JPH03257160A - ダイポールリング型磁気回路を用いたスパッタ装置 - Google Patents

ダイポールリング型磁気回路を用いたスパッタ装置

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JPH03257160A
JPH03257160A JP5303490A JP5303490A JPH03257160A JP H03257160 A JPH03257160 A JP H03257160A JP 5303490 A JP5303490 A JP 5303490A JP 5303490 A JP5303490 A JP 5303490A JP H03257160 A JPH03257160 A JP H03257160A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、スパッタ装置に関し、特に、高周波電圧を印
加したターゲットの表面からダイポールリング型磁気回
路を利用してマグネトロンスパッタリングにより試料原
子を真空中に放出させて基板の表面に薄膜を形成するス
パッタ装置に関する。
本発明は、ターゲットとして鉄などの軟磁性体を使用す
る場合に好適である。
[従来の技術] 周知の如く、スパッタ装置は電子・電気分野において薄
膜製造に広く使用されている。スパッタリングは大きく
分けて次の2種類、即ち、ターゲットに直流電圧を印加
して行なうDCスパッタとターゲットに高周波電圧を印
加して行なうRFスパッタに分類される。更に、このD
C及びRFスバッタハ、夫々コンベンショナルモードと
マグネトロンモードに分類される。つまり、合計4種類
のスパッタリングが知られている。
これらの4種類のスパッタリングの内、マグネトロンモ
ードは、ターゲットに磁場を印加し、不活性ガスに高電
圧を加えて発生させたプラズマを磁場内に閉じ込めるこ
とにより、スパッタ効率を上げて成膜速度を速くすると
共に薄膜が形成される基板の温度上昇を抑えることがで
きる。このため、量産を目的とする場合には、DC及び
RFスパッタの何れにおいても、マグネトロンモードを
採用するのが普通である。
第4図を参照して、従来のスパッタ装置の一例を簡単に
説明する。第4図に示すスパッタ装置10は2極スパツ
タ装置であり、2枚の平板の一方をスパッタされるター
ゲット(陰極)12とし、他方の平板を膜形成用の基板
14を保持する基板ホルダー16とする。参照番号18
はターゲット12に高周波電圧を印加するための電極で
ある。
第4図からは明らかでないが、ターゲット12、電極1
8及び基板ホルダー16は夫々円板状である。ターゲッ
ト12に隣接する磁石20は環状であり、他の円柱状磁
石22を囲むように配置されている。破線24は図示の
装置を内部に収容する容器を示し、この容器24の外部
には、容器内部を真空にする装置、ターゲット電極、ア
ルゴンガス等の不活性ガス供給源、真空計等が設けられ
ている。尚、26は不活性ガスイオン、28はプラズマ
、30はスパッタ原子、32はシャッタを示す。
マグネトロンモードを利用したスパッタ装置は、第4図
の装置以外にも種々提案されている。しかし、この種の
従来の装置には次のような欠点がある。
即ち、従来のマグネトロンモードのスパッタ装置では、
ターゲツト面上の磁場分布が一様でないためターゲツト
面上のプラズマ強度が均一にならない。つまり、ターゲ
ットの表面の消耗が不均一なためにターゲットの使用効
率が極めて悪く、例えば使用効率は約10%から約30
%(体積比)であった。更に、ターゲットが軟磁性体の
場合(例えば鉄)には磁束漏洩が起きにくいが、−旦タ
ーゲットが消耗し始めると厚みの薄くなった消耗箇所に
益々磁束が集中して局部的にターゲットの厚みが減少し
、消耗箇所が漏斗状となり一使用効率が極端に低下する
という問題があった。この様子を第5図及び第6図に示
す。
第5図は第4図のターゲット12の簡単な斜視図であり
、ターゲット12が環状に不均一に侵食されたV字形溝
40を示している。この溝40は環状の永久磁石20(
第4図)の外側に漏れた磁束に起因する。このターゲッ
ト表面の不均一消耗のため上述のようにターゲットの使
用効率が極端に制限される。尚、第6図は第5図のター
