JPS59104575A - 誘導形電力量計試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、需要家に既に取り付ゆられている誘導形電力
量計を試験する携帯用の試験装置に関するものである。

従来、誘導形電力量計の試験装置は、日本電気計器検定
所あるいは製造工場において試験を行う形のものに限ら
れていた。従って、いったん誘導形電力量計を実際に設
置し、使用を開始した後に、需要家等が、該誘導形電力
量計の作動状態に異常を認めた場合、試験を行うために
は、該誘導形電力量計を設置状態より取りはずし、日本
電気計器検定所あるいは製造工場等、試験装置の設置さ
れた場所に持ってゆく必要があるという問題点が存在し
ていた。

本発明の目的は、上述した問題点を解決し、誘導形電力
量計を設置した状態のまま試験することができる、携帯
用の誘導形電力量計の試験装置を提供することである。

この目的を達成するために、本発明は、被試験計器の円
板回転数を光学的に検出する光学的回転数検出手段と、
被試験計器の電圧端子から電圧を取り出す電圧取出手段
と、負荷回路に着脱自在に取り付けられ、負荷電流を検
出する電流検出手段と、電圧取出手段により取り出され
た電圧と電流検出手段により検出された負荷電流とから
、電力に比例し、ｋ周波数のパルスを発生する電力−周
波数変換手段と、試験に必要な被試験計器の円板回転数
を設定する回転数設定手段と、前記設定回転数を被試験
計器の円板が回転する間に電力−周波数変換手段が発生
するパルス数を計数するカウンタ手段と、許容誤差範囲
内にある被試験計器の円板が前記設定回転数を回転する
間に、電力−周波数変換手段が発生するパルス数の上限
値及び下限値を設定する限界パルス数設定手段と、前記
カウンタ手段のパルス数が限界パルス数設定手段による
上限値と下限値との間に入っているかどうかを判定する
判定手段とを備えたものである。

以下、本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する
。

第１図は、本発明の一実施例を示すブロック図である。

また、第２図は、第１図に示された実施例の各部におけ
る信号の状態を示して（する。

まず、本実施例によって誘導形電力量計１の試験を行う
手順を説明する。第１に、誘導形電力量計１の電圧端子
（図示せず）に電圧を取り出すためのワニロクリップ２
を取り付け、負荷側電線３に負荷電流を検出するための
分割形変流器４を取り付ける。ここで分割形の変流器を
用いるのは、負荷側電線３を切ることなく負荷回路に着
脱自在に取り付けることが可能なためである。次に誘導
形電力量計１に、円板５０回転数を光学的に検出する投
受光器６をセットする。本実施例においてはこの投受光
器６は、円板５に投光部より投光し、円板５上の指標７
に投光された時の反射光の変化を受光部で検出して、円
板５が１回転するごとに１パルス出力するものを示した
が、他に、円板５上に、軸８を中心に対称に設けられた
二つのクリープホールな投光部及び受光部により検出す
る構造のものなども使用可能である。次に、数値設定器
Ｄ　Ｓ　＋に誘導形電力量計１の計器定数を設定し、数
値設定器ＤＳ２に試験に必要な円板５０回転数を設定す
る。試験は、この設定された回転数だけ円板５が回転す
る間の誘導形電力量計１の誤差を検出する形で行われ、
この回転数は、円板５００回転らを考慮に入れて、１０
回前後とするのが望ましい。さらに、数値設定器ＤＳ３
に、被試験計器である誘導形電力量言１１が誤差０であ
る時に、数値設定器ＤＳ、に設定された回転数だけ円板
５が回転する間にプログラマブル分周回路ＤＶが出力す
るパルスの数を設定する。また、数値設定器ＤＳ４に、
被試験計器の許容しうる誤差（％）を数値設定器ＤＳｓ
に設定されたパルス数に乗じただけのパルス数を設定す
る。以上で試験の準備段階の手順は終わりであり、試験
スタート用スイッチ（図示せず）をオンすることにより
試験動作が開始される。

