JPH03219064A - 電子機器用部品 - Google Patents
電子機器用部品Info
- Publication number
- JPH03219064A JPH03219064A JP1399690A JP1399690A JPH03219064A JP H03219064 A JPH03219064 A JP H03219064A JP 1399690 A JP1399690 A JP 1399690A JP 1399690 A JP1399690 A JP 1399690A JP H03219064 A JPH03219064 A JP H03219064A
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- JP
- Japan
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- plating
- nickel
- phosphor bronze
- tin
- parts
- Prior art date
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- Pending
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- Solid-Phase Diffusion Into Metallic Material Surfaces (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、電気及び電子機器に使用される表面に錫及び
錫合金めっきなどの金属層を形成した銅合金を基板とす
る電子機器用部品に関するものである。
錫合金めっきなどの金属層を形成した銅合金を基板とす
る電子機器用部品に関するものである。
(従来の技術)
従来より電子機器部品として、導電性及びはんだ付は性
の良い金または錫合金など各種めっき付き鋼合金が使用
されてきたが、電気及び電子機器部品の高密度化並びに
品質の向上から接点としての信頼性に優れた材料が求め
られている。
の良い金または錫合金など各種めっき付き鋼合金が使用
されてきたが、電気及び電子機器部品の高密度化並びに
品質の向上から接点としての信頼性に優れた材料が求め
られている。
さらに、近年強くなっている低コスト化要求から、高4
:、頼性n、つ低コストの電気及び電子機器部すJ川の
材料が求められている。このため、めっき付き鋼合金に
対しても従来以上の高信頼性及び低コスト化か要求され
ている。
:、頼性n、つ低コストの電気及び電子機器部すJ川の
材料が求められている。このため、めっき付き鋼合金に
対しても従来以上の高信頼性及び低コスト化か要求され
ている。
現在、これらの要求に対応する電子機器用部品としてめ
っき付き鋼合金、中でもつん青銅(Sn3−10.Po
、01−0.5及び残部鋼の外電−I%よりなる合金)
が使用されてきたが、特に近年では様々な諸性質の改善
を目的としてりん青銅中にFe、Cr、Zr、Co、Z
n。
っき付き鋼合金、中でもつん青銅(Sn3−10.Po
、01−0.5及び残部鋼の外電−I%よりなる合金)
が使用されてきたが、特に近年では様々な諸性質の改善
を目的としてりん青銅中にFe、Cr、Zr、Co、Z
n。
Si、Mn等を微量添加したりん青銅も広く使用されて
きている。
きている。
これら鋼合金の接点金属として、利用されている一例を
あげると、産業用コネクタ等では金めつきが主流である
が、民生用コネクタ等では低コスト化の要求から、高価
な金めつきの代りに安価な錫めっきか使用されている。
あげると、産業用コネクタ等では金めつきが主流である
が、民生用コネクタ等では低コスト化の要求から、高価
な金めつきの代りに安価な錫めっきか使用されている。
錫めっきは金めつきに比較すると信頼性で劣るが、接触
圧を太きくすることにより、安定した接触を得ることが
できる。錫めっきの信頼性を向上させるために、例えば
特開平1−134957号公報に開示されているように
、銅合金の表面に亜鉛を拡散被覆してはんだ付は性を向
トさせている。
圧を太きくすることにより、安定した接触を得ることが
できる。錫めっきの信頼性を向上させるために、例えば
特開平1−134957号公報に開示されているように
、銅合金の表面に亜鉛を拡散被覆してはんだ付は性を向
トさせている。
しかしながら、電気及び電子機器部品へのさらに厳しく
なる高信頼性且つ低コスト化の要求に答えるには、従来
の銅合金では対応できない問題点があった。
なる高信頼性且つ低コスト化の要求に答えるには、従来
の銅合金では対応できない問題点があった。
近年、自動車等高温下で使用される場合を想定して、コ
