JPH03257307A - 三次元形状認識方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は三次元形状認識装置に関し、特に非接触式のも
のに適用して有用なものである。

〈従来の技術〉 工作機械の分野において、倣い加工や衝突を防止する用
途で、三次元形状を認識する必要が生じる場合がある。

非接触の三次元形状認識の一手法として光切断法がある
。これは、スリット光が測定対象物の座標を求めるもの
である。

この光切断法による従来の三次元形状認識装置を、第１
２図に示す。同図に示すようにテーブル１上に載置した
測定対象物２には、スリット光発生器３からスリット光
４が照射される。カメラ５は、スリット光照射により形
成された光学像を撮影する。乙のカメラ５て撮影された
画像に対応した画像データは画７ 像取り込み器６に取り込まれ、画像データを座標演算器
７で演算することにより測定対象物２の形状を認識して
いる。このとき、座標演算器７には、カメラ５のレンズ
の焦点距離ｆ等の諸元、スリット光４とカメラ５の光軸
がなす角度θ及びスリット光４のｙ軸方向の位置情報が
供給されている。

第１３図（ａｌは第５図の平面図、第１３図（ｂ）は第
１２図の正面図であり、スリット光４と平行な面をｚ　
−Ｘ平面にとり、スリット光４とカメラ５の光軸とがな
す角度をθとし、光軸をｙ　−Ｘ平面にとっている。

ここで、座標演算器７による座標の算出演算を、第１４
図（ａ）　（ｂ）　ｔｃ＋を参照して説明する。

なお第１４図（Ｃ１はカメラ５で撮影した画像内の座標
を示す。

スリット光４はｚ　−Ｘ平面に対し平行であるから、ス
リット光の式は ｙ＝Ｑ　　　　　　　　　　　　・・（１）物体距離り
でのレンズの拡大率をＭとするとｙ−Ｘ平面における視
角の式は、画像内座標をαとすれば スリット光の切断線のＺ座標は式（１）から同じくＸ座
標は、画像内座標をβとすれば式（４１，（５）よりＺ
座標及びＸ座標が算出される。

測定対象物全体にこの演算を行うことにより、形状が認
識できろ。

〈発明が解決しようとする課題〉 上述したように光切断法による三次元形状認識装置では
、スリット光４が測定対象物に当たって乱反射した光を
カメラ５が受光し、その像より測定対象物の座標を求め
るのであるが、測定対象物の素材、形状によっては実像
以外に虚像が発生することがある。

更に評言すると、第１５図に示すように、反射率の高い
素材の急斜面では、測定対象物２の急斜面を鏡面とした
鏡像である虚像■がスリット光４の照射により実像■と
ともに発生し、この場合には第１６図に示すような画像
データがカメラ５により取り込まれ、後の画像処理では
虚像■も実像として処理してしまう結果、誤った形状認
識をしてしまう。

更に、第１７図及び第１８図に示すように、反射率の高
い素材の測定対象物２の急斜面にスリット光４を照射し
た場合には、スリット光４が正反射し、正反射した光が
測定対象物２の他の面を照射し、この結果形成される虚
像■を実像として処理してしまう結果、誤った形状認識
をしてしまう。

本発明は、上記従来技術に鑑み、虚像が形成されても測
定対象物の形状を正確に認識することができる三次元形
状認識方法及び装置を提供することを目的とする。

く課題を解決するための手段〉 上記目的を達成する本発明の構成は、 スリット光発生器から測定対象物に向けてスリット光を
照射するとともに、前記スリット光発生器を、スリット
光と平行な面に対し交差する方向に移動させる一方、各
照射位置におけろ測定対象物からのスリット光の反射光
をカメラで撮影し、このカメラで撮影した各反射光を画
像処理して各画像座標を求め、各画像座標、スリット光
の位置の座標、スリット光とカメラの光軸のなす角度θ
、カメラのレンズの諸元に基づいて測定対象物の三次光
彩形状をｉ！！識するようになっている三次元形状認識
方法において、 認識した三次元形状とスリット光のなす角度ψを求め、
この角度ψと前記角度θとを比較し、ψ＞θとなる三次
元形状を抽出して認１ 識すること、 測定対象物によるスリット光の反射光を異なる位置から
、若しくは異なる姿勢でカメラで撮影し、各々の場合の
反射光の画像座標を夫々求めて両者を比較し、両画像座
標が一致するものを抽出する乙と、及び 測定対象物によるスリット光の反射光を異なる位置から
、若しくは異なる姿勢でカメラで撮影し、各々の場合の
反射光の画像座標を夫々求めて両者を比較し、両画像座
標が一致するものを抽出するとともに、両画像座標が一
致しない場合は、各画像座標と各位置若しくは姿勢にお
けるカメラとを通る直線同志の交点を求め、この交点と
一致する画像座標を除去するようにした乙とを特徴とす
る。

