JPH03214020A - 光フアイバジヤイロにおける自動位相調整回路 - Google Patents
光フアイバジヤイロにおける自動位相調整回路Info
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- JPH03214020A JPH03214020A JP1005590A JP1005590A JPH03214020A JP H03214020 A JPH03214020 A JP H03214020A JP 1005590 A JP1005590 A JP 1005590A JP 1005590 A JP1005590 A JP 1005590A JP H03214020 A JPH03214020 A JP H03214020A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
この発明は位相変調方式の光ファイバジャイロにおいて
、圧電素子の温度特性による位相変化を、同期検波回路
の同期信号の中に取り込んで、位相変化による信号強度
の変動を打ち消すようにした光ファイバジャイロに関す
る。
、圧電素子の温度特性による位相変化を、同期検波回路
の同期信号の中に取り込んで、位相変化による信号強度
の変動を打ち消すようにした光ファイバジャイロに関す
る。
光ファイバジャイロが角速度Ω、で回転していると、左
廻り光と右廻り光の位相差ΔθはCλ によって求められる。とこでLはファイバコイルのファ
イバ長、aはファイバコイルの半径、cli光速、λは
真空中の光の波長である。 移送変調方式の場合、ファイバコイルの一端ノ近傍に位
相変調器を設け、ここを通る光の位相を角周波数Ωで変
調する。ファイバコイルの中を通過するのに要する時間
をτとすると であるが、左廻り光と右廻り光とで変調を受ける時刻が
τだけ異なる。このため左廻り光と右廻り光の干渉光の
強度は角周波数Ωで変動する部分を含み、これはΩの高
調波成分に展開する事ができる。 位相変調の振幅をbとする。 左廻り光の波動を (■ とする。ωは光の角振動数である。右廻り光の波動を (2) とする。 干渉光の強度はこれらの和の2乗で与えられるので、 これをSとすると、 というようにベラ セル関数Jfl(ξ) によって展開で きる。ここでξは位相変調度すに対してτ ξ= 5in (0 という関係にある。 これらをsin(2m+1)Ωt のキャ リ ア信号を用いて 同期検波すると、 (2i++i)次の奇数次高調波出力成分の大きさが求
まる。偶数次高調波出力成分も同様に求められる。 これから、位相差Δθを求める方法はいくつもある。例
えば基本波Pを2倍高調波Qで割ると、となり、jan
八〇へ分かるので、Δθが求められるこのように除算に
よってΔθを求める事とすれば、光量変動などの影響を
除くことができる。或は基本波Pを4倍高調波Tで割っ
て からΔθを求めることもできる。 このような事は本出願人による。特願平1−57[13
4(E[,1,8,3出願)、特願平1−571ii3
5(H,1,8,3出願)、特願平1−5711i3B
(Hl、8.3出願)、特願平l−37637(H,
1,8,3出願)等に開示されている。
廻り光と右廻り光の位相差ΔθはCλ によって求められる。とこでLはファイバコイルのファ
イバ長、aはファイバコイルの半径、cli光速、λは
真空中の光の波長である。 移送変調方式の場合、ファイバコイルの一端ノ近傍に位
相変調器を設け、ここを通る光の位相を角周波数Ωで変
調する。ファイバコイルの中を通過するのに要する時間
をτとすると であるが、左廻り光と右廻り光とで変調を受ける時刻が
τだけ異なる。このため左廻り光と右廻り光の干渉光の
強度は角周波数Ωで変動する部分を含み、これはΩの高
調波成分に展開する事ができる。 位相変調の振幅をbとする。 左廻り光の波動を (■ とする。ωは光の角振動数である。右廻り光の波動を (2) とする。 干渉光の強度はこれらの和の2乗で与えられるので、 これをSとすると、 というようにベラ セル関数Jfl(ξ) によって展開で きる。ここでξは位相変調度すに対してτ ξ= 5in (0 という関係にある。 これらをsin(2m+1)Ωt のキャ リ ア信号を用いて 同期検波すると、 (2i++i)次の奇数次高調波出力成分の大きさが求
まる。偶数次高調波出力成分も同様に求められる。 これから、位相差Δθを求める方法はいくつもある。例
えば基本波Pを2倍高調波Qで割ると、となり、jan
八〇へ分かるので、Δθが求められるこのように除算に
よってΔθを求める事とすれば、光量変動などの影響を
除くことができる。或は基本波Pを4倍高調波Tで割っ
て からΔθを求めることもできる。 このような事は本出願人による。特願平1−57[13
4(E[,1,8,3出願)、特願平1−571ii3
