JPH03238303A - 紙厚検出装置 - Google Patents
紙厚検出装置Info
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- JPH03238303A JPH03238303A JP3557190A JP3557190A JPH03238303A JP H03238303 A JPH03238303 A JP H03238303A JP 3557190 A JP3557190 A JP 3557190A JP 3557190 A JP3557190 A JP 3557190A JP H03238303 A JPH03238303 A JP H03238303A
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、静電センサ装置を用いた紙厚検出装置に関す
るものである。
るものである。
複写機や紙幣識別装置等では、紙が2枚送りされると、
様々な支障が住じる。このことがら、これらの装置には
紙厚検出装置が設けられ、紙が2枚送りされたときには
、これを検出して装置を停止させたり、あるいは、その
2枚送りされた紙を排出する等の手段が設けられている
。
様々な支障が住じる。このことがら、これらの装置には
紙厚検出装置が設けられ、紙が2枚送りされたときには
、これを検出して装置を停止させたり、あるいは、その
2枚送りされた紙を排出する等の手段が設けられている
。
第7図には前記複写機や紙幣識別装置等に使用されてい
る一般的な紙厚検出装置が示されている。
る一般的な紙厚検出装置が示されている。
この装置は、紙1の走行通路領域2上にボテンシッメー
タ3を配置することにより構成されている。
タ3を配置することにより構成されている。
このポテンショメータ3は回転軸3aに接触針3bを装
着し、この接触針3bの先端を常時紙l側に付勢して紙
1に接触させるようにしておき、紙厚の変化に伴って接
触針3bを矢印方向に回転させ、この接触針3bの回転
角を電圧変化に変換して取り出すものである。
着し、この接触針3bの先端を常時紙l側に付勢して紙
1に接触させるようにしておき、紙厚の変化に伴って接
触針3bを矢印方向に回転させ、この接触針3bの回転
角を電圧変化に変換して取り出すものである。
しかしながら、従来のポテンショメータを用いた装置で
は、接触針3bを紙1に接触した状態で紙厚を検出して
いるため、紙の走行速度が速くなると、接触針3bの動
きがこれに追従できず、紙の走行速度が制限されるとい
う問題がある。
は、接触針3bを紙1に接触した状態で紙厚を検出して
いるため、紙の走行速度が速くなると、接触針3bの動
きがこれに追従できず、紙の走行速度が制限されるとい
う問題がある。
また、複写用紙や紙幣等の薄紙の変化を接触針3bの回
転角により検出するものであるため、2枚送り時の紙厚
の変化等に対する接触針3bの回転角の変化が極めて小
さく、紙厚の変化を正確に検出するためにはポテンショ
メータ3を超高精度なものにしなければならず、装置構
成も複雑になり、装置コストも高価になるという問題が
ある。
転角により検出するものであるため、2枚送り時の紙厚
の変化等に対する接触針3bの回転角の変化が極めて小
さく、紙厚の変化を正確に検出するためにはポテンショ
メータ3を超高精度なものにしなければならず、装置構
成も複雑になり、装置コストも高価になるという問題が
ある。
本発明は上記従来の課題を解決するためになされたもの
であり、その目的は、紙の走行速度を高速にしても、紙
厚の変化を高精度のもとに検出することができる装置構
成の簡易な厚紙検出装置を提供することにある。
であり、その目的は、紙の走行速度を高速にしても、紙
厚の変化を高精度のもとに検出することができる装置構
成の簡易な厚紙検出装置を提供することにある。
本発明は上記目的を達成するために、つぎの様に構成さ
れている。すなわち、本発明の紙厚検出装置は、紙の走
行通路領域に前後させ、かつ、紙に対して非接触状態で
設けられる第1および第2の2系列の検出電極と;発振
周波数信号を発振出力する1個の発振回路と;前記発振
回路とは別個独立の共振器を備え、前記第1の系列の検
出電極によって検出される静電容量の変化を受けて同調
点を変化させ、この同調点の変化に対応した検出信号を
出力する第1の系列の同調回路と;前記発振回路および
第1の系列の同調回路とは別個独立の共振器を備え、前
記第2の系列の検出電極によって検出される静電容量の
変化を受けて同調点を変化させ、この同調点の変化に対
応した検出信号を出力する第2の系列の同調回路と、;
前記第1の系列の同調回路からの検出信号と第2の系列
の同調回路からの検出信号との差の信号を出力する出力
回路と;を有することを特徴として構成されている。
れている。すなわち、本発明の紙厚検出装置は、紙の走
行通路領域に前後させ、かつ、紙に対して非接触状態で
設けられる第1および第2の2系列の検出電極と;発振
周波数信号を発振出力する1個の発振回路と;前記発振
回路とは別個独立の共振器を備え、前記第1の系列の検
出電極によって検出される静電容量の変化を受けて同調
点を変化させ、この同調点の変化に対応した検出信号を
出力する第1の系列の同調回路と;前記発振回路および
第1の系列の同調回路とは別個独立の共振器を備え、前
記第2の系列の検出電極によって検出される静電容量の
変化を受けて同調点を変化させ、この同調点の変化に対
応した検出信号を出力する第2の系列の同調回路と、;
前記第1の系列の同調回路からの検出信号と第2の系列
の同調回路からの検出信号との差の信号を出力する出力
回路と;を有することを特徴として構成されている。
本発明において、例えば、走行通路領域の上流側に第1
の系列の検出電極が、それよりも下流側に第2の系列の
検出電極が配置されているとき、走行通路領域に沿って
紙が第1の系列の検出電極の位置に来ると、第1の系列
の検出電極の検出領域の静電容量の変化として、検出さ
