JPH03237435A - 双方向性非線形抵抗素子及び双方向性非線形抵抗素子を用いたアクティブマトリックス液晶パネル及びその製造方法 - Google Patents
双方向性非線形抵抗素子及び双方向性非線形抵抗素子を用いたアクティブマトリックス液晶パネル及びその製造方法Info
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- JPH03237435A JPH03237435A JP1288402A JP28840289A JPH03237435A JP H03237435 A JPH03237435 A JP H03237435A JP 1288402 A JP1288402 A JP 1288402A JP 28840289 A JP28840289 A JP 28840289A JP H03237435 A JPH03237435 A JP H03237435A
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- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明の非線形抵抗素子は、抵抗の非線形を必要とする
素子にはすべて適用可能である。たとえば、液晶表示体
のスイッチレフ素子として用いられているM I M
(メタル・インシュレーター・メタル)素子としての適
用でき、コンピューター用の表示体テレビ等の液晶表示
体のスイッチンク素子として用いることができる。
素子にはすべて適用可能である。たとえば、液晶表示体
のスイッチレフ素子として用いられているM I M
(メタル・インシュレーター・メタル)素子としての適
用でき、コンピューター用の表示体テレビ等の液晶表示
体のスイッチンク素子として用いることができる。
現在液晶テレビの画1象表示方峡には大別して単純マト
リクス方式とアクティブマトリクス方式がある。単純マ
トリクス方式は互いにその方向が直角をなすように設け
られた2組の帯状電極群間に液晶をはさんたもので、こ
れらの帯状電極にそれぞれ駆動回路が接続される。この
方式は構造が簡単なため低1ilfiI8のシステムか
実現できるかクロストークによりコントラストが低いと
いう問題かある。これに比較してアクティブマトリクス
方式は各画素ことにスイッチを設は電圧を保持するもの
で時分割駆動しても選択時の電圧を保持てきるので表示
容量を増やせ、コントラストなど画質に関する特性が良
い反面、構造か複雑で製造コストが高いことが欠点であ
る。たとえばT P T (Thinrilo+ Tr
ansistor)は5枚以上のフォトマスクを使って
5〜6層の溝膜を重ねるための歩留りを上げることが難
しい。そこで最近アクティブ素子のなかでも歩留りか上
げられ、低製造コストの2端子素子がl+11されてい
る。代表的な2端丁素子はMI〜1(MeLal In
5ulator Metal)である。その一般的な+
M造、プロセスを第1、第2図に示す。従来素子絶縁膜
(こは下電極を陽極酸化したTaOxを用いていたがそ
の比誘電率か26程度であるため、一般的な素子大きさ
5μm×4μm、陽極酸化膜厚か600Aの条件では素
子キャパシタンスか0゜1pFにもなってしまい、一般
的な1画素分(200X 20 (1u m )の液晶
キャパシタンスの1/3程度と大きなものとなっていた
。
リクス方式とアクティブマトリクス方式がある。単純マ
トリクス方式は互いにその方向が直角をなすように設け
られた2組の帯状電極群間に液晶をはさんたもので、こ
れらの帯状電極にそれぞれ駆動回路が接続される。この
方式は構造が簡単なため低1ilfiI8のシステムか
実現できるかクロストークによりコントラストが低いと
いう問題かある。これに比較してアクティブマトリクス
方式は各画素ことにスイッチを設は電圧を保持するもの
で時分割駆動しても選択時の電圧を保持てきるので表示
容量を増やせ、コントラストなど画質に関する特性が良
い反面、構造か複雑で製造コストが高いことが欠点であ
る。たとえばT P T (Thinrilo+ Tr
ansistor)は5枚以上のフォトマスクを使って
5〜6層の溝膜を重ねるための歩留りを上げることが難
しい。そこで最近アクティブ素子のなかでも歩留りか上
げられ、低製造コストの2端子素子がl+11されてい
る。代表的な2端丁素子はMI〜1(MeLal In
5ulator Metal)である。その一般的な+
M造、プロセスを第1、第2図に示す。従来素子絶縁膜
(こは下電極を陽極酸化したTaOxを用いていたがそ
の比誘電率か26程度であるため、一般的な素子大きさ
5μm×4μm、陽極酸化膜厚か600Aの条件では素
子キャパシタンスか0゜1pFにもなってしまい、一般
的な1画素分(200X 20 (1u m )の液晶
キャパシタンスの1/3程度と大きなものとなっていた
。
しかしこれては7夜品パネルに電圧を印加した際、成品
と素子の容量比か3程度であるため〜1■〜1素子に十
分に電圧かかからすスイノチンク特性か悪くなり、その
結果パネル表示品質もTPTパネルより劣るという課題
を有していた。
と素子の容量比か3程度であるため〜1■〜1素子に十
分に電圧かかからすスイノチンク特性か悪くなり、その
結果パネル表示品質もTPTパネルより劣るという課題
を有していた。
又、第2図の製造プロセスかられかるように、M I
M素子サイド基板の製造プロセスは、フォトリソ・エツ
チング工程のくり返しによって製造されている。
M素子サイド基板の製造プロセスは、フォトリソ・エツ
チング工程のくり返しによって製造されている。
このため、TPTより製造プロセスは短くなっているも
のの、歩留りを落す原因となっている。
のの、歩留りを落す原因となっている。
又、成膜装置として、スパッタ等の真空装置がくり返し
用いられており、生産性の悪いプロセスとなっている。
用いられており、生産性の悪いプロセスとなっている。
以上、従来の技術で述べてきたように、(1)MIMパ
ネルの表示品質が、TPTパネルより劣る。
ネルの表示品質が、TPTパネルより劣る。
(2)〜i I M製造プロセスは、TPTより簡略化
されているか、フォトリソ・エツチングプロセスか多く
歩留り低かを招きやすい。
されているか、フォトリソ・エツチングプロセスか多く
歩留り低かを招きやすい。
(3)成膜プロセスか真空プロセスであり生産性か悪い
。
。
の3つの課題かある。
本発明の目的は、TFT並みの画質を持ち、歩留りが高
く、低コストの非線形抵抗素子を持ったアクティブマト
リックス成品パネルを得ることにある。
く、低コストの非線形抵抗素子を持ったアクティブマト
リックス成品パネルを得ることにある。
本発明の双方向性非線形抵抗素子は、電解液か少くとも
支持電解質、電解を夜に可溶な有機化合物を含む電角ダ
液を用いる電解重合による6機薄膜の合成において、導
体上に絶縁性の高い有機膜を形成した後、該有機薄膜上
に該導体と同しかあるいは異種の導体を形成することに
より得られる。また、アクティブマトリックス?液晶パ
ネルは双方向性非線形抵抗素子を用70るものであり、
更に基本的なアクティブマトリックス成品パネルの製造
方を去は、一方の透明基板上に所定のパターンを持った
電極を形成した後、電解重合法により該電極上に絶縁性
の高い電解重合膜を形成した後、透明電極を該透明基板
全面に形成し、所定のパターンに透明電極をパターニン
グすることにより導電体/絶縁体/′導電体の非線形抵
抗素子を形成した後、所定のパターンを持った透明電極
が形成された透明基板とンーノt4オにより貼り合せる
ことにより成ることを特徴としている。
支持電解質、電解を夜に可溶な有機化合物を含む電角ダ
液を用いる電解重合による6機薄膜の合成において、導
