JPH03257308A - 外観検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野コ この発明は、例えば変電所などで碍子の外観異常などを
検出するための外観検査装置に関するものである。

［従来の技術］ 現在、変電所では作業者が定期的に巡視して、碍子に割
れや欠は等の外観異常が発生していないかを、目視によ
り点検している。

この作業を自動化している例はまだないが、被検査物の
外観異常を監視する装置としては、例えば第５図の特開
昭８２−２２２３９３号公報に示されるように、正常時
と検査時の画像を比較するものが従来知られている。

第５図において、（１）は被検査物の画像信号を量ｆ化
する画像人力手段、（２）は画像処理手段で、人力画像
を逐次記憶する人力画像メモリ（２１）と、被検査物に
異常が存在しない時の画像を予め記憶する参照画像メモ
リ（２２）と、人力画像メモリ（２１）及び参照画像メ
モリ（２２）の記憶内容を比較して変化分画像を取り出
す画像処理部（２３）から構成されている。（３）は画
像処理手段（２）からの情報を元に異常の有無を判定す
る異常判定手段、（４）は異常判定結果を出力する出力
手段、（３１）は監視したい領域を設定する領域設定手
段、（３２１）〜（３２，）は設定された検知領域を記
憶する複数の検知領域メモリである。

次に動作について説明する。山像人カド段（１）により
得られた監視領域の画像は、画像処理（１） （２） 手段（２）における人力画像メモリ（２１）に逐次人力
される。参照画像メモリ（２２）には監視領域に異常が
存在しない時の画像が予め記憶されている。画像処理部
（２３）では人力画像メモリ（２１）と参照画像メモリ
（２２）との記憶内容を比較して変化部分画像を取り出
す。異常判定手段（３）は、検知領域メモリ（３Ｌ）が
示す領域に輝度変化があった場合には、出力手段（４）
によって警報を発する。検知領域メモリが複数個設けで
あるのは、複数箇所を検知領域とするためである。

［発明が解決しようとする課題］ 従来の外観検査装置は以上のように構成されているので
、屋外環境にある碍子では、時間的に女化する光の照度
や方向によって画像か変化するため、参照画像との比較
によって外観異常を検出することが難しいという問題点
があった。

この発明は上記のような課題を解決するためになされた
もので、屋外環境において光の照度や方１＾Ｊなどの影
響を受けることなく、４！）　Ｙ−の点検がてきる外観
検査装置を得ることを目的とする。

［課題を解決するための手段］ この発明に係る外観検査装置は、襞を有する碍子を撮像
して得られた画像の白黒濃度差の大きい部分を抽出して
線画像化する画像処理手段と、上記線画像中上記襞をエ
ツジに対応する直線部が直線から外れた箇所を欠陥とし
て検出する画像欠陥検出手段を備えたものである。

［作用］ この発明における外観検査装置の画像処理手段は、碍子
を撮像した線画像中の直線部が直線から外れた箇所を検
出１−る。

［発明の実施例］ 以下、この発明の実施例を図について説明する。第１図
はこの発明の装置を示す構成図である。図において、（
２）は画像処理手段で、人力画像メモリ（２１）、画像
人力手段（１）で得られた画像の白黒濃度差の大きい部
分を抽出して線画像化する画像処理部（２４）及び画像
処理部（２４）による画像処理結果を格納する画像メモ
リ（２５）から構成される。（５）は画像欠陥検出手段
で、それぞれ線画像（３） （４） 中の周期性を評価する周期性評価手段（５１）、連続性
を評価する連続性評価手段（５２）及び傾きの変化を評
価する傾き変化評価手段（５３〉から成っている。（６
）は画像欠陥検出手段（５）からの情報を元に％常の打
無を判定する異常判定手段である。他の部分は第５図の
従来装置の相当部分と同じである。

第２図は被監査物である碍子の画像を示す図、第３図は
その線画像を示す図及び第４図は周期性評価の説明図で
ある。図において、（７）は碍子、（５０）は検査領域
、（７１）は襞の欠は部、（８１）〜（８５）はそれぞ
れ第３図の線画像中縦方向に設けたサンプリング線であ
る。

