JPH03218695A - 超電導体を用いた磁気シールド装置 - Google Patents
超電導体を用いた磁気シールド装置Info
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- JPH03218695A JPH03218695A JP2262964A JP26296490A JPH03218695A JP H03218695 A JPH03218695 A JP H03218695A JP 2262964 A JP2262964 A JP 2262964A JP 26296490 A JP26296490 A JP 26296490A JP H03218695 A JPH03218695 A JP H03218695A
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- Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、超電導体で磁気的にシールドされた極めて低
磁場の空間を実現するためのシールド装置に関するもの
である. [従来の技術] 従来から知られている超電導体を用いた磁気シールド装
置は、マイスナー効果を示す材料(例えば酸化物超電導
体)からなる円筒上のシールド体と、シールド体をマイ
スナー効果における臨界温[rc以下まで冷却するため
の冷却手段を備えてなり、以下のような手順で空間の磁
気シールトが行なわれる。
磁場の空間を実現するためのシールド装置に関するもの
である. [従来の技術] 従来から知られている超電導体を用いた磁気シールド装
置は、マイスナー効果を示す材料(例えば酸化物超電導
体)からなる円筒上のシールド体と、シールド体をマイ
スナー効果における臨界温[rc以下まで冷却するため
の冷却手段を備えてなり、以下のような手順で空間の磁
気シールトが行なわれる。
(1)先ず、遮蔽対象の空間の周囲を覆うように円筒上
のシールド体を配置する。但し、このとぎのシールド体
の温度は、臨界温度Tcよりも高い温度にある。つまり
、シールド体は末だ常電導状態にある. (2)次に、シールト体を臨界温度Tc以下まで冷却し
、超電導状態に転移させる。超電導状態ではシールド体
は完全な反磁性体となるので、磁束はシールド体で覆っ
た空間に侵入することができずに外部に押し出され(マ
イスナー効果)、シールド体内部の空間が磁気シールド
されることになる. [発明が解決しようとする課題] ところで、上記のような従来のシールト装置において、
シニルト体内部に形成される低磁場の程度(内部磁場の
小ささ)は、シールド体の長さと直径の比によって定ま
る。
のシールド体を配置する。但し、このとぎのシールド体
の温度は、臨界温度Tcよりも高い温度にある。つまり
、シールド体は末だ常電導状態にある. (2)次に、シールト体を臨界温度Tc以下まで冷却し
、超電導状態に転移させる。超電導状態ではシールド体
は完全な反磁性体となるので、磁束はシールド体で覆っ
た空間に侵入することができずに外部に押し出され(マ
イスナー効果)、シールド体内部の空間が磁気シールド
されることになる. [発明が解決しようとする課題] ところで、上記のような従来のシールト装置において、
シニルト体内部に形成される低磁場の程度(内部磁場の
小ささ)は、シールド体の長さと直径の比によって定ま
る。
第8図に示されるように、円筒形のシールド体81の半
径をa、開口端面から軸上の内部への距離をZとすると
、 シールド体81の軸方向の外部磁場強度H1に対する距
離Zの位置における内部磁場強度H +aは、 H,a=H,exp (−3.83 z/a) ・・
・(1)シールド体81の軸と直交する方向の外部磁場
強度Htに対する距離Zの位置における内部磁場強度H
itは、 H1t=Htexp(−1.84z/a) −−・(
2)て与えられる。
径をa、開口端面から軸上の内部への距離をZとすると
、 シールド体81の軸方向の外部磁場強度H1に対する距
離Zの位置における内部磁場強度H +aは、 H,a=H,exp (−3.83 z/a) ・・
・(1)シールド体81の軸と直交する方向の外部磁場
