JPH0321076B2 - - Google Patents
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- JPH0321076B2 JPH0321076B2 JP57213831A JP21383182A JPH0321076B2 JP H0321076 B2 JPH0321076 B2 JP H0321076B2 JP 57213831 A JP57213831 A JP 57213831A JP 21383182 A JP21383182 A JP 21383182A JP H0321076 B2 JPH0321076 B2 JP H0321076B2
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- JP
- Japan
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- power
- error
- frequency conversion
- rotation speed
- pulses
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、需要家に既に取り付けられている誘
導形電力量計を試験する携帯用の試験装置に関す
るものである。
導形電力量計を試験する携帯用の試験装置に関す
るものである。
従来、誘導形電力量計の試験装置は、日本電気
計器検定所あるいは製造工場において試験を行う
形のものに限られていた。従つて、いつたん誘導
形電力量計を実際に設置し、使用を開始した後
に、需要家等が、該誘導形電力量計の作動状態に
異常を認めた場合、試験を行うためには、該誘導
形電力量計を設置状態より取りはずし、日本電気
計器検定所あるいは製造工場等、試験装置の設置
された場所に持つてゆく必要があるという問題点
が存在していた。
計器検定所あるいは製造工場において試験を行う
形のものに限られていた。従つて、いつたん誘導
形電力量計を実際に設置し、使用を開始した後
に、需要家等が、該誘導形電力量計の作動状態に
異常を認めた場合、試験を行うためには、該誘導
形電力量計を設置状態より取りはずし、日本電気
計器検定所あるいは製造工場等、試験装置の設置
された場所に持つてゆく必要があるという問題点
が存在していた。
また、日本電気計器検定所などで使用する電力
量計の試験装置として、従来、特願昭57−63461
号公報に開示されているようにマイクロコンピユ
ータを用いて、電力系の平均電力及び被試験計器
の計測した平均電力を演算し、両平均電力から被
試験計器の器差を演算するものが提案されてい
る。しかし、このようなマイクロコンピユータを
用いた試験装置を、需要家に既に取り付けられて
いる誘導形電力量計を試験するための携帯用の試
験装置に採用しようとすると、携帯用の試験装置
は販売数が少ないので、マイクロコンピユータの
ソフト開発費が１台当たり高くつき、コスト高と
なつてしまう。
量計の試験装置として、従来、特願昭57−63461
号公報に開示されているようにマイクロコンピユ
ータを用いて、電力系の平均電力及び被試験計器
の計測した平均電力を演算し、両平均電力から被
試験計器の器差を演算するものが提案されてい
る。しかし、このようなマイクロコンピユータを
用いた試験装置を、需要家に既に取り付けられて
いる誘導形電力量計を試験するための携帯用の試
験装置に採用しようとすると、携帯用の試験装置
は販売数が少ないので、マイクロコンピユータの
ソフト開発費が１台当たり高くつき、コスト高と
なつてしまう。
更に、この種の試験装置は、電力系の電力に比
例した周波数のパルスを発生する電力−周波数変
換手段を有するが、この電力−周波数変換手段の
誤差を回路上で０にしようとすると、回路設計が
複雑になり、回路自体も高価になると共に、調整
が面倒である。
例した周波数のパルスを発生する電力−周波数変
換手段を有するが、この電力−周波数変換手段の
誤差を回路上で０にしようとすると、回路設計が
複雑になり、回路自体も高価になると共に、調整
が面倒である。
本発明の目的は、上述した問題点を解決し、誘
導形電力量計を設置した状態のまま試験すること
ができ、コストダウンを図ることができ、更に内
蔵する電力−周波数変換手段の誤差を、装置個々
に簡単に補正することができる携帯用の誘導形電
力量計試験装置を提供することである。
導形電力量計を設置した状態のまま試験すること
ができ、コストダウンを図ることができ、更に内
蔵する電力−周波数変換手段の誤差を、装置個々
に簡単に補正することができる携帯用の誘導形電
力量計試験装置を提供することである。
この目的を達成するために、本発明は、被試験
計器の円板回転数を光学的に検出する光学的回転
数検出手段と、被試験計器の電圧端子に着脱自在
に接続され、電圧を取り出す電圧取出手段と、負
荷回路に着脱自在に取り付けられ、負荷電流を検
出する分割形変流器と、電圧取出手段により取り
出された電圧と分割形変流器により検出された負
荷電流とから、電力に比例した周波数のパルスを
発生する電力−周波数変換手段と、試験に必要な
被試験計器の円板回転数を設定する回転数設定手
段と、前記設定回転数を被試験計器の円板が回転
する間に電力−周波数変換手段が発生するパルス
数を計数するカウンタ手段と、許容誤差範囲内に
ある被試験計器の円板が前記設定回転数を回転す
る間に、電力−周波数変換手段が発生するパルス
数の上限値及び下限値を設定する限界パルス数設
定手段と、前記カウンタ手段のパルス数が限界パ
ルス数設定手段による上限値と下限値との間に入
つているかどうかを判定する判定手段と、前記限
界パルス数設定手段による上限値と下限値を、前
記電力−周波数変換手段の誤差に応じて補正する
マスター誤差補正手段とを備えたものである。
計器の円板回転数を光学的に検出する光学的回転
数検出手段と、被試験計器の電圧端子に着脱自在
に接続され、電圧を取り出す電圧取出手段と、負
荷回路に着脱自在に取り付けられ、負荷電流を検
出する分割形変流器と、電圧取出手段により取り
出された電圧と分割形変流器により検出された負
