JPH03249574A - 診断用スキャンレジスタ内蔵の半導体論理装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、各種のディジタル電子装置の構成要素として
利用される診断用スキャンレジスタ内蔵の半導体論理装
置に関するものである。

（従来の技術） 各種のディジタル電子装置の構成要素として利用される
半導体論理装置には、故障時などの診断用スキャンレジ
スタを内蔵したものがある。

この診断用スキャンレジスタは、論理回路部の動作に伴
って生成されたデータの一部を並列転送路を介して保持
し出力すると共に診断時には相互に縦列接続されて直列
転送路を形成するフリップ・フロップ群から構成される
。

（発明が解決しようとする課題） 従来の半導体論理装置では、診断用のフリ・７プ・フロ
ップの全てを直列接続して単一のスキャンレジスタを形
成している。このため、直列データの入出力に時間がか
かり、試験時間が長引くという問題がある。

また、半導体論理装置内に障害箇所が複数存在する場合
には、相互の切り分けが困難になるという問題もある。

（課題を解決するための手段） 本発明の診断用スキャンレジスタ内蔵の半導体装置によ
れば、論理回路部の動作に伴って生成されたデータのう
ちの少なくとも一部を入力側の並列転送路を介して保持
しかつ出力側の並列転送路に出力すると共に診断時には
相互に縦列接続されて直列転送路を形成するフリップ・
フロップ群から成るスキャンレジスタ、この直列転送路
の外部入出力端子及びスキャンレジスタに連なる入出力
側の並列転送路を診断時には高インピーダンス状態に移
行させる制御指令の入力端子を有するスキャンレジスタ
部が並列転送路を介して複数圧いに縦列接続されている
。

すなわち、本発明の半導体論理装置は、個別の直列デー
タ入出力端子を有するスキャンレジスタ部を並列転送路
を介して複数縦列接続すると共に診断時にはそれぞれの
並列転送路を高インピーダンス状態に移行させて各スキ
ャンレジスタ部を電気的に分離することにより、複数の
個別スキャンバスを形成可能としている。

以下、本発明の作用を実施例と共に詳細に説明する。

（実施例） 第１図は、本発明の一実施例に係わる診断用スキャンレ
ジスタ内蔵の半導体論理装置の構成を示すブロフク図で
あり、ｌａ、ｌｂは半導体集積回路で構成される論理回
路部、２ａ、　　２ｂは同様に半導体集積回路で構成さ
れるスキャンレジスタ部である。

スキャンレジスタ部２ａのスキャンレジスタ１１はフリ
ップ・フロップ群１１２．１１ｂ・・・１１ｎから構成
され、スキャンレジスタ部２ｂのスキャンレジスタ２１
はフリップ・フロップ群２１３．２１ｂ・・・２１ｎか
ら構成される。

通常の動作モード下では、データ入力端子Ｄｒ１、ＤＩ
２・・・Ｄｌｎを介して入力される並列データが前段の
論理回路１ａで処理される。この処理に伴って生成され
た演算結果やステータス情報の一部が並列転送路を介し
てスキャンレジスタ部２ａや２ｂに転送されて内蔵のス
キャンレジスタ１１や２１内に保持される。演算結果な
どの他の一部は後段の論理回路部１ｂに転送される。ス
キャンレジスタ部りａ内のスキャンレジスタ１１に保持
されたデータの一部は並列転送路を介して後段のスキャ
ンレジスタ部２ｂ内のスキャンレジスタ２１に転送され
保持され、他の一部は論理図Ｗｌｒ　部ｉ　ｂに転送さ
れる。後段のスキャンレジスタ部２ｂ内のスキャンレジ
スタ２１に保持されたデータの一部は、並列転送路を介
して後段の論理回路部１ｂに転送される。後段の論理回
路１ｂでは、前段の論理回路部１ａやスキャンレジスタ
部２ａや２ｂから転送されてきた並列データを処理し、
処理結果をデータ出力端子ＤＯＩ、ＤＯ２・・・Ｄｏｎ
に出力する。

一方、スキャン動作時には、制御入力端子ＳＣ１やＳＣ
２にスキャンモードを指令する制御信号が供給されると
共に、入力端子１５や２５にローレヘルの信号が供給さ
れる。この結果、通常動作時にはクランプ抵抗１４や２
４でハイにクランプされていた制御電圧がローに立下が
り、入出力側双方の並列転送路内に設置されているバッ
ファ回路が高インピーダンス状態となってスキャンレジ
スタ１１や２１が相互にかつ論理回路部１ａや１ｂから
電気的に分離される。

このスキャンモードの下では、スキャンレジスタ１１や
１２に保持中のデータがクロック入力端子ＣＫに供給さ
れるクロックパルスに同期して直列データ出力端子１３
や２３から外部に読出される。あるいはまた、直列デー
タ入力端子１２や１３に供給される直列データがクロッ
クパルスに同期してスキャンレジスタ１１や２１に設定
される。

（発明の効果） 以上詳細に説明したように、本発明の半導体論理装置は
、個別の直列データ外部入出力端子を有するスキャンレ
ジスタ部を並列転送路を介して複数縦列接続すると共に
診断時にはそれぞれの並列転送路を高インピーダンス状
態に移行させて各スキャンレジスタ部を分離する構成で
あるから、個別スキャンパスが形成でき、各スキャンパ
スの同時動作や必要なパスのみの選択による直列データ
の読出し時間や設定時間の短縮が可能となる。

また、複数の障害箇所の切り分けが迅速かつ正確に行え
るという利点もある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例に係わる診断用スキャンレジ
スタ内蔵の半導体論理装置の構成を示すブロック図であ
る。 １ａ、１ｂ−′−−論理回路部、２ａ、２ｂ＝・スキャ
ンレジスタ部、１１．２１・・・スキャンレジスタ、１
２．２２・・・直列データの入力端子、１３．２３・・
・直列データの出力端子、１４．２４・・・クランプ抵
抗、１５．２５・・・並列転送路を高インピーダンス状
態に移行させる指令の入力端子、　ＤＩｌ〜ＤＩｎ・・
・並列データの入力端子、ＤＯＩ＝ＤＯｎ・・・並列デ
ータの出力端子。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 　並列データを並列処理する論理回路部と、この論理回
   路部の動作に伴って生成されるデータのうちの少なくと
   も一部を入力側の並列転送路を介して保持しかつ出力側
   の並列転送路に出力すると共に診断時には相互に縦列接
   続されて直列転送路を形成するフリップ・フロップ群か
   ら成るスキャンレジスタ、この直列転送路の外部入出力
   端子及び前記スキャンレジスタに連なる前記入出力側の
   並列転送路を診断時には高インピーダンス状態に移行さ
   せる制御指令の入力端子を有するスキャンレジスタ部で
   あって前記並列転送路を介して複数互いに縦列接続され
   たものとを備えたことを特徴とする診断用スキャンレジ
   スタ内蔵の半導体論理装置。