JPH0324059A - ペリレン化合物の精製方法 - Google Patents

ペリレン化合物の精製方法

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JPH0324059A
JPH0324059A JP15208189A JP15208189A JPH0324059A JP H0324059 A JPH0324059 A JP H0324059A JP 15208189 A JP15208189 A JP 15208189A JP 15208189 A JP15208189 A JP 15208189A JP H0324059 A JPH0324059 A JP H0324059A
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perylene
temperature
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pigment
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ミー ホー アー
Cheng-Kuo Hsaio
クオ シャオ チェン
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ラフィック オー ルトフィ
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発丑鬼産量 本発明は一般に感光性像形或部材において有用なペリレ
ン顔料の調製方法に関し、さらに詳細には、本発明は昇
華法によって得た精製ペリレン顔料化合物を含有させた
多層型感光性部材に関する。
さらに詳細には、上記の昇華による精製は、通常固形物
質であり、化学または熱分解なしに蒸発し得る蒸発性ペ
リレンの分別凝縮を含む。即ち、本発明の方法はペリレ
ン−3.4,9.10−テトラカルボン酸ビスーベンズ
イくダゾールのその蒸気からの調整された温度および圧
力下での昇華による分別凝縮を行って最小の不純物吸藏
を有する固形生成物を得るのに特に適している。従って
、本発明によれば、高精製の生威物が受け入れ可能な収
率で得られ、この生成物は後述するような改良された静
電複写特性を有する。即ち、1つの実施B様においては
、本発明はアリールアミン正孔移送分子を含有する多層
型感光性像形戒部材における有機光励起体材料として有
用な精製ペリレン類を調製するための昇華方法を包含す
る。上記の感光性像形威部材は精製ペリレン光励起層を
正孔移送層と基体との間に置いたとき負帯電させること
ができ;また正孔移送層を光励起層と支持基体の間に置
いたとき正帯電させることができる。さらに、本発明方
法で得られた精製ペリレン顔料光励起体化合物を含み、
またアリールアミン正孔移送層を含む感光性像形戒部材
は、電子写真像形或法、特に、負帯電または正帯電像を
適切な電荷を有する現像剤m戒物でもって可視像とする
静電複写法において有用である。
k未狡査 米国特許第3,871,882号には、特定のN,N−
ジ置換ペリレン−3.4.9.10−テトラカルボン酸
ジアミド染料を含む光導電性物質が開示されている。該
米国特許の教示によれば、光導電性層は好ましくは上記
染料を真空中で蒸着することによって形成している。ま
た、該米国特許においては、400〜600nmの波長
範囲のスペクトル応答を有する、N,N−ジ置換ペリレ
ン−3,4,9.10−テトラカルボン酸ジイミド誘導
体を含む2層感光体が開示されている。
ペリレン化合物の調製方法もまた公知である。
例えば、本明細書で例示するタイプのペリレン化合物は
ペリレン−3.4,9.10−テトラカルボン酸または
相応する無水物と適当なアミンとのキノリンまたは1−
クロロナフタレン中での反応によって調製することがで
き、この縮合反応は触媒の存在下で例えば約180℃〜
230℃の昇温下での加熱により行っている。さらに、
これらの方法に関しての詳細はドイツ特許公報第2,4
51,780号、第2,451,781号、第2,4 
51,7 8 2号、第2.451,783号、第2,
451,784号、第3.016,765号;フランス
特許第7723888号:英国特許第857,130号
、第901.694号、第LO95,196号;および
昇華性ペリレン顔料を開示している米国特許第4,43
1,722号において説明されている。
しかしながら、上記の特許に開示されたペリレン顔料の
調製方法は不純物を含有する光導電性物質を与え、多く
の場合、特に、これらの顔料を分散体として使用する場
合、望ましくない高暗減衰値、低感光性、および低電荷
アクセプタンス特性を生ずる。
上述のペリレン調製方法はその意図する目的には適する
けれども、改良された方法、特に、アリールアミン正孔
移送化合物を含有させた多層型部材において使用できる
精製ペリレンを得る方法が求められている。さらにアリ
ールアミン電荷移送化合物、および光励起物質としての
精製ペリレン顔料を含み、許容し得る可視光感度、低暗
減衰特性および高電荷アクセプタンス値を有し、静電複
写像形威または複写装置において多数回の像形戒サイク
ルで使用できる多層型像形或部材が求められている。ま
た、簡単な経済的な分別昇華法によるペリレンの調製を
可能にしそれによって望ましくない不純物をペリレンよ
り除去することができる方法が求められている。さらに
また、分別昇華法により得た無毒のペリレン有機顔料を
含む使い捨て可能な像形戊部材に対しての重要な要求も
存在し続けている。また、例えば、光発出ダイオード(
LED)、およびヘリウムカドミウムまたはヘリウムネ
