JPH04109174A - インピーダンス測定装置 - Google Patents
インピーダンス測定装置Info
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- JPH04109174A JPH04109174A JP22685790A JP22685790A JPH04109174A JP H04109174 A JPH04109174 A JP H04109174A JP 22685790 A JP22685790 A JP 22685790A JP 22685790 A JP22685790 A JP 22685790A JP H04109174 A JPH04109174 A JP H04109174A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
この発明は、被測定インピーダンス素子に正弦波電流を
流し、その被測定インピーダンス素子を流れる電流また
はその素子の両端間電圧をヘクトル検波して、インピー
ダンスを測定するインピーダンス測定装置に関する。
流し、その被測定インピーダンス素子を流れる電流また
はその素子の両端間電圧をヘクトル検波して、インピー
ダンスを測定するインピーダンス測定装置に関する。
「従来の技術」
第５回に従来のこの種のインピーダンス測定装置を示す
、方形波発生器１１よりの方形波信号が低域通過ろ波器
１２を通じて正弦波信号に変換され、その正弦波信号が
必要に応して増幅器１３を通して被測定インピーダンス
素子１４の一端へ供給され、被測定インピーダンス素子
１４の他端より流出する電流は電流電圧変換器１６で電
圧信号に変換される。その電圧信号は切替スイッチ１７
を通して同期検波回路１８．１９で方形波発生器１１か
ら同相の方形波信号と、９０°位相がずれた方形波信号
とによりそれぞれ同期検波される。
、方形波発生器１１よりの方形波信号が低域通過ろ波器
１２を通じて正弦波信号に変換され、その正弦波信号が
必要に応して増幅器１３を通して被測定インピーダンス
素子１４の一端へ供給され、被測定インピーダンス素子
１４の他端より流出する電流は電流電圧変換器１６で電
圧信号に変換される。その電圧信号は切替スイッチ１７
を通して同期検波回路１８．１９で方形波発生器１１か
ら同相の方形波信号と、９０°位相がずれた方形波信号
とによりそれぞれ同期検波される。
これら同期検波回路１８．１９の各出力はそれぞれ積分
器２１．２２で積分され、積分器２１から同相成分、つ
まり実部成分［、Ｉ、が得られ、積分器２２から直交成
分、つまり虚部成分１１が得られ、これら実部成分Ｒ０
と虚部成分！、とがスイッチ２３で切替えられてＡＤ変
換器２４へ供給され、ソレソれデジタル信号に変換され
、そのデジタル信号は演算表示部２５へ供給される。
器２１．２２で積分され、積分器２１から同相成分、つ
まり実部成分［、Ｉ、が得られ、積分器２２から直交成
分、つまり虚部成分１１が得られ、これら実部成分Ｒ０
と虚部成分！、とがスイッチ２３で切替えられてＡＤ変
換器２４へ供給され、ソレソれデジタル信号に変換され
、そのデジタル信号は演算表示部２５へ供給される。
一方、被測定インピーダンス素子１４の両端の各電圧が
それぞれ高入力インピーダンスのバッファ２６．２７で
取り出され、これらの電圧差が差回路２８で得られ、そ
の差電圧が切替スイッチ１７を通じて同期検波回路１８
．１９へ供給される。
それぞれ高入力インピーダンスのバッファ２６．２７で
取り出され、これらの電圧差が差回路２８で得られ、そ
の差電圧が切替スイッチ１７を通じて同期検波回路１８
．１９へ供給される。
この結果、積分器２１から同相成分ＶＭｒが、積分器２
２から直交成分■、がそれぞれ得られる。演算表示部２
５で次式で被測定インピーダンス素子１４のインピーダ
ンス２ が演算され、この演算結果が表示される。同期検波面Ｊ
！ｆｆ＋１８．１９、積分器２１．２２でベクトル検波
回路２９が構成される。
２から直交成分■、がそれぞれ得られる。演算表示部２
５で次式で被測定インピーダンス素子１４のインピーダ
ンス２ が演算され、この演算結果が表示される。同期検波面Ｊ
！ｆｆ＋１８．１９、積分器２１．２２でベクトル検波