5(H,1,8,3出願)、特願平1−5711i3B
(Hl、8.3出願)、特願平l−37637(H,
1,8,3出願)等に開示されている。
これまでの説明は理想的な場合であって、受光素子出力
であるセンサ信号と同期検波のためのキャリア信号につ
いて位相の差がないことを前提としている。 ところが実際にはセンサ信号には位相の遅れがある。こ
こで位相の差といっているのは、ファイバフィル中を伝
わる左廻り光、右廻り光の位相差Δθとは違う。 そうではなくて、変調信号に対する位相の遅れからくる
位相の差である。 例えば変調信号の発振器が5in(Ωt)の正弦波を発
生していたとする。圧電素子の内外の電極にこの電圧が
かかって、これが膨縮してファイバの長さが変化する。 こうして位相変調がなされる。これまでの時間遅れがあ
るので1位相変調は5in(Ωt)より遅れる。また受
光素子によって光電変換され増幅器によって増幅される
ので、これらの素子で信号処理を受けるので時間遅れが
ある。 このようなわけで同期検波回路に入る基本波12倍、3
倍、4倍高調波の変調振動分の位相は全て違う。それぞ
れの波動は、 2E= Eg J−Cξ)sinΔθ5in(Ωt+η
t) (9)2Et E2 J2(ξ)cosΔθ
5in(2Ωt+η2) (to)2EI E2
J3(ξ)sinΔθ5in(3Ωt+ηa) (
11)2EIE2 J4(ξ)cosΔθ5in(4Ω
t+η4) (12)というようになる。 同期検波のためのキャリア信号はこれらと位相が合致し
ていなければならない。例えば0式で表される基本波に
対してキャリア信号Pがp=sin (Ωt+ζS
) (ta)であるとすると、同期検波した
出力P(+□、ζ1)はP(11,ζ−)=EIE2
Jl(ξ)slnΔθcos(ζt−1t)(14) となってしまう。C05(ζt−ft)だけ出力が低下
することになる。これはs1nΔθの低下と区別がつか
ないので、Δθの正確な測定ができない。 そこでキャリア信号の位相ζ1、C2、C3、C4を適
当に調節して η1=ζr (i=1− 4)(15)となる
ようにしなければならない。 これは初期設定によって行う事ができる。 しかしさらに問題がある。 ある温度で(15)が成り立つようにキャリア信号の位
相を設定したところで、温度が変わると、センサ信号の
位相η1、η2、η3、η4は変化する。特に圧電素子
の温度による性能の変化が著しいので、これら位相の温
度変化が著しい。 これら位相の温度変化に応じて、キャリア信号の位相ζ
1〜ζ4も変化させなければならない。 温度変動によるセンサ信号の位相変化を検出し同期検波
のキャリア信号の位相を変化させて、常にη1=ζ+(
t=1.・−・・−−−−m=・・)となるようにする
事が本発明の目的である。 もしも温度変化によるセンサ信号の位相の変化が全くラ
ンダムであるとすれば、それは不可能に近い。
であるセンサ信号と同期検波のためのキャリア信号につ
いて位相の差がないことを前提としている。 ところが実際にはセンサ信号には位相の遅れがある。こ
こで位相の差といっているのは、ファイバフィル中を伝
わる左廻り光、右廻り光の位相差Δθとは違う。 そうではなくて、変調信号に対する位相の遅れからくる
位相の差である。 例えば変調信号の発振器が5in(Ωt)の正弦波を発
生していたとする。圧電素子の内外の電極にこの電圧が
かかって、これが膨縮してファイバの長さが変化する。 こうして位相変調がなされる。これまでの時間遅れがあ
るので1位相変調は5in(Ωt)より遅れる。また受
光素子によって光電変換され増幅器によって増幅される
ので、これらの素子で信号処理を受けるので時間遅れが
ある。 このようなわけで同期検波回路に入る基本波12倍、3
倍、4倍高調波の変調振動分の位相は全て違う。それぞ
れの波動は、 2E= Eg J−Cξ)sinΔθ5in(Ωt+η
t) (9)2Et E2 J2(ξ)cosΔθ
5in(2Ωt+η2) (to)2EI E2
J3(ξ)sinΔθ5in(3Ωt+ηa) (
11)2EIE2 J4(ξ)cosΔθ5in(4Ω
t+η4) (12)というようになる。 同期検波のためのキャリア信号はこれらと位相が合致し
ていなければならない。例えば0式で表される基本波に
対してキャリア信号Pがp=sin (Ωt+ζS
) (ta)であるとすると、同期検波した
出力P(+□、ζ1)はP(11,ζ−)=EIE2
Jl(ξ)slnΔθcos(ζt−1t)(14) となってしまう。C05(ζt−ft)だけ出力が低下
することになる。これはs1nΔθの低下と区別がつか
ないので、Δθの正確な測定ができない。 そこでキャリア信号の位相ζ1、C2、C3、C4を適
当に調節して η1=ζr (i=1− 4)(15)となる