次に、試験動作の順に従って本実施例の構造、機能を説
明する。まず、試験スタート用スイッチ（図示せず）の
オンにより、スタート信号Ｐａがパルス信号発生回路Ｐ
Ｇに入力する。これによってパルス信号発生回路ＰＧは
、すぐに単独パルス信号Ｐ１を端子Ｔ１から出力し、あ
る間隔をおいて２パルス目の単独パルス信号Ｐ１′を端
子′ｒ２から出力する。単独パルス信号Ｐ１は、オアゲ
ー）Ｇｌ及びアントゲ−）Ｇ２に入力する。また、単独
パルス信号ＰＩは抵抗Ｒ１とコンデンサＣにより構成さ
れる遅延回路により遅延され、信号Ｐ２としてオアゲー
）Ｇｌ及びアンドゲートＧ２に入力する。これにより、
まずオアゲートＧ１からノ・イレベルの信号Ｐ３が出力
され、グリセツタプルダウンカウンタＣＴ、及びプリセ
ッタプルアップカウンタＣＴ２の書込み準備信号入力端
子ＰＳに入力する。さらに少し遅れてアンドゲートＧ２
からノ・イレベルの信号Ｐ４が出力され、プリセツタブ
ルダウンカウンタＣＴ、及びプリセッタプルアップカウ
ンタＣＴ２の書込み信号入力端子ＣＬに入力する。グリ
セツタプルダウンカウンタＣＴ、及びプリセッタプルア
ップカウンタＣｒｔは、誤動作防止のため、書込み準備
信号が入力している間に書込み信号が入力した時のみ、
数値設定器ＤＳ、に設定された数値を書込み記憶し、以
後計数すべきパルスが入力端子ＩＮに入力するたびに、
プリセッタブルダウンカウンタＣＴ、は減算、プリセッ
タプルアップカウンタＣＴ２は加算してゆくものである
。したがって、信号Ｐ３及び信号Ｐ４の入力によって、
数値設定器ＤＳ３に設定された数値が書込み記憶される
。

また、単独パルス信号Ｐ、は、カウンタＣＴ５、ＣＴ４
、Ｃ’Ｌをリセットし、計数値をＯにする。

数値比較回路ＣＰ、は、カウンタＣＴ３の計数値が数値
設定器ＤＳ２の設定値と等しくなった時にノ・イレペル
の信号を出力するものであり、数値比較回路ＣＰ、は、
カウンタＣＴ４の計数値が数値設定器ＤＳ４の設定値と
等しくなった時にノ・イレベルの信号を出力するもので
あるから、この時点での両者の出力はローレベルである
。また、数値比較回路ＣＰ３は、カウンタＣＴｓの計数
値がプリセッタブルダウンカウンタＣＴ、の計数値より
大キクナッた時にノ・イレペルの信号を出すものであり
、数値比較回路ＣＰ４は、カウンタＣＴ５の計数値がプ
リセッタプルアップカウンタＣＴ、の計数値より大きく
なった時にノ・イレベルの信号を出すものであるから、
この時点での両者の出力もローレベルである。数値比較
回路ＣＰ２からのローレベルの信号は、インノく一夕Ｔ
ｒｌｌにより反転されてアントゲ−）　Ｇｓ　、Ｇ４を
開成する。また、数値比較回路ＣＰｓからのローレベル
の信号は、アントゲ−）Ｇ５を閉成するので、トランジ
スタＴｒｌは導通されず、発光ダイオードＰＤＩは点灯
しないが、インバータＩｒ、２により反転され、トラン
ジスタ′ｒｒ２を導通するので、電源電圧＋Ｖの供給に
より発光ダイオードＰＤ２が点灯する。この点灯は、動
作が開始されたことの確認となる。

なお数値比較回路ＣＰ４からのローレベルの信号は、ト
ランジスタｌ、を導通しないので、発光ダイオードＰＤ
３は点灯しない。

次いで、２パルス目の単独パルス信号Ｐ］が端子Ｔ、か
ら出力され、アンドゲートＧ６　、Ｇ、制御用のＲＳフ
リップフロップＦＦのセット入力端子Ｓに入力する。こ
れにより、ＲＳフリッグフロップＦＦの出力はハイレベ
ルとなり、アントゲ）　Ｇａ　、Ｇｔを開成する。した
がって開成されたアンドゲートＧ６を介して、投受光器
６かもの出力信号がカウンタＣＴ、に入力し、カウンタ
ｃＴ。

