JPH0322573B2 - - Google Patents
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- JPH0322573B2 JPH0322573B2 JP57167231A JP16723182A JPH0322573B2 JP H0322573 B2 JPH0322573 B2 JP H0322573B2 JP 57167231 A JP57167231 A JP 57167231A JP 16723182 A JP16723182 A JP 16723182A JP H0322573 B2 JPH0322573 B2 JP H0322573B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pressure
- sensor
- pressure side
- diaphragm
- barrier
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L13/00—Devices or apparatus for measuring differences of two or more fluid pressure values
- G01L13/02—Devices or apparatus for measuring differences of two or more fluid pressure values using elastically-deformable members or pistons as sensing elements
- G01L13/025—Devices or apparatus for measuring differences of two or more fluid pressure values using elastically-deformable members or pistons as sensing elements using diaphragms
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はプロセス変量である2点間の圧力差を
測定する差圧発信器に関するものである。
測定する差圧発信器に関するものである。
例えば管内流体の流量を測定しようとする場
合、管内にオリフイス板を設けて流退抵抗とし、
その上流側と下流側との圧力差を測定して所定の
演算式に基づき流量を算定することが行なわれて
いる。この種の圧力差測定に用いられる差圧発信
器は、高圧側と低圧側との受圧ダイヤフラムに各
測定圧力を与え、この圧力による内封液の移動を
封入回路を仕切つて設けた半導体センサの歪によ
り電気的出力として取出すように構成されてい
る。
合、管内にオリフイス板を設けて流退抵抗とし、
その上流側と下流側との圧力差を測定して所定の
演算式に基づき流量を算定することが行なわれて
いる。この種の圧力差測定に用いられる差圧発信
器は、高圧側と低圧側との受圧ダイヤフラムに各
測定圧力を与え、この圧力による内封液の移動を
封入回路を仕切つて設けた半導体センサの歪によ
り電気的出力として取出すように構成されてい
る。
ところが、この種の差圧発信器においては、プ
ロセスの測定仕様に応じた寸法、強度、材料など
を備えた受圧ダイヤフラムが選定されて用いられ
たとしても、時には過大圧力を受けることがあ
り、この過圧が半導体センサに及んで、これを損
傷させることにより爾後の測定を不可能にするこ
とがある。そこで従来この過大圧力からセンサを
保護するために各種の装置が提案されている。
ロセスの測定仕様に応じた寸法、強度、材料など
を備えた受圧ダイヤフラムが選定されて用いられ
たとしても、時には過大圧力を受けることがあ
り、この過圧が半導体センサに及んで、これを損
傷させることにより爾後の測定を不可能にするこ
とがある。そこで従来この過大圧力からセンサを
保護するために各種の装置が提案されている。
第1図はこの種の過大圧力保護構造をもつた従
来の差圧発信器の断面図であつて、これを同図に
基いて説明すると、半割状のボデイ1の両側に
