JPH03235371A - タンデム型太陽電池の製造方法 - Google Patents
タンデム型太陽電池の製造方法Info
- Publication number
- JPH03235371A JPH03235371A JP2031204A JP3120490A JPH03235371A JP H03235371 A JPH03235371 A JP H03235371A JP 2031204 A JP2031204 A JP 2031204A JP 3120490 A JP3120490 A JP 3120490A JP H03235371 A JPH03235371 A JP H03235371A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- silicon
- solar cell
- solar battery
- porous
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F10/00—Individual photovoltaic cells, e.g. solar cells
- H10F10/10—Individual photovoltaic cells, e.g. solar cells having potential barriers
- H10F10/14—Photovoltaic cells having only PN homojunction potential barriers
- H10F10/142—Photovoltaic cells having only PN homojunction potential barriers comprising multiple PN homojunctions, e.g. tandem cells
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F71/00—Manufacture or treatment of devices covered by this subclass
- H10F71/127—The active layers comprising only Group III-V materials, e.g. GaAs or InP
- H10F71/1276—The active layers comprising only Group III-V materials, e.g. GaAs or InP comprising growth substrates not made of Group III-V materials
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/544—Solar cells from Group III-V materials
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/547—Monocrystalline silicon PV cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明はタンデム型太陽電池の製造方法に関するもの
であり、特にシリコン太陽電池の上に■−V族化合物半
導体の太陽電池を積み重ねたタンデム型太陽電池の製造
方法に関するものである。
であり、特にシリコン太陽電池の上に■−V族化合物半
導体の太陽電池を積み重ねたタンデム型太陽電池の製造
方法に関するものである。
[従来の技術]
単位面積当たり高い光電変換効率を示す太陽電池として
は、異なる禁制帯幅を有する太陽電池を積み重ねたタン
デム型太陽電池がある。このような太陽電池としては、
GaAs系太陽電池の上にAlGaAs系太陽電池を積
層したタンデム型太陽電池が知られている。
は、異なる禁制帯幅を有する太陽電池を積み重ねたタン
デム型太陽電池がある。このような太陽電池としては、
GaAs系太陽電池の上にAlGaAs系太陽電池を積
層したタンデム型太陽電池が知られている。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、このような従来のタンデム型太陽電池は
、たとえば宇宙空間で使用する太陽電池のように単位面
積当たり非常に高い変換効率が要求される太陽電池とし
ては、変換効率が低く未だ不十分なものであった。より
高い変換効率を示すものとして、シリコン太陽電池の上
に、たとえばGaAsのようなm−v族化合物半導体太
陽電池を積み重ねたものは、予想される変換効率として
38%であることが報告されている。しかしながら、こ
のような電池構造では、シリコン基板の上に異種材料で
ある化合物半導体を成長させる必要があり、良好な結晶
を得るためには通常の成長方法と異なった条件および方
法が必要となる。たとえばGaAsをシリコン基板上に
成長させる場合には、オフアングルのシリコン基板を用
いたり、シリコン基板の温度でのサーマルクリーニング
や低温成長層を含んだ2段階成長法等が行われている。
、たとえば宇宙空間で使用する太陽電池のように単位面
積当たり非常に高い変換効率が要求される太陽電池とし
ては、変換効率が低く未だ不十分なものであった。より
高い変換効率を示すものとして、シリコン太陽電池の上
に、たとえばGaAsのようなm−v族化合物半導体太
陽電池を積み重ねたものは、予想される変換効率として