荷電流とから、電力に比例した周波数のパルスを
発生する電力−周波数変換手段と、試験に必要な
被試験計器の円板回転数を設定する回転数設定手
段と、前記設定回転数を被試験計器の円板が回転
する間に電力−周波数変換手段が発生するパルス
数を計数するカウンタ手段と、許容誤差範囲内に
ある被試験計器の円板が前記設定回転数を回転す
る間に、電力−周波数変換手段が発生するパルス
数の上限値及び下限値を設定する限界パルス数設
定手段と、前記カウンタ手段のパルス数が限界パ
ルス数設定手段による上限値と下限値との間に入
つているかどうかを判定する判定手段と、前記限
界パルス数設定手段による上限値と下限値を、前
記電力−周波数変換手段の誤差に応じて補正する
マスター誤差補正手段とを備えたものである。
以下、本発明を図示の実施例に基づいて詳細に
説明する。
説明する。
第１図は、本発明の一実施例を示すブロツク図
である。また、第２図は、第１図に示された実施
例の各部における信号の状態を示している。
である。また、第２図は、第１図に示された実施
例の各部における信号の状態を示している。
まず、本実施例によつて誘導形電力量計１の試
験を行う手順を説明する。第１に、誘導形電力量
計１の電圧端子（図示せず）に電圧を取り出すた
めのワニ口クリツプ２を取り付け、負荷側電線３
に負荷電流を検出するための分割形変流器４を取
り付ける。ここで分割形の変流器を用いるのは、
負荷側電線３を切ることなく負荷回路に着脱自在
に取り付けることが可能なためである。次に誘導
形電力量計１に、円板５の回転数を光学的に検出
する投受光器６をセツトする。本実施例において
はこの投受光器６は、円板５に投光部より投光
し、円板５上の指標７に投光された時の反射光の
変化を受光部で検出して、円板５が１回転するご
とに１パルス出力するものを示したが、他に、円
板５上に、軸８を中心に対称に設けられた二つの
クリープホールを投光部及び受光部により検出す
る構造のものなども使用可能である。次に、数値
設定器DS1に誘導形電力量計１の計器定数を設定
し、数値設定器DS2に試験に必要な円板５の回転
数を設定する。試験は、この設定された回転数だ
け円板５が回転する間の誘導形電力量計１の誤差
を検出する形で行われ、この回転数は、円板５の
回転むらを考慮に入れて、10回前後とするのが望
ましい。さらに数値設定器DS3に、被試験計器で
ある誘導形電力量計１が誤差０である時に数値設
定器DS2に設定された回転数だけ円板５が回転す
る間に、電力−周波数変換回路WFとプログラマ
ブル分周回路DVと数値設定器DS1とからなる電
力−周波数変換手段が誤差０である場合に出力す
るパルス数を設定する。また、数値設定器DS4
に、被試験計器の許容しうる誤差（％）を数値設
定器DS3に設定されたパルス数に乗じただけのパ
ルス数を設定する。さらに、数値設定器DS5に、
本試験計器の電力−周波数変換手段の誤差（％）
を数値設定器DS3に設定されたパルス数に乗じた
だけのパルス数を設定し、マスター誤差設定用符
号器９に、この誤差が正であるか負であるかの符
号を設定する。マスター誤差設定用符号器９の出
力は、誤差が正のときハイレベル、負のときロー
レベルとなる。以上で、試験の準備段階の手順は
終わりであり、試験スタート用スイツチ（図示せ
ず）をオンすることにより試験動作が開始され
る。
験を行う手順を説明する。第１に、誘導形電力量
計１の電圧端子（図示せず）に電圧を取り出すた
めのワニ口クリツプ２を取り付け、負荷側電線３
に負荷電流を検出するための分割形変流器４を取
り付ける。ここで分割形の変流器を用いるのは、
負荷側電線３を切ることなく負荷回路に着脱自在
に取り付けることが可能なためである。次に誘導
形電力量計１に、円板５の回転数を光学的に検出
する投受光器６をセツトする。本実施例において
はこの投受光器６は、円板５に投光部より投光
し、円板５上の指標７に投光された時の反射光の
変化を受光部で検出して、円板５が１回転するご
とに１パルス出力するものを示したが、他に、円
板５上に、軸８を中心に対称に設けられた二つの
クリープホールを投光部及び受光部により検出す
る構造のものなども使用可能である。次に、数値
設定器DS1に誘導形電力量計１の計器定数を設定
し、数値設定器DS2に試験に必要な円板５の回転
数を設定する。試験は、この設定された回転数だ
け円板５が回転する間の誘導形電力量計１の誤差
を検出する形で行われ、この回転数は、円板５の
回転むらを考慮に入れて、10回前後とするのが望
ましい。さらに数値設定器DS3に、被試験計器で
ある誘導形電力量計１が誤差０である時に数値設
定器DS2に設定された回転数だけ円板５が回転す
る間に、電力−周波数変換回路WFとプログラマ
ブル分周回路DVと数値設定器DS1とからなる電
力−周波数変換手段が誤差０である場合に出力す
るパルス数を設定する。また、数値設定器DS4
に、被試験計器の許容しうる誤差（％）を数値設
定器DS3に設定されたパルス数に乗じただけのパ
ルス数を設定する。さらに、数値設定器DS5に、
本試験計器の電力−周波数変換手段の誤差（％）
を数値設定器DS3に設定されたパルス数に乗じた
だけのパルス数を設定し、マスター誤差設定用符
号器９に、この誤差が正であるか負であるかの符
号を設定する。マスター誤差設定用符号器９の出
力は、誤差が正のときハイレベル、負のときロー
レベルとなる。以上で、試験の準備段階の手順は
終わりであり、試験スタート用スイツチ（図示せ
ず）をオンすることにより試験動作が開始され
る。
次に、試験動作の順に従つて本実施例の構造、
機能を説明する。まず、試験スタート用スイツチ
（図示せず）のオンにより、スタート信号P0がパ
ルス信号発生回路PGに入力する。これによつて
パルス信号発生回路PGは、すぐに単独パルス信
号P1を端子T1から出力し、ある間隔をおいて２
パルス目の単独パルス信号P′1を端子T2から出力
する。単独パルス信号P1は、オアゲートG1及び
アンドゲートG2に入力する。また、単独パルス
信号P1は抵抗R1とコンデンサＣにより構成され
る遅延回路により遅延され、信号P2としてオア