また、上記目的を達成する本発明装置の構成は、 測定対象物に向けてスリット光を照射するとともに、ス
リット光と平行な面に対し交差する方向に移動するスリ
ット光発生器と、各１２ 照射位置における測定対象物からのスリット光の反射光
を撮影するカメラと、このカメラで撮影した各反射光を
画像処理して各画像座標を求め、各画像座標、スリット
光の位置の座標、スリット光とカメラの光軸のなす角度
θ、カメラのレンズの諸元に基づいて測定対象物の形状
を検出する画像処理手段とを有する三次元形状認識装置
において、 認識した三次元形状とスリット光のなす角度ψを計測す
る形状傾斜角計測器と、前記角度ψと角度θとを比較し
、ψ＞θの場合のみ認識した形状を実像と判定する実像
・虚像判定器とを有すること、 隣接する異なる位置に配設された２台のカメラと、各カ
メラで撮影した画像を処理する２系統の画像処理手段と
、各画像処理手段の処理データである画像座標を比較し
、両画像座標が一致するものを実像と判定する座標比較
器とを有すること、 位置若しくは姿勢を移動可能に設置されたカメラと、移
動前のカメラで撮影し画像処理手段により処理して得る
画像座標を記憶する座標記憶器と、移動後のカメラで撮
影し画像処理手段により処理して得る画像座標と前記座
標記憶器に記憶している画像座標とを比較し、両画像座
標が一致するものを実像と判定する座標比較器とを有す
ること、及び 隣接する異なる位置に配設された２台のカメラと、各カ
メラで撮影した画像を処理する２系統の画像処理手段と
、各画像処理手段の処理データである画像座標を比較す
る座標比較器と、前記両画像座標を記憶する座標記憶器
と、座標比較器の比較結果が一致しないとき１次反射虚
像が発生していると判定する１次反射虚像判別器と、１
次反射虚像の発生が検知されたとき各座標と各カメラと
を通る直線同志の交点を求め、座標記憶器の記憶内容と
比較することにより前記交点と一致する画像座標は１次
反射虚像が更に反射して発生した２次反射虚像であると
判定する２次反射虚像判別器とを有することを特徴とす
る。

く作　　　用〉 上記構成の本発明によれば、認識した三次元形状とスリ
ット光のなす角度ψと、スリット光とカメラの光軸のな
す角度θを比較することにより実像と虚像を区別し得る
。即ち、ψ＞θの場合が実像である。

また、位置若しくは姿勢が異なるカメラで夫々取り込ん
た画像座標を比較することにより実像と虚像を区別し得
る。即ち、両画像座標が一致する場合が実像である。

更に、前記カメラで取り込んだ画像座標が一致しなかっ
ｌコ場合には、各画像座標と各位置若しく（よ姿勢にお
けるカメラとを通る直線同志の交点を求め、この交点と
一致する画像座標を求めることにより１次反射虚像が更
に反射して形成される２次反射虚像も検出される。

く実　施　例〉 以下本発明の実施例を図面に基づき詳細に１５ 説明する。なお、従来技術と同一部分、及び各実施例同
志で同一部分には同一番号を付し重複する説明は省略す
る。

第１図は本発明の第１の実施例を示す構成図である。同
図に示すように、形状傾斜角計測器８は、認識した三次
元形状とスリット光のなす角度ψを計測するものである
。実像・虚像判定器９は、前記角度ψと、スリット光４
とカメラ５の光軸のなす角度θとを比較し、ψ＞θのみ
認１１１した形状を実像と判定して、この実像に対応す
るデータを抽出するものである。

かかる本実施例においては、スリット光発生装置３から
照射されたスリット４が測定対象物２に当たり乱反射し
た像をカメラ５が撮影する。この結果形成される画像デ
ータは画像取り込み＠Ｅ６により取り込まれ、それを座
標演算器７により座標演算する。

ここで虚像をカメラ５で撮影した場合の演算された形状
の一例を第２図に示す。これは、＝１６ 水平面で乱反射したスリット光４が縦壁で正反射した像
をカメラ５で捕え撮影したものでる。この虚像より演算
された形状の２座標を求める式を以下に示す。