は誘導形電力量計１の円板５０回転数を計数しはじめる
。また、開成されたアンドゲートＧ７、Ｇｓ　、　Ｇ４
を介して、プログラマブル分周回路ＤＶからの出力信号
がカウンタｃＴ３、ＣＴｓ、プリセッタブルダウンカウ
ンタＣ’ｒ＋、プリセッタプルアップカウンタＣＴ２に
入力され、それぞれが計数を開始する。なお、プログラ
マブル分周回路ＤＶは、被試験計器により計器定数が異
なるため電力に比例した周波数のパルスを出力する電力
−周波数変換回路Ｗ　Ｉ”から被試験計器の円板が一回
転する間に出力されるパルス数が被試験計器によってま
ちまちになるので、数値設定器ＤＳ、に設定した計器定
数値によって分周比を設定し、被試験計器の円板が一回
転する間に出力するパルス数が計器定数にかかわらず一
定の範囲の値となるようにするものである。

プリセッタブルダウンカウンタＣＴ、、プリセッタブル
アンプカウンタＣＴ２、カウンタＣＴ、、ＣＴ４．ＣＴ
、が計数を開始した後、ますカウンタＣＴ４の計数値が
数値設定器ＤＳ、の設定値と等しくなって、数値比較回
路ＣＰ２の出力がノ・イレペルとなる。このハイレベル
の信号はインバータ■。で反転されてアントゲ−）　Ｇ
３、Ｇ４を閉成する。

したがって、この時点でプリセッタブルダウンカウンタ
ＣＴ＋　、プリセッタブルアンプカウンタＣＴ、は計数
を停止する。この時点でグリセツタプルダウンカウンタ
ＣＴ、は、数値設定器１）Ｓ３の設定値と数値設定器Ｄ
Ｓ４の設定値との差、すなわち被試験計器の誤差がＯの
時に、設定された回転数だけ円板５が回転する間にプロ
グラマブル分周回路ＤＶが出力するパルス数と、許容し
うる最大誤差のパルス数の差、換言すれば許容し５る下
限パルス数を計数している。またプリセクタプルアップ
カウンタＣＴ２は、数値設定器ＤＳ３の設定値と数値設
定器Ｄ　Ｓ　４の設定値との和、すなわち許容しうる上
限パルス数を計数している。

次いで、カウンタＣＴ３の計数値が数値設定器ＤＳ、の
設定値と等しくなって、数値比較回路ＣＰ１の出力がハ
イレベルとなる。このハイレベルの信号がＲＳフリップ
７０ツブＦＦのリセット入力端子Ｒに入力するから、Ｉ
ｔ　ＳフリップフロップＦＦの出力がローレベルとなり
、アントゲ）　Ｇａ　、Ｇ７を閉成する。したがって、
この時点でカウンタＣＴｓ、ＣＴ４、ＣＴｓが計数を停
止する。

この時点までにカウンタＣＴ５は、数値設定器ＤＳ、に
設定された回転数だけ円板５が回転する間に、誤差Ｏで
ある電力−周波数変換回路ＷＦを経てプログラマブル分
周回路ＤＶから出力されるパルス数を計数している。し
たがって、被試験計器の誤差がＯであれば、このパルス
数は数値設定器ＤＳ３に設定された数値と等しい。もし
被試験計器が負の誤差をもつなら、円板５が設定された
回転数だけ回転するに要する時間は被試験計器の誤差が
Ｏの時に比べ長くなるので、その間にカウンタＣＴ、の
計数するパルス数は数値設定器ＤＳ、の設定値よりも多
くなる。逆に被試験計器が正の誤差をもつなら、カウン
タＣＴ。

