JPH0324492A - Ｘ線検出器およびｘ線ｃｔスキャナ装置 - Google Patents
Ｘ線検出器およびｘ線ｃｔスキャナ装置Info
- Publication number
- JPH0324492A JPH0324492A JP1158801A JP15880189A JPH0324492A JP H0324492 A JPH0324492 A JP H0324492A JP 1158801 A JP1158801 A JP 1158801A JP 15880189 A JP15880189 A JP 15880189A JP H0324492 A JPH0324492 A JP H0324492A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- scintillator
- detection system
- ray detection
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/36—Measuring spectral distribution of X-rays or of nuclear radiation spectrometry
- G01T1/40—Stabilisation of spectrometers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
- G01T1/20182—Modular detectors, e.g. tiled scintillators or tiled photodiodes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
- G01T1/20183—Arrangements for preventing or correcting crosstalk, e.g. optical or electrical arrangements for correcting crosstalk
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
- G01T1/20188—Auxiliary details, e.g. casings or cooling
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Nuclear Medicine (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的コ
（産業上の利用分野）
本発明は、シンチレー夕，光／電気変換手段としてフォ
トダイオードを含むＸｉＣ Ｔ（Ｃｏｍｐｕｔｅｒｉｓ
ｅｄ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ ）スキャナ装置用Ｘ線検
出器、および該Ｘ線検出器を用いるＸ線ＣＴスキャナ装
置に関する。
トダイオードを含むＸｉＣ Ｔ（Ｃｏｍｐｕｔｅｒｉｓ
ｅｄ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ ）スキャナ装置用Ｘ線検
出器、および該Ｘ線検出器を用いるＸ線ＣＴスキャナ装
置に関する。
（従来の技術）
Ｘ線ＣＴスキャナ装置は概略次のようになっている。す
なわち、Ｘ線検出器と、高圧発生器の出力で駆動される
Ｘ線源とは、撮影域を挟んで対向配置され、この撮影域
内には被検体が置かれる。
なわち、Ｘ線検出器と、高圧発生器の出力で駆動される
Ｘ線源とは、撮影域を挟んで対向配置され、この撮影域
内には被検体が置かれる。
そして、例えば第３世代のものであれば、Ｘ線源とＸ線
検出器３との組を対向関係を保って回転することにより
、被検体に対する多方向からの透過Ｘ線に基づく投影デ
ータを、Ｘ線検出器の検出器群、及び例えばＩ／Ｖ変換
器．積分器，マルチブレクサ，Ａ／Ｄ変換器等を有する
データ収集系（ Ｄ Ａ Ｓ ： Ｄａｔａ Ａｃｑ
ｕｉｓｉｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍ）により収集し、前処
理部にて検出器群及びデータ収集系の特性のバラツキ等
を補正し、処理後データを高速再構戊ユニット（ Ｆ
Ｒ Ｕ ： Ｆａｓｔ Ｒｅｃｏｎｓｔｒｕｃｔｉｏｎ
Ｕｎｉｔ）に送ってここで再構成処理を施してスライス
像を得、ディスプレイに表示を行なうようにしている。
検出器３との組を対向関係を保って回転することにより
、被検体に対する多方向からの透過Ｘ線に基づく投影デ
ータを、Ｘ線検出器の検出器群、及び例えばＩ／Ｖ変換
器．積分器，マルチブレクサ，Ａ／Ｄ変換器等を有する
データ収集系（ Ｄ Ａ Ｓ ： Ｄａｔａ Ａｃｑ
ｕｉｓｉｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍ）により収集し、前処
理部にて検出器群及びデータ収集系の特性のバラツキ等
を補正し、処理後データを高速再構戊ユニット（ Ｆ
Ｒ Ｕ ： Ｆａｓｔ Ｒｅｃｏｎｓｔｒｕｃｔｉｏｎ
Ｕｎｉｔ）に送ってここで再構成処理を施してスライス
像を得、ディスプレイに表示を行なうようにしている。
一方、この種のＸ１ｊｌＣＴスキャナ装置に用いるＸ線
検出系である多チャンネル型Ｘ線検出器には、従来から
電離箱検出器型のものが広く用いられているが、この他
に、小型，軽量，検出効率の効率化が期待できる固体検
出器型のものがある。
検出系である多チャンネル型Ｘ線検出器には、従来から
電離箱検出器型のものが広く用いられているが、この他
に、小型，軽量，検出効率の効率化が期待できる固体検
出器型のものがある。
第６図は固体検出器型Ｘ線検出器の一例の断面図であり
、基板１０上に、フォトダイオード１２が置かれ、その
上にシンチレータ１４が置かれており、図示しないコリ
メー夕板間を通過したＸ線がシンチレータ１４に入射す
ると、シンチレータ１４は入射Ｘ線量に応じたシンチレ
ー夕光を発生し、これをフォトダイオード１２により電
気信号に変換し、基板１０上に配設した導電ラインによ
りデータ収集系（ＤＡＳ）に導入するようになっている
。
、基板１０上に、フォトダイオード１２が置かれ、その
上にシンチレータ１４が置かれており、図示しないコリ
メー夕板間を通過したＸ線がシンチレータ１４に入射す
ると、シンチレータ１４は入射Ｘ線量に応じたシンチレ
ー夕光を発生し、これをフォトダイオード１２により電
気信号に変換し、基板１０上に配設した導電ラインによ
りデータ収集系（ＤＡＳ）に導入するようになっている
。
また、第７図は第６図の固体検出器型Ｘ線検出器の構成
においてコリメー夕板１６を両側で支持する支持部材１
８Ａ，１８Ｂを図示した断面図である。
においてコリメー夕板１６を両側で支持する支持部材１
