JPH0324016B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0324016B2
JPH0324016B2 JP61289156A JP28915686A JPH0324016B2 JP H0324016 B2 JPH0324016 B2 JP H0324016B2 JP 61289156 A JP61289156 A JP 61289156A JP 28915686 A JP28915686 A JP 28915686A JP H0324016 B2 JPH0324016 B2 JP H0324016B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
piezoelectric element
detection probe
positioning
electrode
dimensional
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP61289156A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS63141380A (ja
Inventor
Hiroshi Tokumoto
Hiroshi Bando
Fumiki Sakai
Shigeru Wakyama
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
Agency of Industrial Science and Technology
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Agency of Industrial Science and Technology, Seiko Epson Corp filed Critical Agency of Industrial Science and Technology
Priority to JP61289156A priority Critical patent/JPS63141380A/ja
Publication of JPS63141380A publication Critical patent/JPS63141380A/ja
Publication of JPH0324016B2 publication Critical patent/JPH0324016B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Control Of Position Or Direction (AREA)
  • General Electrical Machinery Utilizing Piezoelectricity, Electrostriction Or Magnetostriction (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、微動装置に関し、詳しくは超微細
加工時の位置合せや、走査トンネル顕微鏡におけ
る試料あるいは、検出部である探針の移動に用い
るのに好適な微動装置に関する。
〔発明の概要〕
この発明は、圧電素子体からなる一次元、二次
元、三次元微小位置決め機構において、動作軸に
対し、検出部探針が傾くことなく動作するよう
に、軸の変形部分(電極)の検出部である探針保
持台側端部を、検出探針保持台より離して、検出
部探針の一次元、二次元、三次元微小位置決めを
設定することで、精度高く行なうことを可能とし
たものであり、産業上有益な微小位置決め機構で
ある。
〔従来の技術〕 光学機器及び分析機器において、試料と検出部
の位置決めや、超微細加工時の位置決めは、近
年、高精度が要求されてきている。また、試料表
面と検出探針先端部間に流れるトンネル電流を検
出し、トンネル電流が常に一定になるように、試
料表面と検出探針先端部間を制御して、原子構造
を観察する走査トンネル顕微鏡においては、数Å
のレベルで位置決めを行なう微動機構が不可欠と
なる。そして、従来、x,y,z三次元に微小位
置決めを行なう機構として、立方体からなる圧電
素子ブロツクより、x,y,z軸用棒状圧電素子
を一体で切り出して作製した第2図に示すごとき
キユービツク状三次元微小位置決め機構等が知ら
れている。(昭和60年春季第32回応用物理学会予
稿.真空トンネル顕微鏡用微動素子の特性評価.
電子技術総合研究所.岡山重夫,阪東寛,徳本洋
志,梶村皓二)。この三次元微小位置決め機構は、
圧電素子体からなり、圧電素子体は、分極処理さ
れた方向に電圧をかけることにより、その方向に
変形(伸び,縮み)し、他面では、それとは逆の
変形(縮み、伸び)として生じるもので、電圧を
加えることにより、微小変位が形成される為、第
3図に示すごときシステムにより、x,y,z各
軸に加える電圧を制御することで、x,y軸の交
点に取付けた検出探針先端部の三次元微小位置決
めが可能となる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
以上に示した従来の機構において、第4図aで
示した状態から、第4図bに示す様に、電極に電
圧を印加して、厚み方向に変形(矢印イ)させる
ことにより、その変形量に対し軸方向の変形(矢
印ロ)として生じるもので、電極が付いていて電
圧をかけると変形する部分(ニ部)と、電極が付
いていない部分(ホ部)とに段差が生じ、微小な
傾きが形成される。その為、従来品の様に検出探
針保持台が電極に接している場合、傾斜の影響を
受け、検出探針先端部の動き量は、棒状圧電素子
の動き量とは異なつたもの(矢印ハ)になり、精
密な微小位置決めができないという問題があつ
た。
〔問題点を解決するための手段〕
上記の問題点を解決するために、この発明は、
第5図aに示す様に、軸の変形部分(電極)の検
出探針保持台側端部を検出探針保持台より離し
て、形成することにより、圧電素子体を、軸方向
に伸縮させるために、厚み及び幅方向に変形させ
ることから電極境界部に生じる傾斜の影響を検出
探針取付け台が受けることなく、第5図bに示す
様に検出部探針先端部を試料面に対し精密に微小
位置決め可能にした。
〔作用〕
上記のように構成された機構にすることによ
り、圧電素子体を、軸方向に伸縮させるために、
厚み及び幅方向に変形させることから生じる電極
境界部の傾斜の影響を検出探針取付け台が受ける
ことがないため検出探針を試料面に対し精密に微
小位置決めすることが可能となる。
〔実施例〕
この実施例は、走査型トンネル顕微鏡において
試料面上で原子構造を観察するレベル(数Å)で
検出探針先端部を位置決めする機構として用いた
ものであり、圧電素子体の厚み及び幅方向の変形
による微小位置決めへの影響を軽減することを目
的に考えだされたもので以下、図面に基づいて説
明していくこととする。
第1図aにおいて、圧電素子体からx軸,y
軸,z軸棒状圧電素子体11,12,13を一体で
作製し、各々の軸の相対する二面に電極21,2
,23を形成する。そして、x軸,y軸の交点で
あるz軸上に検出探針保持台3が固定され、検出
探針保持台3には検出探針4が取付けられてい
る。本実施例では、圧電素子体の厚み及び幅方向
の変形による影響を検出探針保持台3に及ばない
ように棒状圧電素子体、11,12変形部分(電
極)を探針保持台より棒状圧電素子体の厚み分離
して形成した。そして、走査トンネル顕微鏡の検
出部探針の微動機構とて装置に組込み、実験した
ところ、従来品にあつた問題もなく、高精度な微
小位置決めがなされることが確認できた。また、
同様に第1図b,cに示す様な二次元、一次元の
ものにも適用したところ、先の三次元のものと同
じ効果が得られた。
〔発明の効果〕
この発明によると以上説明した様に、軸の変形
部分(電極)の検出探針保持台側端部を検出探針
保持台より離して、形成することにより、圧電素
子体を軸方向に伸縮させるために、厚み及び幅方
向に変形させることから電極境界部に傾斜が生じ
ても影響を受けることがないため、検出探針先端
部を試料面に対し精密に微小位置決めを行なうこ
とが可能になつた。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の立体図、第2図は、従来品
の立体図、第3図は、本微動機構駆動システム
図、第4図,第5図は、一軸変形における、従来
品、発明品の検出部探針取付け台の動きを示した
図である。 11,12,13……棒状圧電素子体、21,22
3……電極、3……検出探針保持台、4……検
出探針。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 圧電素子体11,12,13の上下面に形成さ
    れた一対の電極21,22,23間に電圧を加える
    ことにより前記圧電素子体11,12,13を伸縮
    させ、前記圧電素子体11,12,13の一方の電
    極側に検出探針保持台3を介して設けられた検出
    探針4を微小位置決めする圧電素子微動機構にお
    いて、 前記一方の電極21,22,23が、前記検出探
    針保持台3より離れ、且つ他方の電極21,22
    3端部は前記一方の電極21,22,23端部とほ
    ぼ同一位置に形成されていることを特徴とする圧
    電素子体微動機構。
JP61289156A 1986-12-04 1986-12-04 圧電素子体微動機構 Granted JPS63141380A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61289156A JPS63141380A (ja) 1986-12-04 1986-12-04 圧電素子体微動機構

