JPH0324604B2 - - Google Patents
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- JPH0324604B2 JPH0324604B2 JP57171383A JP17138382A JPH0324604B2 JP H0324604 B2 JPH0324604 B2 JP H0324604B2 JP 57171383 A JP57171383 A JP 57171383A JP 17138382 A JP17138382 A JP 17138382A JP H0324604 B2 JPH0324604 B2 JP H0324604B2
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
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Description
〔発明の技術分野〕
本発明は、連続して搬送される被検査物にＸ線
を照射し、その透視画像データから欠陥品を検出
するＸ線欠陥装置に関する。 〔発明の技術的背景とその問題点〕 従来、定形容器に収納された食品等の被検査物
内の異物検出は、例えばＸ線透視画像の目視判定
により行なわれていた。この場合、検査精度は、
目視検査員の検査能力に負うところ大であり、検
査スピードにも大きく影響される。したがつて、
検査スピードにも、検査精度にも限りがあつた。 また、予め基準パターンをメモリしておき、こ
の基準パターンと順次検査される被検査物のパタ
ーンとを比較する検査方法もある。この場合、精
度の向上、スピードアツプ等で有効であるが、予
め基準パターンを複数個記憶するために十分な容
量のメモリを必要とする、また被検査物の形状等
が異なつた場合の基準パターン選定手段等を必要
とし、複雑な構成となつていた。 〔発明の目的〕 本発明の目的は、大きな容量のメモリを必要と
することなく、簡単な構成で、精度よくかつ速や
かに被検査物の欠陥を自動判定することが可能な
Ｘ線欠陥装置を提供することにある。 ［発明の概要］ 上記の目的を達成するために本発明のＸ線欠陥
装置は、一方向のみに広がりを持ち、その方向と
直角な方向に薄い扇状のＸ線を放射するＸ線発生
装置と、Ｘ線発生装置と対向して配設され、その
扇状Ｘ線の広がり方向に長い視野を有するＸ線ラ
インセンサと、Ｘ線ラインセンサの視野内に被検
査物を連続的に通過させる搬送装置と、Ｘ線ライ
ンセンサからの透視データから被検査物の始端を
検知する検出手段と、検出手段からの被検査物始
端を基準に、異なる被検査物の透視画像データ同
志を比較して差信号を出力する減算器と、減算器
からの差信号を２値化した信号に変換するレベル
判定器と、レベル判定器からの差信号を入力し、
一定値以上の面積を有する信号のみ出力する面積
測定器と、面積測定器からの信号と検出手段から
の被検査物の到来信号とから欠陥品を判定する欠
陥品判定ユニツトとを備えて構成し、順次到来す
る被検査物から得られる透視画像データ同志を減
算して欠陥を検出するようにしている。 〔発明の実施例〕 以下、本発明の一実施例につき、第１図乃至第
５図を参照して説明する。 １０はＸ線発生装置で、Ｘ線管１１とフアンビ
ームコリメータ１２とから構成され、一方向のみ
に広がりを持ち、その方向と直角な方向に薄い扇
状のＸ線１３を放射するものである。 このＸ線１３は、第４図に示すように搬送装置
１４上の被検査物１５は、その搬送方向に直交す
るように放射されている。１６はＸ線ラインセン
サで、前記扇状のＸ線１３を受けるのに十分な広
がりをもつ細長い視野を有している。このＸ線ラ
インセンサの出力は、搬送装置１４の移動量を検
出するエンコーダ１７からの信号が供給される制
御装置１８により制御される画像処理装置２０に
供給されている。 この画像処理装置は、第３図に示すように構成
されている。 ２１は、前記Ｘ線ラインセンサ１６で電気信号
に変換された被検査物１５の透視画像データを
AD変換するADCである。このADC２１の出力
は、レベル判定器２２及びビデオSW２３へ供給
されている。このレベル判定器２２は、被検査物
１５の始端を検出し、ビデオSW２３を閉じる働
きをする。すなわち、被検査物１５がＸ線視野内
に到来すると、Ｘ線ラインセンサ１６に入射する
Ｘ線量が減少するので、Ｘ線量減少時点をもつて
被検査物１５の到来と判断し、ビデオSW２３を
閉じ被検査物１５の透視画像データを後段に送出
させる。 このビデオSW２３の出力は、メモリ２５ａ、
メモリ２５ｂ及び減算器２６へ供給されている。
この両メモリ２５ａ，２５ｂはメモリ制御部２４
により制御されている。このメモリ制御部２４