８Ａ，１８Ｂを図示した断面図である。
（発明が解決しようとする課題）
このような固体検出器型Ｘ線検出器および該Ｘ線検出器
を用いるＸ線ＣＴスキャナ装置では、シンチレー夕を使
用することに伴う問題がある。
を用いるＸ線ＣＴスキャナ装置では、シンチレー夕を使
用することに伴う問題がある。
すなわち、Ｘ線照射を多数回行った場合や大量のＸ線が
入射されると、シンチレータが着色されることに伴う特
性であるとされているヒステリシス特性が現れることで
ある。このヒステリシス特性は、発光効串の低下ひいて
は検出感度の低下を招き、また、過去のＸ線照射履歴が
現れてしまい、これがアーチファクトとなる問題がある
。
入射されると、シンチレータが着色されることに伴う特
性であるとされているヒステリシス特性が現れることで
ある。このヒステリシス特性は、発光効串の低下ひいて
は検出感度の低下を招き、また、過去のＸ線照射履歴が
現れてしまい、これがアーチファクトとなる問題がある
。
そこで本発明の目的は、ヒステリシス特性の低減を図り
得るＸ線検出器、および、それを用いて画質の向上を図
り得るＸ線ＣＴスキャナ装置を提供することにある。
得るＸ線検出器、および、それを用いて画質の向上を図
り得るＸ線ＣＴスキャナ装置を提供することにある。
［発明の構ｒＩｉ１
（課題を解決するための手段）
本発明は上記課題を解決し且つ目的を達戊するために次
のような手段を講じた構成としている。
のような手段を講じた構成としている。
請求項１による発明は、少なくとも、シンチレータ，光
／夷気変換手段を含むＸ線検出器において、前記シンチ
レータとして前記光／電気変換手段に対面しない延長部
を形或したものを用いると』（に、該延長部に発光手段
を設けたことを特徴とする。
／夷気変換手段を含むＸ線検出器において、前記シンチ
レータとして前記光／電気変換手段に対面しない延長部
を形或したものを用いると』（に、該延長部に発光手段
を設けたことを特徴とする。
請求項２による発明は、少なくとも、シンチレー夕，光
／電気変換手段，コリメー夕，コリメータ支持部材を含
むＸ線検出器において、前記コリメータ支持部材として
透明材質のものを用いると共に、該支持部材の側方に発
光手段を設けたことを特徴とする。
／電気変換手段，コリメー夕，コリメータ支持部材を含
むＸ線検出器において、前記コリメータ支持部材として
透明材質のものを用いると共に、該支持部材の側方に発
光手段を設けたことを特徴とする。
請求項３による発明は、前記支持部材は光学素子として
形成されていることを特徴とする。
形成されていることを特徴とする。
請求項４による発明は、少なくとも、Ｘ線検出系，デー
タ収集系．画像再構成系，表示系，制御系を含むＸｌｊ
ｌＣ Ｔスキャナ装置において、前記Ｘ線検出系として
請求項１記載のものを用いると共に、前記発光手段をス
キャン休止時間に駆動する駆動制御手段を具備したこと
を特徴とする。
タ収集系．画像再構成系，表示系，制御系を含むＸｌｊ
ｌＣ Ｔスキャナ装置において、前記Ｘ線検出系として
請求項１記載のものを用いると共に、前記発光手段をス
キャン休止時間に駆動する駆動制御手段を具備したこと
を特徴とする。
請求項５による発明は、少なくとも、Ｘ線検出系，デー
タ収集系，画像再構成系，表示系，制御系を含むＸ線Ｃ
Ｔスキャナ装置において、前記Ｘ線検出系として請求項
１記載のものを用いると共に、前記発光手段をスキャン
休止時間に駆動する駆動制御手段と、前記駆動制御手段
を駆動したときの前記Ｘ線検出系の出力に基づき，スキ
ャンしたときの前記Ｘ線検出系の出力を補正する手段と
を具備したことを特徴とする。
タ収集系，画像再構成系，表示系，制御系を含むＸ線Ｃ
Ｔスキャナ装置において、前記Ｘ線検出系として請求項
１記載のものを用いると共に、前記発光手段をスキャン
休止時間に駆動する駆動制御手段と、前記駆動制御手段
を駆動したときの前記Ｘ線検出系の出力に基づき，スキ
ャンしたときの前記Ｘ線検出系の出力を補正する手段と
を具備したことを特徴とする。
請求項６による発明は、少なくとも、Ｘ線検出系，デー
タ収集系，画像再構成系，表示系，制御系を含むＸ線Ｃ
Ｔスキャナ装置において、前記Ｘ線検出系として請求項
１記載のものを用いると共に、前記発光手段をスキャン
休止時間に駆動する駆動制御手段と、スキャンしたとき
の前記Ｘ線検出系の出力及び前記駆動制御手段を駆動し
たときの前記Ｘ線検出系の出力のうち少なくとも一方に
基づき．前記Ｘ線検出系，前記データ収集系のうち少な
くとも一方の動作チェックを行う手段とを具備したこと
を特徴とする。
タ収集系，画像再構成系，表示系，制御系を含むＸ線Ｃ
Ｔスキャナ装置において、前記Ｘ線検出系として請求項
１記載のものを用いると共に、前記発光手段をスキャン
休止時間に駆動する駆動制御手段と、スキャンしたとき
の前記Ｘ線検出系の出力及び前記駆動制御手段を駆動し
たときの前記Ｘ線検出系の出力のうち少なくとも一方に
基づき．前記Ｘ線検出系，前記データ収集系のうち少な
くとも一方の動作チェックを行う手段とを具備したこと
を特徴とする。
（作 用）
請求項１の允明によれば、発光手段をシンチレー夕の延
長部に設けているので、発光手段による光を、シンチレ
ータに向けることができ、これによりシンチレータのヒ
ステリシス特性を低減することができる。
長部に設けているので、発光手段による光を、シンチレ
ータに向けることができ、これによりシンチレータのヒ
ステリシス特性を低減することができる。
請求項２の発明によれば、発光手段を、透明材質からな
るコリメータ支持部材の側方に設けているので、発光手
段による光を、支持部材を通してシンチレータに向ける
ことができ、これによりシンチレータのヒステリシス特
性を低減することができる。
るコリメータ支持部材の側方に設けているので、発光手
段による光を、支持部材を通してシンチレータに向ける
ことができ、これによりシンチレータのヒステリシス特
性を低減することができる。
請求項３の発明によれば、レンズやプリズム等の光学素
子である支持部材により、発光手段からの光を効果的に
シンチレー夕に向けることができ、これによりシンチレ
ータのヒステリシス特性を効果的に低減することができ
る。
子である支持部材により、発光手段からの光を効果的に
シンチレー夕に向けることができ、これによりシンチレ
ータのヒステリシス特性を効果的に低減することができ
る。
請求項４の発明によれば、スキャンの休止時間に発光手
段が駆動され、シンチレー夕のヒステリシス特性が低減
されるので、スキャン時における感度回復がなされ、ア
ーチファクトの無い高画質の画像を得ることができる。
段が駆動され、シンチレー夕のヒステリシス特性が低減
されるので、スキャン時における感度回復がなされ、ア
ーチファクトの無い高画質の画像を得ることができる。
請求項５の発明によれば、スキャンの休止時間に発光手
