JPH03246902A - 正特性サーミスタの製造方法 - Google Patents
正特性サーミスタの製造方法Info
- Publication number
- JPH03246902A JPH03246902A JP4374690A JP4374690A JPH03246902A JP H03246902 A JPH03246902 A JP H03246902A JP 4374690 A JP4374690 A JP 4374690A JP 4374690 A JP4374690 A JP 4374690A JP H03246902 A JPH03246902 A JP H03246902A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- molded body
- ptc thermistor
- thermistor
- atmosphere
- ptc
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Thermistors And Varistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
糸寒よL剋■至1
本発明はPTCサーミスタの製造方法に関し、より詳細
には消磁電流の制御等に使用されるPTCサーミスタの
製造方法に関する。
には消磁電流の制御等に使用されるPTCサーミスタの
製造方法に関する。
正反Ω弦迷
従来この種のPTCサーミスタは、消磁電流を制御する
ための消磁素子等に利用されており、第7図は、特開昭
63−58902号公報において開示されているこの種
の消磁素子30の断面図を示している。
ための消磁素子等に利用されており、第7図は、特開昭
63−58902号公報において開示されているこの種
の消磁素子30の断面図を示している。
消磁素子30において、31は第1のPTCサーミスタ
であって、その両側面には電極32a、32bが形成さ
れており、キュリー点は50°Cに設定されている。P
TCサーミスタ31の側方には第2のPTCサーミスタ
33が並設され、第2のPTCサーミスタ33の両側面
には電極34a、34bが形成され、キュリー点は12
0°Cに設定されている。そして、相対向する電極面3
2bと34aとの間にはリード端子35が介装され、半
田38で固着されている。また、PTCサーミスタ31
の別の電極面32aにはリード端子36が、PTCサー
ミスタ33の別の電極面34bにはリード端子37がそ
れぞれ半田38によって固着されている。そして、これ
ら2個のPTCサーミスタ31.33は外周部を絶縁性
の樹脂39によって覆われている。
であって、その両側面には電極32a、32bが形成さ
れており、キュリー点は50°Cに設定されている。P
TCサーミスタ31の側方には第2のPTCサーミスタ
33が並設され、第2のPTCサーミスタ33の両側面
には電極34a、34bが形成され、キュリー点は12
0°Cに設定されている。そして、相対向する電極面3
2bと34aとの間にはリード端子35が介装され、半
田38で固着されている。また、PTCサーミスタ31
の別の電極面32aにはリード端子36が、PTCサー
ミスタ33の別の電極面34bにはリード端子37がそ
れぞれ半田38によって固着されている。そして、これ
ら2個のPTCサーミスタ31.33は外周部を絶縁性
の樹脂39によって覆われている。
第8図は、上記構成の消磁素子の一使用例を示した回路
図である。
図である。
図中40は消磁用PTCサーミスタであって、カラーテ
レビジョン受像機におけるブラウン管の周囲に巻かれて
いる消磁コイル41と直列に接続され、ヒータ用PTC
サーミスタ42とは両者の間で熱伝達が行なわれるよう
に結合(以下、熱的に結合と表わす)されている。
レビジョン受像機におけるブラウン管の周囲に巻かれて
いる消磁コイル41と直列に接続され、ヒータ用PTC
サーミスタ42とは両者の間で熱伝達が行なわれるよう
に結合(以下、熱的に結合と表わす)されている。
PTCサーミスタは通常Ba Ti Osを主成分とす
る半導体セラミックスで構成され、その特性としである
温度(キュリー点)までは抵抗が低く、キュリー点以上
の温度で急激に抵抗が高くなる性質をもっている8ゆえ
に、このPTCサーミスタに電圧を印加すると、最初は
抵抗が低いので大きな電流が流れ、それにつれてPTC
サーミスタ自身は自己発熱を行ない温度が上昇する。こ
の温度上昇がキュリー点にまで達すると抵抗が急激に高
くなり、電流は減少して発熱量が少なくなるため、PT
Cサーミスタは熱平衡に達して安定する。
る半導体セラミックスで構成され、その特性としである
温度(キュリー点)までは抵抗が低く、キュリー点以上
の温度で急激に抵抗が高くなる性質をもっている8ゆえ
に、このPTCサーミスタに電圧を印加すると、最初は
抵抗が低いので大きな電流が流れ、それにつれてPTC
サーミスタ自身は自己発熱を行ない温度が上昇する。こ
の温度上昇がキュリー点にまで達すると抵抗が急激に高
くなり、電流は減少して発熱量が少なくなるため、PT
Cサーミスタは熱平衡に達して安定する。
すなわち、第8図において消磁コイル41に交流電圧を
印加すると、最初は抵抗が低いのて消ERコイル41に