体上に絶縁性の高い有機膜を形成した後、該有機薄膜上
に該導体と同しかあるいは異種の導体を形成することに
より得られる。また、アクティブマトリックス?液晶パ
ネルは双方向性非線形抵抗素子を用70るものであり、
更に基本的なアクティブマトリックス成品パネルの製造
方を去は、一方の透明基板上に所定のパターンを持った
電極を形成した後、電解重合法により該電極上に絶縁性
の高い電解重合膜を形成した後、透明電極を該透明基板
全面に形成し、所定のパターンに透明電極をパターニン
グすることにより導電体/絶縁体/′導電体の非線形抵
抗素子を形成した後、所定のパターンを持った透明電極
が形成された透明基板とンーノt4オにより貼り合せる
ことにより成ることを特徴としている。
電解重合膜の物性は様々あるが、その中で、ダイオード
特性は知られているものの、双方向の非線形抵抗素子は
知られていない。
特性は知られているものの、双方向の非線形抵抗素子は
知られていない。
本発明は、電解重合膜を用いた素子としては従来なかっ
た特性、双方向の非線形抵抗性をもつ素子を提供し、そ
の素子を用いて、アクティブマトリックスパネルの製造
方法を提供するものである。
た特性、双方向の非線形抵抗性をもつ素子を提供し、そ
の素子を用いて、アクティブマトリックスパネルの製造
方法を提供するものである。
次に本発明を工程をおって説明する。
■透明な基板上に導体となる物質を形成する。導体とし
ては、A u s A g % CU % N t %
Cr −Ta1等の金属やそのa金、5n02、IT
O等の透明導電膜等あるいは、半導体であってよい。
ては、A u s A g % CU % N t %
Cr −Ta1等の金属やそのa金、5n02、IT
O等の透明導電膜等あるいは、半導体であってよい。
成膜方性としては、スパッタ、蒸着、CVD、メツキ等
の手段を用いる。
の手段を用いる。
透明基板に形成された導体を、フォトリソ・エツチング
により所定のパターンに形成する。
により所定のパターンに形成する。
■次に、この導体上に電解重合法により有機膜を形成す
る方法について述べる。
る方法について述べる。
電解重合液は、少なくとも重合しようとするモツマ−1
及び支持電解質を含んでいなければならず、水、アルコ
ール、アセトニトリル、プロピレンカーボネイト等モノ
マー、支持電解質がijJ溶な溶媒を用いる。さらに必
要な場合はPH緩衝溶l夜なとを加える。
及び支持電解質を含んでいなければならず、水、アルコ
ール、アセトニトリル、プロピレンカーボネイト等モノ
マー、支持電解質がijJ溶な溶媒を用いる。さらに必
要な場合はPH緩衝溶l夜なとを加える。
モノマーとしては、アニリン、フェノール、に代表され
るヘンゼン環にアミノ基や、ヒドロキシル基をHする芳
香族化音物、ビロールやチオフェンなどの複素環式化合
物、アスレ、やピレンなとの2問あるいはそれ以上の縮
合芳香環を持つ多環式炭化水素等、不飽f11桔音を持
っh゛機化音物があり、これらはいずれら適用可能であ
る。
るヘンゼン環にアミノ基や、ヒドロキシル基をHする芳
香族化音物、ビロールやチオフェンなどの複素環式化合
物、アスレ、やピレンなとの2問あるいはそれ以上の縮
合芳香環を持つ多環式炭化水素等、不飽f11桔音を持
っh゛機化音物があり、これらはいずれら適用可能であ
る。
支持ホ角q質としては、電解I戊に十分な導電性をもt
二せるものであればよく、伊1えば、NaCgo 4、
L r C001、N a B F 4 、N a O
H。
二せるものであればよく、伊1えば、NaCgo 4、
L r C001、N a B F 4 、N a O
H。
H,SO,+ 、Na2504なとを(11,1〜1m
。
。
1 、/(I 4度になるように加える。
h−F8物を組合させるための電解モードには、電位走
引電解法、定電位電解性、定暖流電解法、交流電解法が
あるが、本発明は特に限定はない。
引電解法、定電位電解性、定暖流電解法、交流電解法が
あるが、本発明は特に限定はない。
本発明の絶縁性の高い有機膜の成膜方法としては2通り
ある。
ある。
1つは、電解重合により6機膜を成膜した後、膜中に含
まれるイオンを脱トープにより取り除く方法かある。脱
ドープの方法としては、電解重合により有機膜を成膜し
た後、電解酸中て逆極性の電位をかけることて膜中のイ
オンを取り除くことかできる。
まれるイオンを脱トープにより取り除く方法かある。脱
ドープの方法としては、電解重合により有機膜を成膜し
た後、電解酸中て逆極性の電位をかけることて膜中のイ
オンを取り除くことかできる。
もう1つの方法としては、電気化学的に不活性な膜を成
膜する方法である。
膜する方法である。
電気化学的に不活性な膜を得るには電解l夜紹或、竜角
’1条件、電極材料等の適切な組み合せによって得る二
とができる。
’1条件、電極材料等の適切な組み合せによって得る二
とができる。
例えば、フェノールとその誘電体は、アセトニトリル溶
液(支持電解質 NaCN04)Φで炭素電極中で電解
酸化すると電気化学的に活性な重合膜になるか、塩基性
メタノール中で電解酸化すると不活性なポリフエニレン
オキンドか成膜される。
液(支持電解質 NaCN04)Φで炭素電極中で電解
酸化すると電気化学的に活性な重合膜になるか、塩基性
メタノール中で電解酸化すると不活性なポリフエニレン
オキンドか成膜される。
又、1.25アミノベンゼンを中性溶液中て竜角イする
と電気化学的に不活性な膜を形成する。
と電気化学的に不活性な膜を形成する。
この時白゛機膜の厚みとしては100 Å〜2μmが望
ましい。1 (I CI A以下であると、有機膜がポ
ラス状であり、有機膜上Fの導体のショートが起りやす
くなる。又、2μm以上であると、抵抗の非線形性を持
っても、抵抗が大きくなって成品・くネルのアクティブ
素子として用いることができない。
ましい。1 (I CI A以下であると、有機膜がポ
ラス状であり、有機膜上Fの導体のショートが起りやす
くなる。又、2μm以上であると、抵抗の非線形性を持
っても、抵抗が大きくなって成品・くネルのアクティブ
素子として用いることができない。
このようにして得られた有機物絶縁体上に、スパッタ、
蒸着、CVD等の手段により所定のバタニンクを持つ金
属膜、例えば、Au、Ag、Cu、Pt、Ni、Co、
Cr、Fe、Ta、Ti。
蒸着、CVD等の手段により所定のバタニンクを持つ金
属膜、例えば、Au、Ag、Cu、Pt、Ni、Co、
Cr、Fe、Ta、Ti。
等や、金属酸化物SnO2、In2O,、ZnO。
CdO,ZnS、CdS、CdSnO4等をへ一スとし
た化合物を形成することにより導電体/絶縁体/導電体
の非線形抵抗素子(2端子素子)を形成する。
た化合物を形成することにより導電体/絶縁体/導電体
の非線形抵抗素子(2端子素子)を形成する。
アクティブ素子の形成方法としては、上記基本プロセス
以外にも数種類あり、それぞれ本発明の目的とするアク
ティブマトリックス液晶パネルを製造することかできる
。以下にそれぞれの製造方性について節管、に述べる。
以外にも数種類あり、それぞれ本発明の目的とするアク
ティブマトリックス液晶パネルを製造することかできる
。以下にそれぞれの製造方性について節管、に述べる。
1、一つの方法として、第4図−a)の1のように透明
基板上に所定のパターンをもった導電層11を形成する
第1′の」二程、 電解重き法により、該電極上に絶縁性の高い竜角’1重
占膜12を形成する第2の工程、該電極材料と同じかあ
るいは異なった導電体13を所定のパターンに形成する
第3の工程、により、導電体/絶縁体/導電体の非線形
抵抗素子を形成し、 この後、透明導電膜により第4図(a)−4の形状に画
素14を形成する第4の工程とからなる。
