JPH0325749B2 - - Google Patents
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- JPH0325749B2 JPH0325749B2 JP54158208A JP15820879A JPH0325749B2 JP H0325749 B2 JPH0325749 B2 JP H0325749B2 JP 54158208 A JP54158208 A JP 54158208A JP 15820879 A JP15820879 A JP 15820879A JP H0325749 B2 JPH0325749 B2 JP H0325749B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9046—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、不平衡差動ピツクアツプ
（unbalanced differential pick−up）によつて
与えられる信号を自動的に補正する回路に関す
る。これは、うず電流による非破壊試験に応用で
き、より一般的には、差動ピツクアツプによつて
与えられた信号を測定せねばならないすべての場
合に応用できる。
（unbalanced differential pick−up）によつて
与えられる信号を自動的に補正する回路に関す
る。これは、うず電流による非破壊試験に応用で
き、より一般的には、差動ピツクアツプによつて
与えられた信号を測定せねばならないすべての場
合に応用できる。
（従来の技術）
うず電流による検査は、交流励磁電流の流れて
いるコイルの磁界により金属被検査体の中に誘起
された電流の変化をしらべることにより行われる
ことは知られている。このような電流は励磁磁界
に対抗する磁界を生じ、したがつて励磁コイルの
インピーダンスを変化させる。このコイルはプロ
ーブの中に配置されており、このプローブが被検
査体に沿つて移動するようになつている。プロー
ブの照準されたところにある被検査体に何等かの
欠陥（大きさの変化、導電率の変化、ひび割れ
等）があると、うず電流はその流れや大きさを変
え、もつてコイルのインピーダンスを変化させ
る。
いるコイルの磁界により金属被検査体の中に誘起
された電流の変化をしらべることにより行われる
ことは知られている。このような電流は励磁磁界
に対抗する磁界を生じ、したがつて励磁コイルの
インピーダンスを変化させる。このコイルはプロ
ーブの中に配置されており、このプローブが被検
査体に沿つて移動するようになつている。プロー
ブの照準されたところにある被検査体に何等かの
欠陥（大きさの変化、導電率の変化、ひび割れ
等）があると、うず電流はその流れや大きさを変
え、もつてコイルのインピーダンスを変化させ
る。
プローブは通常２個の隣接したコイルでつくら
れており、それらは逆向きに励起電流の供給を受
け、そして測定ブリツジの２つの隣接する辺に配
置される。欠陥がプローブの磁界内で検出される
と、ブリツジは２回程不平衡になる。最初はある
方向に、そして次に逆方向にである。このプロー
ブで生じた電圧は増幅され、そして分析された後
陰極線管のスクリーン上に表示される。この表示
は、測定された電圧の抵抗成分（実数部）Ｘとリ
アクタンス成分（虚数部）Ｙとを表示することに
より実行される。プローブによつて得られた複素
電圧は、このようにして座標ＸおよびＹをもつて
一点で表わされる。欠陥がプローブの磁界内で検
出される時、表示点は一般に数字の８の字の形の
曲線を画く。従つて、８の字の突出部の位相及び
それらの振幅から各欠陥が識別できる。
れており、それらは逆向きに励起電流の供給を受
け、そして測定ブリツジの２つの隣接する辺に配
置される。欠陥がプローブの磁界内で検出される
と、ブリツジは２回程不平衡になる。最初はある
方向に、そして次に逆方向にである。このプロー
ブで生じた電圧は増幅され、そして分析された後
陰極線管のスクリーン上に表示される。この表示
は、測定された電圧の抵抗成分（実数部）Ｘとリ
アクタンス成分（虚数部）Ｙとを表示することに
より実行される。プローブによつて得られた複素
電圧は、このようにして座標ＸおよびＹをもつて
一点で表わされる。欠陥がプローブの磁界内で検
出される時、表示点は一般に数字の８の字の形の
曲線を画く。従つて、８の字の突出部の位相及び
それらの振幅から各欠陥が識別できる。
（発明が解決しようとする課題）
しかし、この種の構成を考慮するとき、うず電
流によるプローブを用いた検査は、非検査体に欠
陥がない場合にもブリツジの２辺間に於いてある
種の不平衡を度々示し、そのため、プローブによ
つて与えられる出力信号が厳密に零にならない。
流によるプローブを用いた検査は、非検査体に欠
陥がない場合にもブリツジの２辺間に於いてある
種の不平衡を度々示し、そのため、プローブによ
つて与えられる出力信号が厳密に零にならない。
従つて、欠陥やきずが検知された時に出される
信号は、本当の測定信号にブリツジ不平衡によつ
て生じた信号が重畳されたものとなつている。
信号は、本当の測定信号にブリツジ不平衡によつ
て生じた信号が重畳されたものとなつている。
このような誤差は、差動ピツクアツプを使用す
る装置、例えば二つの相似部分から成るピツクア
ツプのすべての場合においてより一般的に見ら
れ、その効果は、“無負荷時”に相互に補償する
ものと考えられる。最もひんぱんな場合は、これ
らの測定ブリツジが電子分野、特に、インピーダ
ンス計と位相計に使用されたものである。
る装置、例えば二つの相似部分から成るピツクア
ツプのすべての場合においてより一般的に見ら
れ、その効果は、“無負荷時”に相互に補償する
ものと考えられる。最もひんぱんな場合は、これ
らの測定ブリツジが電子分野、特に、インピーダ
ンス計と位相計に使用されたものである。
このような誤差を補正することのできる装置は
すでに知られている。
すでに知られている。
それらは、手動調節可能（例えば電位差計）な
補正回路から成り、かつピツクアツプが誤差を補
正し得ない場合には、測定信号を消去できる構成
からなつている。測定信号が常時ピツクアツプの
不平衡による部分を持たないためには、このよう
な補正が測定作業の間継続される。
補正回路から成り、かつピツクアツプが誤差を補
正し得ない場合には、測定信号を消去できる構成