は大きな電流が流れ、大きな交番磁界が発生する。また
、消磁用PTCサーミスタ40自身はこの流れ込んでく
る大きな電流によって自己発熱を行ない温度が上昇する
。この温度上昇がキュリー点に達すると、今度は抵抗が
急激に大きくなるため流れる電流は小さくなり、それに
つれて消磁コイル41において発生する磁界も小さくな
って消磁が行なわれる。
印加すると、最初は抵抗が低いのて消ERコイル41に
は大きな電流が流れ、大きな交番磁界が発生する。また
、消磁用PTCサーミスタ40自身はこの流れ込んでく
る大きな電流によって自己発熱を行ない温度が上昇する
。この温度上昇がキュリー点に達すると、今度は抵抗が
急激に大きくなるため流れる電流は小さくなり、それに
つれて消磁コイル41において発生する磁界も小さくな
って消磁が行なわれる。
また、これに同期してヒータ用PTCサーミスタ42に
も電圧が印加され、ヒータ用PTCサーミスタ42自身
も自己発熱を行なう。そして、このヒータ用PTCサー
ミスタ42の発した熱は消磁用PTCサーミスタ40に
伝わり、消磁用PTCサーミスタ40の熱平衡温度の上
昇を助長して、その抵抗値をますます大きくさせる。こ
のため、消磁用PTCサーミスタ40の熱平衡状態にお
ける電流の流れは少なくなり、安定状態における磁界が
より小さくなって消磁が促進される。
も電圧が印加され、ヒータ用PTCサーミスタ42自身
も自己発熱を行なう。そして、このヒータ用PTCサー
ミスタ42の発した熱は消磁用PTCサーミスタ40に
伝わり、消磁用PTCサーミスタ40の熱平衡温度の上
昇を助長して、その抵抗値をますます大きくさせる。こ
のため、消磁用PTCサーミスタ40の熱平衡状態にお
ける電流の流れは少なくなり、安定状態における磁界が
より小さくなって消磁が促進される。
このように、消磁用(消磁素子部)とヒータ用(ヒータ
素子部)と2個のPTCサーミスタ31.33より構成
される消磁素子30の製造方法は、従来消磁素子部形成
用成形体とヒータ素子部形成用成形体とを別々に焼成し
た後、熱的に結合させるというものであった。また、別
の製造方法として消磁素子部形成用成形体とヒータ素子
部形成用成形体とを組み合せて一体的に成形し、同時に
焼成する方法も試みられており、この方法は工程数が少
な(コストダウンを図る上で有利であった・ 明が?しようとする課題 ところが上記した従来の消磁素子30の構成にあっては
、1個の消磁素子30内に消磁用とヒータ用と2個のP
TCサーミスタ31.33を必要とするため、消磁素子
30の形状が大きくなり、設置する際に場所を取るばか
りでな(、コスト的にも高くつくといった課題があった
。
素子部)と2個のPTCサーミスタ31.33より構成
される消磁素子30の製造方法は、従来消磁素子部形成
用成形体とヒータ素子部形成用成形体とを別々に焼成し
た後、熱的に結合させるというものであった。また、別
の製造方法として消磁素子部形成用成形体とヒータ素子
部形成用成形体とを組み合せて一体的に成形し、同時に
焼成する方法も試みられており、この方法は工程数が少
な(コストダウンを図る上で有利であった・ 明が?しようとする課題 ところが上記した従来の消磁素子30の構成にあっては
、1個の消磁素子30内に消磁用とヒータ用と2個のP
TCサーミスタ31.33を必要とするため、消磁素子
30の形状が大きくなり、設置する際に場所を取るばか
りでな(、コスト的にも高くつくといった課題があった
。
また、消磁素子30の従来の製造方法において、消磁素
子部形成用成形体とヒータ素子部形成用成形体とを別々
に焼成した後、熱的に結合させるという方法では、製造
過程における工程数が多く手間が掛かり過ぎるといった
課題があった。
子部形成用成形体とヒータ素子部形成用成形体とを別々
に焼成した後、熱的に結合させるという方法では、製造
過程における工程数が多く手間が掛かり過ぎるといった
課題があった。
一方、上記画成形体を組み合わせて一体に成形した後、
同時に焼成する方法においては、前記画成形体の成分組
成が異なるため、各成形体に最適な焼成条件及び収縮率
がそれぞれ異なり、割れの発生を生じ、実際上同時焼成
は困難であるといった課題があった。
同時に焼成する方法においては、前記画成形体の成分組
成が異なるため、各成形体に最適な焼成条件及び収縮率
がそれぞれ異なり、割れの発生を生じ、実際上同時焼成
は困難であるといった課題があった。
また、Ba Ti O3系PTCサーミスタは、焼成条
件によって大きくその特性が変化する。特に、低融点を
有する添加物(Pb等)は、焼成中に飛散して作成され
るPTCサーミスタの表面と内側とにおいて組成ずれを
起こす。このように、キュリー点のシフタでもあるPb
等が飛散することによって、PTCサーミスタの本来の
特性に変化が生してしまうといった課題があった。
件によって大きくその特性が変化する。特に、低融点を
有する添加物(Pb等)は、焼成中に飛散して作成され
るPTCサーミスタの表面と内側とにおいて組成ずれを
起こす。このように、キュリー点のシフタでもあるPb
等が飛散することによって、PTCサーミスタの本来の
特性に変化が生してしまうといった課題があった。
本発明は上記した課題に鑑み発明されたものであって、
1個のPTCサーミスタに消磁機能とヒータ機能を備え