の計数するパルス数は数値設定器ＤＳ３の設定値よりも
少なくなる。したがって、カウンタＣＴ。

の計数値が数値設定器ＤＳｓの設定値を上まわった場合
は、被試験計器は負の誤差をもち、下まわった場合は、
正の誤差をもつことがわかる。

カウンタＣＴ５の計数値が、プリセッタブルダウンカウ
ンタＣ’Ｌの計数値すなわち許容しうる下限パルス数よ
り小さい時、数値比較回路ＣＰ、、Ｃ１０の出力はとも
にローレベルである。数値比較回路ＣＰ、からのローレ
ベルの信号は、アンドゲートＧ、を閉成するため、トラ
ンジスタＴｒ＋は導通されず、被試験計器の誤差が許容
範囲内にあランジスタＴ７．を導通するので、正の許容
誤差範囲をオーバーしていることを表示する発光ダイオ
ードＰＤｔが点灯する。また、数値比較回路ＣＰ４から
のローレベルの信号は、トランジスタＴｒ３を導通しな
いので、負の許容誤差範囲をオーバーしていることを表
示する発光ダイオードＰＤ。

は点灯しない。

カウンタＣＴａの計数値が、プリセッタブルダウンカウ
ンタＣＴ、の計数値以上であり、プリセクタプルアップ
カウンタＣＴｔの計数値以下である時、すなわち被試験
言１器の誤差が許容誤差範囲にある時、数値比較回路Ｃ
Ｐ、の出力はハイレベルであるから、インバータし、の
出力はローレベルとなり、トランジスタ１２は導通され
ず、発光ダイオードＰＤ２は点灯しない。数値比較回路
ＣＰ４の出力はローレベルであるから、トランジスタ′
ｒｒ３は導通されず、発光ダイオードＰＤｓは点灯しな
（・が、インバータＩｎ３と、開成されたアンドゲート
Ｇ、を介して）・イレベルの信号がトランジスターを導
通するため、誤差が許容範囲内にあることを表示する発
光ダイオードＰＤ＋が点灯する。

カウンタＣＴ、の計数値が、プリセッタブルアップカウ
ンタＣｒｔの計数値すｌヨわち許容しうる上限パルス数
より大きい時、数値比較回路ＣＰｓ、Ｃ１０の出力はと
もにノ・イレベルである。数値比較回路ＣＰｓからのノ
・イレペルの信号はインノく−タ■、で反転され、トラ
ンジスタｂを導通させないので、発光ダイオードＰｌｈ
は点灯しない。また数値比較回路ＣＰ４からのノ・イレ
ペルの信号は、インバータＩＪ１３で反転されアントゲ
−）Ｇｓを閉成するので、トランジスタ′ｒｒ１は導通
されず、発光ダイオードＰＤ＋は点灯しないが、一方ト
ランジスタＴｒｓを導通するので、負の許容誤差範囲を
オーバーしていることを表示する発光ダイオードＰＤｓ
が点灯する。

このように、本実施例を用いると、誘導形電力量計１を
設置したままで、誤差が許容範囲内にあるか、正の許容
誤差範囲をオーバーしているか、負の許容誤差範囲をオ
ーバーしているかを調べることができる。

なお、本実施例では許容しうる上限パルス数と下限パル
ス数をプリセッタブルダウンカウンタＣｒｔ及びプリセ
ッタプルアップカウンタＣＴ２を用いて計数したが、許
容しうる上限パルス数、下限パルス数は数値設定器１）
８３の設定値に数値設定器ＤＳ４の設定値を加減して求
められる値であるから、プリセッタブルダウンカウンタ
ＣＴ。

及びプリセッタブルアップカウンタＣＴ２のかわりにこ
れらの値を設定する数値設定器を二つ設けて、これらの
設定値とカウンタＣＴ５の計数値を比較することによっ
て被試験計器の誤差を調べることもできる。