れ、その検出結果は第1の系列の同調回路へ加えられる
。同様に、紙が第2の系列の検出電極に至ると、この第
2の系列の検出電極の検出領域の静電容量の変化として
検出され、その検出結果は第2の系列の同調回路へ加え
られる。前期第1の系列の同調回路および第2の系列の
同調回路は対応する検出電極から加えられる静電容量の
変化を受けて発振回路の発振周波数信号との同調点を変
化させ、この同調点の変化に対応した紙厚の検出信号を
出力回路へ加える。出力回路は、第1の系列の同調回路
側から加えられる検出信号と第2の系列の同調回路側か
ら加えられる検出信号との差を取り、その差動信号を紙
厚等を演算する所望の信号処理回路へ加えるのである。
の系列の検出電極が、それよりも下流側に第2の系列の
検出電極が配置されているとき、走行通路領域に沿って
紙が第1の系列の検出電極の位置に来ると、第1の系列
の検出電極の検出領域の静電容量の変化として、検出さ
れ、その検出結果は第1の系列の同調回路へ加えられる
。同様に、紙が第2の系列の検出電極に至ると、この第
2の系列の検出電極の検出領域の静電容量の変化として
検出され、その検出結果は第2の系列の同調回路へ加え
られる。前期第1の系列の同調回路および第2の系列の
同調回路は対応する検出電極から加えられる静電容量の
変化を受けて発振回路の発振周波数信号との同調点を変
化させ、この同調点の変化に対応した紙厚の検出信号を
出力回路へ加える。出力回路は、第1の系列の同調回路
側から加えられる検出信号と第2の系列の同調回路側か
ら加えられる検出信号との差を取り、その差動信号を紙
厚等を演算する所望の信号処理回路へ加えるのである。
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。な
お、本明細書で紙とは、紙幣や複写機の用紙はもちろん
、それ以外の紙、カード、プラスチックのフィルムやシ
ート等を含む広い概念で使用されている。
お、本明細書で紙とは、紙幣や複写機の用紙はもちろん
、それ以外の紙、カード、プラスチックのフィルムやシ
ート等を含む広い概念で使用されている。
第1図には本発明に係る紙厚検出装置の一実施例のブロ
ック図が示されている0本実施例の装置は、−個の発振
回路6と、分配器16と、第1の系列のセンサ回路11
aと、第2の系列のセンサ回路11bと、出力回路とし
ての差動増幅器17と、第1の系列の電極検出部8aと
、第2の系列の電極検出部8bとからなる。第1の系列
の電極検出部8aは検出電極14aと接地電極15とか
らなり、第2の系列の電極検出部8bは検出電極14b
と接地電極15からなる。接地電極15と検出電極14
a、14bは祇1の走行通路領域2を挟んで、つまり、
祇lの通過間隙を介して対向配置されており、検出電極
14aは検出電極14bに対して上流側に配置されてい
る。前記第1の系列のセンサ回路11aと第2の系列の
センサ回路11bとは同一の回路構成となっており、第
2図には発振回路6と、分配器16と、第1の系列のセ
ンサ回路11aと、第1の系列の電極検出部8aとを抜
き出した具体的な回路例が示されている。
ック図が示されている0本実施例の装置は、−個の発振
回路6と、分配器16と、第1の系列のセンサ回路11
aと、第2の系列のセンサ回路11bと、出力回路とし
ての差動増幅器17と、第1の系列の電極検出部8aと
、第2の系列の電極検出部8bとからなる。第1の系列
の電極検出部8aは検出電極14aと接地電極15とか
らなり、第2の系列の電極検出部8bは検出電極14b
と接地電極15からなる。接地電極15と検出電極14
a、14bは祇1の走行通路領域2を挟んで、つまり、
祇lの通過間隙を介して対向配置されており、検出電極
14aは検出電極14bに対して上流側に配置されてい
る。前記第1の系列のセンサ回路11aと第2の系列の
センサ回路11bとは同一の回路構成となっており、第
2図には発振回路6と、分配器16と、第1の系列のセ
ンサ回路11aと、第1の系列の電極検出部8aとを抜
き出した具体的な回路例が示されている。
前記発振回路6にはIC)tz〜l0GH2の範囲内の
固定された一定の超高周波の発振周波数、本実施例では
I G Hzの発振周波数を発振するセラミック共振器
lOが用いられている。この発振回路6は前記高周波の
発振周波数信号を発振し、これを高インピーダンス変換
回路6aを介して分配器16に加える0分配器16はこ
の発振周波数信号を分配して第1の系列のセンサ回路1
1aと第2の系列のセンサ回路11bへ加える。センサ
回路11aは同調回路(第1の系列の同調回路)7aと
、検波回路4aと、AFC回路(自動利得制御回路)9
aと、増幅回路5aとからなる。同調回路7aはセラミ
ック共振器12によって構成され、このセラミック共振
器12の信号入力側には電極検出部8aの検出電極14
aが接続さている。なお、接地電極15はセラミック共
振器12のグランド側(接地側)にそれぞれ接続されて
いる。
固定された一定の超高周波の発振周波数、本実施例では
I G Hzの発振周波数を発振するセラミック共振器
lOが用いられている。この発振回路6は前記高周波の
発振周波数信号を発振し、これを高インピーダンス変換
回路6aを介して分配器16に加える0分配器16はこ
の発振周波数信号を分配して第1の系列のセンサ回路1
1aと第2の系列のセンサ回路11bへ加える。センサ
回路11aは同調回路(第1の系列の同調回路)7aと
、検波回路4aと、AFC回路(自動利得制御回路)9
aと、増幅回路5aとからなる。同調回路7aはセラミ
ック共振器12によって構成され、このセラミック共振
器12の信号入力側には電極検出部8aの検出電極14
aが接続さている。なお、接地電極15はセラミック共
振器12のグランド側(接地側)にそれぞれ接続されて
いる。
セラミック共振器12は第3図に示すような共振周波数
特性を有しており、このセラミック共振器12の共振周
波数f!に対して発振回路6の固定発振周波数f08.
