JPH03255633A - Icパッケージのバンプ形成方法 - Google Patents

Icパッケージのバンプ形成方法

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Publication number
JPH03255633A
JPH03255633A JP2053313A JP5331390A JPH03255633A JP H03255633 A JPH03255633 A JP H03255633A JP 2053313 A JP2053313 A JP 2053313A JP 5331390 A JP5331390 A JP 5331390A JP H03255633 A JPH03255633 A JP H03255633A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
bumps
insulating substrate
bump
conductor layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2053313A
Other languages
English (en)
Inventor
Nobuhiko Miyawaki
宮脇 信彦
Rokuro Kanbe
六郎 神戸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Niterra Co Ltd
Original Assignee
NGK Spark Plug Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NGK Spark Plug Co Ltd filed Critical NGK Spark Plug Co Ltd
Priority to JP2053313A priority Critical patent/JPH03255633A/ja
Publication of JPH03255633A publication Critical patent/JPH03255633A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/0306Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/0011Working of insulating substrates or insulating layers
    • H05K3/0044Mechanical working of the substrate, e.g. drilling or punching
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/40Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K3/4007Surface contacts, e.g. bumps

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は、ICパッケージの出力端子として設けられる
バンプの形成方法に関する。
[従来の技術] 従来より、バンプは、グリーンシートの裏面にタングス
テン(W)の導体ペーストをスクリーン印刷し、焼成し
て研磨した後、外表面にNiメツキおよびAuメツキが
順に施されて形成されている。
[発明が解決しようとする課題] しかるに、従来のバンプは、スクリーン印刷で形成する
方法が一般的であるため、例えば、バンプ径: 0.3
mm 、パン1間ピッチ: 0.65mm、およびバン
プ高さ: max250μがほぼ限界である。
このため、これ以上の高密度化の要求に対して、現状で
は対応できない課題を有している。
また、バンプは、グリーンシートにスクリーン印刷され
た導体ペーストが、セラミックの焼結と同時にメタライ
ズされて形成される。このため、セラミックの焼成収縮
率の影響を受けて、精度のバラツキを生じる課題を有し
ていた。
本発明は上記事情に基づいてなされたもので、その目的
は、高密度で、且つ高精度のバンプを形成することので
きるICパッケージのバンプ形成方法を提供することに
ある。
[課題を解決するための手段] 本発明は上記目的を達成するために、請求項1では、主
面上にICチップが搭載される絶縁性基板の前記主面の
反対側である裏面を研磨した後、その裏面に一定の厚さ
を有する導体層を形成し、該導体層を、適宜の溝幅およ
びピッチで前記絶縁性基板に達するまで縦横に切り込み
、切り残された各導体層をそれぞれバンプとすることを
技術的手段とする。
また、請求項2では、焼成前の絶縁性シートの一方の平
面に一定の厚さで導体ペーストを塗布し、該導体ペース
トが塗布された前記絶縁性シートを焼成して絶縁性基板
を作成し、焼成によって該絶縁性基板の一方の平面に形
成された導体層を、適宜の溝幅およびピッチで前記絶縁
性基板に達するまで縦横に切り込み、切り残された各導
体層をそれぞれバンプとすることを技術的手段とする。
[作用および発明の効果] 請求項1および請求項2の本発明は、絶縁性基板の裏面
あるいは一方の平面に形成された導体層を、適宜の溝幅
およびピッチ(間隔)で絶縁性基板に達するまで縦横に
切り込むことにより、方形状を呈する多数の導体層が形
成される。
従って、満幅およびピッチを適宜に設定することにより
、高密度のバンプを形成することが可能となる。バンプ
の高さは、導体層の厚さおよび絶縁性基板への切り込み
深さを大きくすることにより、従来のmax250μよ
り高い電極を形成することができる。
また、絶縁性基板に形成された導体層を縦横に切り込み
、切り残された各導体層をそれぞれバンプとする方法で
あるため、焼成収縮率の影響を受けることなく、高精度