38%であることが報告されている。しかしながら、こ
のような電池構造では、シリコン基板の上に異種材料で
ある化合物半導体を成長させる必要があり、良好な結晶
を得るためには通常の成長方法と異なった条件および方
法が必要となる。たとえばGaAsをシリコン基板上に
成長させる場合には、オフアングルのシリコン基板を用
いたり、シリコン基板の温度でのサーマルクリーニング
や低温成長層を含んだ2段階成長法等が行われている。
さらに、中間緩衝層の導入や歪超光子層の導入、成長中
における熱サイクル法、および成長後における熱アニー
ル法等の方法が検討されており、これらの方法によって
結晶性は若干改善されてきてはいるが、やはり未だ不十
分である。たとえば、転位密度を例にとると、LEC法
のGaAs基板はIQ’cm−2程度であるのに対し、
シリコン基板上に成長したGaAsの場合には、1×1
06cm−2であり、かなり高い値を示している。
における熱サイクル法、および成長後における熱アニー
ル法等の方法が検討されており、これらの方法によって
結晶性は若干改善されてきてはいるが、やはり未だ不十
分である。たとえば、転位密度を例にとると、LEC法
のGaAs基板はIQ’cm−2程度であるのに対し、
シリコン基板上に成長したGaAsの場合には、1×1
06cm−2であり、かなり高い値を示している。
この発明の目的は、このような従来の問題点を解消し、
シリコン太陽電池となるシリコン基板上に、格子欠陥の
少ないm−v族化合物半導体の太陽電池を形成すること
のできる方法を提供することにある。
シリコン太陽電池となるシリコン基板上に、格子欠陥の
少ないm−v族化合物半導体の太陽電池を形成すること
のできる方法を提供することにある。
[課題を解決するための手段]
この発明のタンデム型太陽電池の製造方法は、シリコン
太陽電池として機能するn層およびp層が形成されたシ
リコン基板の表面を多孔質化する工程と、多孔質化した
シリコン基板の表面上に■−V族化合物半導体の太陽電
池を形成する工程とを備えている。
太陽電池として機能するn層およびp層が形成されたシ
リコン基板の表面を多孔質化する工程と、多孔質化した
シリコン基板の表面上に■−V族化合物半導体の太陽電
池を形成する工程とを備えている。
シリコン基板の表面を多孔質化する方法としては、たと
えばフッ酸溶液中で陽極化成法により多孔質化する方法
がある。多孔質化する層の厚みは、特に限定されるもの
ではないが、たとえばO6数μmから数百μmの厚みで
行なうことができる。
えばフッ酸溶液中で陽極化成法により多孔質化する方法
がある。多孔質化する層の厚みは、特に限定されるもの
ではないが、たとえばO6数μmから数百μmの厚みで
行なうことができる。
また多孔質化した部分の孔径は、たとえば20〜300
人程度の大きさとなる。
人程度の大きさとなる。
シリコン基板の上に積み重ねる■−v族化合物半導体と
しては、たとえば、GaAs、およびGaPおよびIn
Pなどのような2元系の化合物半導体や、A/GaAs
、AA’GaP、InAlAs5 InAAP、GaA
、sPおよびGaInPなどのような3元系の化合物半
導体などを選ぶことができる。またこれらの複数を積層
させたものでもよい。
しては、たとえば、GaAs、およびGaPおよびIn
Pなどのような2元系の化合物半導体や、A/GaAs
、AA’GaP、InAlAs5 InAAP、GaA
、sPおよびGaInPなどのような3元系の化合物半
導体などを選ぶことができる。またこれらの複数を積層
させたものでもよい。
[発明の作用効果コ
多孔質化されたシリコン基板の表面には、たとえば20
〜300人の無数の孔が形成されており、この上に成長
する化合物半導体は、孔に架橋した形態で成長し、格子
定数が異なっても、格子不整合による歪みを緩和しなが
ら成長させることができるので、ミスフィツト転位の導
入を防止することができる。このような多孔質化された
シリコン基板表面上での成長は、たとえば伊藤利道、加
藤剛久、応用物理57 (1988)1710に報告さ
れている。
〜300人の無数の孔が形成されており、この上に成長
する化合物半導体は、孔に架橋した形態で成長し、格子
定数が異なっても、格子不整合による歪みを緩和しなが
ら成長させることができるので、ミスフィツト転位の導
入を防止することができる。このような多孔質化された
シリコン基板表面上での成長は、たとえば伊藤利道、加
藤剛久、応用物理57 (1988)1710に報告さ
れている。
さらに、多孔質化されたシリコンは通常のシリコンに比
べ、ヤング率が約10分の1というように柔軟性に富ん
でいる。このことはに、Barla、R,Herino
、G、Bomchil、J。
べ、ヤング率が約10分の1というように柔軟性に富ん
でいる。このことはに、Barla、R,Herino
、G、Bomchil、J。
C,PfisterおよびA、Freund、J。
Crys t、Growth 68 (1984)7
27に報告されている。このため■−v族化合物半導体
とシリコンという熱膨脹係数が大きく異なる組合せであ
っても、2つの物質量の歪みを多孔質層の部分で吸収す
ることができるため、化合物半導体層の転位や残留応力
を大幅に低減することができる。
27に報告されている。このため■−v族化合物半導体
とシリコンという熱膨脹係数が大きく異なる組合せであ
っても、2つの物質量の歪みを多孔質層の部分で吸収す
