JPH0325020B2 - - Google Patents

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JPH0325020B2
JPH0325020B2 JP60000187A JP18785A JPH0325020B2 JP H0325020 B2 JPH0325020 B2 JP H0325020B2 JP 60000187 A JP60000187 A JP 60000187A JP 18785 A JP18785 A JP 18785A JP H0325020 B2 JPH0325020 B2 JP H0325020B2
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JP
Japan
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wire
gas
reducing gas
bonding
cylindrical member
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Koichiro Atsumi
Tetsuo Ando
Mitsuo Kobayashi
Osamu Usuda
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Toshiba Corp
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Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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    • H10W72/5525Materials of bond wires comprising metals or metalloids, e.g. silver comprising copper [Cu]

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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は卑金属ワイヤを用いたワイヤボンデイ
ング方法およびこれを実施する装置に関する。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
ICやLSIなどの半導体装置の製造工程には、例
えば半導体素子とリードとをワイヤで接続するる
ワイヤボンデイング工程がある。この作業は近時
自動装置により極めて高い能率で遂行されてお
り、金ワイヤを用いた方法が実用化されている。
このワイヤの材料も半導体素子の低コスト化に伴
いコスト高の要因となり金代替ワイヤを用いてボ
ンデイングすることが要望されている。その代表
的なものに銅ワイヤやアルミニウムワイヤを用い
ることが試みられているが、未だ実用化されてい
ない。特に銅などの卑金属ワイヤを用いた場合、
素子やリードフレームなどの被接合部材を載置す
るワークステージを加熱し、これらを200℃〜350
℃程度に昇温する必要があるため、この熱により
ワイヤが酸化され、ワイヤの先端と放電電極との
間でスパークしにくく、良好なボールが形成され
にくいことがあり、またウエツジボンデイングの
場合、被接合面に接合されにくく、いずれも接合
強度が不十分であるなど、ボール形成不良や、接
合不良の問題があつた。
〔発明の目的〕
本発明は上述の不都合を除去するためになされ
たもので、卑金属ワイヤを用いてもボール形成性
および接合性の良好な半導体装置のワイヤボンデ
イング方法および装置を提供することを目的とす
る。
〔発明の概要〕
本発明はワイヤ繰出し部からキヤピラリまでの
間においてワイヤを還元性ガス雰囲気中で加熱し
て還元し、活性化する還元処理を行なうことを特
徴とする卑金属ワイヤを用いたワイヤボンデイン
グ方法およびこれを実施するための装置である。
〔発明の実施例〕
以下本発明方法および装置の詳細を第1図〜第
3図を参照しながら実施例により説明する。なお
本実施例は銅ワイヤを用いた電気トーチ法による
ワイヤボンデイングに適用したものであるが、こ
の電気トーチ法による全自動ワイヤボンデイング
装置は当業者において周知であるから、本発明に
直接関係する要部についてのみ説明する。
第1図は本発明を実施した第1の実施例として
のワイヤボンデイング装置のワイヤ経路系1を示
す。ボンデイング用ワイヤ、例えば銅ワイヤがワ
イヤ繰出し部、例えばワイヤスプール1aに巻装
されてボンデイング装置に設置される。このワイ
ヤスプール1aから導出された銅ワイヤ2は、ワ
イヤガイド3を経てクランパ、例えば第1のクラ
ンパ4、第2のクランパ5を走行し、キヤピラリ
6を挿通して、銅ワイヤ2の先端がキヤピラリ6
から突出した状態で導かれる。この銅ワイヤ2の
突出した先端近傍には電気トーチ棒7が設置さ