ゲートG1及びアンドゲートG2に入力する。これ
により、まずオアゲートG1からハイレベルの信
号P3が出力され、プリセツタブルアツプダウン
カウンタCT1，CT2の書込み準備信号入力端子
PSに入力する。さらに少し遅れてアンドゲート
G2からハイレベルの信号P4が出力され、プリセ
ツタブルアツプダウンカウンタCT1，CT2の書込
み信号入力端子CLに入力する。プリセツタブル
アツプダウンカウンタCT1，CT2は、誤動作防止
のため、書込み準備信号が入力している間に書込
み信号が入力した時のみ、数値設定器DS3に設定
された数値を書込み記憶し、以後計数すべきパル
スが入力端子INに入力するたびに、計数モード
切換端子Ｕ／Ｄへの入力がローレベルで、減算モ
ードにある時は減算、計数モード切換端子Ｕ／Ｄ
への入力がハイレベルで、加算モードにある時は
加算してゆくものである。したがつて、信号P3
及び信号P4の入力によつて、数値設定器DS3に設
定された数値が書込み記憶される。
機能を説明する。まず、試験スタート用スイツチ
（図示せず）のオンにより、スタート信号P0がパ
ルス信号発生回路PGに入力する。これによつて
パルス信号発生回路PGは、すぐに単独パルス信
号P1を端子T1から出力し、ある間隔をおいて２
パルス目の単独パルス信号P′1を端子T2から出力
する。単独パルス信号P1は、オアゲートG1及び
アンドゲートG2に入力する。また、単独パルス
信号P1は抵抗R1とコンデンサＣにより構成され
る遅延回路により遅延され、信号P2としてオア
ゲートG1及びアンドゲートG2に入力する。これ
により、まずオアゲートG1からハイレベルの信
号P3が出力され、プリセツタブルアツプダウン
カウンタCT1，CT2の書込み準備信号入力端子
PSに入力する。さらに少し遅れてアンドゲート
G2からハイレベルの信号P4が出力され、プリセ
ツタブルアツプダウンカウンタCT1，CT2の書込
み信号入力端子CLに入力する。プリセツタブル
アツプダウンカウンタCT1，CT2は、誤動作防止
のため、書込み準備信号が入力している間に書込
み信号が入力した時のみ、数値設定器DS3に設定
された数値を書込み記憶し、以後計数すべきパル
スが入力端子INに入力するたびに、計数モード
切換端子Ｕ／Ｄへの入力がローレベルで、減算モ
ードにある時は減算、計数モード切換端子Ｕ／Ｄ
への入力がハイレベルで、加算モードにある時は
加算してゆくものである。したがつて、信号P3
及び信号P4の入力によつて、数値設定器DS3に設
定された数値が書込み記憶される。
また、単独パルス信号P1はカウンタCT3，
CT4，CT5，CT6をリセツトし、計数値を０にす
る。数値比較回路CP1は、カウンタCT3の計数値
が数値設定器DS2の設定値と等しくなつた時にハ
イレベルの信号を出力するものであり、数値比較
回路CP2は、カウンタCT4の計数値が数値設定器
DS4の設定値と等しくなつた時にハイレベルの信
号を出力するものであるから、この時点での両者
の出力はローレベルである。また、数値比較回路
CP3は、カウンタCT5の計数値がプリセツタブル
アツプダウンカウンタCT1の計数値より大きくな
つた時にハイレベルの信号を出すものであり、数
値比較回路CP4は、カウンタCT5の計数値がプリ
セツタブルアツプダウンカウンタCT2の計数値よ
り大きくなつた時にハイレベルの信号を出すもの
であるから、この時点での両者の出力もローレベ
ルである。さらに数値比較回路CP5は、カウンタ
CT6の計数値が数値設定器DS5の設定値以上にな
つた時ハイレベルの信号を出力するものであるか
ら、この時点での出力は数値設定器DS5の設定値
が０ならばハイレベル、０でなければローレベル
である。数値比較回路CP2からのローレベルの信
号は、三入力アンドゲートG3、ナンドゲートG4
を閉成する。したがつて数値比較回路CP5の出力
によらず、ナンドケートG4の出力はハイレベル
となり、アンドゲートG5，G6が開成される。さ
らに数値比較回路CP2からのローレベルの信号
は、アンドゲートG7を閉成するので、プリセツ
タブルアツプダウンカウンタCT1の計数モード切
換端子Ｕ／Ｄにはローレベルの信号が入力し、プ
リセツタブルアツプダウンカウンタCT1は減算モ
ードに指定される。また、数値比較回路CP2から
のローレベルの信号は、インバータIo1により反
転されてハイレベルとなり、オアゲートG3を介
してプリセツタブルアツプダウンカウンタCT2の
計数モード切換端子Ｕ／Ｄに入力するため、プリ
セツタブルアツプダウンカウンタCT2は加算モー
ドに指定される。また、数値比較回路CP3からの
ローレベルの信号は、アンドゲートG9を閉成す
るので、トランジスタTr1は導通されず、発光ダ
イオードPD1は点灯しないが、インバータIo2によ
り反転され、トランジスタTr2を導通するので、
電流電圧＋Ｖの供給により発光ダイオードPD2が
点灯する。この点灯は、動作が開始されたことの
確認となる。なお数値比較回路CP4からのローレ
ベルの信号は、トランジスタTr3を導通しないの
で、発光ダイオードPD3は点灯しない。
CT4，CT5，CT6をリセツトし、計数値を０にす
る。数値比較回路CP1は、カウンタCT3の計数値
が数値設定器DS2の設定値と等しくなつた時にハ
イレベルの信号を出力するものであり、数値比較
回路CP2は、カウンタCT4の計数値が数値設定器
DS4の設定値と等しくなつた時にハイレベルの信
号を出力するものであるから、この時点での両者
の出力はローレベルである。また、数値比較回路
CP3は、カウンタCT5の計数値がプリセツタブル
アツプダウンカウンタCT1の計数値より大きくな
つた時にハイレベルの信号を出すものであり、数
値比較回路CP4は、カウンタCT5の計数値がプリ
セツタブルアツプダウンカウンタCT2の計数値よ
り大きくなつた時にハイレベルの信号を出すもの
であるから、この時点での両者の出力もローレベ
ルである。さらに数値比較回路CP5は、カウンタ
CT6の計数値が数値設定器DS5の設定値以上にな
つた時ハイレベルの信号を出力するものであるか
ら、この時点での出力は数値設定器DS5の設定値