ることができるため、化合物半導体層の転位や残留応力
を大幅に低減することができる。
したがって、シリコン基板の最表面を多孔質化しておく
ことにより、転位や残留応力の少な(1化合物半導体を
成長させることができるので、より高性能な太陽電池を
作製することができる。
ことにより、転位や残留応力の少な(1化合物半導体を
成長させることができるので、より高性能な太陽電池を
作製することができる。
[実施例]
第1図は、この発明の一実施例を示す断面図である。第
1図を参照して、単結晶シリコン太陽電池は、n−シリ
コン層1およびp−シリコン層2から構成されている。
1図を参照して、単結晶シリコン太陽電池は、n−シリ
コン層1およびp−シリコン層2から構成されている。
この単結晶シリコン太陽電池の基板の表面をフッ酸溶液
中で陽極化成法により多孔質化し、多孔質シリコン層3
を形成した。
中で陽極化成法により多孔質化し、多孔質シリコン層3
を形成した。
この多孔質シリコン層3の上にn −G a A s
N 4およびp−GaAs層5を形成した。このように
して得られた太陽電池について光電変換効率を測定した
ところ、27%であった。一方従来の方法に従い、多孔
質シリコン層3を形成させずに直接シリコン基板上にG
aAs層を成長させた太陽電池の光電変換効率は24%
であった。
N 4およびp−GaAs層5を形成した。このように
して得られた太陽電池について光電変換効率を測定した
ところ、27%であった。一方従来の方法に従い、多孔
質シリコン層3を形成させずに直接シリコン基板上にG
aAs層を成長させた太陽電池の光電変換効率は24%
であった。
第2図は、この発明の他の実施例を示す断面図である。
第2図を参照して、単結晶シリコン太陽電池となるシリ
コン基板はn−シリコン層11およびpニシリコン層1
2から構成されている。p−シリコン層12の表面を、
上記の実施例と同様にフッ酸溶液中で陽極化成法により
多孔質化し、多孔質シリコン層13を形成した。この多
孔質シリコン層13の上に順次n−GaAs層14、p
−GaAs層15、n−AA”0.3 Gao7As層
16、p AA’o、i Gao7As層17、n−
AA’L1.6 Gao4As層18、pAlo、t、
Ga(34As層19を成長させ、単結晶シリコン太陽
電池の上に3つの太陽電池を積み重ねた。この太陽電池
の光電変換率を測定したところ32%であった。
コン基板はn−シリコン層11およびpニシリコン層1
2から構成されている。p−シリコン層12の表面を、
上記の実施例と同様にフッ酸溶液中で陽極化成法により
多孔質化し、多孔質シリコン層13を形成した。この多
孔質シリコン層13の上に順次n−GaAs層14、p
−GaAs層15、n−AA”0.3 Gao7As層
16、p AA’o、i Gao7As層17、n−
AA’L1.6 Gao4As層18、pAlo、t、
Ga(34As層19を成長させ、単結晶シリコン太陽
電池の上に3つの太陽電池を積み重ねた。この太陽電池
の光電変換率を測定したところ32%であった。
一方比較として、p−シリコン層120表面を多孔質化
することなく、直接GaAs太陽電池、A10,3 G
ao、7 As太陽電池およびAI。、6Gao4As
太陽電池を積層した太陽電池の光電変換率を測定したと
ころ29%であった。
することなく、直接GaAs太陽電池、A10,3 G
ao、7 As太陽電池およびAI。、6Gao4As
太陽電池を積層した太陽電池の光電変換率を測定したと
ころ29%であった。
以上のことから明らかなようにこの発明に従う実施例の
太陽電池は、いずれも高い光電変換効率を示し、高性能
な太陽電池であることが明らかとなった。
太陽電池は、いずれも高い光電変換効率を示し、高性能
な太陽電池であることが明らかとなった。
第1図は、この発明の一実施例を示す断面図である。
第2図は、この発明の他の実施例を示す断面図である。
図において、1.11はn−シリコン層、2゜12はp
−シリコン層、3.13は多孔質シリコン層、4,14
はn−GaAs層、5.15はp−GaAs層、16は
n−AA’o3Gao7As層、17はp−AIo3G
a、7As層、18はn−AIo6Gao4As層、1
9はpAI。 6Gao、4As層を示す。 第1図
−シリコン層、3.13は多孔質シリコン層、4,14
はn−GaAs層、5.15はp−GaAs層、16は
n−AA’o3Gao7As層、17はp−AIo3G
a、7As層、18はn−AIo6Gao4As層、1
9はpAI。 6Gao、4As層を示す。 第1図
Claims (5)
- (1)シリコン太陽電池として機能するn層およびp層
が形成されたシリコン基板の表面を多孔質化する工程と
、 前記多孔質化したシリコン基板の表面上にIII−V族化
合物半導体の太陽電池を形成する工程とを備える、タン
デム型太陽電池の製造方法。 - (2)前記多孔質化する工程が、フッ酸溶液中で陽極化
成法により多孔質化する工程を含む、請求項1に記載の
タンデム型太陽電池の製造方法。 - (3)前記III−V族化合物半導体の太陽電池がGaA
s層を含む、請求項1に記載のタンデム型太陽電池の製
造方法。 - (4)前記III−V族化合物半導体の太陽電池がGaA
s層およびAlGaAs層を含む、請求項1に記載のタ
ンデム型太陽電池の製造方法。 - (5)前記III−V化合物半導体の太陽電池が、GaA
s層および2種以上のAl組成を有するAlGaAs層