＋ＤＩＪＩθ・−δ） 第３図にγ、δの説明を示すが、第２図はγ−９０６δ
＝０°の場合である。

第２図より、スリット光４とｗ１壁距離が小さい場合に
は、演算された形状とスリット光４のなす角度ψよりも
、カメラ５の光軸とスリット光のなす角度θの方が大き
いのがわかる。ところが、第４図（ｂｌに示すように、
ψくθであればカメラ５から見えない形状が演算された
ことになり、物理的に有り得ないので、ψくθであれば
、演算された形状の元の像は虚像であると判断できる。

因に、実像であれば、第４図（ａ＋に示すように、ψ〉
０となる。

そこで、形状傾斜角計測器８で、認識された三次元形状
とスリット光４のなす角度ψを計測し、実像・虚像判定
器９によりψくθと判断された場合（よその形状の元の
像を虚像と判定する。逆にψ＞θと判断された場合は、
その形状の元の像を実像と判定するこれにより実像虚像
が区別される。

本実施例は、通常、虚像が見える程度のスリット光４と
縦壁の距離であれば充分成立するものであり、実用上充
分な効果がある。

第５図は本発明の第２の実施例を示す構造図である。同
図にするように、本実施例は従来技術と同様の撮像系及
び画像処理手段であるカメラ５、画像取り込み器６、座
標演算器７の他に、同一構成要素からなる他の撮影系、
及び画像処理手段を有している。このときカメラ１０は
その設置位置が、カメラ５の近傍部分ではあるがこのカ
メラ５とは異なっている。画像取り込み器１１、座標演
算器１２は画像取り込み器６、座標演算器７と同一構成
のものである。このとき、座標演算Ｍ１２には、当然カ
メラ１０に関する諸元が供給されている。座標比較器１
３は座標演算器７゜１２の処理データである画像座標を
比較し、両画像座標が一致するものを抽出するものであ
る。

本実施例を含む光切断法では、カメラ５に撮像された乱
反射光は全てスリット光平面内から発せられていると仮
定して座標を算出している。

ところが、第１７図及び第１８図で示した例では、スリ
ット光平面から外れた虚像■の位置から乱反射光が発せ
られている。この虚像■をカメラ５で撮像し座標を求め
ると、第６図に示すように、スリット光平面内に物体が
あるという仮定によりＺ。（１）が座標として求められ
ろ。ところがカメラ１０て撮像し座標を求めると２６（
２１が算出され、両者の座標は異なる。

一方実像■を双方のカメラ５，１０で撮像し、座標を求
めても、それぞれ等しい値を持９ っＺＦｌ（１１，ＺＦｌ（２１が求められる。これは、
実像■はスリット光平面内にあり虚像■はスリット光平
面内にないことによる。

このように複数の測定系により求められた座標を比較す
れば、両者の値が合致したものを実像として採用するこ
とができろ。

本実施例と同様の実像／虚像の判定は、系統の撮像系及
び画像処理手段でも実現し得る。即ち、第７図に示すよ
うに、測定系移動器１４によりカメラ５の位置若しくは
姿勢を移動可能に形成しておき、移動前の画像データと
移動後の画像データを比較しても第５図に示す実施例と
同様の結果が得られる。

第７図に示す場合は、測定系移動器１４によりカメラ３
を垂直方向に沿い上下に移動し得るように形成してあり
、移動前の位置で撮影した画像データに基づき処理した
座標演算器７の処理データである画像座標を座標記憶Ｉ
＃１５に記憶するとともに、カメラ５を移動後、移動後
の位置で撮影した画像データに基２〇− づいて得る座標演算Ｍ７の画像座標と、座標記憶器１５
に記憶している画像座標とを座標比較器１３で比較する
ようになっている。座標比較器１３では比較後、第５図
に示す実施例の場合と同様の処理を行なう。

上述の如く、第５図及び第７図に示す第２の実施例では
、第６図に示すように、実像■はスリット光平面内に存
在するが、虚像■ばスリット光平面内に存在しないこと
に着目し、スリット光平面内にない像から求めた座標は
カメラ５，１０の視点により異なることを利用している
。

ところが、面性状によっては、第９図及び第１０図に示
すように、面ＡＢＣＤ上で正反射したスリット光４が面
ＣＤＥＦ上で乱反射し、虚像■となり、さらに虚像■が
再び面ＡＢＣＤで正反射し、虚像■が観測される場合が
ある。