本実施例においては、投受光器６が本発明の光学的回転
数検出手段に、ワニロクＩＪ　ンプ２が電圧取出手段に
、分割形変流器４が電流検出手段に、電力−周波数変換
回路ＷＦとプログラマブル分周回路ＤＶと数値設定器Ｄ
Ｓ＋が電力−周波数変換手段に、数値設定器ＤＳ２が回
転数設定手段に、カウンタＣＴ、がカウンタ手段に、プ
リセッタブルダウンカウンタＣＴ＋、プリセッタブルア
ップカウンタＣＴ２、カウンタＣＴ４、数値比較回路Ｃ
ｒｔ、数値設定器ＤＳ３、ＤＳいアントゲ−）　Ｇ３、
ＧいインバータＴ、、１が限界パルス数設定手段に、数
値比較回路ＣＰｓ、ＣＦ２、発光ダイオードＰＤＩ−″
−Ｐ　Ｄｓ、トランジスタＴ９〜ｌ１、インバータＬ３
、ｌｌ１３、アンドゲートＧ、が判定手段に、それぞれ
相当する。

以上説明したように、本発明は、被試験計器の円板回転
数を光学的に検出する光学的回転数検出手段と、被試験
計器の電圧端子から電圧を取り出す電圧取出手段と、負
荷回路に着脱自在に取り付けられ、負荷電流を検出する
電流検出手段と、電圧取出手段により取り出された電圧
と電流検出手段により検出された負荷電流とから、電力
に比例した周波数のパルスを発生する電力−周波数変換
手段と、試験に必要な被試験計器の円板回転数を設定す
る回転数設定手段と、前記設定回転数を被試験計器の円
板が回転する間に電力−周波数変換手段が発生するパル
ス数を計数するカウンタ手段と、許容誤差範囲内にある
被試験計器の円板が前記設定回転数を回転する間に、電
力−周波数変換手段が発生するパルス数の上限値及び下
限値を設定する限界パルス数設定手段と、珀記カウンタ
手段のパルス数が限界パルス数算定手段による上限値と
下限値との間にはいっているかどうかを判定する判定手
段とを備えたものであるから、誘導形電力量計を設置し
た状態のまま試験することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図は
第１図の実施例における信号状態を表した図である。 １・・・誘導形電力量計、２・・・ワニロクリップ、４
・・・分割形変流器、５・・・円板、６・・・投受光器
、ＷＦ・・・電力−周波数変換回路、ＤＶ・・・プログ
ラマブル分周回路、ＣＴ、・・・プリセッタブルダウン
カウンタ、ｃ’ｔ”、、・・・プリセッタプルアップカ
ウンタ、ＣＴ３〜ＣＴ、・・・カウンタ、ＤＳ、〜ＤＳ
４・・・数値設定器、ＣＰ＋〜ＣＰ、・・・数値比較回
路、ＰＤ、〜ＰＤ３ｒ７Ｌイ ・・・発光ダイオード、′ｒ１．〜Ｔ、−）ランジスタ
、−特許出願人 大崎電気工業株式会社 代　　　理　　　人 中　　　　村　　　　　　　捻 第１頁の続き ０発　明　者　鈴木敏行 川口市本町２丁目２−１５−５０９ ０発　明　者　河西紀へ 富士見型諏訪２下目１−２゜ ０発　明　者　古谷章 板戸市末広町１２−８−５０２ ０発　明　者　金子政弘 東京都大田区下丸子２丁目６番 ２２号

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、被試験計器の円板回転数を光学的に検出する光学的
   回転数検出手段と、被試験計器の電圧端子から電圧を取
   り出す電圧取出手段と、負荷回路に着脱自在に取り付け
   られ、負荷電流を検出する電流検出手段と、電圧取出手
   段により取り出された電圧と電流検出手段により検出さ
   れた負荷電流から、電力に比例した周波数のパルスを発
   生する電力−周波数変換手段と、試験に必要な被試験計
   器の円板回転数を設定する回転数設定手段と、前記設定
   回転数を被試験計器の円板が回転する間に電力−周波数
   変換手段が発生するパルス数を計数するカウンタ手段と
   、許容誤差範囲内にある被試験計器の円板が前記設定回
   転数を回転する間に、電力−周波数変換手段が発生する
   パルス数の上限値及び下限値を設定する限界パルス数設
   定手段と、前記カウンタ手段のパルス数が限界パルス数
   設定手段による上限値と下限値との間に入っているかど
   うかを判定する判定手段とを備えた誘導形電力量計試験
   装置。