を含む、請求項1に記載のタンデム型太陽電池の製造方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2031204A JPH03235371A (ja) | 1990-02-10 | 1990-02-10 | タンデム型太陽電池の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2031204A JPH03235371A (ja) | 1990-02-10 | 1990-02-10 | タンデム型太陽電池の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03235371A true JPH03235371A (ja) | 1991-10-21 |
Family
ID=12324889
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2031204A Pending JPH03235371A (ja) | 1990-02-10 | 1990-02-10 | タンデム型太陽電池の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03235371A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0969522A1 (en) * | 1998-07-03 | 2000-01-05 | Interuniversitair Microelektronica Centrum Vzw | A thin-film opto-electronic device and a method of making it |
| WO2000002259A1 (en) * | 1998-07-03 | 2000-01-13 | Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum | A thin-film opto-electronic device and a method of making it |
| EP1398837A1 (en) * | 2002-09-09 | 2004-03-17 | Interuniversitair Microelektronica Centrum ( Imec) | Photovoltaic device |
| EP1398838A1 (en) * | 2002-09-09 | 2004-03-17 | Imec (Interuniversity Microelectronics Center) VZW | Photovoltaic device |
| EP2012367A1 (de) * | 2007-07-02 | 2009-01-07 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Mehrfachsolarzelle |
| JP2010287607A (ja) * | 2009-06-09 | 2010-12-24 | Hitachi Ltd | タンデム型薄膜太陽電池 |
| CN103426496A (zh) * | 2012-05-25 | 2013-12-04 | 比亚迪股份有限公司 | 太阳能电池用铝背场浆料及其制备方法、太阳能电池片的制备方法以及太阳能电池片 |
| JP2015513518A (ja) * | 2012-02-29 | 2015-05-14 | ソレクセル、インコーポレイテッド | 効率的化合物の半導体太陽電池のための構造及び方法 |
| CN105789026A (zh) * | 2014-12-25 | 2016-07-20 | 中国科学院微电子研究所 | 衬底结构及其制造方法 |
-
1990
- 1990-02-10 JP JP2031204A patent/JPH03235371A/ja active Pending
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0969522A1 (en) * | 1998-07-03 | 2000-01-05 | Interuniversitair Microelektronica Centrum Vzw | A thin-film opto-electronic device and a method of making it |
| WO2000002259A1 (en) * | 1998-07-03 | 2000-01-13 | Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum | A thin-film opto-electronic device and a method of making it |
| US6683367B1 (en) | 1998-07-03 | 2004-01-27 | Imec Vzw | Thin-film opto-electronic device and a method of making it |
| US6815247B2 (en) | 1998-07-03 | 2004-11-09 | Interuniversitair Microelektronica Centrum (Imec) | Thin-film opto-electronic device and a method of making it |