ゲット12の中心を通る断面を示す図である。
このような欠点を除去するため、従来、ターゲット近傍
に配置した磁石を移動させてターゲットを出来るだけ均
一に消耗させようとする装置が提案されている(例えば
、特開昭61−69964号、特開昭61−14787
3号、特開昭62−7854号)。しかし、これらの方
法によってもタータット使用効率は高々的40%(体積
比)であり、磁気回路を移動させるので装置の複雑化と
信頼性に問題があった。更に、ターゲットが磁性体の場
合には、ターゲットの表面全体に亘って縦・横方向にス
リットを入れて漏洩磁束が一箇所に集中しないようにす
る方法も提案されているか、ターゲットの使用効率は3
0%程度でありしかも製作費が高いという問題があった
このような問題を解決するため、本願の特許出願人は先
にダイポールリング型磁気回路を用いたスパッタ装置を
提案した(平底2年2月12日出願の特許願(1)及び
(2))。
本発明に直接関係するダイポールリング型磁気回路を述
べる前に、RFスパッタリングと水平−様磁場の印加に
よって、何故ターゲットの表面消耗が均一化され成膜速
度が上昇するかについて説明する。尚、本明細書におい
て水平−様磁場とは、ターゲットの表面に対して平行方
向の均一磁場を指す。
水平−様磁場をターゲット表面近傍に印加したとき、直
流或いは高周波電圧により放電1.た不活性ガスの電子
が磁束をよぎるように移動する。DCスパッタではプラ
ズマ中の電子は一方向に移動するためプラズマ発生はタ
ーゲットの端部に偏ってしまい、水平−様磁場を印加し
てもターゲット消耗は一様にはならない。しかし、RF
スパッタでは高周波電圧によりプラズマが発生するため
、水平−様磁場によりターゲツト面上に均一なプラズマ
が発生する。つまり、ターゲット表面は一様に消耗する
ことになる。後述するダイポールリング型磁気回路によ
る水平−様磁場は、ターゲット12の裏側(ターゲット
12の上側(図面上))から磁場を印加している方法(
第4図)に比較し、ターゲット12の表面に水平−様磁
場を印加できるので、成膜速度はDCマグネトロンスパ
ッタと同等以上になる。
次に、第7図を参照して本発明に直接関係するダイポー
ルリング型磁気回路を説明する。
第7図は、ダイポールリング型磁気回路50及びターゲ
ット12(第2図と同じ)を示し、他の部分は例えば第
4図に示した従来例と同様なので図示を省略しである。
即ち、第4図の装置において、ターゲット12の周囲を
囲むようにしてダイポールリング型磁気回路50(第7
図)を配置すればよい。
第7図について更に詳しく説明する。ダイポールリング
型磁気回路(以下単に磁気回路という場合がある)50
は、8個の異方性永久磁石(異方性セグメント永久磁石
)52a乃至52hを環状に配置し、架台(リングヨー
ク)54と複数のセグメント磁石調節具56により支持
されている。
この調節具56により対応するセグメント磁石を磁気回
路50の径方向に移動させて磁場調節を行なう。尚、図
面を見易くするため、調節具56の番号は全部には付け
ていない。セグメント永久磁石52a乃至52h内の矢
印は夫々磁石の磁化方向を示している。セグメント磁石
の磁化方向は、セグメント毎に異なっており、リングを
一周する間に磁化方向は2回転する。側面(セグメント
永久磁石52a及び52e)にN極及びS極の2極が出
るのでダイポールリング型と称する。即ち、セグメント
永久磁石52a及び52eは極位置のセグメント永久磁
石である。白抜きの矢印58は磁気回路50の内部に形
成された均一磁界の磁化方向を示している。
ダイポールリング型磁気回路の利点は、リングの中心軸
方向の長さを延ばしたり(即ちセグメント永久磁石の中
心軸(第8図)方向の長さを延ばしたり)、或いは、複
数のリングを用いるなどにより、均一磁場発生空間の調
節を容易にすることである。セグメント永久磁石の数は
、4個以上の偶数個であれば良い。一般的には、セグメ
ント永久磁石数が多い程磁場均−性が良好になるが、実
用的には8個から16個の間で製作される。更に、セグ
メント永久磁石を夫々バックヨークで保持する場合もあ
る(図示を省略)。ターゲット12は磁気回路50内に
設置され、通常は磁気回路の高さ(中心軸に沿った高さ
)の中心位置に置かれる。