基板上に所定のパターンをもった導電層11を形成する
第1′の」二程、 電解重き法により、該電極上に絶縁性の高い竜角’1重
占膜12を形成する第2の工程、該電極材料と同じかあ
るいは異なった導電体13を所定のパターンに形成する
第3の工程、により、導電体/絶縁体/導電体の非線形
抵抗素子を形成し、 この後、透明導電膜により第4図(a)−4の形状に画
素14を形成する第4の工程とからなる。
また、第1と第4の工程を同時に行なうことにより第4
図(C)の断面形状を持つアクティブ素子と画素とを持
たせてもよい。
図(C)の断面形状を持つアクティブ素子と画素とを持
たせてもよい。
第4図b)c)は、a)の製造プロセスによって形成さ
れたアクティブ素子の断面図であり、b)の11〜14
はa)の番号に対応する。C)の15は、導電層と画素
を透明導電体で最初に形成し、導電層上のみに電解重合
膜16を形成し、その後、導電層と同しかあるいは異種
の導電体17を所定の・(ターンに形成したちのである
。
れたアクティブ素子の断面図であり、b)の11〜14
はa)の番号に対応する。C)の15は、導電層と画素
を透明導電体で最初に形成し、導電層上のみに電解重合
膜16を形成し、その後、導電層と同しかあるいは異種
の導電体17を所定の・(ターンに形成したちのである
。
2、また別の方法として液晶パネルの製造プロセスに於
て、 −b゛の16明括較上に所定のパターンを持った電極を
第5図−(a)の11のように形成する第一の1.程、 透明な絶縁膜12を、透明基板全面あるいは電極]二に
のみ形成し、該絶縁膜の所定の部ノ1)に該電極とのコ
ンタクトホール17を形成する第この工程、 電解−n N r去により、該電極上にコンタクト部ル
を通して電解重合膜13を形成する第三のLf¥、該電
極材f1と同しかあるいは異った導電体14を所定の・
Zターンに形成する第4の王#1、により、導電体2/
絶縁体7/導電体の非線形抵抗素Tを形成し、 この後、第5図(a)の形状に透明導電膜により画素1
5を形成する第5の工程、 によりなる。
て、 −b゛の16明括較上に所定のパターンを持った電極を
第5図−(a)の11のように形成する第一の1.程、 透明な絶縁膜12を、透明基板全面あるいは電極]二に
のみ形成し、該絶縁膜の所定の部ノ1)に該電極とのコ
ンタクトホール17を形成する第この工程、 電解−n N r去により、該電極上にコンタクト部ル
を通して電解重合膜13を形成する第三のLf¥、該電
極材f1と同しかあるいは異った導電体14を所定の・
Zターンに形成する第4の王#1、により、導電体2/
絶縁体7/導電体の非線形抵抗素Tを形成し、 この後、第5図(a)の形状に透明導電膜により画素1
5を形成する第5の工程、 によりなる。
また、第1と第5の工程を同時に行ない、第2の工程に
おいて、電極及び画素上にコンタクトホールを形成する
ことにより、第5図(c)の断面形状を持つアクティブ
素子と画素を持たせてもよい。
おいて、電極及び画素上にコンタクトホールを形成する
ことにより、第5図(c)の断面形状を持つアクティブ
素子と画素を持たせてもよい。
第5図b)、c)は、a)のプロセスによって形成され
たアクティブ素子の断面図であり、b)の11〜15は
a)の番号と対応する。
たアクティブ素子の断面図であり、b)の11〜15は
a)の番号と対応する。
C)は、16の電極と、15の画素を透明導電体で同時
形成した後、】2の絶縁膜を形成後、17のコンタクト
ホールを形成、これを通して13の電解重合膜を形成し
、14の導電体の形成によりアクティブ素子を形成した
ものである。
形成した後、】2の絶縁膜を形成後、17のコンタクト
ホールを形成、これを通して13の電解重合膜を形成し
、14の導電体の形成によりアクティブ素子を形成した
ものである。
このプロセスにおいては導体を所定のパターンに形成し
た後、基板上に透明な絶縁膜をコートする。絶縁膜の所
定の部位には導体層とのコンタクトホールを形成する(
第5図(a))。絶縁層は全面にコートしてち良く、ま
た第5図(b)、(C)に示すように、部分的にコート
してもよい。
た後、基板上に透明な絶縁膜をコートする。絶縁膜の所
定の部位には導体層とのコンタクトホールを形成する(
第5図(a))。絶縁層は全面にコートしてち良く、ま
た第5図(b)、(C)に示すように、部分的にコート
してもよい。
透明な絶縁膜+40としては、例えば、エポキン樹脂、
アクリル樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリ
ビニル樹脂、ナイロレ樹脂、ポリエステル樹脂、アセテ
ート樹脂、フェノキシ樹脂等かある。又、絶縁膜は待機
金属化合物の脱水縮合反応により形成してち良い。有機
金属化合物としては、シリコ;、チタン、タンタル、ク
ロム、アtレミニウム、インジウム、タングステン、モ
リブデン、フルコニウム、ゲルマニウム等を中心金属と
するものがある。
アクリル樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリ
ビニル樹脂、ナイロレ樹脂、ポリエステル樹脂、アセテ
ート樹脂、フェノキシ樹脂等かある。又、絶縁膜は待機
金属化合物の脱水縮合反応により形成してち良い。有機
金属化合物としては、シリコ;、チタン、タンタル、ク
ロム、アtレミニウム、インジウム、タングステン、モ
リブデン、フルコニウム、ゲルマニウム等を中心金属と
するものがある。
これらの絶縁膜は、熱硬化タイプであっても紫外線硬化
タイプであってち良い。絶縁膜の成膜方法としては、コ
ンタクトホールを絶縁膜のコーティ〉グ晴に形成するオ
フセット印刷、フレキリ印誓11、スクリーン印犀り等
かある。
タイプであってち良い。絶縁膜の成膜方法としては、コ
ンタクトホールを絶縁膜のコーティ〉グ晴に形成するオ
フセット印刷、フレキリ印誓11、スクリーン印犀り等
かある。
又、全面に絶縁膜を形成後、フォトリソ・エツチングに
よってコンタクトホールを形成しても良い。
よってコンタクトホールを形成しても良い。
以下は基本プロセスと同等のプロセスとなる。
3、第2のプロセスにおいて、すなわち第5図に示しで
あるように第4の工程の導電体を透明導電膜とし、導体
/絶縁体/導体の非線形抵抗素子と画素を同時に形成し
てもよい。
あるように第4の工程の導電体を透明導電膜とし、導体
/絶縁体/導体の非線形抵抗素子と画素を同時に形成し
てもよい。
次に実施例を用いて説明する。
〔実施例1〕
電解重合膜7夜として
N−メチルビロール 0.1moN/Ill過塩
素酸ナトリウム 0.5moN/Rを含むプロピ
レンカーボネイトを溶媒とした溶成を凋整した。非線形
抵抗素子を形成するための下地電極としてガラス基板上
に蒸着により形成されたITO(インジウム・スス酸化
物)を用いた。
素酸ナトリウム 0.5moN/Rを含むプロピ
レンカーボネイトを溶媒とした溶成を凋整した。非線形
抵抗素子を形成するための下地電極としてガラス基板上
に蒸着により形成されたITO(インジウム・スス酸化
物)を用いた。
このITO電極上に、フォトレンストを用いて、直径3
00μmの穴と、外部電極とのコンタクト部を除きカバ
ーした。
00μmの穴と、外部電極とのコンタクト部を除きカバ
ーした。
こうして得られたITO電極をテスト極とし、対極とし
て白金電極、参照極として酸化銀電極を用い電解重合を
行った。電解条件は参照極に対し+0.9Vの定電位重
合を行ない、ポリ−N−メチルピロール膜5000Aを
成膜後、参照極に対し−0,45Vて脱トービンクを十
分行った。これにより、電解重合膜は絶縁膜となった。
て白金電極、参照極として酸化銀電極を用い電解重合を
行った。電解条件は参照極に対し+0.9Vの定電位重
合を行ない、ポリ−N−メチルピロール膜5000Aを
