JPH0324410A - 非接触距離測定器 - Google Patents

非接触距離測定器

Info

Publication number
JPH0324410A
JPH0324410A JP15925989A JP15925989A JPH0324410A JP H0324410 A JPH0324410 A JP H0324410A JP 15925989 A JP15925989 A JP 15925989A JP 15925989 A JP15925989 A JP 15925989A JP H0324410 A JPH0324410 A JP H0324410A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measuring device
contact type
point
distance
type distance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP15925989A
Other languages
English (en)
Inventor
Hitoshi Matsuura
仁 松浦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fanuc Corp
Original Assignee
Fanuc Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fanuc Corp filed Critical Fanuc Corp
Priority to JP15925989A priority Critical patent/JPH0324410A/ja
Publication of JPH0324410A publication Critical patent/JPH0324410A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は物体表面上の測定点までの距離を非接触で測定
する非接触距離測定器に関し、特に測定上の死角を無く
した非接触距離測定器に関する。
〔従来の技術〕
最近のならい制御装置には非接触距離センサを用いてト
レーサヘッドを構成したものがあり、例えばレーザ光に
よる三角測量式の非接触距離センサが多く使用されてい
る。
第3図はこの種の非接触距離センサの原理を示した図で
ある。図において、非接触距離センサ1内のレーザ駆動
回路2により半導体レーザ発振器3が励起され、レーザ
光4が出力される。レーザ光4は投光レンズ5で集光さ
れてモデル20cの面上に照射され、反射する。その一
部の反射光6は受光レンズ7で集光されてポジションセ
ンサ8上に焦点を結ぶ。ポジションセンサ8は焦点の位
置を電気信号に変換する素子であり、図のようにモデル
20cが点POにある時は中心に焦点が結ばれ、P1に
ある時は左上、P2にある時は右下に焦点が結ばれるの
で、これに対応して検出信号Dのレベルを変化して出力
する。
この検出信号Dを増幅し、所定の変換回路で距離に比例
した出力信号に変換して出力するようにしてトレーサヘ
ッドを構成し、そのXSY軸を数値指令によって所定の
送り速度で移動すると共に、検出信号DからZ軸の変位
量を求めてならい制御を行っている。
〔発明が解決しようとする課題〕
一方、このような三角測量式の非接触距離センサはモデ
ル面の角度によって測定上の死角を生ずることがある。
第4図はこの状況を示した図であり、モデル20dの傾
斜角度が大きいために測定点P4での反射光が受光レン
ズ7に入射されず、測定不能となる。このため、これを
トレーサヘッドに使用したならい制御装置では、ならい
が可能なモデルの形状が限られていた。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、測
定上の死角を無くした非接触距離測定器を提供すること
を目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
本発明では上記課題を解決するために、物体表面上の測
定点までの距離を非接触で測定する非接触距離測定器に
おいて、所定の基準点を挟んで互いに異なる角度で設置
され、それぞれ前記測定点までの距離に応じて第1及び
第2の検出信号を出力する第1及び第2の非接触距離セ
ンサと、前記第1及び第2の検出信号の両方、あるいは
いずれか一方に基づいて所定の基準点までの距離を演算
して測定値として出力する演算手段と、を有することを
特徴とする非接触距離測定器が提供される。
〔作用〕
角度を変えて二つの非接触距離センサを設置して同一点
を同時に測定し、その点から基準点までの距離を演算し
て測定値を出力する。一方の非接触距離センサが死角に
入った場合は、他方の非接触距離センサの検出信号のみ
に基づいて基準点までの距離を演算して出力する。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第1図(a)は本発明の一実施例の非接触距離測定器の
説明図である。図において、非接触距離測定器10には
レーザ光による三角測量式の非接触距離センサl1及び
21が互いに角度αをなすように傾けて取りつけられて
おり、それぞれ投射レンズ15及び25よりレーザ光l
4及び24をモデル2Oa上の点Paに投射する。点P
aからの反射光1日及び26は、受光レンズ17及び2
7を通して非接触距離センサ11及び21の図示されて
いないそれぞれのポジションセンサに入射され、検出信
号Dlla及びD21aが出力される。
アンプ31及び41は検出信号Dlla及びD21aを
増幅し、これを変換回路32及び42がそれぞれ点Pa
までの距離に比例した信号Llla及びL21aに変換
する。
演算回路50は信号Llla及びL21aに基づいて、
次式 La= (Ll 1 aXcos ((Z/2)+L2
 1aXCOS (α/2) ) /2 (1) を演算して非接触距離センサ11と21の中間に位置す
る基準点Prから点Paまでの距離を求め、測定値とし
て出力する。
第1図(b)は他のモデルを測定する場合の説明図であ
り、第1図(a)と同じ番号を付した要素は同じ機能を
有し、説明を省略する。図において、モデル2Ob上の
測定点Pbに対して非接触距離センサ21は死角にある
。したがって、演算回路50には非接触距離センサ31
からの検出信号Dllbを増幅、変換した信号Lllb
のみが入力される。
ここで、演算回路50は次式 Lb=L1 1 bxcos (α/2)(2) を演算して基準点Prから点P1までの距離を求め、測
定値として出力する。
第2図は上記の非接触距離測定器lOをトレーサヘッド
に使用したならい制御装置の構成を示したブロック図で
ある。ならい制御装置60はプロセッサ60a1制御プ
ログラムを記憶するROM60b1一時的なデータを格
納するRAM60C,バッテリバックアップされた不揮
発性メモリ60dを有する。トレーサへッド100内の
非接触距離測定器10からはモデル20の表面までの距
離Lが入力され、これに基づいて軸変位量を算出し、周
知の技術により速度指令Vx,Vy及びVzを出力する
。また、操作パネル61を介してオペレータからならい
に必要な各種のデータを入力する。
サーボアンプ70X,70Y及び702はならい制御装
置60から出力された速度指令Vx,Vy及びVzを増
幅してならい工作機械80の各軸のモータを駆動する。
ならい工作機械80には、図示しないが、テーブル8l
をそれぞれX軸、Y軸方向に駆動するX軸モータ及びY
軸モータと、トレーサヘッド100及びカツタヘッド8
2をZ軸方向に駆動するZ軸モータとが設けられると共
に、これらの各軸モータが所定量回転する毎に検出パル
スFPx,Fpy及びFPzを発生するパルス発生器が
設けられている。ポジションメモリ7lは検出パルスF
PxSFPy及びFPzを回転方向に応じてカウントア
ップ/ダウンして各軸方向の現在位置Xa,Ya及びZ
aを求め、ならい制御装置60にフィードバックしてい
る。
これにより、トレーサヘッド100はモデル20の表面
までの2軸方向の距離が一定に制御されると共に、モデ
ル20に対して指令された送り方向、ならい速度で相対
的に移動し、同じくテーブル8l上に固定されたワーク
83にモデル20の形状通りの加工が施される。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明では、角度を変えて二つの非
接触距離センサを設置して同一点を同時に測定するよう
に構成し、一方の非接触距離センサが死角に入った場合
は他方の非接触距離センサの検出信号のみに基づいて基
準点までの距離を演算して出力するので、複雑な3次元
形状モデルの任意の表面に対する距離測定が可能になる
また、両方の非接触距離センサが測定可能な範囲では、
これらの検出信号から得た値を平均して測定値として出
力するので、測定精度が向上する。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)は本発明の一実施例の非接触距離測定器の
説明図、 第1図(b)は本発明の一実施例の非接触距離測定器で
他のモデルを測定する場合の説明図、第2図は本発明の
一実施例の非接触距離測定器を使用したならい制御装置
の構成図、 第3図は非接触距離センサの原理図、 第4図は非接触距離センサの死角の説明図である。 11、21    非接触距離センサ 20a1 20b 50 PaS Pb Pr La.,Lb ・・ モデル ー・ 演算回路 −   測定点 基準点 測定値

