JPH03240965A - アモルファスシリコン膜作成装置 - Google Patents
アモルファスシリコン膜作成装置Info
- Publication number
- JPH03240965A JPH03240965A JP3689890A JP3689890A JPH03240965A JP H03240965 A JPH03240965 A JP H03240965A JP 3689890 A JP3689890 A JP 3689890A JP 3689890 A JP3689890 A JP 3689890A JP H03240965 A JPH03240965 A JP H03240965A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- support
- holder
- substrate
- film forming
- amorphous silicon
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、基板上のプラズマ密度を増大させることによ
りアモルファスシリコン(以下a −S iという)膜
の高速成膜を実現できるa−8i膜作成装置に関するも
のである。
りアモルファスシリコン(以下a −S iという)膜
の高速成膜を実現できるa−8i膜作成装置に関するも
のである。
グロー放電分解を利用して作成されるa−8i膜は、低
価格太陽電池1画像材料・液晶駆動用のFETなどに応
用されるべく開発が進められている。ここで、a−5i
材料の製品化にとっての問照点は成膜速度が2〜IOA
/Sと非常に遅いことであった。特に大膜厚が必要とさ
れる感光体ドラムへのa−5i膜の応用においては、こ
の成膜速度の遅さは大きな問題となっていた。これは、
放電系において高周波電極に印加された高周波電力がド
ラム以外の周辺の壁にも作用してしまうため、基板表面
上のプラズマ密度が小さくなってしまうことが原因であ
った。それ故に、既に浜崎達によって報告されているよ
うに (T、Hamasaki etal:ApplPhy
s、Lett、Vo144.1989年1049頁)基
板表面上のプラズマ密度を増大させ、a−3i膜の成膜
速度を向上させることが、a−8illlの製品応用化
にとって大きな課題であった・ 〔発明の目的〕 本発明の目的は、従来のプラズマCVD装置の支持体ホ
ルダ部分を改良することにより、基板表面上のプラズマ
密度を増大させ、膜質を劣化させることなく成膜速度を
向上させることである。
価格太陽電池1画像材料・液晶駆動用のFETなどに応
用されるべく開発が進められている。ここで、a−5i
材料の製品化にとっての問照点は成膜速度が2〜IOA
/Sと非常に遅いことであった。特に大膜厚が必要とさ
れる感光体ドラムへのa−5i膜の応用においては、こ
の成膜速度の遅さは大きな問題となっていた。これは、
放電系において高周波電極に印加された高周波電力がド
ラム以外の周辺の壁にも作用してしまうため、基板表面
上のプラズマ密度が小さくなってしまうことが原因であ
った。それ故に、既に浜崎達によって報告されているよ
うに (T、Hamasaki etal:ApplPhy
s、Lett、Vo144.1989年1049頁)基
板表面上のプラズマ密度を増大させ、a−3i膜の成膜
速度を向上させることが、a−8illlの製品応用化
にとって大きな課題であった・ 〔発明の目的〕 本発明の目的は、従来のプラズマCVD装置の支持体ホ
ルダ部分を改良することにより、基板表面上のプラズマ
密度を増大させ、膜質を劣化させることなく成膜速度を
向上させることである。
本発明はプラズマCVD法において、基板表面上のプラ
ズマ密度の増大を妨げているのは、周囲壁に作用する浮
遊インピーダンスであることに着目し、従来の直接接地
型支持体ホルダに代え、絶縁体ホルダを2個の導電体ホ
ルダで挾み込み、その間を適当な巻数に設定したコイル
にて結線し接地電位とした支持体ホルダを利用すること
