JPH03252536A - 液晶温度検出器 - Google Patents
液晶温度検出器Info
- Publication number
- JPH03252536A JPH03252536A JP5216590A JP5216590A JPH03252536A JP H03252536 A JPH03252536 A JP H03252536A JP 5216590 A JP5216590 A JP 5216590A JP 5216590 A JP5216590 A JP 5216590A JP H03252536 A JPH03252536 A JP H03252536A
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- JP
- Japan
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- temperature
- voltage
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- Pending
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- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
この発明は、非接触で温度を計測する、例えば回転体等
で直接温度センサを装着し難いもの、発光物質等直接電
気的なセンサを用い難いもの等の温度を計測するのに有
効な液晶温度検出器に関する。
で直接温度センサを装着し難いもの、発光物質等直接電
気的なセンサを用い難いもの等の温度を計測するのに有
効な液晶温度検出器に関する。
（ロ）従来の技術
従来より、よく知られた温度測定技術としては、白金抵
抗体やサーミスタ等の温度センサを用いる方法、赤外線
を検出して温度を測定する方法等がある。
抗体やサーミスタ等の温度センサを用いる方法、赤外線
を検出して温度を測定する方法等がある。
（ハ）発明が解決しようとする課題
上記した従来の温度測定技術のうちサーミスタ等の温度
センサを使用するものは電気的な配線が必要であるため
、回転体等動く物や発光物等の測定には適さない。また
、赤外線検出による温度測定は非接触測定が可能である
が表面輻射熱の影響を受けやすいという問題がある。そ
こで、非接触でしかも表面輻射熱の影響を受けないもの
としてコレステリック液晶等、感温性の液晶材料を用い
、その色相の変化を目視判断することにより、温度測定
する試みがなされている。しかしながら、この方法も視
覚に頼るものであるため客観性に欠けるという問題があ
った。また、客観性を上げるために分光器を使用するこ
とも可能であるが、検出器が複雑、高価になるという問
題がある。
センサを使用するものは電気的な配線が必要であるため
、回転体等動く物や発光物等の測定には適さない。また
、赤外線検出による温度測定は非接触測定が可能である
が表面輻射熱の影響を受けやすいという問題がある。そ
こで、非接触でしかも表面輻射熱の影響を受けないもの
としてコレステリック液晶等、感温性の液晶材料を用い
、その色相の変化を目視判断することにより、温度測定
する試みがなされている。しかしながら、この方法も視
覚に頼るものであるため客観性に欠けるという問題があ
った。また、客観性を上げるために分光器を使用するこ
とも可能であるが、検出器が複雑、高価になるという問
題がある。
この発明は、上記問題点に着目してなされたものであっ
て、非接触で、比較的安価で、精度の良い液晶使用の温
度検出器を提供することを目的としている。
て、非接触で、比較的安価で、精度の良い液晶使用の温
度検出器を提供することを目的としている。
（ニ）課題を解決するための手段及び作用この発明の液
晶温度検出器は、被測定物に熱的に密着して配置され、
温度によって色相の変化する第１の液晶装置と、この第
１の液晶装置から離隔して配置され、温度、電圧等によ
って色相の変化する第２の液晶装置と、光源と、光源か
らの光を前記第１と第２の液晶装置で反射あるいは透過
させる光学系と、前記反射あるいは透過して来た光を検
出する光検出器と、この光検出器の出力に応答し、前記
第２の液晶装置の色相を制御する手段と、この第２の液
晶装置の制御信号から被測定物の温度を検出する手段と
から構成されている。
晶温度検出器は、被測定物に熱的に密着して配置され、
温度によって色相の変化する第１の液晶装置と、この第
１の液晶装置から離隔して配置され、温度、電圧等によ
って色相の変化する第２の液晶装置と、光源と、光源か
らの光を前記第１と第２の液晶装置で反射あるいは透過