は、波形円板状に形成された高圧側のバリアダイ
ヤフラム2と低圧側のバリアダイヤフラム3とが
装着されており、これらのバリアダイヤフラム
2,3には、ボデイ1にボルト締めされた両側の
カバー4とボデイ1との間の孔5,6から流入す
る流体によつて高圧と低圧とがそれぞれ印加され
る。一方、ボデイ1上方のサンサカプセル7内の
センサ室には、図示しない端子と接続された半導
体センサ8が、基板9に接合保持されており、こ
のセンサ8の下側である高圧側8aと上側である
低圧側8bには、液通路10,11を介してボデ
イ側の高圧側と低圧側に接続されている。(構造
例としては、特開昭56−87372号公報がある)な
お、このようにセンサ8に高圧側8aと低圧側8
bとがあるのは、この種のセンサには、耐圧力強
度に方向性があるからである。すなわち、センサ
8を基板に接合しているために、反接合方向(上
側から下方へ向かう方向)からの圧力には弱く、
逆に接合方向からの圧力に対しては相対的に破壊
強度が強いからである。符号12で示すものは波
形円板状に形成されたセンタダイヤフラムであつ
て、半割状ボデイ1の中央接合部に設けた内室を
高圧側内室13と低圧側内室14とに隔成するよ
うにボデイ1に固定されており、前記各液通路1
0,11は内室13,14にそれぞれ開口されて
いる。また、前記各バリアダイヤフラム2,3と
ボデイ1との間に形成されたすき間と内室13,
14とは、液通路15,16によつてそれぞれ連
通されている。そして、バリアダイヤフラム2,
3とボデイ1との間のすき間から液通路15,1
6、内室13,14および液通路10,11を経
てセンサ8の高圧側8aと低圧側8bとに至る間
には、シリコンオイル等の内封液17が封入され
ている。
来の差圧発信器の断面図であつて、これを同図に
基いて説明すると、半割状のボデイ1の両側に
は、波形円板状に形成された高圧側のバリアダイ
ヤフラム2と低圧側のバリアダイヤフラム3とが
装着されており、これらのバリアダイヤフラム
2,3には、ボデイ1にボルト締めされた両側の
カバー4とボデイ1との間の孔5,6から流入す
る流体によつて高圧と低圧とがそれぞれ印加され
る。一方、ボデイ1上方のサンサカプセル7内の
センサ室には、図示しない端子と接続された半導
体センサ8が、基板9に接合保持されており、こ
のセンサ8の下側である高圧側8aと上側である
低圧側8bには、液通路10,11を介してボデ
イ側の高圧側と低圧側に接続されている。(構造
例としては、特開昭56−87372号公報がある)な
お、このようにセンサ8に高圧側8aと低圧側8
bとがあるのは、この種のセンサには、耐圧力強
度に方向性があるからである。すなわち、センサ
8を基板に接合しているために、反接合方向(上
側から下方へ向かう方向)からの圧力には弱く、
逆に接合方向からの圧力に対しては相対的に破壊
強度が強いからである。符号12で示すものは波
形円板状に形成されたセンタダイヤフラムであつ
て、半割状ボデイ1の中央接合部に設けた内室を
高圧側内室13と低圧側内室14とに隔成するよ
うにボデイ1に固定されており、前記各液通路1
0,11は内室13,14にそれぞれ開口されて
いる。また、前記各バリアダイヤフラム2,3と
ボデイ1との間に形成されたすき間と内室13,
14とは、液通路15,16によつてそれぞれ連
通されている。そして、バリアダイヤフラム2,
3とボデイ1との間のすき間から液通路15,1
6、内室13,14および液通路10,11を経
てセンサ8の高圧側8aと低圧側8bとに至る間
には、シリコンオイル等の内封液17が封入され
ている。
以上のように構成された差圧発信器において、
バリアダイヤフラム2,3にプロセスからの高圧
と低圧とがそれぞれ印加されると、バリアダイヤ
フラム2,3が撓んでこれによる圧縮分だけ内封
液17が移動し、両側の圧力差による内封液17
の移動量の差をセンサ8が検出し、これを電気信
号として発信することにより差圧が測定される。
この場合センタダイヤフラム12は両側の圧力差
によつて変形するが内室13,14の壁面には接
触しない。また、バリアダイヤフラム2,3も通
常の差圧測定範囲ではボデイ1に接触するような
ことはない。ここで、例えば高圧側に過大圧力が