からなつている。測定信号が常時ピツクアツプの
不平衡による部分を持たないためには、このよう
な補正が測定作業の間継続される。
電位差計に適用されるこの種の補正手段は、う
ず電流による試験を行う多くの装置において一般
的に使用されている。
ず電流による試験を行う多くの装置において一般
的に使用されている。
このような装置は比較的満足できるものである
が、しかしながら、その操作はかなり複雑な操作
者の介在を要求する。
が、しかしながら、その操作はかなり複雑な操作
者の介在を要求する。
本発明の目的は、僅かに不平衡であるような差
動ピツクアツプによつて与えられた電気信号、即
ち、不平衡部分を含んだ出力信号を自動的に補正
する補正回路を提供することにある。
動ピツクアツプによつて与えられた電気信号、即
ち、不平衡部分を含んだ出力信号を自動的に補正
する補正回路を提供することにある。
（課題を解決するための手段）
即ち、上記目的を達成するための前記回路は、
その不平衡部分を決定しかつ前記ピツクアツプに
よつて与えられた信号からこの不平衡部分を取り
除く手段から成つている。また前記手段は前記出
力信号における種々の周波数成分に対応した数の
補正チヤネルを含み、前記各チヤネルは (a) 前記周波数の一つに中心を合わせ、後段にゲ
イン調節可能な増幅器を接続した帯域フイルタ
と； (b) 一方において前記周波数における基準電圧及
び前記基準電圧に対して直角位相（すなわち90
度移相された）の電圧が供給され、他方におい
て前記帯域フイルタを通過した電圧が供給さ
れ、前記基準電圧に関してそれぞれ同位相及び
直角位相で、かつ濾波された信号成分に比例す
る二つの直流電圧ＸとＹを出力する分析器と； (c) 電圧Ｘが供給された第１のコンパレータと；
前記第１のコンパレータに接続された計数器
と、前記計数器にクロツクパルスを供給する発
振器と；前記計数器に接続されたＤ／Ａ変換器
と；二つの入力端と一つの出力端を有し、前記
入力端の一方には前記基準電圧が供給され、他
方の入力端が前記Ｄ／Ａ変換器と接続された掛
算器とから成る第一段と； (d) 電圧Ｙが供給された第２のコンパレータと；
前記コンパレータに接続された計数器と；前記
計数器にクロツクパルスを供給する発振器と；
前記計数器に接続されたＤ／Ａ変換器と；二つ
の入力端と一つの出力端を有し、前記入力端の
一方には前記基準電圧と直角位相にある前記電
圧が供給され、他方の入力端に前記Ｄ／Ａ変換
器に接続された掛算器とから成る第二段と； (e) 二つの入力端と一つの出力端を有し、前記入
力端の一方は前記第一段の掛算器の出力端と接
続され、他の入力端は前記第二段の掛算器の出
力と接続され、前記出力端が各チヤネルに共通
の位相反転器の入力端と接続された加算器と、
から構成されることを特徴とするものである。
その不平衡部分を決定しかつ前記ピツクアツプに
よつて与えられた信号からこの不平衡部分を取り
除く手段から成つている。また前記手段は前記出
力信号における種々の周波数成分に対応した数の
補正チヤネルを含み、前記各チヤネルは (a) 前記周波数の一つに中心を合わせ、後段にゲ
イン調節可能な増幅器を接続した帯域フイルタ
と； (b) 一方において前記周波数における基準電圧及
び前記基準電圧に対して直角位相（すなわち90
度移相された）の電圧が供給され、他方におい
て前記帯域フイルタを通過した電圧が供給さ
れ、前記基準電圧に関してそれぞれ同位相及び
直角位相で、かつ濾波された信号成分に比例す
る二つの直流電圧ＸとＹを出力する分析器と； (c) 電圧Ｘが供給された第１のコンパレータと；
前記第１のコンパレータに接続された計数器
と、前記計数器にクロツクパルスを供給する発
振器と；前記計数器に接続されたＤ／Ａ変換器
と；二つの入力端と一つの出力端を有し、前記
入力端の一方には前記基準電圧が供給され、他
方の入力端が前記Ｄ／Ａ変換器と接続された掛
算器とから成る第一段と； (d) 電圧Ｙが供給された第２のコンパレータと；
前記コンパレータに接続された計数器と；前記
計数器にクロツクパルスを供給する発振器と；
前記計数器に接続されたＤ／Ａ変換器と；二つ
の入力端と一つの出力端を有し、前記入力端の
一方には前記基準電圧と直角位相にある前記電
圧が供給され、他方の入力端に前記Ｄ／Ａ変換
器に接続された掛算器とから成る第二段と； (e) 二つの入力端と一つの出力端を有し、前記入
力端の一方は前記第一段の掛算器の出力端と接
続され、他の入力端は前記第二段の掛算器の出
力と接続され、前記出力端が各チヤネルに共通
の位相反転器の入力端と接続された加算器と、
から構成されることを特徴とするものである。
更に、本発明の他の特徴や利点は、添付の図面
に基づく実施例によつて、以下の説明において明
らかとなるであろう。
に基づく実施例によつて、以下の説明において明
らかとなるであろう。
うず電流によつて試験を行なう改良されたすべ
てのシステムにおいて、測定プローブは、多周波
数信号によつて動作される。従つて、不適当と考
えられるいくつかのパラメータは除外して、前記
プローブによつて出される信号の変化を示す曲線
から、検出されるべき欠陥やきずを示す部分だけ
を維持することができる。このようなテクニツク
については、1975年９月９日付で提出の仏国特許
出願番号第7527615号（特開昭52−33791号）で、
“多周波数動作を利用し、いくつかのパラメータ
を除外することを可能とするうず電流非破壊試験
の方法と装置”という題のものを参照されたい。
てのシステムにおいて、測定プローブは、多周波
数信号によつて動作される。従つて、不適当と考
えられるいくつかのパラメータは除外して、前記
プローブによつて出される信号の変化を示す曲線
から、検出されるべき欠陥やきずを示す部分だけ
を維持することができる。このようなテクニツク
については、1975年９月９日付で提出の仏国特許
出願番号第7527615号（特開昭52−33791号）で、
“多周波数動作を利用し、いくつかのパラメータ
を除外することを可能とするうず電流非破壊試験
の方法と装置”という題のものを参照されたい。
（実施例）
以下の記載においては、説明のためだけである
が、その出力信号が補正されるべきピツクアツプ
の動作は前記多周波数テクニツクによつて行なわ
れるものと仮定される。しかしながら、明らか
に、本発明の回路は、ピツクアツプが単一周波数
の基で補正動作される場合でも、好ましい応用例
を見出せるものである。
が、その出力信号が補正されるべきピツクアツプ
の動作は前記多周波数テクニツクによつて行なわ
れるものと仮定される。しかしながら、明らか
に、本発明の回路は、ピツクアツプが単一周波数
の基で補正動作される場合でも、好ましい応用例
を見出せるものである。
図１に示された回路は特定の例を示すものであ
り、即ち、ピツクアツプによつて出される信号
が、二つの周波数ＡとＢの複合信号である場合で
ある。
り、即ち、ピツクアツプによつて出される信号
が、二つの周波数ＡとＢの複合信号である場合で
ある。
ピツクアツプの出力信号Veは、補正回路の一
つの入力Ｅに供給される。前記回路は、夫々、周
波数成分Ａと周波数成分Ｂを補正する二つのチヤ
ネル１０Ａと１０Ｂとから成る。これらの二つの
チヤネルは同様のものであるので、そのうちの一
方、例えば、周波数Ａに対応する方だけについて
説明する。
つの入力Ｅに供給される。前記回路は、夫々、周
波数成分Ａと周波数成分Ｂを補正する二つのチヤ
ネル１０Ａと１０Ｂとから成る。これらの二つの
チヤネルは同様のものであるので、そのうちの一
方、例えば、周波数Ａに対応する方だけについて
説明する。
前記チヤネル１０Ａは：
(a) 周波数Ａに中心を合わせ、後段にゲイン調節
可能な増幅器１４を接続した帯域フイルタ１２
と； (b) 一方において周波数Ａの基準電圧VR（Ａ，
Ｏ）及び該基準電圧と同一周波数を有し且つ前
記基準電圧と直角位相にある電圧VR（Ａ，π／
２）とが供給され、他方において濾波された増
幅電圧が供給される分析器１６と；前記分析器
は二つの直流電圧XAとYA用の二つの出力端１
８Ｘと１８Ｙを有し、前記二つの直流電圧は、
基準電圧VR（Ａ，Ｏ）と同位相及び直角位相
で、且つ前記濾波された周波数Ａを有する信号
に夫々比例しており、 (c) 電圧XAを処理する第１段２２Ｘで、前記段
はスイツチ２０Ｘによつて動作される。前記第
１段は、電圧XAが供給される第１のコンパレ
ータ２４Ｘを含んでいる。このコンパレータ２
４Ｘの閾値は調節手段によつて（図示せず）決
定することができ、零とすることができる。前
記コンパレータ２４Ｘの出力は、発振器２７に
よつてクロツクパルスが供給された計数器２６
Ｘに接続されている。前記計数器２６Ｘは二つ
の入力端と一つの出力端を有する掛算器３０Ｘ
に接続されたＤ／Ａ変換器２８Ｘと接続してお
り、前記掛算器の入力端の一方には、周波数Ａ
における前記基準電圧が供給され、前記他方の
入力端には前記Ｄ／Ａ変換器２８Ｘの出力が供
給されている； (d) 電圧YAを処理する第二段２２Ｙで、前記段
はスイツチ２０Ｙによつて動作される。前記第
二段は、第一段のように、電圧YAが供給され
る第２のコンパレータ２４Ｙから成り、前記第
２のコンパレータ２４Ｙの出力は、発振器２７
によつてクロツクパルスが供給された計数器２
６Ｙに接続されている。前記計数器２６Ｙは、
Ｄ／Ａ変換器２８Ｙに接続され、前記Ｄ／Ａ変
換器２８Ｙの後段が二つの入力端と一つの出力
を有する掛算器３０Ｙに接続されている。前記
掛算器３０Ｙの一方の入力端には、基準電圧
VR（Ａ，Ｏ）と直角位相にある電圧VR（Ａ，
π／２）が供給され、他方の入力には、前記
Ｄ／Ａ変換器２８Ｙの出力が供給されている。
可能な増幅器１４を接続した帯域フイルタ１２
と； (b) 一方において周波数Ａの基準電圧VR（Ａ，
Ｏ）及び該基準電圧と同一周波数を有し且つ前
記基準電圧と直角位相にある電圧VR（Ａ，π／
２）とが供給され、他方において濾波された増
幅電圧が供給される分析器１６と；前記分析器
は二つの直流電圧XAとYA用の二つの出力端１
８Ｘと１８Ｙを有し、前記二つの直流電圧は、
基準電圧VR（Ａ，Ｏ）と同位相及び直角位相
で、且つ前記濾波された周波数Ａを有する信号
に夫々比例しており、 (c) 電圧XAを処理する第１段２２Ｘで、前記段
はスイツチ２０Ｘによつて動作される。前記第
１段は、電圧XAが供給される第１のコンパレ
ータ２４Ｘを含んでいる。このコンパレータ２
４Ｘの閾値は調節手段によつて（図示せず）決
定することができ、零とすることができる。前
記コンパレータ２４Ｘの出力は、発振器２７に
よつてクロツクパルスが供給された計数器２６
Ｘに接続されている。前記計数器２６Ｘは二つ
の入力端と一つの出力端を有する掛算器３０Ｘ
に接続されたＤ／Ａ変換器２８Ｘと接続してお
り、前記掛算器の入力端の一方には、周波数Ａ
における前記基準電圧が供給され、前記他方の
入力端には前記Ｄ／Ａ変換器２８Ｘの出力が供
給されている； (d) 電圧YAを処理する第二段２２Ｙで、前記段
はスイツチ２０Ｙによつて動作される。前記第
二段は、第一段のように、電圧YAが供給され
る第２のコンパレータ２４Ｙから成り、前記第
２のコンパレータ２４Ｙの出力は、発振器２７
によつてクロツクパルスが供給された計数器２
６Ｙに接続されている。前記計数器２６Ｙは、
Ｄ／Ａ変換器２８Ｙに接続され、前記Ｄ／Ａ変
換器２８Ｙの後段が二つの入力端と一つの出力
を有する掛算器３０Ｙに接続されている。前記
掛算器３０Ｙの一方の入力端には、基準電圧
VR（Ａ，Ｏ）と直角位相にある電圧VR（Ａ，
π／２）が供給され、他方の入力には、前記
Ｄ／Ａ変換器２８Ｙの出力が供給されている。
(e) 二つの入力端と一つの出力端を有する加算器
３２で、前記入力端の一方は、前記第一段の掛
算器３０Ｘの出力と接続され、他方は、前記第
二段の掛算器３０Ｙの出力と接続されている。
前記加算器３２の出力端は、ピツクアツプの出
力信号Veと180度位相をずらした電圧Vcを、
補正回路の前段に設けられた前置増幅器３６に
出力する180度移相器３４に接続されている。
３２で、前記入力端の一方は、前記第一段の掛
算器３０Ｘの出力と接続され、他方は、前記第
二段の掛算器３０Ｙの出力と接続されている。
前記加算器３２の出力端は、ピツクアツプの出
力信号Veと180度位相をずらした電圧Vcを、
補正回路の前段に設けられた前置増幅器３６に
出力する180度移相器３４に接続されている。
チヤネル１０Ｂの構造は同様で、唯一の相違点
は、周波数Ｂの基準電圧VR（Ｂ，Ｏ）と、前記周
波数Ｂの基準電圧と直角位相の電圧VR（Ｂ，π／
２）が供給されている点である。前記第２チヤネ
ルから出される補正信号は、前記180度移相器３
４を通して前記前置増幅器３６の入力端に供給さ
れる。
は、周波数Ｂの基準電圧VR（Ｂ，Ｏ）と、前記周
波数Ｂの基準電圧と直角位相の電圧VR（Ｂ，π／
２）が供給されている点である。前記第２チヤネ
ルから出される補正信号は、前記180度移相器３
４を通して前記前置増幅器３６の入力端に供給さ
れる。
上記の回路は以下のように動作する：
帯域フイルタ１２は、回路入力に供給された信
号Veの周波数Ａを中心とする帯域を濾波する。
前記フイルタは、例えば、オクターブ当り24デシ
ベルといつた強い勾配をもつことが望ましい。こ
のようにして濾波された信号は、次いで増幅器１
４によつて増幅され、それから分析器１６内で分
析される。前記分析器１６は、例えば、電圧VR
（Ａ，Ｏ）と電圧VR（Ａ，π／２）とが供給され
るメモリサンプリング回路１７と、サンプリング
動作による残留ベース雑音を除去する二つの低域
フイルタ１９Ｘと１９Ｙとから成る。このような
回路は、従来周知のものであり、出力端１８Ｘと
１８Ｙにおいては、夫々基準電圧VR（Ａ，Ｏ）と
同位相及び直角位相の成分に比例した電圧XAと
YAを出す。
号Veの周波数Ａを中心とする帯域を濾波する。
前記フイルタは、例えば、オクターブ当り24デシ
ベルといつた強い勾配をもつことが望ましい。こ
のようにして濾波された信号は、次いで増幅器１
４によつて増幅され、それから分析器１６内で分
析される。前記分析器１６は、例えば、電圧VR
（Ａ，Ｏ）と電圧VR（Ａ，π／２）とが供給され
るメモリサンプリング回路１７と、サンプリング
動作による残留ベース雑音を除去する二つの低域
フイルタ１９Ｘと１９Ｙとから成る。このような
回路は、従来周知のものであり、出力端１８Ｘと
１８Ｙにおいては、夫々基準電圧VR（Ａ，Ｏ）と
同位相及び直角位相の成分に比例した電圧XAと
YAを出す。
スイツチ２０Ｘと２０Ｙは始めは閉じられてお
り、第１及び第２のコンパレータ２４Ｘ，２４Ｙ
には電圧XAとYAが夫々供給される。これらは、
二進信号を出し、その値は、計数器２６Ｘ及び２
６Ｙを増加又は減少するように制御する。電圧
XAとYAが、コンパレータ２４Ｘと２４Ｙの閾値
（前記閾値は恐らく零であろう）に達していない
限りにおいて、発振器２７のパルスは、計数器２
６Ｘ，２６Ｙを増加あるいは減少させる（ＸとＹ
が正であるか負であるかによつて異なる）。
り、第１及び第２のコンパレータ２４Ｘ，２４Ｙ
には電圧XAとYAが夫々供給される。これらは、
二進信号を出し、その値は、計数器２６Ｘ及び２
６Ｙを増加又は減少するように制御する。電圧
XAとYAが、コンパレータ２４Ｘと２４Ｙの閾値
（前記閾値は恐らく零であろう）に達していない
限りにおいて、発振器２７のパルスは、計数器２
６Ｘ，２６Ｙを増加あるいは減少させる（ＸとＹ
が正であるか負であるかによつて異なる）。
ピツクアツプの出力電圧Veは、既述したとお
り、該ピツクアツプが欠陥を検出していないとき
にも、ピツクアツプ自体の不平衡に起因して生じ
る電圧を含んでいる。従つて、計数器２６Ｘと２
６Ｙの内容は、周波数Ａでの欠陥を検出していな
いときの不平衡信号の成分XAとYAを示す。これ
らのデジタル内容は、変換器２８Ｘと２８Ｙによ
つて直流電圧に変換され、その後、周波数Ａにお
いて掛算器３０Ｘと３０Ｙによつて交流電圧に変
換される。
り、該ピツクアツプが欠陥を検出していないとき
にも、ピツクアツプ自体の不平衡に起因して生じ
る電圧を含んでいる。従つて、計数器２６Ｘと２
６Ｙの内容は、周波数Ａでの欠陥を検出していな
いときの不平衡信号の成分XAとYAを示す。これ
らのデジタル内容は、変換器２８Ｘと２８Ｙによ
つて直流電圧に変換され、その後、周波数Ａにお
いて掛算器３０Ｘと３０Ｙによつて交流電圧に変
換される。
加算器３２は、各チヤネルの交流電圧を再構成
しており、再構成された交流電圧は180度移相器
３４によつて180度移相され、補正電圧Vcを形成
する。該補正電圧Vcは、本発明による回路の前
段に設けられた前置増幅器３６を介してピツクア
ツプの出力電圧Ve、換言すればこの回路の入力
電圧に加算される。
しており、再構成された交流電圧は180度移相器
３４によつて180度移相され、補正電圧Vcを形成
する。該補正電圧Vcは、本発明による回路の前
段に設けられた前置増幅器３６を介してピツクア
ツプの出力電圧Ve、換言すればこの回路の入力
電圧に加算される。
即ち、示されたところの回路は、補正電圧Vc
を回路入力において再入させる帰還ループを構成
し、前記補正電圧Vcが、入力電圧Veに反対の大
きさでVe＋Vcが零となるまで増加する。
を回路入力において再入させる帰還ループを構成
し、前記補正電圧Vcが、入力電圧Veに反対の大
きさでVe＋Vcが零となるまで増加する。
上記の回路が入力電圧を補正することのできる
速度（“平衡”速度と呼ぶ）は、基準電圧VR（Ａ，
Ｏ）及び90度位相のずれた電圧VR（Ａ，π／２）
の大きさと、発振器２７の周波数の関数として決
まる。特に、後者は前記速度を変えるのに有効で
ある。
速度（“平衡”速度と呼ぶ）は、基準電圧VR（Ａ，
Ｏ）及び90度位相のずれた電圧VR（Ａ，π／２）
の大きさと、発振器２７の周波数の関数として決
まる。特に、後者は前記速度を変えるのに有効で
ある。
平衡に達すると、すなわち、欠陥の非検出時に
電圧ＸとＹが零になつた時、スイツチ２０Ｘと２
０Ｙは開かれる。計数器２６Ｘと２６Ｙとは、平
衡時に達した際の前記デジタル内容を維持してい
る。前記デジタル内容は変器２８Ｘと２８Ｙとに
よつて一度アナログ値に変換され、ピツクアツプ
の不平衡を正確に補正する適切な補正電圧Vcを
回路の入力に供給し続ける。従つて、分析器１６
によつて出された測定信号XAとYAはピツクアツ
プの不平衡による部分を含まない。前記測定信号
は、続いて他の測定および処理装置に送られる。
電圧ＸとＹが零になつた時、スイツチ２０Ｘと２
０Ｙは開かれる。計数器２６Ｘと２６Ｙとは、平
衡時に達した際の前記デジタル内容を維持してい
る。前記デジタル内容は変器２８Ｘと２８Ｙとに
よつて一度アナログ値に変換され、ピツクアツプ
の不平衡を正確に補正する適切な補正電圧Vcを
回路の入力に供給し続ける。従つて、分析器１６
によつて出された測定信号XAとYAはピツクアツ
プの不平衡による部分を含まない。前記測定信号
は、続いて他の測定および処理装置に送られる。
以上に記載した回路は、本発明に不可欠な手段
を例示している。図１に示されるような回路は、
平衡に達する時点を決定し、且つ利得を所望の値
にまで徐々に増加させるのに、操作者の介在を必
要とする不利な点を有する。図２は、このような
不利な欠点を有さない回路の一実施態様を示す。
を例示している。図１に示されるような回路は、
平衡に達する時点を決定し、且つ利得を所望の値
にまで徐々に増加させるのに、操作者の介在を必
要とする不利な点を有する。図２は、このような
不利な欠点を有さない回路の一実施態様を示す。
図２に示される回路は、図１において同じ参照
番号ですでに示された部分に加えて、ピーク検知
用回路８０と；第３のコンパレータ８２と；第１
の単安定マルチバイブレータ８４と；第１の論理
ゲート８６と；自動利得制御回路８８と；前記ゲ
ート８６から他の処理チヤネルに向かう接続線９
０、自動利得制御回路８８の出口にありゲイン調
節可能な増幅器１４に向かう接続線９２、前記増
幅器の出力を前記自動利得制御回路８８に接続す
る接続線９４と；前記自動利得制御回路８８が接
続線９６を介して１つの入力に接続されると共
に、他の２つの入力に第１及び第２のコンパレー
タ２４Ｘ，２４Ｙによつて出された信号が供給さ
れるAND型の第２の論理ゲート９８と；前記第
２の論理ゲート９８の出力であつて、且つ他の処
理チヤネルに含まれた対応する第２のグートの出
力が接続されているAND型の第３の論理ゲート
１００と；第２の単安定マルチバイブレータ１０
２と；再設定入力Ｄと、出口Ｓ及びもう一つの出
口とを有するフリツプフロツプ１０４と；平衡
押しボタン１０６及び再設定押しボタン１０８
と；フリツプフロツプ１０４の出口Ｓに接続され
た第１の発光手段１１０及び該フリツプフロツプ
１０４によつて制御される発振器２７と；前記第
２の論理ゲート９８の出力に接続された第２の発
光手段１１２とから構成される。
番号ですでに示された部分に加えて、ピーク検知
用回路８０と；第３のコンパレータ８２と；第１
の単安定マルチバイブレータ８４と；第１の論理
ゲート８６と；自動利得制御回路８８と；前記ゲ
ート８６から他の処理チヤネルに向かう接続線９
０、自動利得制御回路８８の出口にありゲイン調
節可能な増幅器１４に向かう接続線９２、前記増
幅器の出力を前記自動利得制御回路８８に接続す
る接続線９４と；前記自動利得制御回路８８が接
続線９６を介して１つの入力に接続されると共
に、他の２つの入力に第１及び第２のコンパレー
タ２４Ｘ，２４Ｙによつて出された信号が供給さ
れるAND型の第２の論理ゲート９８と；前記第
２の論理ゲート９８の出力であつて、且つ他の処
理チヤネルに含まれた対応する第２のグートの出
力が接続されているAND型の第３の論理ゲート
１００と；第２の単安定マルチバイブレータ１０
２と；再設定入力Ｄと、出口Ｓ及びもう一つの出
口とを有するフリツプフロツプ１０４と；平衡
押しボタン１０６及び再設定押しボタン１０８
と；フリツプフロツプ１０４の出口Ｓに接続され
た第１の発光手段１１０及び該フリツプフロツプ
１０４によつて制御される発振器２７と；前記第
２の論理ゲート９８の出力に接続された第２の発
光手段１１２とから構成される。
前記増幅器１４をゲイン調節する前記回路の動
作は、外部からまたは前記増幅器１４の出力に従
つて該増幅器の利得を最大又は最小となるように
自動的に制御する。
作は、外部からまたは前記増幅器１４の出力に従
つて該増幅器の利得を最大又は最小となるように
自動的に制御する。
押しボタン１０６が操作されると、フリツプフ
ロツプ１０４は、その出力Ｓにおいて、平衡動作
が行なわれていることを示す第１の発光手段１１
０を発光させる信号を出す一方、その出力を通
じて、自動利得制御回路８８を制御する。このと
きの制御信号が論理レベル“１”にある時、増幅
器１４はその最大利得、例えば50デシベルにあ
る。また、発振器２７はフリツプフロツプ１０４
によつて非動作とされる。
ロツプ１０４は、その出力Ｓにおいて、平衡動作
が行なわれていることを示す第１の発光手段１１
０を発光させる信号を出す一方、その出力を通
じて、自動利得制御回路８８を制御する。このと
きの制御信号が論理レベル“１”にある時、増幅
器１４はその最大利得、例えば50デシベルにあ
る。また、発振器２７はフリツプフロツプ１０４
によつて非動作とされる。
すべての平衡回路に共通の前置増幅器３６が飽
和するのを防ぐために、後段に第３のコンパレー
タ８２が接続されたピーク検知用回路８０が、前
記増幅器３６の出力信号を検知する。もし前記信
号が大きすぎる場合には、平衡期間の間、第１の
単安定マルチバイブレータ８４によつて非動作と
される第１のゲート８６が、すべてのチヤネルの
増幅器１４に単位利得を命ずる。このような単位
利得に対して、第１図に例示した帰還ループを構
成する全ての手段、１７，１９Ｘ，１９Ｙ，２４
Ｘ，２４Ｙ，……，３２，３４，３６が既述した
平衡動作を実施する。従つて、増幅器３６の出力
電圧は、すべてのチヤネルが平衡となるまで減少
するということになる。そして、増幅器１４のゲ
イン調節が非動作とされると、前記各チヤネルは
夫々、他のチヤネルから独立してそのチヤネル自
体で平衡状態を示す。利得は前置増幅器３６の出
力電圧に従つてこのように制御され、徐々に増加
する。
和するのを防ぐために、後段に第３のコンパレー
タ８２が接続されたピーク検知用回路８０が、前
記増幅器３６の出力信号を検知する。もし前記信
号が大きすぎる場合には、平衡期間の間、第１の
単安定マルチバイブレータ８４によつて非動作と
される第１のゲート８６が、すべてのチヤネルの
増幅器１４に単位利得を命ずる。このような単位
利得に対して、第１図に例示した帰還ループを構
成する全ての手段、１７，１９Ｘ，１９Ｙ，２４
Ｘ，２４Ｙ，……，３２，３４，３６が既述した
平衡動作を実施する。従つて、増幅器３６の出力
電圧は、すべてのチヤネルが平衡となるまで減少
するということになる。そして、増幅器１４のゲ
イン調節が非動作とされると、前記各チヤネルは
夫々、他のチヤネルから独立してそのチヤネル自
体で平衡状態を示す。利得は前置増幅器３６の出
力電圧に従つてこのように制御され、徐々に増加
する。
このような制御を可能とする手段は、良く知ら
れている。これらは、例えば、発光手段と光導電
性セルを有するシステムとから構成され、その出
力電圧が、制御されるべき増幅器をバイパスする
光導電性セルに作用する発光手段を動作するのに
使用される。
れている。これらは、例えば、発光手段と光導電
性セルを有するシステムとから構成され、その出
力電圧が、制御されるべき増幅器をバイパスする
光導電性セルに作用する発光手段を動作するのに
使用される。
一度、最大利得に達すると、接続線９６によつ
て信号が第２の論理ゲート９８に供給されるが、
この論理ゲート９８には、第１及び第２のコンパ
レータ２４Ｘ，２４Ｙによつて与えられる信号が
同時に供給され；次に、前記第２のゲート９８の
出力信号が第３の論理ゲート１００に供給され
る。すべてのチヤネルが平衡になると、前記第３
の論理ゲート１００は、そのすべての入力端にお
いて、平衡動作が終了したことを示す信号が供給
される。次いで前記ゲート１００の出力は、第２
の単安定マルチバイブレータ１０２を制御する信
号を出し、この信号は、充分な時間にわたつて、
平衡状態を維持できる。フリツプフロツプ１０４
は、その時点で第２の単安定マルチバイブレータ
１０２によつてリセツトされ、かつ第１の発光手
段１１０のスイツチを切る。
て信号が第２の論理ゲート９８に供給されるが、
この論理ゲート９８には、第１及び第２のコンパ
レータ２４Ｘ，２４Ｙによつて与えられる信号が
同時に供給され；次に、前記第２のゲート９８の
出力信号が第３の論理ゲート１００に供給され
る。すべてのチヤネルが平衡になると、前記第３
の論理ゲート１００は、そのすべての入力端にお
いて、平衡動作が終了したことを示す信号が供給
される。次いで前記ゲート１００の出力は、第２
の単安定マルチバイブレータ１０２を制御する信
号を出し、この信号は、充分な時間にわたつて、
平衡状態を維持できる。フリツプフロツプ１０４
は、その時点で第２の単安定マルチバイブレータ
１０２によつてリセツトされ、かつ第１の発光手
段１１０のスイツチを切る。
何か問題が起きれば（例えば、故障したピツク
アツプ）、このような理由による平衡動作の停止
は、再設定押しボタン１０８の操作によつて何時
でも行なうことができる。第２の発光手段１１２
は各チヤネルの平衡状態を示す。
アツプ）、このような理由による平衡動作の停止
は、再設定押しボタン１０８の操作によつて何時
でも行なうことができる。第２の発光手段１１２
は各チヤネルの平衡状態を示す。
図３に図示された回路は、上述した本発明をう
ず電流非破壊制御設備用の補正回路に応用した場
合を示すもので、これに示された回路において
は、第２コイル４６と結合された第１コイル４４
を有し、かつこの第２コイル４６が２個の抵抗体
４８と２個の誘導子５０とから成る平衡ブリツジ
に接続されて、プローブ４２を構成している。前
記プローブ４２は、１つの入力端子５２と１つの
出力端子５４とを有している。このプローブの励
磁装置は、周波数Ａの電流を供給する第１発振器
５６と、周波数Ｂの電流を供給する第２発振器５
８とから成る。これら２つの発振器５６，５８で
得られた電流は加算回路６０で重ね合わされ、そ
して増幅器６２で増幅された後、入力端子５２を
介してプローブ４２に供給されている。
ず電流非破壊制御設備用の補正回路に応用した場
合を示すもので、これに示された回路において
は、第２コイル４６と結合された第１コイル４４
を有し、かつこの第２コイル４６が２個の抵抗体
４８と２個の誘導子５０とから成る平衡ブリツジ
に接続されて、プローブ４２を構成している。前
記プローブ４２は、１つの入力端子５２と１つの
出力端子５４とを有している。このプローブの励
磁装置は、周波数Ａの電流を供給する第１発振器
５６と、周波数Ｂの電流を供給する第２発振器５
８とから成る。これら２つの発振器５６，５８で
得られた電流は加算回路６０で重ね合わされ、そ
して増幅器６２で増幅された後、入力端子５２を
介してプローブ４２に供給されている。
測定信号は、前記プローブ４２の出力端子５４
によつて得られる。前記測定信号は前置増幅器６
４によつて増幅され、平衡動作を行なうのに充分
である大きさを持つようになされる。
によつて得られる。前記測定信号は前置増幅器６
４によつて増幅され、平衡動作を行なうのに充分
である大きさを持つようになされる。
この平衡動作は、本実施例に従つて、夫々周波
数Ａ及びＢに対応した二つのチヤネル１０Ａ及び
１０Ｂから成る補正回路６６によつて行なわれ
る。この回路６６は、発振器５６及び５８に接続
され、発振器から供給される信号と同位相の信号
VR（Ａ，Ｏ）、VR（Ｂ，Ｏ）と、直角位相の信号
VR（Ａ，π／２）、VR（Ｂ，π／２）との必要な基
準信号を受信しており、前者がチヤネル１０Ａ
に、後者がチヤネル１０Ｂに夫々送られる。
数Ａ及びＢに対応した二つのチヤネル１０Ａ及び
１０Ｂから成る補正回路６６によつて行なわれ
る。この回路６６は、発振器５６及び５８に接続
され、発振器から供給される信号と同位相の信号
VR（Ａ，Ｏ）、VR（Ｂ，Ｏ）と、直角位相の信号
VR（Ａ，π／２）、VR（Ｂ，π／２）との必要な基
準信号を受信しており、前者がチヤネル１０Ａ
に、後者がチヤネル１０Ｂに夫々送られる。
補正回路６６は、周波数Ａの信号における抵抗
成分XAとリアクタンス成分YAとを、かつ周波数
Ｂの信号における抵抗成分XBとリアクタンス成
分YBとを出し、これらの部分は、ブリツジ不平
衡による信号が除去されている。そして、このブ
リツジ不平衡による信号が除去された補正回路の
出力電圧XA，YA，XB，YBは、ブリツジが被検査
体の損傷やきずの近傍を通過した時、該ブリツジ
の移動に応じて変化する直流電圧である。これら
の電圧XA，YA，XB，YBは、チヤネル上の回路７
０，７２，７４Ｘ，７４Ｙから成る消去回路へ送
られる。
成分XAとリアクタンス成分YAとを、かつ周波数
Ｂの信号における抵抗成分XBとリアクタンス成
分YBとを出し、これらの部分は、ブリツジ不平
衡による信号が除去されている。そして、このブ
リツジ不平衡による信号が除去された補正回路の
出力電圧XA，YA，XB，YBは、ブリツジが被検査
体の損傷やきずの近傍を通過した時、該ブリツジ
の移動に応じて変化する直流電圧である。これら
の電圧XA，YA，XB，YBは、チヤネル上の回路７
０，７２，７４Ｘ，７４Ｙから成る消去回路へ送
られる。
前記回路７０は加重回路を、前記回路７２は第
１の位相変換回路を、前記回路７４Ｘ及び７４Ｙ
は減算回路を夫々示している。前記加重回路７０
及び第１の位相変換回路７２は周波数Ａに対応し
たチヤネル上にのみ配置されており、前記加重回
路７０は、前記補正回路６６から抵抗成分XA及
びリアクタンス成分YAを受け取り、これらに
夫々適切な係数を掛け合わせた電圧成分X′A及び
Y′Aを出力する。ここで、前記抵抗成分XA及びリ
アクタンス成分YAに夫々掛け合わせる前記係数
は等しくすることもできる。成分X′A及びY′Aは、
消去されるべきパラメータに対応する信号の振幅
√′A 2＋A 2が周波数Ｂの同じパラメータに対応
する信号の振幅√B 2＋B 2に等しくなるように
なされる。言い換えれば、加重回路７０は、抵抗
成分XA及びリアクタンス成分YAに夫々掛け合わ
される係数が等しい場合の操作に対応する操作を
実行する。加重回路７０の後ろには第１の位相変
換回路７２が備えられており、この回路は成分
X′AとY′Aを変えて新しい成分X″AとY″Aを作る。
これらの新しい成分は、消去されるべきパラメー
タの欠陥に対し、周波数Ｂの対応する成分XB及
びYBに等しくなるようにされる。
１の位相変換回路を、前記回路７４Ｘ及び７４Ｙ
は減算回路を夫々示している。前記加重回路７０
及び第１の位相変換回路７２は周波数Ａに対応し
たチヤネル上にのみ配置されており、前記加重回
路７０は、前記補正回路６６から抵抗成分XA及
びリアクタンス成分YAを受け取り、これらに
夫々適切な係数を掛け合わせた電圧成分X′A及び
Y′Aを出力する。ここで、前記抵抗成分XA及びリ
アクタンス成分YAに夫々掛け合わせる前記係数
は等しくすることもできる。成分X′A及びY′Aは、
消去されるべきパラメータに対応する信号の振幅
√′A 2＋A 2が周波数Ｂの同じパラメータに対応
する信号の振幅√B 2＋B 2に等しくなるように
なされる。言い換えれば、加重回路７０は、抵抗
成分XA及びリアクタンス成分YAに夫々掛け合わ
される係数が等しい場合の操作に対応する操作を
実行する。加重回路７０の後ろには第１の位相変
換回路７２が備えられており、この回路は成分
X′AとY′Aを変えて新しい成分X″AとY″Aを作る。
これらの新しい成分は、消去されるべきパラメー
タの欠陥に対し、周波数Ｂの対応する成分XB及
びYBに等しくなるようにされる。
上記記載の内容について更に図により説明する
と、XA，YA，XB，YBの関係は、XA，YAが直交
座標におけるＡ点の座標成分である。同様に、
XB，YBがＢ点の座標成分である。
と、XA，YA，XB，YBの関係は、XA，YAが直交
座標におけるＡ点の座標成分である。同様に、
XB，YBがＢ点の座標成分である。
係数は、ベクトルOA→及びOB→の長さで示され
る。
る。
加重回路７０は、ベクトルOA→がベクトルOB→
と同じ長さとなるように加重係数を掛け合わせて
いる。
と同じ長さとなるように加重係数を掛け合わせて
いる。
これにより、OA→はOA′→に、XA，YAはX′A，
Y′Aになる。
Y′Aになる。
しかし、ベクトルOA′→は、方位が異なつてい
るため、まだベクトルOB→ではない。ベクトル
OA′→はベクトルOB→と一致するために、回転が
必要である。この回転が新たな信号X″A，Y″Aを
形成する位相変換回路７２の働きに相当する。
るため、まだベクトルOB→ではない。ベクトル
OA′→はベクトルOB→と一致するために、回転が
必要である。この回転が新たな信号X″A，Y″Aを
形成する位相変換回路７２の働きに相当する。
その後、減算回路７４Ｘ及び７４Ｙにより、抵
抗成分XBとX″Aとの差、及びリアクタンス成分
YBとY″Aとの差がとられる。回路７４Ｘと７４Ｙ
の出口のところには二つの新しい抵抗成分X′及
びリアクタンス成分Y′が得られる。これらの成
分には不必要なパラメータが消去されている。こ
れらの成分はできれば第２の位相変換回路７８を
通して可視化手段７６に供給される。前記第２の
位相変換回路７８は前記可視化手段７６のスクリ
ーン上に現れる曲線の方向を調整する。
抗成分XBとX″Aとの差、及びリアクタンス成分
YBとY″Aとの差がとられる。回路７４Ｘと７４Ｙ
の出口のところには二つの新しい抵抗成分X′及
びリアクタンス成分Y′が得られる。これらの成
分には不必要なパラメータが消去されている。こ
れらの成分はできれば第２の位相変換回路７８を
通して可視化手段７６に供給される。前記第２の
位相変換回路７８は前記可視化手段７６のスクリ
ーン上に現れる曲線の方向を調整する。
このような特定の応用例のさらに詳細な情報に
ついては、上記の仏国特許出願を参照されたい。
ついては、上記の仏国特許出願を参照されたい。
（発明の効果）
以上記載したとおり、本発明の信号補正回路に
よれば、不平衡な信号を含む差動ピツクアツプの
出力信号を自動的に補正して、操作者の介在を不
要にできる。
よれば、不平衡な信号を含む差動ピツクアツプの
出力信号を自動的に補正して、操作者の介在を不
要にできる。
図１は、本発明の回路の一般的な線図であり、
図２は、本発明の回路を、うず電流非破壊試験装
置用の平衡回路に応用した例を示すものであり、
図３は、本発明を、うず電流非破壊試験設備用の
補正回路に応用した例を示すものである。 （図中符号）、１０Ａ，１０Ｂ：チヤネル；VR
（Ａ，Ｏ）：基準電圧；VR（Ａ，π／２）：電圧；
１２：帯域フイルタ；１４：増幅器；１６：分析
器；１７：メモリサンプリング回路；１８Ｘ，１
８Ｙ：出力端；１９Ｘ，１９Ｙ：低域フイルタ；
２０Ｘ，２０Ｙ：スイツチ；２２Ｘ：第一段；２
２Ｙ：第二段；２４Ｘ：第１のコンパレータ；２
４Ｙ：第２のコンパレータ；Ｘ，Ｙ：電圧；２６
Ｘ，２６Ｙ：計数器；２７：発振器；２８Ｘ，２
８Ｙ：Ｄ／Ａ変換器；３０Ｘ：第一段掛算器；３
０Ｙ：第二段掛算器；３２：加算器；３４：180゜
位相器；３６：前置増幅器；４２：プローブ；４
４：第１コイル；４６：第２コイル；４８：抵抗
体；５０：誘導子；５２：入力端子；５４：出力
端子；５６：第１発振器；５８：第２発振器；６
０：加算回路；６２：増幅器；７０：加重回路；
７２：第１の位相変換回路；７４Ｘ，７４Ｙ：減
算回路；７６：可視化手段；７８：第２の位相変
換回路；８２：第３のコンパレータ；８４：第１
の単安定マルチバイブレータ；８６：第１の論理
ゲート；８８：自動利得制御回路；９０，９２，
９４，９６：接続線；９８：第２の論理ゲート；
１００：第３の論理ゲート；１０２：第２の単安
定マルチバイブレータ；１０４：フリツプフロツ
プ；１０６：平衡押しボタン；１０８：再設定押
しボタン；１１０：第１の発光手段；１１２：第
２の発光手段。
図２は、本発明の回路を、うず電流非破壊試験装
置用の平衡回路に応用した例を示すものであり、