成膜後、参照極に対し−0,45Vて脱トービンクを十
分行った。これにより、電解重合膜は絶縁膜となった。
11られた電解重合膜上に、スパッタによすITOWA
を成膜し、M I M素子を形成し、I−V特性を評価
した。第6図にその特性を示す。図かられかるように、
ド地電極の極性によらず双方向の抵抗非線形性か得られ
た。
を成膜し、M I M素子を形成し、I−V特性を評価
した。第6図にその特性を示す。図かられかるように、
ド地電極の極性によらず双方向の抵抗非線形性か得られ
た。
〔実施例2〕
型内’il#lとして
ビロール C)、2mo(1/p過塩
酸リチウム 0. 2mo17 /Rをプロ
ビレンカーホ不イト中に溶解したしのを用いた。以ド実
施利1と同様の方法てM I tv1素子を形成したが
、電1114’条件は、定電流電解を用いた。
酸リチウム 0. 2mo17 /Rをプロ
ビレンカーホ不イト中に溶解したしのを用いた。以ド実
施利1と同様の方法てM I tv1素子を形成したが
、電1114’条件は、定電流電解を用いた。
第7図にこのM I M素子のI−V特性を示す。
図かられかるように、下地電極の極性によらず双方向の
抵抗非線形性か得られた。
抵抗非線形性か得られた。
〔実施例3〕
竜角q、7戊として
2.6ジメチルフエノール 0.05moi)/’F水
酸化ナトリウム 0. 3 mop/、Qを
メタノール中に溶解したちのを用いた。以下実施例1と
同様の方法てITO電極を形成し、+22Vて定電位電
解を行った。電解終了点は電流が流れなくなる点とした
。
酸化ナトリウム 0. 3 mop/、Qを
メタノール中に溶解したちのを用いた。以下実施例1と
同様の方法てITO電極を形成し、+22Vて定電位電
解を行った。電解終了点は電流が流れなくなる点とした
。
得られた重合膜上に、スパッタによりITO膜を成膜し
、MIM素子を形成し、I−V特性を評価した。第8図
にその特性を示す。図かられかるように、下地電極の極
性によらず双方向の抵抗非線形性か得られた。
、MIM素子を形成し、I−V特性を評価した。第8図
にその特性を示す。図かられかるように、下地電極の極
性によらず双方向の抵抗非線形性か得られた。
〔実施例4〕
型内ql夜として
フェノール 0.05 m oQ /(1
水酸化ナトリウム 0.3 mol/1をメタ
ノール中に溶性したものを用いた。以f実施例3と同様
の方法でM I M素子を形成し、■V特性を評価した
結果、他の実施列と同様に双方向の抵抗非線形性か得ら
れた。
水酸化ナトリウム 0.3 mol/1をメタ
ノール中に溶性したものを用いた。以f実施例3と同様
の方法でM I M素子を形成し、■V特性を評価した
結果、他の実施列と同様に双方向の抵抗非線形性か得ら
れた。
〔実施例5〕
実施例4と同様の方法てポリ−N−メチルビロールを1
μm形成した累rを形成しI−V特性を評価した。実権
例1と同様の抵抗非線形性が得られた。
μm形成した累rを形成しI−V特性を評価した。実権
例1と同様の抵抗非線形性が得られた。
〔実施例6〕
カラス基板上にスパッタにより、複数の行電極パターン
を持ったI T O(IncHum Tin 0xid
e)膜]500 Aを形成した。
を持ったI T O(IncHum Tin 0xid
e)膜]500 Aを形成した。
電解重合波として、
(但し、ブロヒ゛レンカーボネイトを含む溶ン庄)を調
製し、チッ素バブリングを行った。対極として白金板を
用い、参照極としては酸化銀電極を用いた。この中に上
記ITO付きガラス基板を浸漬し定電位+1.OVて1
5分間電解重合を行ない、ポリ−N−メチルビロール膜
をITO上に約4000人形成した後、−0,8Vで脱
ドープを行った。脱ドープは、電流がOになるまで行っ
た。
製し、チッ素バブリングを行った。対極として白金板を
用い、参照極としては酸化銀電極を用いた。この中に上
記ITO付きガラス基板を浸漬し定電位+1.OVて1
5分間電解重合を行ない、ポリ−N−メチルビロール膜
をITO上に約4000人形成した後、−0,8Vで脱
ドープを行った。脱ドープは、電流がOになるまで行っ
た。
この後、純水で水洗後、120℃で乾燥し、スパッタに
より、ガラス基板全面にITO膜を500人の厚さで形
成した。
より、ガラス基板全面にITO膜を500人の厚さで形
成した。
このITO膜をフォトリソ・エツチングにより第3図(
a)(b)に示した素子形状にパターニングを行ない、
複数の行電極上に素子を所定の位置に形成した。
a)(b)に示した素子形状にパターニングを行ない、
複数の行電極上に素子を所定の位置に形成した。
この基板の対向基板として、複数のITO列電極を備え
たガラス基板を所定の液晶パネルの製造プロセスを通す
ことにより貼り合せ、アクティブマトリックス液晶パネ
ルを製造した。
たガラス基板を所定の液晶パネルの製造プロセスを通す
ことにより貼り合せ、アクティブマトリックス液晶パネ
ルを製造した。
この液晶パネルを従来のtvI I Mパネルと同じ駆
動回路を用いて、駆動させコントラストをDI定したと
ころ、従来パネルと比較してコントラストかアップして
いる二とがわかった。
動回路を用いて、駆動させコントラストをDI定したと
ころ、従来パネルと比較してコントラストかアップして
いる二とがわかった。
これは、ポリ−N−メチルピロールの比誘電率が、Ta
0xllNと比較して小さいこと及び、膜厚が厚いこと
によるものと考えられる。
0xllNと比較して小さいこと及び、膜厚が厚いこと
によるものと考えられる。
〔実施例7〕
電解液として
をツタノール中に溶解したものを用いた。以下実施例1
と同様の方法でガラス基板上のITO電極に+2,2■
て定電位電解を行ない、電解重合膜を成膜した。電解總
了点は電流が0となる点とした。
と同様の方法でガラス基板上のITO電極に+2,2■
て定電位電解を行ない、電解重合膜を成膜した。電解總
了点は電流が0となる点とした。
以下実施例6と同様にアクティブマトリックスil1品
パネルを製造し、たところ、実施例1と同様に従来のM
I〜1パネルと比較してコントラストかアンプしてい
ることかわかった。
パネルを製造し、たところ、実施例1と同様に従来のM
I〜1パネルと比較してコントラストかアンプしてい
ることかわかった。
〔実施例8〕
実施例6て電解重き膜の厚さを1000人にしたアクテ
ィブマトリックス液晶パネルを製造したところ、実施例
6と同様の結実を得た。
ィブマトリックス液晶パネルを製造したところ、実施例
6と同様の結実を得た。
〔実施例9〕
ガラス基板上にスパッタにより複数の行電極パターンを
持ったTa膜を15(10A形威した。
持ったTa膜を15(10A形威した。
電解重合波として、
N−メチルビロール 0.1 mol /り過塩
素酸リチウム 0.5moN/ff(但しプロ
ピレンカーボネイトを含む溶液)を調製し、チッ素バブ
リングを行なった。対極として白金板を用い、参照極と
しては酸化銀電極を用いた。この中に上記Ta付きガラ
ス基板を浸漬し定電位+1.OVて15分間電解重合を
行ない、ポリ−N−メチルビロール膜をTa上に約40
00人形成した後、−0,8Vて脱ドープを行なった。
素酸リチウム 0.5moN/ff(但しプロ
ピレンカーボネイトを含む溶液)を調製し、チッ素バブ
リングを行なった。対極として白金板を用い、参照極と
しては酸化銀電極を用いた。この中に上記Ta付きガラ
ス基板を浸漬し定電位+1.OVて15分間電解重合を
行ない、ポリ−N−メチルビロール膜をTa上に約40
00人形成した後、−0,8Vて脱ドープを行なった。
脱ドープは、電流が0になるまで行なった。
この後、純水で水洗後、120℃で乾燥しスパッタによ
り、ガラス基板全面にCr合金膜を50()Aの厚さて