磁気回路に対するターゲット12の位置を中心軸に沿っ
て移動させることにより、ターゲット12の表面の磁場
強度を調節することができる。
上述したように、マグネトロンスパッタでは、不活性ガ
スイオンがターゲツト面上に生じた磁束に拘束されるの
で、ターゲツト面上の磁束強度と磁場均一性が重要とな
る。水平磁場の一様性は良好であればある程良いが、実
用的には5%以下であれば良い。たとえばターゲット面
上3QII11高さでの磁場強度が50G(ガウス)以
下では成膜速度が遅くなるので、50Gを超える磁場が
必要である。一般的には300G程度の磁場が好ましい
即ち、磁場が強いはど成膜速度が上昇するが、強すぎる
と放電条件が厳しくなるという問題がある。
ところで、第7図に示したダイポールリング型磁気回路
の中心軸(第7図において紙面に垂直な軸)に沿った各
セグメント永久磁石の長さは全て等しい。第8図は、第
7図のA−B線を含む平面で切断した断面図であり、ダ
イポールリング型磁気回路の中心軸(第8図において紙
面に平行な軸)に沿った各セグメント永久磁石の長さが
等しいことを示している(但しセグメント永久磁石52
b。
52c、52dは示されていない)。
このように、ダイポールリング型磁気回路の各セグメン
ト永久磁石の中心軸に沿った長さが等しいため、次のよ
うな問題があった。即ち、ターゲットが鉄のように軟磁
性体の場合、ターゲ・ント内部に磁束の集束作用が起き
るためにターゲツト面上で水平磁場強度が均一にならな
い。この様子を模式的に第9図に示す。
第9図に示すように、極位置(N極)にあるセグメント
永久磁石52aの上部及び下部からの磁束は、軟磁性体
ターゲット12に引かれ、一方、他の極位置(S極)に
あるセグメント永久磁石52eはターゲット12中の磁
束を上部及び下部に引く。このため、ターゲット12の
極位置永久磁石に近い周辺部では、磁場の水平方向成分
が増加し、逆にこの部分でのターゲット内の磁束が減少
する。つまり、ターゲット12の表面の極位置に近い磁
場は均一にならないため、ターゲットの使用効率の上昇
の割合が十分満足するものでなかった。
[発明の目的] 本発明の目的は、ダイポールリング型磁気回路の中心軸
に直角方向の断面の形状を楕円形とし、極位置にあるセ
グメント永久磁石とターゲットの距離を、他のセグメン
ト永久磁石とターゲットとの距離より長くして上述の欠
点を解決したスパッタ装置を提供することである。
[課題を解決するための手段及び作用]本発明は、高周
波電圧を印加したターゲットの表面からダイポールリン
グ型磁気回路を用いてマグネトロンスパッタリングによ
り試料原子を真空中に放出させて基板の表面に薄膜を形
成する装置において:上記ダイポールリング型磁気回路
の中心軸に対して直角方向の断面の形状が略々楕円形で
あり、上記ダイポールリング型磁気回路を構成する複数
のセグメント永久磁石の内、極位置にあるセグメント永
久磁石の磁化方向が上記楕円形の長軸方向と一致するこ
とを特徴とするダイポールリング型磁気回路を利用した
スパッタ装置である。
[実施例] 以下、第1図乃至第3図を参照して本発明の詳細な説明
する。
第1図乃至第3図において、上述の第7図乃至第9図に
示した部分と同一の部分には同一参照番号を付しである
。第1図乃至第3図において既に説明した部分について
は説明を省略する場合がある。
第1図は本発明に係るダイポールリング型磁気回路50
’の中心軸(第2図参照)の方向からみた側面図である
。第1図の磁気回路は、例えば、第4図に示した従来の
スパッタ装置に組み込んで使用される。第2図は第1図
の線C−Dを含む平面で切断んた断面図である。
第1図から明らかなように、ダイポールリング型磁気回
路50′の中心軸(第2図参照)に直角方向の断面は略
々楕円形であり、ダイポールリング型磁気回路50′を
構成する複数のセグメント永久磁石52a乃至52hは
夫々、断面が楕円形のバックヨーク62の内側に設けら
れている。調節具56は、第7図の場合と同様に、対応
するセグメント磁石を磁気回路50′の中心軸方向に対
して前進或いは後退させて磁場調節を行なうためのもの
である。
第1図に示すように、ダイポールリング型磁気回路50
’を構成する複数のセグメント永久磁石52a乃至52