ようにしなければならない。 これは初期設定によって行う事ができる。 しかしさらに問題がある。 ある温度で(15)が成り立つようにキャリア信号の位
相を設定したところで、温度が変わると、センサ信号の
位相η1、η2、η3、η4は変化する。特に圧電素子
の温度による性能の変化が著しいので、これら位相の温
度変化が著しい。 これら位相の温度変化に応じて、キャリア信号の位相ζ
1〜ζ4も変化させなければならない。 温度変動によるセンサ信号の位相変化を検出し同期検波
のキャリア信号の位相を変化させて、常にη1=ζ+(
t=1.・−・・−−−−m=・・)となるようにする
事が本発明の目的である。 もしも温度変化によるセンサ信号の位相の変化が全くラ
ンダムであるとすれば、それは不可能に近い。
しかし、幸いな事に温度変動によるセンサ信号の位相変
化には明確なルールがある。それは位相変化が高調波の
次数に比例するという事である。 それであるから、いずれかの次数nの高調波に対して温
度による位相変化を求めれば、他の全ての次数の高調波
に対する位相変化を与える事ができる。 n次高調波の位相変化がη3だとすると、i次高調波の
位相変化η、は η1 = η、 (1G)
で求まる。 まずこの点について説明する。温度変化による位相の変
化をことすると■、(2)のかわりに、E r =
E 2sin C#t −−+ b 5in(Ω(t−
r/2)+ζ))(18) というようになる。ここではある温度に於いて位相調整
の設定がなされていると仮定している。 そうすると奇数次高調波は■のかわりに2EtE 2s
inΔθ(−■)″Jaw++(ξ)sin((2m+
1)(lIt+
化には明確なルールがある。それは位相変化が高調波の
次数に比例するという事である。 それであるから、いずれかの次数nの高調波に対して温
度による位相変化を求めれば、他の全ての次数の高調波
に対する位相変化を与える事ができる。 n次高調波の位相変化がη3だとすると、i次高調波の
位相変化η、は η1 = η、 (1G)
で求まる。 まずこの点について説明する。温度変化による位相の変
化をことすると■、(2)のかわりに、E r =
E 2sin C#t −−+ b 5in(Ω(t−
r/2)+ζ))(18) というようになる。ここではある温度に於いて位相調整
の設定がなされていると仮定している。 そうすると奇数次高調波は■のかわりに2EtE 2s
inΔθ(−■)″Jaw++(ξ)sin((2m+
1)(lIt+
【)1(tS)
となり偶数次高調波は
2 E、+ E 2CO5Δθ(−1)’″J2
.(ξ)sln12m(Ωを十ζ月(20) となる。それぞれ新たに生じた位相差は(2m+1)ζ
、2m(である、つまりこれはn次高調波の位相の変化
は、基本波の位相変化のn傍ということである。これで
(IG)が証明される。 本発明はこのような性質を利用する。例えば基本波、2
倍、3倍、4倍高調波の変調振動分の位相がずれるので
■〜(12)は、 2EI E2 Jl(ξ)sinΔθ51n(Ωt+l
++ζ) (21)2Et E2 J2(ξ)cos
Δθ5in(2Qt + 12+ 2ζ) (22)
2EIE2J3(ξ)s1nΔθ51n(3Ωt+13
+ 3ζ) (23)2E、E2J4(ξ)cos
Δθ5in(4Ωt+ 14+ 4ζ) (24)と
いうようになる。 そこで本発明では、任意の偶数次或は奇数次高調波のひ
とつを選びこれについて位相調整用の同期検波回路を設
けるようにした。 この位相調整用同期検波回路には、センサ信号とその高
調波に対応する次数のキャリア信号を90進ませ或は9
0°遅らせた試験用キャリア信号を入力して同期検波し
、 (a) 90°遅らせた試験用キャリア信号を入力した
時は、その出力Wがある正負の閾値U11U2に対して
(U、>0、C2<O) ■U 1> W > U 2であるときは、各信号検出
用同期検波回路のキャリア信号の位相を変えず■W>U
l>Oであるときは、各信号検出用同期検波回路のキャ
リア信号の位相を高調波の次数に比例して増大させ、 ■O>02>Wであるときは、各信号検出用同期検波回
路のキャリア信号の位相を高調波の次数に比例して減少
させる、 ようにする。 (b) 90’ 進ませた試験用キャリア信号を入力し
た時はその出力Wがある正負の閾値U 、、 U 2に
対して(Ul >O,C2<O) ■U 1> W > U 2であるときは、各信号検出
用同期検波回路のキャリア信号の位相を変えず■W>U
i >Oであるときは、各信号検出用同期検波回路のキ
ャリア信号の位相を高調波の次数に比例して減少させ、 ■O>C2>Wであるときは、各信号検出用同期検波回
路のキャリア信号の位相を高調波の次数に比例して増大
させるようにする。 【作 用】 センサ信号を■〜(12)のように表現し、各高調波の
位相をη1で表す。同期検波のための各高調波のキャリ
ア信号の位相をC1で表す。 成る温度で(15)に示すようにη1=ζ1となるよう
