JPH03248037A - 冷熱衝撃試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、冷熱衝撃試験装置、詳しくは、予冷室と予熱
室とをテスト室に隣接して設け、該テスト室を前記予冷
室と予熱室とに選択的に連通させることにより、前記テ
スト室内に冷却空気と加熱空気上を導入させて、電子部
品など被試験品の冷熱衝撃試験を行うようにした冷熱衝
撃試験装置に関する。

（従　来　技　術） 一般に、電子部品や、その他の試料を冷熱衝撃試験を行
う場合、この冷熱衝撃試験は、所定温度の低温さらしと
高温さらしとを一定時間置きに繰り返して行う２ゾ一ン
方式が知られており、また、このような冷熱衝撃試験を
行う冷熱衝撃試験装置として、従来では、例えば特開昭
８１−２６９０４２号公報に記載されたものが知られて
いる。

この公報記載のものは、第５図に示した如く、テスト室
（Ｔ）に隣接する両側に、冷却器（Ｃ）及び冷却ファン
（ＣＦ）などを備えた予冷室（Ａ）と、ヒータ（Ｈ）及
び加熱ファン（ＨＦ）などを備えた予熱室（Ｂ）とをそ
れぞれ画成すると共に、前記テスト室（Ｔ）と予冷室（
Ａ）とを画成する隔壁に、前記テスト室（Ｔ）側の室内
空気を予冷室（Ａ）に供給する供給口（Ｅｌ）と、この
予冷室（Ａ）で冷却された冷却空気を前記テスト室（Ｔ
）側に吹出す吹出口（Ｅ２）とを形成して、これら供給
口（Ｅｌ）と、吹出口（Ｅ２）とに、それぞれ第１及び
第２切換ダンパ（ＤＩ）（Ｄ２）を開閉可能に取付ける
一方、前記テスト室（Ｔ）と予熱室（Ｂ）とを画成する
隔壁に、前記テスト室（Ｔ）側の室内空気を予熱室（Ｂ
）に供給する供給口（Ｅ３）と、この予熱室（Ｂ）で加
熱した加熱空気を前記テスト室（Ｔ）側に吹出す吹出口
（Ｅ４）とを形成して、これら供給口（Ｅ３）と吹出口
（Ｅ４）とに、それぞれ第３及び第４切換ダンパ（Ｄ３
）（Ｄ４）を開閉可能に取付けている。

尚、前記テスト室（Ｔ）には、外気に連通ずる吸気ダク
ト（Ｋ）を設け、該吸気ダクト（Ｋ）の前記テスト室（
Ｔ）への入口側に第５切換ダンパ（Ｄ６）を開閉可能に
取付けると共に、前記テスト室（Ｔ）の内部に排気口（
Ｅ５）を設けて、この排気口（Ｅ５）に第６切換ダンパ
（Ｄ６）を開閉可能に取付けている。

次に、以上の構成とされた冷熱衝撃試験装置の作用を、
第６図に基づきながら説明する。この第６図は、前記テ
スト室（Ｔ）内で電子部品など被試験品の低温さらしと
高温さらしとを一定時間置きに繰り返すときの冷熱衝撃
試験状態を示しており、読図において、実線（イ）は、
前記テスト室（Ｔ）での温度変化を示し、また、鎖線（
ロ）は、前記予熱室ＣＢ）での温度変化を示し、更に、
点線（ハ）は、前記予冷室（Ａ）での温度変化を示して
いる。

