JPH03239380A - レーザー光源装置 - Google Patents
レーザー光源装置Info
- Publication number
- JPH03239380A JPH03239380A JP2035286A JP3528690A JPH03239380A JP H03239380 A JPH03239380 A JP H03239380A JP 2035286 A JP2035286 A JP 2035286A JP 3528690 A JP3528690 A JP 3528690A JP H03239380 A JPH03239380 A JP H03239380A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor laser
- photodiode
- output
- light
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明はレーザー光源装置に関し、更に詳しくは、例え
ばセンサーのレーザー光源として用いられる半導体レー
ザー光源装置におけるモードホップの防止に関する。
ばセンサーのレーザー光源として用いられる半導体レー
ザー光源装置におけるモードホップの防止に関する。
〈従来の技術〉
メカトロニクスや精密機械の分野では、機器の高性能化
や高精密化等により、微小な変位等の物理量の変化をと
らえて解析することがますます重要になっている。
や高精密化等により、微小な変位等の物理量の変化をと
らえて解析することがますます重要になっている。
このような微小な変位等を測定するセンサーとして例え
ば第5図に示すような干渉計型センサーが開発されてい
る。このセンサーは、測定対象物にミラー(ターゲット
シート)を貼f−1して該ミラにレーザー光源から出力
されるレーザー光を照射し、その反射光を利用して位置
変化を検出するものである。この場合、位置変化による
2光路の光波長の変化により生じる干渉光の強度変化を
求める。
ば第5図に示すような干渉計型センサーが開発されてい
る。このセンサーは、測定対象物にミラー(ターゲット
シート)を貼f−1して該ミラにレーザー光源から出力
されるレーザー光を照射し、その反射光を利用して位置
変化を検出するものである。この場合、位置変化による
2光路の光波長の変化により生じる干渉光の強度変化を
求める。
第5図では、半導体レーザー1−からレーザー光を照射
し、ビームスプリッタ2ならびにミラー3で反射して受
光素子4に入射される第1の光と、ビームスプリッタ2
を透過して被測定対象に貼付されているミラー5で反射
し、再びビームスプリッタ2を経て受光素子4に人耶t
される第2の光との干渉強度、すなわち光の位相差を検
出することによって変位等を測定する。
し、ビームスプリッタ2ならびにミラー3で反射して受
光素子4に入射される第1の光と、ビームスプリッタ2
を透過して被測定対象に貼付されているミラー5で反射
し、再びビームスプリッタ2を経て受光素子4に人耶t
される第2の光との干渉強度、すなわち光の位相差を検
出することによって変位等を測定する。
〈発明が解決しようとする課題〉
ところで、このようなセンサーで用いられる半導体レー
ザー1では、第6図及び第7図に示すようなモードホッ
プとよばれる周波数の跳びが観測されることがある。こ
のモードホップは光周波数が瞬間的にそれまでと異なる
モードに移るというもので、モードホップを起こす領域
では複数のモトの競合が発生して発振状態が不安定にな
り、ノイズも発生する。
ザー1では、第6図及び第7図に示すようなモードホッ
プとよばれる周波数の跳びが観測されることがある。こ
のモードホップは光周波数が瞬間的にそれまでと異なる
モードに移るというもので、モードホップを起こす領域
では複数のモトの競合が発生して発振状態が不安定にな
り、ノイズも発生する。
また、半導体レーザ1の周波数掃引を行う場合には第6
図のaの範囲のようなモードホップが発生しない範囲の
電流で掃引されているが、モードホップは温度や経時変
化等でその発生領域が変化してしまい、第6図のaの範
囲でもモードホップが発生することがある。
図のaの範囲のようなモードホップが発生しない範囲の
電流で掃引されているが、モードホップは温度や経時変
化等でその発生領域が変化してしまい、第6図のaの範
囲でもモードホップが発生することがある。
このようなモードホップが発生すると、第5図のセンサ
ーではある位相点を基準にして該位相点からの干渉縞の