させる光学系と、前記反射あるいは透過して来た光を検
出する光検出器と、この光検出器の出力に応答し、前記
第２の液晶装置の色相を制御する手段と、この第２の液
晶装置の制御信号から被測定物の温度を検出する手段と
から構成されている。
この液晶温度検出器では、第１の液晶装置が被測定物に
熱的に密着されているので、第１の液晶装置は、被測定
物の温度に応じて色相が変化する。
熱的に密着されているので、第１の液晶装置は、被測定
物の温度に応じて色相が変化する。
一方、光源を出た光は、光学系により第１の液晶装置、
第２の液晶装置で反射あるいは透過され、その反射ある
いは透過された光が光検出器で検出される。そして、こ
の光検出器の例えば出力が最大となるように、第２の液
晶装置の色相を制御信号で制御する。出力が最大となる
第２の液晶装置の色相が第１の液晶装置の色相に一致し
ており、このときの制御信号により被測定物の温度を知
ることができる。
第２の液晶装置で反射あるいは透過され、その反射ある
いは透過された光が光検出器で検出される。そして、こ
の光検出器の例えば出力が最大となるように、第２の液
晶装置の色相を制御信号で制御する。出力が最大となる
第２の液晶装置の色相が第１の液晶装置の色相に一致し
ており、このときの制御信号により被測定物の温度を知
ることができる。
（ホ）実施例
以下、実施例により、この発明をさらに詳細に説明する
。
。
第１図は、この発明の一実施例を示す液晶温度検出器の
構成図である。同図において被測定物１に熱的に密着し
て被検出液晶（第１の液晶装置）２が設けられている。
構成図である。同図において被測定物１に熱的に密着し
て被検出液晶（第１の液晶装置）２が設けられている。
この被検出液晶２は、温度や電圧によって色相の変化す
る例えばコレステリック液晶が使用され、もちろん液晶
自体はガラス容器に封入されている。検出液晶（第２の
液晶装置）３は、被測定物１から離隔して配置され、や
はり温度や電圧によって色相の変化する液晶を使用して
いる。光源４を出た光は、スリット５を経て、被検出液
晶２に投射され、その反射光がスリット６を経て、検出
液晶３に投射されている。
る例えばコレステリック液晶が使用され、もちろん液晶
自体はガラス容器に封入されている。検出液晶（第２の
液晶装置）３は、被測定物１から離隔して配置され、や
はり温度や電圧によって色相の変化する液晶を使用して
いる。光源４を出た光は、スリット５を経て、被検出液
晶２に投射され、その反射光がスリット６を経て、検出
液晶３に投射されている。
検出液晶３で反射された光はスリット７を経て、フォト
センサ（光検出器）８に入光する。このフォトセンサ８
では受光入力を電気信号に変換する。この電気信号は、
検出液晶駆動回路９に取り込まれ、一方、この検出液晶
駆動回路９は、検出液晶３に、値の変化する電圧を印加
し、検出液晶３の色相を制御している。また、検出液晶
３に印加される制御信号電圧は、電圧検出回路１０で検
出される。
センサ（光検出器）８に入光する。このフォトセンサ８
では受光入力を電気信号に変換する。この電気信号は、
検出液晶駆動回路９に取り込まれ、一方、この検出液晶
駆動回路９は、検出液晶３に、値の変化する電圧を印加
し、検出液晶３の色相を制御している。また、検出液晶
３に印加される制御信号電圧は、電圧検出回路１０で検
出される。
この実施例液晶温度検出器において、被検出液晶２は、
被測定物１の温度によって色相が変化する。光源４より
出た光は、スリット５を介し、被検出液晶２で反射され
、さらにスリット６を経て、検出液晶３で再度反射され
て、フォトセンサ８に受光される。このフォトセンサ８
の検出信号は、検出液晶駆動回路９に取り込まれるが、
この検出信号は、被検出液晶２と、検出液晶３の色相が
一致するほど光量が大となるため、大なる信号電圧が得
られる。したがって、検出液晶駆動回路９より検出液晶
３に印加する電圧を変化させ、フォトセンサ８より検出
される電圧が最大となる電圧を検出液晶駆動回路９から
検出液晶３に印加する。
被測定物１の温度によって色相が変化する。光源４より
出た光は、スリット５を介し、被検出液晶２で反射され
、さらにスリット６を経て、検出液晶３で再度反射され
て、フォトセンサ８に受光される。このフォトセンサ８
の検出信号は、検出液晶駆動回路９に取り込まれるが、
この検出信号は、被検出液晶２と、検出液晶３の色相が
一致するほど光量が大となるため、大なる信号電圧が得
られる。したがって、検出液晶駆動回路９より検出液晶
３に印加する電圧を変化させ、フォトセンサ８より検出
される電圧が最大となる電圧を検出液晶駆動回路９から
検出液晶３に印加する。
検出電圧がもっとも大なる時点で被検出液晶２と検出液