、小形化が図られたPTCザーミスタの効率的な製造方
法を提供することを目的としている。
1個のPTCサーミスタに消磁機能とヒータ機能を備え
、小形化が図られたPTCザーミスタの効率的な製造方
法を提供することを目的としている。
課題を解決するための 段
上記した目的を達成するために本発明に係るPTCザー
ミスクの製造方法は、 平板部を構成する磁器素体の一部分と他の部分とがキュ
リー点を異にする平板形のPTCサーミスタの製造方法
において、Ba Ti 03系磁器の仮焼粉の成形体を
キュリー点のシフタ元素を含む雰囲気中で焼成すること
を特徴とし、 また、平板部を構成する磁器素体の一部分と他の部分と
が比抵抗を異にする平板形のPTCザミスタの製造方法
において、Ba Ti O−系磁器の成形体あるいは仮
焼粉の成形体をハロゲンガスの雰囲気中で焼成すること
を特徴としている。
ミスクの製造方法は、 平板部を構成する磁器素体の一部分と他の部分とがキュ
リー点を異にする平板形のPTCサーミスタの製造方法
において、Ba Ti 03系磁器の仮焼粉の成形体を
キュリー点のシフタ元素を含む雰囲気中で焼成すること
を特徴とし、 また、平板部を構成する磁器素体の一部分と他の部分と
が比抵抗を異にする平板形のPTCザミスタの製造方法
において、Ba Ti O−系磁器の成形体あるいは仮
焼粉の成形体をハロゲンガスの雰囲気中で焼成すること
を特徴としている。
作」
上記した1丁Cサーミスタの製造方法にあっては、Ba
Ti 03系G主器の仮焼粉の成形体をキュノー点の
シフタであるpb等の雰囲気中で焼成するか、あるいは
BaTtO3系磁器の成形体あるいは仮焼粉の成形体を
抵抗値を低下させるF、0℃等のハロゲンガスの雰囲気
中で焼成することによって、雰囲気中の各成分が気相拡
散して上記成形体の表面より浸透する。このため、得ら
れるPTCサーミスタの表層部と中心部とにおいて、P
TCサーミスタとしての諸性性が異なったものとなり、
消磁素子部及びヒーク素子部が一つの磁器素体中に形成
されることとなる。すなわち、従来からの課題であった
PTCサーミスタの組成ずれ現象を逆に利用して優れた
特性のPTCサーミスタが得られる。
Ti 03系G主器の仮焼粉の成形体をキュノー点の
シフタであるpb等の雰囲気中で焼成するか、あるいは
BaTtO3系磁器の成形体あるいは仮焼粉の成形体を
抵抗値を低下させるF、0℃等のハロゲンガスの雰囲気
中で焼成することによって、雰囲気中の各成分が気相拡
散して上記成形体の表面より浸透する。このため、得ら
れるPTCサーミスタの表層部と中心部とにおいて、P
TCサーミスタとしての諸性性が異なったものとなり、
消磁素子部及びヒーク素子部が一つの磁器素体中に形成
されることとなる。すなわち、従来からの課題であった
PTCサーミスタの組成ずれ現象を逆に利用して優れた
特性のPTCサーミスタが得られる。
ここで、気相拡散させる元素のうちギュリー占のシフタ
であるPb、Sr、Zr、Ca等の化合物は一般的に気
化しにくいため、容易に気化させるにはpbは酸化物の
よっな形態の化合物を用い、Sr、Zr、Ca等は塩化
物のような形態の化合物を用いることが望ましい。
であるPb、Sr、Zr、Ca等の化合物は一般的に気
化しにくいため、容易に気化させるにはpbは酸化物の
よっな形態の化合物を用い、Sr、Zr、Ca等は塩化
物のような形態の化合物を用いることが望ましい。
また、上記キュリー点のシフタはBaTiOa系磁器の
粒内に固容して、キュリー点を移動させる働きがあり、
B a T iOa系磁器の粒内に前記シフタを拡散さ
せて固容させる必要がある。このため、これらキュリー
点のシフタの気相拡散はBaTiOs系磁器の仮焼粉状
態の成形体に行なう必要がある。一方、比抵抗を低下さ
せるF、C2等のハロゲン元素は粒界に偏析して、抵抗
を下げる働きがあり、BaTiO.系磁器の粒界に拡散
させればよく、これらハロゲン元素の気相拡散はB a
T i 03系磁器の成形体に対して行なっても構わな
い。
粒内に固容して、キュリー点を移動させる働きがあり、
B a T iOa系磁器の粒内に前記シフタを拡散さ
せて固容させる必要がある。このため、これらキュリー
点のシフタの気相拡散はBaTiOs系磁器の仮焼粉状
態の成形体に行なう必要がある。一方、比抵抗を低下さ
せるF、C2等のハロゲン元素は粒界に偏析して、抵抗
を下げる働きがあり、BaTiO.系磁器の粒界に拡散
させればよく、これらハロゲン元素の気相拡散はB a
T i 03系磁器の成形体に対して行なっても構わな
い。
このように、気相拡散作用を起こさせる元素の種類に応
じて製造方法を選択することにより、前記作用が十分に
発揮される。
じて製造方法を選択することにより、前記作用が十分に
発揮される。
ところで、前記元素を気相拡散させて焼成を行なう場合
には、BaT103系磁器の成形体あるいは仮焼粉の成
形体く試料成形体)の形状についても考慮する必要があ
る。
には、BaT103系磁器の成形体あるいは仮焼粉の成
形体く試料成形体)の形状についても考慮する必要があ
る。
例えば、第4図(a ’)に示したような円板形状のP
TCザーミスタ用磁器素体を作成しようと4−る場合、
初めから円板形状に形成された試+4成汁う体を積み重
ねて焼成すると、試料成形体間の各隙間からも気相拡散