は、前記レベル判定器２２からの被検査物始端信
号及び前記制御装置１８を介して供給される搬送
装置１４の移動量信号から、前記両メモリ２５
ａ，２５ｂを制御するものである。すなわち、こ
のメモリ制御部２４は、一定移動量毎に前記Ｘ線
ラインセンサ１６の１ライン毎の透視画像データ
を前記メモリ２５ａもしくはメモリ２５ｂへの書
込みを行なわせるものである。 また、前記減算器２６は、ビデオBW２３を通
過した透視画像データと、前記メモリ２５ａ，２
５ｂにメモリされた前回の透視画像データとを減
算するものである。このメモリ２５ａ，２５ｂの
読出しは、前記メモリ制御部２４の信号により行
なわれる。この際の読出し開始は、前記レベル判
定器２２からの被検査物始端信号を受け行なわれ
る。 また、この減算器２６の差信号は、レベル判定
器２７を介して面積測定器２８に供給される。こ
の面積測定器２８は、小面積部を除去し、ある一
定以上の面積をもつデータのみ欠陥品判定ユニツ
ト２９へ送出するものである。すなわち、この面
積測定器２８は、被検査物１５の小さなバラつき
や、ライン走査間隔分のずれ等の誤差分を除去す
る役目をするものである。 また、前記欠陥品判定ユニツト２９は、前記レ
ベル判定器２２からの被検査物１５到来信号及び
面積測定器２８からの出力信号で、下表１の論理
にしたがい欠陥品の判定を行なう。
を照射し、その透視画像データから欠陥品を検出
するＸ線欠陥装置に関する。 〔発明の技術的背景とその問題点〕 従来、定形容器に収納された食品等の被検査物
内の異物検出は、例えばＸ線透視画像の目視判定
により行なわれていた。この場合、検査精度は、
目視検査員の検査能力に負うところ大であり、検
査スピードにも大きく影響される。したがつて、
検査スピードにも、検査精度にも限りがあつた。 また、予め基準パターンをメモリしておき、こ
の基準パターンと順次検査される被検査物のパタ
ーンとを比較する検査方法もある。この場合、精
度の向上、スピードアツプ等で有効であるが、予
め基準パターンを複数個記憶するために十分な容
量のメモリを必要とする、また被検査物の形状等
が異なつた場合の基準パターン選定手段等を必要
とし、複雑な構成となつていた。 〔発明の目的〕 本発明の目的は、大きな容量のメモリを必要と
することなく、簡単な構成で、精度よくかつ速や
かに被検査物の欠陥を自動判定することが可能な
Ｘ線欠陥装置を提供することにある。 ［発明の概要］ 上記の目的を達成するために本発明のＸ線欠陥
装置は、一方向のみに広がりを持ち、その方向と
直角な方向に薄い扇状のＸ線を放射するＸ線発生
装置と、Ｘ線発生装置と対向して配設され、その
扇状Ｘ線の広がり方向に長い視野を有するＸ線ラ
インセンサと、Ｘ線ラインセンサの視野内に被検
査物を連続的に通過させる搬送装置と、Ｘ線ライ
ンセンサからの透視データから被検査物の始端を
検知する検出手段と、検出手段からの被検査物始
端を基準に、異なる被検査物の透視画像データ同
志を比較して差信号を出力する減算器と、減算器
からの差信号を２値化した信号に変換するレベル
判定器と、レベル判定器からの差信号を入力し、
一定値以上の面積を有する信号のみ出力する面積
測定器と、面積測定器からの信号と検出手段から
の被検査物の到来信号とから欠陥品を判定する欠
陥品判定ユニツトとを備えて構成し、順次到来す
る被検査物から得られる透視画像データ同志を減
算して欠陥を検出するようにしている。 〔発明の実施例〕 以下、本発明の一実施例につき、第１図乃至第
５図を参照して説明する。 １０はＸ線発生装置で、Ｘ線管１１とフアンビ
ームコリメータ１２とから構成され、一方向のみ
に広がりを持ち、その方向と直角な方向に薄い扇
状のＸ線１３を放射するものである。 このＸ線１３は、第４図に示すように搬送装置
１４上の被検査物１５は、その搬送方向に直交す
るように放射されている。１６はＸ線ラインセン
サで、前記扇状のＸ線１３を受けるのに十分な広
がりをもつ細長い視野を有している。このＸ線ラ
インセンサの出力は、搬送装置１４の移動量を検
出するエンコーダ１７からの信号が供給される制
御装置１８により制御される画像処理装置２０に
供給されている。 この画像処理装置は、第３図に示すように構成
されている。 ２１は、前記Ｘ線ラインセンサ１６で電気信号
に変換された被検査物１５の透視画像データを
AD変換するADCである。このADC２１の出力
は、レベル判定器２２及びビデオSW２３へ供給
されている。このレベル判定器２２は、被検査物
１５の始端を検出し、ビデオSW２３を閉じる働
きをする。すなわち、被検査物１５がＸ線視野内
に到来すると、Ｘ線ラインセンサ１６に入射する
Ｘ線量が減少するので、Ｘ線量減少時点をもつて