作用すると、高圧側のバリアダイヤフラム2が大
きく変形してボデイ1へ全面的に接触するので、
それ以上は高圧側の圧力が内部に伝達されなくな
る。すなわち、バリアダイヤフラム2がボデイ1
に着座することによつてセンサ8を過大圧力から
保護する。このような保護機能は低圧側に過大圧
力が加わつた場合も同様である。
バリアダイヤフラム2,3にプロセスからの高圧
と低圧とがそれぞれ印加されると、バリアダイヤ
フラム2,3が撓んでこれによる圧縮分だけ内封
液17が移動し、両側の圧力差による内封液17
の移動量の差をセンサ8が検出し、これを電気信
号として発信することにより差圧が測定される。
この場合センタダイヤフラム12は両側の圧力差
によつて変形するが内室13,14の壁面には接
触しない。また、バリアダイヤフラム2,3も通
常の差圧測定範囲ではボデイ1に接触するような
ことはない。ここで、例えば高圧側に過大圧力が
作用すると、高圧側のバリアダイヤフラム2が大
きく変形してボデイ1へ全面的に接触するので、
それ以上は高圧側の圧力が内部に伝達されなくな
る。すなわち、バリアダイヤフラム2がボデイ1
に着座することによつてセンサ8を過大圧力から
保護する。このような保護機能は低圧側に過大圧
力が加わつた場合も同様である。
しかしながら、このような過大圧力保護構造を
もつた差圧発信器は、過大圧力が作用しない通常
の測定圧力範囲内においても内封液17がセンサ
8方向だけではなくセンタダイヤフラム12を変
位させる方向へも移動し、バリアダイヤフラム
2,3に対する圧力がそのままセンサ8に伝達さ
れないから伝達効率が低く応答性が悪い。また、
センタダイヤフラム12が内室12,13内にお
いては何物によつても保持されておらず、いわゆ
る揺動自在に周縁部が保持されているに過ぎない
から、機械的なヒステリシスにより測定精度が低
下するという欠点があつた。
もつた差圧発信器は、過大圧力が作用しない通常
の測定圧力範囲内においても内封液17がセンサ
8方向だけではなくセンタダイヤフラム12を変
位させる方向へも移動し、バリアダイヤフラム
2,3に対する圧力がそのままセンサ8に伝達さ
れないから伝達効率が低く応答性が悪い。また、
センタダイヤフラム12が内室12,13内にお
いては何物によつても保持されておらず、いわゆ
る揺動自在に周縁部が保持されているに過ぎない
から、機械的なヒステリシスにより測定精度が低
下するという欠点があつた。
本発明は以上のような点に鑑みなされたもの
で、低圧側からの過大圧力に対して弱いセンサを
備えた差圧発信器において、内室を二室に仕切る
センタダイヤフラムを通常の測定圧力範囲下にお
いてボデイ内室の低圧側壁面に着座させた構造と
することにより、通常の測定圧力時における内封
液の移動およびセンタダイヤフラムの撓みを少な
くしてヒステリシスの減少と応答性を向上させた
差圧発信器を提供するものである。以下、本発明
の実施例を図面に基いて詳細に説明する。
で、低圧側からの過大圧力に対して弱いセンサを
備えた差圧発信器において、内室を二室に仕切る
センタダイヤフラムを通常の測定圧力範囲下にお
いてボデイ内室の低圧側壁面に着座させた構造と
することにより、通常の測定圧力時における内封
液の移動およびセンタダイヤフラムの撓みを少な
くしてヒステリシスの減少と応答性を向上させた
差圧発信器を提供するものである。以下、本発明
の実施例を図面に基いて詳細に説明する。
第2図は本発明に係る差圧発信器の実施例を示
す断面図である。同図において、差圧発信器21
のボデイ22は圧さ方向中央部に達する円形の凹
部を備えた低圧側のパツクプレート22aと、そ
の凹部に嵌合のうえ溶接された高圧側のパツクプ
レート22bとで一体的に形成されている。各バ
ツクプレート22a,22bの側部受圧凹陥面に
は、波形円板状に形成された低圧側のバリアダイ
ヤフラム23と高圧側のバリアダイヤフラム24
とが、同形状の受圧底面との間にすき間からなる
低圧側バリアダイヤフラム室25、高圧側バリア
ダイヤフラム室26が形成されるように周縁部を
ボデイ22側に固定されている。また、各バツク
プレート22a,22bには、図示を省略したが
