JPH0323583Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は被検査機器としてのオーデイオ機器
等、電子機器のピンジヤツクにピンプラグを自動
的に挿入することができる被検査機器保持台に関
する。

従来、電子機器を検査するとき電子機器のピン
ジヤツクの１つ１つに、試験機器に一端が接続さ
れたピンプラグを夫々各別に挿入していた。この
挿入作業はきわめて手数が掛る問題があつた。

また、被検査機器のピンジヤツクの配置に合せ
て互に絶縁されたピンプラグを装着した接続具を
備えて、被検査機器のピンジヤツクにピンプラグ
をまとめて挿入するようにしたものもあつた。し
かしこの場合において、被検査機器の機種変更に
ともなつて被検査機器保持台を取り替えなければ
ならない欠点があつた。

本考案は上記にかんがみなされたもので、上記
の問題および欠点を解消し、被検査機器変更にも
容易に対応できる被検査機器保持台を提供するこ
とを目的とする。

以下、本考案を図面に示した実施例により説明
する。

第１図は本考案の一実施例の斜視図であつて、
その一部は説明のために位置をずらして示してあ
る。

ベース１に直立して一対の支柱２_-1，２_-2が固
着してあり、支柱２_-1，２_-2には挿入された被検
査機器の相対抗する側面にそれぞれ当接し協働し
て被検査機器を挾持する挾持体３_-1，３_-2がそれ
ぞれ各別に摺動可能に固着してある。挾持体３
_-1，３_-2は支柱２_-1，２_-2にそれぞれ固着したガ
イド４_-1，４_-2と、ガイド４_-1，４_-2をそれぞれ
貫通して摺動可能に挿入されかつガイド４_-1，４
_-2に各別に装着されたクランプレバー５_-1，５_-2
によりその位置が固定される棒体６_-1，６_-2と、
棒体６_-1，６_-2のそれぞれの先端に固着されたシ
リンダ７_-1，７_-2と、シリンダ７_-1，７_-2のそれ
ぞれのピストンロツドの先端に固着された挾持用
のクランパ８_-1，８_-2と、クランパ８_-1，８_-2に
固着されかつ挿入された被検査機器が当接するこ
とにより駆動されるマイクロスイツチ９_-1，９_-2
とから構成してあり、シリンダ７_-1，７_-2は、マ
イクロスイツチ９_-1，９_-2により後述する制御回
路を介して駆動される。なお、クランパ８_-1，８
_-2の被試験機器当接面にはたとえばウレタンゴム
等の柔質体を固着して被検査機器側面に損傷を与
えないようにすることが望ましい。

一方、絶縁体からなりかつ断面Ｌ字状に形成さ
れたピンプラグ保持体１０_-1，１０_-2を備えてお
り、ピンプラグ保持体１０_-1，１０_-2にはそれぞ
れ被検査機器背面のピンジヤツクに対向して複数
のピンプラグ１１がピンプラグ保持体１０_-1，１
０_-2を貫通して固着してある。ピンプラグ１１は
その中間部分がコイルバネ１１_-1により連結され
て可撓性を持たせてある。

さらに支柱２_-1，２_-2にはピンプラグ保持体１
０_-1，１０_-2を挾持体３_-1，３_-2の移動方向に平
行な方向に移動させかつ挾持体３_-1，３_-2の移動
方向に直交する方向に移動させる保持体１２_-1，
１２_-2が摺動可能に固着してある。保持体１２
_-1，１２_-2は支柱２_-1，２_-2に両端が固着された
ガイド軸１３_-1，１３_-2と、ガイド軸１３_-1，１
３_-2が貫通しかつ装着されたクランプレバー１４
_-1，１４_-2によつてそれぞれの位置が固定される
第１の摺動体本体１５_-1，１５_-2と、第１の摺動
体本体１５_-1，１５_-2にそれぞれ一端が固着され
かつ他端にストツパ１６_-1，１６_-2が固着されて
挾持体３_-1，３_-2の移動方向と直交する方向に延
出させられた一対のガイド軸１７_-1，１７_-2と、
ガイド軸１７_-1，１７_-2が各別に貫通しかつ装着
されたクランプレバー１８_-1，１８_-2によつてそ
れぞれその位置が固定される第２の摺動体本体１
９_-1，１９_-2とを備えている。また保持体１２
_-1，１２_-2は第２図に示す如く第２の摺動体本体
１９_-1，１９_-2にそれぞれ固着されたシリンダ保
持体２０_-1，２０_-2と、シリンダ保持体２０_-1，
２０_-2にそれぞれ固着されたシリンダ２１_-1，２
１_-2と、両端がシリンダ保持体２０_-1，２０_-2に
各別に固着されたガイド軸２０Ａおよび２０Ｂ
と、ガイド軸２０Ａ，２０Ｂがそれぞれ摺動自在
に貫通されかつピンプラグ保持体１０_-1，１０_-2
が各別に固着された第３の摺動体本体２２_-1，２
２_-2とを備えており、シリンダ２１_-1，２１_-2の
それぞれのピストンロツドは各別に第３の摺動体
本体２２_-1，２２_-2に固着してある。シリンダ２
１_-1，２１_-2のピストンは後述する制御回路を介
して駆動される。なお、第１図において説明のた
めに第２の摺動体本体１９_-2、シリンダ保持体２
０_-2、ピンプラグ保持体１０_-2の位置を左側に移
動させて示してある。