次に動作について説明する。先ず、被検査物である襞を
有する碍子（７）の画像が画像人力手段（１）により第
２図のように画像化されて人力画像メモリ（２１）に格
納される。撮像の位置と方向が予め定められているので
、領域設定手段（３１）により人力画像の検査領域（５
０）を画像処理部（２４）に指示する。画像処理部（２
４）は指示された領域のみ、微分処理、２値化処理、細
線化処理を順次施して第３区のように線画像化し、画像
メモリ（２５）に格納する。碍子（７）の襞のエツジに
対応する部分は直線になっているが、欠は部（７１）は
その線が他に比べて形が変形したり余分な線か生じたり
、或いは欠は具合と日照条件の組合せによっては−・部
の線が泪失したりする。周期性評価手段（５１）は、第
３図の線画像に対して領域設定手段（３１）で指示され
る検査領域（５０）内に、第４図に示されるように適当
な間隔で縦方向にサンプリング線（８１）〜（８５）を
設け、各サンプリング線（旧）〜（８５）七で碍Ｆ（７
）の襞に対応する直線と交わる点の間の距離を計測し、
異常判定手段（６）にそのデータを引き渡す。第４図に
おいて、サンプリング線（８４）と（８５）の上でＬか
ら５木目と６木目の襞の間てその間隔が他に比較して短
くなっている。

連続性評価手段（５２）は、第３図の線画像に対して、
領域設定手段（３１）で指示される検査領域（５０）の
左端から、各襞のエツジに対応する直線を右方向へ検査
領域（５０）の右端に到達するまで追跡（５） （６） し、途切れない一本の線であったか、途中で途切れたか
、或いは分岐したかを調べ、そのデータを異常判定手段
（６）に引き渡す。第３図では、上から６番目の線が途
中に分岐している。

傾き変化評価手段（５３）は、第３図の線画像に対して
各襞に対応する直線毎に、サンプリング線（８１）〜（
８５）上の各点で襞に対比・する線の傾きを求め、更に
隣接する２点での傾きの差を求めて、その差の絶対値が
最大になる位置とその傾きの差の値を異常判定手段（６
）に引き渡す。これは各襞に対応する直線の角度が最も
大きく変化している点を探したことになる。襞の線の各
点における傾きは、例えばその点の３画素右側の装線上
の点のＹ座標と、３画素左側の装線上の点のＹ座標の差
を６で割ることで得られる。また、第３図にある上から
６木目の襞の線のように途中で分岐しているものは、分
岐した線についても上記の評価を行う。

異常判定手段（６）は、画像欠陥検出手段（５）からの
出力データを受けて、碍子（７）の各襞に異常があるか
否かを判定する。第２図の画像のように、襞の一部が欠
りていてそれか検査領域（５０）に入っていれば、抽出
される襞の線は第３図のようになるので、例えば、襞の
間隔が周期性評価手段（５１）で計測した値の平均値よ
り、−窓以上大きい或いは小さい部分があれば異常とす
る。また、襞の線が途中で途切れていたり、分岐してい
れば異常とする。史に襞の線が所定値以上に大きな角度
でＩ由っていれば異常と判定する。

異常判定手段（６）で異常と判定された場合は、出力手
段（０により警報を発する。

なお、上記実施例では、碍子（７）の襞が欠けている場
合について説明したが、異物が飛来し碍子（７）に付着
した場合の異常も同様に検出できる。

また、Ｌ記失施例では、検査領域（５０）のみを評価し
たが、碍ｆ（７）の周囲で撮像位置を変えて上記実施例
と同様の検査を行って、碍子（７）の全周を検査する。

［発明の効果］ 以上のように、この発明によれば外観検査装置（７） （８） を、襞を有する碍子を撮像して得られた画像の白黒濃疫
差の大きい部分を抽出して線画像化する画像処理手段と
、上記線画像中上記襞のエツジに対応する直線部が直線
から外れた箇所を欠陥として検出する画像欠陥検出手段
を備えるように構成したので、屋外環境において光の照
度や方向などの影響を受けることなく、碍子の点検がで
きる外観検査装置が得られる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例による外観検査装置を示す
構成図、第２図は被検査物である碍子の画像を示す図、
第３図はその線画像を示す図、第４図は周期性評価の説
明図、第５図は従来の外観検査装置を示す構成図である
。図において、（２）は画像処理手段、（５）は画像欠
陥検出手段、（７）は碍子である。 なお、図中、同一符号は同一　又は相当部分を示す。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 襞を有する碍子を撮像して得られた画像の白黒濃度差の
   大きい部分を抽出して線画像化する画像処理手段と、上
   記線画像中上記襞のエッジに対応する直線部が直線から
   外れた箇所を欠陥として検出する画像欠陥検出手段を備
   え、上記碍子の外観の異常を検出するようにしたことを
   特徴とする外観検査装置。