第1図に示したものと同じようなカバーが接合さ
れており、低・高圧各側のバリアダイヤフラム2
3,24にはカバーの孔から流入する低圧と高圧
の流体がそれぞれ印加される。低・高圧バリアダ
イヤフラム室25,26は両端部に絞りを有する
液通路27で連結されており、この液通路27上
であるバツクプレート22a,22bの接合部に
は、同心円波形状の底面を有するボデイ内室28
が、バツクプレート22b側に設けられている。
す断面図である。同図において、差圧発信器21
のボデイ22は圧さ方向中央部に達する円形の凹
部を備えた低圧側のパツクプレート22aと、そ
の凹部に嵌合のうえ溶接された高圧側のパツクプ
レート22bとで一体的に形成されている。各バ
ツクプレート22a,22bの側部受圧凹陥面に
は、波形円板状に形成された低圧側のバリアダイ
ヤフラム23と高圧側のバリアダイヤフラム24
とが、同形状の受圧底面との間にすき間からなる
低圧側バリアダイヤフラム室25、高圧側バリア
ダイヤフラム室26が形成されるように周縁部を
ボデイ22側に固定されている。また、各バツク
プレート22a,22bには、図示を省略したが
第1図に示したものと同じようなカバーが接合さ
れており、低・高圧各側のバリアダイヤフラム2
3,24にはカバーの孔から流入する低圧と高圧
の流体がそれぞれ印加される。低・高圧バリアダ
イヤフラム室25,26は両端部に絞りを有する
液通路27で連結されており、この液通路27上
であるバツクプレート22a,22bの接合部に
は、同心円波形状の底面を有するボデイ内室28
が、バツクプレート22b側に設けられている。
符号29で示すものは、断面波形の円板状に形
成されボデイ内室28内に低圧側の内室と高圧側
の内室との2室を隔成するセンタダイヤフラムで
あつて、周縁部をボデイ22に溶接されており、
通常の測定圧力範囲の下ではこれと同形状に形成
されたバツクプレート22aの壁面へ全面的に着
座するように形成されている。この着座面には、
液通路27から放射方向へ十字状に延びる液通路
溝30が形成されており、センタダイヤフラム2
9はこの液通路溝30の開口側を塞ぐように着座
している。すなわち、通常の測定圧力範囲の下に
おいては、センタダイヤフラム29によつて隔成
される二室のうち一方の低圧側の室は実質的に液
通路溝30である。
成されボデイ内室28内に低圧側の内室と高圧側
の内室との2室を隔成するセンタダイヤフラムで
あつて、周縁部をボデイ22に溶接されており、
通常の測定圧力範囲の下ではこれと同形状に形成
されたバツクプレート22aの壁面へ全面的に着
座するように形成されている。この着座面には、
液通路27から放射方向へ十字状に延びる液通路
溝30が形成されており、センタダイヤフラム2
9はこの液通路溝30の開口側を塞ぐように着座
している。すなわち、通常の測定圧力範囲の下に
おいては、センタダイヤフラム29によつて隔成
される二室のうち一方の低圧側の室は実質的に液
通路溝30である。
一方、ボデイ22に一体的に接合されたセンサ
カプセル31内には、図示しないが第1図に符号
8と9とで示して説明したものと全く同様な半導
体センサと基板とが周縁部を接合させた状態で設
けられており、センサの高圧側8aは液通路32
によつてボデイ内室28の高圧側内室と連通され
ている。また、センサの低圧側8bすなわち過剰
な圧力によつてセンサと基板との接合部が剥離さ
れやすい側は、液通路33によつてボデイ内室2
8の低圧側内室と連通されている。そして、バリ
アダイヤフラム23,24裏のバリアダイヤフラ
ム室25,26、液通路27、ボデイ内室28お
よび液通路32,33内には、液封入孔34,3
5から注入されたシリコンオイル等の内封液36
が内封されている。
カプセル31内には、図示しないが第1図に符号
8と9とで示して説明したものと全く同様な半導
体センサと基板とが周縁部を接合させた状態で設
けられており、センサの高圧側8aは液通路32
によつてボデイ内室28の高圧側内室と連通され
ている。また、センサの低圧側8bすなわち過剰
な圧力によつてセンサと基板との接合部が剥離さ
れやすい側は、液通路33によつてボデイ内室2
8の低圧側内室と連通されている。そして、バリ