ネクタを始めとする電子機器用部品の信頼性評価の項目
として、耐熱信頼性の重要性が高まっている。
ネクタを始めとする電子機器用部品の信頼性評価の項目
として、耐熱信頼性の重要性が高まっている。
現在、耐熱信頼性の評価基準の一つとして、100℃で
1000時間保持後のめっきの密着性を評価する方法が
あるが、従来のりん青銅に錫及び錫合金めっきを施した
基板で、この基準を満足するためには、 (1)銅F地めっきJ’^さを2μm以F施すか、ある
いは (2)ニッケル下地めっきJ’Jさを0.5μm以]−
施すこと が必要となる。しかし、前記の方法にはそれぞれ問題点
かあり、銅下地めっきを厚く付けるとめっき加[時間が
増加してコストが高くなり、また、ニッケル下地めっき
はめっき膜が素材に比較して硬いためプレス加工時の鋳
型の摩耗が増加し、鋳ヘリの寿命が短くなる。
1000時間保持後のめっきの密着性を評価する方法が
あるが、従来のりん青銅に錫及び錫合金めっきを施した
基板で、この基準を満足するためには、 (1)銅F地めっきJ’^さを2μm以F施すか、ある
いは (2)ニッケル下地めっきJ’Jさを0.5μm以]−
施すこと が必要となる。しかし、前記の方法にはそれぞれ問題点
かあり、銅下地めっきを厚く付けるとめっき加[時間が
増加してコストが高くなり、また、ニッケル下地めっき
はめっき膜が素材に比較して硬いためプレス加工時の鋳
型の摩耗が増加し、鋳ヘリの寿命が短くなる。
本発明は、館記のような電子機器用部品における接点金
属としての錫及び錫合金めっき付き銅合金の問題点を解
消するために、銅合金基板表面にニッケルを0.01μ
m以−にめっきし、さらにこのニッケルをtす材中に拡
散させることにより、錫めっきの高信頼性■つ低コスト
の電子機器用部品を提供することを目的としている。
属としての錫及び錫合金めっき付き銅合金の問題点を解
消するために、銅合金基板表面にニッケルを0.01μ
m以−にめっきし、さらにこのニッケルをtす材中に拡
散させることにより、錫めっきの高信頼性■つ低コスト
の電子機器用部品を提供することを目的としている。
(課題を解決するための手段)
この発明は、りん青銅基板表面に厚さ0.01μm以]
二のニッケルをめっきし、このニッケルをりん青銅基板
中に拡散させたニッケル拡散層、及びこのニッケル拡散
層上に形成した金属層を有することを特徴とする電子機
器用部品に係るものである。
二のニッケルをめっきし、このニッケルをりん青銅基板
中に拡散させたニッケル拡散層、及びこのニッケル拡散
層上に形成した金属層を有することを特徴とする電子機
器用部品に係るものである。
(作用)
りん青銅基板中にニッケルを拡散させて合金化したので
錫めっきの耐熱信頼性が向上するが、その理由を以下に
説明する。
錫めっきの耐熱信頼性が向上するが、その理由を以下に
説明する。
ニッケルは錫及び錫合金などの金属層の下地めっきとし
て行われた場合、銅合金母材からの元素の錫及び錫合金
中への拡散を防ぐ効果があることが知られているが、ニ
ッケルには、下地めっきのように単独層をつくらなくて
も銅合金中にある濃度以−ト含有されていれば、銅合金
中の添加元素の拡散を抑制する効果を持つ。
て行われた場合、銅合金母材からの元素の錫及び錫合金
中への拡散を防ぐ効果があることが知られているが、ニ
ッケルには、下地めっきのように単独層をつくらなくて
も銅合金中にある濃度以−ト含有されていれば、銅合金
中の添加元素の拡散を抑制する効果を持つ。
錫及び錫合金めっき付きりん青銅の耐熱信頼性を阻害す
る要因としては、りん青銅中のP。
る要因としては、りん青銅中のP。
Fe、Siなどの微量添加元素がめつき層に拡散し、母
材とめつき層の界面に偏析しあるいは、脆弱な化合物を
生成して、lす材とめっき層との剥離を引きおこすため
である。
材とめつき層の界面に偏析しあるいは、脆弱な化合物を
生成して、lす材とめっき層との剥離を引きおこすため
である。
Il材の表面にニッケルをめっきし、さらにこのニッケ
ルを)JJ封材中拡散させることにより、Fu材表面の
数ミクロンにニッケルを含有する層か生成され、Iす材
中のP、Fe、Siなどの拡散はこの層により抑制され
、母材とめワき膜界面での偏析及び脆弱な化合物の生成
を防ぎ母材とめっき層の剥離を防ぐ。ニッケルめっき層
は、厚すぎるとめっき層全部を拡散させるのに時間が掛
り、薄すぎると抑制効果がでないため、めっき層はO,
0f−1,0μmの厚さが適している。
ルを)JJ封材中拡散させることにより、Fu材表面の
数ミクロンにニッケルを含有する層か生成され、Iす材
中のP、Fe、Siなどの拡散はこの層により抑制され
、母材とめワき膜界面での偏析及び脆弱な化合物の生成