ここで２３_-1は、２３_-2は第３の摺動体本体２
２_-1，２２_-2に対するピンプラグ保持体１０_-1，
１０_-2の位置を調整するための長穴を示してお
り、２４は一端がピンプラグに接続され他端が試
験機器の所定の端子に接続された接続線を示して
いる。

第３図は制御回路の一例を示す接続図である。

制御回路は接点R_Y-1〜R_Y−₃を有するリレー
R_Y、遅延接点T_-1を有する遅延タイマＴとを備え
ており、マイクロスイツチ９_-1および９_-2がオン
状態になつたときリレーR_Yを励磁し、リレーR_Y
をリレー接点R_Y-1で自己保持するように構成し
てあるとともに足踏みスイツチ２５がオフ状態に
なつたときリレーR_Yを非励磁状態に制御するよ
うに構成してある。またリレー接点R_Y-2により
シリンダ７_-1，７_-2への空気供給を制御してシリ
ンダ７_-1，７_-2のピストンを駆動制御する４方電
磁弁２６_-1，２６_-2を励磁して、シリンダ７_-1，
７_-2のピストンを駆動するように構成してある。
なお、４方電磁弁２６_-1または２６_-2の一方を省
略して１つの４方電磁弁２６_-1または２６_-2でシ
リンダ７_-1，７_-2への空気供給を制御してもよ
い。また制御回路はリレー接点R_Y−₃により遅延
タイマＴを駆動し、遅延接点T_-1には手動用の押
釦スイツチ２８_-1，２８_-2が接続してあつて、押
釦スイツチ２８_-1，２８_-2によりシリンダ２１
_-1，２１_-2への空気供給をそれぞれ制御してシリ
ンダ２１_-1，２１_-2のピストンを駆動制御する４
方電磁弁２９_-1，２９_-2を励磁して、シリンダ２
１_-1，２１_-2のピストンを駆動するとともに、切
替スイツチ２７_-1，２７_-2によつて切替スイツチ
２７_-1，２７_-2が手動操作位置にあるときは遅延
接点T_-1をバイパスし、自動操作位置にあるとき
は押釦スイツチ２８_-1，２８_-2をバイパスして４
方電磁弁２９_-1，２９_-2を励磁するように構成し
てある。なお、第３図において３０はヒユーズ
を、３１は電源スイツチを、３２はパイロツトラ
ンプをそれぞれ示している。

以上の如く構成された本考案の一実施例におい
て、まず挾持体３_-1，３_-2の位置を被検査機器の
相対向する側面間長に対応して設定する。すなわ
ちクランパ８_-1，８_-2がそれぞれ被検査機器の側
面から僅かに離れた位置にくるように棒体６_-1，
６_-2の位置を設定し、クランプレバー５_-1，５_-2
によつて棒体６_-1，６_-2の位置を固定する。この
状態において被検査機器を矢印Ｐの方向からクラ
ンパ８_-1，８_-2間に挿入し、被検査機器をクラン
パ８_-1，８_-2の一辺に押付けることによりマイク
ロスイツチ９_-1，９_-2のアクチユエータは被検査
機器背面により押圧されて、マイクロスイツチ９
_-1，９_-2はオン状態になる。マイクロスイツチ９
_-1，９_-2が共にオン状態になつたことによりリレ
ーR_Yは励磁され、リレー接点R_Y-2を介して４方
電磁弁２６_-1，２６_-2は励磁される。４方電磁弁
２６_-1，２６_-2が励磁されたことによりシリンダ
７_-1，７_-2のピストンはクランパ８_-1，８_-2を被
検査機器側面にまで移動させる。したがつて被検
査機器はクランパ８_-1，８_-2とにより挾持された
状態になる。なお、リレーR_Yの励磁によつてリ
レーR_Yはリレー接点R_Y-1により励磁が自己保持
される。