形成した。
り、ガラス基板全面にCr合金膜を50()Aの厚さて
形成した。
このCr/1金膜をフォトリソ・エツチングにより第4
図(a)−3に示した素子形状にバターニングをおこな
い複数の行電極上に素子を所定の位置に形成した。
図(a)−3に示した素子形状にバターニングをおこな
い複数の行電極上に素子を所定の位置に形成した。
次にこの素子上に第4図(a)−4の形状に、スパッタ
及びフォトリソ・エツチング工程を用いてI T O(
Indium Tin 0xide)膜を500人の厚
さに形成した。
及びフォトリソ・エツチング工程を用いてI T O(
Indium Tin 0xide)膜を500人の厚
さに形成した。
この基板の対向基板として、複数のITO列電極を備え
たガラス基板を所定の液晶パネルの製造プロセスを通す
ことにより貼り合わせ、アクティブマトリックス液晶パ
ネルを製造した。
たガラス基板を所定の液晶パネルの製造プロセスを通す
ことにより貼り合わせ、アクティブマトリックス液晶パ
ネルを製造した。
この液晶パネルを従来のMIMパネルと同し駆動回路を
用いて、駆動させコントラストを測定したところ、従来
パネルと比較してコントラストかア・rプしていること
かわかった。
用いて、駆動させコントラストを測定したところ、従来
パネルと比較してコントラストかア・rプしていること
かわかった。
これは、ポリ−N−メチルビロールの比誘電率か、Ta
Ox膜と比較して小さいこと及び膜厚か厚いことによる
ものと考えられる。
Ox膜と比較して小さいこと及び膜厚か厚いことによる
ものと考えられる。
〔実 権 例 10〕
電鯉液として
2.67メチルフエノール0.05rr+og/g水酸
化ナトリウム 0.3 mon/1をメタノー
ル中に溶解したものを用いた。以下実施例つと同様の方
法でガラス基板上のTa電極に+2,2Vで定電位電解
を行ない、電解重合膜を成膜した。電解終了点は電流が
0となる点とした。
化ナトリウム 0.3 mon/1をメタノー
ル中に溶解したものを用いた。以下実施例つと同様の方
法でガラス基板上のTa電極に+2,2Vで定電位電解
を行ない、電解重合膜を成膜した。電解終了点は電流が
0となる点とした。
以下実施例つと同様にアクティブマトリックス液晶パネ
ルを製造したところ、実施例9と同様に従来のM I
Mパネルと比較してコントラストがアップしていること
がわかった。
ルを製造したところ、実施例9と同様に従来のM I
Mパネルと比較してコントラストがアップしていること
がわかった。
〔実施例11〕
ガラス基板上にスパッタにより複数の行電極パターンを
持ったITO膜(lndium Tin 0xide)
膜2000人を形成した。
持ったITO膜(lndium Tin 0xide)
膜2000人を形成した。
電解重合液として、
N−メチルピロール 0.1mog/i)過塩素
酸リチウム 0゜’5moD/D(但し、プロ
ピレンカーボネイトを含む溶酸)を調製し、チッ素バブ
リングを行なった。対極として白金板を用い、参照極と
しては酸化銀電極を用いた。この中に上記ITO付きガ
ラス基板を浸漬し定電位+1.OVて15分間電解重合
を行ない、ポリ−N−メチルビロール膜をITO上に約
400OA形成した後、−0,8Vて脱ドーフヲ行なっ
た。
酸リチウム 0゜’5moD/D(但し、プロ
ピレンカーボネイトを含む溶酸)を調製し、チッ素バブ
リングを行なった。対極として白金板を用い、参照極と
しては酸化銀電極を用いた。この中に上記ITO付きガ
ラス基板を浸漬し定電位+1.OVて15分間電解重合
を行ない、ポリ−N−メチルビロール膜をITO上に約
400OA形成した後、−0,8Vて脱ドーフヲ行なっ
た。
この後、純水で水洗後、120℃で乾燥し、スパッタに
より、ガラス基板全面にCr合金膜を500Aの厚さで
形成した。
より、ガラス基板全面にCr合金膜を500Aの厚さで
形成した。
このCr合金膜をフォトリソ・エツチングにより第4
(a)(b)図に示した素子形状にパターニングを行な
い複数の行電極上に素子を所定の位置に形成したところ
実施例6と同様の結果を得た。
(a)(b)図に示した素子形状にパターニングを行な
い複数の行電極上に素子を所定の位置に形成したところ
実施例6と同様の結果を得た。
〔実施例12〕
ガラス基板上にスパッタにより、複数の行電極パターン
を11ったTa膜1500人を形成した。
を11ったTa膜1500人を形成した。
この上に、透明な絶縁膜として奥野製薬株式会社製のエ
ポキシアクリレート樹脂、「SOクリアー」をスピンコ
ードにて2μmの1vさにコートとした後、所定のパタ
ーンを持ったフォトマスクを通してU、V、露光を行っ
た。これによって、ITo亀tMとのコンタクトホール
を作成した。コンタクトホールの径は1.0μmであっ
た。
ポキシアクリレート樹脂、「SOクリアー」をスピンコ
ードにて2μmの1vさにコートとした後、所定のパタ
ーンを持ったフォトマスクを通してU、V、露光を行っ
た。これによって、ITo亀tMとのコンタクトホール
を作成した。コンタクトホールの径は1.0μmであっ
た。
次に、電解重合液として、
(但しプロピレンカーボネイトを含む溶液)を調製し、
チッ素ハブリンクを行った。
チッ素ハブリンクを行った。
対極として白金板を用い、参照極としては酸化銀電極を
用いた。この中に上記Ta付きガラス基板を浸漬し定電
位+1.OVて15分間電解重合を行ない、ポリ−N−
メチルビロール膜をITO上に約400OA形成した後
、−0,8Vて脱ドープを行なった。脱トープは、電流
が0になるまで行った。
用いた。この中に上記Ta付きガラス基板を浸漬し定電
位+1.OVて15分間電解重合を行ない、ポリ−N−
メチルビロール膜をITO上に約400OA形成した後
、−0,8Vて脱ドープを行なった。脱トープは、電流
が0になるまで行った。
この後、純水で水洗後、12r1℃で乾燥し、スパッタ
により、ガラス基板全面にC1膜を5(]OAの厚さて
形成した。
により、ガラス基板全面にC1膜を5(]OAの厚さて
形成した。
このCr膜をフォトリソ・エツチング(こより第5図に
示した素子形状にパターニングを行ない、複数の行電極
上に素子を所定の位置に形成した。
示した素子形状にパターニングを行ない、複数の行電極
上に素子を所定の位置に形成した。
次にこの素子上に第5図(a)−4の形状に、スパッタ
及ヒフオドリソ・エソチンク上程を用いて、I T O
(Indium Tin 0w1de)膜を50 C]
Aの厚さに形成し、この基板の対向基板として、複数
のITO列電極を備えたガラス基板を所定の成品パネル
の製造プロセスを通すことにより貼り合せ、アクティブ
マトリックス液晶パネルを製造した。
及ヒフオドリソ・エソチンク上程を用いて、I T O
(Indium Tin 0w1de)膜を50 C]
Aの厚さに形成し、この基板の対向基板として、複数
のITO列電極を備えたガラス基板を所定の成品パネル
の製造プロセスを通すことにより貼り合せ、アクティブ
マトリックス液晶パネルを製造した。
この液晶パネルを従来のM I Mパネルと同し駆動回
路を用いて、駆動させコントラストを測定したところ、
従来パネルと比較してコントラストかアップしているこ
とがわかった。
路を用いて、駆動させコントラストを測定したところ、
従来パネルと比較してコントラストかアップしているこ
とがわかった。
これは、ポリ−N−メチルビロールの比誘電率か、Ta
Ox膜と比較して小さいこと及び、膜厚か厚いことによ
るものと考えられる。
Ox膜と比較して小さいこと及び、膜厚か厚いことによ
るものと考えられる。
〔実 梅 例 13〕
電解戚として
をメタノール中に溶解したものを用いた。以−F実施例
1と同様の方l去でカラス基板上のTa電極に+2.