回路２９が構成される。
「発明が解決しようとする課題」
被測定インピーダンス素子Ｉ４へ供給する交流電流とし
て比較的大きなものを用いると、被測定インピーダンス
素子１４と測定装置との接続治具に数オームの接触抵抗
がある場合は、その接触抵抗がそこを流れる電流の瞬時
値により変化し、電流波形に歪みが生し、正弦波でなく
なり、インピーダンス測定は正弦波で測定することが要
求されており、正弦波からずれると、正しい測定を得る
ことができない、従来においては、この非線形接触抵抗
のために波形歪が生じて正しい測定値が得られない場合
でも、正しい測定値として表示していた。
て比較的大きなものを用いると、被測定インピーダンス
素子１４と測定装置との接続治具に数オームの接触抵抗
がある場合は、その接触抵抗がそこを流れる電流の瞬時
値により変化し、電流波形に歪みが生し、正弦波でなく
なり、インピーダンス測定は正弦波で測定することが要
求されており、正弦波からずれると、正しい測定を得る
ことができない、従来においては、この非線形接触抵抗
のために波形歪が生じて正しい測定値が得られない場合
でも、正しい測定値として表示していた。
「課題を解決するための手段」
請求項１の発明によれば、被測定インピーダンス素子を
流れる電流またはその素子の両端間電圧から、その波形
歪成分を含んだエネルギーが検出され、また上記電流ま
たは電圧から波形歪成分を除去したエネルギーが検出さ
れ、その検出した前者のエネルギーに対する後者のエネ
ルギーの比が求められ、その比が所定値以下の場合は測
定結果は不良とされる。
流れる電流またはその素子の両端間電圧から、その波形
歪成分を含んだエネルギーが検出され、また上記電流ま
たは電圧から波形歪成分を除去したエネルギーが検出さ
れ、その検出した前者のエネルギーに対する後者のエネ
ルギーの比が求められ、その比が所定値以下の場合は測
定結果は不良とされる。
請求項２の発明によれば、被測定インピーダンス素子を
流れる電流またはその素子の両端間の電圧差からその波
形の歪成分のエネルギーが検出され、この検出エネルギ
ーの、被測定インピーダンス素子へ供給する正弦波電流
のエネルギーに対する比が求められ、この比が所定値以
上の場合は測定結果は不良とされる。
流れる電流またはその素子の両端間の電圧差からその波
形の歪成分のエネルギーが検出され、この検出エネルギ
ーの、被測定インピーダンス素子へ供給する正弦波電流
のエネルギーに対する比が求められ、この比が所定値以
上の場合は測定結果は不良とされる。
「実施例」
第１図に請求項１の発明の実施例を第５図と対応する部
分に同一符号を付けて示す、この実施例では切替スイッ
チ１７の出力側に、低域通過ろ波器１２の出力正弦波信
号と同一の周波数成分を抽出する低域通過または帯域通
過ろ波器３１が分岐接続され、切替スイッチ３２で切替
スイッチ１７の出力側とる波器３１の出力側とを切替え
て同期検波回路１８．１９に接続することができるよう
にされる。
分に同一符号を付けて示す、この実施例では切替スイッ
チ１７の出力側に、低域通過ろ波器１２の出力正弦波信
号と同一の周波数成分を抽出する低域通過または帯域通
過ろ波器３１が分岐接続され、切替スイッチ３２で切替
スイッチ１７の出力側とる波器３１の出力側とを切替え
て同期検波回路１８．１９に接続することができるよう
にされる。
この構成において、被測定インピーダンス素子１４が容
量性または抵抗性の場合は、切替スイッチ１７を電流電
圧変換器１６側に接続し、切替スインチ３２を切替スイ
ッチ１フ側に接続して、被測定インピーダンス素子１４
を流れる電流の同相成分子＋ｒと、直交成分１１．とを
測定する。次に切替スイッチ３２をろ波器３１側に接続
して、被測定インピーダンス素子１４を流れる電流中の
波形歪成分を除去した同相成分Ｆｒと、直交成分１２ｍ
とを測定する。演算表示部２５はこれら測定値から被測
定インピーダンス素子１４を流れる電流の波形歪成分を
含むエネルギーＰ＋＝ ＋ｌｒ”＋ Ｉ、と、波形歪成
分を除去したエネルギーＰｚ＝Ｉａ、。
量性または抵抗性の場合は、切替スイッチ１７を電流電
圧変換器１６側に接続し、切替スインチ３２を切替スイ
ッチ１フ側に接続して、被測定インピーダンス素子１４