によってpb等拡散元素が侵入し、試料成形体の中心側
の電極構成面にまでこれら元素が浸透してしまう。この
ため、得られる磁器素体の表面に第4区(b)に示した
ように中心側の電極を構成するには、表面を研磨する必
要が生しる。
TCザーミスタ用磁器素体を作成しようと4−る場合、
初めから円板形状に形成された試+4成汁う体を積み重
ねて焼成すると、試料成形体間の各隙間からも気相拡散
によってpb等拡散元素が侵入し、試料成形体の中心側
の電極構成面にまでこれら元素が浸透してしまう。この
ため、得られる磁器素体の表面に第4区(b)に示した
ように中心側の電極を構成するには、表面を研磨する必
要が生しる。
そこで、まずは円柱状に形成した試料成形体を気相拡散
元素の雰囲気中で焼成し、その後円板形状に切り出すこ
とにより、表面研磨という工程を経ることなく求めるP
TCサーミスタ用の6R器素体が作成される。
元素の雰囲気中で焼成し、その後円板形状に切り出すこ
とにより、表面研磨という工程を経ることなく求めるP
TCサーミスタ用の6R器素体が作成される。
このようにして得られた磁器素体において、前記元素が
気相拡散した外周部分なヒータ用とし、他方、中心部分
を消磁用として用いることにより、1個のPTCサーミ
スタに2つの機能特性を持たせられ、消磁用部分におけ
る熱平衡温度の上昇を助長して、熱平衡状態における電
流の流れを少なくすることによって、消磁はより促進さ
れる。
気相拡散した外周部分なヒータ用とし、他方、中心部分
を消磁用として用いることにより、1個のPTCサーミ
スタに2つの機能特性を持たせられ、消磁用部分におけ
る熱平衡温度の上昇を助長して、熱平衡状態における電
流の流れを少なくすることによって、消磁はより促進さ
れる。
実l遣山[例
以下本発明に係るPTCサーミスタの製造方法の一実施
例を図面に基づいて説明する。なお従来例と同一機能を
有する構成部品には同一の符合を付すこととする。
例を図面に基づいて説明する。なお従来例と同一機能を
有する構成部品には同一の符合を付すこととする。
第1図において10は、焼成に必要な酸素を供給するこ
とができかつ、気相拡散元素の雰囲気も維持できるよう
になっている準密閉容器(大気の出入りも起こる)で、
マグネシア製板材11とマグネシア製ケース12(縦が
40cm、横が40cm、高さ10cmである。)とに
より構成されている。この準密閉容器10中に、円柱形
状の試料成形体13を数個載置して焼成準備を行なう。
とができかつ、気相拡散元素の雰囲気も維持できるよう
になっている準密閉容器(大気の出入りも起こる)で、
マグネシア製板材11とマグネシア製ケース12(縦が
40cm、横が40cm、高さ10cmである。)とに
より構成されている。この準密閉容器10中に、円柱形
状の試料成形体13を数個載置して焼成準備を行なう。
まず、気相拡散元素としてキュリー点のシフタであるP
bを用いる場合について説明する。
bを用いる場合について説明する。
pbは酸化物としての形態を有する化合物が気化し易い
ので、準密閉容器10中に試料成形体13と共にPb酸
化物14の一定量を載置する。
ので、準密閉容器10中に試料成形体13と共にPb酸
化物14の一定量を載置する。
そして、前記両者を同時に焼成することにより、試料成
形体13は気化したpbの雰囲気中で焼成がなされる。
形体13は気化したpbの雰囲気中で焼成がなされる。
ただし、用いるpb酸化物14の量は、用意した試料成
形体13の量に応して設定する。
形体13の量に応して設定する。
他方、比抵抗を低下させるF、Cβ等のハロゲン元素を
用いる場合には、これらハロゲン元素はもともとガス体
であるのでこのガス体のまま準密閉容器10中に導入し
、ハロゲンガスの雰囲気中で試料成形体13を焼成する
。
用いる場合には、これらハロゲン元素はもともとガス体
であるのでこのガス体のまま準密閉容器10中に導入し
、ハロゲンガスの雰囲気中で試料成形体13を焼成する
。
次に、上記気相拡散元素の雰囲気中で焼成された円柱形
状の試料成形体13を、第4図(a)に示したように円
板形状に切り出し、その後第4図(b)に示したように
円板形状の磁器素体(以下、基板と記す)19の表裏両
面に電極21.22.23を形成する。そして、リード
端子24.25.26をそれぞれ電極22.23.21
に接続した後、樹脂層27で被覆してPTCサーミスタ
20を作製した(第2図)。
状の試料成形体13を、第4図(a)に示したように円
板形状に切り出し、その後第4図(b)に示したように
円板形状の磁器素体(以下、基板と記す)19の表裏両
面に電極21.22.23を形成する。そして、リード
端子24.25.26をそれぞれ電極22.23.21
に接続した後、樹脂層27で被覆してPTCサーミスタ
20を作製した(第2図)。
第2図は、PTCサーミスタ20の断面図を示したもの
で、円板形状の基板19の片面には、輪状電極21と円
形の電極22が形成され、他の片面には略全面にわたり
円形の電極23が形成されている。そして、電極21に
はリード端子26が、電極22にはリード端子24が、
また、電極23にはリード端子25がそれぞれ接続され
ており、これら基板19、電極21.22.23及びノ
ード端子24.25.26は樹脂層27で被覆され保護