段が駆動され、シンチレー夕のヒステリシス特性が低減
されるので、スキャン時における感度同復がなされ、ア
ーチファクトの無い高画質の画像を得ることができる上
、前記駆動制御手段を駆動したときの前記Ｘ線検出系の
出力に基づきスキャンしたときの前記Ｘ線検出系の出力
を補正することができるので、たとえスキャン休止時間
が短くて、低威の程度が完全でなくとも、高画質の画像
を得ることができる。
段が駆動され、シンチレー夕のヒステリシス特性が低減
されるので、スキャン時における感度同復がなされ、ア
ーチファクトの無い高画質の画像を得ることができる上
、前記駆動制御手段を駆動したときの前記Ｘ線検出系の
出力に基づきスキャンしたときの前記Ｘ線検出系の出力
を補正することができるので、たとえスキャン休止時間
が短くて、低威の程度が完全でなくとも、高画質の画像
を得ることができる。
請求項６の発明によれば、スキャンの休止時間に発光手
段が駆動され、シンチレータのヒステリシス特性が低減
されるので、スキャン時における感度回複がなされ、ア
ーチファクトの無い高画質の画像を得ることができる上
、スキャンしたときの前記Ｘ線検出系の出力及び前記駆
動制御手段を駆動したときの前記Ｘ線検出系の出力のう
ち少なくとも一方に基づき前記Ｘ線検出系，前記データ
収集系のうち少なくとも一方の動作チェックを行うこと
ができるので、装置の正常運転ひいては高精度・高効率
の画像診断を行える。
段が駆動され、シンチレータのヒステリシス特性が低減
されるので、スキャン時における感度回複がなされ、ア
ーチファクトの無い高画質の画像を得ることができる上
、スキャンしたときの前記Ｘ線検出系の出力及び前記駆
動制御手段を駆動したときの前記Ｘ線検出系の出力のう
ち少なくとも一方に基づき前記Ｘ線検出系，前記データ
収集系のうち少なくとも一方の動作チェックを行うこと
ができるので、装置の正常運転ひいては高精度・高効率
の画像診断を行える。
（実施例）
以下本発明にかかるＸ線検出器の第１の実施例を、第６
図と同一部分には同一符号を付した第１図を参照して説
明する。
図と同一部分には同一符号を付した第１図を参照して説
明する。
第１の実施例は、シンチレータとしてフォトダイオード
１２に対面しない延長部２ＯＡを形威したシンチレータ
２０を用いると共に、該延長部２ＯＡに、図示しない制
御器によりオン●オフや光量等を制御し得る面発光素子
２２を例えば光学接着材等により接着している。なお、
シンチレータ２０の延長部２ＯＡ以外の面は反射塗料雰
が塗布され、これにより遮光されている。
１２に対面しない延長部２ＯＡを形威したシンチレータ
２０を用いると共に、該延長部２ＯＡに、図示しない制
御器によりオン●オフや光量等を制御し得る面発光素子
２２を例えば光学接着材等により接着している。なお、
シンチレータ２０の延長部２ＯＡ以外の面は反射塗料雰
が塗布され、これにより遮光されている。
このような構成によれば、面発光素了２２による光を、
面発光素子２２に対面するシンチレータ２０の該延長部
２ＯＡに到達させ得、またシンチレータ２０の全体に拡
散することかできるので、これによりシンチレータ２０
のヒステリシス特性を低減することができる。
面発光素子２２に対面するシンチレータ２０の該延長部
２ＯＡに到達させ得、またシンチレータ２０の全体に拡
散することかできるので、これによりシンチレータ２０
のヒステリシス特性を低減することができる。
次に本発明にかかるＸ線検出器の第２の実施例を、第７
図と同一部分には同一符号を付した第２図を参照して説
明する。
図と同一部分には同一符号を付した第２図を参照して説
明する。
第２の実施例は、コリメー夕板１６を支持する部材とし
て、その少なくとも一方２４Ａを、透明材質を断面多角
形状に形成することによるプリズム、又は凹レンズ又は
凸レンズ（図示ではプリズム）としている。ここで、コ
リメータ支持部材として他方２４Ｂは、第７図と同一の
セラミックスやガラスエポキシ樹脂等よりなるものでも
よい。
て、その少なくとも一方２４Ａを、透明材質を断面多角
形状に形成することによるプリズム、又は凹レンズ又は
凸レンズ（図示ではプリズム）としている。ここで、コ
リメータ支持部材として他方２４Ｂは、第７図と同一の
セラミックスやガラスエポキシ樹脂等よりなるものでも
よい。
また、コリメータ支持部材２４Ａの側方には、図示しな
い制御器によりオン・オフや光量等を制御し得る光源２
６を置き、この先源２６による放１１光がコリメータ支
持部材２４Ａに効率的に入射されるように、光源２６に
近接して凹面鏡２８を設りている。ここで、コリメータ
支持部材２４Ａは、光源２６による放射光がシンチレー
タ２０の全体に拡散するように適宜のプリズム，凹レン
ズ凸レンズに構威されているものとする。
い制御器によりオン・オフや光量等を制御し得る光源２
６を置き、この先源２６による放１１光がコリメータ支
持部材２４Ａに効率的に入射されるように、光源２６に
近接して凹面鏡２８を設りている。ここで、コリメータ
支持部材２４Ａは、光源２６による放射光がシンチレー
タ２０の全体に拡散するように適宜のプリズム，凹レン
ズ凸レンズに構威されているものとする。
このような構成によれば、光源２６による放射光を、シ
ンチレータ１４の全体に拡散させることができるので、
これによりシンチレータ１４のヒステリシス特性を低減
することができる。
ンチレータ１４の全体に拡散させることができるので、
これによりシンチレータ１４のヒステリシス特性を低減
することができる。
次に、上記第１又は第２の実施例のＸ線検出器を用いた
本発明にかかるＸ線ＣＴスキャナ装置の実施例を説明す
る。なお、以下では面発光素子２２や光源２６を光発生
器３０として説明している。
本発明にかかるＸ線ＣＴスキャナ装置の実施例を説明す
る。なお、以下では面発光素子２２や光源２６を光発生
器３０として説明している。
第３図に示すように、本実施例のＸ線ＣＴスキャナ装置
は概略次のようになっている。すなわち、図示しないＸ
線源と撮影域を挟んで対向配置されるＸ線検出器ＤＥＴ
は、多チャンネルのシンチレータ１４（又は２０）と、
多チャンネルのフォトダイオード１２と、光発生器３０
とから少なくとも構成されている。
は概略次のようになっている。すなわち、図示しないＸ
線源と撮影域を挟んで対向配置されるＸ線検出器ＤＥＴ
は、多チャンネルのシンチレータ１４（又は２０）と、
多チャンネルのフォトダイオード１２と、光発生器３０
とから少なくとも構成されている。
Ｘ線検出器ＤＥＴの各チャンネル出力である投影データ
は、ｌ／Ｖ変換器，積分器，マルチブレクサ，Ａ／Ｄ変
換器等をチャンネル分を有するデータ収集系（ＤＡＳ）
３２により収集し、図示しない前処理部にてＸ線検出器
ＤＥＴ及びデータ収集系３２の特性のバラツキ等を補疋