オンレーザーを使用する静電複写像形或法および静電複
写法における使い捨て像形底部材として有用であり、こ
れらの像形或Buがスペクトルの可視および赤外領域、
即ち、約400〜約800nm(ナノメーター)に対し
て特に感応性である、分別昇華法により得た無毒性ペリ
レン有機顔料が求められている。
発明の内容 本発明の目的は使用者に対して実質的に無害である感光
性(象形或部材において有用なペリレン類の改良された
調製方法を提供することである。
本発明の上記および他の目的は多層型像形底部材の光励
起性顔料としで有用な精製ペリレンの改良された調製方
法を提供することによって達威されるっさSに詳細には
、本発明の方法は、次の群;丁 . 式 : シス トランス (式中、XはO−フエニレン、0−ナフタレン、ペリナ
フタレン、2.3−ピリジンジイル、4,5−ビリミジ
ンジイル、9、1o−フエナンスリレン、3.4−ピロ
ゾールジイル、6,7ーイξダゾールジイル、5,6−
ペンズイミダゾールジイルおよび6.7−キノリンジル
のような2価の芳香族炭化水素基:または2価の複素環
基もしくはその相応するメチル、ニトロ、クロロおよび
メトキシ置換誘導体である)を有するシスおよびトライ
ス異性体の混合物;および ■.弐: (式中、Aは水素、l〜約4個の炭素原子を有するアル
キル基、了りール、置換アリール、了りールアルキル、
アルコキシアルキル、カルボキシレート、複素環基、ア
ルコキシアリールであり、これらの特定の例にはメチル
、エチル、フエニル、メトキシ、エトキシ、プロボキシ
、ピロール、フラン、イミダゾール、エステルおよびキ
ノリンがある) の顔料; からなる公知のペリレン顔料化合物を分別昇華処理に供
することによって調製することを含む。上記のペリレン
顔料の分別昇華は、先ず顔料を第1位置で温度T1に加
熱して顔料およびその中の揮発性不純物の蒸発を行い次
いで得られたペリレン顔料蒸気を擬縮させて精製ペリレ
ンをT,より低い温度T2に維持した第2位置で生戒せ
しめ、続いて、揮発性不純物の蒸気をT2より低い温度
T3に保った第3位置で凝縮して沈着物を形戒させるこ
とによって行う。従って、望ましくない未昇華不純物は
出発物質を置いた第1位置に残存し、揮発性および非昇
華性不純物から分離した精製ペリレン顔料が得られる。
さらに、本発明の方法においては、温度T1は約350
〜約650℃でありiTzは約350〜約500℃であ
り;T3は約20〜約350℃であるが、使用する各温
度は上述のとおりの条件である、即ち、特定のプロセス
実施態様において、温度T2は温度T1より低く、温度
T3は温度T8よりも低い。さらに、本発明のペリレン
顔料の分別昇華は真空中であるいは低圧不活性ガス連続
流(この連続流はペリレンおよび不純物蒸気をこれらが
別々に凝縮して沈着物を生戒する前述の所望位置に移送
するのを容易にする)を流すことによって行い得る。本
発明の1つの実施態様においては、本発明方法はトレイ
ン(系列)昇華、キャリャーガス昇華、エントレイナー
昇華またはゾーン精製のような公知の精製方法を含む.
一般に、トレイン昇華においては、主装置として、例え
ば、ガラス、ステンレススチール、石英等の円筒状チュ
ーブを使用する。ペリレンを精製するとき(昇華温度4
00〜550℃)には、パイレフクスガラスを、このタ
イプのガラスは約580’Cの軟化点を有するので一般
に使用する。このチューブはチューブの長さに沿って約
550〜約20”Cの温度勾配を生ずる炉の内側に置き
、この炉は市販の3領域炉または銅チューブのl端の周
りでヒーターバンドを他端で水冷用コイルを巻き付ける
ことによって構築した特別設計の炉であり得る。円筒状
チューブに沿った温度プロフィルは熱電対で測定し、精
製すべきペリレンは温度を約550℃に上昇させるチュ
ーブの特定の位置に置く。また、回転羽根型ポンプを用
いて精製用不活性ガス(窒素、アルゴンまたはヘリウム
等)のチューブ内の流れを維持する、その目的はガラス
チューブ内の加熱流を改善することおよび昇華蒸気のチ
ューブの冷却器末端への移送を助長ずることである。ピ
ラニ計(Pirani gauge)はガス圧を示し、
また、流速は流量計でモニターする。液体窒素冷却トラ
ップは精製工程において放出される揮発性不純物および
分散生成物による回転ポンプの汚染を防止する。精製チ
ューブはガラス、ステンレススチール、アルミニウム等
からなり得る。チューブの直径は25〜l.OO0mm
でまた長さは300〜1,000nで変化し得る。精製
すべき顔料の加熱は熱、放射または誘電的であり得る。
キャリャーガスは典型的には窒素、ヘリウム、アルゴン
等である。精製ペリレン顔料は、熱分解を誘起あるいは
触媒する不純物の削減により、出発の粗原料よりも熱的
に安定である。
次に、ペリレン顔料は約550℃に加熱し、生成した蒸
気は、窒素、ヘリウム、アルゴンまたはこれらの混合物
のような低圧不活性キャリャーガスの流れによってチュ
ーブの低温端に向けて吹き流す。ペリレンよりも揮発性
である不純物および分解生成物は300℃より低いチュ
ーブの低温末端部分に移送し凝縮させる。精製ペリレン
は好ましくは約360〜約460℃の間の温度領域に集
め、非昇華性残渣は出発物質を置いた場所に残存する。
結果として、より揮発性の成分と非昇華残渣との両方か
らの積製ペリレン顔料の分離が達成される。使用した元
の合或したま一の顔料に比較し、得られたトレイン昇華
精製ペリレンは、前述の多層型像形或部材中に含有させ
たとき、優れた静電複写性能を示す。さらにまた、トレ
イン昇華ペリレンは合威したま\の物質に比較し不純物
分の実質的な減少を示す。不純物分の変化は多元素分析
、硫黄分析、熱重量分析、およびペリレン3.4,9.