に設定されている。温度変動があれば、センサ信号の位
相η1は、先に証明したように、高調波次数iに比例し
、(1G)式の関係がある。 そこでキャリア信号の位相ζ1も高調波次数iに比例し
て変化させれば良い。このため適当な次数の高調波のキ
ャリア信号の位相ζ1を変動させれば良い。 この時、(18)式と同じようにキャリア信号について
も i ζl= ζ、 (25) が成り立たなければならない。しかしこれは、自動的に
満たされている。なぜならキャリア信号は基本波のキャ
リア信号を2倍、3倍に逓倍して作るか、或は例えば4
倍高調波のキャリア信号を、1/2 、l/4分周して
2倍高調波、基本波のキャリア信号を作るからである。 そうすると、適当な次数(nとする)においてセンサ信
号の位相のずれηゎを求めて、ζ。→ ηn(2[i) というようにζ。をηゎへ収束させれば良い。 ところが位相のずれは、C05(ζゎ−h)というよう
な形で出力に現れるので、
.(ξ)sln12m(Ωを十ζ月(20) となる。それぞれ新たに生じた位相差は(2m+1)ζ
、2m(である、つまりこれはn次高調波の位相の変化
は、基本波の位相変化のn傍ということである。これで
(IG)が証明される。 本発明はこのような性質を利用する。例えば基本波、2
倍、3倍、4倍高調波の変調振動分の位相がずれるので
■〜(12)は、 2EI E2 Jl(ξ)sinΔθ51n(Ωt+l
++ζ) (21)2Et E2 J2(ξ)cos
Δθ5in(2Qt + 12+ 2ζ) (22)
2EIE2J3(ξ)s1nΔθ51n(3Ωt+13
+ 3ζ) (23)2E、E2J4(ξ)cos
Δθ5in(4Ωt+ 14+ 4ζ) (24)と
いうようになる。 そこで本発明では、任意の偶数次或は奇数次高調波のひ
とつを選びこれについて位相調整用の同期検波回路を設
けるようにした。 この位相調整用同期検波回路には、センサ信号とその高
調波に対応する次数のキャリア信号を90進ませ或は9
0°遅らせた試験用キャリア信号を入力して同期検波し
、 (a) 90°遅らせた試験用キャリア信号を入力した
時は、その出力Wがある正負の閾値U11U2に対して
(U、>0、C2<O) ■U 1> W > U 2であるときは、各信号検出
用同期検波回路のキャリア信号の位相を変えず■W>U
l>Oであるときは、各信号検出用同期検波回路のキャ
リア信号の位相を高調波の次数に比例して増大させ、 ■O>02>Wであるときは、各信号検出用同期検波回
路のキャリア信号の位相を高調波の次数に比例して減少
させる、 ようにする。 (b) 90’ 進ませた試験用キャリア信号を入力し
た時はその出力Wがある正負の閾値U 、、 U 2に
対して(Ul >O,C2<O) ■U 1> W > U 2であるときは、各信号検出
用同期検波回路のキャリア信号の位相を変えず■W>U
i >Oであるときは、各信号検出用同期検波回路のキ
ャリア信号の位相を高調波の次数に比例して減少させ、 ■O>C2>Wであるときは、各信号検出用同期検波回
路のキャリア信号の位相を高調波の次数に比例して増大
させるようにする。 【作 用】 センサ信号を■〜(12)のように表現し、各高調波の
位相をη1で表す。同期検波のための各高調波のキャリ
ア信号の位相をC1で表す。 成る温度で(15)に示すようにη1=ζ1となるよう
に設定されている。温度変動があれば、センサ信号の位
相η1は、先に証明したように、高調波次数iに比例し
、(1G)式の関係がある。 そこでキャリア信号の位相ζ1も高調波次数iに比例し
て変化させれば良い。このため適当な次数の高調波のキ
ャリア信号の位相ζ1を変動させれば良い。 この時、(18)式と同じようにキャリア信号について
も i ζl= ζ、 (25) が成り立たなければならない。しかしこれは、自動的に
満たされている。なぜならキャリア信号は基本波のキャ
リア信号を2倍、3倍に逓倍して作るか、或は例えば4
倍高調波のキャリア信号を、1/2 、l/4分周して
2倍高調波、基本波のキャリア信号を作るからである。 そうすると、適当な次数(nとする)においてセンサ信
号の位相のずれηゎを求めて、ζ。→ ηn(2[i) というようにζ。をηゎへ収束させれば良い。 ところが位相のずれは、C05(ζゎ−h)というよう
な形で出力に現れるので、
【。=1.Iの時にこれが極
大となり、制御が難しい。 そこで本発明では、ζ。よりも90°だけ位相を進ませ
るか或は位相を遅らせた試験用キャリア信号を用いる。 これの位相をΣとすると、Σ=ζ。±π/ 2
(27)である。すると、同期検波出力は、cosの
代わりに5in(Σ−ηn)という形で表される。これ
はΣ=η。でOであり、Σ〉η9なら正、Σくη、なら
負になるのでΣ→η、という制御が容易になる。 任意の奇数次、偶数次の高調波について位相調整用同期