強度Htに対する距離Zの位置における内部磁場強度H
itは、 H1t=Htexp(−1.84z/a) −−・(
2)て与えられる。
従って、シールド体81内部では、軸と直交する方向の
外部磁場強度Htの影響が支配的となり、内部磁場強度
}litが求められる低磁場の程度を満足するようにシ
ールド体の長さが決定されることになる。このため、従
来の磁気シールト装置においては、低磁場を実現しよう
とするとシールド体の軸方向の長さを大きくシナければ
ならないという問題点があった。
外部磁場強度Htの影響が支配的となり、内部磁場強度
}litが求められる低磁場の程度を満足するようにシ
ールド体の長さが決定されることになる。このため、従
来の磁気シールト装置においては、低磁場を実現しよう
とするとシールド体の軸方向の長さを大きくシナければ
ならないという問題点があった。
この発明は、かかる点に鑑みてなされたものであり、シ
ールト体の軸方向の長さを格別に長くしてなくとも容易
にかつ安価に低磁場を実現できる磁気シールド装置を提
供することを目的とするものである。
ールト体の軸方向の長さを格別に長くしてなくとも容易
にかつ安価に低磁場を実現できる磁気シールド装置を提
供することを目的とするものである。
[課題を解決するための手段]
本発明に係る超電導体を用いた磁気シールド装置では、
臨界温度以下の冷却時に、常電導状態から超電導状態へ
転8してマイスナー効果を発現する超電導材料からなる
筒状のシールド体と、このシールド体を常電導状態から
前記マイスナー効果における臨界温度以下まで冷却して
超電導状態へ転穆させる冷却手段とを有する超電導体を
用いた磁気シールド装置において、 前記筒状シールド体の開口端を覆う筒状の強磁性体部材
が具備されたことを特徴とするものである。
臨界温度以下の冷却時に、常電導状態から超電導状態へ
転8してマイスナー効果を発現する超電導材料からなる
筒状のシールド体と、このシールド体を常電導状態から
前記マイスナー効果における臨界温度以下まで冷却して
超電導状態へ転穆させる冷却手段とを有する超電導体を
用いた磁気シールド装置において、 前記筒状シールド体の開口端を覆う筒状の強磁性体部材
が具備されたことを特徴とするものである。
また、前記筒状のシールト体としては片端開口及び両端
開口のものなどが用いられる。前記筒状シールト体の開
口端を覆う筒状の強磁性体部材の形状としては、スリー
ブ状、片端が閉じたもの、両端の開口部面積が異なるも
のなどで、ある。
開口のものなどが用いられる。前記筒状シールト体の開
口端を覆う筒状の強磁性体部材の形状としては、スリー
ブ状、片端が閉じたもの、両端の開口部面積が異なるも
のなどで、ある。
[作 用コ
本発明の第1実施例にかかるシールト体の端部を拡大し
て示した第7図を用いて、木発明の作用を説明する。図
において、円筒上のシールド体1の端部には、シールト
体1の外径より僅かに大きい内径を有する円筒上の強磁
性体部材2が、シールド体1端部と重なり部分を有し、
かつシールド体1端面より突出するように嵌合されてい
る。また、強磁性体部材2近傍の磁場(軸方向の成分H
1.軸と直交する方向の成分H2)は、第7図に示され
た磁力線のようになる。
て示した第7図を用いて、木発明の作用を説明する。図
において、円筒上のシールド体1の端部には、シールト
体1の外径より僅かに大きい内径を有する円筒上の強磁
性体部材2が、シールド体1端部と重なり部分を有し、
かつシールド体1端面より突出するように嵌合されてい
る。また、強磁性体部材2近傍の磁場(軸方向の成分H
1.軸と直交する方向の成分H2)は、第7図に示され
た磁力線のようになる。
強磁性体部材2は、周囲の磁場によって磁化され、その
内部に生じた磁場は、シールド体1軸方向の地球磁場等
の外部磁場を減衰させる量は少ないが、軸と直交する方
向については外部磁場を大幅に減衰させる。
内部に生じた磁場は、シールド体1軸方向の地球磁場等
の外部磁場を減衰させる量は少ないが、軸と直交する方
向については外部磁場を大幅に減衰させる。
即ち、前述したシールト体1の軸と直交する方向の内部
磁場強度Hitを与える(2)式におけるHtを減少さ
せることになるので、シールド体lの内部磁場が小さく
なる。
磁場強度Hitを与える(2)式におけるHtを減少さ
せることになるので、シールド体lの内部磁場が小さく
なる。
また、筒状のシールト体の開口部を覆う強磁性体部材が
、半径r,長さZの片端が閉じた筒状体である場合には
、半径r、長さ2Zの両端が開放された筒状体と同じシ
ールド効果があり、装置全体を更に小型化することがで
きる。
、半径r,長さZの片端が閉じた筒状体である場合には
、半径r、長さ2Zの両端が開放された筒状体と同じシ
ールド効果があり、装置全体を更に小型化することがで
きる。
更に、強磁性体部材が、両端の開口部面積が異なる筒状
体である場合には、両端の開口部面積が同等に開放され
た筒状体よりもシールド効果が向上し、装置全体を更に
小型化することができる。
体である場合には、両端の開口部面積が同等に開放され
た筒状体よりもシールド効果が向上し、装置全体を更に
小型化することができる。
ここで、本発明において用いる筒状のシールド体の開口
端部を覆う強磁性体部材を構成する材料は、強磁性体で
あれば特に限定されるものではないが、より低磁場を実
現するためには、透磁率が大きい程良く、透磁率が大き
ければそれだけ強磁性体部材に厚さを小さくできる。具
体的には、比透磁率が300以上のものが好ましく用い
られ、例えば、パーマロイ.アモルファス鉄.フエライ
ト等が挙げられる。
端部を覆う強磁性体部材を構成する材料は、強磁性体で
あれば特に限定されるものではないが、より低磁場を実
現するためには、透磁率が大きい程良く、透磁率が大き
ければそれだけ強磁性体部材に厚さを小さくできる。具
体的には、比透磁率が300以上のものが好ましく用い
られ、例えば、パーマロイ.アモルファス鉄.フエライ
ト等が挙げられる。
なお、本発明において、筒状のシールド体は、測定対象
物を出入れするために、少なくとも一方を開口させてお
く必要がある。
物を出入れするために、少なくとも一方を開口させてお
く必要がある。
[実施例]
実施例=1
第1図は、本発明の第1実施例による磁気シールト装置
の要部の構成を示す斜視図である。
の要部の構成を示す斜視図である。
図において、円筒形のシールド体1は、円形断面での内
径10cm,厚さ4mm ,長さ30cmの酸化物超電
導体からなり、外面及び内面には熱絶縁のための断熱層
(図示せず)が設けられている。そして、筒状のシール
ド体lは例えば液体窒素を用いた玲却手段(図示せず)
により冷却されるようになっている.この筒状のシール
ド体1の軸方向の長さは、シールド対象空間の大きさや
目標とする内部磁場の小ささに応じて設定されるもので
あるが、一般的には筒状のシールト体l内径の2〜20
程度が普通である. また、筒状のシールド体lの両開口端には、比透磁率t
ooooのパーマロイ(鉄20零,ニッケル8096)
からなる内径1 1cm,厚さ10a+m,長さ20c
mの円筒形の強磁性体部材2a,2bが装着されている
。
径10cm,厚さ4mm ,長さ30cmの酸化物超電
導体からなり、外面及び内面には熱絶縁のための断熱層
(図示せず)が設けられている。そして、筒状のシール
ド体lは例えば液体窒素を用いた玲却手段(図示せず)
により冷却されるようになっている.この筒状のシール
ド体1の軸方向の長さは、シールド対象空間の大きさや
目標とする内部磁場の小ささに応じて設定されるもので
あるが、一般的には筒状のシールト体l内径の2〜20
程度が普通である. また、筒状のシールド体lの両開口端には、比透磁率t
ooooのパーマロイ(鉄20零,ニッケル8096)
からなる内径1 1cm,厚さ10a+m,長さ20c
mの円筒形の強磁性体部材2a,2bが装着されている
。
次に、上記のようなシールト装置によるシールト対象空
間内の磁束密度の測定結果について説明する。なお、磁
束密度の測定は、シールド対象空間中央部付近に配置し
た磁気センサ(図示せず)によって行なった. まず、強磁性部材2a,2bを装着した筒状のシールド
体1を極低磁場空間(io−’ガウス以下)に設置し、
極低磁場空間内で、筒状のシールド体1を液体窒素によ
り臨界温度Tcまで冷却した。
間内の磁束密度の測定結果について説明する。なお、磁
束密度の測定は、シールド対象空間中央部付近に配置し
た磁気センサ(図示せず)によって行なった. まず、強磁性部材2a,2bを装着した筒状のシールド
体1を極低磁場空間(io−’ガウス以下)に設置し、
極低磁場空間内で、筒状のシールド体1を液体窒素によ
り臨界温度Tcまで冷却した。
その後、筒状のシールド体1を極低磁場空間から取り出
し、地球磁場(0.4ガウス程度)下で筒状のシールド
体1内の中央部付近(測定点m+)の磁束密度を測定し
た.その結果、磁束密度は4.0x 10−’ガウスと
いう非常に低い値であった。
し、地球磁場(0.4ガウス程度)下で筒状のシールド
体1内の中央部付近(測定点m+)の磁束密度を測定し
た.その結果、磁束密度は4.0x 10−’ガウスと
いう非常に低い値であった。
比較例:1
実施例lと同様な筒状のシールド体を用い、強磁性体部
材を装着せずに、極低磁場空間内で臨界温度TC以下ま
で冷却した。その後、筒状のシールド体を極低磁場空間
から取り出し、地球磁場下で筒状のシールド体内の中央
部付近の磁束密度を測定した。その結果、磁束密度は3
.O X 10−3ガウスと本発明実施例の場合より3
桁も大ぎい値であった。
材を装着せずに、極低磁場空間内で臨界温度TC以下ま
で冷却した。その後、筒状のシールド体を極低磁場空間
から取り出し、地球磁場下で筒状のシールド体内の中央
部付近の磁束密度を測定した。その結果、磁束密度は3
.O X 10−3ガウスと本発明実施例の場合より3
桁も大ぎい値であった。
上記の実施例1及び比較例1の測定結果より、本発明の
磁気シールド装置によって従来より更に低いレベルの低
磁場が実現できることが実証された。
磁気シールド装置によって従来より更に低いレベルの低
磁場が実現できることが実証された。
実施例=2
第2図は本発明の第2実施例による磁気シールド装置の
要部を示す斜視図である。
要部を示す斜視図である。
この実施例においては、内径10cm,厚さ4mm,長
さ15c+a (実施例1の172の長さ)の一端が閉
鎖された円筒形のシールド体21(底面を斜線で示す)
を用いた。この筒状のシールド体21は、実施例1と同
様に、内・外面に断熱層を設けた酸化物超電導体からな
り、その開放端には、実施例1と同様なパーマロイ製の
円筒形強磁性部材22(内径11cm,厚さ101Il
m,長さ2ocm)が装着されている. このようなシールド装置を用いて、実施例lと同様にし
て筒状のシールト体21底面中心上(測定点mz)の磁
束密度を測定したところ、磁束密度は実施例1と同様に
4.O X 10−’ガウスという非常に低い値であっ
た。
さ15c+a (実施例1の172の長さ)の一端が閉
鎖された円筒形のシールド体21(底面を斜線で示す)
を用いた。この筒状のシールド体21は、実施例1と同
様に、内・外面に断熱層を設けた酸化物超電導体からな
り、その開放端には、実施例1と同様なパーマロイ製の
円筒形強磁性部材22(内径11cm,厚さ101Il
m,長さ2ocm)が装着されている. このようなシールド装置を用いて、実施例lと同様にし
て筒状のシールト体21底面中心上(測定点mz)の磁
束密度を測定したところ、磁束密度は実施例1と同様に
4.O X 10−’ガウスという非常に低い値であっ
た。
実施例:3
第3図は本発明の第3実施例による磁気シールド装置の
要部を示す斜視図である。
要部を示す斜視図である。
この実施例においては、内径10cm,厚さ4nun
,長さ30cmの酸化物超電導体からなり、外面及び内
面には熱絶縁のための断熱層(図示せず)が設けられて
いる。そして、筒状のシールド体31は例えば液体窒素
を用いた冷却手段(図示せず)により冷却されるように
なっている. また、シールド体3lの両開口端には、比透磁率100
00のパーマロイ(鉄2096,ニッケル8H ’)か
らなる内径1 1cm,厚さ10mm.長さlocn+
の片端が閉した円筒形の強磁性体部材32a,32bが
装着されている。
,長さ30cmの酸化物超電導体からなり、外面及び内
面には熱絶縁のための断熱層(図示せず)が設けられて
いる。そして、筒状のシールド体31は例えば液体窒素
を用いた冷却手段(図示せず)により冷却されるように
なっている. また、シールド体3lの両開口端には、比透磁率100
00のパーマロイ(鉄2096,ニッケル8H ’)か
らなる内径1 1cm,厚さ10mm.長さlocn+
の片端が閉した円筒形の強磁性体部材32a,32bが
装着されている。
その後、このシールド体31を極低磁場空間から取り出
し、地球磁場(04ガウス程度)下でシルト体31内の
中央部付近(測定点m+)の磁束密度を測定した。その
結果、磁束密度は 2、5x10−6カウスという非常
に低い値であった。
し、地球磁場(04ガウス程度)下でシルト体31内の
中央部付近(測定点m+)の磁束密度を測定した。その
結果、磁束密度は 2、5x10−6カウスという非常
に低い値であった。
実施例:4
第4図は本発明の第4実施例による磁気シールド装置の
要部を示す斜視図である。
要部を示す斜視図である。
この実施例においては、内径10cm,厚さ4mm,長
さ15cm (実施例1の172の長さ)の一端が閉じ
た円筒形のシールド体41 (底面を斜線で示す)を用
いた。このシールド体41は、実施例3と同様に、内・
外面に断熱層を設けた酸化物超電導体からなり、その開
放端には、実施例3と同様なパーマロイ製の片端が閉じ
た円筒形強磁性部材42(内径11cm,厚さlomn
+,長さl Octa )が装着さレテいる。
さ15cm (実施例1の172の長さ)の一端が閉じ
た円筒形のシールド体41 (底面を斜線で示す)を用
いた。このシールド体41は、実施例3と同様に、内・
外面に断熱層を設けた酸化物超電導体からなり、その開
放端には、実施例3と同様なパーマロイ製の片端が閉じ
た円筒形強磁性部材42(内径11cm,厚さlomn
+,長さl Octa )が装着さレテいる。
このようなシールト装置を用いて、実施例3と同様にし
てシールト体4l底面中心上(測定点m2)の磁束密度
を測定したところ、磁束密度は実施例3と同桜に 2.
5X 10−6ガウスという非常に低い値であった。
てシールト体4l底面中心上(測定点m2)の磁束密度
を測定したところ、磁束密度は実施例3と同桜に 2.
5X 10−6ガウスという非常に低い値であった。
実施例=5
第5図は本発明の第5実施例による磁気シールド装置の
要部を示す斜視図である. この実施例においては、内径10cm,厚さ4mm ,
長さ30c+nの酸化物超電導体からなり、外面及び内
面には熱絶縁のための断熱層(図示せず)が設けられて
いる。そして、筒状のシールド体51は例えば液体窒素
を用いた冷却手段(図示せず)により冷却されるように
なフている。
要部を示す斜視図である. この実施例においては、内径10cm,厚さ4mm ,
長さ30c+nの酸化物超電導体からなり、外面及び内
面には熱絶縁のための断熱層(図示せず)が設けられて
いる。そして、筒状のシールド体51は例えば液体窒素
を用いた冷却手段(図示せず)により冷却されるように
なフている。
また、筒状のシールド体51の両開口端には、比透磁率
iooooのパーマロイ(鉄20*,ニッケル80零)
からなる内径11cm,長さ10cmの大筒と、内径2
cm,長さ2cmの小筒とを組合わせ、両端の開口部面
積か異なる筒形の強磁性体部材52a,52bが装着さ
れている。
iooooのパーマロイ(鉄20*,ニッケル80零)
からなる内径11cm,長さ10cmの大筒と、内径2
cm,長さ2cmの小筒とを組合わせ、両端の開口部面
積か異なる筒形の強磁性体部材52a,52bが装着さ
れている。
その後、シールド体5lを極低磁場空間から取り出し、
地球磁場(0.4ガウス程度)下でシールド体5l内の
中央部付近く測定点mt)の磁束密度を測定した。その
結果、磁束密度は4 x 10−’ガウスという非常に
低い値であった。
地球磁場(0.4ガウス程度)下でシールド体5l内の
中央部付近く測定点mt)の磁束密度を測定した。その
結果、磁束密度は4 x 10−’ガウスという非常に
低い値であった。
実施例=6
第6図は本発明の第6実施例による磁気シールド装置の
要部を示す斜視図である。
要部を示す斜視図である。
この実施例においては、内径10cn+,厚さ 4■.
長さ15cm (実b色例lの1/2の長さ)の一端が
閉鎖された円筒形のシールド体61(底面を斜線で示す
)を用いた。この筒状のシールド体61は、実施例5と
同様に、内・外面に断熱層を設けた酸化物超電導体から
なり、その開放端には、実施例5と同様なパーマロイ製
の両端の開口面線が異なる筒形の円筒形強磁性部材62
(大筒:内径11cm,厚さ1 0IIlm.長さ1
0cm,小径:内径2 cm,長さ2c++)が装着さ
れている. このようなシールド装置を用いて、実施例5と同様にし
てシールト体61底面中心上(測定点m2)の磁束密度
を測定したところ、磁束密度は実施例5と同様に4 X
10−6ガウスという非常に低い値であった。
長さ15cm (実b色例lの1/2の長さ)の一端が
閉鎖された円筒形のシールド体61(底面を斜線で示す
)を用いた。この筒状のシールド体61は、実施例5と
同様に、内・外面に断熱層を設けた酸化物超電導体から
なり、その開放端には、実施例5と同様なパーマロイ製
の両端の開口面線が異なる筒形の円筒形強磁性部材62
(大筒:内径11cm,厚さ1 0IIlm.長さ1
0cm,小径:内径2 cm,長さ2c++)が装着さ
れている. このようなシールド装置を用いて、実施例5と同様にし
てシールト体61底面中心上(測定点m2)の磁束密度
を測定したところ、磁束密度は実施例5と同様に4 X
10−6ガウスという非常に低い値であった。
尚、本実施例及び実施例5では、筒状のシールド体の開
口端部を覆うために強磁性体部材として内径1 1cm
.長さlocmの大筒と、半径2 ctn,長さ2cm
の小筒とを組合わせたものを示したが、円錐台のように
徐々に内径が縮径するものでも同様の効果がある。また
、内径rl+長さZl+の犬円筒と内径r2+長さZ2
の小円筒とを組合わせた場合では、r +/z l−r
2/Z 2のように決めれば同等の効果がある。
口端部を覆うために強磁性体部材として内径1 1cm
.長さlocmの大筒と、半径2 ctn,長さ2cm
の小筒とを組合わせたものを示したが、円錐台のように
徐々に内径が縮径するものでも同様の効果がある。また
、内径rl+長さZl+の犬円筒と内径r2+長さZ2
の小円筒とを組合わせた場合では、r +/z l−r
2/Z 2のように決めれば同等の効果がある。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明による超電導体を用いた磁
気シールド装置においては、筒状のシールド体の開口端
部に強磁性体部材を装着するという簡単な構成によフて
、シールド体開口端付近のシールド体の軸と直交する方
向の外部磁場を減衰させて、シールト体内部の磁場強度
を減少させることができる。また、強磁性体部材が、筒
の片端が閉したものである場合には、両端が開放された
筒よりもシールド効果が高くあり、装置全体を更に小型
化することができ、更に、強磁性体部材が、両端の開口
部面積が異なる筒である場合には、両端の開口部面積が
同等に開放された筒よりもシールト効果が向上し、装置
全体を更に小型化することがてきる。
気シールド装置においては、筒状のシールド体の開口端
部に強磁性体部材を装着するという簡単な構成によフて
、シールド体開口端付近のシールド体の軸と直交する方
向の外部磁場を減衰させて、シールト体内部の磁場強度
を減少させることができる。また、強磁性体部材が、筒
の片端が閉したものである場合には、両端が開放された
筒よりもシールド効果が高くあり、装置全体を更に小型
化することができ、更に、強磁性体部材が、両端の開口
部面積が異なる筒である場合には、両端の開口部面積が
同等に開放された筒よりもシールト効果が向上し、装置
全体を更に小型化することがてきる。
即ち、本発明の各々によれば、筒状のシールト体の軸方
向の長さを格別に長くとらないでも、容易にかつ安価に
低磁場空間を実現でき、磁気シールト装置の小型化を図
ることも可能である。
向の長さを格別に長くとらないでも、容易にかつ安価に
低磁場空間を実現でき、磁気シールト装置の小型化を図
ることも可能である。
かかる本発明の磁気シールド装置は、例えば、周囲の磁
場の影響を受けやすいSQUID(超電導量子干渉装置
)を用いた測定空間の磁気シールド等に有効であり、化
学技術上、及び医療上、微小な磁気現象を観測する有用
な用途が多く、工業的価値も大である。
場の影響を受けやすいSQUID(超電導量子干渉装置
)を用いた測定空間の磁気シールド等に有効であり、化
学技術上、及び医療上、微小な磁気現象を観測する有用
な用途が多く、工業的価値も大である。
第1図は本発明第1実施例にかかるシールト装置の要部
斜視図、第2図は本発明第2実施例にかかるシールト装
置の要部斜視図、第3図は本発明の第3実施例による磁
気シールド装置の要部を示す斜視図、第4図は本発明の
第4実施例による磁気シールト装置の要部を示す斜視図
、第5図は本発明の第5実施例による磁気シールト装置
の要部を示す斜視図、第6図は本発明の第6実施例によ
る磁気シールド装置の要部を示す斜視図、第7図は本発
明の作用を説明するための筒状のシールト体端部の斜視
図、第8図は従来例を説明するためのシールド体の部分
斜視図である。 [主要部分の符号の説明] 1,21,31,41,51,61.81は筒状のシー
ルド体、2,2a,2b,22,32a32b,42,
52a,52b,62は強磁性体部材、ml,m2は測
定点である。
斜視図、第2図は本発明第2実施例にかかるシールト装
置の要部斜視図、第3図は本発明の第3実施例による磁
気シールド装置の要部を示す斜視図、第4図は本発明の
第4実施例による磁気シールト装置の要部を示す斜視図
、第5図は本発明の第5実施例による磁気シールト装置
の要部を示す斜視図、第6図は本発明の第6実施例によ
る磁気シールド装置の要部を示す斜視図、第7図は本発
明の作用を説明するための筒状のシールト体端部の斜視
図、第8図は従来例を説明するためのシールド体の部分
斜視図である。 [主要部分の符号の説明] 1,21,31,41,51,61.81は筒状のシー
ルド体、2,2a,2b,22,32a32b,42,
52a,52b,62は強磁性体部材、ml,m2は測
定点である。
Claims (1)
- (1) 臨界温度以下の冷却時に、常電導状態から超電
導状態へ転移してマイスナー効果を発現する超電導材料
からなる筒状のシールド体と、このシールド体を常電導
状態から前記マイスナー効果における臨界温度以下まで
冷却して超電導状態へ転移させる冷却手段とを有する超
電導体を用いた磁気シールド装置において、 前記筒状シールド体の開口端を覆う筒状の強磁性体部材
が具備されたことを特徴とする超電導体を用いた磁気シ
ールド装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1-257762 | 1989-10-04 | ||
| JP25776289 | 1989-10-04 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03218695A true JPH03218695A (ja) | 1991-09-26 |
Family
ID=17310744
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2262964A Pending JPH03218695A (ja) | 1989-10-04 | 1990-10-02 | 超電導体を用いた磁気シールド装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03218695A (ja) |
-
1990
- 1990-10-02 JP JP2262964A patent/JPH03218695A/ja active Pending
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