更に評言すると、真上から照射されたスリット光４はＲ
点で正反射し底面ＣＤＥＦ上の点Ｇ、て乱反射しカメラ
５に入る（Ｔ、Ｒ，Ｇユ→Ｓ）。このＧ、が虚像■であ
る。同時に、虚像■は、面ＡＢＣＤを鏡として写り、虚
像■を発生させる。すなわち、ＧＩから出た光は面ＡＢ
ＣＤ上の点Ｑで正反射しカメラ５に入る（Ｔ、Ｒ−Ｇ、
−Ｑ−＋Ｓ）。この時鏡像の原理よりＧ□→Ｑ→Ｓの経
路でカメラ５に入る光は面ＡＢＣＤに対するＧ１の対象
点Ｇ２から発せられたことと等価である（Ｇ２→Ｑ→Ｓ
）。この０２が虚像■である。

ここでＧ２はスリット光平面内にあることを以下に示す
。

スリット光４は点Ｒで正反射するため、ＺＴ　ＲＡ　＝
ＺＧ　ＲＣ −万Ｇ、と０２を結ぶ線分とＡＣの延長線の交点をＰと
するとＧ、と０２はＡＣに対して互いに対称であるから
ΔＲＧ　　ＰとΔＲＧ　　Ｐはどちらも直角三角形であ
る。従って ｌＧ　　Ｐ　Ａ　＝ｌＧ　　Ｐ　Ａ また　Ｇ　　Ｐ＝Ｇ　　Ｐ ＰＲ＝ＰＲ（共通） であるから △ＲＧ　　　Ｐ−△ＲＧ　　　Ｐ すなわち ＺＧ　ＲＣ−ＺＧ　ＲＣ 、’、　　ＴＲＡ＝　　Ｇ　　ＲＣ となりｌ　Ｔ　ＲＡとＺＧ２ＲＣは互いに対頂角の関係
となる。言いかえればＧ２はＴＲ上の点となりＧ　はス
リット光平面内に存在する。

前記第２の実施例においては、スリット光平面内にない
虚像■しか判別できず、Ｇ２のような二重反射による虚
像■を除くことはできない。

第８図は二重反射による虚像■も除去し得る本発明の第
３の実施例を示す構造図である。

同図に示すように、座標記憶器１６は座標演算器７，１
２で演算した両画像座標を記憶している。１次反射虚像
判別器１７は、座標比較器１３で比較した座標演算器７
，１２の画像座標の比較結果が一致しない場合、１次反
射虚像■が発生したことを検知する。２次反３ 射虚像判別器１８【よ、１次反射虚像■の発生が検知さ
れた場合、カメラ位置読み取り器］９で読み取ったカメ
ラ５，１０の位置情報に基づき座標記憶器１６に記憶さ
れている画像座標を検索して２次反射虚像■を検出する
（そのアルゴリズムについては後に詳述する）。

上記実施例において、第１１図に示すように、スリット
光４ａの位置で１次反射虚像■と２次反射虚像■が発生
したとする。

一方、スリット光４ｂがＧ　の点に照射された場合Ｇ、
の点は実像となり、Ｇ２の位置は１次反射虚像となる。

Ｇ２が１次虚像の場合（即ちスリット光がスリット光４
ｂの位置にある時）カメラ５で撮像した像から求めた座
標と、カメラ１０で撮像した像から求めた座標は一致し
ない。この時双方のカメラ５，１０の位置がわかってい
るので、カメラ５とそれより求めた座標Ｚ（Ｇ１）を結
ぶ直線と、カメラ１０とそれより求めた座標Ｚ２（Ｇ２
）を結ぶ直線の交点を求４ めればそれが０２の座標となる。すなわち１次反射虚像
■が発生した場合双方のカメラ５゜１０と１次反射虚像
■を結ぶ直線の交点を求め、その交点と一致する点がｆ
！Ｊ！測されていた場合２次反射虚像■と判断できる。

更に評言すると、カメラ５２画像取り込み器、座標演算
器７より求めた座標Ｚ、　（Ｇ、）とカメラ１０２画像
取り込み器１１．座標演算器１２より求めた座標Ｚ２（
Ｇ）を座標比較器１３で比較し、両者が一致しない場合
１次反射虚像判別器１７は１次反射虚像が発生したこと
を検知する。続いて２次反射虚像判別器１８はカメラ位
置読み取り器１９より得たカメラ位置をもとにＺ、　（
Ｃ，）とカメラ５を結ぶ直線と、Ｚ２（Ｇ、）　とカメ
ラ１０を結ぶ直線の交点を演算し座標記憶器１６に記憶
されている測定データを検索し交点座標と一致する点が
あれば、その点を２次反射虚像■と判別する。