被検査物１５の到来と判断し、ビデオSW２３を
閉じ被検査物１５の透視画像データを後段に送出
させる。 このビデオSW２３の出力は、メモリ２５ａ、
メモリ２５ｂ及び減算器２６へ供給されている。
この両メモリ２５ａ，２５ｂはメモリ制御部２４
により制御されている。このメモリ制御部２４
は、前記レベル判定器２２からの被検査物始端信
号及び前記制御装置１８を介して供給される搬送
装置１４の移動量信号から、前記両メモリ２５
ａ，２５ｂを制御するものである。すなわち、こ
のメモリ制御部２４は、一定移動量毎に前記Ｘ線
ラインセンサ１６の１ライン毎の透視画像データ
を前記メモリ２５ａもしくはメモリ２５ｂへの書
込みを行なわせるものである。 また、前記減算器２６は、ビデオBW２３を通
過した透視画像データと、前記メモリ２５ａ，２
５ｂにメモリされた前回の透視画像データとを減
算するものである。このメモリ２５ａ，２５ｂの
読出しは、前記メモリ制御部２４の信号により行
なわれる。この際の読出し開始は、前記レベル判
定器２２からの被検査物始端信号を受け行なわれ
る。 また、この減算器２６の差信号は、レベル判定
器２７を介して面積測定器２８に供給される。こ
の面積測定器２８は、小面積部を除去し、ある一
定以上の面積をもつデータのみ欠陥品判定ユニツ
ト２９へ送出するものである。すなわち、この面
積測定器２８は、被検査物１５の小さなバラつき
や、ライン走査間隔分のずれ等の誤差分を除去す
る役目をするものである。 また、前記欠陥品判定ユニツト２９は、前記レ
ベル判定器２２からの被検査物１５到来信号及び
面積測定器２８からの出力信号で、下表１の論理
にしたがい欠陥品の判定を行なう。
【表】
（ただし、アルフアベツトは第３図に示す各部の
信号を示し、また算用数字は被検査物の番号であ
る。） 次に、第４図及び第５図を用いてライン毎のＸ
線データ及び各ラインの走査についての説明をす
る。 第４図はＸ線１３の各ライン毎の被検査物１５
の透視画像データを説明するもので、符号１，２
…ｎ、ｎ＋１は、Ｘ線のライン番号を示し、符号
１′，２′…n′，n′＋１は各ライン毎の透過画像デ
ータの波形を示すものである。図中、Ａは被測定
物１５内に混入された異物で、またａはその異物
Ａ部分のデータを示している。 また、波形３′は被検査物１５の始端がＸ線視
野内に到来したときの波形で、前記レベル判定器
２２は、この波形３′から被検査物１５の始端を
検出し、前記ビデオSW２３を閉じる。 また、波形７′には、異物Ａのデータａが示さ
れている。したがつて、この波形７′のデーータ
と、前回のこの波形７′に相当する被検査物デー
タとが前記減算器２６で減算されることにより異
物Ａの存在が検出される。 また、第５図は各ラインの走査について示した
もので、(a)は前記エンコーダ１７からの搬送装置
１４の移動量に相当するパルス信号を示すもので
あり、(b)はこのエンコーダ１７からの信号を受
け、一定移動量毎に前記制御装置１８から前記Ｘ
線ラインセンサ１６へ送出される走査パルスを示
すものである。また、(c)はこの走査パルスを受け
たＸ線ラインセンサ１６の各ライン毎の透視画像
データを示すものである。 また、１つの被検査物に対するライン数は、そ
の被検査物の大きさ等により一義的に決定しても
良いし、前記レベル判定器２２により被検査物終
端を検知することにより、１つの被検査物１５の
データ取込みを終了するようにしても良い。 なお、第６図に示すようにＸ線発生装置６０か
ら２本の扇状のＸ線６２，６３を被検査物１５の
搬送路に照射し、同時に２個の被検査物１５，１
５から透視画像データを得、両者を減算しても前
記一実施例同様の効果を得ることができる。すな
わち、夫々のＸ線６２，６３に対向し細長い２つ
のＸ線ラインセンサ６４，６５を配置し、各Ｘ線
透過量を電気信号に変換し、前記同様レベル判定
器２２（図示せず）からの被検査物始端信号をも
とに減算器２６により減算することにより欠陥検
出を行なうことができる。尚、６６は両センサ６
４，６５の感度を補正するための感度補正回路で
あり、その他は、前記実施例と同様に構成される
ものである。 本実施例は以上のように構成したので、以下の
如く多大の効果を奏する。 (1) Ｘ線ラインセンサを使用し被検査物の進行方
向に対し直角に信号を取り出すように構成した
ので、被検査物の到来を検知し透視画像データ
の取込みを制御することが可能となつた。 (2) 面積測定器で小面積の透視画像データ部分を
除去しているため、被検査物個々の多少のばら
つきやライン走査間隔分のずれによる誤動作が
なくなり、適正に欠陥品の判定ができる。 (3) 前回データと次回データとの比較で欠陥判定
を行なわせているため、複雑な辞書パターンの