が０ならばハイレベル、０でなければローレベル
である。数値比較回路CP2からのローレベルの信
号は、三入力アンドゲートG3、ナンドゲートG4
を閉成する。したがつて数値比較回路CP5の出力
によらず、ナンドケートG4の出力はハイレベル
となり、アンドゲートG5，G6が開成される。さ
らに数値比較回路CP2からのローレベルの信号
は、アンドゲートG7を閉成するので、プリセツ
タブルアツプダウンカウンタCT1の計数モード切
換端子Ｕ／Ｄにはローレベルの信号が入力し、プ
リセツタブルアツプダウンカウンタCT1は減算モ
ードに指定される。また、数値比較回路CP2から
のローレベルの信号は、インバータIo1により反
転されてハイレベルとなり、オアゲートG3を介
してプリセツタブルアツプダウンカウンタCT2の
計数モード切換端子Ｕ／Ｄに入力するため、プリ
セツタブルアツプダウンカウンタCT2は加算モー
ドに指定される。また、数値比較回路CP3からの
ローレベルの信号は、アンドゲートG9を閉成す
るので、トランジスタTr1は導通されず、発光ダ
イオードPD1は点灯しないが、インバータIo2によ
り反転され、トランジスタTr2を導通するので、
電流電圧＋Ｖの供給により発光ダイオードPD2が
点灯する。この点灯は、動作が開始されたことの
確認となる。なお数値比較回路CP4からのローレ
ベルの信号は、トランジスタTr3を導通しないの
で、発光ダイオードPD3は点灯しない。
次いで、２パルス目の単独パルス信号P′1が端
子T2から出力され、アンドゲートG10，G11制御
用のRSフリツプフロツプFFのセツト入力端子Ｓ
に入力する。これにより、RSフリツプフロツプ
FFの出力はハイレベルとなる、アンドゲート
G10，G11を開成する。したがつて開成されたア
ンドゲートG10を介して、投受光器６からの出力
信号がカウンタCT3に入力し、カウンタCT3は誘
導形電力量計１の円板５の回転数を計数しはじめ
る。また、開成されたアンドゲートG11，G5，G6
を介して、プログラマブル分周回路DVからの出
力信号がカウンタCT4，CT5、プリセツタブルア
ツプダウンカウンタCT1，CT2に入力され、それ
ぞれが計数を開始するが、三入力アンドゲート
G3は閉成されているため、カウンタCT6は計数
を開始しない。なお、プログラマブル分周回路
DVは、被試験計器により計器定数が異なるため
電力に比例した周波数のパルスを出力する電力−
周波数変換回路WFから被試験計器の円板が一回
転する間に出力されるパルス数が被試験計器によ
つてまちまちになるので、数値設定器DS1に設定
した計器定数値によつて分周比を設定し、比試験
計器の円板が一回転する間に出力するパルス数が
計器定数にかかわらず一定の範囲の値となるよう
にするものである。
子T2から出力され、アンドゲートG10，G11制御
用のRSフリツプフロツプFFのセツト入力端子Ｓ
に入力する。これにより、RSフリツプフロツプ
FFの出力はハイレベルとなる、アンドゲート
G10，G11を開成する。したがつて開成されたア
ンドゲートG10を介して、投受光器６からの出力
信号がカウンタCT3に入力し、カウンタCT3は誘
導形電力量計１の円板５の回転数を計数しはじめ
る。また、開成されたアンドゲートG11，G5，G6
を介して、プログラマブル分周回路DVからの出
力信号がカウンタCT4，CT5、プリセツタブルア
ツプダウンカウンタCT1，CT2に入力され、それ
ぞれが計数を開始するが、三入力アンドゲート
G3は閉成されているため、カウンタCT6は計数
を開始しない。なお、プログラマブル分周回路
DVは、被試験計器により計器定数が異なるため
電力に比例した周波数のパルスを出力する電力−
周波数変換回路WFから被試験計器の円板が一回
転する間に出力されるパルス数が被試験計器によ
つてまちまちになるので、数値設定器DS1に設定
した計器定数値によつて分周比を設定し、比試験
計器の円板が一回転する間に出力するパルス数が
計器定数にかかわらず一定の範囲の値となるよう
にするものである。
プリセツタブルアツプダウンカウンタCT1，
CT2、カウンタCT3，CT4，CT5が計数を開始し
た後、まずカウンタCT4の計数値が数値設定器
DS4の設定値と等しくなつて、数値比較回路CP2
の出力がハイレベルとなる。この時点までに、プ
リセツタブルアツプダウンカウンタCT1は、数値
設定器DS3の設定値と数値設定器DS4の設定値と
の差、すなわち被試験計器の誤差が０の時に、設
定された回転数だけ円板５が回転する間に誤差が
０であり電力−周波数変換手段が出力するパルス
数と、許容しうる最大誤差のパルス数の差、換言
すれば許容しうる下限パルス数の理論値を計数し
ている。またプリセツタブルアツプダウンカウン
タCT2は、数値設定器DS3の設定値と数値設定器
DS4の設定値との和、すなわち許容しうる上限パ
ルス数の理論値を計数している。さらに、数値比
較回路CP2のハイレベルの出力は、アンドゲート
G7を開成するので、プリセツタブルアツプダウ
ンカウンタCT1，CT2の計数モード切換端子Ｕ／
Ｄには、マスター誤差設定用符号器９の符号設定
により電力−周波数変換手段の誤差が正のときに
はハイレベルの信号が入力して加算モードに指定
され、誤差が負のときにはローレベルの信号が入
力して減算モードに指定される。また、数値比較
回路CP2のハイレベルの出力は、三入力アンドゲ
ートG3とナンドゲートG4に入力し、三入力アン
ドゲートG3は開成される。
CT2、カウンタCT3，CT4，CT5が計数を開始し
た後、まずカウンタCT4の計数値が数値設定器
DS4の設定値と等しくなつて、数値比較回路CP2
の出力がハイレベルとなる。この時点までに、プ
リセツタブルアツプダウンカウンタCT1は、数値
設定器DS3の設定値と数値設定器DS4の設定値と
の差、すなわち被試験計器の誤差が０の時に、設
定された回転数だけ円板５が回転する間に誤差が
０であり電力−周波数変換手段が出力するパルス
数と、許容しうる最大誤差のパルス数の差、換言
すれば許容しうる下限パルス数の理論値を計数し
ている。またプリセツタブルアツプダウンカウン
タCT2は、数値設定器DS3の設定値と数値設定器