により、前記浮遊インピーダンスを低減し、a−8i膜
の成膜速度を向上させることに関するものである本発明
は特に、円筒形a−8i膜支持体である感光体ドラム成
膜において、感光体の膜厚の均一性を得るために、感光
体ドラムを一定回転数で回転させる時、感光体ドラムと
当該コイルとを同時に回転させるようにしたことを特徴
とするものである。
ズマ密度の増大を妨げているのは、周囲壁に作用する浮
遊インピーダンスであることに着目し、従来の直接接地
型支持体ホルダに代え、絶縁体ホルダを2個の導電体ホ
ルダで挾み込み、その間を適当な巻数に設定したコイル
にて結線し接地電位とした支持体ホルダを利用すること
により、前記浮遊インピーダンスを低減し、a−8i膜
の成膜速度を向上させることに関するものである本発明
は特に、円筒形a−8i膜支持体である感光体ドラム成
膜において、感光体の膜厚の均一性を得るために、感光
体ドラムを一定回転数で回転させる時、感光体ドラムと
当該コイルとを同時に回転させるようにしたことを特徴
とするものである。
本発明を図面をもって説明する。第1図は本発明である
浮遊インピーダンス低減支持体ホルダを搭載したa−S
ill!作成装置である。ここで従来のグロー放電法を
用いたプラズマCVD法においては1発光部すなわち反
応ガスの分解が最大になる領域は高周波電極3の近傍に
限定され、支持体4への広がりが少ないことが文献によ
り指摘されていた(T、Hamasaki、etalA
ppl、Phys、Letter 44 184)P
2O3)。そしてこの原因は放電系において。
浮遊インピーダンス低減支持体ホルダを搭載したa−S
ill!作成装置である。ここで従来のグロー放電法を
用いたプラズマCVD法においては1発光部すなわち反
応ガスの分解が最大になる領域は高周波電極3の近傍に
限定され、支持体4への広がりが少ないことが文献によ
り指摘されていた(T、Hamasaki、etalA
ppl、Phys、Letter 44 184)P
2O3)。そしてこの原因は放電系において。
印加電力が支持体4以外の周辺の反応炉2の壁面に対し
ても作用するためであり、支持体4に対する作用を大き
くするための浮遊インピーダンスの低減方法も併せて提
唱されていた。本プラズマCVD装置の高周波電力系に
おりるインピーダンス/Zは下式で与えられる。
ても作用するためであり、支持体4に対する作用を大き
くするための浮遊インピーダンスの低減方法も併せて提
唱されていた。本プラズマCVD装置の高周波電力系に
おりるインピーダンス/Zは下式で与えられる。
Z=R+J (WL−1/WC)ここでRは抵抗、Cは
支持体4と接地電位間の浮遊キャパシタンスである。そ
して、WL−1/WC=0すなわち、L=1/W”Cの
インダクタンスの挿入によりZiRとし、装置のインピ
ーダンスを低減することができる。そこで第1図に示す
ように、支持体4を接地電位に結線せず、上部支持体ホ
ルダ7と支持体ホルダギア部10ではさみ込んだテフロ
ン、ホルダ8にて浮かし、テフロン、ホルダ8の内側に
組み込んだ、コイル9を介して接地電位に結線した。ま
た、ここで、支持体4.上部支持体ホルダ7、テフロン
ホルダ8、コイル9、支持体ホルダギヤ部10及び支持
体ホルダ回転部14は。
支持体4と接地電位間の浮遊キャパシタンスである。そ
して、WL−1/WC=0すなわち、L=1/W”Cの
インダクタンスの挿入によりZiRとし、装置のインピ
ーダンスを低減することができる。そこで第1図に示す
ように、支持体4を接地電位に結線せず、上部支持体ホ
ルダ7と支持体ホルダギア部10ではさみ込んだテフロ
ン、ホルダ8にて浮かし、テフロン、ホルダ8の内側に
組み込んだ、コイル9を介して接地電位に結線した。ま
た、ここで、支持体4.上部支持体ホルダ7、テフロン
ホルダ8、コイル9、支持体ホルダギヤ部10及び支持
体ホルダ回転部14は。
外部駆動ギヤ17により回転させた。外部駆動ギヤ17
は真空磁性流体シール回転軸受けで外部設置モータによ
り駆動させた。