アダイヤフラム23,24裏のバリアダイヤフラ
ム室25,26、液通路27、ボデイ内室28お
よび液通路32,33内には、液封入孔34,3
5から注入されたシリコンオイル等の内封液36
が内封されている。
以上のように構成された差圧発信器の動作を説
明する。バリアダイヤフラム23,24にプロセ
スからの高圧と低圧とがそれぞれ印加されると、
バリアダイヤフラム23,24が凹んでその圧縮
分だけ内封液36が移動し、それぞれの圧力がセ
ンサの高圧側8aと低圧側8bとに印加される。
センサは両側の圧力差を検出してこれを電気信号
として発信することにより差圧が測定される。こ
の場合、通常高圧側の方が低圧側よりも高圧であ
り、高圧側の圧力が所定圧力以下のときには高圧
側から圧力が加えられてもセンタダイヤフラム2
9が着座したまま移動せず、センサにはバリアダ
イヤフラム24への印加圧力に比例した正確な圧
力が印加される。また、低圧側のバリアダイヤフ
ラム23への印加圧力も、液通路27と液通路3
0,33を経センサの低圧側8bへ印加される。
低圧側の圧力が高圧側の圧力よりも高い場合に
は、その差圧に応じてセンタダイヤフラム29が
ボデイ内室28内を高圧側へ撓む。
明する。バリアダイヤフラム23,24にプロセ
スからの高圧と低圧とがそれぞれ印加されると、
バリアダイヤフラム23,24が凹んでその圧縮
分だけ内封液36が移動し、それぞれの圧力がセ
ンサの高圧側8aと低圧側8bとに印加される。
センサは両側の圧力差を検出してこれを電気信号
として発信することにより差圧が測定される。こ
の場合、通常高圧側の方が低圧側よりも高圧であ
り、高圧側の圧力が所定圧力以下のときには高圧
側から圧力が加えられてもセンタダイヤフラム2
9が着座したまま移動せず、センサにはバリアダ
イヤフラム24への印加圧力に比例した正確な圧
力が印加される。また、低圧側のバリアダイヤフ
ラム23への印加圧力も、液通路27と液通路3
0,33を経センサの低圧側8bへ印加される。
低圧側の圧力が高圧側の圧力よりも高い場合に
は、その差圧に応じてセンタダイヤフラム29が
ボデイ内室28内を高圧側へ撓む。
そして高圧側のバリアダイヤフラム24への圧
力が所定圧以上になると、バリアダイヤフラム2
4がバツクプレート22bの受圧面に着座し内封
液36の移動が停止するので、ある程度以上はセ
ンサに及ぶことがない。すなわち、センタダイヤ
フラム29が低圧側の壁面に着座しているから、
バリアダイヤフラム24の凹み分はセンサに直接
加わるが、低圧側との比較が強い高圧側であるか
ら破壊されるには至らない。一方、低圧側のバリ
アダイヤフラム23への圧力が所定圧以上になつ
た時は、これがセンサの最弱点である接合部を破
壊させる過大圧力となる前にセンタダイヤフラム
29が撓むとともに、バリアダイヤフラム23が
バツクプレート22aの受圧面に着座するので内
封液36の移動がほとんどなく、したがつてセン
サの接合部を破壊させることがない。
力が所定圧以上になると、バリアダイヤフラム2
4がバツクプレート22bの受圧面に着座し内封
液36の移動が停止するので、ある程度以上はセ
ンサに及ぶことがない。すなわち、センタダイヤ
フラム29が低圧側の壁面に着座しているから、
バリアダイヤフラム24の凹み分はセンサに直接
加わるが、低圧側との比較が強い高圧側であるか
ら破壊されるには至らない。一方、低圧側のバリ
アダイヤフラム23への圧力が所定圧以上になつ
た時は、これがセンサの最弱点である接合部を破
壊させる過大圧力となる前にセンタダイヤフラム
29が撓むとともに、バリアダイヤフラム23が
バツクプレート22aの受圧面に着座するので内
封液36の移動がほとんどなく、したがつてセン
サの接合部を破壊させることがない。
第3図は横軸にバリアダイヤフラムへ印加され
る差圧△P、縦軸にセンサへの作用圧力Pをとつ
て示す圧力の関係線図であつて、図P1は過大圧
力が印加されて過大圧力保護装置が作動を開始し
た点を示しており、点P2はこの作動が終了した
点を示している。図において、明らかなように、
点P1までの測定範囲を越えて過大圧力が印加さ
れると、センサへの圧力Pはわずかに上昇する
が、センサを破壊するに至らず、保護装置の作動