記憶が不要となる。 (4) 同一チヤンネル同志で比較判定を行なうた
め、チヤンネル間の感度較正を必要としない。 (5) 被検査物の始端、終端で透視画像データの開
始、終了を検知することが可能となるので、メ
モリ量を大幅に少なくでき、かつノイズ混入確
率も少なくなる。 以上説明したように本発明によれば、大きな容
量のメモリを必要とすることなく、簡単な構成
で、精度よくかつ速やかに被検査物の欠陥を自動
判定することが可能なＸ線欠陥装置が提供でき
る。
信号を示し、また算用数字は被検査物の番号であ
る。） 次に、第４図及び第５図を用いてライン毎のＸ
線データ及び各ラインの走査についての説明をす
る。 第４図はＸ線１３の各ライン毎の被検査物１５
の透視画像データを説明するもので、符号１，２
…ｎ、ｎ＋１は、Ｘ線のライン番号を示し、符号
１′，２′…n′，n′＋１は各ライン毎の透過画像デ
ータの波形を示すものである。図中、Ａは被測定
物１５内に混入された異物で、またａはその異物
Ａ部分のデータを示している。 また、波形３′は被検査物１５の始端がＸ線視
野内に到来したときの波形で、前記レベル判定器
２２は、この波形３′から被検査物１５の始端を
検出し、前記ビデオSW２３を閉じる。 また、波形７′には、異物Ａのデータａが示さ
れている。したがつて、この波形７′のデーータ
と、前回のこの波形７′に相当する被検査物デー
タとが前記減算器２６で減算されることにより異
物Ａの存在が検出される。 また、第５図は各ラインの走査について示した
もので、(a)は前記エンコーダ１７からの搬送装置
１４の移動量に相当するパルス信号を示すもので
あり、(b)はこのエンコーダ１７からの信号を受
け、一定移動量毎に前記制御装置１８から前記Ｘ
線ラインセンサ１６へ送出される走査パルスを示
すものである。また、(c)はこの走査パルスを受け
たＸ線ラインセンサ１６の各ライン毎の透視画像
データを示すものである。 また、１つの被検査物に対するライン数は、そ
の被検査物の大きさ等により一義的に決定しても
良いし、前記レベル判定器２２により被検査物終
端を検知することにより、１つの被検査物１５の
データ取込みを終了するようにしても良い。 なお、第６図に示すようにＸ線発生装置６０か
ら２本の扇状のＸ線６２，６３を被検査物１５の
搬送路に照射し、同時に２個の被検査物１５，１
５から透視画像データを得、両者を減算しても前
記一実施例同様の効果を得ることができる。すな
わち、夫々のＸ線６２，６３に対向し細長い２つ
のＸ線ラインセンサ６４，６５を配置し、各Ｘ線
透過量を電気信号に変換し、前記同様レベル判定
器２２（図示せず）からの被検査物始端信号をも
とに減算器２６により減算することにより欠陥検
出を行なうことができる。尚、６６は両センサ６
４，６５の感度を補正するための感度補正回路で
あり、その他は、前記実施例と同様に構成される
ものである。 本実施例は以上のように構成したので、以下の
如く多大の効果を奏する。 (1) Ｘ線ラインセンサを使用し被検査物の進行方
向に対し直角に信号を取り出すように構成した
ので、被検査物の到来を検知し透視画像データ
の取込みを制御することが可能となつた。 (2) 面積測定器で小面積の透視画像データ部分を
除去しているため、被検査物個々の多少のばら
つきやライン走査間隔分のずれによる誤動作が
なくなり、適正に欠陥品の判定ができる。 (3) 前回データと次回データとの比較で欠陥判定
を行なわせているため、複雑な辞書パターンの
記憶が不要となる。 (4) 同一チヤンネル同志で比較判定を行なうた
め、チヤンネル間の感度較正を必要としない。 (5) 被検査物の始端、終端で透視画像データの開
始、終了を検知することが可能となるので、メ
モリ量を大幅に少なくでき、かつノイズ混入確
率も少なくなる。 以上説明したように本発明によれば、大きな容
量のメモリを必要とすることなく、簡単な構成
で、精度よくかつ速やかに被検査物の欠陥を自動
判定することが可能なＸ線欠陥装置が提供でき
る。
第１図乃至第５図は本発明の一実施例を説明す
るためのもので、第１図は概略構成を示す平面
図、第２図は同側面図、第３図は回路構成図、第
４図は各チヤンネル毎の透視画像データを示す説
明図、第５図はＸ線ラインセンサの走査周期を説
明するための波形図、第６図は本発明の他の実施
例を示す概略構成図である。 １０，６０……Ｘ線発生装置、１３，６２，６
３……Ｘ線、１４……搬送装置、１５……被検査
物、１６，６４，６５……Ｘ線ラインセンサ、２
０……画像処理装置、２２……レベル判定器、２
４……メモリ制御部、２５ａ，２５ｂ……メモ
リ、２６……減算器、２７……レベル判定器、２
８……面積測定器、２９……欠陥品判定ユニツ
ト。