数(位相)を測定する相対的な測定方法を採用している
ために、基鵡点そのものが不定になってしまって微小な
変位測定はほぼ不「り能になってしまう。
ーではある位相点を基準にして該位相点からの干渉縞の
数(位相)を測定する相対的な測定方法を採用している
ために、基鵡点そのものが不定になってしまって微小な
変位測定はほぼ不「り能になってしまう。
ところが、従来はこのようなモードホップの有無を検出
することは行われていなかった。
することは行われていなかった。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的は、モードホップの有無を検出することによって
発振の安定した信頼性の高いレーザー光源装置を提供す
ることにある。
の目的は、モードホップの有無を検出することによって
発振の安定した信頼性の高いレーザー光源装置を提供す
ることにある。
く課題を解決するための手段〉
上記課題を解決する本発明は、
半導体レーザーと、
該半導体レーザーの出力光の一部が入射される光共振器
と、 該光共振器の出力光が入射されるフォトダイ第一部と、 該フォトダイオードの出力信号の不連続性を検出するモ
ニタ回路と、 該モニタ回路の不連続性検出信号に従って前記フォトダ
イオードの出力信号が連続するように前記半導体レーザ
ーの駆動電流を制御する駆動電流制御回路と、 該駆動電流制御回路から出力される制御信号に従って前
記半導体レーザーを駆動する半導体レーザー駆動回路と
を具備したことを特徴とするものである。
と、 該光共振器の出力光が入射されるフォトダイ第一部と、 該フォトダイオードの出力信号の不連続性を検出するモ
ニタ回路と、 該モニタ回路の不連続性検出信号に従って前記フォトダ
イオードの出力信号が連続するように前記半導体レーザ
ーの駆動電流を制御する駆動電流制御回路と、 該駆動電流制御回路から出力される制御信号に従って前
記半導体レーザーを駆動する半導体レーザー駆動回路と
を具備したことを特徴とするものである。
く作用〉
本発明のレーザー光源装置において、半導体レーザーに
モードホップが発生すると光共振器の出力光の強度が大
きく変化し、フォトダイオードの出力信号が不連続にな
る。モニタ回路は該フォトダイオードの出力信号の不連
続を検出してその検出信号を半導体レーザーの駆動電流
を制御する駆動電流制御回路に出力する。そして、駆動
電流制御回路はフォトダイオードの出力信号が連続する
ように半導体レーザーの駆動電流を制御する。
モードホップが発生すると光共振器の出力光の強度が大
きく変化し、フォトダイオードの出力信号が不連続にな
る。モニタ回路は該フォトダイオードの出力信号の不連
続を検出してその検出信号を半導体レーザーの駆動電流
を制御する駆動電流制御回路に出力する。そして、駆動
電流制御回路はフォトダイオードの出力信号が連続する
ように半導体レーザーの駆動電流を制御する。
これにより、半導体レーザーのモードホップの発生は抑
制される。
制される。
〈実施例〉
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。
。
第1図は本発明の一実施例を示す構成図である。
図において、半導体レーザー6は駆動電流制御回路13
により設定される電流に従って駆動回路14で駆動され
る。該半導体レーザー6の出力光はレンズ7に入射され
て平行光に変換された後、ビームサンプラー8に入射さ
れる。該ビームサンプラ−8を通った半導体レーザー6
の出力光の一部はモニタ光として分岐されて例えばフィ
ネスの低イファブリーペローエタロンで構成された光共
振器9に入射される。該光共振器9の出力光はフォトダ
イオード10に入射されて電気信号に変換される。該フ
ォトダイオード10の出力信号は増幅器1〕−を介して
モニタ回路12に人力される。該モニタ回路〕2はフォ
トダイオード10の出力信号の不連続性を検出するため
に設けられたものであり、例えば微分器とトリガ回路と
で構成されている。破線で囲まれた光共振器9.フォト
ダイオード10 増幅器11及びモニタ回路12はモニ
タ部Mを構成している。駆動電流制御回路13はモニタ
回路12の不連続性検出信号に従ってフォトダイオード
10の出力信号が連続するように半導体レーザー6の駆
動電流を制御する。駆動回路14は該駆動電流制御回路
13から出力される制御信号に従って半導体レーザー6
を駆動する。すなわち、モニタ部Mの出力信号は半導体
レーザー6の駆動回路14にフィードバックされている
。
により設定される電流に従って駆動回路14で駆動され