はわずかにずらした位置に設定される。セラミック共振
器12の共振周波数f2は電極検出部8aによって検出
される電極14a、15間の静電容量の変化に応じて偏
倚し、例えば、静電容量Cが+ΔCだけ変化すると共振
周波数f8はf、に偏倚する0発振回路6の発振周波数
はf。scに固定されているから、静電容量変化がない
ときにはセラミック共振器12から同調点A、における
v2の出力電圧が送出されるが、静電容量変化が+ΔC
になったときには共振周波数がflに偏倚し、同調点が
A8から^1に変化してセラミック共振器12からvl
の出力電圧が送出される。このように、電極14a。
特性を有しており、このセラミック共振器12の共振周
波数f!に対して発振回路6の固定発振周波数f08.
はわずかにずらした位置に設定される。セラミック共振
器12の共振周波数f2は電極検出部8aによって検出
される電極14a、15間の静電容量の変化に応じて偏
倚し、例えば、静電容量Cが+ΔCだけ変化すると共振
周波数f8はf、に偏倚する0発振回路6の発振周波数
はf。scに固定されているから、静電容量変化がない
ときにはセラミック共振器12から同調点A、における
v2の出力電圧が送出されるが、静電容量変化が+ΔC
になったときには共振周波数がflに偏倚し、同調点が
A8から^1に変化してセラミック共振器12からvl
の出力電圧が送出される。このように、電極14a。
15間の静電容量の変化に応じてセラミック共振器12
の共振周波数が偏倚し、これに伴い、セラミック共振器
12から静電容量変化に対応する出力電圧Vが送出され
るのである。
の共振周波数が偏倚し、これに伴い、セラミック共振器
12から静電容量変化に対応する出力電圧Vが送出され
るのである。
検波回路4aは結合コンデンサ25を介してセラミック
共振器12に接続されており、この検波回路4aはイン
ダクタンス素子21と、ダイオード22と、コンデンサ
23と、抵抗器24とによって構成されており、前記セ
ラミック共振器12からの出力信号は結合コンデンサ2
5を介して検波回路4aに加えられるようになっている
。前記ダイオード22と、コンデンサ23と、抵抗器2
4は検波回路4aの検波部を構成しており、また、イン
ダクタンス素子21とコンデンサ25は高インピーダン
ス化回路として機能している。この検波回路4aはセラ
ミック共振器12から出力される超高周波の出力信号(
画像信号)を包絡線検波し、紙厚検出の信号帯域の信号
に変換して増幅回路5aとAFC回路9aへ加える。
共振器12に接続されており、この検波回路4aはイン
ダクタンス素子21と、ダイオード22と、コンデンサ
23と、抵抗器24とによって構成されており、前記セ
ラミック共振器12からの出力信号は結合コンデンサ2
5を介して検波回路4aに加えられるようになっている
。前記ダイオード22と、コンデンサ23と、抵抗器2
4は検波回路4aの検波部を構成しており、また、イン
ダクタンス素子21とコンデンサ25は高インピーダン
ス化回路として機能している。この検波回路4aはセラ
ミック共振器12から出力される超高周波の出力信号(
画像信号)を包絡線検波し、紙厚検出の信号帯域の信号
に変換して増幅回路5aとAFC回路9aへ加える。
増幅回路5aはトランジスタ27と抵抗器等の素子を用
いて構成され、この増幅回路5aは検波回路4aから加
えられる信号を増幅し差動増幅器に供給する。
いて構成され、この増幅回路5aは検波回路4aから加
えられる信号を増幅し差動増幅器に供給する。
AFC回路9aは、紙lのしわや破れ等の外乱によって
同調点が紙厚検出の設定利得領域からはずれるのを防止
し、紙lに破れやしゎがあっても紙厚を正確に検出でき
るようにするものである。
同調点が紙厚検出の設定利得領域からはずれるのを防止
し、紙lに破れやしゎがあっても紙厚を正確に検出でき
るようにするものである。
本実施例は、前述したように、第1の系列のセンサ回路
11aと同一構成の第2の系列のセンサ回路llbが設
けられ、この第2の系列のセンサ回路11bも、分配器
16から発振回路6の発振周波数信号の分配供給を受け
て、前期第1の系列のセンサ回路と同様に回路動作を行
うものである。
11aと同一構成の第2の系列のセンサ回路llbが設
けられ、この第2の系列のセンサ回路11bも、分配器
16から発振回路6の発振周波数信号の分配供給を受け
て、前期第1の系列のセンサ回路と同様に回路動作を行
うものである。
本発明は以上説明したように構成されており、以下、紙
厚検出動作について説明する。
厚検出動作について説明する。
検出電極14a、14bと接地電極15との間に紙lの
通過がない状態で、第3図に示すように、セラミック共
振器12の共振周波数(同調周波数) 11に対して発
−振回路6の固定発振周波数f08.はわずかに外れた