し、処理後デタを高速再構成ユニット（ＦＲＵ）３４に
送ってここで再構成処理を施してスライス像を得、ディ
スプレイ３６に表示を行なうようになっている。
は、ｌ／Ｖ変換器，積分器，マルチブレクサ，Ａ／Ｄ変
換器等をチャンネル分を有するデータ収集系（ＤＡＳ）
３２により収集し、図示しない前処理部にてＸ線検出器
ＤＥＴ及びデータ収集系３２の特性のバラツキ等を補疋
し、処理後デタを高速再構成ユニット（ＦＲＵ）３４に
送ってここで再構成処理を施してスライス像を得、ディ
スプレイ３６に表示を行なうようになっている。
また、図示しないガントリ駆動機構，図示しないＸ線源
の駆動装置である高圧発生装置，データ収集系３２，高
速再構成ユニット３４，ディスプレイ３６に対する制御
信号，検出信号，表示信号等の授受を司る制御系３８を
備えている。この制御系３８は、Ｘ線検出器ＤＥＴのフ
ォトダイオード１２の出力を人力し所定の信号処理を行
い、また、光発生器３０のオン・オフや光量等を制御し
得る。
の駆動装置である高圧発生装置，データ収集系３２，高
速再構成ユニット３４，ディスプレイ３６に対する制御
信号，検出信号，表示信号等の授受を司る制御系３８を
備えている。この制御系３８は、Ｘ線検出器ＤＥＴのフ
ォトダイオード１２の出力を人力し所定の信号処理を行
い、また、光発生器３０のオン・オフや光量等を制御し
得る。
制御系３８の詳細例を、第４図および第５図を参照して
説明する。
説明する。
第４図に示す例の制御系３８は、ホストコンピュータ３
８Ａと、このホストコンピュータ３８Ａの管理ドで，デ
ータ収集系３２に対する制御（ＤＡＳ制御），高速再構
成ユニット３４に対する制御（ＦＲＵ制御）を行うスキ
ャン制御器３８Ｂと、ホストコンピュータ３８Ａに対し
オペレータの必要な指示を与えるコンソール３８Ｃと、
光発生器３０に対する制７１ （ＬＧＤ制御）を行う駆
動制御器３８Ｄとからなる。
８Ａと、このホストコンピュータ３８Ａの管理ドで，デ
ータ収集系３２に対する制御（ＤＡＳ制御），高速再構
成ユニット３４に対する制御（ＦＲＵ制御）を行うスキ
ャン制御器３８Ｂと、ホストコンピュータ３８Ａに対し
オペレータの必要な指示を与えるコンソール３８Ｃと、
光発生器３０に対する制７１ （ＬＧＤ制御）を行う駆
動制御器３８Ｄとからなる。
ここで、駆動制御”１５ ３ ８ ＤによるＬＧＤ制御
は、ホストコンピュータ３８Ａの指示の下で一回のスキ
ャン終了毎のその直後に光発生器３０をオン動作させ、
スキャン開始毎のその直前に光発生器３０をオフ動作さ
せるものである。
は、ホストコンピュータ３８Ａの指示の下で一回のスキ
ャン終了毎のその直後に光発生器３０をオン動作させ、
スキャン開始毎のその直前に光発生器３０をオフ動作さ
せるものである。
このように横成によれば、各スキャンの休止時間毎に光
発坐器３０がオン動作し、各スキャン毎にシンチレータ
２０（又は１４）のヒステリシス特性が低減され、各ス
キャン時における感度回復が行われる。これにより、シ
ンチレータ２０（又は１４）の特性はほぼ一定に保たれ
、常にアーチファクトが低減された高画質の画像を得る
ことができる。
発坐器３０がオン動作し、各スキャン毎にシンチレータ
２０（又は１４）のヒステリシス特性が低減され、各ス
キャン時における感度回復が行われる。これにより、シ
ンチレータ２０（又は１４）の特性はほぼ一定に保たれ
、常にアーチファクトが低減された高画質の画像を得る
ことができる。
なお、上記の例では、光発生器３０のオンーオフ動作を
、各スキャン毎に実行するものとしているが、複数スキ
ャンに１回の割合で光発生器３０のオンーオフ動作を行
うようにしてもよい。
、各スキャン毎に実行するものとしているが、複数スキ
ャンに１回の割合で光発生器３０のオンーオフ動作を行
うようにしてもよい。
第５図に示す例の制御系３８は、第４図に示す例の制御
系３８に、付加機能制御器３８Ｅを付加したものである
。すなわち、この付加機能制御器３８Ｅは、複数の制御
モードを有するものであり、これを以下列挙して説明す
る。
系３８に、付加機能制御器３８Ｅを付加したものである
。すなわち、この付加機能制御器３８Ｅは、複数の制御
モードを有するものであり、これを以下列挙して説明す
る。
（イ）動作チェックモード
この動作チェックモードは、光発生器３０が動作してい
るときに動作するものであって、付加機能制御器３８Ｈ
に、Ｘ線検出器ＤＥＴの各チャンネル出力が取込まれ、
付加機能制御器３８Ｅはこの出力のレベル等をチェック
することにより、Ｘ線検出器ＤＥＴの各チャンネルのフ
ォトダイオード１２，データ収集系３２の各チャンネル
の正常，異常等を調べ、ディスプレイ３６にて表示する
べくメッセージを出すようにしている。
るときに動作するものであって、付加機能制御器３８Ｈ
に、Ｘ線検出器ＤＥＴの各チャンネル出力が取込まれ、
付加機能制御器３８Ｅはこの出力のレベル等をチェック
することにより、Ｘ線検出器ＤＥＴの各チャンネルのフ
ォトダイオード１２，データ収集系３２の各チャンネル
の正常，異常等を調べ、ディスプレイ３６にて表示する
べくメッセージを出すようにしている。
（ロ）寿命チェックモード
この寿命チェックモードは、光発生器３０が動作してい
るときに動作するものであって、付加機能制御器３８Ｅ
に、Ｘ線検出器ＤＥＴの各チャンネル出力が取込まれ、
付加機能制御器３８Ｅは、全チャンネル出力が同等に低
下した場合が判定されたとき、光発生器３０のランプ等
が寿命となったことを、ディスプレイ３６にて表示する
べくメッセージを出すようにしている。
るときに動作するものであって、付加機能制御器３８Ｅ
に、Ｘ線検出器ＤＥＴの各チャンネル出力が取込まれ、
付加機能制御器３８Ｅは、全チャンネル出力が同等に低
下した場合が判定されたとき、光発生器３０のランプ等
が寿命となったことを、ディスプレイ３６にて表示する
べくメッセージを出すようにしている。
（ハ）補正処理モード
この補正処理モードは、スキャン休止時間が短い場合や
ダイナミックスキャンのようにスキャン休止時間が無い
場合に好適なモードであり、もちろん、スキャン休止時
間が長い場合に併用しても好適なモードである。
ダイナミックスキャンのようにスキャン休止時間が無い
場合に好適なモードであり、もちろん、スキャン休止時
間が長い場合に併用しても好適なモードである。
すなわち、休止時間が短いスキャンでは、光照射時間が
短いのでシンチレータ２０ （１４）のヒステリシス特
性が十分に低減されなく、また、休止時間が無いダイナ
ミックスキャンでは、光照射が無いのでシンチレータ２
０ （１４）のヒステリシス特性が単位スキャン毎には
全く低減されない。
短いのでシンチレータ２０ （１４）のヒステリシス特
性が十分に低減されなく、また、休止時間が無いダイナ
ミックスキャンでは、光照射が無いのでシンチレータ２