を防ぎ母材とめっき層の剥離を防ぐ。ニッケルめっき層
は、厚すぎるとめっき層全部を拡散させるのに時間が掛
り、薄すぎると抑制効果がでないため、めっき層はO,
0f−1,0μmの厚さが適している。
また、tす材表面のニッケル含有層は、ニッケルめワき
層に比較して軟らかく、母材と同程度の硬さなので、プ
レス加工時に鋳型の摩耗を減少させ寿命を長くする。
層に比較して軟らかく、母材と同程度の硬さなので、プ
レス加工時に鋳型の摩耗を減少させ寿命を長くする。
りん青銅にNi、Fe、Cr、Zr、Co。
Zn、Si、Mnの内1種以上を0.05〜0.8fi
i%含有させることにより、りん青銅の機械的性質やめ
っき付は性などの諸性質が改善されるので、多くの場合
前記のような徴■元素が添加される。
i%含有させることにより、りん青銅の機械的性質やめ
っき付は性などの諸性質が改善されるので、多くの場合
前記のような徴■元素が添加される。
りん青銅基板ははんだ付は性を良くするため表面に錫及
び錫合金めっきなどの金属層を形成して使用されるが、
錫及び錫合金のめっき層をリフロー処理することにより
めっき層の性質を改善することができる。
び錫合金めっきなどの金属層を形成して使用されるが、
錫及び錫合金のめっき層をリフロー処理することにより
めっき層の性質を改善することができる。
以下にこの発明を実施例に基づいて説明する。
本発明に係る電子R器用部品は、Sn0.5〜10、P
o、01〜0.5及び残部鋼の各重量%の組成よりなる
りん青銅基板及び航記り/、ff銅基板にNi、Fe、
Cr、Zr、Co、Zn。
o、01〜0.5及び残部鋼の各重量%の組成よりなる
りん青銅基板及び航記り/、ff銅基板にNi、Fe、
Cr、Zr、Co、Zn。
Si、Mnの内1種以上を0.05〜0.8重量%含有
させた特殊りん青銅基板の最終焼鈍航にニッケルめっき
を施し、母材の最終焼鈍とニッケルめっきの拡散をかね
て500℃で5時間の加熱処理を施し、さらに仕上圧延
を行し\、最終の錫及び錫合金めフきを施して供試した
。
させた特殊りん青銅基板の最終焼鈍航にニッケルめっき
を施し、母材の最終焼鈍とニッケルめっきの拡散をかね
て500℃で5時間の加熱処理を施し、さらに仕上圧延
を行し\、最終の錫及び錫合金めフきを施して供試した
。
また、比較用として従来の錫めっき付きりん、+1銅も
合せて供試し、耐熱信頼性試験を実施した。
合せて供試し、耐熱信頼性試験を実施した。
特殊添加成分及びめっき厚さを変化させた場合の本発明
に係わる実施例に基づいた電子機器用部品と従来の比較
部品について次のような試験条件で試験を実施した。
に係わる実施例に基づいた電子機器用部品と従来の比較
部品について次のような試験条件で試験を実施した。
(1)耐熱温度:100℃
(2)耐熱時間7500時間及び1000時間(3)剥
離試験=180°密着曲げ 第1表は本発明による電子機器用部品と比較部11′1
との耐熱信頼性を測定した表であり、実施例2〜13ま
でが本発明に係わる電子機器用部品である。
離試験=180°密着曲げ 第1表は本発明による電子機器用部品と比較部11′1
との耐熱信頼性を測定した表であり、実施例2〜13ま
でが本発明に係わる電子機器用部品である。
実施例2は、りんh銅基板にニッケル0.01μmめっ
き後熱処理した部品であり1000時間の耐熱試験後で
もめっき層の剥離はなかった。
き後熱処理した部品であり1000時間の耐熱試験後で
もめっき層の剥離はなかった。
実施例3はZrO,15,1jjt%、実施例5はCr
0916重量%、実施例6はNi0.2重fi%、実施
例7はFed、5重量%、実施例8はSiO,2+’1
lrJ%、実施例9はMnO,3及びC。
0916重量%、実施例6はNi0.2重fi%、実施
例7はFed、5重量%、実施例8はSiO,2+’1
lrJ%、実施例9はMnO,3及びC。
O,2各重量%、実施例12はZn0.25重看%、そ
れぞれ添加した部品であり、すへての部品が1000時
間耐熱試験後もめっき層の剥離はなかった。実施例5及
び実施例11は下地めっきが施されていない部品である
が1000時間耐熱試験後もめっき層の剥離はなかった
。実施例4はニッケル0.5μmめっき後熱処理した部
品であり、実施例10は錫合金を2.0μmはんだ付け
した部品であり、実施例13は錫合金を1、Ol、1m
はんだ付けした後リフロー処理した部品であり、いずれ
の部品も1000時間耐熱試験後もめっき層の剥離はな
かった。
れぞれ添加した部品であり、すへての部品が1000時
間耐熱試験後もめっき層の剥離はなかった。実施例5及
び実施例11は下地めっきが施されていない部品である
が1000時間耐熱試験後もめっき層の剥離はなかった
。実施例4はニッケル0.5μmめっき後熱処理した部