位置に設定される。このとき、セラミック共振器12か
らV、の一定電圧が出力される。この状態で、紙lの通
過経路(走行通路頭載)2がら1枚の紙1(N−1の紙
、Nは紙の枚数)が電極14a、15の間にその先端が
入ると、検出電極14aと接地電極15間の静電容量が
変化する。この静電容量の微小変化により、発振回路6
の発振周波数f。scに対して第1の系列の同調回路7
a側のセラミック共振器12の共振周波数がf2からf
lに偏倚し、同調点がA2からA、に移行し、セラミッ
ク共振器12から■1の電圧が出力される。同様に、通
過経路2を通る紙1が2枚重なって電極14a。
通過がない状態で、第3図に示すように、セラミック共
振器12の共振周波数(同調周波数) 11に対して発
−振回路6の固定発振周波数f08.はわずかに外れた
位置に設定される。このとき、セラミック共振器12か
らV、の一定電圧が出力される。この状態で、紙lの通
過経路(走行通路頭載)2がら1枚の紙1(N−1の紙
、Nは紙の枚数)が電極14a、15の間にその先端が
入ると、検出電極14aと接地電極15間の静電容量が
変化する。この静電容量の微小変化により、発振回路6
の発振周波数f。scに対して第1の系列の同調回路7
a側のセラミック共振器12の共振周波数がf2からf
lに偏倚し、同調点がA2からA、に移行し、セラミッ
ク共振器12から■1の電圧が出力される。同様に、通
過経路2を通る紙1が2枚重なって電極14a。
15間に入り込むと、電極14a、15間の静電容量が
さらに変化し、セラミック共振器12の共振周波数はf
oに偏倚し、同調点がA、からAoに移行し、セラミッ
ク共振器12から■。の電圧が出力される。
さらに変化し、セラミック共振器12の共振周波数はf
oに偏倚し、同調点がA、からAoに移行し、セラミッ
ク共振器12から■。の電圧が出力される。
同様に、祇1が検出電極14bと設置電極15との間を
通過するときには、この祇1の通過に伴う静電容量の変
化が第2の系列の電極検出部8bで検出され、その検出
結果が第2の系列の同調回路7b側のセラミック共振器
12へ加えられ、同共振器12から紙厚に対応する出力
電圧が出力される。第1の系列および第2の系列のセラ
ミック共振器12はこれら紙厚に対応する出力電圧の変
化からAM変調波を作り出し、これを検出信号として対
応する検波回路4a、4bに加える。すなわち、第1の
系列のセラミック共振器12は発振周波数f。SCと検
出電極14aで検出される紙厚の変化に対応する共振周
波数の変化成分Δ「との掛は算を行い、AM変調波を得
る。同様に、第2の系列のセラミック共振器12は発振
周波数「。scと検出電極14bで検出される紙厚の変
化に対応する共振周波数の変化成分Δfとの掛は算を行
い、AM変調波を得る。本実施例では、発振周波数ro
scはIGH。
通過するときには、この祇1の通過に伴う静電容量の変
化が第2の系列の電極検出部8bで検出され、その検出
結果が第2の系列の同調回路7b側のセラミック共振器
12へ加えられ、同共振器12から紙厚に対応する出力
電圧が出力される。第1の系列および第2の系列のセラ
ミック共振器12はこれら紙厚に対応する出力電圧の変
化からAM変調波を作り出し、これを検出信号として対
応する検波回路4a、4bに加える。すなわち、第1の
系列のセラミック共振器12は発振周波数f。SCと検
出電極14aで検出される紙厚の変化に対応する共振周
波数の変化成分Δ「との掛は算を行い、AM変調波を得
る。同様に、第2の系列のセラミック共振器12は発振
周波数「。scと検出電極14bで検出される紙厚の変
化に対応する共振周波数の変化成分Δfとの掛は算を行
い、AM変調波を得る。本実施例では、発振周波数ro
scはIGH。
であるので、変調波としての検出信号はIGH。
を中心とし、紙厚の変化に対応した帯域幅を持った超高
周波の信号になり、この超高周波の信号が各系列のセラ
ミック共振器12から対応する検波回路4a、4bに加
えられるのである。
周波の信号になり、この超高周波の信号が各系列のセラ
ミック共振器12から対応する検波回路4a、4bに加
えられるのである。
検波回路4a、4bではこの超高周波信号を包絡線検波
を行って紙厚検出の信号帯域(本実施例では3MHzの
信号)に変換する。この帯域変換された信号の一部は次
の増幅回路5a、5bによって増幅され、差動増幅器1
7に送られ、他の一部の信号はAFC回路9a、9bに
分岐供給される。
を行って紙厚検出の信号帯域(本実施例では3MHzの
信号)に変換する。この帯域変換された信号の一部は次
の増幅回路5a、5bによって増幅され、差動増幅器1
7に送られ、他の一部の信号はAFC回路9a、9bに
分岐供給される。
AFC回路9a、9bは例えば、祇1のしわや破れ等の
外乱によって同調点が紙厚検出の設定利得範囲から外れ