DS4の設定値との和、すなわち許容しうる上限パ
ルス数の理論値を計数している。さらに、数値比
較回路CP2のハイレベルの出力は、アンドゲート
G7を開成するので、プリセツタブルアツプダウ
ンカウンタCT1，CT2の計数モード切換端子Ｕ／
Ｄには、マスター誤差設定用符号器９の符号設定
により電力−周波数変換手段の誤差が正のときに
はハイレベルの信号が入力して加算モードに指定
され、誤差が負のときにはローレベルの信号が入
力して減算モードに指定される。また、数値比較
回路CP2のハイレベルの出力は、三入力アンドゲ
ートG3とナンドゲートG4に入力し、三入力アン
ドゲートG3は開成される。
数値設定器DS5に設定された数値、すなわち電
力−周波数変換手段の誤差が０である時は、数値
比較回路CP5の出力がハイレベルのため、ナンド
ゲートG4の出力はローレベルとなり、アンドゲ
ートG5，G6を閉成する。したがつて、この時点
でプリセツタブルアツプダウンカウンタCT1，
CT2は計数を停止する。数値設定器DS5の設定値
が０でない時は、数値比較回路CP5の出力がロー
レベルであるから、ナンドゲートG4の出力はハ
イレベルとなり、プログラマブル分周回路DVか
らの出力パルスがアンドゲートG11、三入力アン
ドゲートG3を介してカウンタCT6に入力し、カ
ウンタCT6が計数をはじめる。カウンタCT6が計
数している間、プリセツタブルアツプダウンカウ
ンタCT1，CT2も、指定されたモードに従つて加
算もしくは減算を行つている。
力−周波数変換手段の誤差が０である時は、数値
比較回路CP5の出力がハイレベルのため、ナンド
ゲートG4の出力はローレベルとなり、アンドゲ
ートG5，G6を閉成する。したがつて、この時点
でプリセツタブルアツプダウンカウンタCT1，
CT2は計数を停止する。数値設定器DS5の設定値
が０でない時は、数値比較回路CP5の出力がロー
レベルであるから、ナンドゲートG4の出力はハ
イレベルとなり、プログラマブル分周回路DVか
らの出力パルスがアンドゲートG11、三入力アン
ドゲートG3を介してカウンタCT6に入力し、カ
ウンタCT6が計数をはじめる。カウンタCT6が計
数している間、プリセツタブルアツプダウンカウ
ンタCT1，CT2も、指定されたモードに従つて加
算もしくは減算を行つている。
カウンタCT6の計数値が、数値設定器DS5の設
定値と等しくなると、数値比較回路CP5の出力が
ハイレベルとなるから、ナンドゲートG4の出力
はローレベルとなり、三入力アンドゲートG3、
アンドゲートG5，G6が閉成されて、プリセツタ
ブルアツプダウンカウンタCT1，CT2、カウンタ
CT6が計数を停止する。この時点までに、プリセ
ツタブルアツプダウンカウンタCT1は、電力−周
波数変換手段の誤差が０であるとした時の、理論
的な許容しうる下限パルス数に、数値設定器DS5
に設定された電力−周波数変換手段の誤差を、マ
スター誤差設定用符号器９の符号設定により加算
あるいは減算して誤差を補正した値、すなわち電
力−周波数変換手段の誤差に応じて補正された、
実際の許容しうる下限パルス数を計数している。
同様に、プリセツタブルアツプダウンカウンタ
CT2は、電力−周波数変換手段の誤差に応じて補
正された、実際の許容しうる上限パルス数を計数
している。
定値と等しくなると、数値比較回路CP5の出力が
ハイレベルとなるから、ナンドゲートG4の出力
はローレベルとなり、三入力アンドゲートG3、
アンドゲートG5，G6が閉成されて、プリセツタ
ブルアツプダウンカウンタCT1，CT2、カウンタ
CT6が計数を停止する。この時点までに、プリセ
ツタブルアツプダウンカウンタCT1は、電力−周
波数変換手段の誤差が０であるとした時の、理論
的な許容しうる下限パルス数に、数値設定器DS5
に設定された電力−周波数変換手段の誤差を、マ
スター誤差設定用符号器９の符号設定により加算
あるいは減算して誤差を補正した値、すなわち電
力−周波数変換手段の誤差に応じて補正された、
実際の許容しうる下限パルス数を計数している。
同様に、プリセツタブルアツプダウンカウンタ
CT2は、電力−周波数変換手段の誤差に応じて補
正された、実際の許容しうる上限パルス数を計数
している。
次いで、カウンタCT3の計数値が数値設定器
DS2の設定値と等しくなつて、数値比較回路CP1
の出力がハイレベルとなる。このハイレベルの信
号がRSフリツプフロツプFFのリセツト入力端子
Ｒに入力するから、RSフリツプフロツプFFの出
力がローレベルとなり、アンドゲートG10，G11
を閉成する。したがつて、この時点でカウンタ
CT3，CT4，CT5が計数を停止する。この時点ま
でにカウンタCT5は、数値設定器DS2に設定され
た回転数だけ円板５が回転する間に、電力−周波
数変換回路WFを経てプログラマブル分周回路
DVから出力されるパルス数を計数している。し
たがつて、被試験計器の誤差が０であれば、この
パルス数は数値設定器DS3に設定された数値を、
数値設定器DS5とマスター誤差設定用符号器９に
より誤差補正した数値と等しい。もし被試験計器
が負の誤差をもつなら、円板５が設定された回転
数だけ回転するに要する時間は被試験計器の誤差
が０の時に比べ長くなるので、その間にカウンタ
CT5の計数するパルス数は数値設定器DS3の設定
値を誤差補正した数値よりも多くなる。逆に被試
験計器が正の誤差をもつなら、カウンタCT5の計
数するパルス数は数値設定器DS3の設定値を誤差
補正した数値よりも少なくなる。したがつて、カ
ウンタCT5の計数値が数値設定器DS3の設定値を
誤差補正した数値を上まわつた場合は、被試験計
器は負の誤差をもち、下まわつた場合は、正の誤
差をもつことがわかる。
DS2の設定値と等しくなつて、数値比較回路CP1
の出力がハイレベルとなる。このハイレベルの信
号がRSフリツプフロツプFFのリセツト入力端子
Ｒに入力するから、RSフリツプフロツプFFの出
力がローレベルとなり、アンドゲートG10，G11
を閉成する。したがつて、この時点でカウンタ
CT3，CT4，CT5が計数を停止する。この時点ま