この状態において、ピンプラグ保持体１０_-1，
１０_-2の位置を、ピンプラグ１１が被試験機器背
面に設けられたピンジヤツクに対向するように調
整する。すなわち第１の摺動体本体１５_-1，１５
_-2をガイド軸１３_-1，１３_-2に沿つて移動させ、
第２の摺動体本体１９_-1，１９_-2をガイド軸１７
_-1，１７_-2に沿つて移動させて、ピンプラグ保持
体１０_-1，１０_-2に固着されたピンプラグ１１が
ピンジヤツクに対向する位置に調整し、ピンプラ
グ１１がピンジヤツクに対向した位置に対向した
位置においてクランプレバー１４_-1，１４_-2によ
り第１の摺動体本体１５_-1，１５_-2の位置を固定
し、クランプレバー１８_-1，１８_-2により第２の
摺動体本体１９_-1，１９_-2の位置を固定する。な
お、上記の調整は切替スイツチ２７_-1，２７_-2を
手動側Ｍに切替えて行なう。したがつてリレー
R_Yの励磁により遅延タイマＴが動作しても押釦
スイツチ２８_-1，２８_-2がオフ状態にされている
限り４方電磁弁２９_-1，２９_-2は励磁されず、シ
リンダ２１_-1，２１_-2のピストンは自動的に駆動
されない。

切替スイツチ２７_-1，２７_-2が手動側に設定さ
れた状態で押釦スイツチ２８_-1をオン状態にする
ことによつて４方電磁弁２９_-1は励磁されてシリ
ンダ２１_-1のピストンは駆動され、第３の摺動体
本体２２_-1を介してピンプラグ保持体１０_-1は被
検査機器背面方向へ移動される。したがつてピン
プラグ保持体１０_-1に固着されたピンプラグ１１
が被検査機器背面に設けられたピンジヤツクに対
向していることが確認できるとともにピンプラグ
１１の挿入長を第３の摺動体本体２２_-1に対する
ピンプラグ保持体１０_-1の位置を長穴２３_-1を利
用して調整することができる。また押釦スイツチ
２８_-2をオン状態にした場合においてもシリンダ
２１_-2が駆動されて、同様の確認および調整が行
なえる。

上記の操作により被検査機器のピンジヤツクに
ピンプラグ１１を挿入することができ、最初の被
検査機器に、試験機器からの信号をピンプラグ１
１を介して供給することができ、かつ被検査機器
で処理された出力信号をピンプラグ１１を介して
試験機器に供給することができて被検査機器の検
査を行なうことができる。検査の終了により足踏
みスイツチ２５を踏むことにより足踏みスイツチ
２５はオフ状態になり、リレーR_Yは非励磁状態
に戻る。リレーR_Yが非励磁されたことによつて
リレー接点R_Y-1によるリレーR_Yの自己保持は解
除されて、４方電磁弁２６_-1，２６_-2，２９_-1，
２９_-2は非励磁状態になり、シリンダ７_-1，７
_-2、２１_-1，２１_-2のピストンは元の状態に戻つ
て、クランパ８_-1，８_-2による被検査機器の挾持
は解除されかつピンジヤツクからピンプラグ１１
は抜けて、次の被試験機器の挿入を待機する状態
になる。

つぎに上記と同一機種の被検査機器を続いて検
査する場合は、切替スイツチ２７_-1，２７_-2を自
動側Ａに切替えた後に被検査機器をクランパ８
_-1，８_-2に挾持させる。すなわち被検査機器をク
ランパ８_-1，８_-2間に挿入し、被検査機によつて
マイクロスイツチ９_-1，９_-2を駆動する。マイク
ロスイツチ９_-1，９_-2が駆動され、４方電磁弁２
６_-1，２６_-2が励磁されて、上記と同様に被検査
機器がクランパ８_-1，８_-2により挾持される。リ
レーR_Yが励磁されたことにより、リレー接点R_Y
−₃を介して遅延タイマＴが励磁され、リレーR_Y
の励磁時から遅延タイマＴによつて設定された遅
延時間経過したときから遅延接点T_-1はオン状態
に制御される。遅延接点T_-1がオン状態に制御さ
れたことにより４方電磁弁２９_-1，２９_-2は切替
スイツチ２７_-1，２７_-2のＡ側接点を介して励磁
され、シリンダ２１_-1，２１_-2は駆動される。こ
の状態においてはピンプラグ保持体１０_-1，１０
_-2の位置はピンプラグ１１が被検査機器のピンジ
ヤツクに対向した位置に設定されており、かつピ
ンプラグの挿入長さも既に調整されているため、
ピンプラグ保持体１０_-1，１０_-2の位置の調整は
不要であつて、シリンダ２１_-1，２１_-2の駆動に
よつてピンプラグ１１はピンジヤツクに挿入され
て、被検査機器の検査が行なえる状態になる。被
検査機器の検査の終了により、足踏みスイツチ２
５を踏むことによりリレーR_Yは非励磁状態に制
御されてリレー接点R_Y-1，R_Y-2，R_Y−₃はオフ状
態に制御される。同時にリレー接点R_Y−₃がオフ
状態になつたことにより遅延タイマＴは非励磁状
態に制御されて遅延接点T_-1はオフ状態に制御さ
れる。したがつて４方電磁弁２６_-1，２６_-2，２
９_-1，２９_-2は非励磁状態になつて、シリンダ７
_-1，７_-2，２１_-1，２１_-2のピストンは元の状態
に戻り、ピンプラグ１１は被検査機器のピンジヤ
ツクから抜け、被検査機器のクランパ８_-1，８_-2
による挾持は解除されて、次の検査機器の挿入を
待機する状態に戻る。