2Vて定電位電解を行ない、電解重合嘆を成膜した。電
解終了点は電流がOとなる点とした。
1と同様の方l去でカラス基板上のTa電極に+2.
2Vて定電位電解を行ない、電解重合嘆を成膜した。電
解終了点は電流がOとなる点とした。
以下実施例12と同様にアクティブマトリックス液晶パ
ネルを製造したところ、実施例12と同様に従来のM
I Mパネルと比較してコントラストかアップしている
ことがわかった。
ネルを製造したところ、実施例12と同様に従来のM
I Mパネルと比較してコントラストかアップしている
ことがわかった。
〔実 施 例 14〕
ガラス基板上にスパッタにより複数の行電極、及び画素
パターンを持ったI T O(lndius Tin
0Xide)膜200OAを形成した。この後、実施例
1と同様の方法で絶縁膜とコンタクトホールを作成した
。
パターンを持ったI T O(lndius Tin
0Xide)膜200OAを形成した。この後、実施例
1と同様の方法で絶縁膜とコンタクトホールを作成した
。
電解重合液として、
(但しプロピレンカーボネイトを含む溶i&)を調製し
、チッ素ハフリングを行った。対極として白金板を用い
、参照極としては酸化銀電極を用いた。この中に上記I
T O付きガラス基板を浸清し定電位+1゜QVで1
5分間電解重合を行ない、ポリ−N−メチルビロール膜
をコンタクトホールを通してITO上に約400OA形
成した後、0.8Vて脱ドープを行った。脱ドープは、
電流か0になるまで行った。
、チッ素ハフリングを行った。対極として白金板を用い
、参照極としては酸化銀電極を用いた。この中に上記I
T O付きガラス基板を浸清し定電位+1゜QVで1
5分間電解重合を行ない、ポリ−N−メチルビロール膜
をコンタクトホールを通してITO上に約400OA形
成した後、0.8Vて脱ドープを行った。脱ドープは、
電流か0になるまで行った。
この後、純水で水洗後、120℃で乾燥し、スパッタに
より、ガラス基板全面にCr合金膜を500Aの厚さで
形成した。
より、ガラス基板全面にCr合金膜を500Aの厚さで
形成した。
このCr合金膜をフォトリソ・エツチングにより第5図
4に示した素子形状にパターニングを行ない、複数の行
電極上に素子を所定の位置に形成した。
4に示した素子形状にパターニングを行ない、複数の行
電極上に素子を所定の位置に形成した。
以ド実弛例12と同様にこの基板を用いてアクティブマ
トリックス液晶パネルを製造し、同様の結果を得た。
トリックス液晶パネルを製造し、同様の結果を得た。
〔実施例15〕
ガラス基板上にス・zツタにより、複数の行電極パター
ンをn−)f: I T O(Indium Tin
0xide)膜15 fl (1人を1f二す見しt二
。
ンをn−)f: I T O(Indium Tin
0xide)膜15 fl (1人を1f二す見しt二
。
この上に、透Illな絶縁膜として奥野製薬株式会u
5rsのエポキシアクリレート樹脂、「SOクリア」を
スピンコードにて2μmの厚さにコートとした後、所定
のパターンを持ったフォトマスクを通してU v、露光
を行った。これによ−)て、ITO71i極とのコンタ
クトホールを作成した。コレタクトホールの径はI C
1u mであった。
5rsのエポキシアクリレート樹脂、「SOクリア」を
スピンコードにて2μmの厚さにコートとした後、所定
のパターンを持ったフォトマスクを通してU v、露光
を行った。これによ−)て、ITO71i極とのコンタ
クトホールを作成した。コレタクトホールの径はI C
1u mであった。
次に、電解重合液として、
((Il、 Lブロビレンカーホネイトを含む溶酸)を
調製し、チッ素バブリングを行った。
調製し、チッ素バブリングを行った。
対極として白金板を用い、参照極としては酸化銀電極を
用いた。この中に上記ITO付きカラス基板を侵清し定
電位+1.OVて15分間電解重合を行ない、ポリ−N
−メチルピロール膜をITO上に約4000 A形戊し
た後、−0,8Vて脱トープを行った。税トープは、電
流か0になるまで行った。
用いた。この中に上記ITO付きカラス基板を侵清し定
電位+1.OVて15分間電解重合を行ない、ポリ−N
−メチルピロール膜をITO上に約4000 A形戊し
た後、−0,8Vて脱トープを行った。税トープは、電
流か0になるまで行った。
この後、純水で水洗後、120℃で乾燥し、スペックに
より、ガラス基板全面にITO膜を500Aの厚さて形
成した。
より、ガラス基板全面にITO膜を500Aの厚さて形
成した。
このITO膜をフォトリソ・エツチングにより第9図に
示した素子形状にバターニングを行ない、段数の行電極
上に素子を所定の位置に形成した。
示した素子形状にバターニングを行ない、段数の行電極
上に素子を所定の位置に形成した。
この基板のχ1向基板として、複数のITO列電極を備
えたガラス基板を所定の7夜品パネルの製造プロセスを
通すことにより貼り合せ、アクティブマトリックス液晶
パネルを製造した。
えたガラス基板を所定の7夜品パネルの製造プロセスを
通すことにより貼り合せ、アクティブマトリックス液晶
パネルを製造した。
この液晶パネルを従来のMIMパネルと同し駆動回路を
用いて、駆動させコントラストを測定したところ、従来
・ぐネルと比較してコントラストかアブブしていること
かわかった。
用いて、駆動させコントラストを測定したところ、従来
・ぐネルと比較してコントラストかアブブしていること
かわかった。
これは、ポリ−N−メチルピロールの比誘電率が、Ta
Ox膜と比較して小さい二と及び、膜厚か厚い二とによ
るものと考えられる。
Ox膜と比較して小さい二と及び、膜厚か厚い二とによ
るものと考えられる。
〔実 施 例 15〕
実弛例15と同様のプロセスでアクティブ素子を形成し
t二。
t二。
電解液としては、
2.6ジメチルフエノール0. 05m ail /(
1+酸化ナトリウム 0. 3 mol/I)
をメタ、ノール中に溶解したちのを用いた。
1+酸化ナトリウム 0. 3 mol/I)
をメタ、ノール中に溶解したちのを用いた。
電解電位は−I−2,2Vて定電位電解を行い、電性重
合、嘆を成膜した。電解終了点は電流が0となる点とし
た。
合、嘆を成膜した。電解終了点は電流が0となる点とし
た。
以f実施例15と同様にアクティブマトリックス液晶パ
ネルを製造したところ、実施例1と同様に従来のM r
Mパネルと比較してコントラストがアップしているこ
とがわかった。
ネルを製造したところ、実施例1と同様に従来のM r
Mパネルと比較してコントラストがアップしているこ
とがわかった。
〔実 権 例 17〕
実施例15て電解重合膜の厚さを100OAにしたアク
ティブマトリックス液晶パネルを製造したところ、実施
例15と同様の結果を得た。
ティブマトリックス液晶パネルを製造したところ、実施
例15と同様の結果を得た。
〔実施例18〕
コーニンク社製パイレックス7059の厚み0゜9mm
のガラス基板30上に、スバンタ装置を用いて厚さ15
00AのITO膜を形成した。これを所定のパターンに
フォトリソ工程を経てエツチングすることて15の巾3
5mmの配線を得た。
のガラス基板30上に、スバンタ装置を用いて厚さ15
00AのITO膜を形成した。これを所定のパターンに
フォトリソ工程を経てエツチングすることて15の巾3
5mmの配線を得た。
この上に、透明な絶縁膜■2として奥野製薬株式会社製
のエポキシアクリレート樹脂「SOクリアー」をスピン
コードにて3μmの厚さにコートした後、所定のパター
ンにフォトリソ工程により形成した。このパターンは、
配線上に、所定の間隔てコンタクトホールが形成しであ
る。コンタクトホールの径は18μmであった。
のエポキシアクリレート樹脂「SOクリアー」をスピン
コードにて3μmの厚さにコートした後、所定のパター
ンにフォトリソ工程により形成した。このパターンは、
配線上に、所定の間隔てコンタクトホールが形成しであ
る。コンタクトホールの径は18μmであった。