検波回路を設ければよいのであるが、ここでは4倍高調
波を例にして説明する。 第1図は基本波P、2倍高調波Q、4倍高調波Tの同期
検波回路出力(a)〜(c)と位相調整用同期検波回路
出力W(d)を示すグラフである。横軸はセンサ信号の
位相η、からキャリア信号の位相ζ1 Σを差し引いた
ものである。横軸が時間でなく位相ずれである事に注意
すべきである。 ここでは位相調整用同期検波回路の試験用キャリア信号
は4倍高調波のキャリア信号より90’ 遅れたもので
ある。(27)式で負号を取る。 出力はcos(it−(I)、cos($2−ζ2)
、C08(14−C4) 、5ln(署、−Σ)である
。 ある温度で1.ηl:ζ1となるように初期設定するの
で、この温度での動作点はそれぞれア、イ、つ、二点と
なる。信号検出用検波回路の出力P1Q、Tは最大であ
り一位相調整用同期検波回路の出力WはOである。 温度変動があって、センサ信号の位相η、が変動したと
する。動作点がオ、力、キ、りというようにずれる。 アオ間の位相のずれをδとすると、イカ間は2δ、ウキ
、エフ間のずれは4δである。 り点での出力WがUlより大きいので、キャリア信号の
位相Σを増大させる。同時に、他のキャリア信号の位相
ζ□、C2、C4も増大する。増大の比率は1/4.1
/2.1である。Wの動作点がケ点に移動する。ここで
もなおW>UtであるのでΣを増大させる。そしてコ点
に至る。 WくOから出発した場合は2反対向きの制御が行われ、
す点に至る。 結局、Wの動作点はサコの間(す点W=U2、コ点W=
U□)に入る。 他のキャリア信号の位相の変動量は、これと同時に行わ
れる。結局、基本波、2倍高調波、4倍高調波の動作点
はア、イ、つ点に戻る事になる。 キャリア信号の位相の変化をΔζ1で表現すると である。 位相調整用同期検波回路の試験用キャリア信号が、4倍
高調波のキャリア信号よりも90°進んでいる場合は第
2図のような関係になる。(27)で正号をとる。 この場合制御の方向が反対になるが、同様に位相のずれ
ζ、はη1に等しくなるように調整される。 【実施例】 第3図は本発明の光ファイバジャイロ自動位相調整回路
の構成図を示す。 クロック発振器1は基準となるクロックパルスを生ずる
発振器である。これの周波数をfとするここには4倍高
調波T、2倍高調波Q1基本波P、位相調整出力Wの位
相制御回路が示されている。 それぞれは、同期式UP/DOWNカウンタ、デジタル
位相制御回路、同期検波回路よりなっている。 そして、CPU2が同期式UP/DOWNカウンタを制
御している。 4倍高調波Tに関する回路は同期式UP/DOWNカウ
ンタ8、デジタル位相制御回路9、同期検波回路10よ
りなり出力Tを与える。同期式UP/DOWNカウンタ
8はクロック発振器1のり・ロックをそのままの周波数
でクロック端子に入力するようになっている。 2倍高調波Tに関する回路は同期式UP/DOWNカウ
ンタ11、デジタル位相制御回路12、同期検波回路1
3よりなる。クロック発振器1のクロックを1/2分周
期3で分周したf/2のクロックをカウンタ11に入力
する。 基本波に関する回路は、同期式U P/D OWNカウ
ンタ14、デジタル位相制御回路15、同期検波回路1
6よりなる。クロック発振器のクロ。 りを1/4分周期で分周したf/4のクロックをカウン
タ14に入力する。 自動位相調整回路は、同期式UP/DOWNカウンタ8
、デジタル位相制御回路5、同期検波回路6、UP/D
OWNカウンタ信号生成部よ信号生成 量期検波回路8.10113.16はセンサ信号をキャ
リア信号によって同期検波するものである。 センサ信号というのは受光素子出力を増幅した信号であ
る。 キャリア信号というのは基本波、2倍、4倍高調波につ
いて、角周波数Ω、2Ω、4Ωと、位相ζ□、ζ2、ζ
4を持つ信号である。デジタル位相制御回路5.9.1
2、ISがこれらの信号を与える。つまり 5in(4Ωt+Σ) (29)sin(4Ωt
+ζ4 ) (90)sin(2Ωt+ζ2)
(31)sin (Ωt′+ζ1) (32
)等の信号を与えるのである。実際にはこれらの回路は
デジタル回路にしてあり時刻tはクロック毎に変化する
。 そして、(27)のように Σ=ζ4±π/ 2 (33)となるように
設定する。ここではΣ=η4−r/zを選んでいる。こ
れらの関係はデジタル位相制御回路6.9の初期設定に
よって与える。 同期検波回路6は、センサ信号のうち 5in(4Ωt+η、 ) (34)を、キャ
リア信号 5in(4Ωt+Σ) (35)によって同
期検波するのでその出力は +sln (η4−Σ) (311i)
となり、第1図に示すような関係になる。 UP/DOWNカウンタ信号生成部7は■U 2 <
W < U 1の特 番カウンタをディスエーブルする。っまりカウンタ8.