る。該半導体レーザー6の出力光はレンズ7に入射され
て平行光に変換された後、ビームサンプラー8に入射さ
れる。該ビームサンプラ−8を通った半導体レーザー6
の出力光の一部はモニタ光として分岐されて例えばフィ
ネスの低イファブリーペローエタロンで構成された光共
振器9に入射される。該光共振器9の出力光はフォトダ
イオード10に入射されて電気信号に変換される。該フ
ォトダイオード10の出力信号は増幅器1〕−を介して
モニタ回路12に人力される。該モニタ回路〕2はフォ
トダイオード10の出力信号の不連続性を検出するため
に設けられたものであり、例えば微分器とトリガ回路と
で構成されている。破線で囲まれた光共振器9.フォト
ダイオード10 増幅器11及びモニタ回路12はモニ
タ部Mを構成している。駆動電流制御回路13はモニタ
回路12の不連続性検出信号に従ってフォトダイオード
10の出力信号が連続するように半導体レーザー6の駆
動電流を制御する。駆動回路14は該駆動電流制御回路
13から出力される制御信号に従って半導体レーザー6
を駆動する。すなわち、モニタ部Mの出力信号は半導体
レーザー6の駆動回路14にフィードバックされている
。
次に、具体的な動作を説明する。
半導体レーザー6の出力光の一部はビームサンプラー8
により分岐されてファプリーペローエタロン9に入射さ
れる。該ファプリーペローエタロン9は光の共振器であ
り、半導体レーザー6の出力光の周波数に応じて第2図
のような透過光強度が得られる。ファプリーペローエタ
ロン9は、その反射ミラーの反射率Rが0.3程度でフ
ィネスの低いものを用いる。従って、半導体レーザー6
の出力光の強度を安定化した系ではファプリーペローエ
タロン9を透過する半導体レーザー6の出力光の強度は
一定になり、周波数を掃引する系ではその光強度は緩や
かに変化して第2図の反射率Rが0627付近の形状に
なる。
により分岐されてファプリーペローエタロン9に入射さ
れる。該ファプリーペローエタロン9は光の共振器であ
り、半導体レーザー6の出力光の周波数に応じて第2図
のような透過光強度が得られる。ファプリーペローエタ
ロン9は、その反射ミラーの反射率Rが0.3程度でフ
ィネスの低いものを用いる。従って、半導体レーザー6
の出力光の強度を安定化した系ではファプリーペローエ
タロン9を透過する半導体レーザー6の出力光の強度は
一定になり、周波数を掃引する系ではその光強度は緩や
かに変化して第2図の反射率Rが0627付近の形状に
なる。
フォトダイオード10はファプリーペローエタロン9を
透過する半導体レーザー6の出力光の強度を電気信号に
変換し、モニタ回路12は該フォトダイオード10の出
力信号の変化の状態をモニタしている。
透過する半導体レーザー6の出力光の強度を電気信号に
変換し、モニタ回路12は該フォトダイオード10の出
力信号の変化の状態をモニタしている。
ここで、半導体レーザー6の発振周波数が前述のような
モードホップを起こすと、ファプリーペローエタロン9
を透過する半導体レーザー6の出力光の強度が急峻に変
化し、フォトダイオード10の出力信号も急峻に変化す
る。該フォトダイオド10の出力信号の急峻な変化はモ
ニタ回路12の微分器により検出され、大きな微分信号
が出力される。モニタ回路12のトリガ回路は該微分信
号が設定値以上になると駆動電流制御回路13に駆動電
流の設定値や第3図に示すような周波数掃引間のバイア
ス電流分を変更するためのトリガ信号(制御信号)を出
力する。
モードホップを起こすと、ファプリーペローエタロン9
を透過する半導体レーザー6の出力光の強度が急峻に変
化し、フォトダイオード10の出力信号も急峻に変化す
る。該フォトダイオド10の出力信号の急峻な変化はモ
ニタ回路12の微分器により検出され、大きな微分信号
が出力される。モニタ回路12のトリガ回路は該微分信
号が設定値以上になると駆動電流制御回路13に駆動電
流の設定値や第3図に示すような周波数掃引間のバイア
ス電流分を変更するためのトリガ信号(制御信号)を出
力する。
このような制御によってモードホップが発生しなくなる
とファプリーペローエタロン9を透過する半導体レーザ
ー6の出力光の強度の変化は小さくなってフォトダイオ
ード10の出力信号の変化も小さくなり、モニタ回路1
2の微分器の微分信号はトリガレベル以下になることか
ら駆動電流制御回路13に駆動電流の設定値や周波数掃
引時のバイアス電流分を変更するためのトリガ信号(制
御信号)が出力されることはない。