を流れる電流の同相成分子＋ｒと、直交成分１１．とを
測定する。次に切替スイッチ３２をろ波器３１側に接続
して、被測定インピーダンス素子１４を流れる電流中の
波形歪成分を除去した同相成分Ｆｒと、直交成分１２ｍ
とを測定する。演算表示部２５はこれら測定値から被測
定インピーダンス素子１４を流れる電流の波形歪成分を
含むエネルギーＰ＋＝ ＋ｌｒ”＋ Ｉ、と、波形歪成
分を除去したエネルギーＰｚ＝Ｉａ、。
＋１２ｍ”とを演算し、さらに、これらエネルギーの比
Ｐｚ／ｐ、を求め、この比が所定値、例えば０゜９９以
下の場合は歪成分が多く、正しい測定結果が得られなか
ったと判定して、そのことを演算表示部２５に表示する
。なお、インピーダンスの測定は従来と同様に（１）式
により求める。ただし、外来雑音の影響を避ける点から
、Ｉ ｎｒ ＋ Ｉ ）ＩＩｌｌ＋ Ｖ Ｍｒ ＋
ＶＮｍの各測定をろ波器３１を通して行うと、再現性が
よい測定結果が得られる。
Ｐｚ／ｐ、を求め、この比が所定値、例えば０゜９９以
下の場合は歪成分が多く、正しい測定結果が得られなか
ったと判定して、そのことを演算表示部２５に表示する
。なお、インピーダンスの測定は従来と同様に（１）式
により求める。ただし、外来雑音の影響を避ける点から
、Ｉ ｎｒ ＋ Ｉ ）ＩＩｌｌ＋ Ｖ Ｍｒ ＋
ＶＮｍの各測定をろ波器３１を通して行うと、再現性が
よい測定結果が得られる。
エネルギー比ＰＪＰ＋が所定値以下か否かの判定ばＰ、
、Ｐ、の上位桁の大小を比較し、て行ってもよい。被測
定インピーダンス素子１４が誘導性のものの場合は、上
記エネルギーを求めるために切替スイッチ１７を差回路
２８側に接続し、素子１４の両端間電圧差について波形
歪を含んだ値と、波形歪を除去した値とを求めて行う。
、Ｐ、の上位桁の大小を比較し、て行ってもよい。被測
定インピーダンス素子１４が誘導性のものの場合は、上
記エネルギーを求めるために切替スイッチ１７を差回路
２８側に接続し、素子１４の両端間電圧差について波形
歪を含んだ値と、波形歪を除去した値とを求めて行う。
第２図に請求項１の発明の他の例を示す。この例では方
形波発生！Ｓ１１の代わりにデジタル正弦波発生器３３
が設けられ、これよりデジタルの正弦波信号が発生され
、そのデジタル正弦波信号はＤＡ変換器３４でアナログ
信号に変換されて低域通過ろ波器１２へ供給される。一
方、デジタル正弦波発生器３３からデジタルの正弦波信
号とデジタルの余弦波信号とが発生され、それぞれＭＳ
Ｂ以外ゲー）３５．３６へ供給される。ＭＳＢ以外ゲー
ト３５．３６は端子３７からの制御信号により、ＭＳＢ
（最上位ビット）以外のビットが通過または遮断され
、つまり全ビットが通過する状態か、ＭＳＢだけが通過
する状態かに副署される１゜ＭＳＢ以外ゲー）３５．３
６の各出力はそれぞれ乗算形ＤＡ変換器３８．３９へ供
給され、アナログ信号に変換されると共にそれぞれ切替
スイッチ１７の出力と掛算される。乗算形ＤＡ変換器３
８゜３９の各出力はそれぞれ積分器２１．２２へ供給さ
れる。
形波発生！Ｓ１１の代わりにデジタル正弦波発生器３３
が設けられ、これよりデジタルの正弦波信号が発生され
、そのデジタル正弦波信号はＤＡ変換器３４でアナログ
信号に変換されて低域通過ろ波器１２へ供給される。一
方、デジタル正弦波発生器３３からデジタルの正弦波信
号とデジタルの余弦波信号とが発生され、それぞれＭＳ
Ｂ以外ゲー）３５．３６へ供給される。ＭＳＢ以外ゲー
ト３５．３６は端子３７からの制御信号により、ＭＳＢ
（最上位ビット）以外のビットが通過または遮断され
、つまり全ビットが通過する状態か、ＭＳＢだけが通過
する状態かに副署される１゜ＭＳＢ以外ゲー）３５．３
６の各出力はそれぞれ乗算形ＤＡ変換器３８．３９へ供
給され、アナログ信号に変換されると共にそれぞれ切替
スイッチ１７の出力と掛算される。乗算形ＤＡ変換器３
８゜３９の各出力はそれぞれ積分器２１．２２へ供給さ
れる。
ＭＳＢ以外ゲート３５．３６からＭＳＢビットのみを出
力させると、０°位相の方形波信号と９０１位相の方形
波信号とにより、切替スイッチ１７の出力を乗算形ＤＡ
変換器３８．３９でそれぞれ同期検波した状態になり、
第１図の場合における波形歪成分を含んだ電流値Ｉ ｌ
ｒ＋ Ｉ １ｍｌを求めることができる。ＭＳＢ以外