るのを補正し、同調点を共振周波数曲線のゲーンの高い
直線領域の最適位置に調整する。
外乱によって同調点が紙厚検出の設定利得範囲から外れ
るのを補正し、同調点を共振周波数曲線のゲーンの高い
直線領域の最適位置に調整する。
差動増幅器17は各系列の増幅回路5a、5bから加え
られる信号の差を求め、その差動出力を図示されていな
い所望の信号処理回路に加える。。
られる信号の差を求め、その差動出力を図示されていな
い所望の信号処理回路に加える。。
第4図には差動増幅器17によって得られた差動出力の
波形例が示されており、これについて説明すると、例え
ば、第1図の実線で示す様に、走行通路領域2に1枚の
紙1が走行してきたとき、その紙lの先端Aが検出電極
14aの直下に来たとき、検出電極14aと接地電極1
5との間の静電容量の変化が電極検出部8aで検出され
、電極検出部8bでは静電容量の変化が検出されないか
ら、第1の系列の信号と第2の系列の信号との差動出力
は、第4図(a)に示すように、負の方向に突出するビ
ークS1として現れる。すなわち、第5図に示すように
、検出電極14a、14bと接地電極15間の幅をLと
し、1枚の紙の厚味を!とすると、検出電極14a、1
4bと接地電極15間の静電容量Cは、空間誘電率Eと
紙の誘電率EI、および紙の厚味nj!(nは整数)と
空間幅L−nlによって定められる。次に、祇lの先端
Aが検出電極14bの直下に来ると、同様に、電極検出
部8bによって静電容量の変化が検出されるが、この静
電容量の変化成分は電極検出部8aで検出される静電容
量の変化成分と同一となるので、その差動出力はOにな
り、パルスS、が正の方向に立ち下がる。さらに、紙1
が走行方向に移動して祇lの後端Cが検出電極14aを
通り過ぎると、電極検出部8aで検出される静電容量が
変化し、差動増幅器17での差動出力は第4図(a)の
S、のパルス波形として現れる。このパルス波形のS、
と32のピーク電圧を分析することにより、紙厚が求め
られ、また、パルス波形S、とS2との時間幅を分析す
ることにより紙の長さを求めることができる。
波形例が示されており、これについて説明すると、例え
ば、第1図の実線で示す様に、走行通路領域2に1枚の
紙1が走行してきたとき、その紙lの先端Aが検出電極
14aの直下に来たとき、検出電極14aと接地電極1
5との間の静電容量の変化が電極検出部8aで検出され
、電極検出部8bでは静電容量の変化が検出されないか
ら、第1の系列の信号と第2の系列の信号との差動出力
は、第4図(a)に示すように、負の方向に突出するビ
ークS1として現れる。すなわち、第5図に示すように
、検出電極14a、14bと接地電極15間の幅をLと
し、1枚の紙の厚味を!とすると、検出電極14a、1
4bと接地電極15間の静電容量Cは、空間誘電率Eと
紙の誘電率EI、および紙の厚味nj!(nは整数)と
空間幅L−nlによって定められる。次に、祇lの先端
Aが検出電極14bの直下に来ると、同様に、電極検出
部8bによって静電容量の変化が検出されるが、この静
電容量の変化成分は電極検出部8aで検出される静電容
量の変化成分と同一となるので、その差動出力はOにな
り、パルスS、が正の方向に立ち下がる。さらに、紙1
が走行方向に移動して祇lの後端Cが検出電極14aを
通り過ぎると、電極検出部8aで検出される静電容量が
変化し、差動増幅器17での差動出力は第4図(a)の
S、のパルス波形として現れる。このパルス波形のS、
と32のピーク電圧を分析することにより、紙厚が求め
られ、また、パルス波形S、とS2との時間幅を分析す
ることにより紙の長さを求めることができる。
次に、第1図の破線で示すように、祇lが2枚重なって
紙送りされたときには、第4図(b)で示すように、ま
ず、紙の先端Aが検出電極14aを通るときに、差動増
幅器17はSAのパルス信号を出力し、紙の先端Aが検
出電極14bに至ると差動出力は0になり、パルスSA
は正の方向に立ち下がる。そして、重なった紙の前端B
が検出電極14aを通過するときに、S、のパルス波形
が現れ、その紙の先端Bが検出電極14bに至ると差動
出力は0になり、パルスS、は立ち下がる0次に、紙の
後端Cが検出電極14aに来ると、Scのパルス波形が
上方に突出して現れる。そして、紙の後端Cが検出電極
14bに来ると差動出力は0になり、パルスScは下方
に立ち下がる0次に、重なった紙の後端りが検出電極1
4aを過ぎ去るときに、S。のパルス波形が現れる。パ
ルス波形の高さは、紙の厚味n!、正確には紙の厚味2
を同一とすると、その枚数の影響を受けて決まる。すな
わち、第6図に示すように、静電容量と紙の厚味は反比
例の関係にあり、検出電極14a、14bと接地電極1
5の間に紙がない場合!、の静電容量C0に対し、紙が
1枚のときC3,2枚のときC2となる。差動増幅器1