絶縁されている。
で、円板形状の基板19の片面には、輪状電極21と円
形の電極22が形成され、他の片面には略全面にわたり
円形の電極23が形成されている。そして、電極21に
はリード端子26が、電極22にはリード端子24が、
また、電極23にはリード端子25がそれぞれ接続され
ており、これら基板19、電極21.22.23及びノ
ード端子24.25.26は樹脂層27で被覆され保護
絶縁されている。
上記構成のPTCサーミスタ20において、基板19の
外周部に形成されたヒータ素子部19aと中心部に形成
された消磁素子部19bとては、そのキュリー点あるい
は比抵抗が異なる。
外周部に形成されたヒータ素子部19aと中心部に形成
された消磁素子部19bとては、そのキュリー点あるい
は比抵抗が異なる。
第3図は、上記PTCサーミスタ20の寸法の具体例を
示したものである。基板19の厚さTは約2mm 、直
径りは約22mm、電極21の幅Wは約3mm 、電極
22の直径dは約14mm程度に設定されており、電極
21と電極22との間隔は1mm程度が確保されている
。
示したものである。基板19の厚さTは約2mm 、直
径りは約22mm、電極21の幅Wは約3mm 、電極
22の直径dは約14mm程度に設定されており、電極
21と電極22との間隔は1mm程度が確保されている
。
このような構成のPTCサーミスタ20の成分組成は、
一般に、Ba Ti 03とS r T i O3とよ
り成る主成分100moεに対して、半導体化剤として
D3/2o3が 0.02 〜0.5moI2、焼結助
剤としてTiO2,SiO2のうち少な(とも一種類が
0.1〜5.0moff、PTC効果向上剤としてMn
Oが0〜1.0moI2の各範囲で含有されている。
一般に、Ba Ti 03とS r T i O3とよ
り成る主成分100moεに対して、半導体化剤として
D3/2o3が 0.02 〜0.5moI2、焼結助
剤としてTiO2,SiO2のうち少な(とも一種類が
0.1〜5.0moff、PTC効果向上剤としてMn
Oが0〜1.0moI2の各範囲で含有されている。
以下に説明する実施例1.2において、試料成形体の成
分組成は下記の第1表によった。そして、上記製造方法
に従いPTCサーミスタ20を作製した後、それぞれの
抵抗−温度特性を調べた。
分組成は下記の第1表によった。そして、上記製造方法
に従いPTCサーミスタ20を作製した後、それぞれの
抵抗−温度特性を調べた。
尚、以下に説明する第5図、第6図中におけるR1はリ
ード端子24.25の間の比抵抗を示しており、R2は
リード端子25.26の間の比抵抗を示している。また
、試料を大気雰囲気中で焼成した場合を比較例とした。
ード端子24.25の間の比抵抗を示しており、R2は
リード端子25.26の間の比抵抗を示している。また
、試料を大気雰囲気中で焼成した場合を比較例とした。
〈実施例1〉
第1表に示した仮焼粉■を用いて、直径が27mm、高
さが8cmの円柱状成形体13を作成し、準密閉容器1
0中に前記成形体13を10個とpb酸化物14である
Pb、 04100gとを載置して1320°Cで約2
時間焼成した。そして、上記方法により成形体13を約
2mmの厚さにカットするとともに電極を形成してPT
Cサーミスタ20を作製した。
さが8cmの円柱状成形体13を作成し、準密閉容器1
0中に前記成形体13を10個とpb酸化物14である
Pb、 04100gとを載置して1320°Cで約2
時間焼成した。そして、上記方法により成形体13を約
2mmの厚さにカットするとともに電極を形成してPT
Cサーミスタ20を作製した。
第5図は、上記実施例1で得られたPTCサーミスタ2
0の有する抵抗−温度特性を示したものである。このグ
ラフより明らかなように、R2はR1より高いキュリー
点を有する。これは、基板19の外周部(ヒータ素子部
19a)にはキュリー点のシフタであるpbが含有され
、pbの粒内拡散の影響を受けるためである。
0の有する抵抗−温度特性を示したものである。このグ
ラフより明らかなように、R2はR1より高いキュリー
点を有する。これは、基板19の外周部(ヒータ素子部
19a)にはキュリー点のシフタであるpbが含有され
、pbの粒内拡散の影響を受けるためである。
従って、第8図に示したような消磁回路を設計した場合
には、キュリー点の高いヒータ素子部19aはキュリー
点の低い消磁素子部19b(中心部)に対してヒータ的
作用を及ぼす。このため、消磁素子部は単体で存在した
時よりも高温に維持されその平衡点電流が小さくなるた
め、消磁がさらに促進される。
には、キュリー点の高いヒータ素子部19aはキュリー
点の低い消磁素子部19b(中心部)に対してヒータ的
作用を及ぼす。このため、消磁素子部は単体で存在した
時よりも高温に維持されその平衡点電流が小さくなるた
め、消磁がさらに促進される。
〈実施例2〉
第1表に示した仮焼粉■を用いて、直径が27mm、高
さが8cmの円柱状成形体13を作成し、準密閉容器1
0中に前記成形体13を10個載置してハロゲン化合物
ガスであるccg4ガスを20mff/minの流量で
導入しながら1320°Cて約2時間焼成した。上記方
法により円柱状成形体13を約2mmの厚さにカットす
るとともに電極を形成してPTCサーミスタ20を作製