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61289156A JPS63141380A (ja) 1986-12-04 1986-12-04 圧電素子体微動機構

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63141380A JPS63141380A (ja) 1988-06-13
JPH0324016B2 true JPH0324016B2 (ja) 1991-04-02

Family

ID=17739488

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61289156A Granted JPS63141380A (ja) 1986-12-04 1986-12-04 圧電素子体微動機構

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS63141380A (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5345137A (en) * 1991-04-08 1994-09-06 Olympus Optical Co., Ltd. Two-dimensionally driving ultrasonic motor

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59105388A (ja) * 1982-12-09 1984-06-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電気―機械変換素子の駆動装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS63141380A (ja) 1988-06-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5173605A (en) Compact temperature-compensated tube-type scanning probe with large scan range and independent x, y, and z control
US5861549A (en) Integrated Silicon profilometer and AFM head
CN1068813C (zh) 机电定位装置
JP2534442B2 (ja) 二重たわみ部材キャリッジ及び二重たわみ部材組立体
JPH0212381B2 (ja)
JPH04122806A (ja) 原子間力顕微鏡の微動走査機構
EP0868648B1 (en) Integrated silicon profilometer and afm head
Bergander et al. Micropositioners for microscopy applications based on the stick-slip effect
JPH0324016B2 (ja)
US4859896A (en) Piezoelectric precision positioning device
JP2639548B2 (ja) 圧電アクチュエータ
JP2839526B2 (ja) 静電形アクチュエータ
JPH06258072A (ja) 圧電体薄膜評価装置、原子間力顕微鏡
JPH01287403A (ja) 走査型トンネル顕微鏡
JP2651462B2 (ja) 圧電アクチュエータ
JP2937558B2 (ja) 位置決め装置
JP3060527B2 (ja) 位置決め装置
JP2642636B2 (ja) プローブユニットの駆動機構およびその駆動方法
JP2631297B2 (ja) 圧電アクチュエーター
KR100269547B1 (ko) 미세 위치 결정 장치용 틸팅 포지셔너
JPH0743604Y2 (ja) 圧電素子微小位置決め機構
JPH088405Y2 (ja) 圧電素子微小位置決め機構
JP2004284000A (ja) 真直度制御ステージ
JPS63195589A (ja) 微小位置決め機構
JPH0244787A (ja) 圧電素子微小位置決め機構

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313115

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term