は真空磁性流体シール回転軸受けで外部設置モータによ
り駆動させた。
ここで、ZiRすなわちインピーダンス、マツチングの
確認は支持体4の内部に設置した熱電対と高周波放電中
の入射波電力と反射波電力の比から得た。いずれも、イ
ンピーダンス、マツチングが得られた状態において、支
持体4に対する流れ込み電流が最大になることを利用し
た。得られた結果を第2図に示す0図においてコイル9
は、断面φ7鵬のSUSパイプでφ250の大きさとし
た。またコイル9の巻数が0.9の時、計算によるイン
ダクタンスは0.06μHで支持体4の昇温も入射波電
力/反射波電力も最大となりこれ以外は低下した。そこ
で、これをインピーダンス、マツチングが良好の状態と
考えた。本発明における成膜は、高周波グロー放電法に
て実施した。ずまわち、各種原料ガスを高真空に排気し
た反応炉2内に導入した後、高周波電力の印加にてプラ
ズマ化し、これらを支持体4上に堆積させることにより
膜が作成される。本発明において、支持体4は感光ドラ
ムとして利用されるため、支持体4には円筒形AQ管を
選択した。
確認は支持体4の内部に設置した熱電対と高周波放電中
の入射波電力と反射波電力の比から得た。いずれも、イ
ンピーダンス、マツチングが得られた状態において、支
持体4に対する流れ込み電流が最大になることを利用し
た。得られた結果を第2図に示す0図においてコイル9
は、断面φ7鵬のSUSパイプでφ250の大きさとし
た。またコイル9の巻数が0.9の時、計算によるイン
ダクタンスは0.06μHで支持体4の昇温も入射波電
力/反射波電力も最大となりこれ以外は低下した。そこ
で、これをインピーダンス、マツチングが良好の状態と
考えた。本発明における成膜は、高周波グロー放電法に
て実施した。ずまわち、各種原料ガスを高真空に排気し
た反応炉2内に導入した後、高周波電力の印加にてプラ
ズマ化し、これらを支持体4上に堆積させることにより
膜が作成される。本発明において、支持体4は感光ドラ
ムとして利用されるため、支持体4には円筒形AQ管を
選択した。
公知のグロー放電法の手法に従い、支持体4をテフロン
ホルダ8を介してコイル9にて支持体ホルダギヤ部10
と結線された上部支持体ホルダ7に設置する。
ホルダ8を介してコイル9にて支持体ホルダギヤ部10
と結線された上部支持体ホルダ7に設置する。
この際、コイル9の巻数は0.9とした。次に。
支持体加熱ヒータ11を用い支持体4を所定温度(25
0℃)に加熱すると共に排気バルブ12を開とし、反応
炉・2内を高真空 (IXIO−’Pa)に排気した。高真空が実現された
後、反応ガス導入バルブ13を開くことにより、原料ガ
スであるS i H,、N2、B2Hsをガス放出管6
より反応炉2内に流入させた。ここで、各々のガス流量
制御は全てマスフロー、コントローラにて行った。反応
炉2内の真空度を60pa、総ガス流量を1000〜2
0008CCMとした状態で、高周波電源1をONL、
高周波電極3と支持体4との間に13.56MH2の高
周波電力を800wa t tを印加し、3時間の成膜
を行った。この時のa−3i膜の成膜速度は、25人/
Sであり、従来に比べ2倍以上の成膜速度が得られた。
0℃)に加熱すると共に排気バルブ12を開とし、反応
炉・2内を高真空 (IXIO−’Pa)に排気した。高真空が実現された
後、反応ガス導入バルブ13を開くことにより、原料ガ
スであるS i H,、N2、B2Hsをガス放出管6
より反応炉2内に流入させた。ここで、各々のガス流量
制御は全てマスフロー、コントローラにて行った。反応
炉2内の真空度を60pa、総ガス流量を1000〜2
0008CCMとした状態で、高周波電源1をONL、
高周波電極3と支持体4との間に13.56MH2の高
周波電力を800wa t tを印加し、3時間の成膜
を行った。この時のa−3i膜の成膜速度は、25人/
Sであり、従来に比べ2倍以上の成膜速度が得られた。
また1本発明のa−5i膜作成装置で作成した光導電体
の光導電特性は、オプティカル、ギャップ1.6〜1.