０ （１４）のヒステリシス特性が単位スキャン毎には
全く低減されない。
これら不具合を補正処理モードは解消し得る。
すなわち、ヒステリシス特性が十分に低減されない場合
は、データ収集系３２の各チャンネル出力の感度補正を
行う。これは、光発生器３０が動作しているときのデー
タ収集系３２の各チャンネル出力に基づき感度補正用デ
ータを生成するものであり、該感度補正用データにより
スキャン時のデータ収集系３２の各チャンネル出力を補
正するものである。
は、データ収集系３２の各チャンネル出力の感度補正を
行う。これは、光発生器３０が動作しているときのデー
タ収集系３２の各チャンネル出力に基づき感度補正用デ
ータを生成するものであり、該感度補正用データにより
スキャン時のデータ収集系３２の各チャンネル出力を補
正するものである。
ダイナミックスキャンの場合は、次のような補正処理方
式を採用することができる。すなわち、各チャンネル出
力毎に一回のスキャン全体でのトータルのＸ線照射量を
求め、該トータルＸ線照射量から推定される感度低下量
により次のスキャンデータを補正する。この場合、ヒス
テリシスの影響は積見されるので、次のスキャン（３回
目）の補正では、２回目までのデータを積算したもので
補正量を計算する。積算する期間は、光照射により感度
が初期状態になるまで続けられる。
式を採用することができる。すなわち、各チャンネル出
力毎に一回のスキャン全体でのトータルのＸ線照射量を
求め、該トータルＸ線照射量から推定される感度低下量
により次のスキャンデータを補正する。この場合、ヒス
テリシスの影響は積見されるので、次のスキャン（３回
目）の補正では、２回目までのデータを積算したもので
補正量を計算する。積算する期間は、光照射により感度
が初期状態になるまで続けられる。
以上の例では、スキャン単位で補正を施す例について説
明しているが、１スキャン内の各投影データ毎のデータ
についても、同様に補正を行うことができる。
明しているが、１スキャン内の各投影データ毎のデータ
についても、同様に補正を行うことができる。
なお、感度低下量が、以前のＸ線瞭射量に比例すると仮
定した場合、下記のような補正処理の手法を用いること
ができる。
定した場合、下記のような補正処理の手法を用いること
ができる。
Ｓｌ’−Ｓｌ
Ｓ２’一α・Ｓｔ−Ｓ２ →Ｓ２−Ｓ２゜／α●
ＳＩＳ３゜一α（Ｓｌ ＋Ｓ２）Ｓ３→Ｓ３−Ｓ３’／
α（ＳＩ＋３２）＝＝＝セｘ ここで、 ＳＩ：１番目の真のデータ Ｓ１゜：１番口の測定されたデータ α ：感度低下の比例定数 もちろん、付加機能制御器３８Ｅは、動作チェックモー
ド、寿命チェックモード、補正処理モードの少なくとも
一つを実行できるものであってもよい。
ＳＩＳ３゜一α（Ｓｌ ＋Ｓ２）Ｓ３→Ｓ３−Ｓ３’／
α（ＳＩ＋３２）＝＝＝セｘ ここで、 ＳＩ：１番目の真のデータ Ｓ１゜：１番口の測定されたデータ α ：感度低下の比例定数 もちろん、付加機能制御器３８Ｅは、動作チェックモー
ド、寿命チェックモード、補正処理モードの少なくとも
一つを実行できるものであってもよい。
この他、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して
実施できるものである。
実施できるものである。
［発明の効果］
以上のように請求項１による発明では、少なくとも、シ
ンチレータ１光／電気変換手段を含むＸ線検出器におい
て、前記シンチレータとして前記光／電気変換手段に対
面しない延長部を形成したものを用いると共に、該延長
部に発光手段を設けたことにより、発光手段による光を
、シンチレータに向けることができ、これによりシンチ
レー夕のヒステリシス特性を低減することができる。
ンチレータ１光／電気変換手段を含むＸ線検出器におい
て、前記シンチレータとして前記光／電気変換手段に対
面しない延長部を形成したものを用いると共に、該延長
部に発光手段を設けたことにより、発光手段による光を
、シンチレータに向けることができ、これによりシンチ
レー夕のヒステリシス特性を低減することができる。
請求項２による発明では、少なくとも、シンチレーク，
光／電気変換手段，コリメー夕．コリメータ支持部材を
含むＸ線検出器において、前記コリメータ支持部材とし
て透明材質のものを用いると共に、該支持部材の側方に
発光手段を設けたことにより、発光手段による光を、支
持部材をて通してシンチレータに向けることができ、こ
れによりシンチレータのヒステリシス特性を低減するこ
とができる。
光／電気変換手段，コリメー夕．コリメータ支持部材を
含むＸ線検出器において、前記コリメータ支持部材とし
て透明材質のものを用いると共に、該支持部材の側方に
発光手段を設けたことにより、発光手段による光を、支
持部材をて通してシンチレータに向けることができ、こ
れによりシンチレータのヒステリシス特性を低減するこ
とができる。
請求項３による発明では、前記支持部材はレンズやプリ
ズム等の光学素子として形成されていることにより、発
光手段からの光を効果的にシンチレー夕に向けることが
でき、これによりシンチレータのヒステリシス特性を効
果的に低減することができる。
ズム等の光学素子として形成されていることにより、発
光手段からの光を効果的にシンチレー夕に向けることが
でき、これによりシンチレータのヒステリシス特性を効
果的に低減することができる。
請求項４による発明では、少なくとも、Ｘ線検出系．デ
ータ収集系，画像再構成系，表示系．制御系を含むＸｌ
ｉＣＴスキャナ装置において、前記Ｘ線検出系として請
求項１記載のものを用いると共に、前記発光手段をスキ
ャン休止時間に駆動する駆動制御手段を具備したことに
より、スキャンの休止時間に発光手段が駆動され、シン
チレータのヒステリシス特性が低減されるので、スキャ
ン時における感度回復がなされ、アーチファクトの無い
高画質の画像を得ることができる。
ータ収集系，画像再構成系，表示系．制御系を含むＸｌ
ｉＣＴスキャナ装置において、前記Ｘ線検出系として請
求項１記載のものを用いると共に、前記発光手段をスキ
ャン休止時間に駆動する駆動制御手段を具備したことに
より、スキャンの休止時間に発光手段が駆動され、シン
チレータのヒステリシス特性が低減されるので、スキャ
ン時における感度回復がなされ、アーチファクトの無い
高画質の画像を得ることができる。
請求項５による発明では、少なくとも、Ｘ線検出系，デ
ータ収集系，画像再構成系，表示系，制御系を含むＸ線
ＣＴスキャナ装置において、前記Ｘ線検出系として請求
項１記載のものを用いると共に、前記発光手段をスキャ
ン休止時間に駆動する駆動制御手段と、前記駆動制御手
段を駆動したときの前記Ｘ線検出系の出力に基づき，ス
キャンしたときの前記Ｘ線検出系の出力を補正する手段
とを具備したことにより、スキャンの休止時間に発光手
段が駆動され、シンチレー夕のヒステリシス特性が低減