図３は、本発明を、うず電流非破壊試験設備用の
補正回路に応用した例を示すものである。 （図中符号）、１０Ａ，１０Ｂ：チヤネル；VR
（Ａ，Ｏ）：基準電圧；VR（Ａ，π／２）：電圧；
１２：帯域フイルタ；１４：増幅器；１６：分析
器；１７：メモリサンプリング回路；１８Ｘ，１
８Ｙ：出力端；１９Ｘ，１９Ｙ：低域フイルタ；
２０Ｘ，２０Ｙ：スイツチ；２２Ｘ：第一段；２
２Ｙ：第二段；２４Ｘ：第１のコンパレータ；２
４Ｙ：第２のコンパレータ；Ｘ，Ｙ：電圧；２６
Ｘ，２６Ｙ：計数器；２７：発振器；２８Ｘ，２
８Ｙ：Ｄ／Ａ変換器；３０Ｘ：第一段掛算器；３
０Ｙ：第二段掛算器；３２：加算器；３４：180゜
位相器；３６：前置増幅器；４２：プローブ；４
４：第１コイル；４６：第２コイル；４８：抵抗
体；５０：誘導子；５２：入力端子；５４：出力
端子；５６：第１発振器；５８：第２発振器；６
０：加算回路；６２：増幅器；７０：加重回路；
７２：第１の位相変換回路；７４Ｘ，７４Ｙ：減
算回路；７６：可視化手段；７８：第２の位相変
換回路；８２：第３のコンパレータ；８４：第１
の単安定マルチバイブレータ；８６：第１の論理
ゲート；８８：自動利得制御回路；９０，９２，
９４，９６：接続線；９８：第２の論理ゲート；
１００：第３の論理ゲート；１０２：第２の単安
定マルチバイブレータ；１０４：フリツプフロツ
プ；１０６：平衡押しボタン；１０８：再設定押
しボタン；１１０：第１の発光手段；１１２：第
２の発光手段。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 差動ピツクアツプにより与えられた電気信号
を自動的に補正する信号補正回路であつて、前記
電気信号は与えられた周波数を有し且つ不平衡な
部分を含んでおり、前記不平衡な部分を決定し且
つ前記電気信号から該部分を減じる手段が、 (a) 前記周波数に中心を合わせ、後段にゲイン調
節可能な増幅器１４を接続した帯域フイルタ１
２と； (b) 一方において前記周波数における基準電圧及
び該基準電圧に対して直角位相（即ち90度移相
された）の電圧が供給され、他方において前記
帯域フイルタを通過された電圧が供給されて前
記基準電圧に関してそれぞれ同位相及び直角位
相を有し且つ濾波された信号成分に比例する二
つの直流電圧ＸとＹを出力する分析器１６と； (c) 電圧Ｘが供給された第１のコンパレータ２４
Ｘと；前記第１のコンパレータに接続された計
数器２６Ｘと；前記計数器にクロツクパルスを
供給する発振器２７と；前記計数器に接続され
たＤ／Ａ変換器２８Ｘと；二つの入力端と一つ
の出力端を有し、前記入力端の一方には前記基
準電圧が供給され、他方の入力端に前記Ｄ／Ａ
変換器の出力が供給された掛算器３０Ｘとから
成る第一段２２Ｘと； (d) 電圧Ｙが供給された第２のコンパレータ２４
Ｙと；前記第２のコンパレータに接続された計
数器２６Ｙと；前記計数器にクロツクパルスを
供給する発振器２７と；前記計数器に接続され
たＤ／Ａ変換器２８Ｙと；二つの入力端と一つ
の出力端を有し、前記入力端の一方には前記基
準電圧と直角位相にある前記電圧が供給され、
他方の入力端に前記Ｄ／Ａ変換器の出力が供給
された掛算器３０Ｙとから成る第二段２２Ｙ
と； (e) 二つの入力端と一つの出力端を有し、前記入
力端の一方が前記第一段の掛算器３０Ｘの出力
端と接続され、他の入力端が前記第二段の掛算
器３０Ｙの出力端と接続され、かつ前記出力端
が各チヤネルに共通の位相反転器３４の入力端
と接続された加算器３２と；から構成されるこ
とを特徴とする信号補正回路。 ２ 前記分析器１６は、前記基準電圧及び直角位
相の電圧が供給されたメモリサンプリング回路１
７であり、後段に二つの低域フイルタ１９Ｘ，１
９Ｙを接続して構成されることを特徴とする特許
請求の範囲第１項に記載の回路。 ３ 前記増幅器１４の出力電圧をフイードバツク
して該増幅器の利得が最大または最小となるよう
に制御する手段から成ることを特徴とする特許請
求の範囲第１項に記載の回路。 ４ 一チヤネルの増幅器１４の利得を制御する前
記手段は、回路入力に接続されたピーク検知用回
路８０と、前記ピーク検知用回路に接続された第
３のコンパレータ８２と、第１の単安定マルチバ
イブレータ８４と、二つの入力端及び一つの出力
端を有し、該出力端が前記増幅器の利得を自動的
に制御する回路８８に接続された第１の論理ゲー
ト８６と、三つの入力端を有し、該入力端の一つ
が利得を制御する前記回路８８と接続され、他の
二つが前記第１及び第２のコンパレータ２４Ｘ，
２４Ｙの出力と接続されたAND型の第２の論理
ゲート９８と、チヤネル数に応じた多入力端を有
し、該入力端が各チヤネルに夫々付属の前記第２
の論理ゲートの出力に接続されたAND型の第３
の論理ゲート１００と、前記第３の論理ゲートの
出力に接続した第２の単安定マルチバイブレータ
１０２と、再設定入力及び二つの出力端を備え、
該出力端の一つは利得を自動的に制御する前記回
路８８に接続され、他方は二つの入力端を有する
前記第１の論理ゲートに接続されたフリツプフロ
ツプ１０４と、から構成されている特許請求の範
囲第３項に記載の回路。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR7834478A FR2443682A1 (fr) | 1978-12-07 | 1978-12-07 | Circuit de correction automatique d'un signal emis par un capteur differentiel desequilibre |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5580060A JPS5580060A (en) | 1980-06-16 |
| JPH0325749B2 true JPH0325749B2 (ja) | 1991-04-08 |
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| JP15820879A Granted JPS5580060A (en) | 1978-12-07 | 1979-12-07 | Signal correction circuit |
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