7eVのもとで初期表面電位が500V以上、また波長
632nmの光源のもとで半減露光量0.1rrl’/
mJ以上を得ることができ、従来のa −S i膜作成
装置にて作成した光導電体と同等な光導電特性が得られ
た。
の光導電特性は、オプティカル、ギャップ1.6〜1.
7eVのもとで初期表面電位が500V以上、また波長
632nmの光源のもとで半減露光量0.1rrl’/
mJ以上を得ることができ、従来のa −S i膜作成
装置にて作成した光導電体と同等な光導電特性が得られ
た。
上記実施例においては、a−8i悪感光ドラムの作成に
ついて説明を行ったため、支持体4及び電極3は円筒形
のものを選択した。しかし、本発明はこの方法に限定さ
れるものではなく、平行平板型の電極を用いた成膜装置
にも適用可能であり、太陽電池やTPTなどの製造装置
としても効果を奏する。
ついて説明を行ったため、支持体4及び電極3は円筒形
のものを選択した。しかし、本発明はこの方法に限定さ
れるものではなく、平行平板型の電極を用いた成膜装置
にも適用可能であり、太陽電池やTPTなどの製造装置
としても効果を奏する。
本発明によれば、支持体ホルダにコイルを導入し、電極
以外の浮遊インピーダンスを低減することにより支持体
表面上のプラズマ密度を増大させることができた。その
結果、従来のa−8i膜1作成装置の成膜速度が2〜1
0人/Sであったのに対し、膜質を劣化させることなく
20人/S、以上の成膜速度が得られた0本発明によれ
ばドラム、浮遊インピーダンス低減用コイル、支持体を
同時に同じ回転速度で回転可能であり、膜厚分布の均一
な感光ドラムを高成膜速度で製作することができた。
以外の浮遊インピーダンスを低減することにより支持体
表面上のプラズマ密度を増大させることができた。その
結果、従来のa−8i膜1作成装置の成膜速度が2〜1
0人/Sであったのに対し、膜質を劣化させることなく
20人/S、以上の成膜速度が得られた0本発明によれ
ばドラム、浮遊インピーダンス低減用コイル、支持体を
同時に同じ回転速度で回転可能であり、膜厚分布の均一
な感光ドラムを高成膜速度で製作することができた。
第1図は本発明a−5i膜作成装置の一実施例を示す断
面図、第2図はコイルの巻数を変化させた時のコイル巻
数と支持体の上昇温度の関係を示すグラフである。 図において、1は高周波電源、2は反応炉、3は高周波
電極、4は支持体、5はガス吹き出し口、6は排気口、
7は上部支持体ホルダ、8はテフロン・ホルダ、9はコ
イル、10は支持体ホルダ・ギヤ、11は支持体加熱ヒ
ータ、12は排気バルブ、13は反応ガス導入バルブ、
14は支持体ホルダ回転部、15はボール・ベアリング
、16はホルダ固定部、17は外部駆動ギヤである。
面図、第2図はコイルの巻数を変化させた時のコイル巻
数と支持体の上昇温度の関係を示すグラフである。 図において、1は高周波電源、2は反応炉、3は高周波
電極、4は支持体、5はガス吹き出し口、6は排気口、
7は上部支持体ホルダ、8はテフロン・ホルダ、9はコ
イル、10は支持体ホルダ・ギヤ、11は支持体加熱ヒ
ータ、12は排気バルブ、13は反応ガス導入バルブ、
14は支持体ホルダ回転部、15はボール・ベアリング
、16はホルダ固定部、17は外部駆動ギヤである。
Claims (3)
- 1.アモルファスシリコンを堆積させるべき導電体の支
持体と、該支持体を装着する支持体ホルダと、前記支持
体と放電現象を発生させるべき支持体の周囲に設置した
高周波電極と、前記支持体と高周波電極との間の空間に
反応ガスを流すためのガス吹き出し口と、反応ガスを排
気する排気口と、前記支持体、支持体ホルダ、高周波電
極、ガス吹き出し口、ガス排気口の周囲の圧力を減圧で
きるように、こられを密封した反応炉とを備えたものに
おいて、 前記支持体ホルダが絶縁体を2個の導電体で挾み込んだ
構造であり、その各々の導電体をコイルで内側または外
側で結線すると共に支持体ホルダを接地電位とすること
を特徴とするアモルファスシリコン膜作成装置。 - 2.前記支持体ホルダに挾み込まれた絶縁体は、テフロ
ン、アルミナ、マグネシア、ジルコニア、窒化ホウ素、