とファプリーペローエタロン9を透過する半導体レーザ
ー6の出力光の強度の変化は小さくなってフォトダイオ
ード10の出力信号の変化も小さくなり、モニタ回路1
2の微分器の微分信号はトリガレベル以下になることか
ら駆動電流制御回路13に駆動電流の設定値や周波数掃
引時のバイアス電流分を変更するためのトリガ信号(制
御信号)が出力されることはない。
なお、上述第1図の実施例では光共振器としてファプリ
ーペローエタロンを用いているが、第4図に示すような
リング導波路15と直線光導波路16で方向性結合器1
7が構成されたリング導波路型の光共振器を用いても同
じ効果が得られる。
ーペローエタロンを用いているが、第4図に示すような
リング導波路15と直線光導波路16で方向性結合器1
7が構成されたリング導波路型の光共振器を用いても同
じ効果が得られる。
このように構成されるレーザー光源装置は構成か比較的
単純であることから信頼性は高く、各種センサー類の光
源として利用価値は高い。
単純であることから信頼性は高く、各種センサー類の光
源として利用価値は高い。
〈発明の効果〉
以上詳細に説明したように、本発明によれば、モードホ
ップの有無を検出することによって発振の安定した信頼
性の高いレーザー光源装置を提供することができる。
ップの有無を検出することによって発振の安定した信頼
性の高いレーザー光源装置を提供することができる。
第1図は本発明の一実施例を示す構成図、第2図はファ
プリーペローエタロンの透過特性側図、 第3図は駆動電流の説明図、 第4図はリング導波路型の光共振器の構成図、第5図は
干渉計型センサーの一例を示す構成図、第6図及び第7
図はモードホップの説明図である。 6・・・半導体レーザー 7・・・レンズ8・・
・ビームサンプラー 9・・・ファプリーペローエタロン(光共振器)10・
・・フォトダイオード 11・・・増幅器12・・・
モニタ回路
プリーペローエタロンの透過特性側図、 第3図は駆動電流の説明図、 第4図はリング導波路型の光共振器の構成図、第5図は
干渉計型センサーの一例を示す構成図、第6図及び第7
図はモードホップの説明図である。 6・・・半導体レーザー 7・・・レンズ8・・
・ビームサンプラー 9・・・ファプリーペローエタロン(光共振器)10・
・・フォトダイオード 11・・・増幅器12・・・
モニタ回路
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 半導体レーザーと、 該半導体レーザーの出力光の一部が入射される光共振器
と、 該光共振器の出力光が入射されるフォトダイオードと、 該フォトダイオードの出力信号の不連続性を検出するモ
ニタ回路と、 該モニタ回路の不連続性検出信号に従って前記フォトダ
イオードの出力信号が連続するように前記半導体レーザ
ーの駆動電流を制御する駆動電流制御回路と、 該駆動電流制御回路から出力される制御信号に従って前
記半導体レーザーを駆動する半導体レーザー駆動回路と
を具備したことを特徴とするレーザー光源装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2035286A JPH03239380A (ja) | 1990-02-16 | 1990-02-16 | レーザー光源装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2035286A JPH03239380A (ja) | 1990-02-16 | 1990-02-16 | レーザー光源装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03239380A true JPH03239380A (ja) | 1991-10-24 |
Family
ID=12437531
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2035286A Pending JPH03239380A (ja) | 1990-02-16 | 1990-02-16 | レーザー光源装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03239380A (ja) |
-
1990
- 1990-02-16 JP JP2035286A patent/JPH03239380A/ja active Pending
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