| EP1398837A1 (en) * | 2002-09-09 | 2004-03-17 | Interuniversitair Microelektronica Centrum ( Imec) | Photovoltaic device |
| EP1398838A1 (en) * | 2002-09-09 | 2004-03-17 | Imec (Interuniversity Microelectronics Center) VZW | Photovoltaic device |
| US7705235B2 (en) | 2002-09-09 | 2010-04-27 | Imec | Photovoltaic device |
| EP2012367A1 (de) * | 2007-07-02 | 2009-01-07 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Mehrfachsolarzelle |
| JP2010287607A (ja) * | 2009-06-09 | 2010-12-24 | Hitachi Ltd | タンデム型薄膜太陽電池 |
| JP2015513518A (ja) * | 2012-02-29 | 2015-05-14 | ソレクセル、インコーポレイテッド | 効率的化合物の半導体太陽電池のための構造及び方法 |
| CN103426496A (zh) * | 2012-05-25 | 2013-12-04 | 比亚迪股份有限公司 | 太阳能电池用铝背场浆料及其制备方法、太阳能电池片的制备方法以及太阳能电池片 |
| CN105789026A (zh) * | 2014-12-25 | 2016-07-20 | 中国科学院微电子研究所 | 衬底结构及其制造方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5091333A (en) | Reducing dislocations in semiconductors utilizing repeated thermal cycling during multistage epitaxial growth | |
| US4632712A (en) | Reducing dislocations in semiconductors utilizing repeated thermal cycling during multistage epitaxial growth | |
| US20020017642A1 (en) | Semiconductor substrate, field effect transistor, method of forming SiGe layer and method of forming strained Si layer using same, and method of manufacturing field effect transistor | |
| US5011550A (en) | Laminated structure of compound semiconductors | |
| JP3114809B2 (ja) | 半導体装置 | |
| Lin et al. | Growth and characterization of molecular beam epitaxial GaAs layers on porous silicon | |
| JPH073814B2 (ja) | 半導体基板の製造方法 | |
| JP2570646B2 (ja) | Siベ−ス半導体結晶基板及びその製造方法 | |
| JPS60210831A (ja) | 化合物半導体結晶基板の製造方法 | |
| JPS62283675A (ja) | 半導体装置及び製造方法 | |
| JPS61189621A (ja) | 化合物半導体装置 | |
| Seki et al. | Epitaxial growth of InP on Si by OMVPE—defect reduction in epitaxial InP using InAsxP1− xInP superlattices | |
| JPH11298039A (ja) | GaN層および緩衝層の成長法およびその構造 | |
| JP2003178977A (ja) | 半導体結晶及びその製造方法 | |
| JP4559586B2 (ja) | 単結晶薄膜材料 | |
| JPH0412092A (ja) | 化合物半導体及びその成長方法 | |
| JPH0722312A (ja) | 歪半導体膜の製造方法 | |
| JP3224118B2 (ja) | エピタキシャル成長法 | |
| JPH03235376A (ja) | タンデム型太陽電池の製造方法 | |
| JPS6066811A (ja) | 化合物半導体装置の製造方法 | |
| JP2791900B2 (ja) | 半導体基板およびその製造方法 | |
| JP2546531B2 (ja) | 半導体積層構造、半導体装置及びそれらの製造方法 | |
| JP2838121B2 (ja) | 半導体基板 | |
| TWI431666B (zh) | 半導體結構之形成方法 | |
| JPH02215169A (ja) | 半導体装置 |