でにカウンタCT5は、数値設定器DS2に設定され
た回転数だけ円板５が回転する間に、電力−周波
数変換回路WFを経てプログラマブル分周回路
DVから出力されるパルス数を計数している。し
たがつて、被試験計器の誤差が０であれば、この
パルス数は数値設定器DS3に設定された数値を、
数値設定器DS5とマスター誤差設定用符号器９に
より誤差補正した数値と等しい。もし被試験計器
が負の誤差をもつなら、円板５が設定された回転
数だけ回転するに要する時間は被試験計器の誤差
が０の時に比べ長くなるので、その間にカウンタ
CT5の計数するパルス数は数値設定器DS3の設定
値を誤差補正した数値よりも多くなる。逆に被試
験計器が正の誤差をもつなら、カウンタCT5の計
数するパルス数は数値設定器DS3の設定値を誤差
補正した数値よりも少なくなる。したがつて、カ
ウンタCT5の計数値が数値設定器DS3の設定値を
誤差補正した数値を上まわつた場合は、被試験計
器は負の誤差をもち、下まわつた場合は、正の誤
差をもつことがわかる。
カウンタCT5の計数値が、プリセツタブルアツ
プダウンカウンタCT2の計数値すなわち許容しう
る下限パルス数より小さい時、数値比較回路
CP3，CP4の出力はともにローレベルである。数
値比較回路CP3からのローレベルの信号は、アン
ドゲートG9を閉成するため、トランジスタTr1は
導通されず、被試験計器の誤差が許容範囲内にあ
ることを表示する発光ダイオードPD1は点灯しな
いが、一方インバータIo2により反転されてトラ
ンジスタTr2を導通するので、正の許容誤差範囲
をオーバーしていることを表示する発光ダイオー
ドPD2が点灯する。また、数値比較回路CP4から
のローレベルの信号は、トランジスタTr3を導通
しないので、負の許容誤差範囲をオーバーしてい
ることを表示する発光ダイオードPD3は点灯しな
い。
プダウンカウンタCT2の計数値すなわち許容しう
る下限パルス数より小さい時、数値比較回路
CP3，CP4の出力はともにローレベルである。数
値比較回路CP3からのローレベルの信号は、アン
ドゲートG9を閉成するため、トランジスタTr1は
導通されず、被試験計器の誤差が許容範囲内にあ
ることを表示する発光ダイオードPD1は点灯しな
いが、一方インバータIo2により反転されてトラ
ンジスタTr2を導通するので、正の許容誤差範囲
をオーバーしていることを表示する発光ダイオー
ドPD2が点灯する。また、数値比較回路CP4から
のローレベルの信号は、トランジスタTr3を導通
しないので、負の許容誤差範囲をオーバーしてい
ることを表示する発光ダイオードPD3は点灯しな
い。
カウンタCT5の計数値がプリセツタブルアツプ
ダウンカウンタCT1の計数値以上であり、プリセ
ツタブルアツプダウンカウンタCT2の計数値以下
である時、すなわち被試験計器の誤差が許容誤差
範囲にある時、数値比較回路CP3の出力はハイレ
ベルであるから、インバータIo2の出力はローレ
ベルとなり、トランジスタr2は導通されず、発光
ダイオードPD2は点灯しない。数値比較回路CP4
の出力はローレベルであるから、トランジスタ
Tr3は導通されず、発光ダイオードPD3は点灯し
ないが、インバータIo3と、開成されたアンドゲ
ートG9を介してハイレベルの信号がトランジス
タTr1を導通するため、誤差が許容範囲内にある
ことを表示する発光ダイオードPD1が点灯する。
ダウンカウンタCT1の計数値以上であり、プリセ
ツタブルアツプダウンカウンタCT2の計数値以下
である時、すなわち被試験計器の誤差が許容誤差
範囲にある時、数値比較回路CP3の出力はハイレ
ベルであるから、インバータIo2の出力はローレ
ベルとなり、トランジスタr2は導通されず、発光
ダイオードPD2は点灯しない。数値比較回路CP4
の出力はローレベルであるから、トランジスタ
Tr3は導通されず、発光ダイオードPD3は点灯し
ないが、インバータIo3と、開成されたアンドゲ
ートG9を介してハイレベルの信号がトランジス
タTr1を導通するため、誤差が許容範囲内にある
ことを表示する発光ダイオードPD1が点灯する。
カウンタCT5の計数値が、プリセツタブルアツ
プダウンカウンタCT2の計数値すなわち許容しう
る上限パルス数より大きい時、数値比較回路
CP3，CP4の出力はともにハイレベルである。数
値比較回路CP3からのハイレベルの信号は、イン
バータIo2で反転され、トランジスタr2を導通させ
ないので、発光ダイオードPD2は点灯しない。ま
た数値比較回路CP4からのハイレベルの信号は、
インバータIo3で反転され、アンドゲートG9を閉
成するので、トランジスタTr1は導通されず、発
光ダイオードPD1は点灯しないが、一方トランジ
スタTr3を導通するので、負の許容誤差範囲をオ
ーバーしていることを表示する発光ダイオード
PD3が点灯する。
プダウンカウンタCT2の計数値すなわち許容しう
る上限パルス数より大きい時、数値比較回路
CP3，CP4の出力はともにハイレベルである。数
値比較回路CP3からのハイレベルの信号は、イン
バータIo2で反転され、トランジスタr2を導通させ
ないので、発光ダイオードPD2は点灯しない。ま
た数値比較回路CP4からのハイレベルの信号は、
インバータIo3で反転され、アンドゲートG9を閉
成するので、トランジスタTr1は導通されず、発
光ダイオードPD1は点灯しないが、一方トランジ
スタTr3を導通するので、負の許容誤差範囲をオ
ーバーしていることを表示する発光ダイオード
PD3が点灯する。
このように、本実施例を用いると、電力−周波
数変換手段に誤差があつても、その誤差を補正
し、誘導形電力量計１を設置したままで、誘導形
電力量計１の誤差が許容範囲内にあるか、正の許
容誤差範囲をオーバーしているか、負の許容誤差
範囲をオーバーしているかを調べることができ
る。
数変換手段に誤差があつても、その誤差を補正
し、誘導形電力量計１を設置したままで、誘導形
電力量計１の誤差が許容範囲内にあるか、正の許
容誤差範囲をオーバーしているか、負の許容誤差
範囲をオーバーしているかを調べることができ
る。
なお、本実施例では許容しうる上限パルス数と