そして、前記テスト室（Ｔ）内で被試験品の冷熱衝撃試
験を行う場合には、先ず、前記第１、第２切換ダンパ（
Ｄｌ）（Ｄ２）を開放し、前記予冷室（Ａ）の冷却空気
を前記テスト室（Ｔ）に導入することにより、該テスト
室（Ｔ）の内部を例えば−３０℃の低温さらし温度（Ｔ
ＬＱ）にまで冷却して、前記被試験品の所定時間にわた
る低温さらしを行い、次に、前記第１、第２切換ダンパ
（ＤＩ）（Ｄ２）を閉鎖した後、前記第３．４切換ダン
パ（Ｄ３）（Ｄ４）を開放し、前記予熱室（Ｂ）の加熱
空気を前記テスト室（Ｔ）へと導入することにより、該
テスト室（Ｔ）の内部を例えば１５０℃の高温さらし温
度（ＴＨ２）にまで上昇させて、前記被試験品の所定時
間にわたる高温さらしを行うのである。

（発明が解決しようとする課題） 所で、以上の冷熱衝撃試験装置では、高低ヒートサイク
ル性能を得るために、前記予熱室（Ｂ）での予熱温度（
ＴＨ，）を、テスト室（Ｔ）における高温さらし温度（
ＴＨ２）より高く設定し、また、前記予冷室（Ａ）での
予冷温度（ＴＬＩ　）を、前記テスト室（Ｔ）における
低温さらし温度（ＴＬａ）より低く設定しているのであ
る。

所が、前記予熱室ＣＢ）及び予冷室（Ａ）のうち、特に
予冷室（Ａ）での予冷温度（ＴＬ、）を、テスト室（Ｔ
）における低温さらし温度（ＴＬ、’）より低く設定し
ていることから、冷凍サイクルにより予冷する予冷時に
おいて余分な熱エネルギーを消費することになり、エネ
ルギー的にロスとなっており、無駄が多い問題があった
。

本発明は、冷凍サイクルを形成する圧縮機を周波数変換
方式などの方式で能力制御可能とした場合高能力運転に
より急冷できることに着目して発明したもので、目的は
、無駄な熱エネルギーの消費をなくしながら、迅速に低
温さらし温度に到達でき、全体として省エネルギー運転
が行える冷熱衝撃試験装置を提供する点にある。

（課題を解決するための手段） 上記目的を達成するために、本発明では、予冷室（２）
と予熱室（３）及びテスト室（１）とを備え、前記予冷
室（２）に内装する冷却器（２１）と共に冷凍サイクル
を形成する圧縮機（２４）及び凝縮器（２５）等から成
る冷凍機（２０）を備えた冷熱衝撃試験装置において、
前記圧縮機（２４）を能力制御可能とし、かつ、前記予
冷室（２）の予冷温度と、低温さらし温度との設定入力
部（４１）をもち、前記圧縮機（２４）の運転を低能力
運転から高能力運転に制御する運転能力制御器（４０）
を設けると共に、予冷室用温度センサー（８）及びテス
ト重用温度センサー（６）を設ける一方、前記能力制御
器（４０）は、低温さらし温度以上に設定する予冷温度
で前記圧縮機（２４）の運転を制御する予冷運転モード
と、前記予冷室（２）をテスト室（１）に連通ずる低温
さらし時、低温さらし温度の設定温度で前記圧縮機（２
４）の運転を制御する冷却運転モードとを切換える切換
部（４２）を備えていることを特徴とする。また、前記
予熱室（３）で予熱する電気ヒータ（３１）も能力制御
可能とし、前記予熱室（３）に予熱室用温度センサー（
９）を設ける一方、前記予熱室（３）の予熱温度と高温
さらし温度との設定入力部（５１）をもち、前記ヒータ
（３１）を低能力運転から高能力運転に制御するヒータ
能力制御器（５０）を設けると共に、このヒータ能力制
御器（５０）は、高温さらし温度以下に設定する予熱温
度で前記ヒータ（３１）の運転を制御する予熱運転モー
ドと、前記予熱室（３）をテスト室（１）に連通ずる高
温さらし時、高温さらし温度の設定温度で前記ヒータ（
３１）の運転を制御する加熱運転モードとを切換える切
換部（５２）を設けるのが好ましい。