した。
さが8cmの円柱状成形体13を作成し、準密閉容器1
0中に前記成形体13を10個載置してハロゲン化合物
ガスであるccg4ガスを20mff/minの流量で
導入しながら1320°Cて約2時間焼成した。上記方
法により円柱状成形体13を約2mmの厚さにカットす
るとともに電極を形成してPTCサーミスタ20を作製
した。
第6図は、上記実施例2て得られたPTCサーミスタ2
0の有する抵抗−温度特性を示したものである。このグ
ラフより明らかなように、R2はR1より小さな比抵抗
を有す。これは、基板19の外周部(ヒータ素子部19
b)には(lが含有され、CI2の粒界拡散の影響を受
けるためである。
0の有する抵抗−温度特性を示したものである。このグ
ラフより明らかなように、R2はR1より小さな比抵抗
を有す。これは、基板19の外周部(ヒータ素子部19
b)には(lが含有され、CI2の粒界拡散の影響を受
けるためである。
従って、第8図に示したような消磁回路を設計した場合
には、比抵抗の小さいヒータ素子部19aは消磁素子部
19bに対してヒータ的な作用を及ぼす。このため、消
磁素子部19bは単体で存在した時よりも高温に維持さ
れその平衡点電流が小さくなるため、消磁がさらに促進
される。
には、比抵抗の小さいヒータ素子部19aは消磁素子部
19bに対してヒータ的な作用を及ぼす。このため、消
磁素子部19bは単体で存在した時よりも高温に維持さ
れその平衡点電流が小さくなるため、消磁がさらに促進
される。
上記実施例1.2についての結果を数値で表わすと上記
の第2表に示したようになった。
の第2表に示したようになった。
また、仮焼粉■を用いて成形体13を形成し、この成形
体13の焼成を行なう雰囲気を大気中としたものを比較
例として記載した。
体13の焼成を行なう雰囲気を大気中としたものを比較
例として記載した。
このよう(二PTCサーミスタ20の製造方法において
、Ba Ti 03系磁器の仮焼粉の成形体を、キュリ
ー点のシフタであるpb等あるいはBa Ti 03系
磁器の成形体あるいは仮焼粉の成形体を比抵抗を低下さ
せるF、C1等のハロゲン元素を含む雰囲気中で焼成す
ることにより、キュリー点あるいは比抵抗特性を異なら
しめることができる。
、Ba Ti 03系磁器の仮焼粉の成形体を、キュリ
ー点のシフタであるpb等あるいはBa Ti 03系
磁器の成形体あるいは仮焼粉の成形体を比抵抗を低下さ
せるF、C1等のハロゲン元素を含む雰囲気中で焼成す
ることにより、キュリー点あるいは比抵抗特性を異なら
しめることができる。
すなわち、PTCサーミスタ20内に消磁用とヒータ用
と2個のPTCサーミスタを設置しなくても、1つのP
TCサーミスタ20内に消磁機能とヒータ機能を持たせ
ることが磁器基板に割れの発生を生しさせずに可能とな
る。そして、このように製造されたPTCサーミスタ2
0ではヒータ素子部19aの働きにより、消磁素子部1
9bにおける熱平衡温度を高温に維持することができ、
平衡点電流をより小さくすることによって、熱平衡状態
における消磁電流の制御を効率的に行なうことができる
。また、形状的にもコンパクト化を図ることができかつ
コスト的にも安く生産することが可能となる。
と2個のPTCサーミスタを設置しなくても、1つのP
TCサーミスタ20内に消磁機能とヒータ機能を持たせ
ることが磁器基板に割れの発生を生しさせずに可能とな
る。そして、このように製造されたPTCサーミスタ2
0ではヒータ素子部19aの働きにより、消磁素子部1
9bにおける熱平衡温度を高温に維持することができ、
平衡点電流をより小さくすることによって、熱平衡状態
における消磁電流の制御を効率的に行なうことができる
。また、形状的にもコンパクト化を図ることができかつ
コスト的にも安く生産することが可能となる。
このように、本発明に係るPTCサーミスタの製造方法
では、従来の2個のPTCサーミスタを設置する製造方
法に比べ、製造過程における工程数が少なくなり作業の
簡素化を図ることができ、かつコストダウンを図ること
ができる。
では、従来の2個のPTCサーミスタを設置する製造方
法に比べ、製造過程における工程数が少なくなり作業の
簡素化を図ることができ、かつコストダウンを図ること
ができる。
尚、本発明は上記実施例に限定されることはなく、要旨
を逸脱しない範囲において変更可能である。たとえば、
焼成中の気相拡散元素による雰囲気調整において、望む
PTC特性あるいは拡散元素の種類によっては拡散濃度
を種々検討して用いることが望ましい。
を逸脱しない範囲において変更可能である。たとえば、
焼成中の気相拡散元素による雰囲気調整において、望む
PTC特性あるいは拡散元素の種類によっては拡散濃度
を種々検討して用いることが望ましい。
兄!Lと弘歴
以上の説明により明らかなように、本発明に係る平板形
PTCサーミスタの製造方法にあっては、Ba Ti
03系磁器の仮焼粉の成形体をキュノー点のシフタ元素
を含む雰囲気中で焼成することにより、平板部を構成す
る磁器素体の一部分と他の部分とにおいて、そのキュリ
ー点を異にするPTCサーミスタを前記磁器素体に割れ
等を発生させることなく容易に製造することができる。
PTCサーミスタの製造方法にあっては、Ba Ti
03系磁器の仮焼粉の成形体をキュノー点のシフタ元素