10−テトラカルボン酸のような抽出性ペリレンの光学
吸収分光分析によって試験した。特に、ペリレンは一般
に4種の化学元素、即ち、炭素、水素、酸素および窒素
、並びに他の元素不純物の存在を含む。従って、多元素
分析および硫黄分析はペリレン中の不純物汚染の程度を
示すであろう。熱重量分析(TGA)は25〜400℃
に加熱したペリレン顔料が示す重量減を示し、この重量
減はペリレンよりも揮発性の不純物を加熱により蒸発さ
せたときに生ずる。TGA重M減が大きい程、ペリレン
中に存在する揮発性不純物の量は大である。
他の有害不純物はペリレン顔料を合戒するのに用いる先
駆体物質であるペリレンー3,4.9.10−テトラカ
ルボン酸(PTCDA)不純物であり、その未反応酸先
駆体はペリレン顔料内に吸蔵され得る。ペリレン顔料は
アルカリアルコール溶液で長時間洗浄したのち、溶液中
の抽出性P T C D ,A.の量を光学的に測定し
て、ペリレン生成物中に含まれるその存在を示す。
本発明の方法により調製したペリレンを含有する像形戊
部材の静電複写電気特性の改善の正確な理由は十分に理
解されてないけれども、一般的には、それはペリレンの
電気特性に好ましくない作用を有するある種の不純物の
除去を一部関連しているものと信じられている。この静
電複写性能は、通常、本発明の方法により得たペリレン
顔料を含有させた多層型像形底部材の暗減衰、初期電荷
アクセブタンスおよび感光度を測定することによって決
定する(実施例3参照).その像形戊要素は特定の操作
表面電位に適宜帯電させ得、像形或中の露光前の暗中で
その電位の多くを保持する。光像形或後、部材:′!、
潜像をインクまたはトナーで現像し、紙またはプラスチ
ックシ一トのような適当な媒体に転写する前のある期間
、生じた潜像の電位を維持しなければならない。低暗減
衰が初期帯電電位およびその後の潜像電位を維持するの
に必要である。高初期電荷アクセブタンスは潜像の対比
(コントラスト)電位を創生するのにより大きい幅を与
える。また、高感光度は小さい強度でかつコスト節約性
の照射源の使用並びに像形戒時間を短縮することによる
像形或速度の改善を支える。
感光度はEA値、即ち、表面電位をその初B,11値の
半分に放電するのに必要な露光エネルギーとして普通示
す。小さいE%値は高感光度を含む。他の追加の条件が
存在するけれども、昇華精製ペリレンの静電複写性能は
暗減衰、電荷アクセブタンスおよび感光度において十分
に説明できる。
本発明の方法によって得られ像形戒部材に含有させるの
に使用できる精製ペリレン顔料の具体的な特定の例には
次の式を有するものがある:■.ペリレンー3.4,9
.10−テトラカルボン酸ビスベンズイミダゾール および rV:次式のN,N’ −ジフエニルペリレン−3.4
,  9.  10−テトラカルボン酸ジイミドさらに
式lのペリレンにおいては、シス異性体はビスベンズイ
ミダゾ(2,  1−a−1 ’.  1 ’b)アン
スラ(2,1.9−def :6,510−d′e′f
′)ジイソキノリン−6,11ジオンとして化学的に表
わし得、また、トランス異性体は化学表記ビスベンズイ
ミダゾ(2,1a−1’,  l’−b)アンスラ(2
,1,9def:6.5.10−d′e′f′)ジイソ
キノリン−10.21−ジオンを有する。
次の第1表においては、本発明のトレイン昇華法によっ
て得たサンプルと比較したP P 4. 7 9、PP
520お”よびPP571と表示した3バソチの合戒し
たま\のペリレン−3.4.9.10=テトラカルポン
酸ビスベンズイミダゾール顔料の不純物分析結一果を示
している。熱重量分析(TGA)は昇華精製ペンズイミ
ダゾールペリレンが0.06%の重量減損を示したのに
対し各合成したま\の顔料は0.10〜0.15%のよ
り高い重量減損を示したことを示している。合戒したま
\の各サンプルは25℃から400℃に加熱することに
よって除去した不純物をより多量に含有している。また
、昇華精製ペリレン中の抽出性ペリレンー3,4,9,
IO−テトラカルボン酸(PTCDA)の量は機器の検
出限界以下であった。各合戒したま\の顔料においては
、PTCDAは25〜559ppmの範囲であった。
第l表 N.D. =検出できず また、黄硫分は昇華サンプルでは無視できるのに対し合
或したままの顔料では337〜504ppmであった。
合或したま\の顔料の純度値はバンチ間で変化したが、
トレイン昇華後は、ペリレン顔料はすべてわずかに0.