されるので、スキャン時における感度回復がなされ、ア
ーチファクトの無い高画質の画像を得ることができる上
、前記駆動制御手段を駆動したときの前記Ｘ線検出系の
出力に基づきスキャンしたときの前記Ｘ線検出系の出力
を補正することができるので、たとえスキャン休止時間
が短くて、低減の程度が完全でなくとも、高画質の画像
を得ることができる。
ータ収集系，画像再構成系，表示系，制御系を含むＸ線
ＣＴスキャナ装置において、前記Ｘ線検出系として請求
項１記載のものを用いると共に、前記発光手段をスキャ
ン休止時間に駆動する駆動制御手段と、前記駆動制御手
段を駆動したときの前記Ｘ線検出系の出力に基づき，ス
キャンしたときの前記Ｘ線検出系の出力を補正する手段
とを具備したことにより、スキャンの休止時間に発光手
段が駆動され、シンチレー夕のヒステリシス特性が低減
されるので、スキャン時における感度回復がなされ、ア
ーチファクトの無い高画質の画像を得ることができる上
、前記駆動制御手段を駆動したときの前記Ｘ線検出系の
出力に基づきスキャンしたときの前記Ｘ線検出系の出力
を補正することができるので、たとえスキャン休止時間
が短くて、低減の程度が完全でなくとも、高画質の画像
を得ることができる。
請求項６による発明では、少なくとも、Ｘ線検出系，デ
ータ収集系、画像再構成系、表示系，制御系を含むＸ線
ＣＴスキャナ装置において、前記Ｘ線検出系として請求
項１記載のものを用いると共に、前記発光手段をスキャ
ン休止時間に駆動する駆動制御手段と、スキャンしたと
きの前記Ｘ線検出系の出力及び前記駆動制御手段を駆動
したときの前記Ｘ線検出系の出力のうち少なくとも一方
に基づき，前記Ｘ線検出系，前記データ収集系のうち少
なくとも一方の動作チェックを行う手段とを具備したこ
とにより、スキャンの休止時間に発光手段が駆動され、
シンチレー夕のヒステリシス特性が低減されるので、ス
キャン時における感度回復がなされ、アーチファクトの
無い高画質の画像を得ることができる上、スキャンした
ときの前記Ｘ線検出系の出力及び前記駆動制御手段を駆
動したときの前記Ｘ線検出系の出力のうち少なくとも一
方に基づき前記Ｘ線検出系，前記データ収集系のうち少
なくとも一方の動作チェソクを行うことができるので、
装置の正常運転ひいては高精度・高効率の画像診断を行
える。
ータ収集系、画像再構成系、表示系，制御系を含むＸ線
ＣＴスキャナ装置において、前記Ｘ線検出系として請求
項１記載のものを用いると共に、前記発光手段をスキャ
ン休止時間に駆動する駆動制御手段と、スキャンしたと
きの前記Ｘ線検出系の出力及び前記駆動制御手段を駆動
したときの前記Ｘ線検出系の出力のうち少なくとも一方
に基づき，前記Ｘ線検出系，前記データ収集系のうち少
なくとも一方の動作チェックを行う手段とを具備したこ
とにより、スキャンの休止時間に発光手段が駆動され、
シンチレー夕のヒステリシス特性が低減されるので、ス
キャン時における感度回復がなされ、アーチファクトの
無い高画質の画像を得ることができる上、スキャンした
ときの前記Ｘ線検出系の出力及び前記駆動制御手段を駆
動したときの前記Ｘ線検出系の出力のうち少なくとも一
方に基づき前記Ｘ線検出系，前記データ収集系のうち少
なくとも一方の動作チェソクを行うことができるので、
装置の正常運転ひいては高精度・高効率の画像診断を行
える。
このように本発明によれば、ヒステリシス特性の低減を
図り得るＸ線検出器、および、それを用いて画質の向上
を図り得るＸｖＡＣＴスキャナ装置を提供することがで
きる。
図り得るＸ線検出器、および、それを用いて画質の向上
を図り得るＸｖＡＣＴスキャナ装置を提供することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明にかかるＸ線検出器の第１の実施例の構
戊を示す図、第２図は本発明にかかるＸ線検出器の第２
の丈施例の構或を示す図、第３図は本発明にかかるＸ線
ＣＴスキャナ装置の一実施例の構成を示すブロック図、
第４図は第３図における制御系の一例を示すブロック図
、第５図は第３図における制御系の他の例を示すブロッ
ク図、第６図は従来のＸ線検出器の一例の構戊を示す図
、第７図は従来のＸ線検出器の他の例の構戊を示す図で
ある １０・・・基板、１２・・・フォトダイオード、１４．
２０・・・シンチレー夕、２０Ａ・・・延長部、１６・
・・コリメー夕板、２２・・・面発光素子、２４Ａ，２
４Ｂ・・・コリメータ支持部材、２６・・・光源、２８
・・・四面鏡、３０・・・光発生器、ＤＥＴ・・・Ｘ線
検出器、３２・・・データ収集系（ＤＡＳ：ＤａｔａＡ
ｃｑｕｌｓｌＬＩｏｎ Ｓｙｓｔｅｌｍ） 、３ ４−
・・高速再構成ユニッ｝ （ Ｆ Ｒ
Ｕ ： Ｐａｓｔ Ｒｅｃｏｎｓｔｒ
ｕｃｔ１ｏｎ Ｕｎｉｔ）３６・・・ディスプレイ
、３８・・・輛休身制御系、３８Ａ・・・ホストコンピ
ュータ、３８Ｂ・・・スキャン制御器、３８Ｃ・・・コ
ンソール、３８Ｄ・・・光発生器の駆動制御器、３８Ｅ
・・・付加機能制御器。
戊を示す図、第２図は本発明にかかるＸ線検出器の第２
の丈施例の構或を示す図、第３図は本発明にかかるＸ線
ＣＴスキャナ装置の一実施例の構成を示すブロック図、
第４図は第３図における制御系の一例を示すブロック図
、第５図は第３図における制御系の他の例を示すブロッ
ク図、第６図は従来のＸ線検出器の一例の構戊を示す図
、第７図は従来のＸ線検出器の他の例の構戊を示す図で
ある １０・・・基板、１２・・・フォトダイオード、１４．
２０・・・シンチレー夕、２０Ａ・・・延長部、１６・
・・コリメー夕板、２２・・・面発光素子、２４Ａ，２
４Ｂ・・・コリメータ支持部材、２６・・・光源、２８
・・・四面鏡、３０・・・光発生器、ＤＥＴ・・・Ｘ線
検出器、３２・・・データ収集系（ＤＡＳ：ＤａｔａＡ
ｃｑｕｌｓｌＬＩｏｎ Ｓｙｓｔｅｌｍ） 、３ ４−
・・高速再構成ユニッ｝ （ Ｆ Ｒ
Ｕ ： Ｐａｓｔ Ｒｅｃｏｎｓｔｒ
ｕｃｔ１ｏｎ Ｕｎｉｔ）３６・・・ディスプレイ
、３８・・・輛休身制御系、３８Ａ・・・ホストコンピ
ュータ、３８Ｂ・・・スキャン制御器、３８Ｃ・・・コ
ンソール、３８Ｄ・・・光発生器の駆動制御器、３８Ｅ
・・・付加機能制御器。
Claims (6)
- （１）少なくとも、シンチレータ、光／電気変換手段を
含むＸ線検出器において、前記シンチレータとして前記
光／電気変換手段に対面しない延長部を形成したものを
用いると共に、該延長部に発光手段を設けたことを特徴
とするＸ線検出器。 - （２）少なくとも、シンチレータ、光／電気変換手段、
コリメータ、コリメータ支持部材を含むＸ線検出器にお
いて、前記コリメータ支持部材として透明材質のものを
用いると共に、該支持部材の側方に発光手段を設けたこ
とを特徴とするＸ線検出器。 - （３）前記支持部材は光学素子として形成されているこ