なお、第７図に示す実施例と同様に、カメラ５の位置（
若しくは姿勢）を移動させることができるように構成す
れば一系統の撮像系及び画像処理手段により第３の実施
例と同様の装置を形成することができる。

〈発明の効果〉 以上実施例とともに具体的に説明したように、本発明に
よればスリット光照射により形成される虚像を判別し得
るので、虚像に対応する画像座標を除去して測定対象物
の正確な三次元形状の認識を行なうことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１の実施例を示す構造図、第２図は
そのカメラが虚像を撮影した場合の様子を示す説明図、
第３図は測定対象物の乱反射面と正反射面に対してなす
角度であるδ、γを説明するための説明図、第４図（ａ
）、　（ｂｌは実像と虚像の場合におけるスリット光発
生装置、測定対象物及びカメラの位置関係を示す説明図
、第５図は本発明の第２の実施例を示す構造図、第６図
はそのカメラが虚像を撮影した場合の様子を示す説明図
、第７図は前記第２の実施例の変形例を示す構造図、第
８図は本発明の第３の実施例を示す構造図、第９図及び
第１０図は１次反射虚像とともに２次反射虚像が形成さ
れる場合の様子を示す説明図、第１１図は第３の実施例
の作用を説明するための説明図、第１２図は従来技術に
係る三次元形状認識装置を示す構成図、第１３図はその
座標のとり方を示す説明図、第１４図は三次元座標計算
の原理を説明する説明図、第１５図は鏡像である虚像が
発生した場合の測定対象物を示す説明図、第１６図はこ
の場合のカメラの画像を示す説明図、第１７図は正反射
による虚像が発生した場合の測定対象物を示す説明図、
第１８図はこの場合のスリット光の経路を示す説明図で
ある。 図　　面　　中、 ２は測定対象物、 ３はスリット光発生装置、 ４はスリット光） ５．１０はカメラ、 ＝２７− ３は座標比較器、 ４は測定系移動器、 ５．１６は座標記憶器、 ７は１次反射虚像判別器、 ８は２次反射虚像判別器−２ ９はカメラ位置読み取り器である。 ８− 特許出願 三菱重工業 代　　　　理