（作　　　用　　） 前記テスト室（１）で被試験品の冷熱衝撃試験を行う場
合には、前記テスト室（１）を予冷室（２）に連通させ
て、前記テスト室（１）内に前記予冷室（２）から冷却
空気を導入し、前記テスト室（１）の温度を低下させる
と同時に、前記圧縮機（２４）を低温さらし温度で運転
制御する冷却運転モードに切換え、前記圧縮機（２４）
を高能力運転させるのである。

この圧縮機（２４）の高能力運転により、前記予冷室（
２）、ひいては前記テスト室（１）は急速冷却され、迅
速に低温さらし温度の設定温度に到達させられるのであ
る。

また、低温さらしから高温さらしに移行する場合には、
前記テスト室（１）を予熱室（３）に連通させて、前記
テスト室（１）内に前記予熱室（３）から加熱空気を導
入するのであって、この高温さらし時には、前記予冷室
（２）で冷却するのである。

そして、この予冷は、前記圧縮機（２４）を低温さらし
温度以上に設定する予冷温度で運転制御する予冷運転モ
ードへの切換えにより行うのであって、前記圧縮機（２
４）が前記予冷温度で運転制御されて予冷されるから低
温さらし温度以下に冷却する必要がなくなり、従って、
その温度差による熱ロスを少なくでき、全体として省エ
ネルギー運転が可能となるのである。

また、前記電気ヒータ（３１）を能力制御可能とした第
２発明によれば、以上の如く低温さらしにおける省エネ
ルギー運転が行えながら、高温さらしにおける省エネル
ギー運転も可能となる。

即ち、前記ヒータ（８１）によるよる予熱は、高温さら
し時の高温さらし温度以下の予熱温度で運転する予熱運
転モードへの切換えにより行うのであって、前記ヒータ
（３１）が前記予熱温度で運転制御されるから、予熱室
（３）を高温さらし温度以上に加熱する必要がなくなり
、従って、低温さらしと同様、温度差による熱ロスを少
なくでき、より一層の省エネルー運転が可能となるので
ある。

（実　　施　　例　　） 第１図に示した冷熱衝撃試験装置は、ハウジング（１０
）の内部を断熱隔壁（１０ａ）で３つに区画して、中央
部に被試験品の冷熱衝撃試験を行うテスト室（１）を、
該テスト室゛（１）に隣接する両側に、予冷室（２）と
予熱室（３）とをそれぞれ区画形成すると共に、前記予
冷室（２）の内部には、冷却室（２１）と冷却ファン（
２２）及びデフロスト用ヒータ（２３）とを配設し、ま
た、前記予熱室（３）の内部には、電気ヒータ（３１）
と加熱ファン（３２）とを配設している。

尚、前記予冷室（１）と予熱室（２）に設ける前記各フ
ァン（２２）（３２）は、それぞれ室外側に配設された
モータ（Ｍｌ）（Ｍ２）で回転駆動される。

また、前記テスト室（１）と予冷室（２）とを画成する
隔壁（１０ａ）に、前記テスト室（１）の室内空気を予
冷室（２）に供給する供給口（１１）と、この予冷室（
２）で冷却された冷却空気を前記テスト室（１）側に吹
出す吹出口（１２）とを設けて、これら供給口（工１）
と吹出口（１２）とに、それぞれ低温ダンパ（４）を開
閉可能に取付けると共に、前記テスト室（１）と前記予
熱室（３）とを画成する隔壁（１０ａ）に、前記テスト
室（１）側の室内空気を予熱室（３）に供給する供給口
（１３）と、この予熱室（３）で加熱された加熱空気を
前記テスト室（１）側に吹出す吹出口（１４）とを形成
して、これら供給口（１３）と吹出口（１４）とに、そ
れぞれ高温ダンパ（５）を開閉可能に取付ける一方、前
記テスト室（１）には、試料出入れ用開閉扉（１５）を
設け、内部にはテスト室用温度センサー（６）を設けて
いる。