06%以下の400℃での重量減損、PTODAおよび
Sの検出できない量を示して不純物の除去が達威されそ
れによって高純度の顔料が得られた。
合威したままのペリレン−3.4,9.10テトラカル
ボン酸ビスベンズイミダゾール顔料の各バッチの多元素
分析の結果(第2表)は、出発ジ無水物に由来する鉄(
≧2 5 0 ppm)、ナトリウム(≧1 0 0p
pm)、およびカルシウム(≧19ppm)による高度
の汚染を示している。同じ各顔料の本発明のトレイン昇
華法による精製は金属不純物を無視し得る量または検出
可能値以下に低減させている。これらの結果は高品質材
料を生産するのにおける本発明の精製方法の有効性を明
白にしている. 第2表 ペリレン−3.4,9.10−テトラカルボン酸ビスヘ
ンズイミダゾール顔料の多元素微量分析第3表および第
4表は、それぞれ、35重量%の正札移送分子N,N’
−ジフェニルーN,N’ビス(3−メチルフエニル)−
(1,1’−ビフエニル)−4.4’−ジアミンを含有
させたビスフェノールAポリカーボネートの厚さ20ミ
クロンの正孔移送層でオーバーコーティングした厚さI
ミクロンでポリビニル力ルバゾールバインダー中で80
重量%含有量のバインダー励起体層としての、従来技術
の合成したま\のペリレンと比較した、本発明のトレイ
ン昇華法により調製したペリレン−3.4.9.10−
テトラヵルボン酸ビスベンズイミダゾール顔料およびN
,N’−ジフェニルペリレン−3.4,9.10−テト
ラヵルボン酸ジイミド顔料の各々からなる各2層型感光
体装置の静電複写性能試験結果を示す。これらの結果は
粗顔料のトレイン昇華による精製における電荷アクセプ
タンス、暗減衰および感光度の改善を明白に示している
−Eニ:L二L一 第4表 米国特許第4,431,722号に開示されているよう
な通常の昇華は、本発明方法における場合のようには、
所望生成物から揮発分の分別を可能にしない。通常の昇
華は顔料の汚染ひいては所望よりも劣る静電複写性能を
もたらす。2つの方法の差異を示すために、合戊したま
まのペリレン−34.9,to−テトラカルボン酸ビス
ベンズイミダゾール顔料、バッチ番号PP571を通常
の昇華および分別昇華の各方法で精製した。合或したま
まのペリレンの分別昇華は本発明の実施例2に記載した
トレイン昇華法に従って行った。米国持?第4,431
,722号およびその実施例lの教示に従って、通常の
昇華を行った。さらに詳しくは、合成したま一のペリレ
ンPP571をバリアン3117真空コーター内に設け
られたタンタル蒸発ボード中に装填し、530℃で昇華
させて蒸発ボートから15cmのところに配置したガラ
ス基体上に沈着させた。昇華物質および出発粗(合或し
たま\)物質の両方の静電複写特性を同じ2層型感光体
構造において試験した。静電複写結果は第5表に示す。
第5表の結果で示すように、従来技術に記載されたよう
な通常昇華方法により得たベンズイξダゾールペリレン
は合成したままの顔料以上の静電複写電気特性における
改善を示さなかった。暗減衰、電荷アクセプタンスおよ
び感光度を含むこれらの帯電特性は同程度である。しか
しながら、本発明の方法により調製したトレイン昇華精
製ペリレンは帯電特性における著しい改善;合或したま
覧の物質よりも高い電荷アクセブタンスおよび低い暗減
衰を示す。また、感光度における実質的な改良も測定し
た低いEl/■値から明らかなように達戊されている。
第5表 本発明の精製ペリレン顔料を含む多くの種々の多層型感
光性像形底部材を作製することができる。
1つの実施態様においては、多層型感光性像形戊部材は
支持基体、,アリールアミン正孔移送層、およびその間
に存在させた後述のようにして調製した昇華ペリレン顔
料を含む光励起体層とを含む。
本発明の別の実施態様は支持基体、アリールアξン正孔
移送層、およびトップオーバーコーティングとしての後
述するような精製ペリレン顔料を含む昇華ペリレン光励
起体層とを含む正帯電型多層型感光性像形或部材に関す
る。さらにまた、本発明によれば、支持基体、接着薄層
、必要に応じて高分子樹脂バインダー中に分散させた本
発明のペリレン顔料を含む昇華精製ペリレン光励起体、
およびトップ層としての高分子樹脂バインダー中に分散
させた了りールアミン正孔移送分子とを含む改良された
負帯電型感光性像形威部材が提供される。さらにまた、
本発明によれば、支持基体、本発明の方法により得た昇
華精製ペリレン化合物を含有する単一層、および正孔移
送層とを含む双極性感光性像形或部材が提供される。
本発明の改良された感光性像形戒部材は多くの方法によ
って作製でき、そのプロセスパラメーターおよび多層の
コーティング順序は所望する部材による。例えば、これ
らの像形戒部材は接着層を有する支持基体上へ光励起体
層を付着させ、次いで、溶液コーティングにより正孔移
送層を付着させることにより作製できる。正帯電に適す
る像形或部材は光励起体層と正札移送層の付着順序を逆
にすることによって作製できる。
本発明のペリレン顔料を含有させた像形或部材は種々の
電子写真像形或システム、特に、静電複写法として通常
公知のシステムにおいて有用である。特に、本発明の像
形戒部材はペリレン顔料が約400nm〜約80Or+
mの波長の光を吸収する静電複写複写像形威法において
有用である。これらの方法においては、静電潜像を先ず
像形或部材上に形威させ、次いで、現像し、その後、像
を適当な基体に転写させる。
さらにまた、本発明の像形或部材は660nmの波長で
典型的に機能するひ化ガリウム光発出ダイオード(LE
D)アレイによる電子複写法でも使用できる。
第1図においては、基体1、必要に応じて樹脂バインダ
ー組或物4中に分散させた本発明方法により得たビスベ
ンズイミダゾ(2.1−a−1′、1′−b)アンスラ
(2,1.9−def:6.5.to−d’  e’ 
 f’ )  ジイソキノリン−6.11−ジオンとビ
スベンズイミダゾ( 2+  i  a−1.1’−b
)アンスラ(2,  1.  9−def:6.5.1
0−d’  e’  f’ )ジイソヰノリン−10.