を含む雰囲気中で焼成することにより、平板部を構成す
る磁器素体の一部分と他の部分とにおいて、そのキュリ
ー点を異にするPTCサーミスタを前記磁器素体に割れ
等を発生させることなく容易に製造することができる。
また、BaTiOz系磁器の成形体あるいは仮焼粉の成
形体をハロゲン元素の雰囲気中で焼成することにより、
平板部を構成する磁器素体の一部分と他の部分とにおい
て、その比抵抗を異にするPTCサーミスタを前記磁器
素体に割れ等を発生させることなく容易に製造すること
ができる。
形体をハロゲン元素の雰囲気中で焼成することにより、
平板部を構成する磁器素体の一部分と他の部分とにおい
て、その比抵抗を異にするPTCサーミスタを前記磁器
素体に割れ等を発生させることなく容易に製造すること
ができる。
したがって、上記方法により製造されたPTCサーミス
タにあってはPTCサーミスタ内に消磁用とヒータ用と
2個のPTCサーミスタを設置しなくでも、消磁機能と
ヒータ機能を1つのPTCサーミスタに持たせることが
できる。そして、ヒータ素子部の働きにより、消磁素子
部における熱平衡温度を高温に維持でき、平衡点電流を
より小さくすることによって、熱平衡状態における消磁
電流の制御を効率的に行なうことができ、消磁をより促
進させることができる。
タにあってはPTCサーミスタ内に消磁用とヒータ用と
2個のPTCサーミスタを設置しなくでも、消磁機能と
ヒータ機能を1つのPTCサーミスタに持たせることが
できる。そして、ヒータ素子部の働きにより、消磁素子
部における熱平衡温度を高温に維持でき、平衡点電流を
より小さくすることによって、熱平衡状態における消磁
電流の制御を効率的に行なうことができ、消磁をより促
進させることができる。
また、形状的にもコンパクト化が図られたPTCサーミ
スタを製造することができかつ、コスト的にも安(生産
することが可能となる。
スタを製造することができかつ、コスト的にも安(生産
することが可能となる。
このように、本発明に係るPTCサーミスタの製造方法
を用いれば、1つのPTCサーミスタに複数の機能を持
たせられながら従来の製造方法に比べ、製造過程におけ
る工程数を少なくして作業の簡素化を図ることができ、
また、コストダウンを図ることができる。
を用いれば、1つのPTCサーミスタに複数の機能を持
たせられながら従来の製造方法に比べ、製造過程におけ
る工程数を少なくして作業の簡素化を図ることができ、
また、コストダウンを図ることができる。
第1図は本発明に係るPTCサーミスタの製造方法を説
明するための斜視図、第2図は本発明に係る方法により
製造されたPTCサーミスタの−例を示す断面図、第3
区は製造されたP T C”l” −ミスタの寸法例を
示す断面図、第4図は本発明に係るPTCサーミスタの
製造方法を説明するための斜視図、第5図、第6図は本
発明に係る方法により製造されたPTCサーミスタの抵
抗−温度特性を示すグラフ、第7図は従来の消磁素子を
示す断面図、第8図は消磁素子を使用した回路図である
。 13 ・・・BaTiO3系磁器の成形体あるいは仮焼
粉の成形体 14 ・・・pb酸化物(キュリー点のシフタ元素化合
物) 0 ・・・PTCサ ミスタ 特 許 出 願 人 住友金属工業株式会社代 理
人 弁理士 弁内 龍二第 図 (a)
明するための斜視図、第2図は本発明に係る方法により
製造されたPTCサーミスタの−例を示す断面図、第3
区は製造されたP T C”l” −ミスタの寸法例を
示す断面図、第4図は本発明に係るPTCサーミスタの
製造方法を説明するための斜視図、第5図、第6図は本
発明に係る方法により製造されたPTCサーミスタの抵
抗−温度特性を示すグラフ、第7図は従来の消磁素子を
示す断面図、第8図は消磁素子を使用した回路図である
。 13 ・・・BaTiO3系磁器の成形体あるいは仮焼
粉の成形体 14 ・・・pb酸化物(キュリー点のシフタ元素化合
物) 0 ・・・PTCサ ミスタ 特 許 出 願 人 住友金属工業株式会社代 理
人 弁理士 弁内 龍二第 図 (a)
Claims (2)
- (1)平板部を構成する磁器素体の一部分と他の部分と
がキュリー点を異にする平板形の正特性(以下、PTC
と記す)サーミスタの製造方法において、BaTiO_
3系磁器の仮焼粉の成形体をキュリー点のシフタ元素を
含む雰囲気中で焼成することを特徴とするPTCサーミ
スタの製造方法。 - (2)平板部を構成する磁器素体の一部分と他の部分と
が比抵抗を異にする平板形のPTCサーミスタの製造方
法において、BaTiO_3系磁器の成形体あるいは仮
焼粉の成形体をハロゲンガスの雰囲気中で焼成すること
を特徴とするPTCサーミスタの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4374690A JPH03246902A (ja) | 1990-02-23 | 1990-02-23 | 正特性サーミスタの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4374690A JPH03246902A (ja) | 1990-02-23 | 1990-02-23 | 正特性サーミスタの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03246902A true JPH03246902A (ja) | 1991-11-05 |