れ、銅ワイヤ2の生端にボールを形成する時のみ
銅ワイヤ2の先端との間で放電を発生させるよう
に相対的に移動、例えばトーチ棒7を移動させて
ボール8を形成する。この際、電気トーチ棒7と
ワイヤ2近傍は酸化防止のためにノズル7aから
流出する不活性ガスや還元性ガスなどで覆われて
いる。このボール8の下方には被接合部材、例え
ば集積回路(1C)9が取着されたリードフレー
ム10を設置するワークステージ11が設けられ
ている。このワークステージ11にはヒータ12
が組み込まれており、銅ワイヤ2のボンデイング
を良好に促進させるように温度、例えば200℃に
ワークステージ11は保たれる。上述したワイヤ
経路系1は、ワークステージ11とは別のX6
Y駆動テーブル(図示せず)上に設置されるが、
さらにキヤピラリー6をボンデイングアーム6a
を介して上下方向(Z軸方向)にも駆動するよう
にそれぞれ直接リニアモータ(図示せず)に接続
される。
さらに上記テーブルにはボンデイング位置を視
覚認識するためのカメラ(図示せず)も設置さ
れ、出力をコンピユータ(図示せず)に入力し
て、このコンピユータによりボンデイング位置制
御を行なうようになつている。
さらにまたワイヤガイド3と第1のクランパ4
との間および第1のクランパ4と第2のクランパ
5との間および第2のクランパ5とキヤピラリア
ーム6aとの間にはワイヤ2の走行路を囲んでシ
ールドダクト13,14,15が設けられてい
て、これらには図示しない導入管により不活性ガ
スまたは還元性ガスが流入しており、上述したよ
うにヒータ12による熱のために銅ワイヤ2が酸
化されるのを防止している。本発明の装置は上述
の装置にさらに還元用ダクト21がワイヤスプー
ル1aとワイヤガイド3との間に設けられてい
る。
すなわち、還元用ダクト21は、透明な耐熱ガ
ラスで形成された両端開口した筒状部材であるダ
クト本体22に一端から順次ガス流入口23,2
4,25を設け、ダクト本体22を支持体26で
支持して構成されている。そしてガス流入口2
3,25はそれぞれ両端開口側に傾けて取付けら
れていて、窒素または不活性ガス、例えばアルゴ
ンガスが流入する。また中間の流入口24からは
図示しない加熱装置により加熱された高温の還元
性ガス、例えば10%の水素を混合したアルゴンガ
スが流入している。
次に上述の装置の使用態様とともに、本発明方
法につき述べる。常法に従い、銅ワイヤ2を繰出
し部であるスプール1aから繰出し、還元用ダク
ト21のダクト本体22を通し、シールドダクト
13、第1のクランパ4、シールドダクト14、
第2のクランパ5、シールドダクト15およびキ
ヤピラリ6を通して銅ワイヤ2を突出させた状態
に準備してボンデイン装置は作動を開始する。こ
れにより一般公知の順序に従つてノズル7aから
流出する不活性ガスの中で電気トーチ棒7により
放電して銅ワイヤ2の先端にボール8が形成さ
れ、X−Yステージにより移動されて、同時に上
下動してボンデイング作業が続行される。この間
スプール1aから繰出された銅ワイヤ2は、ダク
ト本体22に入ると150℃〜400℃の高温に加熱さ
れて流入口24からダクト本体22内に流入する
還元性ガスにより加熱されるとともに還元して活
性化され、出口端近傍において流入口25から流
入する低温の不活性ガスにより十分冷却され還元
用ダクト21を出ても酸化することなく、次のシ
ールドダクト13に入る。このようにして還元活
性化されて順次クランパ、シールドダクトを経て
キヤピラリ6に至り、その間酸化されることなく
活性を保つたままボール8が形成され、ボンデイ
ングされる。
なお、本実施例においては、ダクト本体22を
一体形成したが、適宜、例えば3分割で構成して
もよいことは云うまでもないことである。
次に第2の実施例につき、第3図を参照して説
明する。この実施例は第1図に示した第1の実施
例とはその還元用ダクト21の部分だけが相違し
ているので、他の部分については説明を省略す
る。第3図において還元用ダクト31は一端が閉
じられ他端が開口した耐熱ガラスからなる透明な
筒状部材であるダクト本体32に、その両端近傍
にガスを流入する流入口33,34を設けるとと
もに、端壁35にワイヤ2を挿通する挿通孔36
を形成し、さらにダクト本体32の中央部外側に
ワイヤ2を加熱する加熱装置37(本実施例にお
いては電気ヒータ)を取付けて構成されている。
そして加熱装置37でダクト本体32内を加熱す
ることにより、挿通孔36を通つて銅ワイヤ2を
加熱する。
一方流入口33から還元性ガスとしてアルゴン
+10%水素のガスを流入させ、流入口34から冷
却用ガスとしてアルゴンガスを流入させる。これ
らにより還元性ガス中で加熱されて還元され、活
性化された銅ワイヤ2は冷却され、酸化が防止さ
れた状態でキヤピラリ6の方に送られて行く。
なお、各実施例においては、加熱装置37とし
て電気ヒータを用いたが、ガスその他発熱装置な
らば何でもよい。また還元用ダクト21はワイヤ
繰出し部1aからキヤピラ6までの間のワイヤ経