21−ジオンのシスおよびトラス異性体混合物を含む光
導電性層3、および不活性ポリ力,Hネー}[脂バイン
ダー組戒物8中に分赦させたN,N’−ジフェニルーN
,N’−ビス(3−メチルフェニル)−Cl,1’−ビ
フェニノら一4,4′−ジアミン7を含む電荷キャリャ
ー正孔移送層5とを含む本発明の負帯電型感光性像形或
部材が例示されている。
第2図にお′J)ては、第1図で示したのと本質的に同
じ像形或B材を示すが、正孔移送層が支持基体と光導電
性層の間に置かれている。さらに詳細:こ{ま、第2図
においては、支持基体l5、不活性ボリカーボネート附
脂バインダー20中に分敗させたアリールアミン正孔移
送分子19を含む正孔移送層17、および樹脂バインダ
ー組或物25中に必要に応じて分散させた本発明のトレ
イン昇華ペリレン化合物23を含む光導電性層21とを
含む感光性像形戒部材が示されている。
第3図においては、基体31、および好ましくはジア短
ン電荷キャリャまたは正孔移送分子のシス、トランス3
5と不活性バインダー36との約1:l〜約1:20比
の固溶体中に分敗させた第1図のトレイン昇華ペリレン
顔料34を含む有機光導電性JW33を含む本発明の1
つの好ましい両極性感光性像形成部材が例示されている
第4図においては、本発明のペリレン光導電性顔料のト
レイン昇華に使用できる装置の例が示されており、この
装置はオーブンまたは炉41;市版の3領域リンドバー
グタイブ59744−A炉のような3本以上の独立制御
型ヒーター42:直径75關および長さ1000mを有
するガラス、ステンレススチールまたはアルミニウムの
昇華チューブ43;不活性ガス供給シリンダー44;流
量計45(ギルモント*F1 2 0 0)  :圧力
計46 (エドワーヅビリニ);冷却トラップ47;お
よび回転真空ポンプ48を含む。
第5図においては、実施例3に従って作製した感光性像
形或部材におけるナノメーター(nm)波長に対しての
1 / E Il2(逆数)値のプロットを示す。詳し
くは、曲線lは第1図の負帯電型2層感光性部材中に式
■のトレイン昇華精製ペリレン3.4.9.10一テト
ラカルボン酸ビスベンズイミダゾールを含み、その光励
起層が1ミクロン厚でありポリビニルカルバゾール樹脂
中に分散させた80重量%の上記ペリレンを含有する実
施例3の像形戒部材の感光度を示す。
本発明の像形威部材において使用する基体層は不透明ま
たは実質的に透明であり得、所定の機械的性質を有する
任意の適当な材料を含み得る。即ち、基体は市販のボリ
マーであるマイラーのような無機または有機高分子材料
を包含する絶縁材料の層;インジウム錫酸化物またはア
ルミニウムのような半導体表面層を有する有機または無
機材料の層;またはアルミニウム、クロム、ニッケル、
チタン、ジルコニウム、黄銅等を包含する伝導性材料を
含み得る。基体は可撓質宋たは硬質であり得、例えば、
プレート、円筒状ドラム、スクロール、エンドレス可撓
性ベルト等のような多くの種々の形状を有し得る.好ま
しいのは、基体はシームレスの可撓性ベルトの形である
。ある場合においては、特に、基体が可撓性の有機高分
子材料である場合、基体の裏面に、例えば、マクロロン
(Makrolon)として商業的に入手できるポリカ
ーボネート材料のようて抗カール層をコーティングする
ことが望ましい。
基体層の厚さは経済性を含む多くの要因による、即ち、
基体層は、系に悪影響を与えない限り、例えば、2, 
5 0 0ξクロン以上の実質的厚さまたは最小の厚さ
を有し得る。1つの好ましい実施B4F=においては、
この層の厚さは約75〜約250ミクロンの範囲である
さらに本発明の像形威部材に関し、光励起体層は、好ま
しくは、樹脂バインダー中に分散させた前記精製ペリレ
ンを含む.一般に、ペリレン光励起体層の厚さは他の層
の厚さおよびこの層に含有させた光励起体物質の混合割
合を含む多くの要因による。従って、この層は、光励起
体ペリレン化合物が約5〜約100重量%の量で存在す
るとき約0.05〜約10ミクロンの厚さを有し得る。
好ましいのは、この層は、光励起体ペリレン化合物が8
0重量%の量で存在するとき、約0.25〜約2ミクロ
ンの厚さを有する。1つの極めて好ましい実施態様にお
いては、その真空蒸着光励起層は約0.05〜約1.5
旦クロンの厚さを有する.この層の最高厚さは主として
その感光度、電気的性質および機械的性質のような要因
に依存している。
光励起体顔料用に使用できる高分子バインダー樹脂材料
の具体的例には、米国特許第3.121.006号に開
示されているようなボリマー類(該米国特許の記載はす
べて参考として本明細書に引用する)、ポリエステル、
ポリビニルブチラール、ホームバール(Formvar
 ,登録商標)、ポリカーボネート樹脂、ポリビニルカ
ルバゾール、エボキシ樹脂、フェノキシ樹脂、特に、市
販のポリ (ヒドロキシエーテル)樹脂等がある。
一mに約5〜約50ミクロンの厚さ約10〜約40ミク
ロンの厚さを有する正孔移送層において使用するアリー
ルアミンには、高絶縁性透明有機樹脂バインダー中に分
散させた次式: 〔式中、Xはアルキル基またはハロゲン、特に、(オル
ソ)CHs、 (バラ)CH3、 (オルソ)Ci’,