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)物体表面上の測定点までの距離を非接触で測定す
    る非接触距離測定器において、 所定の基準点を挟んで互いに異なる角度で設置され、そ
    れぞれ前記測定点までの距離に応じて第1及び第2の検
    出信号を出力する第1及び第2の非接触距離センサと、 前記第1及び第2の検出信号の両方、あるいはいずれか
    一方に基づいて前記所定の基準点までの距離を演算して
    測定値として出力する演算手段と、を有することを特徴
    とする非接触距離測定器。
  2. (2)前記演算手段は前記第1及び第2の検出信号に基
    づいてそれぞれ別々に前記所定の基準点までの距離を演
    算し、これらの値の平均値を演算して前記測定値として
    出力するように構成したことを特徴とする特許請求の範
    囲第1項記載の非接触距離測定器。
  3. (3)前記第1及び第2の非接触距離センサのいずれか
    一方が検出不能状態となった時に、前記演算手段は他方
    の検出信号のみに基づいて前記所定の基準点までの距離
    を演算して前記測定値として出力するように構成したこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の非接触距離
    測定器。
  4. (4)前記第1及び第2の距離センサは三角測量式距離
    センサであることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
    載の非接触距離測定器。
  5. (5)特許請求の範囲第1項、第2項、第3項、または
    第4項記載の非接触距離測定器を使用したならい制御装
    置。
JP15925989A 1989-06-21 1989-06-21 非接触距離測定器 Pending JPH0324410A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15925989A JPH0324410A (ja) 1989-06-21 1989-06-21 非接触距離測定器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15925989A JPH0324410A (ja) 1989-06-21 1989-06-21 非接触距離測定器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0324410A true JPH0324410A (ja) 1991-02-01

Family

ID=15689853

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15925989A Pending JPH0324410A (ja) 1989-06-21 1989-06-21 非接触距離測定器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0324410A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008001210A3 (en) * 2006-06-29 2008-06-05 Hill Pierre De Survey instrument and a method of surveying

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008001210A3 (en) * 2006-06-29 2008-06-05 Hill Pierre De Survey instrument and a method of surveying

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0458983B1 (en) Noncontact profile controller
US5140239A (en) Non-contact tracer control device
JP4571256B2 (ja) 逐次2点法による形状精度測定装置および逐次2点法による形状精度測定用レーザ変位計間隔測定方法
US5266811A (en) Digitizing control equipment utilizing normal vector calculations and a position sensor
JPH01109057A (ja) デジタイジング方法
US5247233A (en) Digitizing control device for generating tracing data
JPH03121754A (ja) 非接触ならい制御装置
JPH0324410A (ja) 非接触距離測定器
US4949024A (en) Contactless profiling method
JP2594578B2 (ja) 非接触ならい制御装置
JP2708195B2 (ja) 3次元レーザ加工機用ティーチング方法およびその装置
JPH0123041B2 (ja)
JPH04115854A (ja) 非接触ならい制御装置
US5550330A (en) Digitizing control apparatus
JPH03140814A (ja) 三次元直交座標型高速精密測定機
JP2542615B2 (ja) 加工線テイ−チング方法
EP0563407B1 (en) Digitizing controller
JPS60218007A (ja) 物体形状の非接触倣い測定法
JPH0216965B2 (ja)
JPS60127084A (ja) レ−ザ加工制御装置
JPH05253805A (ja) 非接触デジタイジング装置
JPS63252204A (ja) 距離・傾斜角測定器
JP2000146520A (ja) 反射型変位計測装置
EP0704277A1 (en) Profile control system
JPS6386003A (ja) テイ−チング機能を備えた加工機