また、前記予冷室（２）には予冷室用温度センサー（８
）が、また、前記予冷室（３）に予熱室用温度センサー
（９）が設けられている。

又一方、前記予冷室（１）に内装する前記冷却器（２１
）は、圧縮機（２４）、凝縮器（２５）、膨張弁（２６
）と共に、冷凍機（２０）を構成するもので、これら機
器を冷媒配管で接続し冷凍サイクルを形成している。

しかして、第１図に示した実施例は、以上の如く構成す
る冷熱衝撃試験装置において、前記圧縮機（２４）を、
主として周波数変換（例えば３０Ｈｚ〜９０Ｈｚ制御）
により能力制御可能として、この圧縮機（２４）の運転
を低能力運転から高能力運転に制御する運転能力制御器
（４０）を設け、前記圧縮機（２４）を、予冷時には前
記予冷室（２）が低温さらし温度以上に設定する予冷温
度になるように、この予冷温度をもとに運転を制御し、
低温さらし時には、低温さらし温度をもとに運転制御し
、予冷温度を低温さらし温度より低くしていた従来例に
おける温度差による熱ロス少なり、シかも、前記圧縮機
（２４）の高能力運転による急冷で迅速に低温さらし温
度にできるようにしたのである。

更に詳記すると、前記運転能力制御器（４０）は、前記
予冷室（２）での予冷温度（ＴＬＩ）と、前記テスト室
（１）で低温さらしを行う場合の低温さらし温度（ＴＬ
２）とを設定する設定入力部（４１）を備えると共に、
前記予冷室用温度センサー（８）の検出結果をもとに前
記予冷室（２）が、前記設定入力部（４１）で設定する
予冷温度（ＴＬ、）になるように、前記圧縮機（２４）
の運転を制御する予冷運転モードと、前記テスト室用温
度センサー（６）の検出結果をもとに、前記テスト室（
１）が前記設定入力部（４１）で設定する低温さらし温
度（ＴＬ２）になるように前記圧縮機（２４）の運転を
制御する冷却運転モードとに切換える切換部（４２）を
設けるのである。

しかして、前記設定入力部（４１）で設定する予冷温度
（ＴＬＩ　）は、前記低温さらし温度（ＴＬ２）以上（
ＴＬ、≧ＴＬ２）とするのであって、予冷運転モード時
には、前記低温さらし温度（ＴＨ＊　）以上に設定する
予冷温度（ＴＬ、）のちとに前記圧縮機（２４）が運転
制御されることになる。

従って、冷熱衝撃試験のスタート時、予冷室（２）を常
温の状態から予冷温度（ＴＬＩ　）へプルダウンする場
合、つまり、予冷温度（ＴＬＩ）と予冷室（２）内の温
度との温度差が大きい場合、前記圧縮機（２４）は高能
力運転（例えば９０Ｈ２運転）で運転され、予冷室（２
）は急冷されるのであり、予冷温度（ＴＬＩ　）に到達
した後には、この予冷温度（ＴＬ□）をもとに低能力運
転（例えば３０Ｈ２）で制御される。

また、前記高温ダンパ（５）を閉じ、前記低温ダンパ（
４）を開いて低温さらしを行う場合、前記圧縮機（２４
）は、低温さらし温度（ＴＬ２）を基にする冷却運転モ
ードに切換えられるのであって、前記ダンパ（４）（５
）の開閉で、前記予冷室（２）の温度は、第２図に示し
たように、−旦上昇するから、前記圧縮機（２４）は、
プルダウン時と同様、高能力運転（例えば９０Ｈｚ運転
）に制御されるのであり、予冷温度（ＴＬＩ）以下に設
定される低温さらし温度ＣＴＬＱ　）に到達するまで、
高能力運転が行われるのである。