とを特徴とする請求項２に記載のＸ線検出器。 - （４）少なくとも、Ｘ線検出系、データ収集系、画像再
構成系、表示系、制御系を含むＸ線ＣＴスキャナ装置に
おいて、前記Ｘ線検出系として請求項１記載のものを用
いると共に、前記発光手段をスキャン休止時間に駆動す
る駆動制御手段を具備したことを特徴とするＸ線ＣＴス
キャナ装置。 - （５）少なくとも、Ｘ線検出系、データ収集系、画像再
構成系、表示系、制御系を含むＸ線ＣＴスキャナ装置に
おいて、前記Ｘ線検出系として請求項１記載のものを用
いると共に、前記発光手段をスキャン休止時間に駆動す
る駆動制御手段と、前記駆動制御手段を駆動したときの
前記Ｘ線検出系の出力に基づき、スキャンしたときの前
記Ｘ線検出系の出力を補正する手段とを具備したことを
特徴とするＸ線ＣＴスキャナ装置。 - （６）少なくとも、Ｘ線検出系、データ収集系、画像再
構成系、表示系、制御系を含むＸ線ＣＴスキャナ装置に
おいて、前記Ｘ線検出系として請求項１記載のものを用
いると共に、前記発光手段をスキャン休止時間に駆動す
る駆動制御手段と、スキャンしたときの前記Ｘ線検出系
の出力及び前記駆動制御手段を駆動したときの前記Ｘ線
検出系の出力のうち少なくとも一方に基づき、前記Ｘ線
検出系、前記データ収集系のうち少なくとも一方の動作
チェックを行う手段とを具備したことを特徴とするＸ線
ＣＴスキャナ装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1158801A JPH0619441B2 (ja) | 1989-06-21 | 1989-06-21 | Ｘ線検出器およびｘ線ｃｔスキャナ装置 |
| US07/540,328 US5025462A (en) | 1989-06-21 | 1990-06-19 | X-ray detector having function of compensating for sensitivity of scintillator |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1158801A JPH0619441B2 (ja) | 1989-06-21 | 1989-06-21 | Ｘ線検出器およびｘ線ｃｔスキャナ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0324492A true JPH0324492A (ja) | 1991-02-01 |
| JPH0619441B2 JPH0619441B2 (ja) | 1994-03-16 |
Family
ID=15679651
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1158801A Expired - Lifetime JPH0619441B2 (ja) | 1989-06-21 | 1989-06-21 | Ｘ線検出器およびｘ線ｃｔスキャナ装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5025462A (ja) |
| JP (1) | JPH0619441B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002034135A1 (en) * | 2000-10-25 | 2002-05-02 | Hitachi Medical Corporation | X-ray image diagnosis apparatus |
| JP2008256675A (ja) * | 2007-03-13 | 2008-10-23 | Canon Inc | 放射線撮像装置、その制御方法、及びプログラム |
| JP2010523997A (ja) * | 2007-04-12 | 2010-07-15 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | シンチレータの空間利得分布の決定 |
| JP2010276580A (ja) * | 2009-06-01 | 2010-12-09 | Canon Inc | 放射線撮影装置及びその制御方法 |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1139872A (zh) * | 1994-02-03 | 1997-01-08 | 模拟公司 | 层析x射线照相装置的模式化检测装置 |
| US5668851A (en) * | 1996-06-21 | 1997-09-16 | Analogic Corporation | X-ray Tomography system with stabilized detector response |
| US5781606A (en) * | 1996-07-25 | 1998-07-14 | Analogic Corporation | X-ray tomography system with substantially continuous radiation detection zone |
| US5757878A (en) * | 1996-08-16 | 1998-05-26 | Analogic Corporation | Detector arrangement for x-ray tomography system |
| US5912938A (en) * | 1996-10-07 | 1999-06-15 | Analogic Corporation | Tomography system having detectors optimized for parallel beam image reconstruction |
| US7112798B2 (en) * | 2003-12-23 | 2006-09-26 | General Electric Company | Tailorable CT-detector assembly |
| US7773270B2 (en) * | 2004-01-07 | 2010-08-10 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Image scanner feature detection |
| JP5049739B2 (ja) * | 2006-11-01 | 2012-10-17 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置 |