7からのこれらの差動信号を分析することにより、紙の
2枚送りの有無、紙厚、紙の乾湿状態、紙の長さおよび
紙が2枚送りされたときの紙のずれ量等の検出を行うこ
とができる。すなわち、紙の2枚送り状態はパルス波形
SAに対してより大きなパルス波形S、が現れることに
より、検出される。また、パルス波形SAとSIとのピ
ーク値の差■、園を求めることにより紙厚が検出され、
しかも、このVAIの大きさを分析することにより紙の
乾湿状態を見分けることができる。また、パルス波形S
、とS、との時間幅により紙1の長さが求められる。ま
た、パルス波形SAとS、との時間幅に基づいて2枚送
りされる紙のずれ量を求めることができる。この紙のず
れ量の検出に際しては、検出電極14aと14bとの間
隔を接近させ、しかも、検出電極14a、14bの電極
面積を非常に小さくすれば、2枚送りされる紙の微小ず
れ量を高精度で求めることができる。
紙送りされたときには、第4図(b)で示すように、ま
ず、紙の先端Aが検出電極14aを通るときに、差動増
幅器17はSAのパルス信号を出力し、紙の先端Aが検
出電極14bに至ると差動出力は0になり、パルスSA
は正の方向に立ち下がる。そして、重なった紙の前端B
が検出電極14aを通過するときに、S、のパルス波形
が現れ、その紙の先端Bが検出電極14bに至ると差動
出力は0になり、パルスS、は立ち下がる0次に、紙の
後端Cが検出電極14aに来ると、Scのパルス波形が
上方に突出して現れる。そして、紙の後端Cが検出電極
14bに来ると差動出力は0になり、パルスScは下方
に立ち下がる0次に、重なった紙の後端りが検出電極1
4aを過ぎ去るときに、S。のパルス波形が現れる。パ
ルス波形の高さは、紙の厚味n!、正確には紙の厚味2
を同一とすると、その枚数の影響を受けて決まる。すな
わち、第6図に示すように、静電容量と紙の厚味は反比
例の関係にあり、検出電極14a、14bと接地電極1
5の間に紙がない場合!、の静電容量C0に対し、紙が
1枚のときC3,2枚のときC2となる。差動増幅器1
7からのこれらの差動信号を分析することにより、紙の
2枚送りの有無、紙厚、紙の乾湿状態、紙の長さおよび
紙が2枚送りされたときの紙のずれ量等の検出を行うこ
とができる。すなわち、紙の2枚送り状態はパルス波形
SAに対してより大きなパルス波形S、が現れることに
より、検出される。また、パルス波形SAとSIとのピ
ーク値の差■、園を求めることにより紙厚が検出され、
しかも、このVAIの大きさを分析することにより紙の
乾湿状態を見分けることができる。また、パルス波形S
、とS、との時間幅により紙1の長さが求められる。ま
た、パルス波形SAとS、との時間幅に基づいて2枚送
りされる紙のずれ量を求めることができる。この紙のず
れ量の検出に際しては、検出電極14aと14bとの間
隔を接近させ、しかも、検出電極14a、14bの電極
面積を非常に小さくすれば、2枚送りされる紙の微小ず
れ量を高精度で求めることができる。
本実施例によれば、走行通路領域2を通る紙lの紙厚を
非接触状態で検出するものであるがら、紙1の走行速度
を高速にしてもこれに確実に追従して紙厚の変化や紙の
重なり等を正確に検出することが可能となる。
非接触状態で検出するものであるがら、紙1の走行速度
を高速にしてもこれに確実に追従して紙厚の変化や紙の
重なり等を正確に検出することが可能となる。
また、本実施例は、検出電極14a、14bと接地電極
15との間を紙が通過することによる静電容量の微小変
化を検出し、発振回路6の発振周波数信号に対する同調
回路7a、7bの同調点の変化を利用して紙厚を検出す
るものであるから、装置構成を簡易とするにもかかわら
ず、高精度のもとで目的とする紙厚の検出が可能となる
。しかも、本実施例では、第1の系列の同調回路7a側
の検出信号と第2の系列の同調回路7b側の検出信号と
の差の信号により紙厚等の検出を行うものであるから、
温度や湿度等の環境変化の外乱成分がキャンセルされて
取り除かれることとなり、S/N比の高い、かつ、信頼
性の高い紙厚等の検出が可能となる。
15との間を紙が通過することによる静電容量の微小変
化を検出し、発振回路6の発振周波数信号に対する同調
回路7a、7bの同調点の変化を利用して紙厚を検出す
るものであるから、装置構成を簡易とするにもかかわら
ず、高精度のもとで目的とする紙厚の検出が可能となる
。しかも、本実施例では、第1の系列の同調回路7a側
の検出信号と第2の系列の同調回路7b側の検出信号と
の差の信号により紙厚等の検出を行うものであるから、
温度や湿度等の環境変化の外乱成分がキャンセルされて
取り除かれることとなり、S/N比の高い、かつ、信頼
性の高い紙厚等の検出が可能となる。
さらに、本実施例では、発振回路6の共振器と、同調回
路7a、7bの共振器とを共にセラミック共振器10.