尚、低温さらし温度（ＴＬ２）に到達した後は、低温さ
らし温度（ＴＬ２）をもとに低能力運転（例えば３０Ｈ
ｚ）に制御されるのである。

また、前記切換部（４２）による前記予冷運転モードと
冷却運転モードとの切換えは、前記低温ダンパ（４）及
び高温ダンパ（５）の開閉情帽をもとに行うのであって
、前記ダンパ（４）（５）の開閉を指示するダンパ制御
器（４３）の出力部を、前記運転能力制御器（４０）の
入力部に接続するのである。

次に、以上の構成とした冷熱衝撃試験装置の作用を、第
２図に基づいて説明する。この第２図は縦軸に温度（”
Ｃ）を、横軸に時間をとった前記テスト室（１）と予冷
室（２）及び予熱室（３）での温度変化を示すものであ
り、第２図において、実線（イ）は、前記テスト室（１
）での温度変化を示し、また、−点鎖線（ロ）は、前記
予熱室（３）での温度変化を示し、更に、点線（ハ）は
、前記予冷室（２）での温度変化を示している。

前記テスト室（１）の内部で被試験品の冷熱衝撃試験を
行う場合、第２図に示した実施例では前記予熱室（３）
の内部を、同図の一点鎖線（ロ）で示した如（、前記ヒ
ータ（３１）のオンのオフ動作を繰り返し乍ら、例えば
１５０℃に設定される高温さらし温度（Ｔ）１２　）よ
りも若干高い温度（ＴＨＩ　）に保持しており、また、
前記予冷室（２）は、同図の点線（ハ）で示した如く、
例えば−３０℃に設定される低温さらし温度（ＴＬ２　
）よりも高い予冷温度（ＴＬ、）に保持するようにして
いる。

そして、以上の準備を行った後に、同図の実線（イ）で
明らかな如く、低温さらしを行う場合には、前記各低温
ダンパ（４）をそれぞれ開放するのであって、この開放
により前記予冷室（２）内の冷却空気が前記テスト室（
１）側へ導入されこの導入により前記テスト室（１）の
温度が低下する。このとき、前記したように、予冷室（
２）の温度は上昇すると同時に、圧縮機（２４）では冷
却運転モードに切換えられるから、高能力運転（例えば
９０Ｈｚ）により運転されるのであって、前記予冷室（
２）は急冷され、テスト室（１）の温度も、低温さらし
温度より低い温度で予冷している場合と大差なく急冷さ
れるのである。

従って、前記テスト室（１）は、設定した低温さらし温
度（−３０℃）に迅速に到達し、この設定温度（−３０
℃）で前記被試験品の所定時間にわたる低温さらしが行
われる。次に、以上の低温さらしを行った後には、前記
各低温ダンパ（４）を閉鎖し、前記各高温ダンパ（５）
を開放するのであって、この開放により前記予熱室（３
）の加熱空気が前記テスト室（１）へ導入され、前記テ
スト室（１）の内部温度が、所定の高温さらし設定温度
（ＴＨ）にまで上昇され、この所定温度（ＴＨ）で前記
被試験品の所定時間にわたる高温さらしが行われる。

以上のように、前記予冷室（２）での予冷は、低温さら
し温度（ＴＬＩ　）以上の予冷温度（ＴＬ、）に制御さ
れ、低温さらし時に、前記圧縮機（２４）を高能力運転
として低温さらし温度（ＴＬＱ）に制御するのであるか
ら、予冷温度（ＴＬＩ　）を低温さらし温度（ＴＬＱ）
より低い温度にしていた従来例に比較して、熱ロスを少
なくできるのであって、省エネルギー運転が可能となる
のである。

尚、以上説明した実施例では、前記予熱室（３）の予熱
温度（ＴＨ，）を高温さらし温度（ＴＨＱ）より扁くし
ているが、前記ヒータ（３１）も主として周波数変換に
より能力制御可能とし、予熱温度（ＴＨＩ　）を高温さ
らし温度（ＴＨ２）以下（ＴＨ，≦ＴＨ２）に制御する
のが好ましい。