次に、このコンタクトホール(図示していないが、電解
重合膜13の位置に設けである。)を通してITO配線
上にポリ−N−メチルビロールの電解重合膜を形成した
。重合条件は実施例1に示した条件であり、この峙の重
合膜厚は約5000Aであった。
重合膜13の位置に設けである。)を通してITO配線
上にポリ−N−メチルビロールの電解重合膜を形成した
。重合条件は実施例1に示した条件であり、この峙の重
合膜厚は約5000Aであった。
こうして?11られた、基板上に、スパッタ装置を用い
て厚さ600 AのITO膜を形成し、所定のパターン
にフォトリソ工程を経てエツチングすることで1辺17
0μmの画素電極6を得、かつMI M素子部を形成し
た。
て厚さ600 AのITO膜を形成し、所定のパターン
にフォトリソ工程を経てエツチングすることで1辺17
0μmの画素電極6を得、かつMI M素子部を形成し
た。
次に、χ・1面基板として、コーニンク社製のパイレッ
クス7 (159カラス基板、厚み0.9mmにスパッ
タ装置を用いて、厚さ1500AのITO膜−32を形
成し、所定のパターンを形成し、21面ガラス基板31
)上の配線32及び対の画素電極としtこ。
クス7 (159カラス基板、厚み0.9mmにスパッ
タ装置を用いて、厚さ1500AのITO膜−32を形
成し、所定のパターンを形成し、21面ガラス基板31
)上の配線32及び対の画素電極としtこ。
以上てPJ、られた2つの基板(M I M素f基板、
21面M板)をアミノンラ;5H602n(日本曹達■
製)のfl、1?。水溶液中にディッピング後、洗浄、
180’Cて焼成した後、ラビンクを行ない配向処理と
した。
21面M板)をアミノンラ;5H602n(日本曹達■
製)のfl、1?。水溶液中にディッピング後、洗浄、
180’Cて焼成した後、ラビンクを行ない配向処理と
した。
セルギヤノブ保持材として、径6μmのガラスファイバ
ーを含んた熱硬化タイプのエポキシ樹脂をシール剤31
として、M I M素子基板とその対面基板を貼り合わ
せ、150℃3時間、圧着することで、MIM素子を持
った液晶セルを得た。
ーを含んた熱硬化タイプのエポキシ樹脂をシール剤31
として、M I M素子基板とその対面基板を貼り合わ
せ、150℃3時間、圧着することで、MIM素子を持
った液晶セルを得た。
この液晶セル中に、真空封入法によって液晶33を封入
した。ia品の組成物は、メルクII′:製PCH(フ
ェニルンクロヘキサン)系液晶ZLI−1695を用い
た。
した。ia品の組成物は、メルクII′:製PCH(フ
ェニルンクロヘキサン)系液晶ZLI−1695を用い
た。
この液晶セルの上下面に偏光板9を貼ることで液晶表示
パネル(LCD)を完成した。
パネル(LCD)を完成した。
この成品表示パネルを、従来のM I Mパネルと同様
の回路で駆動したところ1/480dutyで充分な表
示特性かI′4られた。
の回路で駆動したところ1/480dutyで充分な表
示特性かI′4られた。
以上説明したように本発明によれば、有機化合物を含む
電解illを用いて、双方向性非線形抵抗素子を形成す
ることにより、M I M素子の絶縁層の比誘電率を低
くする二とかでき、また絶縁層の厚みも従来のM I
M素子と同等あるいは厚めに設定できることとなり、製
作も容易であるとともに、安定した品質か得られ、さら
に液晶パネルとじた場合コントラスト比か高くなり、画
質が向上する効果をhする。
電解illを用いて、双方向性非線形抵抗素子を形成す
ることにより、M I M素子の絶縁層の比誘電率を低
くする二とかでき、また絶縁層の厚みも従来のM I
M素子と同等あるいは厚めに設定できることとなり、製
作も容易であるとともに、安定した品質か得られ、さら
に液晶パネルとじた場合コントラスト比か高くなり、画
質が向上する効果をhする。
第1図は従来のMIM素子の断面図。
第2図はアクティブ素子形成の従来プロセスと、本発明
の基本プロでス比較の図。 (a)従来プロでスを示す図。 (b)本発明の基本プロセスを示す図。 第3図は本発明のアクティブ素子を示す図。 (a)本発明のアクティブ素子断面図。 (b)本発明のアクティブ素子と画素の正面図。 第4図は本発明の2端r素子の製造プロセスとその構造
を示す図。 (a)本発明の製造プロセス図。 (b)本発明の2端子素子の断面図。 (c)本発明の2端子素子の断面図。 第5図は本発明の二端子素子の図。 (a)本発明の二端子素子の形成プロセスの図。 (b)本発明の二端子素子の断面図。 (C)本発明の二端子素子の断面図。 第6図は実施例1の〜11 M素子のI−V特性図。 第7図は実施例2のM I M素子の■−■特性図。 第8図は実施例3のM I M素子のI−V特性図。 各図とも破線は基板側の下地電極の極性を負にした場合
のI−V特性、実線は正にした場合のIV特性を示す。 第9図は、本発明のアクティブ素子を示す図てa)は断
面図、b)は正面図。 第10図は、本発明の双方向性非線形抵抗素子を用いた
液晶パネルの断面図を示す。 11 ・ 12 ・ 13 ・ 14 ・ 15 ・ 16・ 17 ・ 30 ・ 導体(配線) 絶縁体 竜角q重合膜 導体 ITO(画素電極) ITO(配線) コンタクトホール ガラス基板 31 ・ ・シール剤 32 ・ ・ ・電極 33 ・ ・ ・成品 以 上 出廟人 セイコ エプノン株式会社
の基本プロでス比較の図。 (a)従来プロでスを示す図。 (b)本発明の基本プロセスを示す図。 第3図は本発明のアクティブ素子を示す図。 (a)本発明のアクティブ素子断面図。 (b)本発明のアクティブ素子と画素の正面図。 第4図は本発明の2端r素子の製造プロセスとその構造
を示す図。 (a)本発明の製造プロセス図。 (b)本発明の2端子素子の断面図。 (c)本発明の2端子素子の断面図。 第5図は本発明の二端子素子の図。 (a)本発明の二端子素子の形成プロセスの図。 (b)本発明の二端子素子の断面図。 (C)本発明の二端子素子の断面図。 第6図は実施例1の〜11 M素子のI−V特性図。 第7図は実施例2のM I M素子の■−■特性図。 第8図は実施例3のM I M素子のI−V特性図。 各図とも破線は基板側の下地電極の極性を負にした場合
のI−V特性、実線は正にした場合のIV特性を示す。 第9図は、本発明のアクティブ素子を示す図てa)は断
面図、b)は正面図。 第10図は、本発明の双方向性非線形抵抗素子を用いた
液晶パネルの断面図を示す。 11 ・ 12 ・ 13 ・ 14 ・ 15 ・ 16・ 17 ・ 30 ・ 導体(配線) 絶縁体 竜角q重合膜 導体 ITO(画素電極) ITO(配線) コンタクトホール ガラス基板 31 ・ ・シール剤 32 ・ ・ ・電極 33 ・ ・ ・成品 以 上 出廟人 セイコ エプノン株式会社
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、電解液か少なくとも支持電解質、電解液に可溶な有
機化合物を含む電解液を用い、導体上に形成した絶縁性
の高い有機膜と、該有機薄膜上に該導体と同しかあるい
は異種の導体を形成したことを特徴とする双方向性非線
形抵抗素子。 2、有機膜の厚さが100Å〜2μmであることを特徴
とする請求項1記載の双方向性非線形抵抗素子。 3、請求項1記載の双方向性非線形抵抗素子を用いたこ
とを特徴とする双方向性非線形抵抗素子を用いたアクテ
ィブマトリックス液晶パネル。 4、一方の透明基板上に所定のパターンを持った電極を
形成した後、電解重合法により該電極上に絶縁性の高い
電解重合膜を形成した後、透明電極を該透明基板全面に
形成し、所定のパターンに透明電極をパターニングする
ことにより導電体/絶縁体/導電体の非線形抵抗素子を
形成した後、所定のパターンを持った透明電極が形成さ
れた透明基板とシール材により貼り合せることを特徴と
する双方向性非線形抵抗素子を用いたアクティブマトリ
ックス液晶パネルの製造方法。 5、透明基板上に所定のパターンを持った電極を形成す