のバンプを形成することができる。特に、請求項1では
、研磨された絶縁性基板の裏面に一定の厚さの導体層を
形成するため、基板の平滑度が高く、従って、バンプの
高さを均一に形成することができる。
[実施例] 次に、本発明のICパッケージのバンプ形成方法を図面
に示す一実施例に基づき説明する。
第1図は、バンプの形成過程を示す斜視図である。
本実施例のバンプ(第2図参照)1は、ICチップ(図
示しない)の出力端子として、ICパッケージ2の裏面
(第1図上面〉に形成されている。
ICパッケージ2は、アルミナを主原料として作成され
た多数のグリーンシートを積層して、加湿雰囲気の水素
炉中で高温焼成して得られる多層セラミック基板2aよ
り構成される。
以下に、バンプ1の形成工程を説明する。
まず、セラミック基板2aの両面が研磨されて、ICチ
ップが搭載される主面上には、薄膜による配線パターン
(図示しない)が形成される。
セラミック基板2aの裏面には、MOとMnの混合ペー
ストが一定の厚さ(例えば30μm)でスクリーン印刷
され、還元雰囲気中にて焼成することでメタライズ(本
発明の導体Jii)2bが形成される。
次に、厚さ0.2mmのダイヤモンド刃を有するダイシ
ングソー(切断り3で、メタライズ2bが形成された基
板2aの裏面を、第1図に示すように、ビッヂo、2m
mで縦横に切り込む。
このとき、要求されるバンプ1の高さに応じて切り込み
深さか決定されるため、例えば、バンプ1の高さを20
0μmと設定すれば、170μmだけ基板2aの内部ま
で切り込まれることになる。なお、バンプ1の高さは、
フラックスの洗浄を確実に行うために、最低100μm
の高さが望まれる。
このように基板2aの裏面を縦横に切り込むことにより
、第2図に示すように、切り残された方形状(0,2m
m角〉の各メタライズ2b部分が、バンプ1として形成
される。
本実施例の方法によれば、ダイヤモンド刃の厚み、およ
び切り込みピッチを小さく設定することで、従来より高
密度にバンプ1を形成することができる。また、基板2
a内部への切り込み深さを深くすることにより、従来の
■ax250μmより高いバンプ1を形成することも可
能である。
さらには、焼成された基板2a上にバンプ1を形成する
ことから、セラミックの焼成収縮率の影響を受けること
がないため、セラミックの焼結と同時に形成される従来
のバンプと比較して、高精度のバンプ1を得ることがで
きる。特に、本実施例では、研磨された基板2aの裏面
にメタライズ2bを形成するため、基板2aの平滑度が
高く、従って、バンプ1の高さを均一に形成することが
できる。
(変形例) 上記実施例では、研磨された基板2aの裏面にメタライ
ズ2bを形成してバンプ1を得る方法を示したが、グリ
ーンシート(本発明の絶縁性シート)に導体ペーストを
塗布し、セラミックの焼結と同時に形成されるメタライ
ズによってバンプ1を形成しても良い、この場合、メタ
ライズが形成された基板2a裏面の平滑度が上記実施例
の場合より低下するため、メタライズ面を研磨すること
が望ましい。
本発明の導体層として、MoとMnの混合ペーストを焼
成して得られるメタライズ2bを示したが、タングステ
ン(W>メタライズでも良い。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は本発明の一実施例を示すもので、
第1図はバンプの形成過程を示す斜視図、第2図はIC
パッケージに形成されたバンプの斜視図である。 図中 1・・・バンプ 2a・・・セラミック基板(絶縁性基板)2b・・・メ
タライズ(導体層)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)主面上にICチップが搭載される絶縁性基板の前記
    主面の反対側である裏面を研磨した後、その裏面に一定
    の厚さを有する導体層を形成し、該導体層を、適宜の溝
    幅およびピッチで前記絶縁性基板に達するまで縦横に切
    り込み、切り残された各導体層をそれぞれバンプとする
    ICパッケージのバンプ形成方法。 2)焼成前の絶縁性シートの一方の平面に一定の厚さで
    導体ペーストを塗布し、該導体ペーストが塗布された前
    記絶縁性シートを焼成して絶縁性基板を作成し、焼成に
    よって該絶縁性基板の一方の平面に形成された導体層を
    、適宜の溝幅およびピッチで前記絶縁性基板に達するま
    で縦横に切り込み、切り残された各導体層をそれぞれバ
    ンプとするICパッケージのバンプ形成方法。
JP2053313A 1990-03-05 1990-03-05 Icパッケージのバンプ形成方法 Pending JPH03255633A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102398065A (zh) * 2011-11-11 2012-04-04 常州澳弘电子有限公司 金属基线路板外形加工方法
CN108406135A (zh) * 2018-03-21 2018-08-17 厦门大学 一种陶瓷基板连续化激光切割装置及其切割方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102398065A (zh) * 2011-11-11 2012-04-04 常州澳弘电子有限公司 金属基线路板外形加工方法
CN108406135A (zh) * 2018-03-21 2018-08-17 厦门大学 一种陶瓷基板连续化激光切割装置及其切割方法
CN108406135B (zh) * 2018-03-21 2019-12-27 厦门大学 一种陶瓷基板连续化激光切割装置及其切割方法

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