この場合は、第３図に示したように、予冷室（２）の温
度制御と同様ヒータ能力制御器（５０）を用いるのであ
って、この制御器（５０）は、前記予熱室（３）での予
熱温度（ＴＨ，）と、前記予熱室（３）で高温さらしを
行う場合の高温さらし温度（ＴＨａ）とを設定する設定
入力部（５１）を設けると共に、前記予熱室用温度セン
サー（９）の検出結果をもとに、前記予熱室（３）が前
記設定入力部（５１）で設定する予熱温度（ＴＨ，）に
なるように前記ヒータ（３１）を制御する予熱運転モー
ドと、前記テスト重用温度センサー（６）の検出結果を
もとに前記テスト室（１）が前記設定入力部（５１）で
設定する高温さらし温度（ＴＨ２）になるように前記ヒ
ータ（３１）を制御する加熱運転モードとに切換える切
換部（５２）を設け、また、入力部には、前記低温ダン
パ（４）及び高温ダンパ（５）の開閉を指示するダンパ
制御器（４３）の出力部を接続するのである。

しかして、前記設定入力部（５１）で設定する予熱温度
（ＴＨＥ）は、前記高温さらし温度（ＴＨ２゛）以下（
ＴＨ，：ａＴＨ２）とするのであって、前記予熱運転モ
ード時には、高温さらし温度（ＴＨ２）以下に設定する
予熱温度（ＴＨ，）のもとに前記モータ（３１）が制御
されるのである。

この場合の前記テスト室（１）と予熱室（３）及び予冷
室（２）の温度変化は第４図のようになり、予冷室（２
）と共に前記ヒータ（３１）による熱ロスを減少でき、
より一層の省エネルギー運転が可能となるのである。

（発明の効果） 本発明は、予冷室（２）と予熱室（３）及びテスト室（
１）とを備え、前記予冷室（２）に内装する冷却器（２
１）と共に冷凍サイクルを形成する圧縮機（２４）及び
凝縮器（２５）等から成る冷凍機（２０）を備えた冷熱
衝撃試験装置において、前記圧縮機（２４）を能力制御
可能とし、かつ、前記予冷室（２）の予冷温度と、低温
さらし温度との設定入力部（４１）をもち、前記圧縮機
（２４）の運転を低能力運転から高能力運転に制御する
運転能力制御器（４０）を設けると共に、予冷室用温度
センサー（８）及びテスト重用温度センサー（６）を設
ける一方、前記能力制御器（４０）は、低温さらし温度
以上に設定する予冷温度で前記圧縮機（２４）の運転を
制御する予冷運転モードと、前記予冷室（２）をテスト
室（１）に連通ずる低温さらし時、低温さらし温度の設
定温度で前記圧縮機（２４）の運転を制御する冷却運転
モードとを切換える切換部（４２）を備えていることを
特徴とするものであるから、予冷室（２）での予冷温度
（ＴＬａ）をテスト室（１）での低温さらし温度（ＴＨ
Ｑ　）以上に設定して予冷を行うことができ、しかも、
前記圧縮機（２４）の能力制御により、低温さらし時に
は、低温さらし温度（ＴＬａ）が急冷できるのであるか
ら、従来例のように予冷温度（ＴＬ□）を低温さらし温
度（ＴＨＱ）より低い温度とする場合に比較して大差な
く所望の冷熱衝撃試験を行うことができながら、従来例
のように、温度差（ＴＬａ　−ＴＬｔ　）による熱ロス
を減少でき、省エネルギー運転が可能となるのである。