る第1の工程、 電解重合法により、該電極上に絶縁性の高い電解重合膜
を形成する第2の工程、 該電極材料と同じかあるいは異なった導電体を所定のパ
ターンに形成する第3の工程、 により、導電体/絶縁体/導電体の非線形抵抗素子を形
成し、この後、透明導電膜により画素を形成する第4の
工程 とからなることを特徴とする請求項4記載の双方向性非
線形抵抗素子を用いたアクティブマトリックス液晶パネ
ルの製造方法。 6、第1と第4の工程とを同時に行なうことにより、ア
クティブ素子と画素を持たせたことを特徴とする請求項
5記載の双方向性非線形抵抗素子を用いたアクティブマ
トリックス液晶パネルの製造方法。 7、一方の透明基板上に所定のパターンを持った電極を
形成する第一の工程、 透明な絶縁膜を、透明基板全面あるいは電極上にのみ形
成し、該絶縁膜の所定の部分に該電極とのコンタクトホ
ールを形成する第二の工程、電解重合法により、該電極
上にコンタクトホールを通して電解重合膜を形成する第
三の工程、該電極材料と同じかあるいは異った導電体を
所定のパターンに形成する第4の工程、 により、導電体/絶縁体/導電体の非線形抵抗素子を形
成し、 この後、透明導電膜により画素を形成する第5の工程、 によりなることを特徴とする請求項4記載の双方向性非
線形抵抗素子を用いたアクティブマトリックス液晶パネ
ルの製造方法。 8、第1と第5の工程を同時に行ない、第2の工程にお
いて、電極にコンタクトホールを形成して、アクティブ
素子と画素を持たせたことを特徴とする請求項7記載の
双方向性非線形抵抗素子を用いたアクティブマトリック
ス液晶パネルの製造方法。 9、第4の工程の導電体を透明導電膜とし、導電体/絶
縁体/導電体の非線形抵抗素子と画素を同時に形成する
ことを特徴とする請求項7記載の双方向性非線形抵抗素
子を用いたアクティブマトリックス液晶パネルの製造方
法。 10、透明基板上に所定のパターンを持った電極を形成
する第一の工程、 電解重合法により、該電極上に電解重合膜を形成する第
2の工程、 透明な絶縁膜を、透明基板全面あるいは電極上に形成し
、該絶縁膜の所定の部分に該電極上の電解重合膜とのコ
ンタクトホールを形成する第3の工程、 コンタクトホールを通して、該電解重合膜の脱ドーピン
グを行うことで絶縁性の高い電解重合膜を得る第4の工
程、 該電極材料と同じかあるいは異った導電体を所定のパタ
ーンに形成する第5の工程、 により、導電体/絶縁体/導電体の非線形抵抗素子を形
成し、この後、透明導電膜により画素を形成する第6の
工程 によりなることを特徴とする双方向性非線形抵抗素子を
用いたアクティブマトリックス液晶パネルの製造方法。 11、透明基板上の電極材料が透明導電膜であり、電極
と画素とを同時に形成することを特徴とする請求項10
記載の双方向性非線形抵抗素子を用いたアクティブマト
リックス液晶パネルの製造方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1288402A JPH03237435A (ja) | 1989-01-13 | 1989-11-06 | 双方向性非線形抵抗素子及び双方向性非線形抵抗素子を用いたアクティブマトリックス液晶パネル及びその製造方法 |
| EP19900100309 EP0381927A3 (en) | 1989-01-13 | 1990-01-08 | Bidirectional non-linear resistor, active matrix liquid-crystal panel using the same, and method for its production |
| US07/463,761 US5175114A (en) | 1989-01-13 | 1990-01-12 | Method for production of a bidirectional nonlinear resistor, active matrix liquid crystal panel using bidirectional nonlinear resistor |
| US07/674,855 US5294560A (en) | 1989-01-13 | 1991-03-26 | Bidirectional nonlinear resistor, active matrix liquid crystal panel using bidirectional nonlinear resistor, and method for production thereof |
Applications Claiming Priority (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1-6446 | 1989-01-13 | ||
| JP644689 | 1989-01-13 | ||
| JP1-85373 | 1989-04-04 | ||
| JP1-85371 | 1989-04-04 | ||
| JP1-85372 | 1989-04-04 | ||
| JP1-85374 | 1989-04-04 | ||
| JP1288402A JPH03237435A (ja) | 1989-01-13 | 1989-11-06 | 双方向性非線形抵抗素子及び双方向性非線形抵抗素子を用いたアクティブマトリックス液晶パネル及びその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03237435A true JPH03237435A (ja) | 1991-10-23 |
Family
ID=26340585
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1288402A Pending JPH03237435A (ja) | 1989-01-13 | 1989-11-06 | 双方向性非線形抵抗素子及び双方向性非線形抵抗素子を用いたアクティブマトリックス液晶パネル及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03237435A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100286489B1 (ko) * | 1997-06-25 | 2001-04-16 | 니시무로 타이죠 | 액티브 매트릭스형 표시장치 |
| US6663760B2 (en) | 1996-12-06 | 2003-12-16 | Seiko Epson Corporation | Method of fabricating two-terminal nonlinear element using non-aqueous electrolyte |
-
1989
- 1989-11-06 JP JP1288402A patent/JPH03237435A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6663760B2 (en) | 1996-12-06 | 2003-12-16 | Seiko Epson Corporation | Method of fabricating two-terminal nonlinear element using non-aqueous electrolyte |
| WO2004093206A1 (ja) * | 1996-12-06 | 2004-10-28 | Takashi Inoue | 2端子型非線形素子の製造のための非水系電解液、2端子型非線形素子の製造方法、2端子型非線形素子および液晶表示パネル |
| KR100286489B1 (ko) * | 1997-06-25 | 2001-04-16 | 니시무로 타이죠 | 액티브 매트릭스형 표시장치 |
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