11.14のカウント値は不変である。 ■O<Ul <Wの時 各カウンタ8.11.14に対してカウントアツプする
ように指示する。これはカウンタのUP/DOWN入力
に1”を入力することによってなされる。 各カウンタは同時にカウントアツプするが、基本波は1
74分周したf/4のクロックを、2倍波は172分周
したf/2のクロックを、4倍波はそのままのfのクロ
ックを入力するので、カウント値の変化は182:4で
ある。 カウントアツプすると各次数の高調波のキャリアの位相
η1、η2、η4、Σが増大する。 するとWが減少してゆくことになり、W=UIになるま
でカウントアツプが持続する。 ■W<U2 <Oの時 各カウンタ8.11.14に対してカウントダウンする
ように指示する。 基本波、2倍波、4倍波のカウント値は1:2:4の速
度比で減少する。 すると、位相η1、η2、η4、Σが減少する。つまり
、Wが増大する。W=U2になるまでカウントダウンが
続く。 ■〜■により結局、WはU2〜U工の間に収まるように
なる。基本波、2倍、4倍高調波の位相の状態も、第1
図ア、イ、つ点の近傍にあるようになる。
大となり、制御が難しい。 そこで本発明では、ζ。よりも90°だけ位相を進ませ
るか或は位相を遅らせた試験用キャリア信号を用いる。 これの位相をΣとすると、Σ=ζ。±π/ 2
(27)である。すると、同期検波出力は、cosの
代わりに5in(Σ−ηn)という形で表される。これ
はΣ=η。でOであり、Σ〉η9なら正、Σくη、なら
負になるのでΣ→η、という制御が容易になる。 任意の奇数次、偶数次の高調波について位相調整用同期
検波回路を設ければよいのであるが、ここでは4倍高調
波を例にして説明する。 第1図は基本波P、2倍高調波Q、4倍高調波Tの同期
検波回路出力(a)〜(c)と位相調整用同期検波回路
出力W(d)を示すグラフである。横軸はセンサ信号の
位相η、からキャリア信号の位相ζ1 Σを差し引いた
ものである。横軸が時間でなく位相ずれである事に注意
すべきである。 ここでは位相調整用同期検波回路の試験用キャリア信号
は4倍高調波のキャリア信号より90’ 遅れたもので
ある。(27)式で負号を取る。 出力はcos(it−(I)、cos($2−ζ2)
、C08(14−C4) 、5ln(署、−Σ)である
。 ある温度で1.ηl:ζ1となるように初期設定するの
で、この温度での動作点はそれぞれア、イ、つ、二点と
なる。信号検出用検波回路の出力P1Q、Tは最大であ
り一位相調整用同期検波回路の出力WはOである。 温度変動があって、センサ信号の位相η、が変動したと
する。動作点がオ、力、キ、りというようにずれる。 アオ間の位相のずれをδとすると、イカ間は2δ、ウキ
、エフ間のずれは4δである。 り点での出力WがUlより大きいので、キャリア信号の
位相Σを増大させる。同時に、他のキャリア信号の位相
ζ□、C2、C4も増大する。増大の比率は1/4.1
/2.1である。Wの動作点がケ点に移動する。ここで
もなおW>UtであるのでΣを増大させる。そしてコ点
に至る。 WくOから出発した場合は2反対向きの制御が行われ、
す点に至る。 結局、Wの動作点はサコの間(す点W=U2、コ点W=
U□)に入る。 他のキャリア信号の位相の変動量は、これと同時に行わ
れる。結局、基本波、2倍高調波、4倍高調波の動作点
はア、イ、つ点に戻る事になる。 キャリア信号の位相の変化をΔζ1で表現すると である。 位相調整用同期検波回路の試験用キャリア信号が、4倍
高調波のキャリア信号よりも90°進んでいる場合は第
2図のような関係になる。(27)で正号をとる。 この場合制御の方向が反対になるが、同様に位相のずれ
ζ、はη1に等しくなるように調整される。 【実施例】 第3図は本発明の光ファイバジャイロ自動位相調整回路
の構成図を示す。 クロック発振器1は基準となるクロックパルスを生ずる
発振器である。これの周波数をfとするここには4倍高
調波T、2倍高調波Q1基本波P、位相調整出力Wの位
相制御回路が示されている。 それぞれは、同期式UP/DOWNカウンタ、デジタル
位相制御回路、同期検波回路よりなっている。 そして、CPU2が同期式UP/DOWNカウンタを制
御している。 4倍高調波Tに関する回路は同期式UP/DOWNカウ
ンタ8、デジタル位相制御回路9、同期検波回路10よ
りなり出力Tを与える。同期式UP/DOWNカウンタ
8はクロック発振器1のり・ロックをそのままの周波数
でクロック端子に入力するようになっている。 2倍高調波Tに関する回路は同期式UP/DOWNカウ
ンタ11、デジタル位相制御回路12、同期検波回路1
3よりなる。クロック発振器1のクロックを1/2分周