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１）スリット光発生器から測定対象物に向けてスリッ
   ト光を照射するとともに、前記スリット光発生器を、ス
   リット光と平行な面に対し交差する方向に移動させる一
   方、各照射位置における測定対象物からのスリット光の
   反射光をカメラで撮影し、このカメラで撮影した各反射
   光を画像処理して各画像座標を求め、各画像座標、スリ
   ット光の位置の座標、スリット光とカメラの光軸のなす
   角度θ、カメラのレンズの諸元に基づいて測定対象物の
   三次元形形状を認識するようになっている三次元形状認
   識方法において、 認識した三次元形状とスリット光のなす角度ψを求め、
   この角度ψと前記角度θとを比較し、ψ＞θとなる三次
   元形状を抽出して認識することを特徴とする三次元形状
   認識方法。（２）測定対象物に向けてスリット光を照射
   するとともに、スリット光と平行な面に対し交差する方
   向に移動するスリット光発生器と、各照射位置における
   測定対象物からのスリット光の反射光を撮影するカメラ
   と、このカメラで撮影した各反射光を画像処理して各画
   像座標を求め、各画像座標、スリット光の位置の座標、
   スリット光とカメラの光軸のなす角度θ、カメラのレン
   ズの諸元に基づいて測定対象物の形状を検出する画像処
   理手段とを有する三次元形状認識装置において、 認識した三次元形状とスリット光のなす角度ψを計測す
   る形状傾斜角計測器と、前記角度ψと角度θとを比較し
   、ψ＞θの場合のみ認識した形状を実像と判定する実像
   ・虚像判定器とを有することを特徴とする三次元形状認
   識装置。 （３）スリット光発生器から測定対象物に向けてスリッ
   ト光を照射するとともに、前記スリット光発生器を、ス
   リット光と平行な面に対し交差する方向に移動させる一
   方、各照射位置における測定対象物からのスリット光の
   反射光をカメラで撮影し、このカメラで撮影した各反射
   光を画像処理して各画像座標を求め、各画像座標、スリ
   ット光の位置の座標、スリット光とカメラの光軸のなす
   角度、カメラのレンズの諸元に基づいて測定対象物の三
   次元形形状を認識するようになっている三次元形状認識
   方法において、 測定対象物によるスリット光の反射光を異なる位置から
   、若しくは異なる姿勢でカメラで撮影し、各々の場合の
   反射光の画像座標を夫々求めて両者を比較し、両画像座
   標が一致するものを抽出することを特徴とする三次元形
   状認識方法。 （４）測定対象物に向けてスリット光を照射するととも
   に、スリット光と平行な面に対し交差する方向に移動す
   るスリット光発生器と、各照射位置における測定対象物
   からのスリット光の反射光を撮影するカメラと、このカ
   メラで撮影した各反射光を画像処理して各画像座標を求
   め、各画像座標、スリット光の位置の座標、スリット光
   とカメラの光軸のなす角度、カメラのレンズの諸元に基
   づいて測定対象物の形状を検出する画像処理手段とを有
   する三次元形状認識装置において、 隣接する異なる位置に配設された２台のカメラと、各カ
   メラで撮影した画像を処理する２系統の画像処理手段と
   、各画像処理手段の処理データである画像座標を比較し
   、両画像座標が一致するものを実像と判定する座標比較
   器とを有することを特徴とする三次元形状認識装置。 （５）測定対象物に向けてスリット光を照射するととも
   に、スリット光と平行な面に対し交差する方向に移動す
   るスリット光発生器と、各照射位置における測定対象物
   からのスリット光の反射光を撮影するカメラと、このカ
   メラで撮影した各反射光を画像処理して各画像座標を求
   め、各画像座標、スリット光の位置の座標、スリット光
   とカメラの光軸のなす角度、カメラのレンズの諸元に基
   づいて測定対象物の形状を検出する画像処理手段とを有
   する三次元形状認識装置において、 位置若しくは姿勢を移動可能に設置されたカメラと、移
   動前のカメラで撮影し画像処理手段により処理して得る
   画像座標を記憶する座標記憶器と、移動後のカメラで撮
   影し画像処理手段により処理して得る画像座標と前記座
   標記憶器に記憶している画像座標とを比較し、両画像座
   標が一致するものを実像と判定する座標比較器とを有す
   ることを特徴とする三次元形状認識装置。 （６）スリット光発生器から測定対象物に向けてスリッ
   ト光を照射するとともに、前記スリット光発生器を、ス
   リット光と平行な面に対し交差する方向に移動させる一
   方、各照射位置における測定対象物からのスリット光の
   反射光をカメラで撮影し、このカメラで撮影した各反射
   光を画像処理して各画像座標を求め、各画像座標、スリ
   ット光の位置の座標、スリット光とカメラの光軸のなす
   角度、カメラのレンズの諸元に基づいて測定対象物の三
   次元形形状を認識するようになっている三次元形状認識
   方法において、 測定対象物によるスリット光の反射光を異なる位置から
   、若しくは異なる姿勢でカメラで撮影し、各々の場合の
   反射光の画像座標を夫々求めて両者を比較し、両画像座
   標が一致するものを抽出するとともに、両画像座標が一
   致しない場合は、各画像座標と各位置若しくは姿勢にお
   けるカメラとを通る直線同志の交点を求め、この交点と
   一致する画像座標を除去するようにしたことを特徴とす
   る三次元形状認識方法。 （７）測定対象物に向けてスリット光を照射するととも
   に、スリット光と平行な面に対し交差する方向に移動す
   るスリット光発生器と、各照射位置における測定対象物
   からのスリット光の反射光を撮影するカメラと、このカ
   メラで撮影した各反射光を画像処理して各画像座標を求
   め、各画像座標、スリット光の位置の座標、スリット光
   とカメラの光軸のなす角度、カメラのレンズの諸元に基
   づいて測定対象物の形状を検出する画像処理手段とを有
   する三次元形状認識装置において、 隣接する異なる位置に配設された２台のカメラと、各カ
   メラで撮影した画像を処理する２系統の画像処理手段と
   、各画像処理手段の処理データである画像座標を比較す
   る座標比較器と、前記両画像座標を記憶する座標記憶器
   と、座標比較器の比較結果が一致しないとき１次反射虚
   像が発生していると判定する１次反射虚像判別器と、１
   次反射虚像の発生が検知されたとき各座標と各カメラと
   を通る直線同志の交点を求め、座標記憶器の記憶内容と
   比較することにより前記交点と一致する画像座標は１次
   反射虚像が更に反射して発生した２次反射虚像であると
   判定する２次反射虚像判別器とを有することを特徴とす
   る三次元形状認識装置。