上限パルス数を、プリセツタブルアツプダウンカ
ウンタCT1，CT2を用いて計数したが、電力−周
波数変換手段の誤差が０とした時の許容しうる上
限パルス数、下限パルス数は、数値設定器DS3の
設定値に数値設定器DS4の設定値を加減して求め
られる値であるから、プリセツタブルアツプダウ
ンカウンタCT1，CT2のかわりにこれらの値を直
接設定する数値設定器を二つ設けて、これらの設
定値を電力−周波数変換手段の誤差に応じて補正
して許容しうる上限パルス数、下限パルス数を求
めることも可能である。
上限パルス数を、プリセツタブルアツプダウンカ
ウンタCT1，CT2を用いて計数したが、電力−周
波数変換手段の誤差が０とした時の許容しうる上
限パルス数、下限パルス数は、数値設定器DS3の
設定値に数値設定器DS4の設定値を加減して求め
られる値であるから、プリセツタブルアツプダウ
ンカウンタCT1，CT2のかわりにこれらの値を直
接設定する数値設定器を二つ設けて、これらの設
定値を電力−周波数変換手段の誤差に応じて補正
して許容しうる上限パルス数、下限パルス数を求
めることも可能である。
本実施例においては、投受光器６が本発明の光
学的回転数検出手段に、ワニ口クリツプ２が電圧
取出手段に、電力−周波数変換回路WFとプログ
ラマブル分周回路DVと数値設定器DS1が電力−
周波数変換手段に、数値設定器DS2が回転数設定
手段に、カウンタCT5がカウンタ手段に、プリセ
ツタブルアツプダウンカウンタCT1，CT2、カウ
ンタCT4、数値比較回路CP2、数値設定器DS3，
DS4、アンドゲートG5，G6、インバータIo1が限
界パルス数設定手段に、数値比較回路CP3，CP4、
発光ダイオードPD1〜PD3、トランジスタTr1〜
Tr3、インバータIo1，Io3、アンドゲートG9が判定
手段に、数値設定器DS5、マスター誤差設定用符
号器９、カウンタCT6、数値比較回路CP5、三入
力アンドゲートG3、ナンドゲートG4、アンドゲ
ートG7オアゲートG3がマスター誤差補正手段に、
それぞれ相当する。
学的回転数検出手段に、ワニ口クリツプ２が電圧
取出手段に、電力−周波数変換回路WFとプログ
ラマブル分周回路DVと数値設定器DS1が電力−
周波数変換手段に、数値設定器DS2が回転数設定
手段に、カウンタCT5がカウンタ手段に、プリセ
ツタブルアツプダウンカウンタCT1，CT2、カウ
ンタCT4、数値比較回路CP2、数値設定器DS3，
DS4、アンドゲートG5，G6、インバータIo1が限
界パルス数設定手段に、数値比較回路CP3，CP4、
発光ダイオードPD1〜PD3、トランジスタTr1〜
Tr3、インバータIo1，Io3、アンドゲートG9が判定
手段に、数値設定器DS5、マスター誤差設定用符
号器９、カウンタCT6、数値比較回路CP5、三入
力アンドゲートG3、ナンドゲートG4、アンドゲ
ートG7オアゲートG3がマスター誤差補正手段に、
それぞれ相当する。
以上説明したように、本発明は、被試験計器の
円板回転数を光学的に研修する光学的回転数検出
手段と、被試験計器の電圧端子に着脱自在に接続
され、電圧を取り出す電圧取出手段と、負荷回路
に着脱自在に取り付けられ、負荷電流を検出する
分割形変流器と、電圧取出手段により取り出され
た電圧と分割形変流器により検出された負荷電流
とから、電力に比例した周波数のパルスを発生す
る電力−周波数変換手段と、試験に必要な被試験
計器の円板回転数を設定する回転数設定手段と、
前記設定回転数を被試験計器の円板が回転する間
に電力−周波数変換手段が発生するパルス数を計
数するカウンタ手段と、許容誤差範囲内にある被
試験計器の円板が前記設定回転数を回転する間
に、電力−周波数変換手段が発生するパルス数の
上限値及び下限値を設定する限界パルス数設定手
段と、前記カウンタ手段のパルス数が限界パルス
数算定手段による上限値と下限値との間にはいつ
ているかどうかを判定する判定手段と、前記限界
パルス数設定手段による上限値を、前記電力−周
波数変換手段の誤差に応じて補正するマスター誤
差補正手段とを備え、以て、光学的回転数検出手
段、電圧取出手段及び分割形変流器により設置状
態のままの誘導形電力量計から試験に必要なデー
タを得るようにし、パルス数の計数及び比較とい
う単純なパルス処理により試験を行うようにし、
更に限界パルス数設定手段により設定される上限
値、下限値の数値補正により電力−周波数変換手
段の誤差を０にするようにしたから、誘導形電力
量計を設置した状態のまま試験することができ、
コストダウンを図ることができ、しかも内蔵する
電力−周波数変換手段の誤差を、装置個々に簡単
に補正することができる。これにより、製作段階
では、電力−周波数変換手段の誤差を測定してお
くだけでよくなり、一層のコストダウンを図るこ
とができる。
円板回転数を光学的に研修する光学的回転数検出
手段と、被試験計器の電圧端子に着脱自在に接続
され、電圧を取り出す電圧取出手段と、負荷回路
に着脱自在に取り付けられ、負荷電流を検出する
分割形変流器と、電圧取出手段により取り出され
た電圧と分割形変流器により検出された負荷電流
とから、電力に比例した周波数のパルスを発生す
る電力−周波数変換手段と、試験に必要な被試験
計器の円板回転数を設定する回転数設定手段と、
前記設定回転数を被試験計器の円板が回転する間
に電力−周波数変換手段が発生するパルス数を計
数するカウンタ手段と、許容誤差範囲内にある被
試験計器の円板が前記設定回転数を回転する間
に、電力−周波数変換手段が発生するパルス数の
上限値及び下限値を設定する限界パルス数設定手
段と、前記カウンタ手段のパルス数が限界パルス
数算定手段による上限値と下限値との間にはいつ
ているかどうかを判定する判定手段と、前記限界
パルス数設定手段による上限値を、前記電力−周
波数変換手段の誤差に応じて補正するマスター誤
差補正手段とを備え、以て、光学的回転数検出手
段、電圧取出手段及び分割形変流器により設置状
態のままの誘導形電力量計から試験に必要なデー
タを得るようにし、パルス数の計数及び比較とい
う単純なパルス処理により試験を行うようにし、
更に限界パルス数設定手段により設定される上限