Family
ID=12672327
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4374690A Pending JPH03246902A (ja) | 1990-02-23 | 1990-02-23 | 正特性サーミスタの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03246902A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100307104B1 (ko) * | 1998-03-02 | 2001-09-26 | 무라타 야스타카 | 정특성 서미스터 소자 및 이를 이용한 가열장치 |
| GB2438985B (en) * | 2005-02-07 | 2009-04-08 | Hochiki Co | Heat detector and method for manufacturing heat detecting element |
| US8084014B2 (en) | 2003-04-25 | 2011-12-27 | Sumitomo Chemical Company, Limited | Barium titanate powder and method for producing same |
-
1990
- 1990-02-23 JP JP4374690A patent/JPH03246902A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100307104B1 (ko) * | 1998-03-02 | 2001-09-26 | 무라타 야스타카 | 정특성 서미스터 소자 및 이를 이용한 가열장치 |
| US8084014B2 (en) | 2003-04-25 | 2011-12-27 | Sumitomo Chemical Company, Limited | Barium titanate powder and method for producing same |
| GB2438985B (en) * | 2005-02-07 | 2009-04-08 | Hochiki Co | Heat detector and method for manufacturing heat detecting element |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6144286A (en) | PTCR-resistor | |
| US4531110A (en) | Negative temperature coefficient thermistors | |
| JPH03246902A (ja) | 正特性サーミスタの製造方法 | |
| NL8201426A (nl) | Dielektrisch lichaam van het intergranulaire isolatietype en werkwijze ter vervaardiging daarvan. | |
| US2868935A (en) | Thermosensitive resistance element | |
| JPH0917606A (ja) | 正特性サーミスタ素子 | |
| JP3554786B2 (ja) | 半導体セラミック、消磁用正特性サーミスタ、消磁回路、および半導体セラミックの製造方法 | |
| JPH03229402A (ja) | 正特性サーミスタ及びその製造方法 | |
| US2475864A (en) | Electric resistance element | |
| JPH05251206A (ja) | Ptc素子 | |
| JP2643545B2 (ja) | 正特性サーミスタ素子 | |
| JPH08195302A (ja) | 正特性サーミスタ | |
| JPH03153001A (ja) | 正特性サーミスタ及びその製造方法 | |
| JP2612247B2 (ja) | Ntcサーミスタの製造法 | |
| JP2808758B2 (ja) | チタン酸バリウム系半導体磁器の焼成方法 | |
| JPH04144201A (ja) | 正特性サーミスタおよびその製造方法 | |
| JP3145568B2 (ja) | セラミック発熱素子 | |
| KR100341082B1 (ko) | 반도체 자기 및 그 제조 방법 | |
| JPH05251205A (ja) | Ptc素子 | |
| JPH11297504A (ja) | 電子装置 | |
| JP2838249B2 (ja) | 粒界絶縁型半導体磁器の製造方法 | |
| JPH0461301A (ja) | 正特性サーミスタ素子 | |
| JPH04299802A (ja) | 正特性サーミスタ | |
| JPH04267301A (ja) | Ntcサーミスタの製造方法 | |
| JPS5943105B2 (ja) | 圧電性磁器の製造方法 |