度計の管理方法 |
| JP2025530677A (ja) * | 2022-08-19 | 2025-09-17 | シーメンス・ヘルスケア・ダイアグノスティックス・インコーポレイテッド | 流体分析器内の障害物を検出する方法 |
-
1991
- 1991-09-24 JP JP24374191A patent/JPH0580017A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014115156A (ja) * | 2012-12-07 | 2014-06-26 | Dkk Toa Corp | 有害物質濃度計 |
| JP2023021521A (ja) * | 2021-08-02 | 2023-02-14 | 株式会社クボタ | イオン濃度計の管理方法 |
| JP2025530677A (ja) * | 2022-08-19 | 2025-09-17 | シーメンス・ヘルスケア・ダイアグノスティックス・インコーポレイテッド | 流体分析器内の障害物を検出する方法 |
| US12436160B2 (en) | 2022-08-19 | 2025-10-07 | Siemens Healthcare Diagnostics Inc. | Method of detecting an obstruction in a fluid analyzer |
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