JPH03220406A - Ficリード曲がり検査装置 - Google Patents
Ficリード曲がり検査装置Info
- Publication number
- JPH03220406A JPH03220406A JP1519890A JP1519890A JPH03220406A JP H03220406 A JPH03220406 A JP H03220406A JP 1519890 A JP1519890 A JP 1519890A JP 1519890 A JP1519890 A JP 1519890A JP H03220406 A JPH03220406 A JP H03220406A
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- Japan
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- lead
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- circuit
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- inspected
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 69
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims description 14
- 230000003760 hair shine Effects 0.000 claims 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 abstract description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はFICリード曲がり検査装置、特にプリント基
板にはんだ付けされた表面実装置Cのリードの曲がりを
検査するFICリード曲がり検査装置に関する。
板にはんだ付けされた表面実装置Cのリードの曲がりを
検査するFICリード曲がり検査装置に関する。
従来のリード曲がり検査装置は、検査対象部品の隣接す
るリード間に斜め上方から光を照射する照明21と、検
査対象部品の画像を取り込む上方に取り付けられたカメ
ラ22と、そのカメラから取り込んだ濃淡画像信号eの
明るい部分は“1”に、暗い部分は“0”の二値化画像
信号fに変換する二値化回路23と、検査対象部品の一
本のリードの両側にリード曲がりの許容できる限界の座
標に発生させる二つの検査領域を記憶する検査領域記憶
回路25と、前記二値化回路より出力される二値化画像
に前記検査領域記憶回路に記憶されている検査領域信号
gを発生させる検査領域発生回路24と、該検査領域発
生回路より出力される検査領域内二値化画像信号りより
、検査領域内に1°′のエリアがあるか判定する判定回
路26とを含んで構成される。
るリード間に斜め上方から光を照射する照明21と、検
査対象部品の画像を取り込む上方に取り付けられたカメ
ラ22と、そのカメラから取り込んだ濃淡画像信号eの
明るい部分は“1”に、暗い部分は“0”の二値化画像
信号fに変換する二値化回路23と、検査対象部品の一
本のリードの両側にリード曲がりの許容できる限界の座
標に発生させる二つの検査領域を記憶する検査領域記憶
回路25と、前記二値化回路より出力される二値化画像
に前記検査領域記憶回路に記憶されている検査領域信号
gを発生させる検査領域発生回路24と、該検査領域発
生回路より出力される検査領域内二値化画像信号りより
、検査領域内に1°′のエリアがあるか判定する判定回
路26とを含んで構成される。
次に従来のリード曲がり検査装置について図面を参照し
て詳細に説明する。第3図の照明21は、検査対象部品
に、斜め上方から光を照射する。カメラ22は検査対象
部品の上方に取り付けられ、検査対象部品の画像を取り
込み濃淡画像信号eを出力する。二値化回路23は、前
記濃淡画像信号eを入力しあらかじめ設定した二値化レ
ベルにより明るい部分に対応した”1°′と暗い部分に
対応した°0゛に変換し、二値化画像信号fを出力する
。検査領域発生回路24では、前記二値化画像信号fを
入力し検査領域記憶回路25に記憶されている検査領域
信号gにより設定される検査対象部品の一本のリードの
両側にリード曲がりの許容できる限界の座標に検査領域
を発生させ、該検査領域内の二値化画像のみを抽出した
検査領域内二値化画像信号りを出力する。判定回路26
では、前記検査領域内二値化画像信号りを入力し、“1
°°のエリアがあればはんだボールありと判定する。
て詳細に説明する。第3図の照明21は、検査対象部品
に、斜め上方から光を照射する。カメラ22は検査対象
部品の上方に取り付けられ、検査対象部品の画像を取り
込み濃淡画像信号eを出力する。二値化回路23は、前
記濃淡画像信号eを入力しあらかじめ設定した二値化レ
ベルにより明るい部分に対応した”1°′と暗い部分に
対応した°0゛に変換し、二値化画像信号fを出力する
。検査領域発生回路24では、前記二値化画像信号fを
入力し検査領域記憶回路25に記憶されている検査領域
信号gにより設定される検査対象部品の一本のリードの
両側にリード曲がりの許容できる限界の座標に検査領域
を発生させ、該検査領域内の二値化画像のみを抽出した
検査領域内二値化画像信号りを出力する。判定回路26
では、前記検査領域内二値化画像信号りを入力し、“1
°°のエリアがあればはんだボールありと判定する。
上述した従来のはんだ付は検査装置は、検査領域を計算
上リード曲がりが許容できる限界の座標に発生させ、該
検査領域内にリードからの反射光があるとリード曲がり
と判定していたので、検査領域の座標発生精度やリード
を載せるパッドの加工精度の影響を受はリード曲がりを
精度よく検出できないという欠点があった。
上リード曲がりが許容できる限界の座標に発生させ、該
検査領域内にリードからの反射光があるとリード曲がり
と判定していたので、検査領域の座標発生精度やリード
を載せるパッドの加工精度の影響を受はリード曲がりを
精度よく検出できないという欠点があった。
本発明のリード曲がり検査装置は、検査対象部品に斜め
上方から光を照射する照明と、検査対象部品の画像を取
り込む上方に取り付けられたカメラと、該カメラから取
り込んだ濃淡画像の明るい部分は“°1“の二値化画像
に暗い部分は“O″の二値化画像にそれぞれ変換する二
値化回路と、検査対象部品の内一本のリードを含み該リ
ードと直角な方向の端が左右の隣接するリードにかから
ない検査領域を記憶する検査領域記憶回路と、前記二値
化回路より出力される二値化画像に前記検査領域記憶回
路に記憶されている検査領域を発生させる検査領域発生
回路と、該検査領域発生回路より出力される検査領域内
二値化画像信号より前記検査領域内のリードからの反射
光による゛1パのエリアを検出し該エリアのリードと直
角な方向の長さがあらかじめ設定した判定値より長けれ
ばリード曲がりと判定する判定回路とを備えて構成され
る。
上方から光を照射する照明と、検査対象部品の画像を取
り込む上方に取り付けられたカメラと、該カメラから取
り込んだ濃淡画像の明るい部分は“°1“の二値化画像
に暗い部分は“O″の二値化画像にそれぞれ変換する二
値化回路と、検査対象部品の内一本のリードを含み該リ
ードと直角な方向の端が左右の隣接するリードにかから
ない検査領域を記憶する検査領域記憶回路と、前記二値
化回路より出力される二値化画像に前記検査領域記憶回
路に記憶されている検査領域を発生させる検査領域発生
回路と、該検査領域発生回路より出力される検査領域内
二値化画像信号より前記検査領域内のリードからの反射
光による゛1パのエリアを検出し該エリアのリードと直
角な方向の長さがあらかじめ設定した判定値より長けれ
ばリード曲がりと判定する判定回路とを備えて構成され
る。
次に、本発明の実施例について図面を参照して詳細に説
明する。
明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。第
1図の照明1は検査対象部品に斜め上方から光を照射す
る。カメラ2は検査対象部品の上方に取り付けられ、検
査対象部品の画像を取り込み濃淡画像信号aを出力する
。二値化回路3は濃淡画像信号aを入力し、あらかじめ
設定した二値化レベルにより明るい部分に対応した“1
″と、暗い部分に対応した0”とに変換し、二値化画像
信号すを出力する。検査領域発生回路4では、二値化画
像信号すを入力し、検査領域記憶回路5に記憶されてい
る検査領域信号Cにより設定される検査対象部品のリー
ドを含み、該リードと直角な方向(以下X方向と呼ぶ)
の端が左右の隣接するリードにかからない検査領域を発
生させ、該検査領域内の二値化画像のみを抽出した検査
領域内二値化画像信号dを出力する。判定回路6では、
前記検査領域内二値化画像信号dを入力し、前記検査領
域内のリード部分のエリア11を検出し、該エリアのX
方向の最大座標と最小座標の差よりX方向の長さを求め
る。該測長したX方向の長さがあらかじめ設定した判定
値より長ければ、はんだボールあつと判定する。
1図の照明1は検査対象部品に斜め上方から光を照射す
る。カメラ2は検査対象部品の上方に取り付けられ、検
査対象部品の画像を取り込み濃淡画像信号aを出力する
。二値化回路3は濃淡画像信号aを入力し、あらかじめ
設定した二値化レベルにより明るい部分に対応した“1
″と、暗い部分に対応した0”とに変換し、二値化画像
信号すを出力する。検査領域発生回路4では、二値化画
像信号すを入力し、検査領域記憶回路5に記憶されてい
る検査領域信号Cにより設定される検査対象部品のリー
ドを含み、該リードと直角な方向(以下X方向と呼ぶ)
の端が左右の隣接するリードにかからない検査領域を発
生させ、該検査領域内の二値化画像のみを抽出した検査
領域内二値化画像信号dを出力する。判定回路6では、
前記検査領域内二値化画像信号dを入力し、前記検査領
域内のリード部分のエリア11を検出し、該エリアのX
方向の最大座標と最小座標の差よりX方向の長さを求め
る。該測長したX方向の長さがあらかじめ設定した判定
値より長ければ、はんだボールあつと判定する。
次に、第2図を用いて、リード曲がり検出の原理を説明
する。
する。
第2図は二値化画像信号のパターン図である。
点線部はパッド7上のり−ド8を含みリードと直角な方
向の端が隣接する左右のリードにかがらない検査領域っ
である。照明1はパッド7とリード8からの反射光がカ
メラ2に入射する角度に取り付けられており、反射率の
高いパッド7とリード8からの反射光が強いため、二値
化画像信号の“1″のエリアを示す斜線部はパッド及び
リード部分のエリア10となる。
向の端が隣接する左右のリードにかがらない検査領域っ
である。照明1はパッド7とリード8からの反射光がカ
メラ2に入射する角度に取り付けられており、反射率の
高いパッド7とリード8からの反射光が強いため、二値
化画像信号の“1″のエリアを示す斜線部はパッド及び
リード部分のエリア10となる。
判定回路6では、まずパッド及びリードからの反射光に
よるパッド及びリード部分のエリア10を検出する。通
常検査領域9の内の“1′”のエリアはパッド及びリー
ド部分のエリア10のみであるが、はんだボールなどが
存在する場合は′″1″′のエリアははんだボールなど
からの反射光のために複数となる。パッド及びリード部
分のエリアの検出方法としては例えば、検査領域9はパ
ッド7からX方向左右均等に発生されることから、複数
のパ1”のエリアのうちX方向の中心座標が、検査領域
9のX方向の中心座標に最も近い“1”のエリアを、パ
ッド及びリード部分のエリア10として検出することが
できる。次に、検出したパッド及びリード部分のエリア
10のX方向の長さをX方向の最大座標XMAXと最小
座標XMINの差より求め、あらかじめ設定しである判
定値と比較し、判定値より大きければリード曲がりと判
定する。
よるパッド及びリード部分のエリア10を検出する。通
常検査領域9の内の“1′”のエリアはパッド及びリー
ド部分のエリア10のみであるが、はんだボールなどが
存在する場合は′″1″′のエリアははんだボールなど
からの反射光のために複数となる。パッド及びリード部
分のエリアの検出方法としては例えば、検査領域9はパ
ッド7からX方向左右均等に発生されることから、複数
のパ1”のエリアのうちX方向の中心座標が、検査領域
9のX方向の中心座標に最も近い“1”のエリアを、パ
ッド及びリード部分のエリア10として検出することが
できる。次に、検出したパッド及びリード部分のエリア
10のX方向の長さをX方向の最大座標XMAXと最小
座標XMINの差より求め、あらかじめ設定しである判
定値と比較し、判定値より大きければリード曲がりと判
定する。
リードが曲がっていない場合、パッド及びリード部分の
エリア10のX方向の長さはバッド幅になるのにたいし
て、リード曲がりのためにリードがパッドからはみだし
ている場合はパッド及びリード部分エリア10のX方向
の長さはパッド幅と曲がったリードのパッドからはみだ
した長さとを加えた値となる。そのため判定値をパッド
幅に許容されるパッドからはみだすリードの長さを加え
た値に設定しておくことで、許容される以上パッドから
はみだしたリードをリード曲がりと検出することができ
る。
エリア10のX方向の長さはバッド幅になるのにたいし
て、リード曲がりのためにリードがパッドからはみだし
ている場合はパッド及びリード部分エリア10のX方向
の長さはパッド幅と曲がったリードのパッドからはみだ
した長さとを加えた値となる。そのため判定値をパッド
幅に許容されるパッドからはみだすリードの長さを加え
た値に設定しておくことで、許容される以上パッドから
はみだしたリードをリード曲がりと検出することができ
る。
本発明のリード曲がり検査装置は、検査領域を検査対象
部品のリードの両側にリード曲がりの許容できる限界の
座標に発生させ検査領域内にリードからの反射光が入っ
たら欠陥と判定していたかわりに、検査領域を一本のリ
ードを含み隣接する左右のリードにかからないように発
生させ、パッドとリード部分からの反射光のリードと直
角な方向の幅を求めリードがパッドからはみだしている
長さにより判定するので、検査領域の座標発生精度やリ
ードを載せるパッドの加工精度等に影響を受けずに精度
よくリード曲がりを検出することができるという効果が
ある。
部品のリードの両側にリード曲がりの許容できる限界の
座標に発生させ検査領域内にリードからの反射光が入っ
たら欠陥と判定していたかわりに、検査領域を一本のリ
ードを含み隣接する左右のリードにかからないように発
生させ、パッドとリード部分からの反射光のリードと直
角な方向の幅を求めリードがパッドからはみだしている
長さにより判定するので、検査領域の座標発生精度やリ
ードを載せるパッドの加工精度等に影響を受けずに精度
よくリード曲がりを検出することができるという効果が
ある。
判定回路、7・・・パッド、8・・・リード、9・・・
検査領域、10・・・パッド及びリード部分のエリア、
a・・・濃淡画像信号、b・・・二値化画像信号、C・
・・検査領域信号、d・・・検査領域内二値化画像信号
。
検査領域、10・・・パッド及びリード部分のエリア、
a・・・濃淡画像信号、b・・・二値化画像信号、C・
・・検査領域信号、d・・・検査領域内二値化画像信号
。
Claims (1)
- 検査対象部品に斜め上方から光を照射する照明と、検査
対象部品の画像を取り込む上方に取り付けられたカメラ
と、該カメラから取り込んだ濃淡画像の明るい部分は“
1”の二値化画像に暗い部分は“0”の二値化画像にそ
れぞれ変換する二値化回路と、検査対象部品の内一本の
リードを含み該リードと直角な方向の端が左右の隣接す
るリードにかからない検査領域を記憶する検査領域記憶
回路と、前記二値化回路より出力される二値化画像に前
記検査領域記憶回路に記憶されている検査領域を発生さ
せる検査領域発生回路と、該検査領域発生回路より出力
される検査領域内二値化画像信号より前記検査領域内の
リードからの反射光による“1”のエリアを検出し該エ
リアのリードと直角な方向の長さがあらかじめ設定した
判定値より長ければリード曲がりと判定する判定回路と
を備えて成ることを特徴とするFICリード曲がり検査
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1519890A JPH03220406A (ja) | 1990-01-24 | 1990-01-24 | Ficリード曲がり検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1519890A JPH03220406A (ja) | 1990-01-24 | 1990-01-24 | Ficリード曲がり検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03220406A true JPH03220406A (ja) | 1991-09-27 |
Family
ID=11882169
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1519890A Pending JPH03220406A (ja) | 1990-01-24 | 1990-01-24 | Ficリード曲がり検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03220406A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05272952A (ja) * | 1992-03-27 | 1993-10-22 | Shimazu Kinzoku Seiko Kk | X線テレビジョン透視装置 |
| JPH0743124A (ja) * | 1993-08-03 | 1995-02-10 | Nec Corp | 実装基板検査装置 |
-
1990
- 1990-01-24 JP JP1519890A patent/JPH03220406A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05272952A (ja) * | 1992-03-27 | 1993-10-22 | Shimazu Kinzoku Seiko Kk | X線テレビジョン透視装置 |
| JPH0743124A (ja) * | 1993-08-03 | 1995-02-10 | Nec Corp | 実装基板検査装置 |
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