終了後すなわちバリアダイヤフラム23,34が
着座したのちはこの圧力より上昇することがな
い。そして、通常の測定圧力範囲内においては圧
力が変化してもセンタダイヤフラム29が静止し
ており、内封液36はセンサの高圧側へのみ移動
するから、機械的なヒステリシスによるエラーが
除去でき、測定圧力に正しく比例した圧力をセン
サに加えることができるとともに、測定差圧△P
の変化に対する応答性がきわめて良好である。
る差圧△P、縦軸にセンサへの作用圧力Pをとつ
て示す圧力の関係線図であつて、図P1は過大圧
力が印加されて過大圧力保護装置が作動を開始し
た点を示しており、点P2はこの作動が終了した
点を示している。図において、明らかなように、
点P1までの測定範囲を越えて過大圧力が印加さ
れると、センサへの圧力Pはわずかに上昇する
が、センサを破壊するに至らず、保護装置の作動
終了後すなわちバリアダイヤフラム23,34が
着座したのちはこの圧力より上昇することがな
い。そして、通常の測定圧力範囲内においては圧
力が変化してもセンタダイヤフラム29が静止し
ており、内封液36はセンサの高圧側へのみ移動
するから、機械的なヒステリシスによるエラーが
除去でき、測定圧力に正しく比例した圧力をセン
サに加えることができるとともに、測定差圧△P
の変化に対する応答性がきわめて良好である。
なお、本実施例においてはセンタダイヤフラム
29がバツクプレート22aの着座面から離間す
るまでの液通路として十字状の液通路30を設け
た例を示したが、バツクプレー22aの壁面に例
えば星打ち加工と呼ばれるポンチ式の突起形成加
工により多数の突起を設けるなどの塑性加工を施
してエンタダイヤフラム29とバツクプレート2
2aの着座面との間に液通路を形成すれば加工が
容易になり加工費を削減することができる。
29がバツクプレート22aの着座面から離間す
るまでの液通路として十字状の液通路30を設け
た例を示したが、バツクプレー22aの壁面に例
えば星打ち加工と呼ばれるポンチ式の突起形成加
工により多数の突起を設けるなどの塑性加工を施
してエンタダイヤフラム29とバツクプレート2
2aの着座面との間に液通路を形成すれば加工が
容易になり加工費を削減することができる。
以上の説明により明らかなように、本発明によ
れば耐圧力強度に方向性をもつセンサを備えた差
発信器において、内室を2室に仕切るセンタダイ
ヤフラムを通常の測定圧力範囲下においてボデイ
内室の低圧側壁面に着座させるように構成したか
ら、低圧側での過大圧力発生時にはセンタダイヤ
フラムの撓みと受圧ダイヤフラムの着座とによ
り、センサ方向への内封液の移動がほとんどない
ので、センサの損傷を未然に防止することができ
ることはもとより、通常の測定圧力時には内封液
の移動やセンタダイヤフラムの撓みがほとんどな
いので、機構的にヒステリシスによるエラーが除
去され流体圧力に比例したきわめて正確な圧力が
測定できて測定精度が著しく向上するとともに、
流体圧力の変化に対する応答性がきわめて良好で
ある。
れば耐圧力強度に方向性をもつセンサを備えた差
発信器において、内室を2室に仕切るセンタダイ
ヤフラムを通常の測定圧力範囲下においてボデイ
内室の低圧側壁面に着座させるように構成したか
ら、低圧側での過大圧力発生時にはセンタダイヤ
フラムの撓みと受圧ダイヤフラムの着座とによ
り、センサ方向への内封液の移動がほとんどない
ので、センサの損傷を未然に防止することができ
ることはもとより、通常の測定圧力時には内封液
の移動やセンタダイヤフラムの撓みがほとんどな
いので、機構的にヒステリシスによるエラーが除
去され流体圧力に比例したきわめて正確な圧力が
測定できて測定精度が著しく向上するとともに、
流体圧力の変化に対する応答性がきわめて良好で
ある。
第1図は従来の差圧発信器の断面図、第2図お
よび第3図は本発明に係る差圧発信器の実施例を
示し、第2図はその断面図、第3図は受圧ダイヤ
フラムへの印加差圧とセンサに作用する圧力との
関係線図である。 8……センサ、21……差圧発信器、22……
ボデイ、22a,22b……バツクプレート、2
3,24……バリアダイヤフラム、25……低圧
側バリアダイヤフラム室、26……高圧側バリア
ダイヤフラム室、27……液通路、28……ボデ
イ内室、29……センタダイヤフラム、30……
液通路、31……センサカプセル、32,33…
…液通路。
よび第3図は本発明に係る差圧発信器の実施例を
示し、第2図はその断面図、第3図は受圧ダイヤ
フラムへの印加差圧とセンサに作用する圧力との
関係線図である。 8……センサ、21……差圧発信器、22……
ボデイ、22a,22b……バツクプレート、2
3,24……バリアダイヤフラム、25……低圧
側バリアダイヤフラム室、26……高圧側バリア
ダイヤフラム室、27……液通路、28……ボデ
イ内室、29……センタダイヤフラム、30……
液通路、31……センサカプセル、32,33…
…液通路。
Claims (1)
- 1 耐圧力強度に方向性をもつセンサ8を備え、
ボデイ両側に設けられた高・低圧側バリアダイヤ
フラム室26,25にそれぞれ連通されたボデイ
内室28をセンタダイヤフラム29で二室に隔成
し、隔成された一方の室28を前記センサ8の高
圧側8aに連通し、他方の室30をセンサの低圧
側8bに連通した差圧発信器において、前記セン
タダイヤフラム29を、通常の測定圧力範囲下に
おいて前記低圧側バリアダイヤフラム室25側の
壁面に着座させたことを特徴とする差圧発信器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16723182A JPS5956137A (ja) | 1982-09-25 | 1982-09-25 | 差圧発信器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16723182A JPS5956137A (ja) | 1982-09-25 | 1982-09-25 | 差圧発信器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5956137A JPS5956137A (ja) | 1984-03-31 |
| JPH0322573B2 true JPH0322573B2 (ja) | 1991-03-27 |
Family
ID=15845877
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16723182A Granted JPS5956137A (ja) | 1982-09-25 | 1982-09-25 | 差圧発信器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5956137A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS612033A (ja) * | 1984-06-15 | 1986-01-08 | Toshiba Corp | 差圧伝送器 |
| JPS6120832A (ja) * | 1984-07-10 | 1986-01-29 | Toshiba Corp | 差圧伝送器 |
| JPS61112246U (ja) * | 1984-12-26 | 1986-07-16 | ||
| JP3384457B2 (ja) * | 1993-04-01 | 2003-03-10 | 横河電機株式会社 | 差圧測定装置 |
| JP4163880B2 (ja) * | 2002-03-05 | 2008-10-08 | 長野計器株式会社 | 差圧検出器、その差圧検出器を備えた流量計および液面計 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5210285B2 (ja) * | 1972-07-03 | 1977-03-23 |
-
1982
- 1982-09-25 JP JP16723182A patent/JPS5956137A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5956137A (ja) | 1984-03-31 |
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