期3で分周したf/2のクロックをカウンタ11に入力
する。 基本波に関する回路は、同期式U P/D OWNカウ
ンタ14、デジタル位相制御回路15、同期検波回路1
6よりなる。クロック発振器のクロ。 りを1/4分周期で分周したf/4のクロックをカウン
タ14に入力する。 自動位相調整回路は、同期式UP/DOWNカウンタ8
、デジタル位相制御回路5、同期検波回路6、UP/D
OWNカウンタ信号生成部よ信号生成 量期検波回路8.10113.16はセンサ信号をキャ
リア信号によって同期検波するものである。 センサ信号というのは受光素子出力を増幅した信号であ
る。 キャリア信号というのは基本波、2倍、4倍高調波につ
いて、角周波数Ω、2Ω、4Ωと、位相ζ□、ζ2、ζ
4を持つ信号である。デジタル位相制御回路5.9.1
2、ISがこれらの信号を与える。つまり 5in(4Ωt+Σ) (29)sin(4Ωt
+ζ4 ) (90)sin(2Ωt+ζ2)
(31)sin (Ωt′+ζ1) (32
)等の信号を与えるのである。実際にはこれらの回路は
デジタル回路にしてあり時刻tはクロック毎に変化する
。 そして、(27)のように Σ=ζ4±π/ 2 (33)となるように
設定する。ここではΣ=η4−r/zを選んでいる。こ
れらの関係はデジタル位相制御回路6.9の初期設定に
よって与える。 同期検波回路6は、センサ信号のうち 5in(4Ωt+η、 ) (34)を、キャ
リア信号 5in(4Ωt+Σ) (35)によって同
期検波するのでその出力は +sln (η4−Σ) (311i)
となり、第1図に示すような関係になる。 UP/DOWNカウンタ信号生成部7は■U 2 <
W < U 1の特 番カウンタをディスエーブルする。っまりカウンタ8.
11.14のカウント値は不変である。 ■O<Ul <Wの時 各カウンタ8.11.14に対してカウントアツプする
ように指示する。これはカウンタのUP/DOWN入力
に1”を入力することによってなされる。 各カウンタは同時にカウントアツプするが、基本波は1
74分周したf/4のクロックを、2倍波は172分周
したf/2のクロックを、4倍波はそのままのfのクロ
ックを入力するので、カウント値の変化は182:4で
ある。 カウントアツプすると各次数の高調波のキャリアの位相
η1、η2、η4、Σが増大する。 するとWが減少してゆくことになり、W=UIになるま
でカウントアツプが持続する。 ■W<U2 <Oの時 各カウンタ8.11.14に対してカウントダウンする
ように指示する。 基本波、2倍波、4倍波のカウント値は1:2:4の速
度比で減少する。 すると、位相η1、η2、η4、Σが減少する。つまり
、Wが増大する。W=U2になるまでカウントダウンが
続く。 ■〜■により結局、WはU2〜U工の間に収まるように
なる。基本波、2倍、4倍高調波の位相の状態も、第1
図ア、イ、つ点の近傍にあるようになる。
位相変調方式の光ファイバジャイロに於いて、温度変動
によって、センサ信号に含まれる信号の位相が変動して
も同期検波回路のキャリア信号の位相を修正してセンサ
信号の位相に合致するようにすることができる。 このため正確な回転角速度Ωが求められる。
によって、センサ信号に含まれる信号の位相が変動して
も同期検波回路のキャリア信号の位相を修正してセンサ
信号の位相に合致するようにすることができる。 このため正確な回転角速度Ωが求められる。
第1図は本発明の光ファイバジャイロ自動位相調整回路
に於ける基本波、2倍高調波、4倍高調波一位相調整用
同期検波回路の同期検波出力を、信号の位相η1からキ
ャリア信号の位相ζ、 Σを差し引いた値の関数として
示す図(Σ=ζ4−π/2)。 第2図は第1図の場合に於いてΣ=ζ4+r/2と選ん
だ場合の図。 第3図は本発明の光ファイバジャイロ自動位相調整回路
の概略構成図。 1 、、、、、クロック発振器 2 、、、、、CPU 3、、、、.1/2分周器 4 、、、、 1/4分周器
に於ける基本波、2倍高調波、4倍高調波一位相調整用
同期検波回路の同期検波出力を、信号の位相η1からキ
ャリア信号の位相ζ、 Σを差し引いた値の関数として
示す図(Σ=ζ4−π/2)。 第2図は第1図の場合に於いてΣ=ζ4+r/2と選ん
だ場合の図。 第3図は本発明の光ファイバジャイロ自動位相調整回路
の概略構成図。 1 、、、、、クロック発振器 2 、、、、、CPU 3、、、、.1/2分周器 4 、、、、 1/4分周器
Claims (1)
- 単色光を生ずる光源と、シングルモード光ファイバを巻
き回してなるファイバコイルと、ファイバコイルの一方
の端近くに設けられ、ファイバの一部を巻き付けた圧電