晶３の色相が一致したことになり、この時の印加電圧を
電圧検出回路１０で検出することにより、電圧値から被
測定物１の温度を測定することができる。
晶３の色相が一致したことになり、この時の印加電圧を
電圧検出回路１０で検出することにより、電圧値から被
測定物１の温度を測定することができる。
第２図は、この発明の他の実施例を示す液晶温度検出器
の構成図である。
の構成図である。
この実施例では、光源４を出た光がハーフミラ−１１を
経て被検出液晶２に投射されて、さらにその反射光をハ
ーフミラ−１１を介して反射させ、今度は、検出液晶３
を透過させて、フォトセンサ８で検出している点で第１
図のものと相違する。この実施例液晶温度検出器では、
被検出液晶２と検出液晶３の色相が一致した時、フォト
センサ８に受光される光量がもっとも小さくなる。した
がって、この時の検出液晶駆動回路９からの印加電圧を
電圧検出回路１０に導出することにより、やはり被測定
物１の温度を測定することができる。
経て被検出液晶２に投射されて、さらにその反射光をハ
ーフミラ−１１を介して反射させ、今度は、検出液晶３
を透過させて、フォトセンサ８で検出している点で第１
図のものと相違する。この実施例液晶温度検出器では、
被検出液晶２と検出液晶３の色相が一致した時、フォト
センサ８に受光される光量がもっとも小さくなる。した
がって、この時の検出液晶駆動回路９からの印加電圧を
電圧検出回路１０に導出することにより、やはり被測定
物１の温度を測定することができる。
第３図は、この発明のさらに他の実施例を示す液晶温度
検出器の構成図である。
検出器の構成図である。
この実施例は、光源４を出た光が、被検出液晶２を透過
し、さらに検出液晶３を透過してフォトセンサ８に取り
込まれる点、つまり被検出液晶２、検出液晶３のいずれ
もが光を透過させている点に特徴があり、さらに検出液
晶３の温度を温調回路１３で調節し、検出液晶３の設け
られるヒートブロック１２の温度を調節し、検出液晶３
の温度を変化させることにより、被検出液晶２に対する
検出液晶３の色相を一致させるようにしている。
し、さらに検出液晶３を透過してフォトセンサ８に取り
込まれる点、つまり被検出液晶２、検出液晶３のいずれ
もが光を透過させている点に特徴があり、さらに検出液
晶３の温度を温調回路１３で調節し、検出液晶３の設け
られるヒートブロック１２の温度を調節し、検出液晶３
の温度を変化させることにより、被検出液晶２に対する
検出液晶３の色相を一致させるようにしている。
この場合、被検出液晶２と検出液晶３の色相が一致した
時、フォトセンサ８に検出される光量が最も大となる。
時、フォトセンサ８に検出される光量が最も大となる。
この時の検出液晶３に与える温度が被検出液晶２、つま
り被測定物１の温度になる。
り被測定物１の温度になる。
第４図は、この発明のさらに他の実施例を示す液晶温度
検出器の構成図である。この実施例では、被測定物１の
広い範囲に亘って被検出液晶２を貼付し、光を走査する
ことによって、被検出物１の広い面の温度を計測する場
合を示している。したがって、光学系駆動部工５によっ
て、被検出液晶２に沿ってスリット５とスリット７間を
移動する可動光学系１４を備えている。この可動光学系
１４は、光源４よりスリット５を経て、入光する光を分
配するハーフミラ−１１，、Ｌ Ｌ、とスリット６から
構成されており、光源４よりの光は、ハーフミラ−１１
−１で被検出液晶２に投射され、その反射光がハーフミ
ラ−１１−Ｉを通過して１１−３で反射されて、スリッ
ト７より検出液晶３を透過し、フォトセンサ８に入力し
ている。このフォトセンサ８の信号が検出液晶駆動回路
９、電圧検出回路１０に取り込まれる。
検出器の構成図である。この実施例では、被測定物１の
広い範囲に亘って被検出液晶２を貼付し、光を走査する
ことによって、被検出物１の広い面の温度を計測する場
合を示している。したがって、光学系駆動部工５によっ
て、被検出液晶２に沿ってスリット５とスリット７間を
移動する可動光学系１４を備えている。この可動光学系
１４は、光源４よりスリット５を経て、入光する光を分
配するハーフミラ−１１，、Ｌ Ｌ、とスリット６から
構成されており、光源４よりの光は、ハーフミラ−１１
−１で被検出液晶２に投射され、その反射光がハーフミ
ラ−１１−Ｉを通過して１１−３で反射されて、スリッ
ト７より検出液晶３を透過し、フォトセンサ８に入力し
ている。このフォトセンサ８の信号が検出液晶駆動回路
９、電圧検出回路１０に取り込まれる。
第５図は、この発明のさらに他の実施例を示す液晶温度
検出器の構成図である。この実施例は、検出液晶３を被
測定物ｌ、被測定液晶２よりも光源４側に設けた点に特