窒化ケイ素、炭化ケイ素の中から選択される材料か、そ
の材料を導電体に塗布またはコーティングしたことを特
徴とする請求項1記載のアモルファスシリコン膜作成装
置。 - 3.前記支持体ホルダが前記支持体と共に回転して、膜
の作成を行うようにしたことを特徴とする請求項1記載
のアモルファスシリコン膜作成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3689890A JPH03240965A (ja) | 1990-02-16 | 1990-02-16 | アモルファスシリコン膜作成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3689890A JPH03240965A (ja) | 1990-02-16 | 1990-02-16 | アモルファスシリコン膜作成装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03240965A true JPH03240965A (ja) | 1991-10-28 |
Family
ID=12482598
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3689890A Pending JPH03240965A (ja) | 1990-02-16 | 1990-02-16 | アモルファスシリコン膜作成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03240965A (ja) |
-
1990
- 1990-02-16 JP JP3689890A patent/JPH03240965A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2720420B2 (ja) | 成膜/エッチング装置 | |
| JPH0456448B2 (ja) | ||
| JPH0387372A (ja) | 堆積膜形成方法 | |
| JPS6137354B2 (ja) | ||
| JPH03240965A (ja) | アモルファスシリコン膜作成装置 | |
| JPH0633246A (ja) | 堆積膜形成方法および堆積膜形成装置 | |
| JP3513206B2 (ja) | 堆積膜形成方法及び堆積膜形成装置 | |
| JPS6153431B2 (ja) | ||
| JP2002008982A (ja) | プラズマcvd装置 | |
| JP3135031B2 (ja) | 堆積膜形成装置 | |
| JP3606399B2 (ja) | 堆積膜形成装置 | |
| JPH01100275A (ja) | マイクロ波プラズマcvd法による機能性堆積膜形成装置 | |
| JP2768539B2 (ja) | 堆積膜形成装置 | |
| JP2620782B2 (ja) | プラズマcvd法による堆積膜形成装置 | |
| JPS63479A (ja) | プラズマcvd法による機能性堆積膜形成装置 | |
| JPH0411626B2 (ja) | ||
| JP2554867B2 (ja) | マイクロ波プラズマcvd法による機能性堆積膜形成装置 | |
| JP2609866B2 (ja) | マイクロ波プラズマcvd装置 | |
| JPS6350479A (ja) | マイクロ波プラズマcvd法による機能性堆積膜形成装置 | |
| JP3368142B2 (ja) | 堆積膜形成装置 | |
| JP2553337B2 (ja) | マイクロ波プラズマcvd法による機能性堆積膜形成装置 | |
| JPH0643632B2 (ja) | プラズマcvd法による堆積膜形成装置 | |
| JPH01222060A (ja) | 薄膜形成方法および感光体 | |
| JPS63230881A (ja) | マイクロ波プラズマcvd法による機能性堆積膜形成装置 | |
| JPS6362880A (ja) | マイクロ波プラズマcvd法による機能性堆積膜形成装置 |