ゲー）３５．３６から全ビットを出力させると、切替ス
イッチ１７の出力に正弦波信号、余弦波信号をそれぞれ
乗算し、フーリエ積分がなされ、波形歪成分を除去した
電流値１□＋ｌｆｆ１ｌｌを求めることができる。従っ
て、演算表示部２５で第１回の場合と同様に処理して測
定結果が正しいか否かを判定表示することができる。測
定結果２を得る時は、ＭＳＢ以外ゲート３５．３６は全
ビットを通過させる。
力させると、０°位相の方形波信号と９０１位相の方形
波信号とにより、切替スイッチ１７の出力を乗算形ＤＡ
変換器３８．３９でそれぞれ同期検波した状態になり、
第１図の場合における波形歪成分を含んだ電流値Ｉ ｌ
ｒ＋ Ｉ １ｍｌを求めることができる。ＭＳＢ以外
ゲー）３５．３６から全ビットを出力させると、切替ス
イッチ１７の出力に正弦波信号、余弦波信号をそれぞれ
乗算し、フーリエ積分がなされ、波形歪成分を除去した
電流値１□＋ｌｆｆ１ｌｌを求めることができる。従っ
て、演算表示部２５で第１回の場合と同様に処理して測
定結果が正しいか否かを判定表示することができる。測
定結果２を得る時は、ＭＳＢ以外ゲート３５．３６は全
ビットを通過させる。
波形歪にもとづく測定結果の良否を判定する手段をベク
トル検波回路２９と別個に設けてもよい。
トル検波回路２９と別個に設けてもよい。
例えば第３図にその測定結果の良否を判定する部分のみ
を示すように、第１図における電流電圧変換５工６の出
力は分岐されて２乗回路４工とろ波器４２とへ供給され
、２乗回路４１で波形歪を含む電流が２乗され、その出
力が積分器４３で積分され、ルートミーンスケア値、つ
まり波形歪成分を含む！＠のエネルギーが得られる。一
方、ろ波器４２で基本波成分のみが取り出され、その出
力が２乗回路４４で２乗され、その２乗出力が積分器４
５で積分され、つまり波形歪成分が除去された電流のエ
ネルギーが得られ、これと積分器４３の出力とが比較器
４６で比較され、その有効桁以上が比較され、積分器４
３の出力に対し積分器４５の出力の比が所定値以下か否
かが検出される。
を示すように、第１図における電流電圧変換５工６の出
力は分岐されて２乗回路４工とろ波器４２とへ供給され
、２乗回路４１で波形歪を含む電流が２乗され、その出
力が積分器４３で積分され、ルートミーンスケア値、つ
まり波形歪成分を含む！＠のエネルギーが得られる。一
方、ろ波器４２で基本波成分のみが取り出され、その出
力が２乗回路４４で２乗され、その２乗出力が積分器４
５で積分され、つまり波形歪成分が除去された電流のエ
ネルギーが得られ、これと積分器４３の出力とが比較器
４６で比較され、その有効桁以上が比較され、積分器４
３の出力に対し積分器４５の出力の比が所定値以下か否
かが検出される。
第４図に請求項２の発明の実施例の要部を示す。
増幅器１３の出力の一部が分岐されて２乗回路４７へ供
給され、その２乗回路４７の出力は積分器４８で積分さ
れ、入力正弦波電流のエネルギーが得られる。また電流
電圧変換器１６の出力が分岐されてノツチフィルタ４９
へ供給され、ノツチフィルタ４９で、基本波、つまり増
幅器１３の出力正弦波信号の周波数成分のみが遮断され
、他の成分、つまり波形歪成分のみが通過され、その出
力は２東回路５１で２乗され、その２東回路５１の出力
は積分器５２で積分され、波形歪成分のエネルギーが得
られる。積分器４８の出力に対する積分器５２の出力の
比が比較器５３でとられ、その比が所定値より大の場合
は、その時の測定結果は不良と判定される。
給され、その２乗回路４７の出力は積分器４８で積分さ
れ、入力正弦波電流のエネルギーが得られる。また電流
電圧変換器１６の出力が分岐されてノツチフィルタ４９
へ供給され、ノツチフィルタ４９で、基本波、つまり増
幅器１３の出力正弦波信号の周波数成分のみが遮断され
、他の成分、つまり波形歪成分のみが通過され、その出
力は２東回路５１で２乗され、その２東回路５１の出力
は積分器５２で積分され、波形歪成分のエネルギーが得
られる。積分器４８の出力に対する積分器５２の出力の
比が比較器５３でとられ、その比が所定値より大の場合
は、その時の測定結果は不良と判定される。
第３図、第４図の例においても、被測定インピーダンス
素子を流れる電流から測定結果の良否を求めたが、被測
定インピーダンス素子１４が誘導性の場合は被測定イン
ピーダンス素子の両端間電圧から同様の処理により測定
結果の良否を求めるようにすることもできる。
素子を流れる電流から測定結果の良否を求めたが、被測
定インピーダンス素子１４が誘導性の場合は被測定イン
ピーダンス素子の両端間電圧から同様の処理により測定
結果の良否を求めるようにすることもできる。
「発明の効果」
以上述べたように、この発明によれば被測定インピーダ
ンス素子を流れる電流またはその両端間電圧から、波形
歪が大きく、正しい測定が得られない状態を判定し、そ
の判定が得られると測定結果が正しいものでないことが
表示され、誤った測定結果を得るおそれはなく、また測
定結果不良と表示された場合は、被測定インピーダンス
素子自体の不良、またはこれと測定装置との接続不良で
はないかをチエツクし、正しい測定をすることが可能と
なる。
ンス素子を流れる電流またはその両端間電圧から、波形
歪が大きく、正しい測定が得られない状態を判定し、そ
の判定が得られると測定結果が正しいものでないことが
表示され、誤った測定結果を得るおそれはなく、また測
定結果不良と表示された場合は、被測定インピーダンス
素子自体の不良、またはこれと測定装置との接続不良で
はないかをチエツクし、正しい測定をすることが可能と
なる。
第１図は請求項１の発明の実施例を示すブロック図、第
２図はその他の例を示すブロック図、第３図はそのさら
に他の例の要部を示すブロック図、第４図は請求項２の
発明の実施例の要部を示すブロック図、第５図は従来の
インピーダンス測定装置を示すブロック図である。
２図はその他の例を示すブロック図、第３図はそのさら
に他の例の要部を示すブロック図、第４図は請求項２の
発明の実施例の要部を示すブロック図、第５図は従来の
インピーダンス測定装置を示すブロック図である。
Claims (2)
- （１）被測定インピーダンス素子に正弦波電流を流し、
その被測定インピーダンス素子を流れる電流またはその
素子の両端間電圧をベクトル検波して上記被測定インピ
ーダンス素子のインピーダンスを求めるインピーダンス
測定装置において、 上記被測定インピーダンス素子を流れる電流またはその
素子の両端間電圧からその波形歪成分も含むエネルギー
を検出する手段と、 上記被測定インピーダンス素子を流れる電流またはその
素子の両端間電圧からその波形歪成分を除去したエネル
ギーを検出する手段と、これら両検出エネルギーの前者
に対する後者の比を求める手段と、 その比が所定値以下で測定結果を不良とする手段と、 を設けたことを特徴とするインピーダンス測定装置。 - （２）被測定インピーダンス素子に正弦波電流を流し、
その被測定インピーダンス素子を流れる電流またはその
素子の両端間電圧をベクトル検波して上記被測定インピ
ーダンス素子のインピーダンスを求めるインピーダンス
測定装置において、 上記被測定インピーダンス素子を流れる電流またはその
素子の両端間電圧からその波形の歪成分のエネルギーを
検出する手段と、 そのエネルギーの、上記正弦波電流のエネルギーに対す
る比を求める手段と、 その比が所定値以上で測定結果を不良とする手段と、 を設けたことを特徴とするインピーダンス測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22685790A JP2802322B2 (ja) | 1990-08-29 | 1990-08-29 | インピーダンス測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22685790A JP2802322B2 (ja) | 1990-08-29 | 1990-08-29 | インピーダンス測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04109174A true JPH04109174A (ja) | 1992-04-10 |
| JP2802322B2 JP2802322B2 (ja) | 1998-09-24 |
Family
ID=16851659
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22685790A Expired - Fee Related JP2802322B2 (ja) | 1990-08-29 | 1990-08-29 | インピーダンス測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2802322B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7260481B1 (en) | 2006-03-17 | 2007-08-21 | Tanita Corporation | Vector detecting device and living-body complex impedance measuring apparatus having the vector detecting device |
| JP2011163838A (ja) * | 2010-02-08 | 2011-08-25 | Hioki Ee Corp | 測定装置および測定方法 |
| WO2017099147A1 (ja) * | 2015-12-10 | 2017-06-15 | いすゞ自動車株式会社 | リアクタンス測定装置 |
| CN109374971A (zh) * | 2018-09-25 | 2019-02-22 | 北京工业大学 | 基于嵌入式系统的兆赫兹阻抗测量计 |
| JP2021012065A (ja) * | 2019-07-04 | 2021-02-04 | 株式会社デンソー | 電池監視装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102237741B1 (ko) | 2020-03-02 | 2021-04-07 | 숙명여자대학교산학협력단 | 실시간으로 발광소자의 휘도 및 임피던스 그리고 잡음 특성의 동시 측정 시스템 |
-
1990
- 1990-08-29 JP JP22685790A patent/JP2802322B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7260481B1 (en) | 2006-03-17 | 2007-08-21 | Tanita Corporation | Vector detecting device and living-body complex impedance measuring apparatus having the vector detecting device |
| JP2007248446A (ja) * | 2006-03-17 | 2007-09-27 | Tanita Corp | ベクトル検波装置及びこれを備えた生体複素インピーダンス測定装置 |
| JP2011163838A (ja) * | 2010-02-08 | 2011-08-25 | Hioki Ee Corp | 測定装置および測定方法 |
| WO2017099147A1 (ja) * | 2015-12-10 | 2017-06-15 | いすゞ自動車株式会社 | リアクタンス測定装置 |
| JP2017106830A (ja) * | 2015-12-10 | 2017-06-15 | いすゞ自動車株式会社 | リアクタンス測定装置 |
| CN108369251A (zh) * | 2015-12-10 | 2018-08-03 | 五十铃自动车株式会社 | 电抗测量装置 |
| US10578660B2 (en) | 2015-12-10 | 2020-03-03 | Isuzu Motors Limited | Reactance measurement apparatus |
| CN108369251B (zh) * | 2015-12-10 | 2020-09-08 | 五十铃自动车株式会社 | 电抗测量装置 |
| CN109374971A (zh) * | 2018-09-25 | 2019-02-22 | 北京工业大学 | 基于嵌入式系统的兆赫兹阻抗测量计 |
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