また、機種が異なつた被検査機器、または同種
機器であつてもピンジヤツクの位置が異なる被検
査機器を検査する場合には、挾持体３_-1，３_-2お
よび保持体１２_-1，１２_-2の位置、または保持体
１２_-1，１２_-2の位置の設定を行なえばよい。ま
たピンジヤツク数の異なる場合はピンプラグ保持
体１０_-1，１０_-2を交換することにより対応でき
る。

以上説明した如く本考案によれば、被検査機器
の機種が変更された場合にも容易に対応すること
ができて、被検査機器の機種の変更毎に被検査機
器保持台を交換する必要もなく、必要に応じてピ
ンプラグ保持体のみを交換するのみでよい。また
被検査機器の保持およびピンプラグの挿入が自動
的に行なえる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の一実施例の構成説明に供する
斜視図。第２図は第１図に示した本考案の一実施
例の一部分を示す平面図。第３図は制御回路の一
例を示す回路図。 １……ベース、２_-1および２_-2……支柱、３_-1
および３_-2……挾持体、６_-1および６_-2……棒
体、７_-1，７_-2，２１_-1および２１_-2……シリン
ダ、８_-1および８_-2……クランパ、９_-1および９
_-2……マイクロスイツチ、１０_-1および１０_-2…
…ピンプラグ保持体、１１……ピンプラグ、１２
_-1および１２_-2……保持体、１５_-1および１５_-2
……第１の摺動体、１９_-1および１９_-2……第２
の摺動体、２０_-1および２０_-2……シリンダ保持
体、２２_-1および２２_-2……第３の摺動体。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 挿入された被検査機器の側面方向にそれぞれ移
   動可能に固着された第１の移動部材６−₁，６−₂
   と、第１の移動部材６−₁，６−₂に固着されかつ
   ピストンロツド先端に固着されたクランプ部材８
   −₁，８−₂を前記側面方向に駆動する第１のシリ
   ンダ７−₁，７−₂と、クランプ部材８−₁，８−₂
   に固着されかつ被検査機器の当接により駆動され
   るスイツチ手段９−₁，９−₂とからなる挾持手段
   ３−₁，３−₂と、 被検査機器のピンジヤツクに対応するピンプラ
   グ１１が固着されたピンプラグ保持体１０−₁，
   １０−₂と、 第１の移動部材６−₁，６−₂の移動方向と平行
   な方向およびそれに直交する方向に移動可能に固
   着された第２の移動部材１９−₁，１９−₂と、第
   ２の移動部材１９−₁，１９−₂に固着され、かつ
   ピストンロツド先端にピンプラグ保持体１０−₁，
   １０−₂が移動可能に固着されてピンプラグ保持
   体１０−₁，１０−₂を挾持手段３−₁，３−₂によ
   り挾持された被検査機器のピンジヤツクの方向に
   駆動する第２のシリンダ２１−₁，２１−₂とから
   なる保持手段１２−₁，１２−₂と、 スイツチ手段９−₁，９−₂の出力により第１の
   シリンダ７−₁，７−₂のピストンを駆動し、かつ
   第１のシリンダ７−₁，７−₂のピストンの駆動タ
   イミングに対し所定のタイミングで第２のシリン
   ダ２１−₁，２１−₂のピストンを駆動するシリン
   ダ駆動制御手段とを備えてなることを特徴とする
   被検査機器保持台。