路系1のいずれの部位に設けてもよい。さらにま
た、使用する卑金属ワイヤとして銅ワイヤを用い
たが、銅合金ワイヤ、アルミニウムワイヤ、アル
ミニウム合金ワイヤなどいずれを用いてもよい。
〔発明の効果〕
以上詳述したように、本発明のワイボンデイン
グ方法は、ワイヤ繰出し部からキヤピラリまでの
間にワイヤを加熱しながら還元性ガスの中を通す
還元処理を施すので卑金属ワイヤを用いても十分
還元され、活性化されるため、良好なボールを得
ることができ、また接合性も向上するので、高品
質な安定したボンデイングを行なうことができ
る。
さらにまた、本発明のワイヤボンデイング装置
はワイヤ経路系中に、還元用ダクトを設け、ダク
ト本体に還元性ガスの流入口および出口側に冷却
用ガスの流入口を設けさらに加熱装置を設けて構
成したので、十分加熱されてワイヤは還元される
とともに、出口において冷却されるから、活性化
が保持されたままボンデイングすることができる
ので本発明方法の効果を一層発揮する効果を奏す
るものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明装置の実施例の要部を示す構成
図、第2図は同じく第1の実施例の要部(還元用
ダクト)を示す断面図、第3図は同じく第2の実
施例の要部(還元用ダクト)を示す断面図であ
る。 1……ワイヤ経路系、1a……ワイヤ繰出し
部、スプール、2……卑金属ワイヤ、4,5……
クランパ、6……キヤピラリ、9,10……被接
合部材(集積回路リードフレーム)、22,23
……筒状部材、ダクト本体、24,33……流入
口(還元用)、25,34……流入口(冷却用)、
37……加熱装置。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 卑金属ワイヤをワイヤ繰出し部から導出しク
    ランパを介しキヤピラリに挿通して被接合部材に
    圧着してボンデイングする半導体装置のワイヤボ
    ンデイング方法において、上記ワイヤ繰出し部か
    ら上記キヤピラリまでの間において上記ワイヤを
    加熱して還元処理を行なうことを特徴とするワイ
    ヤボンデイング方法。 2 還元性ガスで卑金属ワイヤを加熱することを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載のワイヤボ
    ンデイング方法。 3 還元処理はワイヤを還元後還元性ガスまたは
    不活性ガスによる冷却を含むことを特徴とする特
    許請求の範囲第1項または第2項記載のワイヤボ
    ンデイング方法。 4 加熱用の還元性ガスは150℃〜400℃の温度で
    あることを特徴とする特許請求の範囲第1項ない
    し第3項のいずれかに記載のワイヤボンデイング
    方法。 5 卑金属ワイヤをワイヤ繰出し部から導出しク
    ランパを介してキヤピラリに挿通するワイヤ経路
    系を有する半導体装置のワイヤボンデイング装置
    において、上記ワイヤ経路系は上記ワイヤを挿通
    する筒状部材と、この筒状部材に還元性ガスを流
    入するガス流入口および還元後のワイヤを冷却す
    る還元性ガスまたは不活性ガスを流入するガス流
    入口と、上記筒状部材内のワイヤを加熱する加熱
    装置とを具備したことを特徴とするワイヤボンデ
    イング装置。 6 加熱装置は筒状部材に流入する還元性ガスを
    加熱してワイヤを加熱するものであることを特徴
    とする特許請求の範囲第5項記載のワイヤボンデ
    イング装置。 7 加熱装置は筒状部材を外側から加熱してワイ
    ヤを加熱するものであることを特徴とする特許請
    求の範囲第5項記載のワイヤボンデイング装置。
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US5152450A (en) * 1987-01-26 1992-10-06 Hitachi, Ltd. Wire-bonding method, wire-bonding apparatus,and semiconductor device produced by the wire-bonding method
ATE109387T1 (de) * 1988-02-23 1994-08-15 F&K Delvotec Bondtechnik Gmbh Vorrichtung und verfahren zur gesteuerten zuführung eines bonddrahtes zum wedge oder zur kapillare eines bondkopfes.
DE3915472C2 (de) * 1988-06-02 1995-11-30 Samsung Electronics Co Ltd Bondvorrichtung

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