hの内、極位置にあるセグメント永久磁石52a及び5
2eの磁化方向は楕円形の長袖方向と一致するようにし
である。
このように磁気回路50′の極位置のセグメント磁石5
2a及び62eの磁化方向と、楕円形の長袖方向を一致
させることにより、第3図に示すように、ターゲット1
2の極位置磁石に近い周辺部の集束角度を小さくするこ
とができる。即ち、極位置にあるセグメント永久磁石を
ターゲット12から遠ざけることにより、ターゲット1
2への磁束集束が緩和されるので、ターゲット12は均
一に飽和される。従って、ターゲット表面に均一な水平
磁場強度を得ることができる。
本発明によれば、非磁性ターゲット、強磁性ターゲット
の何れの場合においても−様な水平磁場が得られるので
、厚膜ターゲットの使用も可能となる。このことは、ス
パッタ装置の稼動効率の上からも、ターゲット使用効率
の上からも非常に有利である。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、特に軟磁性体タ
ーゲット表面に一様水平磁場を発生させることができる
ので、ターゲットの使用効率及び装置の稼動効率を飛躍
的に上げることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係るスパッタ装置用のダイポールリン
グ型磁気回路の概略側面図、第2図は第1図の線C−D
を含む平面で切断した断面図、第3図は本発明を説明す
る断面図(第2図に対応)、第4図は従来のスパッタ装
置を説明する図、第5図及び第6図は夫々従来例を説明
するための図、第7図は従来のダイポールリング型磁気
回路の概略側面図、第8図は第7図の線A−Bを含む平
面で切断した断面図、第9図は従来例を説明するための
断面図(第8図に対応)である。 図中、12はターゲット、50′はグイポール型磁気回
路、52a’ 、52e’は夫々ダイポールリング型磁
気回路の極位置にあるセグメント永久磁石、52b、5
2c、52d、52f、52g、52hは夫々極位置以
外にあるセグメント永久磁石を示す。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)高周波電圧を印加したターゲットの表面からダイ
    ポールリング型磁気回路を用いてマグネトロンスパッタ
    リングにより試料原子を真空中に放出させて基板の表面
    に薄膜を形成する装置において、 上記ダイポールリング型磁気回路の中心軸に対して直角
    方向の断面の形状が略々楕円形であり、上記ダイポール
    リング型磁気回路を構成する複数のセグメント永久磁石
    の内、極位置にあるセグメント永久磁石の磁化方向が上
    記楕円形の長軸方向と一致する ことを特徴とするダイポールリング型磁気回路を利用し
    たスパッタ装置。
  2. (2)上記ターゲットは軟磁性体である特許請求の範囲
    第1項に記載のスパッタ装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0661728A1 (en) * 1993-12-28 1995-07-05 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Dipole ring magnet for use in magnetron sputtering or magnetron etching
US5444207A (en) * 1992-03-26 1995-08-22 Kabushiki Kaisha Toshiba Plasma generating device and surface processing device and method for processing wafers in a uniform magnetic field
US5660744A (en) * 1992-03-26 1997-08-26 Kabushiki Kaisha Toshiba Plasma generating apparatus and surface processing apparatus

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