徴がある。すなわちこの発明においては、被測定液晶２
と検出液晶３の光源４及びフォトセンサ８に対する相対
位置関係はどちらに近く設置するものであってもよい。
検出器の構成図である。この実施例は、検出液晶３を被
測定物ｌ、被測定液晶２よりも光源４側に設けた点に特
徴がある。すなわちこの発明においては、被測定液晶２
と検出液晶３の光源４及びフォトセンサ８に対する相対
位置関係はどちらに近く設置するものであってもよい。
（へ）発明の効果
この発明によれば、二つの液晶装置を用い、非接触で温
度測定を行うことができる。その上、光学的に温度測定
を行うものであるから、発火、爆発的な雰囲気でも使用
することができ、また、離れた場所における可動部分の
温度測定が可能である。その上、表面輻射の影響が少な
く、また２つの液晶装置と簡単な光学系で構成できるの
で、安価に温度検出器を構成することができる。
度測定を行うことができる。その上、光学的に温度測定
を行うものであるから、発火、爆発的な雰囲気でも使用
することができ、また、離れた場所における可動部分の
温度測定が可能である。その上、表面輻射の影響が少な
く、また２つの液晶装置と簡単な光学系で構成できるの
で、安価に温度検出器を構成することができる。
第１図は、この発明の一実施例を示す液晶温度検出器の
構成図、第２図、第３図、第４図及び第５図は、この発
明のそれぞれ他の実施例を示す温度検出器の構成図であ
る。 １：被測定物、 ２：被検出液晶、３：検出液晶、
４：光源、 ８；フォトセンサ、 ９：検出液晶駆動回路、１０：電
圧検出回路。
構成図、第２図、第３図、第４図及び第５図は、この発
明のそれぞれ他の実施例を示す温度検出器の構成図であ
る。 １：被測定物、 ２：被検出液晶、３：検出液晶、
４：光源、 ８；フォトセンサ、 ９：検出液晶駆動回路、１０：電
圧検出回路。
Claims (1)
- （１）被測定物に熱的に密着して配置され、温度によっ
て色相の変化する第１の液晶装置と、この第１の液晶装
置から離隔して配置され、温度、電圧等によって色相の
変化する第２の液晶装置と、光源と、光源からの光を前
記第１と第２の液晶装置で反射あるいは透過させる光学
系と、前記反射あるいは透過して来た光を検出する光検
出器と、この光検出器の出力に応答し、前記第２の液晶
装置の色相を制御する手段と、この第２の液晶装置の制
御信号から被測定物の温度を検出する手段とからなる液
晶温度検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5216590A JPH03252536A (ja) | 1990-03-02 | 1990-03-02 | 液晶温度検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5216590A JPH03252536A (ja) | 1990-03-02 | 1990-03-02 | 液晶温度検出器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03252536A true JPH03252536A (ja) | 1991-11-11 |
Family
ID=12907221
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5216590A Pending JPH03252536A (ja) | 1990-03-02 | 1990-03-02 | 液晶温度検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03252536A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6953281B2 (en) * | 2001-04-21 | 2005-10-11 | Robert Bosch Gmbh | Method for determining temperatures on semiconductor components |
-
1990
- 1990-03-02 JP JP5216590A patent/JPH03252536A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6953281B2 (en) * | 2001-04-21 | 2005-10-11 | Robert Bosch Gmbh | Method for determining temperatures on semiconductor components |
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