素子よりなりファイバコイルを伝搬する光の位相を変化
させる位相変調素子と、光源から出射された光を分岐さ
せて前記ファイバコイルのファイバの両端に入射させフ
ァイバコイルを左廻り、右廻りに伝搬した光を再び合一
させる分岐素子と、左廻り光と右廻り光を干渉させ干渉
光強度を求める受光素子と、位相変調素子を変調角周波
数Ωで駆動する位相変調素子駆動回路と、位相変調信号
Ωの奇数倍Ω、3Ω、………或は偶数倍2Ω、4Ω……
…のキャリア信号によって受光素子出力を増幅したセン
サ信号を同期検波し、基本波を含む奇数次高調波、偶数
次高調波を求める信号検出用同期検波回路とを有し、信
号検出用同期検波回路の奇数次高調波成分、偶数次高調
波成分から左廻り光、右廻り光の位相差Δθを求める事
とした光ファイバジャイロに於いて、ひとつの偶数次、
或は奇数次高調波の位相調整用同期検波回路を設け、セ
ンサ信号をその次数のキャリア信号を90°進ませ或は
90°遅らせた試験用キャリア信号によって同期検波し
、90°遅れた試験用キャリア信号を用いた場合は、位
相調整用同期検波回路の出力Wがある正負の閾値U_1
、U_2に対して、U_1>W>U_2である時は、各
信号検出用同期検波回路のキャリア信号の位相を変えず
、W>U_1>0である時は各信号検出用同期検波回路
のキャリア信号の位相を高調波の次数に比例させて増大
させ、O>U_2>Wである時は各信号検出用同期検波
回路のキャリア信号の位相を高調波の次数に比例する値
だけ減少させるようにし、90°進んだ試験用キャリア
信号を用いた場合は一位相調整用同期検波回路の出力W
がある正負の閾値U_1、U_2に対し、U_1>W>
U_2である時は、各信号検出用同期検波回路のキャリ
ア信号の位相を変えず、W>U_1>Oである時は各信
号検出用同期検波回路のキャリア信号の位相を高調波の
次数に比例させて減少させ、O>U_2>Wである時は
各信号検出用同期検波回路のキャリア信号の位相を高調
波の次数に比例する値だけ増大させるようにした事を特
徴とする光ファイバジャイロに於ける自動位相調整回路
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1005590A JPH03214020A (ja) | 1990-01-18 | 1990-01-18 | 光フアイバジヤイロにおける自動位相調整回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1005590A JPH03214020A (ja) | 1990-01-18 | 1990-01-18 | 光フアイバジヤイロにおける自動位相調整回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03214020A true JPH03214020A (ja) | 1991-09-19 |
Family
ID=11739706
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1005590A Pending JPH03214020A (ja) | 1990-01-18 | 1990-01-18 | 光フアイバジヤイロにおける自動位相調整回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03214020A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0725261A1 (en) * | 1992-04-30 | 1996-08-07 | Japan Aviation Electronics Industry, Limited | Optical interferometric angular rate meter with a self-diagnostic capability |
-
1990
- 1990-01-18 JP JP1005590A patent/JPH03214020A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0725261A1 (en) * | 1992-04-30 | 1996-08-07 | Japan Aviation Electronics Industry, Limited | Optical interferometric angular rate meter with a self-diagnostic capability |
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