| RU2472180C2 (ru) * | 2007-04-12 | 2013-01-10 | Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. | Уменьшение эффектов захвата в сцинтилляторе за счет применения вторичного излучения |
| US9664799B2 (en) * | 2013-06-14 | 2017-05-30 | University Of Tennessee Research Foundation | Radiation detector for imaging applications with stabilized light output |
| EP3404447B1 (de) * | 2017-05-17 | 2019-08-14 | Siemens Healthcare GmbH | Röntgendetektor aufweisend eine lichtquelle am trägerelement |
| EP3835829A1 (en) * | 2019-12-09 | 2021-06-16 | Koninklijke Philips N.V. | X-ray detector |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4543490A (en) * | 1983-08-15 | 1985-09-24 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | High density detector array with replaceable sections |
-
1989
- 1989-06-21 JP JP1158801A patent/JPH0619441B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-06-19 US US07/540,328 patent/US5025462A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002034135A1 (en) * | 2000-10-25 | 2002-05-02 | Hitachi Medical Corporation | X-ray image diagnosis apparatus |
| US6885725B2 (en) | 2000-10-25 | 2005-04-26 | Hitachi Medical Corporation | X-ray image diagnosis apparatus |
| JP2008256675A (ja) * | 2007-03-13 | 2008-10-23 | Canon Inc | 放射線撮像装置、その制御方法、及びプログラム |
| JP2010523997A (ja) * | 2007-04-12 | 2010-07-15 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | シンチレータの空間利得分布の決定 |
| JP2010276580A (ja) * | 2009-06-01 | 2010-12-09 | Canon Inc | 放射線撮影装置及びその制御方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0619441B2 (ja) | 1994-03-16 |
| US5025462A (en) | 1991-06-18 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0324492A (ja) | Ｘ線検出器およびｘ線ｃｔスキャナ装置 | |
| US5592523A (en) | Two dimensional detector array for CT scanners | |
| AU685139B2 (en) | Improved X-ray volumetric CT scanner | |
| US7233640B2 (en) | CT detector having an optical mask layer | |
| JP4547254B2 (ja) | 画像アーティファクトを減少させる装置及び方法 | |
| JP3684010B2 (ja) | 放射線検出装置 | |
| JP4437609B2 (ja) | Ｘ線画像診断装置 | |
| JPH08308829A (ja) | デジタルパノラマｘ線撮影装置 | |
| US6498828B2 (en) | System and method of computer tomography imaging using a cerium doped lutetium orthosilicate scintillator | |
| JPH0370435B2 (ja) | ||
| US6701000B1 (en) | Solution to detector lag problem in a solid state detector | |
| US7601962B2 (en) | Systems and methods for reading data | |
| JPH11183628A (ja) | 放射線検出器の検査方法および装置並びに放射線断層撮影装置 | |
| JP2015049127A (ja) | 検出器モジュール製造方法、検出器モジュール及び医用画像診断装置 | |
| US5627381A (en) | Optimized storage phosphor erase time | |
| US5633510A (en) | Storage phosphor reader calibration technique | |
| GB2061055A (en) | Imaging system | |
| JP2015049126A (ja) | 検出器モジュール製造方法、検出器モジュール及び医用画像診断装置 | |
| JP2004125722A (ja) | 放射線検出器及びこれを用いたｘ線ｃｔ装置 | |
| JPS63154983A (ja) | 放射線検出器 | |
| US5578835A (en) | Storage phosphor reader calibration technique | |
| JPH05126957A (ja) | 角形シンチレーシヨンカメラ型ポジトロンｃｔ装置 | |
| JP3265035B2 (ja) | コンピュータ断層撮影装置 | |
| JP2015049123A (ja) | 検出器モジュール製造方法、検出器モジュール及び医用画像診断装置 | |
| US7046763B2 (en) | Field and factory testable imaging detector |