また、前記予熱室（３）に内装する電気ヒータ（３１）
を能力制御可能とし、かつ、前記予熱室（３）に予熱室
用温度センサー（９）を設ける一方、前記予熱室（３）
の予熱温度と高温さらし温度との設定入力部（５１）を
もち、前記ヒータ（３１）を低能力運転から高能力運転
に制御するヒータ能力制御器（５０）を設けると共に、
このヒータ能力制御器（５０）は、高温さらし温度以下
に設定する予熱温度で前記ヒータ（３１）の運転を制御
する予熱運転モードと、前記予熱室（３）をテスト室（
１）に連通ずる高温さらし時、高温さらし温度の設定温
度で前記ヒータ（３１）の運転を制御する加熱運転モー
ドとを切換える切換部（５２）をを設けることにより、
予熱室（３）での予熱温度（ＴＨ，）を高温さらし温度
（ＴＨ２）以下に設定して予熱を行うことができ、また
、前記ヒータ（３１）の能力制御により高温さらし時に
は、高温さらし温度（ＴＨ２）に急加熱できるから、所
望の冷熱衝撃試験を行えたから、高温さらしにおける熱
ロスも減少でき、低温さらしにおける熱ロスの減少と相
俟って一層省エネルギー運転が可能となるのである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す冷熱衝撃試験装置の断
面図、第２図はテスト室と予冷室及び予熱室の温度変化
を説明する特性図、第３図は別の実施例を示すヒータの
制御系を説明する説明図、第４図は別の実施例による第
２図に対応した温度変化の特性図、第５図は従来例を示
す断面図、第６図は同従来例に基づく各室内での温度変
化を説明する説明図である。 と１）・・・・テスト室 （２）・・・・予冷室 （３）・・・・予熱室 （６）・・・・テスト窓用温度センサー（８）・・・・
予冷室用温度センサー （９）・・・・予熱室用温度センサー （２０）・・・・冷凍機 （２１）・・・・冷却器 （２４）・・・・圧縮機 （２５）・・・・凝縮器 （３１）・・・・電気ヒータ （４０）・・・・運転能力制御器 （４１）・・・・設定入力部 （４２）・・・・切換部 （５０）・・・・ヒータ能力制御器 （５１）・・・・設定入力部 （５２）・・・・切換部 第１図 第５図 第６図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）予冷室（２）と予熱室（３）及びテスト室（１）と
   を備え、前記予冷室（２）に内装する冷却器（２１）と
   共に冷凍サイクルを形成する圧縮機（２４）及び凝縮器
   （２５）等から成る冷凍機（２０）を備えた冷熱衝撃試
   験装置において、前記圧縮機（２４）を能力制御可能と
   し、かつ、前記予冷室（２）の予冷温度と、低温さらし
   温度との設定入力部（４１）をもち、前記圧縮機（２４
   ）の運転を低能力運転から高能力運転に制御する運転能
   力制御器（４０）を設けると共に、予冷室用温度センサ
   ー（８）及びテスト室用温度センサー（６）を設ける一
   方、前記能力制御器（４０）は、低温さらし温度以上に
   設定する予冷温度で前記圧縮機（２４）の運転を制御す
   る予冷運転モードと、前記予冷室（２）をテスト室（１
   ）に連通する低温さらし時、低温さらし温度の設定温度
   で前記圧縮機（２４）の運転を制御する冷却運転モード
   とを切換える切換部（４２）を備えていることを特徴と
   する冷熱衝撃試験装置。 ２）予熱室（３）には、電気ヒータ（３１）と予熱室用
   温度センサー（９）とを備え、この電気ヒータ（３１）
   を能力制御可能とし、かつ、前記予熱室（３）の予熱温
   度と高温さらし温度との設定入力部（５１）をもち、前
   記ヒータ（３１）を低能力運転から高能力運転に制御す
   るヒータ能力制御器（５０）を設けると共に、このヒー
   タ能力制御器（５０）は、高温さらし温度以下に設定す
   る予熱温度で、前記ヒータ（３１）の運転を制御する予
   熱運転モードと、前記予熱室（３）をテスト室（１）に
   連通する高温さらし時、高温さらし温度の設定温度で前
   記ヒータ（３１）の運転を制御する加熱運転モードとを
   切換える切換部（５２）を備えている請求項１記載の冷
   熱衝撃試験装置。