るためのもので、第１図は概略構成を示す平面
図、第２図は同側面図、第３図は回路構成図、第
４図は各チヤンネル毎の透視画像データを示す説
明図、第５図はＸ線ラインセンサの走査周期を説
明するための波形図、第６図は本発明の他の実施
例を示す概略構成図である。 １０，６０……Ｘ線発生装置、１３，６２，６
３……Ｘ線、１４……搬送装置、１５……被検査
物、１６，６４，６５……Ｘ線ラインセンサ、２
０……画像処理装置、２２……レベル判定器、２
４……メモリ制御部、２５ａ，２５ｂ……メモ
リ、２６……減算器、２７……レベル判定器、２
８……面積測定器、２９……欠陥品判定ユニツ
ト。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 一方向のみに広がりを持ち、その方向と直角
な方向に薄い扇状のＸ線を放射するＸ線発生装置
と、 前記Ｘ線発生装置と対向して配設され、その扇
状Ｘ線の広がり方向に長い視野を有するＸ線ライ
ンセンサと、 前記Ｘ線ラインセンサの視野内に被検査物を連
続的に通過させる搬送装置と、 前記Ｘ線ラインセンサからの透視データから被
検査物の始端を検知する検出手段と、 前記検出手段からの被検査物始端を基準に、異
なる被検査物の透視画像データ同志を比較して差
信号を出力する減算器と、 前記減算器からの差信号を２値化した信号に変
換するレベル判定器と、 前記レベル判定器からの差信号を入力し、一定
値以上の面積を有する信号のみ出力する面積測定
器と、 前記面積測定器からの信号と前記検出手段から
の被検査物の到来信号とから欠陥品を判定する欠
陥品判定ユニツトと、 を備えて成ることを特徴とするＸ線欠陥装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57171383A JPS5960345A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | Ｘ線欠陥装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57171383A JPS5960345A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | Ｘ線欠陥装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5960345A JPS5960345A (ja) | 1984-04-06 |
| JPH0324604B2 true JPH0324604B2 (ja) | 1991-04-03 |
Family
ID=15922155
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57171383A Granted JPS5960345A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | Ｘ線欠陥装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5960345A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4980902A (en) * | 1985-12-30 | 1990-12-25 | Measurex Corporation | Aperture measuring system for cord reinforced tire fabric |
| JP2009270866A (ja) * | 2008-05-01 | 2009-11-19 | Ishida Co Ltd | Ｘ線検査装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3028942A1 (de) * | 1980-07-30 | 1982-02-18 | Krones Ag Hermann Kronseder Maschinenfabrik, 8402 Neutraubling | Verfahren und inspektionsgeraet zum inspizieren eines gegenstandes, insbesondere einer flasche |
-
1982
- 1982-09-30 JP JP57171383A patent/JPS5960345A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5960345A (ja) | 1984-04-06 |
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