値、下限値の数値補正により電力−周波数変換手
段の誤差を０にするようにしたから、誘導形電力
量計を設置した状態のまま試験することができ、
コストダウンを図ることができ、しかも内蔵する
電力−周波数変換手段の誤差を、装置個々に簡単
に補正することができる。これにより、製作段階
では、電力−周波数変換手段の誤差を測定してお
くだけでよくなり、一層のコストダウンを図るこ
とができる。
第１図は本発明の一実施例を示すブロツク図、
第２図は第１図の実施例における信号状態を表し
た図である。 １……誘導形電力量計、２……ワニ口クリツ
プ、４……分割形変流器、５……円板、６……投
受光器、９……マスター誤差設定用符号器、WF
……電力−周波数変換回路、DV……プログラマ
ブル分周回路、CT1，CT2……プリセツタプルア
ツプダウンカウンタ、CT3〜CT6……カウンタ、
DS1〜DS5……数値設定器、CP1〜CP5……数値比
較回路、PD1〜PD3……発光ダイオード、Tr1〜
Tr3……トランジスタ、Io1〜Io3……インバータ、
G3……三入力アンドゲート、G4……ナンドゲー
ト、G5〜G7，G9……アンドゲート、G8……オア
ゲート。
第２図は第１図の実施例における信号状態を表し
た図である。 １……誘導形電力量計、２……ワニ口クリツ
プ、４……分割形変流器、５……円板、６……投
受光器、９……マスター誤差設定用符号器、WF
……電力−周波数変換回路、DV……プログラマ
ブル分周回路、CT1，CT2……プリセツタプルア
ツプダウンカウンタ、CT3〜CT6……カウンタ、
DS1〜DS5……数値設定器、CP1〜CP5……数値比
較回路、PD1〜PD3……発光ダイオード、Tr1〜
Tr3……トランジスタ、Io1〜Io3……インバータ、
G3……三入力アンドゲート、G4……ナンドゲー
ト、G5〜G7，G9……アンドゲート、G8……オア
ゲート。
Claims (1)
- １ 被試験計器の円板回転数を光学的に検出する
光学的回転数検出手段と、被試験計器の電圧端子
に着脱自在に接続され、電圧を取り出す電圧取出
手段と、負荷回路に着脱自在に取り付けられ、負
荷電流を検出する分割形変流器と、電圧取出手段
により取り出された電圧と分割形変流器により検
出された負荷電流とから、電力に比例した周波数
のパルスを発生する電力−周波数変換手段と、試
験に必要な被試験計器の円板回転数を設定する回
転数設定手段と、前記設定回転数を被試験計器の
円板が回転する間に電力−周波数変換手段が発生
するパルス数を計数するカウンタ手段と、許容誤
差範囲内にある被試験計器の円板が前記設定回転
数を回転する間に、電力−周波数変換手段が発生
するパルス数の上限値及び下限値を設定する限界
パルス数設定手段と、前記カウンタ手段のパルス
数が限界パルス数設定手段による上限値と下限値
との間に入つているかどうかを判定する判定手段
と、前記限界パルス数設定手段による上限値と下
限値を、前記電力−周波数変換手段の誤差に応じ
て補正するマスター誤差補正手段とを備えた誘導
形電力量計試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21383182A JPS59104576A (ja) | 1982-12-08 | 1982-12-08 | 誘導形電力量計試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21383182A JPS59104576A (ja) | 1982-12-08 | 1982-12-08 | 誘導形電力量計試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59104576A JPS59104576A (ja) | 1984-06-16 |
| JPH0321076B2 true JPH0321076B2 (ja) | 1991-03-20 |
Family
ID=16645745
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21383182A Granted JPS59104576A (ja) | 1982-12-08 | 1982-12-08 | 誘導形電力量計試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59104576A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59126972A (ja) * | 1983-01-10 | 1984-07-21 | Osaki Denki Kogyo Kk | 誘導形電力量計試験装置 |
| JPS6154474A (ja) * | 1984-08-25 | 1986-03-18 | Fuji Electric Co Ltd | 電力量計の試験装置 |
| JPS61126485A (ja) * | 1984-11-22 | 1986-06-13 | Toshiba Corp | 誤差測定装置 |
| JPS61187423U (ja) * | 1985-05-14 | 1986-11-21 | ||
| JPH086305Y2 (ja) * | 1988-10-11 | 1996-02-21 | 園田計器工業株式会社 | 電力量計用現場誤差測定器 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5763461A (en) * | 1980-10-02 | 1982-04-16 | Nippon Denki Keiki Kenteishiyo | Device for testing watermeter |
-
1982
- 1982-12-08 JP JP21383182A patent/JPS59104576A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59104576A (ja) | 1984-06-16 |
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