12により構成しているから、Qを大きな値にすること
が可能となる。しかも、セラミック共振器12の周囲部
の回路、つまり、インピーダンス変換回路6aと、イン
ダクタンス素子21とコンデンサ25の共振回路とを高
インピーダンス回路により構成しているから、セラミッ
ク共振器の動作時にQダンプを生じさせることがなく、
高感度のもとで静電容量の微小変化を検出することが可
能となる。
路7a、7bの共振器とを共にセラミック共振器10.
12により構成しているから、Qを大きな値にすること
が可能となる。しかも、セラミック共振器12の周囲部
の回路、つまり、インピーダンス変換回路6aと、イン
ダクタンス素子21とコンデンサ25の共振回路とを高
インピーダンス回路により構成しているから、セラミッ
ク共振器の動作時にQダンプを生じさせることがなく、
高感度のもとで静電容量の微小変化を検出することが可
能となる。
さらに、共振器をストリップラインを使用せずにセラミ
ック共振器10.12により構成したから、装置の超小
型が可能となる。
ック共振器10.12により構成したから、装置の超小
型が可能となる。
なお、本発明は上記実施例に限定されることはなく、様
々な実施の態様を採り得る0例えば、上記実施例では、
発振回路6の共振器と同調回路7a、7bの共振器とを
共にセラミック共振器10,12により構成したが、こ
れら一方の共振器または両方の共振器をストリップライ
ンで構成することも可能である。これらの共振器に関し
、発振回路6の共振器と同調回路7a、7bの共振器と
を温度特性の同じ材料で構成すれば、温度安定性の良い
紙厚検出装置が得られることになる。
々な実施の態様を採り得る0例えば、上記実施例では、
発振回路6の共振器と同調回路7a、7bの共振器とを
共にセラミック共振器10,12により構成したが、こ
れら一方の共振器または両方の共振器をストリップライ
ンで構成することも可能である。これらの共振器に関し
、発振回路6の共振器と同調回路7a、7bの共振器と
を温度特性の同じ材料で構成すれば、温度安定性の良い
紙厚検出装置が得られることになる。
本発明は、紙の走行通路領域に紙と非接触状態で前後方
向に一対の電極検出部を配置し、この電極検出部を紙が
非接触状態で通ることによる電極検出領域の静電容量の
変化を利用して紙厚等を検出するものであるから、紙の
走行速度を高速にしても、これに確実に追従して紙厚を
検出することができる。
向に一対の電極検出部を配置し、この電極検出部を紙が
非接触状態で通ることによる電極検出領域の静電容量の
変化を利用して紙厚等を検出するものであるから、紙の
走行速度を高速にしても、これに確実に追従して紙厚を
検出することができる。
また、本発明は、紙厚の変化に対応する静電容量の変化
を利用して発振回路の発振周波数信号に対して同調回路
の同調点を偏倚させて紙厚の検出信号を得る方式である
から、装置構成を簡易にするにもかかわらず微小紙厚の
変化を正確に検出することができ、その上、装置コスト
も安価にできる。しかも、紙厚の検出を、第1の系列と
第2の系列の各同調回路から得られる信号の差動出力に
よって求める方式であるから、外乱成分がキャンセルさ
れて取り除かれることとなり、これにより、紙厚、紙の
重なり、紙の長さ、重なった紙のずれ量等の情報を高感
度、高精度、かつ、高信頼性のもとで検出することがで
き、技術的価値は非常に大きい。
を利用して発振回路の発振周波数信号に対して同調回路
の同調点を偏倚させて紙厚の検出信号を得る方式である
から、装置構成を簡易にするにもかかわらず微小紙厚の
変化を正確に検出することができ、その上、装置コスト
も安価にできる。しかも、紙厚の検出を、第1の系列と
第2の系列の各同調回路から得られる信号の差動出力に
よって求める方式であるから、外乱成分がキャンセルさ
れて取り除かれることとなり、これにより、紙厚、紙の
重なり、紙の長さ、重なった紙のずれ量等の情報を高感
度、高精度、かつ、高信頼性のもとで検出することがで
き、技術的価値は非常に大きい。
第1図は本発明に係る紙厚検出装置の一実施例を示すブ
ロック図、第2図は同実施例装置の具体的な一系列の回
路図、第3図は同実施例における紙厚検出作用の説明図
、第4図は同実施例における紙厚検出の差動出力の波形
説明図、第5図は紙厚変化と静電容量の変化の関係を示
す説明図、第6図は静電容量と紙厚の関係を示す説明図
、第7図は従来の一般的な紙厚検出装置の説明図である
。 l・・・紙、2・・・走行通路領域、3・・・ポテンシ
ョメータ、3 a−回転軸、3 b ・−・接触針、4
a、4b・・・検波回路、5a、5b・−増幅回路、6
・−・発振回路、7a、7b・・・同調回路、8a、8
b・・・電極検出部、9 a、9 b−AFC回路、1
0−・・セラミック共振器、lla、llb・−・セン
サ回路、12・・・セラミック共振器、13・・・トラ
ンジスタ、14a、14b・・・検出電極、15・−接
地電極、16・・・分配器、17・・・差動増幅器、2
1・・・インダクタンス素子、22・・・ダイオード、
23・−・コンデンサ、24・・・抵抗器、25・・・
結合コンデンサ、27・・・トランジスタ。 第4圓
ロック図、第2図は同実施例装置の具体的な一系列の回
路図、第3図は同実施例における紙厚検出作用の説明図
、第4図は同実施例における紙厚検出の差動出力の波形
説明図、第5図は紙厚変化と静電容量の変化の関係を示
す説明図、第6図は静電容量と紙厚の関係を示す説明図
、第7図は従来の一般的な紙厚検出装置の説明図である
。 l・・・紙、2・・・走行通路領域、3・・・ポテンシ
ョメータ、3 a−回転軸、3 b ・−・接触針、4
a、4b・・・検波回路、5a、5b・−増幅回路、6
・−・発振回路、7a、7b・・・同調回路、8a、8
b・・・電極検出部、9 a、9 b−AFC回路、1
0−・・セラミック共振器、lla、llb・−・セン