品であり、実施例10は錫合金を2.0μmはんだ付け
した部品であり、実施例13は錫合金を1、Ol、1m
はんだ付けした後リフロー処理した部品であり、いずれ
の部品も1000時間耐熱試験後もめっき層の剥離はな
かった。
実施例はすべて1000時間耐熱試験後でもR)材とめ
っき層の剥離は発生しなかった。しかし、従来の比較部
品は、銅下地めワき2μm(比較例14)及びニッケル
下地めっき0.5μm(比較例18)を施したものでは
、t ooo時間耐熱試験後でも剥離しなかったが、下
地めっき厚さが前記以下である比較部品はすべて100
0時間耐熱試験後には剥離が発生した。また、ニッケル
めっき後熱処理を行なった部品でもニッケルめっき厚が
0.005μm(比較例1)と薄い場合は、1000時
間耐熱試験後に剥離が発生したので、ニッケル拡散層の
抑制効果を得るためにはニッケルめっき厚が0.01μ
m以上必要である。
っき層の剥離は発生しなかった。しかし、従来の比較部
品は、銅下地めワき2μm(比較例14)及びニッケル
下地めっき0.5μm(比較例18)を施したものでは
、t ooo時間耐熱試験後でも剥離しなかったが、下
地めっき厚さが前記以下である比較部品はすべて100
0時間耐熱試験後には剥離が発生した。また、ニッケル
めっき後熱処理を行なった部品でもニッケルめっき厚が
0.005μm(比較例1)と薄い場合は、1000時
間耐熱試験後に剥離が発生したので、ニッケル拡散層の
抑制効果を得るためにはニッケルめっき厚が0.01μ
m以上必要である。
(発明の効果)
本発明に係わる電子機器用部品は、りん青銅基板表面に
ニッケルをめっきし、さらにこのニッケルを母材中に拡
散させてニッケル拡散層を形成しであるので錫めっきな
どの金属層の耐熱イ3頼性が向上し、自動車部品など高
温下で使用される電子機器用部品にきわめて有効に使用
できる。
ニッケルをめっきし、さらにこのニッケルを母材中に拡
散させてニッケル拡散層を形成しであるので錫めっきな
どの金属層の耐熱イ3頼性が向上し、自動車部品など高
温下で使用される電子機器用部品にきわめて有効に使用
できる。
Claims (1)
- りん青銅基板表面に厚さ0.01μm以上のニッケル
をめっきし、このニッケルをりん青銅基板中に拡散させ
たニッケル拡散層、及びこのニッケル拡散層上に形成し
た金属層を有することを特徴とする電子機器用部品。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1399690A JPH03219064A (ja) | 1990-01-24 | 1990-01-24 | 電子機器用部品 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1399690A JPH03219064A (ja) | 1990-01-24 | 1990-01-24 | 電子機器用部品 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03219064A true JPH03219064A (ja) | 1991-09-26 |
Family
ID=11848843
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1399690A Pending JPH03219064A (ja) | 1990-01-24 | 1990-01-24 | 電子機器用部品 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03219064A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6480056A (en) * | 1987-09-21 | 1989-03-24 | Dainippon Printing Co Ltd | Manufacture of conductive material for electronic component |
-
1990
- 1990-01-24 JP JP1399690A patent/JPH03219064A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6480056A (en) * | 1987-09-21 | 1989-03-24 | Dainippon Printing Co Ltd | Manufacture of conductive material for electronic component |
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