  (メタ)Cj!および(バラ)lからなる群より選
ばれた置換基である〕 を有する分子がある。特定のアリールアミンの例には、
N,N’−ジフェニルーN,N’−ビス《アルキルフェ
ニル)一〔1. 1′−ビフェニル〕−4.4’−ジア
ミンがあり、式中、アルキルは2−メチル、3−メチル
および4−メチルのようなメチル、エチル、プロビル、
ブチルおよびヘキシル等からなる群より選ばれる.クロ
ロ置換においては、上記アミンはN,N’−ジフェニル
ーN,N′−ビス(ハロフェニル)−(1.1’−ビフ
ェニル)−4.4’−ジアξンであり、式中、ハロは2
1ロロ、3−’Fロロマタハ4 − クロロである. 移送層用の高絶縁性透明樹脂威分即ち不活性樹脂バイン
ダーの例には米国特許第3.121.006号に記載さ
れているような材料があり、該米国特許の記載は参考と
して本明細書に引用する.有機樹脂材料の特定の例には
、ボリカーボネート、アクリレートボリマー、ビニルボ
リマー、セルロースボリマー、ポリエステル、ポリシロ
キサン、ボリアミド、ポリウレタンおよびエボキシ、並
びにこれらのブロック、ランダムまたは交互コボリマー
がある.好ましい電気的に不活性バインダーは分子量約
20.000〜約100.OQO(分子量約50.00
0〜約100,000が特に好ましい)を有するポリカ
ーボネート樹脂を含む。一般的には、樹脂バインダーは
約10〜約75重量%好ましくは約35〜約50重量%
の上述の式に相応する活性物質を含有する。
支持基体上に存在する接着層またはシラン層としては、
E,I.デュポン社より49,000ポリエステルとし
て商業的に入手できるもののようなポリエステルを包含
する種々の公知物質を使用できる。
この層は約0.05〜1ミクロンの厚さを有する。
また、本発明の像形或部材は、像形威部村上に静電潜像
を形戊し、この像をトナー組戒物で現像し、次いで、像
を適当な基体に転写し、そして像を基体に永久的に定着
させることを一般に含む像形或方法において有用である
。装置を印刷方式で使用すべき場合には、その像形或方
法は露光工程をレーザー装置またはイメージバーによっ
て行い得る以外は同じ工程を含む。
実11 実施例1 201のステンレススチール反応器中で817g(2.
08モル〉のペリレンー3.4,9.10−テトラカル
ボン酸二無水物、1. 1 6 9 g (10.4モ
ル)の0−フエニレンジアミン、および9.36lのl
−クロロナフタレンを混合した。得られた混合物を撹拌
しながら240〜25(lで3時間加熱し、次いで室温
に冷却した.次に、固形生成物を混合物をフィルターク
ロスで濾過することによって得、次いでN,N−ジメチ
ルホルムアξドで3回洗浄した。その後、固形物を水酸
化ナトリウムアルコール液でスラリー化した。濾過後、
固形物をN,N−ジメチルホルムアミド、メタノールで
洗浄し、続いてオーブン中で95℃、一夜乾燥させて1
,100g(7)ぺlJレン−3.4,9.10−テト
ラカルボン酸ビスベンズイミダゾール(弐■)を得た。
この手順によって調製した種々の頗料バフチPP479
、PP52Q、PP571の黄硫および酸二無水物の抽
出分析結果は第1表に示しており、多元素分析結果は第
2表に示している.一般に、合或したま\のペリレン顔
料は高度に汚染されており、その汚染値はバッチ間で変
化している。
実施例2 togの未精製ペリレン−3.4,9.10テトラカル
ボン酸ビスベンズイξダゾール顔料(バッチ番号PP4
79)を7 5mX1.0 0 0mパイレックスチュ
ーブの内側でそのI端に入れ、次いでチューブを3領域
炉(第4図参照)内に入れた.炉内の各ヒーターを調整
してチューブの長さに沿って温度勾配を生ぜしめた。合
或したま\のペリレン顔料を置いたチューブ末端を約5
50℃に加熱し、得られたペリレン蒸気を低圧不活性窒
素キ+リャーガスにより吹き流した。ペリレンより揮発
性の不純物および分解生成物を25〜300℃に保った
。チューブの低温末端に運びそこで43縮させた。精製
ペリレンは380〜460℃の温度に保ったチューブの
中央部分で沈着させた。処理終了時に、未昇華残渣は出
発物質を置いたところに残存していた。約7g(約70
%の収率)の純粋ペリレン顔料をチューブの中央領域か
ら注意深く集めた。弐■のトレイン昇華ペリレンの硫黄
、鉄、抽出性酸二無水物、微量金属および重量?J&損
分析は第1表および第2表に示すとおりすべて検出可能
値以下であった。本方法によって得た高純度く静電複写
級)ペリレン−3.  4.  9.10−テトラカル
ボン酸ビスベンズイミダゾール顔料は改良された静電複
写性能を示した(実施例3参照)。
実施例3 感光性像形底部材を、厚さ75ミクロンのアルミニウム
処理マイラー基体を用意し、次いで、この基体に、マル
チブルクリアランスフィルムアプリケーターを用いてN
−メチル−3−アミノブロピルトリメトキシシラン(フ
ロリダのPCRリサーチケミカルズ社より入手できる)
のエタノール中1:20容量比の層を12.5ミクロン
のウエット厚で適用した。次いで、この層を室温で5分
間乾燥させ、続いて、強制送風炉中で110℃、10分
間硬化させて乾燥厚0.05ミクロンのシラン層を得た
次に、上記シラン層に、デュポンケミカル社より49.
000ポリエステルとして入手できる接着剤の塩化メチ
レンおよび1,1.2−}リクロロエタン(4:1容量
比)中0. 5重量%をマルチブルクリアランスフィル
ムアプリケーターを用いて12.5ミクロンのウエット
厚に適用した。この層を室温で1分間、強制送風炉中で
100℃、10分間乾燥させた。得られた層は0.05
ミクロンの乾燥厚さを有していた。
光励起層を次の方法で調製した:2オンスこはくびん中
に、実施例2の方法で得た精製ペリレン化合物0. 4
 0 g、1/8インチ(3.175m)ステンレスス
チール球70g,および塩化メチレン9。5gを加えた
。この混合物を2〜120時間ボールミル処理して、得
られたスラリーに0.1gのポリビニルカルバゾールを
加え、ξリングをさらに17時間続けた。得られた混合
物を上記ポリエステル接着層上にマルチブルクリアラン
スフィルムアプリケーターでもって25ミクロンのウェ
ット厚さにコーティングした。得られた光励起層を5分
間風乾し、次いで、強制送風炉中で135℃、6分間乾
燥させた。光励起層の乾燥厚は1.0ミクロンであった
次に、移送層を、65重量%のマクロロンボリカーボネ
ート樹脂と35重量%のN,N’−ジフェニルーN,N
’−ビス(3−メチルフェニル)−cl,i’−ビフェ
ニル)−4.4’−ジアよンを混合することによって調
製した。この溶液は次いで塩化メチレン中で9重量%に
混合した。これら成分のすべてをこはくびん中に入れて
溶解させた。得られた混合物をマルチブルクリアランス
フィルムアプリケーター(200ミクロンウエットギャ
ップ厚さ)でコーティングして上記ペリレ?光励起層の
上部上で20ミクロンの乾燥厚さを有する層を得た.得
られた像形威部材は室温で20分間、次いで、強制送風
炉中で135℃、6分間乾燥させた。
この部材の感光度を、その表面をコロナ放電源により表
面電位が、電位計に接続させた静電結合ブローブで測定
したとき、−800ボルトの初期暗値v0を得るまで静
電的に帯電させることによって測定した。次いで、帯電
させた部材の前表面をフィルター付キセノンランプXB
O75ワット源からの光に露光し、400〜800nm
範囲の波長の光を部材表面に到達せしめた。次に、表面
電位をその初期値の半分に低減させる露光EI7■およ
び種々の露光エネルギーによる表面電位の%放電を測定
した。感光度は部材をその初期表面電位からその値の半
分に放電させるのに必要なエルグ/dでの露光について
測定した。感光度が高い程、層を表面電位の50%まで
放電するのに必要な露光エネルギーは小さい。感光度ス
ペクトル応答結果は第5図に示しており、第5図では、
E+7tの逆数を波長(nm)に対してプロットしてい
る。白色光、4.0 0 〜8 0 0nm露光では、
E+zz値は3.9〜4.2エルグ/一であり、1.0
エルグ/一の露光レベルでの%放電は82〜84であっ
た.暗減衰は13〜20ボルト/秒であり、電荷アクセ
ブタンスは840ボルトであった.比較において、実施
例1で記載したようにして調製した合威したま\の未精
製ペリレンPP479を含有する感光性要素は貧弱な静
電写真電気特性=48ボルト/秒の高い暗減衰、および
430ボルトの低電荷アクセプタンスを示した(第3表
). 実施例4 3つ口フラスコ中で、5.85gのペリレンー3.4.
9.10−テトラカルボン酸二無水物、23.8mAの
アニリンおよび7 telの氷酢酸を混合した.得られ
た混合物を攪拌しながら210℃で8時間加熱し、次い
で室温に冷却した。次に、混合物を焼結ガラスロートで
濾過することによって固形生成物を得、次いで1lのエ
タノールで洗浄した。
その後、固形物を500Ill1の1%水酸化ナトリウ
ム液でスラリー化した。濾過後、固形物を600mlの
水で洗浄し、次いで、オーブン中で80℃、一夜乾燥さ
せて70gの式■の合或したま\の未精製生成物を得た
. 実施例5 2gの合或したま\の実施例4のペリレン顔料をパイレ
ックスチューブ(外径1インチ(2.54値)、長さ2
8インチ(71.1印)〕の内側(一端より約5インチ
(76.2co+)のところ)に入れた.次いで、チュ
ーブを一端に2本の電気ヒーターバンドを他端に水冷コ
イルを巻き付けた厚壁〔0.5インチ(1.27CI1
)厚〕銅チューブを含む炉内に入れた。550℃〜25
℃の温度勾配をチューブの長さに沿って得、熱電対ブロ
ーブによりモニターした。パイレックスチューブを昇華
すべきペリレンがヒーターバンド内に存在するように位
置させた.続いて、上記ペリレンを約550℃に加熱し
、生じた蒸気を低圧(2ミリバール)窒素キャリャーガ
スにより低温端へ吹き流した。ペリレン蒸気は温度が4
60〜380℃のところで凝縮して明瞭な赤色沈着物を
形威したのに対し、より揮発性の不純物は精製ペリレン
と良好に分離して360℃以下で沈着した。小量の未昇
華残渣は合或したま覧の原料を元に置いたところに残っ
た。1.4gの精製ペリレン(収率70%)を得た。
実施例6 2種の感光性像形或部材AおよびBを実施例3の手順を
繰返すことによって作製したが、光励起顔料としてN.
N’−ジフェニルペリレン−3,4.9.10−テトラ
カルボン酸ジイミドを用いた。実施例4の合戒したま一
の未精製ペリレン顔料を第1の像形或部材Aで用い、実
施例5の昇華精製ペリレン顔料を第2の部材Bで用いた
。その後、得られた各部材の感光度を実施例3の手順を
繰返すことによって測定した。結果は第4表に示してい
る.実施例5の昇華精製顔料の像形成部材?実施例4の
合或したま\の顔料よりも実質的な改良を示している。
例えば、優れた帯電特性、即ち、高電荷アクセプタンス
、低暗減衰および低El/■値で示される高感光度が精
製ペリレンにおいて示されている。
実施例7 感光性像形或部材を実施例3の手順で繰返すことによっ
て作製したが、光励起層として、それぞれ、厚さ085
、1. 0および1.5ミクロンの精製ペリレンを用い
た。
得られた各部材の感光度を実施例3の手順に従って測定
した。結果は次のとおりである:ペリレン  ー の厚
さ El/2(エルグ/ cni )0. 5ξクロン
        5.01.0ミクロン       
 3.91.5ミクロン        3.41.5
ξクロン部材は1.0ミクロン部材よりもわずかに感光
性である。N,N’−ジフェニルペリレン−3.4.9
.10−テトラカルボン酸ジイミド光励起層を含む実施
例6の像形或部材Bと比?したとき、1.0ξクロン部
材はEl/■値において約2倍感光性である。
実施例8 感光性像形或部材を実施例3の手順を繰返すことによっ
て作製したが、顔料対ポリビニルカルバゾールの重量比
を、それぞれ、15、30、60、80および90重量
%の顔料含有量を含む各励起体層を得るように変えた。
得られた各部材の感光度を実施例3の手順に従って測定
し、次の結果を得た。
もわずかに感光性であり、この少し高い感光度は高めの
光吸収によって生じたものと信じられる。
実施例9 感光性像形或部材を実施例3の手順を繰返すことによっ
て作製したが、光励起層バインダー樹脂として、ポリビ
ニルブチラール(PVB) 、ポリビニルホルマール(
PVF)、ポリビニルアセテート(PVA)、ポリビニ
ルカルバゾール(PVK)、ポリカーボネートZ (P
C (Z) ) 、デエポン49,000ポリエステル
(49K),ボリスチレン(PS)、エボキシ樹脂(シ
エル社製のEPONとダウ社製)、ポリビニルビロリド
ン(PVP)、ヒドロキシブロビルセルロース(HPC
)、およびフェノキシ樹脂をそれぞれ用いた。得られた
各部材の感光度を実施例3に従って測定し、次の結果を
得た。
90重量%含有部材は80重量%含有部材よりすべての
バインダー樹脂は同様な性能を示しているが、ポリビニ
ルビロリドンとヒドロキシプロビルセルロースは感光度
を低下させた.実施例10 感光性像形成部材を実施例3の手順を繰返すことによっ
て作製したが、アルξニウム処理マイラー基体の代りに
チタン処理マイラー基体を用いた。
得られた部材の感光度を実施例3の手順に従って測定し
、次の結果を得た。
チタン処理マイラー 1 2〜14 3.8 実施例11 感光性像形戒部材を実施例3の手順を繰返すことによっ
て作製したが、使用した電荷キャリャー正孔移送層厚は
、それぞれ、17ミクロンおよび27くクロンであった
。得られた各部材の感光度を実施例3の手順に従って測
定し、次の結果を得た。
1 7      4 1〜44       3.9
27       8〜11       3.227
ミクロン部材は17ミクロン像形戒部材よりもかなり低
い暗減衰とわずかに高い感光度を示している。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の負帯電型感光性像形戒部材の一部断面
図である。 第2図は本発明の正帯電型感光性像形成部材の一部断面
図である。 第3図は本発明の両極性感光性像形或部材の一部断面図
である。 第4図は本発明の方法で使用する装置の一部断面図であ
る。 第5図は本発明の特定のペリレン顔料のスペクトル応答
を示す線グラフである。 1、 36 ・ 25 ・ 34 ・ 42 ・ 44 ・ 却トラ 15、31・・・支持基体、3、17、・・光励起層、
5、19・・・正孔移送層、・・バインダー組或物、7
、l9、35アリールアミン正孔移送分子、4、23、
・・精製ペリレン顔料、8、20、36不活性バインダ
ー、41・・・オーブン、・・ヒーター 43・・・昇
華チューブ、・・不活性ガス供給シリンダー、45 流量計、46・・・圧力計、47・・・冷ップ、48・
・・真空ボンブ。 FIG. 1 FIG. 2 400 500 600 700 800 i&  (nrn) FIG. 3 FIG. 5

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)(1)ビスベンズイミダゾ(2、1−a−1′、
    1′−b)アンスラ(2、1、9−def:6、5、1
    0−d′e′f′)ジイソキノリン−6、11−ジオン
    とビスベンズイミダゾ(2、1−a−1′、1′−b)
    アンスラ(2、1、9−def:6、5、10−d′e
    ′f′)ジイソキノリン−10、21−ジオンの混合物
    、および(2)N、N′−ジフェニルペリレン−3、4
    、9、10−テトラカルボン酸ジイミドからなる群より
    選ばれたペリレン顔料成分を用意し、これらの成分を加
    熱せしめ、それによってこれらの成分よりも揮発性の不
    純物および分解生成物を350℃より低い温度で分離し
    、約350〜約550℃の温度で精製成分を得ることを
    特徴とするペリレン類の調製のための分別昇華方法。
  2. (2)未精製ペリレンを用意し;次いでこのペリレンを
    温度T_1に供し;続いて、精製したペリレンを温度T
    _2で凝縮させ;その後、より揮発性の不純物を温度T
    _3で凝縮させ;こゝに、温度T_1は約350〜約6
    50℃であり、温度T_2は約350〜約550℃であ
    り、温度T_3は約20〜約350℃であり、ただし、
    温度T_2は温度T_1より低く、温度T_3は温度T
    _2よりも低く、それによってペリレンよりも揮発性の
    不純物および分解生成物を350℃よりも低い温度で分
    離し、精製ペリレン成分を約350〜約550℃の温度
    で得ることを特徴とするペリレン類の調製のための分別
    昇華方法。(3)支持基体、請求項(2)記載の方法に
    よって得たペリレンを含む光励起層、およびアリールア
    ミン正孔移送層とを含む像形成部材。
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