サ回路、12・・・セラミック共振器、13・・・トラ
ンジスタ、14a、14b・・・検出電極、15・−接
地電極、16・・・分配器、17・・・差動増幅器、2
1・・・インダクタンス素子、22・・・ダイオード、
23・−・コンデンサ、24・・・抵抗器、25・・・
結合コンデンサ、27・・・トランジスタ。 第4圓
Claims (1)
- 紙の走行通路領域に前後させ、かつ、紙に対して非接触
状態で設けられる第1および第2の2系列の検出電極と
;発振周波数信号を発振出力する1個の発振回路と;前
記発振回路とは別個独立の共振器を備え、前記第1の系
列の検出電極によって検出される静電容量の変化を受け
て同調点を変化させ、この同調点の変化に対応した検出
信号を出力する第1の系列の同調回路と;前記発振回路
および第1の系列の同調回路とは別個独立の共振器を備
え、前記第2の系列の検出電極によって検出される静電
容量の変化を受けて同調点を変化させ、この同調点の変
化に対応した検出信号を出力する第2の系列の同調回路
と;前記第1の系列の同調回路からの検出信号と第2の
系列の同調回路からの検出信号との差の信号を出力する
出力回路と;を有する紙厚検出装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2035571A JPH0752083B2 (ja) | 1990-02-16 | 1990-02-16 | 紙厚検出装置 |
| US07/654,425 US5198777A (en) | 1990-02-14 | 1991-02-12 | Paper thickness detecting apparatus having a resonator with a resonance point set by a capacitance detecting unit |
| EP91301173A EP0442727B1 (en) | 1990-02-14 | 1991-02-13 | Paper thickness detecting apparatus |
| DE69122895T DE69122895T2 (de) | 1990-02-14 | 1991-02-13 | Apparat zur Feststellung der Papierdicke |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2035571A JPH0752083B2 (ja) | 1990-02-16 | 1990-02-16 | 紙厚検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03238303A true JPH03238303A (ja) | 1991-10-24 |
| JPH0752083B2 JPH0752083B2 (ja) | 1995-06-05 |
Family
ID=12445446
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2035571A Expired - Fee Related JPH0752083B2 (ja) | 1990-02-14 | 1990-02-16 | 紙厚検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0752083B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4755283B2 (ja) * | 2007-07-26 | 2011-08-24 | 富士通株式会社 | 紙葉厚み検出装置 |
| JP2013527465A (ja) * | 2010-06-04 | 2013-06-27 | プラスティック ロジック リミテッド | 層の厚みの測定 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS543976U (ja) * | 1977-06-13 | 1979-01-11 | ||
| JPS61116603A (ja) * | 1984-11-12 | 1986-06-04 | Fujitsu Ltd | 検出装置 |
| JPS61209361A (ja) * | 1985-03-13 | 1986-09-17 | Nec Corp | 静電容量の測定方法 |
-
1990
- 1990-02-16 JP JP2035571A patent/JPH0752083B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS543976U (ja) * | 1977-06-13 | 1979-01-11 | ||
| JPS61116603A (ja) * | 1984-11-12 | 1986-06-04 | Fujitsu Ltd | 検出装置 |
| JPS61209361A (ja) * | 1985-03-13 | 1986-09-17 | Nec Corp | 静電容量の測定方法 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4755283B2 (ja) * | 2007-07-26 | 2011-08-24 | 富士通株式会社 | 紙葉厚み検出装置 |
| JP2013527465A (ja) * | 2010-06-04 | 2013-06-27 | プラスティック ロジック リミテッド | 層の厚みの測定 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0752083B2 (ja) | 1995-06-05 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |