JPH032576A - 接触子の接触不良判定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 ロジック出力を測定する際に接触不良が発生したことを
判定する方法に関し、 ロジック出力測定時において、異常状態の要因がどこに
あるのが、つまり、接触子の接触不良による低レベル表
示であるのが否かを容易に判別できるようにすることを
目的とし、 被試験物が正常であるか否かを該被試験物の出力端子に
接触子を接触させて測定する際、該接触子の接触子の接
触不良を判定する方法に於いて、前記接触子側から前記
出力端子に常時一定の電圧を供給して、前記接触子の接
触不良時には特異の電圧レベルを出力しうるようにして
判定するよう構成する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、ロジック出力を測定する際に接触不良が発生
したことを判定する方法に関するものである。

〔従来の技術〕

従来から被試験物例えばロジック等が正常か否かである
ことを判断する方法として、ロジ・７りの出力電圧の電
圧レベル番こよりその判断を行っていた。つまり、プロ
ーブ等の接触子を出力端子に接触させ、その出力電圧を
オシロスコープ上に表示させて判断を行っていた。

〔本発明が解決しようとする課題〕

この時、ロジック内部で故障等が発生しておらず且つ接
触子であるプローブの接触不良が発生していなければ、
本来のロジックの出力がそのまま出力される。しかし、
プローブによる接触不良が発生していれば、オシロスコ
ープ上にはＯＶの波形が表示される（測定不可の状態）
。この時従来はそのＯｖ表示がロジック側の原因である
のか、またはプローブの接触不良によるＯｖ表示なのか
を判別することができなかった。

本発明はロジック出力測定時において、異常状態の要因
がどこにあるのか、つまり、接触子の接触不良による低
レベル表示であるのか否かを容易に判別できるようにす
ることを目的とするものである。

〔課題を解決するための手段］ かかる目的は、被試験物１が正常であるか否かを該被試
験物工の出力端子に接触子２を接触さ−ｌて測定する際
、該接触子２の接触不良を判定する方法に於いて、 前記接触子２側から前記出力端子に常時一定の電圧を供
給して、前記接触子２の接触不良時には特異の電圧レベ
ルを出力しうるようにして判定することを特徴とする接
触子の接触不良判定方法、により達成される。

〔作用〕

かかる構成とすることにより本発明では、接触不良時に
おいては特異なる電圧レベルを出力させることにより、
容易にその状態を判別することができる。

〔実施例〕

以下、本発明の一実施例を第１図および第１図（ａ）お
よび第２図を用いて詳細に説明する。

第１図および第１図（ａ）において、１はロジック２ば
プローブ　３はオシロスコープ　Ｖｏはロジック出力電
圧、Ｚｏはロジック出力インピーダンス１　■Ｌはプロ
ーブ側から供給する電圧、■ｊはオシロスコープ入力電
圧、Ｒ１−Ｒ３は抵抗、Ｃｌ−Ｃ２はコンデンサをそれ
ぞれ示す。

ここで、本発明の特徴を明確にするために従来の構成と
比較してその説明を行う。

第３図（ａ）は従来の試験方法に用いられる回路を構成
を示し、同図（ｂ）はその等価回路を示す。

第３図（ｂ）に示すようにその等価回路における各電圧
はＶｉ、ｖは以下の式により表される。

イ）正常時 プローブの接触不良が発生していなければ、上記０式は
以下のとおり変形する。

Ｒ１，Ｒ２との抵抗値を比較すると、 出力インピーダンスＺｏ　　＜　　抵抗Ｒ１＋Ｒ２の関
係にあるためである。

つまり、正常時にはオシロスコープ上には出力電圧Ｖｏ
をある一定の割合で減衰した値が波形として表示される
。

口）接触不良時 ロジックとプローブの接触点のＰ点で接触不良が発生ず
ると、その接触不良による接触抵抗が大となることから
（換言すれば出力インピーダンスＺｏが開放状態戊とな
るため）、出力インピーダンスＺｏが他の抵抗と比較し
て無視できない程度の抵抗になることから、 出力インピーダンスＺｏ　　＞　　抵抗Ｒ］、＋Ｒ２が
成り立ち、この開放状態による■である出力インピーダ
ンスで上記０式の分子を除するため、出力電圧ＶｉがＯ
Ｖとして表示されこれがロジックの不良によるＱＶなの
か、接触不良による０■なのか判別できない。

本発明では、かかる点を解決する手段として、ロジック
１の出力端にプローブ２（このＰ点の電圧はＶで以降表
している）を接触させ、その接触点をＰ点としている。

そして、Ｐ点に対して抵抗Ｒ３を介し一定の電圧である
Ｖｔを常時供給し続けている。

尚、この抵抗Ｒ３はその電圧降下にて接触不良時のオシ
ロスコープの入力端子Ｖｉを正常時と異なる電圧値に設
定するためのものである。また、その電圧降下にて測定
時の誤差を少なくする目的でも接続されている。

次に第１図（ａ）の本発明の一実施例における等価回路
（第１図（ｂ））を用いてそれぞれの状態について説明
する。

いま、第１図（ｂ）における各電圧Ｖｉ、ｖは以下の式
により表される。

Ｖｏ　　−Ｒ２ なぜならば、ロジック内部で断線等が発生していない時
の出力インピーダンスＺｏと各抵抗Ｒ１゜Ｒ２との抵抗
値を比較すると、 出力インピーダンスＺｏ　　＜　　抵抗Ｒ１＋Ｒ２の関
係で出力インピーダンスＺｏは無視できる値となるため
である。

つまり、正常時はオシロスコープ上にはロジックの出力
電圧Ｖｏをある一定の割合で減衰した値が従来同様に波
形として表示される（第２図（ａ））。

二）接触不良時 ロジック１とプローブ２の接触点のＰ点で接触不良が発
生ずると、上記０式は以下の通り変形する。

ハ）正常時 プローブの接触不良が発生していなければ、」−記■式
は以下の式へと変形される。

Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３ なぜならば、接触不良が発生すると、その接触不良によ
る接触抵抗が犬となることから出力インピーダンスＺｏ
が他の抵抗と比較しても無視できない程度の抵抗値とな
る（換言すれば、開放となる）ことから、以下の関係が
成り立ち、出力インピーダンスＺｏ＞抵抗ＲＩ＋Ｒ２＋
Ｒ３且つ電圧■Ｌは常時一定電圧を供給し続けているた
めである。

つまり、接触不良時には正常時と異なる電圧レベルをオ
シロスコープ」二に表示することができる。

（第２図（Ｃ））。

〔発明の効果〕

以上詳細に説明したように本発明においては、ロジック
出力測定時に何らかの異常が検出されたその異常がプロ
ーブの接触不良によるものなのか否かオシロスコープ上
で容易に判別することができ、信頼度の向上に寄与する
ことができる。

具体例を上げて説明すると、いま第２図（ａ）で示され
るような出力値（破線）であるロジックにプローブを接
触させてその状態を試験する時に、本来であれば第２図
（ａ）の実線で表す波形がオシロスコープ上に表示され
るものであるが、接触不良またはロジック内で異常が発
生ずると、オシロスコープ上にはＯＶとして表示される
。しかし本発明のような構成とすることで、接触不良時
においては第２図（Ｃ）で示すようなＯＶと異なる特異
なる出力波形をオシロスコープ上に表示させることによ
り、容易にその状態を判別することができるのである。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）は本発明の実施例を示す図、第１図（ｂ）
は第１図の等価回路を示す図であり、第２図はオシロス
コープでの電圧表示状態を示す図であり、 同図（ａ）は正常時を示し、 同図（ｂ）は断線時を示し、 同図（Ｃ）はプローブ接触不良時をそれぞれ示す。 第３図（ａ）は従来の回路構成を示す図であり、第３図
（ｂ）は第３図の等価回路を示す図である。 図において、 １はロジック。 ２はプローブ。 ３はオシロスコープ５ Ｖｏはロジック出力電圧 Ｚｏはロジック出力インピーダンス Ｖｔはプローブ側から供給する電圧 Ｖｉはオシロスコープ入力電圧 Ｒ１−Ｒ３は抵抗 をそれぞれ示す。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 被試験物（１）が正常であるか否かを該被試験物（１）
   の出力端子に接触子（２）を接触させて測定する際、該
   接触子（２）の接触不良を判定する方法に於いて、前記
   接触子（２）側から前記出力端子に常時一定の電圧を供
   給して、前記接触子（２）の接触不良時には特異の電圧
   レベルを出力しうるようにして判定することを特徴とす
   る接触子の接触不良判定方法。